CN109997308A - 数据转换器以及相关模数转换器、数模转换器及芯片 - Google Patents

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Abstract

本申请公开了一种数据转换器(112)。所述数据转换器包括输入端(98)、数模转换器(116)以及映射单元(114)。所述输入端用来接收输入信号。所述数模转换器包括多个数模转换器单元用来产生输出信号。所述映射单元，耦接于所述输入端以及所述数模转换器之间，用来使所述多个数模转换器单元依据所述多个数模转换器单元的特定电气特性来在所述多个数模转换器单元被选通的一相对顺序上等效地排列以进行数字模拟转换。本申请另提供模数转换器、数模转换器及相关芯片。

Description

数据转换器以及相关模数转换器、数模转换器及芯片
技术领域
本申请涉及一种转换器，尤其涉及一种数据转换器以及相关模数转换器、数模转换器及芯片。
背景技术
在多比特Δ-Σ模数转换器及数模转换器中，为解决组件适配误差问题，数据加权平均技术被提出，以对组件适配误差进行一阶噪声整形(1st-order noise shaping)，藉此大幅度地改善信噪失真比。然而，在当输入信号的幅值相对小(例如幅值约为-50dBFS)时，数据加权平均技术在数模转换器单元的选择样式上会产生重复性，并折迭回频带内，产生单音杂散(spurious tone)，仍会使信噪失真比变差。
目前常用的解决方式是在数模转换器中额外加入一个数模转换器单元，此技术称为递增式数据加权平均技术。在当输入信号的幅值相对小时，通过采用递增式数据加权平均技术能使数模转换器单元的选择样式不易产生重复性，进而消除单音杂散。然而，在输入信号的幅值在约1LSB附近时，仍会使数模转换器单元的选择样式产生重复性，进而产生单音杂散。
有鉴于此，需要进一步改良及创新以改善上述情况。
发明内容
本申请的目的之一在于公开一种数据转换器，尤其涉及一种数据转换器、模数转换器、数模转换器以及相关芯片，来解决上述问题。
本申请的一实施例公开了一种数据转换器。所述数据转换器包括输入端、数模转换器以及映射单元。所述输入端用来接收输入信号。所述数模转换器包括多个数模转换单元用来产生输出信号。所述映射单元，耦接于所述输入端以及所述数模转换器之间，用来使所述多个数模转换单元依据所述多个数模转换单元的特定电气特性来在所述多个数模转换单元被选通的一相对顺序上等效地排列以进行数字模拟转换。
本申请的一实施例公开了一种模数转换器，用来将模拟信号转换为数字信号。所述模数转换器包括输入端、低通滤波器、量化器以及反馈环路。所述输入端用来接收所述模拟信号。所述低通滤波器，耦接于所述输入端，并依据所述模拟信号产生低通信号。所述量化器用来依据所述低通信号产生量化信号。所述反馈环路用来将所述量化信号反馈至所述低通滤波器的输出端。所述反馈环路包括所述数据转换器。
本申请的一实施例公开了一种数模转换器，用来将数字信号转换为模拟信号。所述数模转换器包括输入端、上采样滤波器、量化器以及所述数据转换器。所述输入端用来接收所述数字信号。所述上采样滤波器，耦接于所述输入端，并依据所述数字信号产生上采样信号。所述量化器用来依据所述上采样信号产生量化信号。所述数据转换器用来根据所述量化信号产生所述模拟信号。
本申请的一实施例公开了一种芯片。所述芯片包括所述数据转换器。
本申请的一实施例公开了一种芯片。所述芯片包括所述模数转换器。
本申请的一实施例公开了一种芯片。所述芯片包括所述数模转换器。
本申请所公开的数据转换器、模数转换器、数模转换器以及相关芯片在数模转换单元的选择样式上产生重复性时仍能够有效抑制单音杂散，藉此改善信噪失真比。
附图说明
图1为本申请多比特Δ-Σ模数转换器的实施例的方块示意图。
图2为本申请数据转换器的实施例的方块示意图。
图3为本申请多个数模转换单元的特定电气特性的幅值的柱状图。
图4为本申请的各数模转换单元的选通情况的示意图。
图5为本申请相关于图3的各幅值在等效地排列前及整理后的柱状图。
图6A为本申请排列偶数个数模转换单元的方法的第一实施例的示意图。
图6B为本申请排列奇数个数模转换单元的方法的第一实施例的示意图。
图6C为相关于图5的各幅值按照图6B所示的方法在等效地排列后的柱状图。
图7为本申请多比特Δ-Σ模数转换器输出的数字信号的频谱图。
图8A为本申请排列偶数个数模转换单元的方法的第二实施例的示意图。
图8B为本申请排列奇数个数模转换单元的方法的第二实施例的示意图。
图8C为相关于图5的各幅值按照图8B所示的方法在等效地排列后的柱状图。
图9的波形图分别图式说明包括及不包括本申请的数据转换器的多比特Δ-Σ模数转换器的信噪失真比。
图10为本申请多比特Δ-Σ数模转换器的实施例的方块示意图。
其中，附图标记说明如下：
10 多比特Δ-Σ模数转换器
98 输入端
100 低通滤波器
102 环路滤波器
104 量化器
106 抽取滤波器
108 反馈环路
110 递增式数据加权平均电路
112 数据转换器
114 映射单元
116 数模转换器
118 逻辑单元
120 输入端
122 输出端
LPF_A 低通信号
LF_A 环路滤波信号
Q_D 量化信号
Sin 输入信号
Sout 输出信号
20_1-20_N 数模转换单元
A1-A33 位置
B1-B33 位置
C1-C33 位置
D1-D33 位置
Cf_1 曲线
Cf_2 曲线
Cf_3 曲线
Cf_4 曲线
30 多比特Δ-Σ数模转换器
300 上采样滤波器
302 反馈环路
具体实施方式
以下揭示内容提供了多种实施方式或例示，其能用以实现本揭示内容的不同特征。下文所述之组件与配置的具体例子系用以简化本揭示内容。当可想见，这些叙述仅为例示，其本意并非用于限制本揭示内容。举例来说，在下文的描述中，将一第一特征形成于一第二特征上或之上，可能包括某些实施例其中所述的第一与第二特征彼此直接接触；且也可能包括某些实施例其中还有额外的组件形成于上述第一与第二特征之间，而使得第一与第二特征可能没有直接接触。此外，本揭示内容可能会在多个实施例中重复使用组件符号和/或标号。此种重复使用乃是基于简洁与清楚的目的，且其本身不代表所讨论的不同实施例和/或组态之间的关系。
再者，在此处使用空间上相对的词汇，譬如「之下」、「下方」、「低于」、「之上」、「上方」及与其相似者，可能是为了方便说明图中所绘示的一组件或特征相对于另一或多个组件或特征之间的关系。这些空间上相对的词汇其本意除了图中所绘示的方位之外，还涵盖了装置在使用或操作中所处的多种不同方位。可能将所述设备放置于其他方位(如，旋转90度或处于其他方位)，而这些空间上相对的描述词汇就应该做相应的解释。
虽然用以界定本申请较广范围的数值范围与参数皆是约略的数值，此处已尽可能精确地呈现具体实施例中的相关数值。然而，任何数值本质上不可避免地含有因个别测试方法所致的标准偏差。在此处，「约」通常系指实际数值在一特定数值或范围的正负10％、5％、1％或0.5％之内。或者是，「约」一词代表实际数值落在平均值的可接受标准误差之内，视本申请所属技术领域中具有通常知识者的考虑而定。当可理解，除了实验例之外，或除非另有明确的说明，此处所用的所有范围、数量、数值与百分比(例如用以描述材料用量、时间长短、温度、操作条件、数量比例及其他相似者)均经过「约」的修饰。因此，除非另有相反的说明，本说明书与附随申请专利范围所揭示的数值参数皆为约略的数值，且可视需求而更动。至少应将这些数值参数理解为所指出的有效位数与套用一般进位法所得到的数值。在此处，将数值范围表示成由一端点至另一端点或介于二端点之间；除非另有说明，此处所述的数值范围皆包括端点。
图1为本申请多比特Δ-Σ(sigma-delta)模数转换器10的实施例的方块示意图。参照图1，多比特Δ-Σ模数转换器10用来将模拟信号转换为数字信号。多比特Δ-Σ模数转换器10包括输入端98、低通滤波器(low pass filter，LPF)100、环路滤波器(loop filter)102、量化器104、抽取滤波器(decimation filter)106、递增式数据加权平均(incrementaldata weighted averaging，IDWA)电路110、数据转换器112及逻辑单元118，其中，递增式数据加权平均电路110和数据转换器112是位於反馈环路108上。递增式数据加权平均电路110耦接于量化器104和数据转换器112之间。
输入端98用来接收模拟信号，低通滤波器100耦接至输入端98，并依据模拟信号产生低通信号LPF_A。环路滤波器102用来依据低通信号LPF_A以及反馈环路108的输出Sout来产生环路滤波信号LF_A，量化器104耦接至环路滤波器102，並用来依据环路滤波信号LF_A产生量化信号Q_D。抽取滤波器106用来基于量化信号Q_D提供多比特的数字信号。反馈环路108用来将量化信号Q_D反馈至低通滤波器100的输出端。详言之，递增式数据加权平均电路110用来基于量化信号Q_D提供数据转换器112所需的输入信号Sin。数据转换器112用来基于输入信号Sin产生输出信号Sout至逻辑单元118。逻辑单元118用来將低通信号LPF_A減去输出信号Sout後提供至环路滤波器102。應注意的是，本申請不以递增式数据加权平均电路110為限，在一些实施例中，递增式数据加权平均电路110可改用其他類似功能的電路來實現，舉例來說，亦可使用数据加权平均电路来代替递增式数据加权平均电路110。
图2为本申请数据转换器112的实施例的方块示意图。参照图2，数据转换器112包括用来接收多比特的输入信号Sin的输入端120、用来输出输出信号Sout的输出端122、映射单元114以及数模转换器116。
数模转换器116包括数模转换单元20_1、20_2、…20_N，其中N为正整数。数模转换器116用来产生输出信号Sout。数模转换器116可以是任何可用于将数字信号转换成模拟信号形式，例如电流、电荷或电压的电路单元。举例来说，数模转换器116中可包括电流源、电容器、电阻器、或其他任何符合上述定义的电子组件。
映射单元114，耦接于输入端120以及数模转换器116之间，用来使数模转换单元20_1、20_2、…20_N依据数模转换单元20_1、20_2、…20_N的特定电气特性来在多个数模转换单元20_1、20_2、…20_N被选通的一相对顺序上等效地排列以进行数字模拟转换。具體來說，等效地排列并非指使数模转换单元20_1、20_2、…20_N依据数模转换单元20_1、20_2、…20_N的特定电气特性來在电路布局图上排列，而是透过映射单元114來配置数模转换单元20_1、20_2、…20_N与递增式数据加权平均电路110之间的连接關係。
举例来说，可以在数据转换器112出厂或每次上电时，分别量测数模转换单元20_1、20_2、…20_N的特定电气特性并产生多个量测结果，再依据所述多个量测结果来对映射单元114进行程式设计，但本申请不以此限。通過映射单元114可以有效地抑制多比特Δ-Σ模数转换器10的单音杂散，并进而得到较佳的信噪失真比。
在一些实施例中，特定电气特性是相关于电流特性。举例来说，当数模转换单元20_1、20_2、…20_N包括电流源时，特定电气特性包括所述电流源提供的电流。量测电流特性的方式可采用任何现有技术来实施。
在一些实施例中，特定电气特性是相关于电压特性。举例来说，当数模转换单元20_1、20_2、…20_N包括电容器时，特定电气特性包括所述电容器储存的与电压相关的电荷。量测电压特性的方式可采用任何现有技术来实施。
在本公开中，为了方便讨论，在下文中，N值设定为33，亦即数模转换器116包括33个数模转换单元20_1、20_2、…20_33。
图3为本申请数模转换单元20_1、20_2、…20_33的特定电气特性的幅值的柱状图。参照图3，横轴代表数模转换单元20_1、20_2、…20_33在等效地排列前的位置，即原始的排列顺序，从位置A1至A33，为了图式简洁未于图3全数标出。在启始状态时，数据转换器112一开始收到的第一笔输入信号Sin1会使从位置A1开始的若干数量的数模转换单元被选通，例如位置位于A1至A10的若干数模转换单元，依据第一笔输入信号Sin1的大小而定。接着数据转换器112收到的第二笔输入信号Sin2会使从位置A11开始的若干数量的数模转换单元被选通，例如位置位于A11至A30的若干数模转换单元，依据第二笔输入信号Sin2的大小而定。接着数据转换器112收到的第三笔输入信号Sin3会使从位置A31开始的若干数量的数模转换单元被选通，若超过位置A33则会跳回位置A1开始继续选通数模转换单元，第三笔输入信号Sin3会使从位置A31至A33以及接著从位置A1至A6的若干数量的数模转换单元被选通，之後的操作則依此類推。
图3的纵轴則代表数模转换单元20_1、20_2、…20_33的特定电气特性的归一化幅值，以数值1为归一化参考值。由于製造過程變化的存在，各数模转换单元20_1、20_2、…20_33间存在组件适配误差，因此特定电气特性的大小會略有差異。换言之，每一数模转换单元20_1、20_2、…20_33的特定电气特性与参考值1具有电气特性差异值。
参回至图1。假设多比特Δ-Σ模数转换器10不包括映射单元114，而使数模转换单元20_1、20_2、…20_33直接受控于递增式数据加权平均电路110。再参照图3，数模转换单元20_1、20_2、…20_33包括位置位于A1至A17的若干数模转换单元以及位置位于A18至A33的若干数模转换单元。在一种情况中，位置位于A1-A17的若干数模转换单元的特定电气特性的总和相对地大，而位置位于A18-A33的若干数模转换单元的特定电气特性的总和相对地小。在上述假设下，一旦数模转换单元20_1、20_2、…20_33的选择样式产生重复性(详细描述于图4)，单音杂散将特别地显著，进而使信噪失真比变差。
图4为本申请的数模转换单元20_1、20_2、…20_33的选通情况的示意图。参照图4，纵栏显示的码(1)代表量化器104一开始依据第一笔低通信号LPF_A产生量化信号Q_D；接着，码(2)代表量化器104依据第二笔低通信号LPF_A产生量化信号Q_D，依此类推。码(1)等号后的数值代表量化信号Q_D的数值。举例来说，码(1)＝16代表量化信号Q_D为16，此意味着依据第一笔低通信号LPF_A选通十六个数模转换单元。在启始状态时，从位置位于A1开始的若干数量的数模转换单元被选通。在本实施例中，位置位于A1至A16的若干数模转换单元被选通。因为递增式数据加权平均电路110的功能，当码(2)＝17，将从位于位置A16之后的位置A17开始的若干数模转换单元被选通，直到选到位置位于A33的数模转换单元。当码(3)＝17，将跳回位置A1开始选通，位置位于A1至A17的若干数模转换单元被选通。同理，当码(4)＝16，位置位于A18至A33的若干数模转换单元被选通。当码(5)＝16，将跳回位置A1开始选通，位置位于A1至A16的若干数模转换单元被选通。当码(6)＝17，位置位于A17至A33的若干数模转换单元被选通。
如图4所示，当数字信号输入序列为码(5)及码(6)，被选通的若干数模转换单元与数字信号输入序列为码(1)及码(2)时被选通的若干数模转换单元相同。因此，选择样式产生重复性。在例如如上所述的情况(位置位于A1至A16的若干数模转换单元的特定电气特性的总和相对地大，位置位于A17至A33的若干数模转换单元的特定电气特性的总和相对地小)，单音杂散将特别地显著，进而使信噪失真比变差。
通過映射单元114使数模转换单元20_1、20_2、…20_33等效地依据数模转换单元20_1、20_2、…20_33的每一个对应的所述电气特性差异值来排列。因此，可以有效地抑制多比特Δ-Σ模数转换器10的单音杂散，并进而得到较佳的信噪失真比。
图5为本申请相关于图3的各幅值在等效地排列前及整理后的柱状图。参照图5，横轴代表数模转换单元20_1、20_2、…20_33在等效地排列前及整理后的位置，从位置I1至I33，为了图式简洁未于图5全数标出。在图3中位于位置A16的数模转换单元经整理后位于第一个位置I1；类似地，在图3中位于位置A30的数模转换单元经整理后位于最后一个位置I33。映射单元114将特定电气特性从小至大依序排列。据此，映射单元114能相对容易判断出数模转换单元20_1、20_2、…20_33的特定电气特性大小，以相对方便地执行之后的等效地排列数模转换单元20_1、20_2、…20_33的程序。需注意的是，本操作为可选择的。在一些实施例中，可省略本操作。
图6A为本申请排列偶数个数模转换单元的方法的第一实施例的示意图。参照图6A，先将具有最小特定电气特性的位于位置I1的数模转换单元等效地排列在相对顺序上的第一个位置，以及将具有最大特定电气特性的位于位置I33的数模转换单元等效地排列在相对顺序上的第二个位置；接着，将具有次小特定电气特性的数模转换单元排列在相对顺序上的第三个位置，以及将具有次大特定电气特性的数模转换单元排列在相对顺序上的第四个位置，依此类推。简言之，经等效地排列后，在相对顺序中，第2K-1位被选通的数模转换单元的特定电气特性的幅值在多个数模转换单元20_1、20_2、…20_33的特定电气特性的幅值中排名第K名，以及第2k位被选通的数模转换单元的特定电气特性的幅值在多个数模转换单元20_1、20_2、…20_33的特定电气特性的幅值中排名第N-K+1名，其中N为多个数模转换单元20_1、20_2、…20_33的数量，在本实施例中，N为33，以及其中K≥1且K≤N。例如：一实施例中是根据数模转换单元的相关电压的幅值进行等效的排序，即先将数模转换单元中相关电压的幅值最大与最小的数模转换单元摆放在第一与第二个位置，接着把次大与次小的数模转换单元摆放在第三与第四个位置，以此类推大小排序第k与第N-k+1的数模转换单元摆放在第2k-1与第2k个位置。
图6B为本申请排列奇数个数模转换单元的方法的第一实施例的示意图。参照图6B，等效地排列奇数个数模转换单元的逻辑与等效地排列偶数个数模转换单元的逻辑相同，于此不再赘述。
图6C为相关于图5的各幅值按照图6B所示的方法在等效地排列后的柱状图。参照图6C，横轴代表数模转换单元20_1、20_2、…20_33在等效地排列后的位置，从位置C1至C33，为了图式简洁未于图6C全数标出。在启始状态时，数据转换器112一开始收到的第一笔输入信号Sin1会使从位置C1开始的若干数量的数模转换单元被选通，例如位置位于C1至C10的若干数模转换单元，依据第一笔输入信号Sin1的大小而定。接着数据转换器112收到的第二笔输入信号Sin2会使从位置C11开始的若干数量的数模转换单元被选通，例如位置位于C11至C30的若干数模转换单元，依据第二笔输入信号Sin2的大小而定。接着数据转换器112收到的第三笔输入信号Sin3会使从位置C31开始的若干数量的数模转换单元被选通，若超过位置C33则会跳回位置C1开始继续选通数模转换单元，之後的操作則依此类推。
如图6C所示，等效地排列数模转换单元20_1、20_2、…20_33后，在等效地排列前位于位置A16的数模转换单元的位置在等效地排列后排列至位置C1；以及，在等效地排列前位于位置A30的数模转换单元的位置在等效地排列后排列至位置C2。
此外，等效地排列后的数模转换单元20_1、20_2、…20_33中，排列于奇数位置(例如位置C1、C3、C5)的若干数模转换单元的特定电气特性的幅值呈升序排列。此外，等效地排列后的数模转换单元20_1、20_2、…20_33中，排列于偶数位置(例如位置C2、C4、C6)的若干数模转换单元的特定电气特性的幅值呈降序排列。然而，本公开不限定于此。在其他实施例中，等效地排列后的数模转换单元20_1、20_2、…20_33中，排列于奇数位置的若干数模转换单元的特定电气特性的幅值呈降序排列；以及，等效地排列后的数模转换单元20_1、20_2、…20_33中，排列于偶数位置的若干数模转换单元的特定电气特性的幅值呈升序排列。
参回至图3，等效地排列前的数模转换单元20_1、20_2、…20_33的前半部分的若干数模转换单元位于位置A1至A17。位于位置A1至A17的若干数模转换单元的每一个对应的电气特性差异值的总和為第一总和。等效地排列前的数模转换单元20_1、20_2、…20_33的后半部分的若干数模转换单元位于位置A18至A33。位于位置A18至A33的若干数模转换单元的每一个对应的电气特性差异值的总和為第二总和。
参回至图6C，等效地排列后的数模转换单元20_1、20_2、…20_33的前半部分的若干数模转换单元位于位置C1至C17。位于位置C1至C17的若干数模转换单元的每一个对应的电气特性差异值的总和為第三总和。等效地排列后的数模转换单元20_1、20_2、…20_33的后半部分的若干数模转换单元位于位置C18至C33。位于位置C18至C33的若干数模转换单元的每一个对应的电气特性差异值的总和為第四总和。第三总和及第四总和的差小于第一总和及第二总和的差。换言之，等效地排列后的数模转换单元20_1、20_2、…20_33的前半部份的若干数模转换单元的电气特性差异值与后半部份的若干数模转换单元的电气特性差异值的差异相对小。据此，即使在选择样式上产生如图4所示的重复性，仍可以有效地抑制多比特Δ-Σ模数转换器10的单音杂散，并进而得到较佳的信噪失真比。
此外，本申请的其他实施例还包括图6C所衍生的排列方式。举例来说，位置C1向后平移一个位置、位置C2也据此向后平移一个位置、依此类推。位置C33则平移到目前位置C1的位置。此种排列方式亦不脱离第一实施例的范畴。此外，在上述示例中，平移的数量为一个仅是示例。在本公开中，平移的位置的数量可为任意数量。
图7为本申请多比特Δ-Σ模数转换器10输出的数字信号的频谱图。参照图7，横轴为频率(赫兹)；以及，纵轴为幅值(分贝)。如图7的频谱图所证实，可以有效地抑制多比特Δ-Σ模数转换器10的单音杂散。
图8A为本申请排列偶数个数模转换单元的方法的第二实施例的示意图。参照图8A，先将具有最小特定电气特性的位于位置I1的数模转换单元等效地排列在相对顺序上的第一个位置，以及将具有最大特定电气特性的位于位置I33的数模转换单元等效地排列在相对顺序上的第二个位置；接着，将具有次小特定电气特性的数模转换单元等效地排列在相对顺序上的倒数第二个位置，以及将具有次大特定电气特性的数模转换单元等效地排列在相对顺序上的最后一个位置，依此类推。
图8B为本申请排列奇数个数模转换单元的方法的第二实施例的示意图。参照图8B，等效地排列奇数个数模转换单元的逻辑与等效地排列偶数个数模转换单元的逻辑相同，于此不再赘述。
图8C为相关于图5的各幅值按照图8B所示的方法在等效地排列后的柱状图。参照图8C，横轴代表数模转换单元20_1、20_2、…20_33在等效地排列后的位置，从位置D1至D33，为了图式简洁未于图8C全数标出。在启始状态时，数据转换器112一开始收到的第一笔输入信号Sin1会使从位置D1开始的若干数量的数模转换单元被选通，例如位置位于D1至D10的若干数模转换单元，依据第一笔输入信号Sin1的大小而定。接着数据转换器112收到的第二笔输入信号Sin2会使从位置D11开始的若干数量的数模转换单元被选通，例如位置位于D11至D30的若干数模转换单元，依据第二笔输入信号Sin2的大小而定。接着数据转换器112收到的第三笔输入信号Sin3会使从位置D31开始的若干数量的数模转换单元被选通，若超过位置D33则会跳回位置D1开始继续选通数模转换单元，之後的操作則依此類推。
如图8C所示，等效地排列数模转换单元20_1、20_2、…20_33后，在等效地排列前位于位置A16的数模转换单元的位置在等效地排列后改动至位置D1；以及，在等效地排列前位于位置A30的数模转换单元的位置在等效地排列后改动至位置D2。
此外，等效地排列后的数模转换单元20_1、20_2、…20_33中，部份排列于奇数位置(例如位置D1、D3、D5)的若干数模转换单元的特定电气特性的幅值呈升序排列，其余部份排列于奇数位置的若干数模转换单元的特定电气特性的幅值呈降序排列。
又，等效地排列后的数模转换单元20_1、20_2、…20_33中，部份排列于偶数位置(例如位置D2、D4、D6)的若干数模转换单元的特定电气特性的幅值呈降序排列，其余部份排列于偶数位置的若干数模转换单元的特定电气特性的幅值呈升序排列。然而，本申请不以此限。
等效地排列后的数模转换单元20_1、20_2、…20_33的前半部分的若干数模转换单元位于位置D1至D17。位于位置D1至D17的若干数模转换单元的每一个对应的电气特性差异值的总和為第五总和。等效地排列后的数模转换单元20_1、20_2、…20_33的后半部分的若干数模转换单元位于位置D18至D33。位于位置D18至D33的若干数模转换单元的每一个对应的电气特性差异值的总和為第六总和。第五总和及第六总和的差小于第一总和及第二总和的差。在一些特定的实施例中，第五总和及第六总和的差小于第三总和及第四总和的差。
通過映射单元114即使在选择样式上产生如图4所示的重复性，仍可以有效地抑制多比特Δ-Σ模数转换器10的单音杂散，并进而得到较佳的信噪失真比。
此外，本申请的其他实施例还包括图8C所衍生的排列方式。举例来说，位置D1向后平移一个位置、位置D2也据此向后平移一个位置、依此类推。位置D33则平移到目前位置D1的位置。此种排列方式亦不脱离第二实施例的范畴。此外，在上述示例中，平移的数量为一个仅是示例。在本申请中，平移的位置的数量可为任意数量。
图9的波形图分别图式说明包括及不包括本申请的数据转换器10的多比特Δ-Σ模数转换器的信噪失真比。参照图9，横轴为幅值(分贝)；以及，纵轴为信噪失真比(分贝)。图9显示曲线Cf_1、Cf_2、Cf_3及Cf_4。曲线Cf_1代表理想情况下的信噪失真比。曲线Cf_2代表不包括本申请的数据转换器10的多比特Δ-Σ模数转换器的信噪失真比。曲线Cf_3代表本公开的映射单元114采用本公开第一实施例的排列方式的信噪失真比。曲线Cf_4代表本公开的映射单元114采用本公开第二实施例的排列方式的信噪失真比。从图9可观察出，通過映射单元114，多比特Δ-Σ模数转换器10可得到较佳的信噪失真比
在一些实施例中，一种芯片包括数据转换器112，舉例來說該芯片可以是不同工藝實現的半導體芯片。
在一些实施例中，一种芯片包括多比特Δ-Σ模数转换器10，舉例來說該芯片可以是不同工藝實現的半導體芯片。
图10为本申请多比特Δ-Σ数模转换器30的实施例的方块示意图。参照图10，多比特Δ-Σ数模转换器30类似于图1的多比特Δ-Σ模数转换器10，差别在于，多比特Δ-Σ数模转换器30包括上采样滤波器300以及反馈环路302。反馈环路302用来将量化器104的输出端反馈至上采样滤波器300的输出端。
输入端98用來接收数字信号，上采样滤波器300耦接至输入端98，并依据数字信号产生上采样信号U_D。环路滤波器102用来依据上采样信号U_D以及反馈环路302的量化信号Q_D来产生环路滤波信号LF_A，量化器104耦接至环路滤波器102，並用来依据环路滤波信号LF_A产生量化信号Q_D。递增式数据加权平均电路110用来基于量化信号Q_D提供数据转换器112所需的输入信号Sin。数据转换器112用来基于输入信号Sin产生输出信号Sout做为模拟信号。
通過映射单元114可以有效地抑制多比特Δ-Σ数模转换器30的单音杂散，并进而得到较佳的信噪失真比。
在一些实施例中，一种芯片包括多比特Δ-Σ数模转换器30，舉例來說該芯片可以是不同工艺实現的半导体芯片。
上文的叙述简要地提出了本申请某些实施例之特征，而使得本申请所属技术领域具有通常知识者能够更全面地理解本揭示内容的多种态样。本申请所属技术领域具有通常知识者当可明了，其可轻易地利用本揭示内容作为基础，来设计或更动其他工艺与结构，以实现与此处所述之实施方式相同的目的和/或达到相同的优点。本申请所属技术领域具有通常知识者应当明白，这些均等的实施方式仍属于本揭示内容之精神与范围，且其可进行各种变更、替代与更动，而不会悖离本揭示内容之精神与范围。

Claims (18)

1.一种数据转换器，其特征在于，所述数据转换器包括:
输入端，用来接收输入信号；
数模转换器，包括多个数模转换单元，用来产生输出信号；以及
映射单元，耦接于所述输入端以及所述数模转换器之间，用来使所述多个数模转换单元依据所述多个数模转换单元的特定电气特性在所述多个数模转换单元被选通的相对顺序上等效地排列以进行数字模拟转换。
2.如权利要求1所述的数据转换器，其中所述特定电气特性是相关于电流特性及电压特性的一者。
3.如权利要求1或2所述的数据转换器，其中每一数模转换单元的所述特定电气特性与参考值具有电气特性差异值，所述映射单元使所述多个数模转换单元等效地依据所述多个数模转换单元的每一个对应的所述电气特性差异值来排列。
4.如权利要求3所述的数据转换器，其中等效地排列前的所述多个数模转换单元的前半部分的每一个对应的所述电气特性差异值的总和為第一总和，等效地排列前的所述多个数模转换单元的后半部分的每一个对应的所述电气特性差异值的总和為第二总和，等效地排列后的所述多个数模转换单元的前半部分的每一个对应的所述电气特性差异值的总和為第三总和，等效地排列后的所述多个数模转换单元的后半部分的每一个对应的所述电气特性差异值的总和為第四总和，且所述第三总和与所述第四总和的差小于所述第一总和与所述第二总和的差。
5.如权利要求3所述的数据转换器，其中等效地排列后的所述多个数模转换单元中，排列于奇数位置的所述多个数模转换单元的所述特定电气特性的幅值呈升序排列；等效地排列后的所述多个数模转换单元中，排列于偶数位置的所述多个数模转换单元的所述特定电气特性的幅值呈降序排列。
6.如权利要求3所述的数据转换器，其中在所述相对顺序中，第2K-1位被选通的数模转换单元的所述特定电气特性的幅值在所述多个数模转换单元的所述特定电气特性的幅值中排名第K名，以及第2k位被选通的数模转换单元的所述特定电气特性的幅值在所述多个数模转换单元的所述特定电气特性的幅值中排名第N-K+1名，其中N为所述多个数模转换单元的数量，以及其中K≥1且K≤N。
7.如权利要求3所述的数据转换器，其中等效地排列后的所述多个数模转换单元中，排列于奇数位置的所述多个数模转换单元的所述特定电气特性的幅值呈降序排列；等效地排列后的所述多个数模转换单元中，排列于偶数位置的所述多个数模转换单元的所述特定电气特性的幅值呈升序排列。
8.一种模数转换器，用来将模拟信号转换为数字信号，其特征在于，所述模数转换器包括:
输入端，用来接收所述模拟信号；
低通滤波器，耦接于所述输入端，并依据所述模拟信号产生低通信号；
量化器，用来依据所述低通信号产生量化信号；以及
反馈环路，用来将所述量化信号反馈至所述低通滤波器的输出端，其中所述反馈环路包括：
如权利要求1-7中任一项所述的数据转换器。
9.如权利要求8所述的模数转换器，更包括：
数据加权平均电路，耦接于所述量化器和所述数据转换器之间，用来基于所述量化信号提供所述输入信号至所述数据转换器的所述输入端。
10.如权利要求8所述的模数转换器，更包括：
递增式数据加权平均电路，耦接于所述量化器和所述数据转换器之间，用来基于所述量化信号提供所述输入信号至所述数据转换器的所述输入端。
11.如权利要求8-10任一项中所述的模数转换器，更包括：
抽取滤波器，用来基于所述量化信号提供所述数字信号。
12.一种数模转换器，用来将数字信号转换为模拟信号，其特征在于，所述数模转换器包括:
输入端，用来接收所述数字信号；
上采样滤波器，耦接于所述输入端，并依据所述数字信号产生上采样信号；
量化器，用来依据所述上采样信号产生量化信号；以及
如权利要求1-7中任一项所述的数据转换器，用来根据所述量化信号产生所述模拟信号。
13.如权利要求12所述的数模转换器，更包括：
数据加权平均电路，耦接于所述量化器和所述数据转换器之间，用来基于所述量化信号提供所述输入信号至所述数据转换器的所述输入端。
14.如权利要求12所述的数模转换器，更包括：
递增式数据加权平均电路，耦接于所述量化器和所述数据转换器之间，用来基于所述量化信号提供所述输入信号至所述数据转换器的所述输入端。
15.如权利要求12-14任一项中所述的数模转换器，更包括：
反馈环路，用来将所述量化信号反馈至所述上采样滤波器的输出端。
16.一种芯片，其特征在于，所述芯片包括：
如权利要求1-7任一项中所述的数据转换器。
17.一种芯片，其特征在于，所述芯片包括：
如权利要求8-11任一项中所述的模数转换器。
18.一种芯片，其特征在于，所述芯片包括：
如权利要求12-15任一项中所述的数模转换器。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111884727A (zh) * 2020-07-15 2020-11-03 杭州电子科技大学 一种基于数字映射的高速光子数模转换方法及系统

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11394395B1 (en) 2021-01-26 2022-07-19 Nxp B.V. Techniques for linearizing digital-to-analog converters in sigma-delta analog-to-digital converters
US11463101B2 (en) 2021-01-26 2022-10-04 Nxp B.V. Techniques for high-speed excess loop delay compensation in sigma-delta analog-to-digital converters

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6118398A (en) * 1998-09-08 2000-09-12 Intersil Corporation Digital-to-analog converter including current sources operable in a predetermined sequence and associated methods
JP2007534255A (ja) * 2004-04-20 2007-11-22 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ デジタル・アナログ変換器における誤差低減改善方法及びこの方法が適用されるデジタル・アナログ変換器
US20110006937A1 (en) * 2009-07-09 2011-01-13 Stellamar Llc Delta-Sigma-Delta Modulator
US8022850B2 (en) * 2009-09-25 2011-09-20 Freescale Semiconductor, Inc. Multiple-bit, digital-to-analog converters and conversion methods
US9214953B1 (en) * 2014-09-05 2015-12-15 Dialog Semiconductor (Uk) Limited Generalized data weighted averaging method for equally weighted multi-bit D/A elements
US10020817B1 (en) * 2017-06-21 2018-07-10 Texas Instruments Incorporated Segmented digital-to-analog converter

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0575456A (ja) * 1991-09-13 1993-03-26 Nec Corp Ａ／ｄ変換器
JP3771006B2 (ja) * 1997-07-09 2006-04-26 株式会社ルネサステクノロジ Ｄ／ａコンバータ
WO2002023727A2 (en) * 2000-09-11 2002-03-21 Broadcom Corporation Method and apparatus for mismatch shaping of an oversampled converter
TW479416B (en) * 2001-05-28 2002-03-11 Advanic Technologies Inc Multibit sigma-delta modulators with reduced based tonal problem by using dynamic element matching technique
CN101562454B (zh) * 2009-05-12 2012-07-25 凌阳多媒体股份有限公司 动态元件匹配的数字/模拟转换系统及积分三角调制装置
KR101927228B1 (ko) * 2012-04-10 2018-12-11 한국전자통신연구원 누산기 및 이를 포함하는 데이터 가중 평균화 장치
CN106899304B (zh) * 2017-01-19 2020-02-18 电子科技大学 一种基于数据权重平均化方法的多比特sigma-delta调制器及调制方法
US10615821B2 (en) * 2018-04-30 2020-04-07 Microchip Technology Incorporated Charge-based digital to analog converter with second order dynamic weighted algorithm

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6118398A (en) * 1998-09-08 2000-09-12 Intersil Corporation Digital-to-analog converter including current sources operable in a predetermined sequence and associated methods
JP2007534255A (ja) * 2004-04-20 2007-11-22 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ デジタル・アナログ変換器における誤差低減改善方法及びこの方法が適用されるデジタル・アナログ変換器
US20110006937A1 (en) * 2009-07-09 2011-01-13 Stellamar Llc Delta-Sigma-Delta Modulator
US8022850B2 (en) * 2009-09-25 2011-09-20 Freescale Semiconductor, Inc. Multiple-bit, digital-to-analog converters and conversion methods
US9214953B1 (en) * 2014-09-05 2015-12-15 Dialog Semiconductor (Uk) Limited Generalized data weighted averaging method for equally weighted multi-bit D/A elements
US10020817B1 (en) * 2017-06-21 2018-07-10 Texas Instruments Incorporated Segmented digital-to-analog converter

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
TAO ZENG等: "《New Calibration Technique for Current-Steering DACs》", 《IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON CIRCUITS AND SYSTEMS》 *

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111884727A (zh) * 2020-07-15 2020-11-03 杭州电子科技大学 一种基于数字映射的高速光子数模转换方法及系统
CN111884727B (zh) * 2020-07-15 2021-11-16 杭州电子科技大学 一种基于数字映射的高速光子数模转换方法及系统

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