CN109782503A - 一种显示模组及终端 - Google Patents

一种显示模组及终端 Download PDF

Info

Publication number
CN109782503A
CN109782503A CN201910192213.1A CN201910192213A CN109782503A CN 109782503 A CN109782503 A CN 109782503A CN 201910192213 A CN201910192213 A CN 201910192213A CN 109782503 A CN109782503 A CN 109782503A
Authority
CN
China
Prior art keywords
unit
test
source
source electrode
display module
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201910192213.1A
Other languages
English (en)
Other versions
CN109782503B (zh
Inventor
王跃林
徐敬义
任艳伟
刘铁男
韩帅
郭智昂
张慧杰
窦艳秋
智国磊
刘鹏
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
BOE Technology Group Co Ltd
Ordos Yuansheng Optoelectronics Co Ltd
Original Assignee
BOE Technology Group Co Ltd
Ordos Yuansheng Optoelectronics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by BOE Technology Group Co Ltd, Ordos Yuansheng Optoelectronics Co Ltd filed Critical BOE Technology Group Co Ltd
Priority to CN201910192213.1A priority Critical patent/CN109782503B/zh
Publication of CN109782503A publication Critical patent/CN109782503A/zh
Priority to PCT/CN2020/078622 priority patent/WO2020182126A1/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN109782503B publication Critical patent/CN109782503B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G02F1/1362—Active matrix addressed cells
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G02F1/1362—Active matrix addressed cells
    • G02F1/1368—Active matrix addressed cells in which the switching element is a three-electrode device

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)

Abstract

一种显示模组和终端，包括：两个或两个以上盒测试CT单元和源极开关；其中，CT单元设置于凹形槽的槽口(Notch)区域，用于：输出进行CT测试的测试信号；源极开关用于：导通或断开用于CT测试的各源极走线，以传输来自CT单元的测试信号。本发明实施例避免了静电释放(ESD)和线路腐蚀导致的暗线风险，改善了因ESD造成CT单元击伤而产生的暗线不良。

Description

一种显示模组及终端
技术领域
本文涉及但不限于显示器技术，尤指一种显示模组及终端。
背景技术
随着全面屏时代的到来，“刘海”和“水滴角”的显示屏设计被应用于主流的电子设备。由于集成电路(IC)对侧为凹形槽(又称为U形槽，是槽口如字母U的结构)设计，凹形槽位置涉及到电容补偿(源极(Source)走线与栅极(Gate)走线交叉，改善槽口(Notch)区对角带(Mura)不良)和左右两侧的Gate连通；参照相关设计，没有足够的空间排布盒测试(CT，CellTest)单元，因此，当前主要带凹形槽的显示屏，CT单元均设计在集成电路(IC)对侧，即盒(Cell)的单层区；图1为相关技术中显示模组的组成示意图，如图1所示，CT单元与盒测试正驱动(CTD-ODD)、盒测试负驱动(CTD-EVEN)及盒测试开关(CTSW)连接；显示模组在制样过程中，包括彩膜(CF)面(沿CF边界)切割、单层区擦拭清洁等工序均存在静电释放(ESD)击伤CT单元风险，使显示屏出现暗线不良问题。
发明内容
以下是对本文详细描述的主题的概述。本概述并非是为了限制权利要求的保护范围。
本发明实施例提供一种显示模组及终端，能够避免静电释放ESD和线路腐蚀导致的暗线风险，改善因ESD造成CT单元击伤而产生的暗线不良。
本发明实施例提供了一种显示模组，包括：两个或两个以上盒测试CT单元和源极开关；其中，
CT单元设置于凹形槽的槽口(Notch)区域，用于：输出进行CT测试的测试信号；
源极开关用于：导通或断开用于CT测试的各源极走线，以传输来自CT单元的测试信号。
可选的，所述源极开关包括：
设置于靠近IC一侧的金属线下方的第一部分，和设置于凹形槽分割线下方的第二部分。
可选的，所述源极开关具体用于：
CT测试时，导通各所述源极走线，以传输来自所述CT单元的测试信号；
CT测试后，断开各所述源极走线，以使传输所述测试信号的各所述源极走线处于悬空状态。
可选的，所述源极开关包括：薄膜晶体管(TFT)开关。
可选的，所有所述CT单元按照直线排布设置于所述分割线上方；或，
所述CT单元均排布设置于所述分割线上方。
另一方面，本发明实施例还提供一种终端，包括：包含显示模组的显示屏；其中，显示模组包括：
设置于凹形槽的槽口(Notch)区域的CT单元，用于：输出进行CT测试的测试信号；
源极开关，用于导通或断开用于CT测试的各源极走线，以传输来自CT单元的测试信号。
可选的，所述源极开关包括：
设置于靠近IC一侧的金属线下方的第一部分，和设置于凹形槽分割线下方的第二部分。
可选的，所述源极开关具体用于：
CT测试时，导通各所述源极走线，以传输来自所述CT单元的测试信号；
CT测试后，断开各所述源极走线，以使传输所述测试信号的各所述源极走线处于悬空状态。
可选的，所述源极开关包括：薄膜晶体管(TFT)开关。
可选的，所有所述CT单元按照直线排布设置于所述分割线上方；或，
所述CT单元均排布设置于所述分割线上方。
与相关技术相比，本申请技术方案包括：两个或两个以上盒测试CT单元和源极开关；其中，CT单元设置于凹形槽的槽口(Notch)区域，用于：输出进行CT测试的测试信号；源极开关用于：导通或断开用于CT测试的各源极走线，以传输来自CT单元的测试信号。本发明实施例避免了静电释放(ESD)和线路腐蚀导致的暗线风险，改善了因ESD造成CT单元击伤而产生的暗线不良。
本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
附图说明
附图用来提供对本发明技术方案的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本申请的实施例一起用于解释本发明的技术方案，并不构成对本发明技术方案的限制。
图1为相关技术中显示模组的组成示意图；
图2为本发明实施例显示模组的结构框图；
图3为本发明实施例显示模组分割线的分布示意图；
图4为本发明另一实施例显示模组的示意图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下文中将结合附图对本发明的实施例进行详细说明。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互任意组合。
在附图的流程图示出的步骤可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机系统中执行。并且，虽然在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。
图2为本发明实施例显示模组的结构框图，如图1所示，包括：两个或两个以上盒测试(CT)单元1和源极开关2；其中，
CT单元1设置于凹形槽的槽口(Notch)区域，用于：输出进行CT测试的测试信号；
源极开关2用于：导通或断开用于CT测试的各源极走线，以传输来自CT单元的测试信号。
可选的，本发明实施例源极开关2包括：
设置于靠近IC一侧的金属线下方的第一部分2-1，和设置于凹形槽分割线下方的第二部分2-2。
需要说明的是，本发明实施例源极开关的电路分布，可以由本领域技术人员根据线路分布进行确定。源极开关第一部分与金属线的距离，和第二部分与分割线的距离可以参照电路板设计相关原理进行分析设定。
可选的，本发明实施例源极开关2具体用于：
CT测试时，导通各所述源极走线，以传输来自所述CT单元的测试信号；
CT测试后，断开各所述源极走线，以使传输所述测试信号的各所述源极走线处于悬空状态。
需要说明的是，本发明实施例断开用于输入CT单元信号的源极走线可以包括：CT测试时，源极开关输出高电平，控制所有开关为打开状态，此时CT单元输出的测试信号传输到各Source走线；CT测试后，源极开关输出低电平，控制所有开关为关闭状态，各Source走线处于悬空(Floating)状态，显示模组正常显示；其中，CT测试后的时间可以包括：显示模组点灯时，由于金属走线由于SW-Source处于关闭状态，因此可以避免引入ESD风险，信赖性无风险。
可选的，本发明实施例源极开关2包括：薄膜晶体管(TFT)开关。
可选的，本发明实施例所有所述CT单元1按照直线排布设置于所述分割线上方；或，
可选的，本发明实施例所述CT单元1均排布设置于所述分割线上方。
需要说明的是，本发明实施例CT单元按照直线排布设置于分割线上方，避免对凹形槽(U槽)位置的电容补偿和栅极(Gate)走线排布造成影响，不会造成槽口(Notch)区域的边框增大；
本发明实施例CT测试后，Notch区域的CT单元随玻璃研磨或激光切割沿分割线去除；图3为本发明实施例显示模组分割线的分布示意图，如图3所示，显示模组包含：盒测试正驱动(CTD-ODD)、盒测试负驱动(CTD-EVEN)、和显示屏的列像素开关(图示的红(R)绿(G)蓝(B)像素开关)，图中的虚线分割线的位置；参见图3，本发明实施例CT单元均排布设置于所述分割线上方可以包括：槽口位置的CT单元设置在分割线往上位置，与分割线的距离可以由本领域技术人员分析确定；槽口两侧的CT单元设置在金属线靠近集成电路一侧，与金属线(列像素连接线)平行，与金属线的距离可以由本领域技术人员分析确定。考虑到研磨位置源极(Source)走线与研磨边界平齐，易引入静电释放(ESD)，且信赖性过程出现高低电压出现电化学腐蚀，在金属线下方增加薄膜晶体管(TFT)开关—源极开关(SW-Source)。CT测试后，由于金属走线由于SW-Source处于关闭状态，因此可以避免引入ESD风险，信赖性无风险。图4为本发明另一实施例显示模组的示意图，如图4所示，沿分割线研磨或激光切割后，显示模组中槽口位置的CT单元被切除。
本发明实施例将CT单元设计在IC对侧，U槽位置CT单元可以为直线设计，CT测试后将U槽位置的CT单元随U槽研磨掉；考虑ESD和走线腐蚀等因素，本发明实施例在CT单元位置增加TFT开关设计，使研磨掉CT单元的源极(Source)走线处于悬空(Floating)状态，避免了ESD和线路腐蚀导致的暗线风险，改善了因ESD造成CT单元击伤而产生的暗线不良。与相关技术相比，本发明实施例在U槽的位置为直线设计，与CT单元随着U槽排布设计，U槽位置由“5线1开关”减少至“1线1开关”，节省4根走线的空间。在Source走线增设源极开关，实现了Source走线双重保护。
与相关技术相比，本申请技术方案包括：两个或两个以上盒测试CT单元和源极开关；其中，CT单元设置于凹形槽的槽口(Notch)区域，用于：输出进行CT测试的测试信号；源极开关用于：导通或断开用于CT测试的各源极走线，以传输来自CT单元的测试信号。本发明实施例避免了静电释放(ESD)和线路腐蚀导致的暗线风险，改善了因ESD造成CT单元击伤而产生的暗线不良。
本发明实施例还提供一种终端，包括：包含显示模组的显示屏；其中，显示模组包括：
设置于凹形槽的槽口(Notch)区域的CT单元，用于：输出进行CT测试的测试信号；
源极开关，用于导通或断开用于CT测试的各源极走线，以传输来自CT单元的测试信号。
可选的，本发明实施例源极开关包括：
设置于靠近IC一侧的金属线下方的第一部分，和设置于凹形槽分割线下方的第二部分。
需要说明的是，本发明实施例源极开关的电路分布，可以由本领域技术人员根据线路分布进行确定。源极开关第一部分与金属线的距离，和第二部分与分割线的距离可以参照电路板设计相关原理进行分析设定。
可选的，本发明实施例所述源极开关具体用于：
CT测试时，导通各所述源极走线，以传输来自所述CT单元的测试信号；
CT测试后，断开各所述源极走线，以使传输所述测试信号的各所述源极走线处于悬空状态。
需要说明的是，本发明实施例断开用于输入CT单元信号的源极走线可以包括：CT测试时，源极开关输出高电平，控制所有开关为打开状态，此时CT单元输出的测试信号传输到各Source走线；CT测试后，源极开关输出低电平，控制所有开关为关闭状态，各Source走线处于悬空(Floating)状态，显示模组正常显示；其中，CT测试后的时间可以包括：显示模组点灯时，由于金属走线由于SW-Source处于关闭状态，因此可以避免引入ESD风险，信赖性无风险。
可选的，本发明实施例所述源极开关包括：薄膜晶体管(TFT)开关。
可选的，本发明实施例所有所述CT单元按照直线排布设置于所述分割线上方；或，
可选的，本发明实施例所述CT单元均排布设置于所述分割线上方。
需要说明的是，本发明实施例CT单元按照直线排布设置于分割线上方，避免对凹形槽(U槽)位置的电容补偿和栅极(Gate)走线排布造成影响，不会造成槽口(Notch)区域的边框增大；
本发明实施例将CT单元设计在IC对侧，U槽位置CT单元可以为直线设计，CT测试后将U槽位置的CT单元随U槽研磨掉；考虑ESD和走线腐蚀等因素，本发明实施例在CT单元位置增加TFT开关设计，使研磨掉CT单元的源极(Source)走线处于悬空(Floating)状态，避免了ESD和线路腐蚀导致的暗线风险，改善了因ESD造成CT单元击伤而产生的暗线不良。
与相关技术相比，本申请技术方案包括：两个或两个以上盒测试CT单元和源极开关；其中，CT单元设置于凹形槽的槽口(Notch)区域，用于：输出进行CT测试的测试信号；源极开关用于：导通或断开用于CT测试的各源极走线，以传输来自CT单元的测试信号。本发明实施例避免了静电释放(ESD)和线路腐蚀导致的暗线风险，改善了因ESD造成CT单元击伤而产生的暗线不良。
本领域普通技术人员可以理解上述方法中的全部或部分步骤可通过程序来指令相关硬件(例如处理器)完成，所述程序可以存储于计算机可读存储介质中，如只读存储器、磁盘或光盘等。可选地，上述实施例的全部或部分步骤也可以使用一个或多个集成电路来实现。相应地，上述实施例中的每个模块/单元可以采用硬件的形式实现，例如通过集成电路来实现其相应功能，也可以采用软件功能模块的形式实现，例如通过处理器执行存储于存储器中的程序/指令来实现其相应功能。本发明不限制于任何特定形式的硬件和软件的结合。
虽然本发明所揭露的实施方式如上，但所述的内容仅为便于理解本发明而采用的实施方式，并非用以限定本发明。任何本发明所属领域内的技术人员，在不脱离本发明所揭露的精神和范围的前提下，可以在实施的形式及细节上进行任何的修改与变化，但本发明的专利保护范围，仍须以所附的权利要求书所界定的范围为准。

Claims (10)

1.一种显示模组，其特征在于，包括：两个或两个以上盒测试CT单元和源极开关；其中，
CT单元设置于凹形槽的槽口Notch区域，用于：输出进行CT测试的测试信号；
源极开关用于：导通或断开用于CT测试的各源极走线，以传输来自CT单元的测试信号。
2.根据权利要求1所述的显示模组，其特征在于，所述源极开关包括：
设置于靠近IC一侧的金属线下方的第一部分，和设置于凹形槽分割线下方的第二部分。
3.根据权利要求1或2所述的显示模组，其特征在于，所述源极开关具体用于：
CT测试时，导通各所述源极走线，以传输来自所述CT单元的测试信号；
CT测试后，断开各所述源极走线，以使传输所述测试信号的各所述源极走线处于悬空状态。
4.根据权利要求1或2所述的显示模组，其特征在于，所述源极开关包括：薄膜晶体管TFT开关。
5.根据权利要求1或2所述的显示模组，其特征在于，
所有所述CT单元按照直线排布设置于所述分割线上方；或，
所述CT单元均排布设置于所述分割线上方。
6.一种终端，其特征在于，包括：包含显示模组的显示屏；其中，显示模组包括：
设置于凹形槽的槽口Notch区域的CT单元，用于：输出进行CT测试的测试信号；
源极开关，用于导通或断开用于CT测试的各源极走线，以传输来自CT单元的测试信号。
7.根据权利要求6所述的终端，其特征在于，所述源极开关包括：
设置于靠近IC一侧的金属线下方的第一部分，和设置于凹形槽分割线下方的第二部分。
8.根据权利要求6或7所述的终端，其特征在于，所述源极开关具体用于：
CT测试时，导通各所述源极走线，以传输来自所述CT单元的测试信号；
CT测试后，断开各所述源极走线，以使传输所述测试信号的各所述源极走线处于悬空状态。
9.根据权利要求6或7所述的终端，其特征在于，所述源极开关包括：薄膜晶体管TFT开关。
10.根据权利要求6或7所述的终端，其特征在于，
所有所述CT单元按照直线排布设置于所述分割线上方；或，
所述CT单元均排布设置于所述分割线上方。
CN201910192213.1A 2019-03-14 2019-03-14 一种显示模组及终端 Active CN109782503B (zh)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201910192213.1A CN109782503B (zh) 2019-03-14 2019-03-14 一种显示模组及终端
PCT/CN2020/078622 WO2020182126A1 (zh) 2019-03-14 2020-03-10 显示基板及终端

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201910192213.1A CN109782503B (zh) 2019-03-14 2019-03-14 一种显示模组及终端

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN109782503A true CN109782503A (zh) 2019-05-21
CN109782503B CN109782503B (zh) 2021-11-30

Family

ID=66488632

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201910192213.1A Active CN109782503B (zh) 2019-03-14 2019-03-14 一种显示模组及终端

Country Status (2)

Country Link
CN (1) CN109782503B (zh)
WO (1) WO2020182126A1 (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2020182126A1 (zh) * 2019-03-14 2020-09-17 京东方科技集团股份有限公司 显示基板及终端

Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102692774A (zh) * 2012-05-23 2012-09-26 深圳市华星光电技术有限公司 液晶显示面板
CN203055406U (zh) * 2012-12-24 2013-07-10 北京京东方光电科技有限公司 一种基板的信号线检测装置及显示器件
CN103713410A (zh) * 2013-12-31 2014-04-09 京东方科技集团股份有限公司 阵列基板及显示装置
JP2014145849A (ja) * 2013-01-28 2014-08-14 Sharp Corp アクティブマトリクス基板、検査方法、及び電気機器
CN106773388A (zh) * 2016-12-30 2017-05-31 深圳市华星光电技术有限公司 兼容多种边框尺寸的显示面板及显示面板的点灯测试方法
CN108122804A (zh) * 2017-12-15 2018-06-05 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 Tft阵列基板全接触式测试线路
CN108550584A (zh) * 2018-05-14 2018-09-18 昆山国显光电有限公司 阵列基板、显示装置和阵列基板的制备方法
CN108845445A (zh) * 2018-08-24 2018-11-20 武汉华星光电技术有限公司 全面显示屏及采用该全面显示屏的显示装置
CN109239951A (zh) * 2018-10-08 2019-01-18 惠科股份有限公司 一种显示面板的制作方法及显示面板
CN109272913A (zh) * 2018-12-04 2019-01-25 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 一种假压测试结构、假压测试方法及显示面板
CN109345987A (zh) * 2018-11-07 2019-02-15 上海天马微电子有限公司 显示面板和显示装置

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109782503B (zh) * 2019-03-14 2021-11-30 京东方科技集团股份有限公司 一种显示模组及终端

Patent Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102692774A (zh) * 2012-05-23 2012-09-26 深圳市华星光电技术有限公司 液晶显示面板
CN203055406U (zh) * 2012-12-24 2013-07-10 北京京东方光电科技有限公司 一种基板的信号线检测装置及显示器件
JP2014145849A (ja) * 2013-01-28 2014-08-14 Sharp Corp アクティブマトリクス基板、検査方法、及び電気機器
CN103713410A (zh) * 2013-12-31 2014-04-09 京东方科技集团股份有限公司 阵列基板及显示装置
CN106773388A (zh) * 2016-12-30 2017-05-31 深圳市华星光电技术有限公司 兼容多种边框尺寸的显示面板及显示面板的点灯测试方法
CN108122804A (zh) * 2017-12-15 2018-06-05 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 Tft阵列基板全接触式测试线路
CN108550584A (zh) * 2018-05-14 2018-09-18 昆山国显光电有限公司 阵列基板、显示装置和阵列基板的制备方法
CN108845445A (zh) * 2018-08-24 2018-11-20 武汉华星光电技术有限公司 全面显示屏及采用该全面显示屏的显示装置
CN109239951A (zh) * 2018-10-08 2019-01-18 惠科股份有限公司 一种显示面板的制作方法及显示面板
CN109345987A (zh) * 2018-11-07 2019-02-15 上海天马微电子有限公司 显示面板和显示装置
CN109272913A (zh) * 2018-12-04 2019-01-25 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 一种假压测试结构、假压测试方法及显示面板

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2020182126A1 (zh) * 2019-03-14 2020-09-17 京东方科技集团股份有限公司 显示基板及终端

Also Published As

Publication number Publication date
CN109782503B (zh) 2021-11-30
WO2020182126A1 (zh) 2020-09-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3481465B2 (ja) アクティブマトリクス基板の集合基板
CN100390624C (zh) 液晶显示装置和图像显示装置
CN101706637B (zh) 高显示质量的画素电极结构
KR100479525B1 (ko) 다수의 어레이셀을 포함하는 액정표시장치용 기판 및 이의 제조방법
CN203276738U (zh) 显示装置和电视接收装置
KR20080062265A (ko) 횡전계형 액정표시장치용 어레이 기판
CN102708771B (zh) 一种阵列基板及其制造方法、显示装置
CN107783342A (zh) 液晶显示面板及其制备方法
CN102073181B (zh) 显示基板、其制造方法以及具有该显示基板的显示设备
CN103033989A (zh) 液晶显示装置
CN107844008A (zh) 阵列基板、阵列基板的检测方法及显示面板
CN104793366A (zh) 经亮点修复后的液晶面板及其亮点修复方法
CN102645799A (zh) 一种液晶显示器件、阵列基板和彩膜基板及其制造方法
CN100492104C (zh) 显示基片及其制造方法
CN110322845A (zh) 栅极驱动电路和显示面板
CN101551539B (zh) 模框架和液晶显示装置
CN110376809A (zh) 断线修复结构、显示面板及断线修复方法
CN109782503A (zh) 一种显示模组及终端
CN201955591U (zh) 一种显示面板
CN103163704A (zh) 像素结构、阵列基板及其制造方法
CN106154663B (zh) 一种像素结构、显示装置、阵列基板及其制作方法
CN204462602U (zh) 阵列基板及显示装置
CN102043295A (zh) 阵列基板及其制造方法和液晶显示器
CN103366703B (zh) 一种3d液晶显示器及其防串扰的方法
CN110764328B (zh) 显示基板及其维修方法、和显示装置

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant