CN108847395B - 一种用于低温快速连接的预烧结纳米网络银膜制备及封装方法 - Google Patents
一种用于低温快速连接的预烧结纳米网络银膜制备及封装方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN108847395B CN108847395B CN201810661776.6A CN201810661776A CN108847395B CN 108847395 B CN108847395 B CN 108847395B CN 201810661776 A CN201810661776 A CN 201810661776A CN 108847395 B CN108847395 B CN 108847395B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- nano
- silver
- film
- network
- silver film
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims abstract description 161
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 102
- 239000004332 silver Substances 0.000 title claims abstract description 102
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 54
- 238000004806 packaging method and process Methods 0.000 title claims abstract description 15
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 title claims abstract description 12
- 238000005245 sintering Methods 0.000 claims abstract description 54
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims abstract description 38
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims abstract description 27
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 22
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 claims abstract description 18
- 238000007639 printing Methods 0.000 claims abstract description 18
- 238000002156 mixing Methods 0.000 claims abstract description 17
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims abstract description 16
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims abstract description 16
- 239000002270 dispersing agent Substances 0.000 claims abstract description 10
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 claims abstract description 9
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 claims abstract description 8
- 239000002244 precipitate Substances 0.000 claims abstract description 8
- 239000010959 steel Substances 0.000 claims abstract description 8
- 239000011247 coating layer Substances 0.000 claims description 25
- DNIAPMSPPWPWGF-UHFFFAOYSA-N Propylene glycol Chemical compound CC(O)CO DNIAPMSPPWPWGF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 21
- 239000000243 solution Substances 0.000 claims description 19
- LYCAIKOWRPUZTN-UHFFFAOYSA-N Ethylene glycol Chemical compound OCCO LYCAIKOWRPUZTN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 15
- PEDCQBHIVMGVHV-UHFFFAOYSA-N Glycerine Chemical compound OCC(O)CO PEDCQBHIVMGVHV-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 15
- 238000005119 centrifugation Methods 0.000 claims description 10
- LYRFLYHAGKPMFH-UHFFFAOYSA-N octadecanamide Chemical compound CCCCCCCCCCCCCCCCCC(N)=O LYRFLYHAGKPMFH-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- 238000003825 pressing Methods 0.000 claims description 8
- 238000003756 stirring Methods 0.000 claims description 8
- CDBYLPFSWZWCQE-UHFFFAOYSA-L Sodium Carbonate Chemical compound [Na+].[Na+].[O-]C([O-])=O CDBYLPFSWZWCQE-UHFFFAOYSA-L 0.000 claims description 7
- 238000005189 flocculation Methods 0.000 claims description 7
- 230000016615 flocculation Effects 0.000 claims description 7
- 238000004321 preservation Methods 0.000 claims description 7
- FAPWRFPIFSIZLT-UHFFFAOYSA-M Sodium chloride Chemical compound [Na+].[Cl-] FAPWRFPIFSIZLT-UHFFFAOYSA-M 0.000 claims description 6
- WUOACPNHFRMFPN-UHFFFAOYSA-N alpha-terpineol Chemical compound CC1=CCC(C(C)(C)O)CC1 WUOACPNHFRMFPN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 239000002131 composite material Substances 0.000 claims description 6
- SQIFACVGCPWBQZ-UHFFFAOYSA-N delta-terpineol Natural products CC(C)(O)C1CCC(=C)CC1 SQIFACVGCPWBQZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 230000003311 flocculating effect Effects 0.000 claims description 6
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 6
- 229940116411 terpineol Drugs 0.000 claims description 6
- 239000013049 sediment Substances 0.000 claims description 5
- 239000001509 sodium citrate Substances 0.000 claims description 5
- NLJMYIDDQXHKNR-UHFFFAOYSA-K sodium citrate Chemical compound O.O.[Na+].[Na+].[Na+].[O-]C(=O)CC(O)(CC([O-])=O)C([O-])=O NLJMYIDDQXHKNR-UHFFFAOYSA-K 0.000 claims description 5
- DBMJMQXJHONAFJ-UHFFFAOYSA-M Sodium laurylsulphate Chemical compound [Na+].CCCCCCCCCCCCOS([O-])(=O)=O DBMJMQXJHONAFJ-UHFFFAOYSA-M 0.000 claims description 4
- 229920000120 polyethyl acrylate Polymers 0.000 claims description 4
- 229920000036 polyvinylpyrrolidone Polymers 0.000 claims description 4
- 235000013855 polyvinylpyrrolidone Nutrition 0.000 claims description 4
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 claims description 4
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 claims description 4
- 229940037312 stearamide Drugs 0.000 claims description 4
- 239000001856 Ethyl cellulose Substances 0.000 claims description 3
- 239000004372 Polyvinyl alcohol Substances 0.000 claims description 3
- PMZURENOXWZQFD-UHFFFAOYSA-L Sodium Sulfate Chemical compound [Na+].[Na+].[O-]S([O-])(=O)=O PMZURENOXWZQFD-UHFFFAOYSA-L 0.000 claims description 3
- 150000001408 amides Chemical class 0.000 claims description 3
- 229920001249 ethyl cellulose Polymers 0.000 claims description 3
- 235000019325 ethyl cellulose Nutrition 0.000 claims description 3
- 229920000609 methyl cellulose Polymers 0.000 claims description 3
- 229920002401 polyacrylamide Polymers 0.000 claims description 3
- 229920002451 polyvinyl alcohol Polymers 0.000 claims description 3
- 229910000029 sodium carbonate Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229920002554 vinyl polymer Polymers 0.000 claims description 3
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical group CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 239000002202 Polyethylene glycol Substances 0.000 claims description 2
- VMHLLURERBWHNL-UHFFFAOYSA-M Sodium acetate Chemical compound [Na+].CC([O-])=O VMHLLURERBWHNL-UHFFFAOYSA-M 0.000 claims description 2
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000010949 copper Substances 0.000 claims description 2
- JRBPAEWTRLWTQC-UHFFFAOYSA-N dodecylamine Chemical compound CCCCCCCCCCCCN JRBPAEWTRLWTQC-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 239000001761 ethyl methyl cellulose Substances 0.000 claims description 2
- 235000010944 ethyl methyl cellulose Nutrition 0.000 claims description 2
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000010931 gold Substances 0.000 claims description 2
- 239000011259 mixed solution Substances 0.000 claims description 2
- 238000007747 plating Methods 0.000 claims description 2
- 229920001223 polyethylene glycol Polymers 0.000 claims description 2
- 235000019422 polyvinyl alcohol Nutrition 0.000 claims description 2
- 239000001267 polyvinylpyrrolidone Substances 0.000 claims description 2
- 239000012266 salt solution Substances 0.000 claims description 2
- 239000001632 sodium acetate Substances 0.000 claims description 2
- 235000017281 sodium acetate Nutrition 0.000 claims description 2
- 235000017550 sodium carbonate Nutrition 0.000 claims description 2
- 239000011780 sodium chloride Substances 0.000 claims description 2
- 235000002639 sodium chloride Nutrition 0.000 claims description 2
- 229910052938 sodium sulfate Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 235000011152 sodium sulphate Nutrition 0.000 claims description 2
- 238000003466 welding Methods 0.000 abstract description 16
- 230000008569 process Effects 0.000 abstract description 13
- 238000005476 soldering Methods 0.000 abstract description 7
- 230000004907 flux Effects 0.000 abstract description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 abstract description 3
- 230000007547 defect Effects 0.000 abstract description 2
- 238000010008 shearing Methods 0.000 abstract description 2
- 238000005219 brazing Methods 0.000 abstract 1
- 230000035484 reaction time Effects 0.000 description 5
- 238000005054 agglomeration Methods 0.000 description 4
- 230000002776 aggregation Effects 0.000 description 4
- 238000005538 encapsulation Methods 0.000 description 4
- 239000002055 nanoplate Substances 0.000 description 4
- 239000005416 organic matter Substances 0.000 description 4
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 4
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 3
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 3
- 239000002105 nanoparticle Substances 0.000 description 3
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 3
- CIWBSHSKHKDKBQ-JLAZNSOCSA-N Ascorbic acid Chemical compound OC[C@H](O)[C@H]1OC(=O)C(O)=C1O CIWBSHSKHKDKBQ-JLAZNSOCSA-N 0.000 description 2
- 230000006835 compression Effects 0.000 description 2
- 238000007906 compression Methods 0.000 description 2
- 238000005336 cracking Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 2
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 2
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 2
- ZZSNKZQZMQGXPY-UHFFFAOYSA-N Ethyl cellulose Chemical compound CCOCC1OC(OC)C(OCC)C(OCC)C1OC1C(O)C(O)C(OC)C(CO)O1 ZZSNKZQZMQGXPY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 1
- 229960005070 ascorbic acid Drugs 0.000 description 1
- 235000010323 ascorbic acid Nutrition 0.000 description 1
- 239000011668 ascorbic acid Substances 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 1
- 238000000748 compression moulding Methods 0.000 description 1
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 1
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 1
- 230000001627 detrimental effect Effects 0.000 description 1
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 1
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 1
- 238000004100 electronic packaging Methods 0.000 description 1
- 230000002349 favourable effect Effects 0.000 description 1
- 239000007888 film coating Substances 0.000 description 1
- 238000009501 film coating Methods 0.000 description 1
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 239000003112 inhibitor Substances 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 210000005067 joint tissue Anatomy 0.000 description 1
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 1
- 238000009766 low-temperature sintering Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000001923 methylcellulose Substances 0.000 description 1
- 235000010981 methylcellulose Nutrition 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 239000005022 packaging material Substances 0.000 description 1
- 238000001259 photo etching Methods 0.000 description 1
- 239000004014 plasticizer Substances 0.000 description 1
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 description 1
- 238000001338 self-assembly Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 1
- 238000010345 tape casting Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/48—Manufacture or treatment of parts, e.g. containers, prior to assembly of the devices, using processes not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326
- H01L21/4814—Conductive parts
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/50—Assembly of semiconductor devices using processes or apparatus not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326, e.g. sealing of a cap to a base of a container
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Powder Metallurgy (AREA)
Abstract
本专利提出了一种低温快速连接的预烧结纳米网络银膜制备及封装方法,其制备方法包括,S1:制备特定尺寸的纳米银颗粒;S2:将纳米银颗粒溶解于有机溶剂,并对其进行化学剪薄;S3:将所得纳米银沉淀与粘结剂,分散剂和有机溶剂按照一定比例进行机械混合,得到纳米银膏;S4:使用钢网印刷或涂布等方式将银膏在柔性基板上印刷成膜,并在加热后得到预烧结纳米网络银膜。该纳米网络银膜解决了传统纳米银焊膏无法实现大面积焊点的快速制备的问题,同时克服了普通银膜中银颗粒烧结性能差的缺点。本发明简化了纳米银焊点的烧结工艺,获得接头性能良好且无钎剂残留,过程绿色环保,可作为新一代大尺寸高功率芯片封装的互连材料。
Description
技术领域
本发明涉及电子封装领域,更具体地,涉及一种用于低温快速连接的预烧结纳米网络银膜的制备及封装方法。
背景技术
在电子电力领域中,器件往往需要承载较大的开关电流、电压,能量密度以及长期服役可靠性,IGBT模块作为其核心,往往需要兼具优良的散热、导电以及机械性能,这对器件封装提出了较为苛刻的要求。传统的IGBT模块使用压接成型,该方法的优势在于通过机械压合,器件具有较好的力学可靠性,操作简单,无需考虑焊接各参数以及焊点组织演化带来的服役可靠性问题。然而随着器件集成度增加,压接成型带来的高接触电阻及热阻已经无法满足器件要求。
锡基钎料是早期用于IGBT钎焊封装的解决方案,然而传统钎料较低的重溶温度及较低的热导率同样不适用于大功率IGBT芯片的长期可靠服役。尤其近年来以SiC为代表的宽禁带半导体材料,可在高于350℃的条件下稳定工作,对软钎焊互连提出了更大的挑战。研究人员开发出纳米银膏材料,利用纳米的低温烧结高温服役特性,为大功率高密度的芯片封装提出了新的解决思路。然而对于大尺寸芯片封装,纳米银膏存在中心焊点溶剂挥发受阻、包覆层难以分解的问题,无法实现大面积高可靠性、高导热率的焊点成型;此外,烧结银膏焊点性能还依赖于印刷工艺、烘干工艺和较长的烧结时间,并不适用与大范围的工业推广。
例如现有技术CN106783768A公开了一种预成型纳米银膜,其各组成成份及质量百分含量为:纳米银粉60-90%,成膜剂5-15%,分散剂1-5%,增塑剂1-5%,粘度调节剂1-5%,缓蚀剂1-5%,助焊剂1-5%;所述预成型纳米银膜采用流延法来进行制备。该方案的有机物成分较多,无法在焊点成型时有效分解、挥发,带来有机物残留等问题。后期可能需要结合清洗工艺进行助焊剂等有机物的去除,增加了工艺的复杂性。
另外CN106601914A一种多晶超薄金属薄膜及二维纳米图形的制备方法,该方法包括:利用紫外光刻工艺制备具有特殊形貌的单元组成的二维阵列结构,形成聚合物掩膜;通过抗坏血酸AA修饰的高产率银纳米板溶液实现单分散银纳米板在衬底的密集自组装;通过显影液去除聚合物掩膜,在衬底上形成图案化自组装银纳米板阵列;通过物理或化学方法去除衬底上的银纳米板包裹;最后通过续生长形成(准)连续的多晶超薄金属薄膜及二维纳米图形。该方案主要提出了一种基于模板法制备纳米图形的方法,可制得较为精细的二维图案,然而模板法存在价格高昂,产量低等问题。并不适用于封装材料行业的大规模应用。
发明内容
针对上述问题,本发明创新性地提出预烧结纳米网络银膜制备方法及快速烧结方案,通过预烧结成型,去除了焊膏中的有机溶剂同时几乎不损失纳米银的烧结性能,可用于大面积高功率芯片封装。相比于传统纳米银烧结,该封装方法可在短时间内实现高导热、高强度、高可靠性的互连焊点成型。
本发明通过以下技术方案实现,一种可用于低温快速连接的预烧结纳米网络银膜的制备方法,包括以下步骤:
S1:制备特定尺寸的表面有包覆层的纳米银颗粒;
S2:将表面有包覆层的纳米银颗粒使用超声搅拌溶解于有机溶剂,使用含饱和金属盐浓度的有机溶剂对其进行絮凝、离心,将上述方法重复多次后,获得包覆层化学剪薄后的纳米银沉淀;
S3:将所得纳米银沉淀与粘结剂,分散剂和有机溶剂按照一定比例进行机械混合,得到纳米银膏;
S4:使用钢网印刷或涂布等方式将银膏在柔性基板上印刷成膜,并在烘箱中加热后得到预烧结纳米网络银膜。
进一步的优选方案为,所述的一种可用于低温快速连接的预烧结纳米网络银膜的制备方法中,所述步骤S1中使用纳米银颗粒的有机包覆层为柠檬酸钠,十二烷胺或聚乙烯吡咯烷酮中的一种,纳米银颗粒尺寸为10-100nm,其中包覆层的厚度为1-3nm。纳米银颗粒优选粒径为50nm,该尺寸既可以保证良好的烧结驱动力,又可以降低包覆层含量而不会提前发生团聚。
包覆层的制备可以通过传统的溶液加热搅拌获得,将包覆层物质加入到剧烈搅拌的纳米银水溶液中,溶液温度为60℃,反应时间为5min,包覆层与纳米银的质量比为1:1。该方案相比于无包覆层的纳米银颗粒,具有更好地分散性,避免颗粒因团聚而导致后续的烧结性能下降;包覆层同时可以改善纳米银颗粒与粘结剂,分散剂和有机溶剂的结合力,改善其在后续烧结过程中的开裂、不均匀性等问题。
进一步的优选方案为,所述步骤S2中使用的有机溶剂为乙二醇,1-2丙二醇,1-3丙二醇,丙三醇,聚乙二醇和松油醇中的至少一种。纳米银颗粒与有机溶剂的质量比为1:5-1:9。该混合、溶液记为A溶液。优选为1:9,该比例可使得纳米银颗粒快速溶解,减少超声搅拌时间,防止超声引起的团聚。所述步骤S2中的金属盐为氯化钠,碳酸钠,醋酸钠,硫酸钠中的至少一种,优选碳酸钠,该金属盐易于分解,烧结后无残留。该饱和盐溶液记为B溶液。质量比A:B=1:1-5:1。所述步骤S2中的絮凝、离心次数为1-5次,絮凝时间为3min,离心转速为3000r/min,离心时间为5min。优选3次,次数较少则不能很好的对包覆层进行剪薄,次数多可能引发纳米颗粒的提前团聚。3次絮凝后,包覆层厚度有1-3nm减少为0.2-0.5nm。包覆层的剪薄有利于降低纳米银颗粒的烧结温度,使得较低的温度下即可实现纳米网络银膜的制备。
进一步的优选方案为,所述步骤S3中银膏中银颗粒的质量分数为50-75%,粘结剂的质量分数为0.1-1%,分散剂的质量分数为1-5%,其余为有机溶剂。其中,粘结剂为聚乙烯醇,乙基纤维素,甲基纤维素,聚丙烯酸乙酯中的至少一种。粘结剂的加入可以有效防止预烧结过程中因体积收缩导致的薄膜开裂。分散剂为十二烷基硫酸钠,聚乙烯酰胺,聚丙烯酰胺,硬脂酰胺中的至少一种。分散剂可以有助于纳米颗粒与有机溶剂的均匀分散,防止溶剂析出,从而改善银膏印刷性能,增加表面平整度。
进一步的优选方案为,所述步骤S4中的柔性基底可为PET,PI等有机薄膜,优选可耐温PET,利于一次印刷过程中银膜与有机薄膜的脱离。烘箱加热温度为150-200℃,时间为5-20min。优选180℃,该温度下可以保证预烧结过程中纳米银烧结网络的形成。温度低会导致无法形成烧结颈,成膜性能下降。温度高则会导致纳米颗粒的过度烧结,不利于后续的一次烧结和二次烧结性能。
本发明的另一目的在于提供一种预烧结纳米网络银膜,所述优异性能的纳米网络银膜通过前述指标方法获得。
本发明的另一目的在于提供一种针对预烧结纳米网络银膜的封装方法,包括以下步骤:
其中预烧结纳米网络银膜通过上述方法得到。
S1:将芯片表贴于银膜表面,并置于加热台上。对芯片-银膜复合结构施加压力,形成一次烧结,保温一段时间后将底部覆盖银膜的芯片从有机基板上取下。
S2:将底部附着银膜的芯片放置于待焊基板上形成三明治烧结结构,然后置于加热台上,施加压力形成二次烧结。
进一步的优选方案为,所述步骤S1中使用芯片底部进行镀金、银或铜处理,以保证一次烧结时的界面结合力以及二次烧结时的界面冶金强度。加热台预设温度为130-180℃,一次烧结施加压力为1-5MPa,保温时间为1-10s。该预设温度过低时无法保证一次烧结时的结合强度,导致银膜与基板无法完全剥离。该预设温度过高则导致银膜的过分烧结,不利于二次烧结时银膜与下基板的互连键合。施加压力与保温时间的影响作用与温度相同。
进一步的优选方案为,所述步骤S2中加热台预设温度为230-280℃,二次烧结压力为5-15MPa,保温时间为1-10min。
本发明相对于现有技术的有益效果:
(1)本发明基于纳米网络结构银膜良好的烧结驱动力,解决了现有银膏无法短时间快速烧结大面积焊点的缺点;相比于其他银膜技术方案,该银膜包覆层含量低,易于烧结;预烧结纳米网络结构在保证了银膜柔韧性的前提下,不损失烧结性能;有机物成分含量极少且在烧结温度下易分解,形成焊点无残留、无钎剂,绿色环保。
(2)同时提出了可快速互连的封装方法及工艺,工序简单,烧结时间短,在2min内即可实现大面积互连焊点成型,大幅度提高了纳米银的烧结速率。采用设备简单,生产投入成本低,工业推广前景十分广阔。
附图说明
图1为预烧结纳米网络银膜的扫描电子显微镜示意图。
具体实施方式
下面通过实施例和附图解释本发明,但本发明不局限于此。
实施例1一种可低温快速连接的预烧结网络银膜的制备方法,包括:
(S1):制备尺寸为20nm的包覆柠檬酸钠的银颗粒。包覆层制备的溶液温度为60℃,反应时间为5min,包覆层与纳米银的质量比为1:1;
(S2):将表面有包覆层的纳米银颗粒使用超声搅拌溶解于乙二醇,质量分数比为1:5,使用含饱和氯化钠的乙二醇溶液对其进行絮凝、离心,絮凝时间为3min,离心转速为3000r/min,离心时间为5min,A:B=3:1,将上述方法重复4次后,获得包覆层化学剪薄后的纳米银沉淀;
(S3):将所得纳米银沉淀与聚乙烯醇,十二烷基硫酸钠和乙二醇按照质量比52:0.5:2:45.5使用行星式混膏机进行充分的机械混合,混合时间为5min,得到纳米银膏;
(S4):使用钢网印刷等方式将银膏在PET上印刷成膜,膜厚为150μm,并在烘箱中160℃加热5min后得到预烧结纳米网络银膜,扫描电子显微镜示意图如图1所示。
实施例2一种可低温快速连接的预烧结网络银膜的制备方法,包括:
(S1):制备尺寸为50nm的包覆柠檬酸钠的银颗粒。包覆层制备的溶液温度为60℃,反应时间为5min,包覆层与纳米银的质量比为1:1;
(S2):将表面有包覆层的纳米银颗粒使用超声搅拌溶解于1-2丙二醇,质量分数比为1:9,使用含饱和碳酸钠的1-2丙二醇溶液对其进行絮凝、离心,絮凝时间为3min,离心转速为3000r/min,离心时间为5min,A:B=1:1,将上述方法重复3次后,获得包覆层化学剪薄后的纳米银沉淀;
(S3):将所得纳米银沉淀与乙基纤维素,十二烷基硫酸钠,聚乙烯酰胺和1-2丙二醇按照质量比62:0.2:1:36.8使用行星式混膏机进行充分的机械混合,混合时间为5min,得到纳米银膏;
(S4):使用钢网印刷等方式将银膏在PET上印刷成膜,膜厚为150μm,并在烘箱中180℃加热10min后得到预烧结纳米网络银膜。
实施例3一种可低温快速连接的预烧结网络银膜的制备方法,包括:
(S1):制备尺寸为70nm的包覆PVP的银颗粒,包覆层制备的溶液温度为60℃,反应时间为5min,包覆层与纳米银的质量比为1:1;
(S2):将表面有包覆层的纳米银颗粒使用超声搅拌溶解于丙三醇,质量分数比为1:6,使用含饱和硫酸钠的丙三醇溶液对其进行絮凝、离心,絮凝时间为3min,离心转速为3000r/min,离心时间为5min,A:B=4:1,将上述方法重复5次后,获得包覆层化学剪薄后的纳米银沉淀;
(S3):将所得纳米银沉淀与甲基纤维素,聚丙烯酰胺和丙三醇按照质量比70:1:5:25.2使用行星式混膏机进行充分的机械混合,混合时间为5min,得到纳米银膏;
(S4):使用钢网印刷等方式将银膏在PI上印刷成膜,膜厚为150μm,并在烘箱中200℃加热15min后得到预烧结纳米网络银膜。
实施例4一种可低温快速连接的预烧结网络银膜的制备方法,包括:
(S1):制备尺寸为100nm的包覆PVP的银颗粒,包覆层制备的溶液温度为60℃,反应时间为5min,包覆层与纳米银的质量比为1:1;
(S2):将表面有包覆层的纳米银颗粒使用超声搅拌溶解于松油醇,质量分数比为1:9,使用含饱和氯化钠的松油醇溶液对其进行絮凝、离心,絮凝时间为3min,离心转速为3000r/min,离心时间为5min,A:B=3:1,将上述方法重复3次后,获得包覆层化学剪薄后的纳米银沉淀;
(S3):将所得纳米银沉淀与聚丙烯酸乙酯,硬脂酰胺和松油醇按照质量比58:0.1:3:38.9使用行星式混膏机进行充分的机械混合,混合时间为5min,得到纳米银膏;
(S4):使用钢网印刷等方式将银膏在PI上印刷成膜,膜厚为150μm,并在烘箱中200℃加热20min后得到预烧结纳米网络银膜。
实施例5一种针对预烧结纳米网络银膜的封装方法,包括:
(S1):将背面镀银的芯片表贴于实施例1的银膜表面,并置于加热台上,预设温度为130℃。对芯片-银膜复合结构施加压力5MPa,形成一次烧结,保温5s后将底部覆盖银膜的芯片从有机基底上取下。
(S2):将底部附着银膜的芯片放置于待焊基板上形成三明治烧结结构,然后置于加热台上,预设温度为270℃,施加压力5MPa,保温时间5min形成二次烧结。焊后焊点剪切强度为47MPa,热导率为207W/mK。
实施例6一种针对预烧结纳米网络银膜的封装方法,包括:
(S1):将背面镀银的芯片表贴于实施例2的银膜表面,并置于加热台上,预设温度为150℃。对芯片-银膜复合结构施加压力2MPa,形成一次烧结,保温3s后将底部覆盖银膜的芯片从有机基底上取下。
(S2):将底部附着银膜的芯片放置于待焊基板上形成三明治烧结结构,然后置于加热台上,预设温度为250℃,施加压力10MPa,保温时间10min形成二次烧结。焊后焊点剪切强度为73MPa,热导率为260W/mK。
实施例7一种针对预烧结纳米网络银膜的封装方法,包括:
(S1):将背面镀银的芯片表贴于实施例3的银膜表面,并置于加热台上,预设温度为180℃。对芯片-银膜复合结构施加压力1MPa,形成一次烧结,保温10s后将底部覆盖银膜的芯片从有机基底上取下。
(S2):将底部附着银膜的芯片放置于待焊基板上形成三明治烧结结构,然后置于加热台上,预设温度为230℃,施加压力15MPa,保温时间5min形成二次烧结。焊后焊点剪切强度为32MPa,热导率为146W/mK。
对比例1一种可低温快速连接的预烧结网络银膜的制备方法,包括:
(S1):制备尺寸为50nm的包覆柠檬酸钠的银颗粒;
(S2):将表面有包覆层的纳米银颗粒与聚丙烯酸乙酯,硬脂酰胺和松油醇按照质量比58:0.1:3:38.9进行机械混合,得到纳米银膏;
(S3):使用钢网印刷等方式将银膏在PI上印刷成膜,并在烘箱中180℃加热20min后得到预烧结纳米网络银膜。
对比例2一种针对预烧结纳米网络银膜的封装方法,包括:
(S1):将背面镀银的芯片表贴于对比例1的银膜表面,并置于加热台上,预设温度为180℃。对芯片-银膜复合结构施加压力5MPa,形成一次烧结,保温10s后将底部覆盖银膜的芯片从有机基底上取下。
(S2):将底部附着银膜的芯片放置于待焊基板上形成三明治烧结结构,然后置于加热台上,预设温度为250℃,施加压力10MPa,保温时间10min形成二次烧结。焊后焊点剪切强度为18MPa,热导率为79W/mK。
这是由于该纳米银颗粒未经剪薄,导致无法形成预烧结网络,成膜性较差,无法实现良好的一次烧结,导致后续焊接的焊合率下降。在二次烧结过程中,较厚的包覆层依然阻碍烧结,使得在短时间内无法形成致密的焊点,力学性能、导热性能均明显下降。
本领域的技术人员容易理解,以上所述仅为本发明的较佳实施例而已,并不用以限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (7)
1.一种可用于低温快速连接的预烧结纳米网络银膜的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1:制备特定尺寸的表面有包覆层的纳米银颗粒;
S2:将表面有包覆层的纳米银颗粒使用超声搅拌溶解于有机溶剂,使用含饱和金属盐浓度的有机溶剂对其进行絮凝、离心,将上述方法重复多次后,获得包覆层化学剪薄后的纳米银沉淀;
S3:将所得纳米银沉淀与粘结剂,分散剂和有机溶剂按照一定比例进行机械混合,得到纳米银膏;
S4:使用钢网印刷或涂布方式将银膏在柔性基板上印刷成膜,并在烘箱中加热后得到预烧结纳米网络银膜;
所述步骤S1中使用纳米银颗粒的有机包覆层为柠檬酸钠,十二烷胺或聚乙烯吡咯烷酮中的一种,纳米银颗粒尺寸为10-100nm,其中包覆层的厚度为0.2-2nm;
所述步骤S2中使用的有机溶剂为乙二醇,1-2丙二醇,1-3丙二醇,丙三醇,聚乙二醇和松油醇中的至少一种;纳米银颗粒与有机溶剂的质量比为1:5-1:9;该混合溶液记为A溶液;所述步骤S2中的金属盐为氯化钠,碳酸钠,醋酸钠,硫酸钠中的至少一种,该饱和盐溶液记为B溶液;质量比A:B=1:1-5:1;所述步骤S2中的絮凝、离心次数为1-5次。
2.根据权利要求1所述的一种可用于低温快速连接的预烧结纳米网络银膜的制备方法,其特征在于:所述步骤S3中银膏中银颗粒的质量分数为50-75%,粘结剂的质量分数为0.1-1%,分散剂的质量分数为1-5%;其中,粘结剂为聚乙烯醇,乙基纤维素,甲基纤维素,聚丙烯酸乙酯中的至少一种;分散剂为十二烷基硫酸钠,聚乙烯酰胺,聚丙烯酰胺,硬脂酰胺中的至少一种。
3.根据权利要求1所述的一种可用于低温快速连接的预烧结纳米网络银膜的制备方法,其特征在于:所述步骤S4中的柔性基底可为PET,PI有机薄膜,烘箱加热温度为150-200℃,时间为5-20min。
4.一种可用于低温快速连接的预烧结纳米网络银膜,其特征在于,所述纳米网络银膜通过权利要求1-3任一项所述的制备方法制备得到。
5.一种预烧结纳米网络银膜的封装方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1:将芯片表贴于权利要求4所述的纳米网络银膜的表面,并置于加热台上;对芯片-银膜复合结构施加压力,形成一次烧结,保温一段时间后将底部覆盖银膜的芯片从有机基板上取下;
S2:将底部附着银膜的芯片放置于待焊基板上形成三明治烧结结构,然后置于加热台上,施加压力形成二次烧结。
6.根据权利要求5所述的一种预烧结纳米网络银膜的封装方法,其特征在于:所述步骤S1中使用芯片底部进行镀金、银或铜处理,加热台预设温度为130-180℃,一次烧结施加压力为1-5MPa,保温时间为1-10s。
7.根据权利要求6所述的一种预烧结纳米网络银膜的封装方法,其特征在于:所述步骤S2中加热台预设温度为230-280℃,二次烧结压力为5-15MPa,保温时间为1-10min。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201810661776.6A CN108847395B (zh) | 2018-06-25 | 2018-06-25 | 一种用于低温快速连接的预烧结纳米网络银膜制备及封装方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201810661776.6A CN108847395B (zh) | 2018-06-25 | 2018-06-25 | 一种用于低温快速连接的预烧结纳米网络银膜制备及封装方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN108847395A CN108847395A (zh) | 2018-11-20 |
CN108847395B true CN108847395B (zh) | 2020-01-07 |
Family
ID=64202407
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201810661776.6A Active CN108847395B (zh) | 2018-06-25 | 2018-06-25 | 一种用于低温快速连接的预烧结纳米网络银膜制备及封装方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN108847395B (zh) |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN109545696B (zh) * | 2018-11-28 | 2023-01-06 | 哈尔滨工业大学 | 一种采用单相纳米银铜合金焊膏制备低温连接高温服役接头的方法 |
CN109979905B (zh) * | 2019-04-03 | 2021-07-30 | 深圳第三代半导体研究院 | 一种纳米金属膜预制模块及其制备方法 |
CN110289120B (zh) * | 2019-05-09 | 2020-11-10 | 深圳市先进连接科技有限公司 | 一种复合烧结银预成型片的制备及封装方法 |
CN110640354B (zh) * | 2019-08-27 | 2022-03-04 | 北京康普锡威科技有限公司 | 一种预成型焊料及其制备方法 |
CN112053797B (zh) * | 2020-08-20 | 2023-03-03 | 深圳市先进连接科技有限公司 | 电子封装银浆、电子封装银膜及其制备方法 |
FR3113774B1 (fr) | 2020-09-03 | 2023-04-21 | Commissariat Energie Atomique | Procédé d’interconnexion de composants d’un système électronique par frittage |
FR3113773B1 (fr) | 2020-09-03 | 2023-04-21 | Commissariat Energie Atomique | Procédé d’interconnexion de composants d’un système électronique par frittage |
CN112086372B (zh) * | 2020-09-21 | 2022-02-18 | 南瑞联研半导体有限责任公司 | 一种用于高结温功率模块芯片正面连接的封装材料结构层及其制作方法 |
CN112192085A (zh) * | 2020-10-14 | 2021-01-08 | 哈尔滨工业大学(深圳) | 一种复合焊料预成型片及其制备方法、及封装方法 |
CN115121466B (zh) * | 2022-07-11 | 2023-07-18 | 桂阳县华毅石墨有限公司 | 一种承载式预成型纳米银膜及其制备方法和应用 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20120123017A (ko) * | 2009-12-14 | 2012-11-07 | 가부시끼가이샤 다이셀 | 다공질층을 갖는 적층체, 및 그것을 사용한 기능성 적층체 |
CN102827509B (zh) * | 2012-10-08 | 2014-06-25 | 中国科学院宁波材料技术与工程研究所 | 一种纳米银导电墨水及其制备方法 |
CN105414556A (zh) * | 2015-11-27 | 2016-03-23 | 上海无线电设备研究所 | 一种水基纳米银浆减薄方法及其用途 |
-
2018
- 2018-06-25 CN CN201810661776.6A patent/CN108847395B/zh active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN108847395A (zh) | 2018-11-20 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN108847395B (zh) | 一种用于低温快速连接的预烧结纳米网络银膜制备及封装方法 | |
CN109935563B (zh) | 一种多尺寸混合纳米颗粒膏体及其制备方法 | |
CN112157371B (zh) | 一种亚微米Cu@Ag焊膏及其制备方法 | |
CN109664049B (zh) | 一种用于电子封装领域的多尺度微纳米颗粒复合焊膏及其制备方法 | |
CN107833651A (zh) | 一种复合纳米银膏及快速烧结封装方法 | |
CN106457404B (zh) | 用于制造金属粉末的方法 | |
JP2007527102A (ja) | 相互接続用のナノスケールの金属ペーストおよび使用方法 | |
JP2017514995A (ja) | 低圧焼結用粉末 | |
WO2023109597A1 (zh) | 纳米铜焊膏及其在芯片封装互连结构中的应用 | |
WO2020215739A1 (zh) | 一种纳米金属膜模块制备方法及其基板制备方法 | |
Liu et al. | Microstructural evolution, fracture behavior and bonding mechanisms study of copper sintering on bare DBC substrate for SiC power electronics packaging | |
JP6617049B2 (ja) | 導電性ペースト及び半導体装置 | |
CN110508970A (zh) | 一种三峰体系混合银焊膏及其应用 | |
Zhang et al. | Effects of sintering pressure on the densification and mechanical properties of nanosilver double-side sintered power module | |
WO2015029152A1 (ja) | 半導体装置 | |
CN113579563B (zh) | 纳米立方银焊膏、互连结构及焊接方法 | |
CN113798730A (zh) | 一种微纳米银铜合金焊料及其制备方法 | |
CN108305838B (zh) | 一种不含有机物的低温芯片贴装方法及芯片贴装结构 | |
JP6170045B2 (ja) | 接合基板及びその製造方法ならびに接合基板を用いた半導体モジュール及びその製造方法 | |
TWI808208B (zh) | 用於燒結黏晶及類似應用之奈米銅糊及膜及製造燒結粉末的方法 | |
CN110033877B (zh) | 一种银基导电浆料及其制备方法和在封装芯片互连中的应用 | |
JP2006120973A (ja) | 回路基板および回路基板の製造方法 | |
CN216213425U (zh) | 一种半导体封装结构 | |
CN111415903B (zh) | 一种基于反应性膏体的互连方法 | |
Lu et al. | Enhanced Mechanical and Thermal Properties of Ag Joints Sintered by Spark Plasma Sintering |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |