CN110401803A - 固体摄像元件 - Google Patents

固体摄像元件 Download PDF

Info

Publication number
CN110401803A
CN110401803A CN201810905473.4A CN201810905473A CN110401803A CN 110401803 A CN110401803 A CN 110401803A CN 201810905473 A CN201810905473 A CN 201810905473A CN 110401803 A CN110401803 A CN 110401803A
Authority
CN
China
Prior art keywords
mentioned
wiring layer
metal film
layer
solid
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201810905473.4A
Other languages
English (en)
Other versions
CN110401803B (zh
Inventor
伊藤洋平
板桥康
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Toshiba Electronic Devices and Storage Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Toshiba Electronic Devices and Storage Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp, Toshiba Electronic Devices and Storage Corp filed Critical Toshiba Corp
Publication of CN110401803A publication Critical patent/CN110401803A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN110401803B publication Critical patent/CN110401803B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14601Structural or functional details thereof
    • H01L27/1462Coatings
    • H01L27/14623Optical shielding
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/70SSIS architectures; Circuits associated therewith
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14601Structural or functional details thereof
    • H01L27/14603Special geometry or disposition of pixel-elements, address-lines or gate-electrodes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14601Structural or functional details thereof
    • H01L27/14603Special geometry or disposition of pixel-elements, address-lines or gate-electrodes
    • H01L27/14605Structural or functional details relating to the position of the pixel elements, e.g. smaller pixel elements in the center of the imager compared to pixel elements at the periphery
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14601Structural or functional details thereof
    • H01L27/14636Interconnect structures

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)

Abstract

本发明提供能够同时实现暗时特性的提高和金属层的可靠性的提高的固体摄像元件。实施方式的固体摄像元件具备:基板,具有传感器区域和电路区域;受光像素,设置于上述传感器区域的上述基板的表面;第1布线层,设置于上述传感器区域;遮光层,设置于上述传感器区域,且宽度比上述第1布线层的宽度宽;以及第1金属膜,设置于上述遮光层的上表面及下表面的至少一方,将上述上表面及上述下表面的至少一方局部地覆盖。

Description

固体摄像元件
相关申请
本申请享受以日本专利申请2018-83698号(申请日:2018年4月25日)为基础申请的优先权。本申请通过参照该基础申请而包含基础申请的全部内容。
技术领域
本发明的实施方式涉及一种固体摄像元件。
背景技术
已知有在固体摄像元件中的包含受光像素的传感器区域的布线层的表面设有阻挡金属膜的构造。
发明内容
本发明的实施方式提供能够同时实现暗时特性的提高和金属层的可靠性的提高的固体摄像元件。
实施方式的固体摄像元件具备:基板,具有传感器区域和电路区域;受光像素,设置于上述传感器区域的上述基板的表面;第1布线层,设置于上述传感器区域;遮光层,设置于上述传感器区域,且宽度比上述第1布线层的宽度宽;以及第1金属膜,设置于上述遮光层的上表面及下表面的至少一方,将上述上表面及上述下表面的至少一方局部地覆盖。
附图说明
图1是本发明的实施方式的固体摄像元件的示意性的俯视布局图。
图2是本发明的实施方式的固体摄像元件中的传感器区域的示意截面图。
图3(a)及图3(b)是本发明的实施方式的固体摄像元件中的布线层上的阻挡金属膜的示意俯视图。
图4(a)~图4(c)是本发明的实施方式的固体摄像元件中的传感器区域的遮光层上的阻挡金属膜的示意俯视图。
图5(a)~图5(c)是本发明的实施方式的固体摄像元件中的传感器区域的遮光层上的阻挡金属膜的示意俯视图。
图6是本发明的实施方式的固体摄像元件中的电路区域的示意截面图。
图7是本发明的实施方式的固体摄像元件中的传感器区域的示意截面图。
具体实施方式
以下,参照附图对实施方式进行说明。此外,对各附图中相同的要素标注相同的附图标记。
图1是本发明的实施方式的固体摄像元件1的示意性的俯视布局图。
固体摄像元件1具有传感器区域10和电路区域20。传感器区域10及电路区域20形成在同一基板上。
在传感器区域10中形成有多个受光像素11和电荷传送部12。受光像素11包含光电转换部。电荷传送部12包含电荷传送晶体管。实施方式的固体摄像元件1例如是线性传感器,具有多个受光像素11沿一个方向排列而成的像素列。
在电路区域20形成有控制传感器区域10的动作的逻辑电路。逻辑电路例如包含MOS晶体管。
图2是固体摄像元件1中的传感器区域10的示意截面图。
在传感器区域10的基板71的表面形成有受光像素11。基板71例如是硅基板。受光像素11例如包含N型硅和P型硅的PN结。
在基板71的表面形成有绝缘膜72。绝缘膜72例如是硅氧化膜。
在接近受光像素11的区域的绝缘膜72上设有电荷传送用晶体管的栅电极73。
在绝缘膜72上以覆盖栅电极73的方式设有层间绝缘膜31。在层间绝缘膜31上设有例如多层的布线层41、42。在布线层41与布线层42之间设有层间绝缘膜32。
在布线层42上设有遮光层43。在布线层42与遮光层43之间设有层间绝缘膜33。遮光层43与布线层41及布线层42的每个相比,宽度更宽或者面积更广。
在遮光层43上设有绝缘膜34,遮光层43被绝缘膜34覆盖。
层间绝缘膜31~33及绝缘膜34例如是硅氧化膜。层间绝缘膜31~33及绝缘膜34例如由CVD(Chemical Vapor Deposition)形成,层间绝缘膜31~33及绝缘膜34由于此时的源气体而包含氢。
布线层41、42及遮光层43是金属层,例如在主成分中包含铝。
在布线层41及布线层42各自的上表面及下表面设有阻挡金属膜51。
图3(a)是布线层41(42)及布线层41(42)上的阻挡金属膜51的示意俯视图。
阻挡金属膜51将布线层41的整个上表面及整个下表面覆盖。阻挡金属膜51将布线层42的整个上表面及整个下表面覆盖。
在遮光层43的上表面也设有阻挡金属膜51。该阻挡金属膜51遮光层43的上表面局部地覆盖。即,在遮光层43的上表面设置的阻挡金属膜51具有覆盖遮光层43的上表面的部分和未覆盖遮光层43的上表面的部分(开口部)。
图4(a)~图4(c)、图5(a)~图5(c)是遮光层43及遮光层43上的阻挡金属膜51的示意俯视图。
在图4(a)所示的例子中,阻挡金属膜51由格子状图案形成。
在图4(b)所示的例子中,遮光层43的上表面上的未设有阻挡金属膜51的部分由格子状图案形成。
在图4(c)及图5(a)所示的例子中,阻挡金属膜51及遮光层43的上表面上的未设有阻挡金属膜51的部分由棋盘格图案形成。
在图5(b)及(c)所示的例子中,阻挡金属膜51及遮光层43的上表面上的未设有阻挡金属膜51的部分由狭缝图案形成。
阻挡金属膜51包含与布线层41、42及遮光层43的金属层不同的材料的金属膜,例如包含钛。
图6是实施方式的固体摄像元件1中的电路区域20的示意截面图。
在电路区域20的基板71的表面未形成有受光像素。在基板71的表面形成有绝缘膜72,在该绝缘膜72上设有多层的布线层44~46及多层的层间绝缘膜35~37。
在最上层的布线层46上设有绝缘膜38,该布线层46被绝缘膜38覆盖。
层间绝缘膜35~37及绝缘膜38例如是硅氧化膜。布线层44~46是金属层,例如在主成分中包含铝。
在布线层44、45各自的上表面及下表面设有阻挡金属膜51。阻挡金属膜51将布线层44的整个上表面及整个下表面覆盖。阻挡金属膜51将布线层45的整个上表面及整个下表面覆盖。
在最上层的布线层46的上表面设有阻挡金属膜51,阻挡金属膜51将布线层46的整个上表面覆盖。
图3(b)是电路区域20中的最上层的布线层46及该布线层46上的阻挡金属膜51的示意俯视图。
电路区域20中的其他布线层44、45及该布线层44、45上的阻挡金属膜51的俯视图与图3(a)相同。
传感器区域10的布线层41与电路区域20的布线层44由同种材料同时形成,传感器区域10的布线层41与电路区域20的布线层44设置于相同的高度的层。
传感器区域10的布线层41的下表面上设置的阻挡金属膜51与电路区域20的布线层44的下表面上设置的阻挡金属膜51也由同种材料同时形成。传感器区域10的布线层41的上表面上设置的阻挡金属膜51与电路区域20的布线层44的上表面上设置的阻挡金属膜51也由同种材料同时形成。
传感器区域10的布线层42与电路区域20的布线层45由同种材料同时形成,传感器区域10的布线层42与电路区域20的布线层45设置于相同的高度的层。
传感器区域10的布线层42的下表面上设置的阻挡金属膜51与电路区域20的布线层45的下表面上设置的阻挡金属膜51也由同种材料同时形成。传感器区域10的布线层42的上表面上设置的阻挡金属膜51与电路区域20的布线层45的上表面上设置的阻挡金属膜51也由同种材料同时形成。
传感器区域10的遮光层43与电路区域20的最上层的布线层46由同种材料同时形成,传感器区域10的遮光层43与电路区域20的布线层46设置于相同的高度的层。
传感器区域10的遮光层43的上表面上设置的阻挡金属膜51和电路区域20的布线层46的上表面上设置的阻挡金属膜51也由同种材料同时形成。之后,传感器区域10的遮光层43的上表面上设置的阻挡金属膜51被进行图案加工。
阻挡金属膜51抑制布线层41、42、44、45、46因热应力而产生局部的消失(空隙)等,提高布线层41、42、44、45、46的可靠性。通过设置阻挡金属膜51,与未设置阻挡金属膜51的情况相比,能够减小布线层41、42、44、45、46的宽度,能够成为微细的布线。
通过用阻挡金属膜51覆盖与遮光层43相比宽度更窄的布线层41、42、44、45、46的上表面及下表面的至少一方的整个面,能够提高微细布线的可靠性。
但是,阻挡金属膜51可能会阻碍氢离子(H+)向基板71的供给。在基板(硅基板)71与绝缘膜72的界面,若不由H+使硅原子(Si)终止就会产生Si的悬空键。若电子被该悬空键捕获,则在电荷传送动作时该电子会作为暗电流而流动,成为使暗时特性降低的原因。
采用实施方式,在传感器区域10的遮光层43局部地设置阻挡金属膜51,因此因成膜工序而获取到绝缘膜34中的氢在之后的热工序中容易穿过未设有阻挡金属膜51的部分而扩散至基板71的表面。
因此,能够向硅基板71的悬空键供给足够量的H+,能够抑制电子被悬空键捕获,能够使暗时特性提高。另外,由于在遮光层43局部地设置阻挡金属膜51,因此与完全未设置阻挡金属膜51的情况相比,能够提高遮光层43的可靠性。
采用这样实施方式,能够同时实现暗时特性的提高和布线层41~42、44~46及遮光层43的可靠性的提高。
图7是实施方式的固体摄像元件中的传感器区域10的其他例的示意截面图。
在该例子中,在传感器区域10的遮光层43的下表面也局部地设置阻挡金属膜51。通过减小在遮光层43的上表面设置的阻挡金属膜51和在遮光层43的下表面设置的阻挡金属膜51在上下方向上重叠的区域,使得氢易于从绝缘膜34穿过遮光层43向基板71扩散。
也可以在电路区域20的最上层的布线层46的下表面也设置阻挡金属膜51。另外,传感器区域10的遮光层43也可以配置于布线层41与布线层42之间。
虽然说明了本发明的几个实施方式,但这些实施方式作为例子而提示,没有意图限定发明的范围。这些新的实施方式能够以其他各种方式来实施,在不脱离发明的主旨的范围内,能够进行各种省略、替换、变更。这些实施方式及其变形包含于发明的范围及主旨中,且包含于权利要求书中记载的发明及其等同的范围中。

Claims (8)

1.一种固体摄像元件,其中,具备:
基板,具有传感器区域和电路区域;
受光像素,设置于上述传感器区域的上述基板的表面;
第1布线层,设置于上述传感器区域;
遮光层,设置于上述传感器区域,且宽度比上述第1布线层的宽度宽;以及
第1金属膜,设置于上述遮光层的上表面及下表面的至少一方,将上述上表面及上述下表面的至少一方局部地覆盖。
2.如权利要求1所述的固体摄像元件,其中,还具备:
第2布线层,设置于上述电路区域;以及
第2金属膜,设置于上述第2布线层的上表面及下表面的至少一方。
3.如权利要求2所述的固体摄像元件,其中,
上述第2金属膜将上述第2布线层的上述上表面及上述下表面的至少一方的整个面覆盖。
4.如权利要求2所述的固体摄像元件,其中,
上述第2布线层与上述遮光层设置于同一高度的层。
5.如权利要求2所述的固体摄像元件,其中,
上述第1金属膜与上述第2金属膜是相同种类的膜。
6.如权利要求1至5中任一项所述的固体摄像元件,其中,
还具备覆盖上述遮光层的绝缘膜,
上述绝缘膜含有氢。
7.如权利要求1至5中任一项所述的固体摄像元件,其中,
上述第1布线层及上述遮光层含有铝,上述第1金属膜含有钛。
8.如权利要求1至5中任一项所述的固体摄像元件,其中,
上述基板是硅基板。
CN201810905473.4A 2018-04-25 2018-08-10 固体摄像元件 Active CN110401803B (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018083698A JP2019192769A (ja) 2018-04-25 2018-04-25 固体撮像素子
JP2018-083698 2018-04-25

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN110401803A true CN110401803A (zh) 2019-11-01
CN110401803B CN110401803B (zh) 2022-01-28

Family

ID=68293111

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201810905473.4A Active CN110401803B (zh) 2018-04-25 2018-08-10 固体摄像元件

Country Status (3)

Country Link
US (1) US10757352B2 (zh)
JP (1) JP2019192769A (zh)
CN (1) CN110401803B (zh)

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4694317A (en) * 1984-10-22 1987-09-15 Fuji Photo Film Co., Ltd. Solid state imaging device and process for fabricating the same
US20120037960A1 (en) * 2009-03-26 2012-02-16 Panasonic Corporation Solid-state imaging device
CN104485339A (zh) * 2009-05-12 2015-04-01 索尼公司 固体摄像器件、电子装置以及该固体摄像器件的制造方法
US20160198083A1 (en) * 2014-07-03 2016-07-07 Sony Corporation Solid-state imaging device and electronic apparatus
WO2017169505A1 (ja) * 2016-03-30 2017-10-05 ソニー株式会社 固体撮像装置、固体撮像装置の製造方法および電子機器
CN107278328A (zh) * 2015-03-12 2017-10-20 索尼公司 摄像装置、其制造方法和电子设备
CN107425021A (zh) * 2012-10-18 2017-12-01 索尼公司 半导体装置、固体摄像装置和电子设备

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3339238B2 (ja) 1995-02-14 2002-10-28 ソニー株式会社 固体撮像素子
JP2007335694A (ja) * 2006-06-16 2007-12-27 Sharp Corp 固体撮像素子およびその製造方法、電子情報機器
JP2008218755A (ja) * 2007-03-05 2008-09-18 Canon Inc 光電変換装置及び撮像システム
JP2010135695A (ja) 2008-12-08 2010-06-17 Canon Inc 撮像装置、及び撮像システム
US8975670B2 (en) * 2011-03-06 2015-03-10 Monolithic 3D Inc. Semiconductor device and structure for heat removal
JP2014165270A (ja) * 2013-02-22 2014-09-08 Sony Corp イメージセンサおよび電子機器
JP2016219550A (ja) * 2015-05-18 2016-12-22 キヤノン株式会社 撮像装置、撮像システムおよび撮像装置の製造方法
CN109792497B (zh) * 2016-09-27 2021-04-20 富士胶片株式会社 成像元件及摄像装置

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4694317A (en) * 1984-10-22 1987-09-15 Fuji Photo Film Co., Ltd. Solid state imaging device and process for fabricating the same
US20120037960A1 (en) * 2009-03-26 2012-02-16 Panasonic Corporation Solid-state imaging device
CN104485339A (zh) * 2009-05-12 2015-04-01 索尼公司 固体摄像器件、电子装置以及该固体摄像器件的制造方法
CN107425021A (zh) * 2012-10-18 2017-12-01 索尼公司 半导体装置、固体摄像装置和电子设备
US20160198083A1 (en) * 2014-07-03 2016-07-07 Sony Corporation Solid-state imaging device and electronic apparatus
CN107278328A (zh) * 2015-03-12 2017-10-20 索尼公司 摄像装置、其制造方法和电子设备
WO2017169505A1 (ja) * 2016-03-30 2017-10-05 ソニー株式会社 固体撮像装置、固体撮像装置の製造方法および電子機器

Also Published As

Publication number Publication date
US20190335125A1 (en) 2019-10-31
JP2019192769A (ja) 2019-10-31
CN110401803B (zh) 2022-01-28
US10757352B2 (en) 2020-08-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN110034139A (zh) 图像传感器
JP2020127014A (ja) 半導体装置
CN110364542B (zh) 有源矩阵基板和具备有源矩阵基板的x射线摄像面板
CN102637705B (zh) 半导体器件制造方法
US20170139056A1 (en) Imaging panel and x-ray imaging device
JP2017174946A (ja) 半導体装置の製造方法
US20170160403A1 (en) Imaging panel and x-ray imaging device provided therewith
US9190446B1 (en) Sensing apparatus
US10386500B2 (en) Imaging panel and x-ray imaging device provided therewith
JP2016072498A (ja) 半導体装置
WO2016111192A1 (ja) 撮像パネル及びx線撮像装置
US20050007474A1 (en) Solid-state imaging device
JPWO2010067430A1 (ja) 半導体装置
JP6740982B2 (ja) 半導体装置
US20180269270A1 (en) Semiconductor device
CN110401803A (zh) 固体摄像元件
US9735109B2 (en) Semiconductor device and semiconductor device manufacturing method
JP7010668B2 (ja) 半導体装置
JP2016009774A (ja) 半導体装置
JP2018181910A (ja) 光半導体装置の製造方法
JP4973654B2 (ja) 半導体装置
US11876062B2 (en) Semiconductor device
US9269816B2 (en) Thin film transistor
JP6909057B2 (ja) 炭化ケイ素半導体装置およびその製造方法
US10777599B2 (en) Solid state imaging device

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant