CN1082198C - 一种能改变成象曝光量的电照相设备 - Google Patents

Abstract

一种电照相设备，包括一个电照相感光部件；一种与上述感光部件相接触，以在充电区域为上述感光部件进行充电的充电部件；对上述感光部件进行曝光，以对上述感光部件进行放电的曝光部件，其中上述感光部件上被上述曝光部件放电的区域就是在上述充电区域，检测上述充电部件和感光部件之间的电压-电流特性；用于改变从上述曝光部件入射到上述感光部件光通量的变换部件。

Description

一种能改变成象曝光量的电照相设备

本发明涉及一种电照相设备，该设备有一个能与感光部件相接触并为该感光部件充电的充电部件。

通常，在电照相设备的复印机或激光打印机中，使用一种接触充电装置如导电辊，导电刷与感光部件相接触，从而对其充电。与带有屏蔽罩和金属丝的电晕充电装置相比，接触充电装置具有电源电压低，产生臭氧量少的优点。

然而，随着电照相设备的长期使用，与感光层相接触的清洁刮板和接触充电部件会使感光层受到刮损，从而使感光部件的充电电位变化。这是一个问题。为了防止因感光层厚度减少而引起的感光部件充电电位的变化，EP-A568352提议预先测量或估计感光层厚度的减小量。在EP-A568352中，为了预测感光层厚度，在与感光部件相接触的充电部件上施加一预定电压，然后测量流过该充电部件的电流。这样测得的电流，会随着感光层厚度的减小而增加。在测量流过该充电部件的电流之前，应通过一预曝光灯形式的曝光部件使感光部件均匀放电。在成像过程中，根据测量到的电流控制施加在充电部件上的电压，从而使感光部件获得所期望的电位。

然而，由于感光部件的生产存在很大的差异，在某些情况下，两个感光层厚度相同的感光部件测得电流的平均值也不同。也就是说，即使感光层的厚度基本相同，尽管从该预曝光灯施加到感光部件的光通量相同，感光度也会随着检测电流平均值的变化而变化。如果检测电流的平均值发生变化，该装置预测的电流就是错误的，因为感光层的厚度是不同的。在成像过程中，错误的预测结果会造成施加在充电部件上的电压过大和不足，因此，会使感光部件的电位不正确，进而使图像密度不正确。还应当考虑到，尽管没有将光通量比较明显不同的感光部件装到该设备中，但是应当承认产量是减少了。

因此，本发明的主要目的是提供一种其感光部件能够高产量生产的电照相设备。

本发明的另一目的是提供一种能够得到适当的图象密度的电照相设备。

本发明的再一个目的是提供一种即使长期使用后，感光部件的电位仍能够稳定的电照相设备。

通过下面结合附图对本发明的说明，本发明的这些和其它目的，特征和优点将会变得更清楚。

图1是本发明第一实施例的电照相设备的断面图。

图2是电照相设备的操作程序图。

图3(a)和(b)是充电特性曲线图。

图4是在感光层与充电辊之间的接触部分微观区域形成的等效电路图。

图5是间隙与间隙击穿电压之间的关系曲线。

图6(a)表示的是感光部件与充电辊之间接触的辊隙。

图7(a)和(b)表示的是充电特性与膜厚度之间的关系曲线图。

图8是检测电流和校正电压输出值之间关系的曲线图。

图9(a)和(b)分别是电位和CT层厚度相对于已印制过的纸张数的曲线图。

图10表示的是检测电流的平均值，校正灯压输出值与转鼓表面增加曝光量之间的关系。

图11分别是电位和CT层厚度相对于已印制过的纸张数的曲线图。

图12表示的是在各组中针对一种所选择的滤色镜，当电压施加到转鼓上时，电流与电压之间的关系曲线图。

图13是本发明第二实施例的成像设备的断面图。

图14表示的是膜片的进入量L与感光部件预曝光量之间的关系图。

图15表示的是对感光部件施加恒压(-1300V)时在每一组中，预曝光量与电流之间的关系图。

图16表示的是本发明第三实施例的成像设备的断面图。

图17表示的是在每一组中，在感光部件上施加-1300V电压时，反射部件的进入量L1与电流之间的关系图。

图18是本发明第四实施例在成像设备的断面图。

图19表示的是在施加-1300V电压时，通常感光部件的感光层的厚度与电流之间的关系图。

图20表示的是在一般的感光部件中感光层厚度与获得恒定转鼓电位(-680V)所必需施加的电压之间的关系图。

图21表示的是根据本发明的一种实施例，一种可拆卸地安装在成像设备之上的暗盒。

实施例1

图1是根据本发明第一实施例的成像设备的成像部分的断面图。

成像部分有一个圆柱形的感光鼓1，它是一个被充电部件，可转动地支承在一装置的主体(未示出)上。感光鼓1是一个鼓型的电照相感光部件，它有一个作为该结构层的基层的一个铝的或诸如此类的电接地的导电基层1b，其上是一个光电导层1a(表面被充电)。整个感光鼓1以一预定的圆周速度，沿箭头R1所指示的方向围绕支承轴1d转动。

一充电部件2设置在感光鼓1的上面。该充电部件2与感光鼓1的被充电表面相接触，其功能是当它与感光鼓1的被充电表面1a相接触时，对其进行均匀充电至预定的极性和电位。充电部件是辊型的充电部件(充电辊)。充电辊2有一中心金属芯2C，在其外圆周上形成的导电层2b，和在导电层2b上的电阻层2a₂，2a₁。通过未示出的与感光鼓1相平行的轴承，将充电辊2可转动地支承在与感光鼓1相对的端部上，借助于推动部件(未示出)，使充电辊2以预定的压力压触在感光鼓1的被充电表面1a上。通过沿箭头R1的方向转动的感光鼓1，使充电辊2沿箭头R2的方向转动。充电辊2的金属芯2C与一电源的滑动接点3a相接触，通过接点3a从电源3向金属芯2C提供偏电压。这样做，可对感光鼓1的被充电表面进行充电直至预定的极性，电位。充电辊2可能由感光鼓1传动，或者以预定的圆周速度相对于被充电表面1a同向地或反向地强制地被传动。或者，反过来它也可能固定住而不转动。

被充电辊2均匀充电后的感光鼓1，通过曝光部件4的激光束，用具有物体图像信息的图像光进行曝光(在本实施例中采用的是狭缝曝光)。这样做，在被充电表面可形成一个对应于预定图像信息的静电潜像。该静电潜像用调色剂，通过显影装置6被显影成调色剂图象。

借助于转印装置7将该调色剂图像转印到转印材料P上。该转印装置7带有一可转动的转印辊7a和电源7b，用与调色剂极性相反的电荷对转印材料P的背面进行充电，使该调色剂图像从该感光鼓1转印到转印材料P上。一加料装置(未示出)以适当的与感光鼓1的转动同步的时限，向位于感光鼓1与转印装置7之间的转印区输送转印材料P。

将已形成调色剂图象的转印材料P分离开，然后送入一未示出的定影装置，在此处调色剂图像被定影装置定影。然后，对它进行放电，将电荷释放到该装置主机的外侧。在双面复印的情况下，将其送回到转印区的再加料部件。

在图象转印之后，用清洁装置9的清洁刮板9a对感光鼓1进行清洁，以便除去沉积的杂质例如剩余的调色剂，并通过一预曝光装置10除去电荷。

下面要描述充电辊2。如图1所示，本实施例中所使用的充电辊2包括一个金属芯2C，一个EPDM或诸如此类材料制成的具有体积电阻率为10⁴-10⁵ohmcm的导电屏蔽层2b，一个醇橡胶或诸如此类材料制成的具有体积电阻率约为10⁷-10⁹ohmcm的中间电阻层2a2，以及一个具有体积电阻率为10⁷-10¹⁰ohmcm，由尼龙成形材料如Torejin(日本的商标名为Teikoku Kagasku Kabushiki Kaisha)制成的表层(阻挡层2a₁)。用Asker-C测量仪器测量其硬度大约为50-60度。该充电辊2以总压为1600g的压力压触在该感光鼓1上，以便被感光鼓1所传动。当用铝鼓代替感光鼓并向该充电辊施加300V的电压时，该充电辊2的电阻最好是在该充电辊与该转鼓之间每1cm²辊隙有10⁵-10⁷ohm的电阻。

在感光鼓1的被充电表面1a与充电辊2之间形成了一接触区N，在该接触区N的上游和下游分别形成了第一间隙G₁和第二间隙G₂。在感光鼓1的被充电表面1a与充电辊2的外圆周表面之间所形成的间隙G₁和G₂是这样的，其中第一间隙G₁，也就是位于被充电表面1a转动方向(箭头R1方向)上游的间隙G₁，向接触区N逐渐减小，而位于下游的第二间隙G₂，向离开接触区N的方向逐渐扩大。该接触区N基本上是在整个长度(轴向方向)上形成的，因此，该第一间隙G₁和第二间隙G₂也是在充电辊2的整个长度上形成的。

图2是图1的装置的操作程序的一个实例。该实例涉及在两种转印材料上连续复印。

图2中，在感光鼓转动期间(装置预热期间)，为使图像定影装置的温度升高或类似的目的，启动电源，对充电辊2进行直流恒压控制，在此期间，对充电辊2进行直流电流检测。在预热期间，通过预曝光装置，将感光鼓1放电基本上至OV。

通过检测流过充电辊2的电流，便可以检测到从充电辊2到感光鼓1的电流，这样就能够估算出感光层的厚度。

在预热完成之后，停止通过感光鼓的转动和通过预曝光装置10的放电曝光，随后保持备用状态，直到产生一个复印开始信号。

根据印刷(复印)开始信号，该感光部件1开始转动，从而开始了预转动周期。与该感光鼓1开始转动的同时，开启放电曝光灯15，对感光鼓1进行一整圈或多圈放电。

在C1期间，根据在预热期间检测到的流过充电辊2的电流，确定一个校正直流电压，用该校正的电压对充电辊2进行恒压控制。此时，为了成像充电辊2对感光鼓1进行充电。因此，当感光鼓1转动时，该充电辊2对能够形成调色剂图象的成像区域进行充电。

最好，检测流过充电辊2的电流的期间，对应于没有调色剂图像形成的非图像区域。在转动周期之前对电流进行检测，该转动周期是在成像充电运行之前，并在复印开始信号产生之后。

在开始用校正电压对充电辊进行恒压控制的时候，用图像曝光进行第一张纸成像。

当充电辊2进行第二次复印成像时，感光鼓1位于后转动周期，在这个期间内，用充电曝光灯10对感光鼓1进行一整圈或多圈放电，然后使感光鼓1的转动停止，同时放电曝光也停止。然后，该设备处于备用状态，直到输入下一个复印开始信号。

采用上述结构，当运行过程中转鼓表面被刮损，使感光层厚度减小时，在直流恒压控制周期B1内检测到的直流电流将会增大，此时充电辊2与非成像区域的表面相对，根据由检测到的直流电流增加而减小的电压，用校正电压在对充电辊进行直流恒压控制的条件下，用充电辊2对感光鼓1进行充电。因此，使该感光鼓1被充电至电位基本上等于当感光鼓没有被刮损时的初始电位。

如果在低湿度环境下(例如，15℃，10％)，该充电辊2的电阻增加，那么在对充电辊进行直流恒压控制的B1周期内，检测到的直流电流将减小。根据检测到的直流电流，用增加校正电压对充电辊进行直流恒压控制，在此条件下用充电辊2进行充电，因此，尽管由于环境变化使充电辊2的电阻发生变化，但感光鼓1的充电电位是恒定的。

保持如此检测到的直流电流和校正电压，直到成像设备的电源关闭。

为了使图像密度恒定，有效的方法是一天检测一次，例如，在早晨开始进行第一次检测。但是，如果当短期关掉装置的电源，以清除卡住的纸时，还要再次进行电流检测，并根据重新启动的电源，更新该校正电压。因此，很有可能在电源退动前后，校正电压相互不同，这取决于检测电流的精度。要是曾经在短时间间隔内校正电压有少量的变化，操作人员都会感到奇怪，因此，需要根据成像过程，重新设定温度调节值。

为了改进成像设备的运行效果，在早晨开始第一次运行时，就要对充电辊施加恒压，检测电流，并用校正电压进行恒压控制，在这一天中，维持该校正后的恒压。

对这种区别特征是＂早上第一次＂的方法，实际试验结果表明，当定影辊的探测温度低于预定温度时，它能够识别出。该预测温度是30℃-130℃，最好约为100℃。

电压校正方法

下面描述采用-直流电源3的充电方法。

首先，向充电机构即充电辊2施加一个来自直流电源的直流电压。

所使用的感光部件1是负极性的OPC感光鼓。更具体地说，它包括一个感光层，该感光层包含一层偶氮颜料(载流子产生层)的CGL层，一层在其上面的由腙和树脂材料混合物构成的厚度为24μm的CTL层(载流子输送层)，两者构成一负极性的有机半导体层(OPC层)。这种OPC感光鼓1被旋转，该充电辊2与其表面相接触。在充电辊2上施加直流电压V_DC，并在黑暗处使它与OPC感光鼓1相接触对其进行充电。然后研究OPC感光鼓1的表面电位V_D与施加到充电辊2上直流电压之间的关系。

在图3中，＂24μm＂那根线表示了研究的结果。对每一鼓膜厚度，该充电包括一个与所施加直流电压V_DC成比例的一阈值，这点从图3(a)中可以了解到。

充电起始电压定义如下。通过一其上只施有直流电压的充电部件，对电位为0的载像部件进行充电，该直流电压逐渐增加。施加直流电压。将作为载像部件的感光部件的表面电位绘制在一图上。该数据是对每100V的直流电位而得到的。该直流电位点对应于表面上的第一表面电位，这样可得到10个点。从这10个点，用统计学中的最小二乘方近似法可划出一条直线。直线上在表面电位为0时施加的直流电压值被定义为充电起始电压。图3中的图上的线是根据最小二乘方近似法绘制而成的。

因此，对充电辊2施加的直流电压V_DC，和在OPC感光鼓1表面的表面电位，以及充电起始电压V_TH之间的关系如下：

    V_D＝V_DC-V_TH…    (1)

该等式是从Paschen(Paschen)法则推导出来的。

图4表示的是由充电辊2，OPC感光层以及它们之间的接触区域中微观空间Z构成的等效电路。当充电辊2的总电阻Rr小时，那么，由流过感光层1a的电流ID所引起的电压降I_DRr与V_DC相比小到几乎可以忽略不计。如果忽略Rr，则横跨空间Z的电压Vg是如下：Vg＝V_DC×Z/(Ls/Ks+Z)  …    (2)

V_DC：施加的电压

Z：间隙

Ls：感光层厚度

Ks：感光层的介电常数

按照Paschen法则，当Z等于8徽米或大于8微米时，该放电击穿电压Vb能够用下列第一级等式(3)和(4)逼近：

Vb＝312+6.2Z(Vb＞0)       …    (3)

Vb＝-(312+6.2Z)(Vb＜0)    …    (4)

由于Vb＜0，等式(2)和(4)被表示在图5所示的曲线图中。横座标代表间隙距离Z，而纵坐标代表间隙击穿电压。向下凸的曲线(1)是一条Paschen曲线，向上凸的曲线(2)-(4)表示具有参数Z的间隙电压Vg的性能。

当曲线(1)和曲线(2)-(4)相交时，发生放电。在放电的起始点处，由Vg＝Vb得到的判别式是0。这意味着放电开始限制，因此，V_DC＝V_TH。

Psschen法则涉及到在间隙处的放电显影。在使用充电辊2的充电过程中，尽管在邻近充电区处产生的臭氧量很少(与电晕放电相比是10^-2-10^-3)，因此，利用充电辊的充电被认为包含了该放电显影。因此，为了利用V_DC控制V_D，使用下式：

V_DC＝V_R+V_TH  …    (5)

V_R：靶表面电位

设定该靶电位值V_R，并利用等式(5)来确定V_TH，加上它，便能够使V_D接近于V_R。

正如从等式(5)中知道的那样，阈值电压V_TH可由下式确定：

D＝Ls/Ks    …    (6)

感光层的介电常数Ks的变化，是由于在感光部件周围的温度，湿度或诸如此类的影响，以及随着使用感光层的厚度Ls减小的缘故。

因此，表面电位V_D随着阈值电压V_TH的变化而变化，而阈值电压的变化是周围环境或使用程度造成的。换句话说，如果Ks和Ls的值是已知的，那么，就能够确定使表面电位V_D达到合适值所需的直流校正电压V_DC。

这里，正如图6(a)和(b)所示，感光鼓1和充电辊2的静电电容Cp量是由在感光鼓1和充电辊2之间的接触区处的辊隙n提供的。当该间隙处的接触面积为Sp时，根据图6(b)的等效电路，可以得到下式：

Cp＝Sp×Ks/Ls＝S/D    …    (7)

就是说，Cp与1/D是成正比的。因此，如果确定了Cp，那么，就能够用等式(5)来确定合适的直流电压V_DC。

在本实施例中，代替确定转鼓(感光部件)的Cp的简单地测量是因放电阻抗的变化而造成的充电性能的变化，而放电阻抗是随着转鼓的电荷转移层(CT层)的膜层厚度(Ls)而变化的，如图6所示，通过估算感光部件Cp的变化，对施加的电压予以校正。

图3(a)是在每一个鼓CT层厚度下，施加到充电辊2的电压对鼓表面电位的关系图。同样地，图3(b)给出了那时测得的直流电流值。正如将从图中了解的那样，该充电性能，电压/电流特性以及放电初始电压均随着转鼓的CT层厚度而变化。

图7(a)和(b)示出了当施加一给定的恒压时，不同转鼓CT层厚度，对转鼓表面电位和直流电流的特性关系图。该鼓的表面电位和检测出的直流电流之间的关系能够根据CT层的厚度而看出。随着CT层厚度的减小，鼓的表面电位(黑色区域的电位V_D和白色区域的电位V_L)和测出的直流电流量均增加。在一特定大小的恒定施加电压下，通过测量该直流电流量，便能够根据转鼓电容Cp估计和预测该表面电位。

图8表示了检测电流的平均值和校正电压输出值之间的关系，因此，用来根据上述分析控制鼓的表面电位，即使Cp因鼓的载流子转移层厚度变化而发生变化也是如此。该校正是有效果的，使输出电压随着检测电流的平均值的增加而减小。图9(a)和(b)显示了使用校正的试验结果。

横座标代表处理纸的数量(＂K＂代表1000张纸)即，成像作业的次数，并标出转鼓表面电位的变化。当不考虑成像作业的次数，对充电部件总是施加一特定的恒压时，该表面电位的变化用L来表示。当检测对充电部件施加恒压时的直流电流，根据检测到的电流，校正施加的恒压是有效果的，(根据检测电流的平均值确定充电部件的充电能力)，即使处理纸的张数增加，仍能保持鼓表面电位的恒定，用M表示。

在这些试验中，使用的是上述OPC感光鼓1。利用图1所示的成像设备处理了大量的纸。

最好增大施加在初始照射灯4的电压，以便根据检测电流平均值的增加，增大图像曝光量。

当环境的湿度低时，该充电辊2的电阻将增加，因此，在B1和B2周期内，在对充电辊进行直流恒压控制过程中，检测到的直流电流减小了。在根据检测到的直流电流用增加校正电压对充电辊进行直流恒压控制时，转鼓1的成像区被充电辊2充电，采用校正的灯电压通过曝光进行成像，因此，尽管由于环境变化使充电辊2的电阻发生变化，但感光鼓1的充电电位是恒定的。

图10表示了检测电流的平均值、为曝光成像施加在初始照明灯4上的校正灯压输出值，以及转鼓表面曝光量增量相互之间的关系图。

图11(a)，(b)表示了使用这种校正的试验结果。该横坐标代表处理纸的张数，即，指出了成像作业的次数，该图还表示出转鼓表面电位的变化。

当不考虑感光部件的膜厚度的减小，总是对充电部件施加特定的恒压时，表面电位变化用黑暗区域的电势V_D和L表示，亮区的电位V_L是0。当检测根据施加在充电辊上的恒压而产生的直流电流时，根据检测到的电流，校正施加在充电辊上的电压，并用这一电压进行恒压控制。正如M和Q所示，尽管处理纸的张数增加，但鼓表面电位还是呈现不断下降的趋势。

此外，根据检测电流平均值的增大，来增加施加在图像曝光灯上的电压，从而增大曝光量，使亮区的电位减小到Q，结果，暗区的电位V_D是Q，亮区的电位V_L也是Q。通过对暗区的电位V_D呈减少趋势地进行控制，使暗区电位V_L的增大比例受到了抑制，从而将曝光量宽度的变化抑制在低水平上。随着充电辊的检测电流的平均值在预定值之上的增加，感光部件的膜厚度从初始厚度不断减小。如图11(a)的M所示，确定充电辊的校正电压，以使暗区的电位随着膜厚度的减小而减小。用该校正电压对充电辊进行恒压控制，使将要成像的区域被充电至V_D。如图10所示，当平均检测电流不比预定值(60μA)高时，该灯的光通量是恒定的。即，可以判定如果感光部件的膜厚度不发生变化，充电辊的电阻也会发生变化。

充电部件2可能是辊型、刮板状型、块状型、棒状型、带状型或诸如此类。

下面将要描述用于从预曝光装置10到感光部件1改变光通量的部件30。

至于变换部件30，作为一个实例在预曝光装置与感光部件之间插入具有各种透射系数的滤色镜。

滤色镜的透光系数为50％、70％、90％(三滤光片)。在图12中，制备出三种感光性不同，但厚度相同的感光部件(A-C组)。改变施加在充电部件2上的电压，并检测流过该充电部件2的电流。在测量电流之前，不带滤色片对感光部件进行均匀曝光。如图12所示，当在充电部件上施加一恒压(-1300V)时，根据感光部件初始阶段所使用的电流，从三个滤色片中选择在装置中实际使用的滤色片。

如图12所示，透光系数为70％的滤色片用于在施加-1300V恒压时，电流I为-38～-42μA的感光部件(B组)中，而透光系数为90％的滤色片用于电流等于或大于-38微安的感光部件(C组)中，而透光系数为50％的滤色片则用于电流小于或等于-42微安的感光部件(A组)中。随着检测电流平均值增加，借助于预曝光装置10入射到感光部件上的光通量将减小。

为了插入滤色片，与通常情况相比，该预曝光的光通量约增加50％。

因此，在初始阶段，厚度相同但感光性不同的每一种感光部件(A-C组)其检测电流平均值基本上都是相等的。

在本实施例中，通过改变每个感光部件的滤色片的透光系数，在施加-1300V电压的初始阶段，检测到的电流平均值I和为成像用充电辊2提供的转豉电位V_D分别集中于I＝-35±2μA，V_D＝-680±30V。设定其它成像条件，以便通过-680V的鼓电位得到合适的图像。可以根据装置中使用的感光部件的种类，从三种滤色片中选择一种滤色片。

当像已有技术那样，通过预曝光装置入射到感光部件上的光通量相同，而与不使用滤色片的感光部件的种类无关时，结果I＝-35±4μA，V_D＝-680±70V，几个转鼓都呈现出稍微暗或薄的图像。

实施例2

根据本发明的另一实施例，下面将要描述滤色片的插入方法。除了该滤色片以外，结构和操作都与实施例1相同，因此，省略了对它们的详细描述。

在本实施例中，如图13所示，通过使用变换部件30，滤色镜的进入量L是可变的。图14表示了滤色镜的进入量L与通过预曝光装置在新感光部件的表面上预曝光光通量之间的关系。图15表示了通过预曝光装置在新感光部件上的光通量，与当在充电部件上施加-1300V的电压时流过充电部件的电流之间的关系。在检测流过充电部件的电流之前，通过预曝光装置对感光部件进行均匀曝光。如图15所示，调节滤色镜的进入量L，使得不管是哪种新感光部件(A-C组)，穿过充电部件的电流是恒定的(-35μA)。更具体地说，无论是哪种类型的感光部件，在初始阶段感光部件的感光层厚度是相同的。

使用透光系数为70％的滤色镜。通过用这种方式，改变每种感光部件的滤色镜的进入量，使电流和电压集中于I＝-35±0.5μA，V_D＝-680±10V，以便得到比实施例1更好的图像。由于只需要一种类型的滤色镜，所以可减少造价。

在实施例1和2中，没有如图16所示用于将光插入间隙G₁中的以便改进充电特性的反射部件31，上述间隙G₁位于感光部件表面转动的上游。更具体地说，在实施例2中，不带滤色镜，I＝-35±5μA，V_D＝-680±80V，但是它们能够集中于I＝-35±0.5μA，V_D＝-680±10V。

在已有技术中，I＜-39.5μA，I＞-30.5μA的感光部件被认为是次品，但是，本实施例可以有效地改进产量。

实施例3

下面将要描述用于改变入射于感光部件上光通量的变换部件的另一个实施例。在本实施例中，替下了实施例1和2中所用的滤色镜，使用了一个反射部件31，以便在上游一侧，将预曝光装置发出的光反射到间隙G1。其它结构和操作过程与实施例1相同，因此，在此就不再进行描述了。

在本实施例中，如图16所示，为改进充电均匀性，反射部件的反射区31的长度L1是可调的，从而使对第一间隙表面G₁的缝隙曝光量也是可调的。图17表示了反射区长度与在充电部件上施加恒压(-1300V)时流过充电部件的电流之间的关系。与前述实施例相似，设定L1，使对每种感光部件，流过充电部件的电流都相同(-35μA)。这样做，可使新感光部件的初始电流和鼓电位分别为1＝-35±0.5μA，V_D＝-680±10V。

在本实施例中，无需使用透明材料，如滤色镜，因此控制很简单。

除了改变反射区的长度，还可以改变反射区的角度，或改变反射区的反射率。这些改进具有类似的优点。

在另一种改进方案中，该反射部件被作成透光的，在通过预曝光装置发射出的光线中，穿过反射部件透射的光与通过反射部件反射的光都入射在感光部件上。

实施例4

这里将叙述用于改变感光部件上入射的光通量的变换部件的另一个实施例。

在本实施例中，为了通过入射光在感光部件上，调节预曝光量，根据所使用的感光部件的感光特性，可改变预曝光灯10的阈值电压32，因此，能够控制该感光部件表面的曝光量。

电照相设备的其它结构和操作都与上述实施例相同，因此，在此就不再描述了。

在本实施例中，初始电流和感光部件的电位为I＝-35±0.5μA，V_D＝-680±10V。

无论有或没有反射部件，本实施例对于改进充电性能，都是很有效的。

在本实施例中，只使用了电控制，没有使用附加部件，因此该结构是简单的。

上述实施例还可以结合起来使用。

在实施例1-4中，使用的是直径为30mm，长度为320mm的感光部件，它以100mm/s的速度转动。

图21表示了一个实施例，其中透光率为70％的一滤色镜作为一变换部件30，压接触在清洁装置9的顶部表面，其中滤色镜的进入量是可变的。该变换部件，该感光部件，该充电部件，该清洁装置和该显影装置作为一个工艺单元装在暗盒100中。该暗盒100相对于电照相设备是可拆卸安装上的。这样做，即使感光部件被损坏，或其服务寿命到了，只需简单地更换暗盒而无需调节主机，便能够得到合适的图像。代替可调节的进入量的是，可以根据暗盒中感光部件的种类改变滤色镜的透光量。可能交替地设置两种暗盒，一种有滤色镜，另一种没有滤色镜。该暗盒还可以设置一个如实施例3所述的反射部件，反射部件的结构可以根据感光部件的感光特性加以改变。

在本实施例中，该变换部件，该感光部件，该充电部件，该清洁装置和显影装置或诸如此类的装置作为一个整体暗盒是完整的。然而，如果至少将该变换部件和感光部件装入暗盒，仍具有相同的优点。最好，该暗盒中至少包含该感光部件，该充电部件，该清洁装置和该显影装置。

在所有实施例中，当更换上一个新的感光部件时，入射在感光部件的光通量可能根据下列条件改变，即带有滤色镜，进入量，滤色镜的反射部件的新感光部件的特性，反射部件的反射特性以及预曝光灯的施加电压。

当更换感光部件时，要由用户或技术服务人员，根据预先确定的新感光部件的特性，在电照相设备的操作面板或诸如此类板上选择滤色镜的种类，滤色镜的进入量，反射部件的反射特性，以及预曝光灯上施加的电压。

当暗盒中有感光部件时，最好根据新感光部件的特性，提前确定滤色镜的种类，滤色镜的进入量，反射部件的反射特性。这样做，可使用户不必在每次更换暗盒时，重新输入滤色镜种类，滤色镜进入量，反射部件的反射特性。

在所有上述实施例中，为了得到感光层的厚度，用一预定电压对接触充电部件进行恒压控制，并测量流过接触充电部件的电流。在另一种方案中，用预定的电流对接触充电部件进行恒流控制，并测量接触充电部件上的输入电压。在又一种方案中，在成像过程中，对充电部件进行恒流控制。

尽管已经参照本文所公开的结构对本发明进行了描述，但本发明不应局限于所叙述的这些内容，本申请应当覆盖那些以改进为目的或后面权利要求范围的各种变更或变化。

Claims (15)

1.一种电照相设备，包括：

一个电照相感光部件(1)，一个与上述感光部件相接触，为上述感光部件充电的充电部件(2)，图象曝光装置(4)将由所述充电部件充电的所述感光部件向图象光曝光以形成静电图象，显影装置(6)用于显影静电图象，转印装置(7)用于将由所述显影装置显影的所述感光部件的图象转印到转印材料上，以及预曝光装置(10)用于在图象被所述转印装置转印之后，在所述感光部件被所述充电装置充电之前将所述感光部件曝光，从而去除残留的电荷；

其特征在于提供：

用于改变从上述预曝光装置入射到所述感光部件的光通量的变换装置(30)。

2.一种如权利要求1所述的设备，其特征在于检测上述充电部件和上述感光部件之间的电压-电流特性，上述电压-电流特性是当用一预定电压对上述充电部件进行恒压控制时，流过上述充电部件的电流。

3.一种如权利要求1或2所述的设备，其特征在于上述变换部件根据上述感光部件的充电特性，改变上述入射的光通量。

4.一种如权利要求2所述的设备，其特征在于上述变换部件根据对于多个感光部件入射的光通量为恒定时的电流，来改变入射到上述感光部件上的光通量。

5.一种如权利要求1所述的设备，其特征在于上述变换部件改变施加在上述曝光部件上的电压。

6.一种如权利要求1所述的设备，其特征在于上述变换部件在从上述曝光部件到上述感光部件的光程上，设置有一个透光部件。

7.一种如权利要求6所述的设备，其特征在于上述透光部件是可移动的，从而改变其进入从上述光源到上述感光部件光程中的进入量。

8.一种如权利要求1所述的设备，其特征在于上述充电部件和上述感光部件之间的距离间隙随着上述感光部件的运行而减小，上述曝光部件在间隙处对上述感光部件进行曝光，上述变换部件改变入射到对应于该间隙的间隙区域上的光通量。

9.一种如权利要求8所述的设备，其特征在于上述变换部件上设置有一个用于反射来自上述曝光部件的光的反射部件。

10.一种如权利要求9所述的设备，其特征在于上述变换部件改变施加在上述曝光部件上的电压。

11.一种如权利要求9所述的设备，其特征在于上述变换部件在从上述曝光部件到上述感光部件的光程上，设置有一个透光部件。

12.一种如权利要求11所述的设备，其特征在于上述透光部件是可移动的，能够改变进入到从上述曝光部件到上述感光部件的光程中的进入量。

13.一种如权利要求9所述的设备，其特征在于上述光的反射部件的面积，或光反射角，或光反射表面的反射能力都是可变的。

14.一种如权利要求1所述的设备，其特征在于上述充电部件的充电能力，根据上述电部件的电压—电流特性而被确定，以形成一个上述感光部件的图象。

15.一种如权利要求1或14所述的设备，进一步还包括对上述感光部件进行曝光的第二曝光部件，根据上述充电部件和上述感光部件之间的电压—电流特性确定从该曝光部件发出的光通量。

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