CN107709957A - 检查装置及检查方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供检查装置及检查方法，考虑导通位置偏移来进行金属弹片开关的好坏判定。实施方式的检查装置(1)是用于检查具有金属弹片(51)的金属弹片开关(50)的检查装置，包括：第一检测部(10)，检测表示金属弹片开关(50)触觉导通时的金属弹片(51)的位移量的触觉导通位置；第二检测部(20)，检测用于表示金属弹片开关(50)电导通时的金属弹片(51)的位移量的电导通位置；判定部(312)，基于触觉导通位置及电导通位置来进行金属弹片开关(50)的好坏判定。

Description

检查装置及检查方法

技术领域

本发明涉及检查装置及检查方法，尤其涉及用于检测金属弹片开关好坏的检查装置及检查方法。

背景技术

以往，在手机或数码相机等各种电子设备中，使用具有金属弹片的金属弹片开关(Metal Dome Switch：MDS)。该金属弹片开关构成为，通过操作者按下金属弹片使其变形，金属弹片的顶部与开关端子接触并导通。例如专利文献1中记载了具有能够按压金属弹片的操作部件的金属弹片开关。

此外，在专利文献2中记载了以明确进行金属弹片开关好坏判定为目的的检查装置。具体来说，基于从负载－位移曲线检测出的特征点来进行好坏判定。

专利文献

专利文献1日本专利公开公报特开2005－116475号

专利文献2日本专利公开公报特开平5－273083号

其中，参照图11对金属弹片开关的负载－位移特性进行说明。图11表示金属弹片开关的负载－位移曲线。曲线C1表示从开关切断变为开关导通时的负载－位移曲线，曲线C2表示从开关导通变为开关切断时的负载－位移曲线。在最大点F1金属弹片开始变形，在最小点F2操作者感觉到导通。

在金属弹片开关中，最理想的是操作者触觉上感到导通的位置(金属弹片的位移量)与开关实际上电导通的位置(金属弹片的位移量)之间没有偏移(以下也称为“导通位置偏移”)。

但是，因金属弹片开关的加工精度或组装精度有时会产生导通位置偏移。换言之，如图11所示的曲线C1那样，有时操作者感觉到开关导通的最小点F2与金属弹片同开关端子接触的点F3不一致。

在导通位置偏移大的情况下，有时会发生即使操作者感到开关导通，而实际上开关还未导通的不良状况。对于该情况，参照图12更详细说明。

图12的(a)表示触觉上导通的金属弹片开关150的剖面图，图12的(b)表示电导通的金属弹片开关150的剖面图。金属弹片开关150包括金属弹片151、绝缘基板152和端子153、154。端子153为环状的端子，与金属弹片151的端部电连接。端子154是配置在由端子153包围的区域的岛状的端子。

图12的(a)的情况为触觉上导通状态，但金属弹片151与端子154未接触，因此端子153与端子154并未电连接。即，即使操作者感到开关导通，金属弹片开关也并未电导通。另一方面，在图12的(b)的情况下，在触觉上导通状态下金属弹片151与端子154接触，端子153与端子154电连接。

在专利文献2的检查方法中，尽管基于负载－位移曲线的特征点进行金属弹片开关好坏判定，但并未考虑导通位置偏移。因此，有可能将导通位置偏移大的金属弹片开关判定为合格品。

发明内容

本发明的目的在于提供一种能够考虑导通位置偏移来进行金属弹片开关好坏判定的检查装置及检查方法。

本发明的检查装置检查具有金属弹片的金属弹片开关，其包括：第一检测部，检测触觉导通位置，该触觉导通位置表示所述金属弹片开关触觉导通时的所述金属弹片的位移量；第二检测部，检测电导通位置，该电导通位置表示所述金属弹片开关电导通时的所述金属弹片的位移量；判定部，基于所述触觉导通位置及所述电导通位置来进行所述金属弹片开关的好坏判定。

本发明的检查方法是具有金属弹片的金属弹片开关的检查方法，其包括：第一检测部检测触觉导通位置的工序，所述触觉导通位置表示所述金属弹片开关触觉导通时的所述金属弹片的位移量；第二检测部检测电导通位置的工序，所述电导通位置表示所述金属弹片开关电导通时的所述金属弹片的位移量；判定工序，判定部基于所述触觉导通位置及所述电导通位置来进行所述金属弹片开关的好坏判定。

在本发明中，检测用于表示金属弹片开关触觉导通时的金属弹片的位移量的触觉导通位置，并检测用于表示金属弹片开关电导通时的金属弹片的位移量的电导通位置，基于触觉导通位置及电导通位置来进行金属弹片开关的好坏判定。由此，按照本发明，能够考虑导通位置偏移来进行金属弹片开关的好坏判定。

附图说明

图1是表示实施方式涉及的检查装置1的简要构成的图。

图2是表示第一检测部10的简要结构的图。

图3的(a)及(b)是表示第二检测部20的简要结构的图。

图4的(a)是作为1级开关的金属弹片开关50的平面图，(b)是沿(a)的A－A线的剖面图。

图5是用于说明检查金属弹片开关50的方法的流程图。

图6是表示金属弹片开关50(合格品)的检查结果一例的曲线图。

图7是表示金属弹片开关50(不合格品)的检查结果一例的曲线图。

图8A是作为二级开关的金属弹片开关60的平面图。

图8B的(a)、(b)及(c)均是沿图8A的A－A线的剖面图。

图9是用于说明检查金属弹片开关60的方法的流程图。

图10是表示金属弹片开关60(合格品)的检查结果一例的曲线图。

图11是表示金属弹片开关的负载－位移曲线的图。

图12的(a)是触觉上导通的金属弹片开关150的剖面图，(b)是电导通的金属弹片开关150的剖面图。

具体实施方式

下面，参照附图对本发明涉及的实施方式进行说明。

＜检查装置＞

本发明的实施方式涉及的检查装置1是用于检查具有金属弹片的金属弹片开关好坏的装置。在对检查装置1进行说明之前，参照图4的(a)、(b)对检查对象即金属弹片开关的一例进行说明。另外，金属弹片开关的结构并不限于图4的(a)、(b)所示的结构。

金属弹片开关50是1级开关，包括：金属弹片51、绝缘基板52、端子53、54、覆膜55。绝缘基板52既可以是聚酰亚胺膜或PET膜等具有可弯曲性的绝缘膜，也可以是玻璃环氧树脂基板等硬质基板。端子53、54设置于绝缘基板52上。

如图4的(a)所示，端子53是具有环状端子的一部分开放形状的马蹄型端子。端子54包括：配置在由马蹄型端子53包围区域内的岛状的端子、和从该岛状的端子延伸并通过端子53开口部的配线。马蹄型的端子53与金属弹片51的端部电连接。由于金属弹片51受到负载而变形，端子54与金属弹片51的顶部接触。由此，端子53与端子54电连接。

另外，如图4的(a)所示，端子53、54的一部分由覆膜55覆盖。这是为了防止端子53与端子54由于金属弹片51导致短路。

接下来，参照图1～图3对检查装置1进行详细说明。

如图1所示，检查装置1包括：第一检测部10、第二检测部20、计算机等信息处理装置30。首先，对第一检测部10及第二检测部20进行说明。

第一检测部10检测用于表示金属弹片开关50触觉导通时金属弹片51的位移量的触觉导通位置。具体来说，如图2所示，第一检测部10包括负载计11及线性仪12。负载计11利用压入棒(压入部件)11a对金属弹片51施加负载，并测量施加的负载。线性仪12内置有因伴随负载的变形而导致电阻值变化的元件，并利用该电阻值检测金属弹片51的位移。另外，利用线性仪12的位移检测精度是例如0.001mm。

如上所述，第一检测部10利用负载计11对金属弹片51施加负载，并检测施加的负载及金属弹片51的位移。由此，第一检测部10取得表示施加到金属弹片51上的负载与金属弹片51的位移之间关系的负载－位移曲线。

并且，第一检测部10检测负载－位移曲线的最小点，并将检测信号发送到信息处理装置30。该检测信号是表示从基准时刻至金属弹片51的负载变为最小为止的时间T1的信号。基准时刻例如是开始检查的时刻、或者对金属弹片51开始施加负载的时刻。该时间T1成为触觉导通位置。另外，也可将时间T1乘以压入棒11a的压入速度V而得到的值设为触觉导通位置。

另外，第一检测部10及第二检测部20也可在从信息处理装置30接收到检查开始信号时将各自所有的计时器重置并校准基准时刻。或者，第一检测部10及第二检测部20也可相互进行通信并校准基准时刻。或者，信息处理装置30也可测量发送检查开始信号后经过的时间，并计算出从第一检测部10、第二检测部20接收到检测信号为止的时间T1、T2。

第二检测部20检测用于表示金属弹片开关50电导通时金属弹片51位移量的电导通位置。具体来说，如图3的(a)所示，第二检测部20包括：电池B、电阻R、与该电阻R串联连接的直流电流计21。当金属弹片开关50电导通时，电流流过直流电流计21。第二检测部20根据直流电流计21检测金属弹片开关50的端子53与端子54之间发生了电流流动的情况，并将检测信号发送到信息处理装置30。该检测信号是表示从上述的基准时刻至金属弹片开关50中流过导通电流为止的时间T2的信号。该时间T2成为电导通位置。另外，也可将时间T2乘以压入棒11a的压入速度V而得到的值作为电导通位置。

另外，第二检测部20也可使用直流电压计来构成。在该情况下，如图3的(b)所示，第二检测部20包括电池B、电阻R、与该电阻R并联连接的直流电压计22。当金属弹片开关50电导通时，由直流电压计22测量电压。

如图1所示，信息处理装置30包括控制部31和显示部32。信息处理装置30当接收到检查开始的指示时(例如按下检查开始按钮时)，向第一检测部10及第二检测部20发送检查开始信号。若接收到该信号，则第一检测部10及第二检测部20开始检查。

控制部31包括计算导通位置偏移的偏移量计算部311、和进行金属弹片开关好坏判定的判定部312。另外，控制部31的各部也可通过信息处理装置30内的处理器执行规定的程序来实现。

偏移量计算部311计算触觉导通位置与电导通位置之差d。具体来说，偏移量计算部311利用式(1)计算差d。

d＝V×(T2-T1)···(1)

其中，d：触觉导通位置与电导通位置之差、V：压入棒11a的压入速度、T1：从基准时刻至金属弹片51的负载变为最小为止的时间、T2：从基准时刻至金属弹片开关50中流过导通电流为止的时间。

另外，偏移量计算部311也可不使用压入速度V而算出与导通位置偏移相当的值。例如，偏移量计算部311利用式(2)算出差。

d＝T2-T1···(2)

判定部312基于触觉导通位置及电导通位置来进行金属弹片开关50的好坏判定。具体来说，判定部312在触觉导通位置与电导通位置之差在规定值以下的情况下判定金属弹片开关为合格品。

即，判定部312在偏移量计算部311计算出的差为规定值以下的情况下判定金属弹片开关50为合格品。另一方面，当该差比规定值大的情况下，判定金属弹片开关50为不合格品。其中，规定值例如是预先确定的公差。

另外，判定部312也可在电导通位置比触觉导通位置小的情况下判定金属弹片开关50为不合格品。在该情况下，判定部312在利用式(1)或式(2)求得的差为负值时判定金属弹片开关50为不合格品。由此，能够判别金属弹片51内混入有金属粉等异物的不合格品。

显示部32显示由检查得到的数据(导通位置偏移的数值等)或检查结果。具体来说，显示部32显示后述的触觉导通位置、电导通位置、触觉导通位置与电导通位置之差、及金属弹片开关50好坏判定的结果中至少任意一个。

如上所述，在本实施方式涉及的检查装置1中，第一检测部10检测触觉导通位置，第二检测部20检测电导通位置。并且，判定部基于触觉导通位置及电导通位置来进行金属弹片开关50的好坏判定。由此，按照本实施方式，能够考虑导通位置偏移来进行金属弹片开关的好坏判定。其结果，能够准确地将导通位置偏移大的金属弹片开关检测为不合格品。

＜金属弹片开关50的检查方法＞

下面，参照图5的流程图对金属弹片开关50的检查方法进行说明。

首先，将金属弹片开关50放置于检查装置1(步骤S11)。即，在检查装置1的检查台(未图示)上固定金属弹片开关50。

接下来，第一检测部10检测表示金属弹片开关50触觉导通时金属弹片51的位移量的触觉导通位置(步骤S12)。触觉导通位置是从基准时刻至金属弹片51的负载变为最小为止的时间T1乘以压入棒11a的压入速度V而得到的值。另外，触觉导通位置也可以是时间T1。

接着，第二检测部检测表示金属弹片开关50电导通时金属弹片51的位移量的电导通位置(步骤S13)。电导通位置是从基准时刻至金属弹片开关50中流过导通电流为止的时间T2乘以压入棒11a的压入速度V而得到的值。另外，电导通位置也可是时间T2。

另外，步骤S12与步骤S13的顺序也可前后互换。例如，在金属弹片内混入有金属粉等异物的金属弹片开关的情况下，电导通位置比触觉导通位置先被检测出。

接着，判定部312基于触觉导通位置及电导通位置来进行金属弹片开关50的好坏判定(步骤S14)。更具体来说，该步骤S14由以下的流程来执行。

首先，偏移量计算部311计算触觉导通位置与电导通位置之差(步骤S141)。该差使用前述的式(1)或式(2)算出。

接着，判定部312判定由偏移量计算部311计算出的差是否在规定值以下(步骤S142)。其结果，在差比规定值大的情况下(S142为“否”)，判定金属弹片开关50为不合格品(步骤S145)。另一方面，在差为规定值以下的情况下(S142为“是”)，判定触觉导通位置是否比电导通位置小(步骤S143)。其结果，在触觉导通位置比电导通位置小的情况下(S143为“是”)，判定金属弹片开关50为合格品(步骤S144)。另一方面，在触觉导通位置比电导通位置大的情况下(S143为“否”)，由于存在金属弹片51内混入有金属粉等异物的可能性，判定金属弹片开关50为不合格品(步骤S145)。

另外，步骤S143也可省略。在这种情况下，若利用偏移量计算部311计算出的差在规定值以下，则立即判定金属弹片开关50为合格品。

图6及图7表示信息处理装置30的显示部32所显示的检查结果。图6表示金属弹片开关50为合格品时的负载－位移曲线的一例。在图6的例子中，触觉导通位置TOP(TactileOn Position)与电导通位置EOP(Electrical On Position)之差为规定值以下。即，TOP＝0.208mm、EOP＝0.209mm，且其差(0.001mm)为规定值(0.04mm)以下。

而图7表示金属弹片开关50为不合格品时的负载－位移曲线的一例。在图7的例子中，电导通位置EOP比触觉导通位置TOP小。

在上述说明中，对金属弹片开关为1级开关的情况进行了说明，但本发明也可适用于金属弹片开关为二级开关的情况。以下，对该情况进行说明。

首先，参照图8A及图8B对二级开关的金属弹片开关的一例进行说明。此种金属弹片开关用于数码相机的快门按钮等。另外，二级开关的金属弹片开关的结构并不限于图8A及图8B所示的结构。

端子64、65、66设置于绝缘基板63上。如图8A所示，端子64及端子65是具有环状端子的一部分开放的形状的马蹄型端子。端子64电连接于金属弹片61的端部。端子65被端子64包围，且电连接于金属弹片62的端部。端子66包括：在马蹄型端子65包围的区域中配置的岛状的端子、和从该岛状的端子延伸并通过端子64及端子65的开口部的配线。

另外，如图8A所示，端子64、65、66的一部分由覆膜67覆盖。这是为了防止端子64、端子65及端子66由于金属弹片61导致短路，以及端子65及端子66由于金属弹片62导致短路。

图8B的(a)表示截止状态的金属弹片开关60的剖面图。图8B的(b)表示第一阶段导通状态下金属弹片开关60的剖面图。图8B的(c)表示第二阶段导通状态下金属弹片开关60的剖面图。

金属弹片开关60包括金属弹片61、金属弹片62、绝缘基板63、和端子64、65、66。绝缘基板63既可是具有可弯曲性的绝缘膜，也可是硬质基板。

若对金属弹片61施加负载，则金属弹片61发生变形，由此如图8B的(b)所示，金属弹片61与金属弹片62的顶部接触。由此，端子64与端子65电连接。进而若对金属弹片61施加负载，则如图8B的(c)所示，金属弹片62与金属弹片61一同变形并与端子66接触。由此，端子64、端子65及端子66相互电连接。

接下来，对检查金属弹片开关60的检查装置1进行说明。另外，检查装置1的基本结构与检查金属弹片开关50的情况相同。即，利用相同的检查装置1能够检查金属弹片开关50及金属弹片开关60中任一类型的开关。

第一检测部10检测用于表示金属弹片开关60在第一阶段触觉导通时金属弹片61的位移量的第一触觉导通位置。进而，第一检测部10检测用于表示金属弹片开关60在第二阶段触觉导通时金属弹片61的位移量的第二触觉导通位置。例如，第一触觉导通位置是从基准时刻至金属弹片61的负载第一次变为最小为止的时间，第二触觉导通位置是从基准时刻至金属弹片61的负载第二次变为最小为止的时间。

第二检测部20检测用于表示金属弹片开关60在第一阶段电导通时金属弹片61的位移量的第一电导通位置。此外，第二检测部20检测用于表示金属弹片开关60在第二阶段电导通时金属弹片61的位移量的第二电导通位置。例如，第一电导通位置是从基准时刻至端子64及端子65间流过电流为止的时间，第二电导通位置是从基准时刻至端子64及端子66间(或者端子65及端子66间)流过电流为止的时间。

偏移量计算部311计算出第一触觉导通位置与第一电导通位置之差d1、及第二触觉导通位置与第二电导通位置之差d2。例如，偏移量计算部311根据式(3)及式(4)计算出上述的差。

d1＝V×(T21-T11)…(3)

其中，d1：第一触觉导通位置与第一电导通位置之差、V：压入棒11a的压入速度、T21：从基准时刻至端子64及端子65间流过电流为止的时间、T11：从基准时刻至金属弹片61的负载第一次变为最小为止的时间。

d2＝V×(T22-T12)···(4)

其中，d2：第二触觉导通位置与第二电导通位置之差、V：压入棒11a的压入速度、T22：从基准时刻至端子64及端子66间(或者端子65及端子66间)流过电流为止的时间、T12：从基准时刻至金属弹片61的负载第二次变为最小为止的时间。

判定部312基于第一及第二触觉导通位置和第一及第二电导通位置来进行金属弹片开关50的好坏判定。具体来说，判定部312在差d1为第一规定值以下且差d2为第二规定值以下的情况下判定金属弹片开关60为合格品。另外，第一规定值与第二规定值也可是不同的值。

如上所述，按照本实施方式的检查装置1，对于二级开关的金属弹片开关也能够考虑导通位置偏移来进行金属弹片开关的好坏判定。其结果，能够将导通位置偏移大的二级开关类型的金属弹片开关准确地判定为不合格品。

＜金属弹片开关60的检查方法＞

接下来，参照图9的流程图对金属弹片开关60的检查方法进行说明。

首先，将金属弹片开关60放置于检查装置1(步骤S21)。即，在检查装置1的检查台(未图示)上固定金属弹片开关60。

接着，第一检测部10检测用于表示金属弹片开关60在第一阶段触觉导通时金属弹片61的位移量的第一触觉导通位置(步骤S22)。第一触觉导通位置是上述的时间T11乘以压入棒11a的压入速度V而得到的值。另外，第一触觉导通位置也可是时间T11。

接着，第二检测部检测用于表示金属弹片开关60在第一阶段电导通时金属弹片61的位移量的第一电导通位置(步骤S23)。第一电导通位置是上述的时间T21乘以压入棒11a的压入速度V而得到的值。另外，第一电导通位置也可是时间T21。

接着，第一检测部10检测用于表示金属弹片开关60在第二阶段触觉导通时金属弹片61的位移量的第二触觉导通位置(步骤S24)。第二触觉导通位置是上述的时间T12乘以压入棒11a的压入速度V而得到的值。另外，第二触觉导通位置也可是时间T12。

接着，第二检测部检测用于金属弹片开关60在第二阶段电导通时金属弹片61的位移量的第二电导通位置(步骤S25)。第二电导通位置是上述的时间T22乘以压入棒11a的压入速度V而得到的值。另外，第二电导通位置也可是时间T22。

另外，步骤S22与步骤S23的顺序也可前后互换。同样，步骤S24与步骤S25的顺序也可前后互换。

接着，判定部312基于第一及第二触觉导通位置和第一及第二电导通位置来进行金属弹片开关60的好坏判定(步骤S26)。该步骤S26更具体地由以下的流程来执行。

首先，偏移量计算部311计算出第一触觉导通位置与第一电导通位置之间的第一差、及第二触觉导通位置与第二电导通位置之间的第二差(步骤S261)。该差例如使用上述的式(3)及式(4)算出。

接着，判定部312判定第一差是否在第一规定值以下且第二差为第二规定值以下(步骤S262)。其结果，在第一差为第一规定值以下且第二差为第二规定值以下的情况下(S262为“是”)，判定金属弹片开关60为合格品(步骤S263)。另一方面，在第一差大于第一规定值，或第二差大于第二规定值的情况下(S262为“否”)，判定金属弹片开关60为不合格品(步骤S264)。

另外，如图5的流程图(步骤S143)中说明的那样，也可判定触觉导通位置是否小于电导通位置，进行好坏判定。更具体来说，也可在第一触觉导通位置大于第一电导通位置的情况下，或者第二触觉导通位置大于第二电导通位置的情况下，判定金属弹片开关60为不合格品。

图10表示金属弹片开关60的负载－位移曲线的一例。在该例中，第一差(＝TOP1－EOP1)及第二差(＝TOP2－EOP2)的任一个都在规定值(0.04mm)以下，判定金属弹片开关60为合格品。

根据上述记载，本领域技术人员也许能够想到本发明的追加的效果或各种变形，但本发明并不限于上述实施方式。在不脱离从权利要求所规定的内容及其等同内容得到的本发明的思想和宗旨的范围内，能够进行各种增加、改变及局部删除。

附图标记说明

1 检查装置

10 第一检测部

11 负载计

11a 压入棒

12 线性仪

20 第二检测部

21 直流电流计

22 直流电压计

30 信息处理装置

31 控制部

311 偏移量计算部

312 判定部

32 显示部

50 金属弹片开关(1级SW)

51 金属弹片

52 绝缘基板

53，54 端子

55 覆膜

60 金属弹片开关(2级SW)

61，62 金属弹片

63 绝缘基板

64，65，66 端子

67 覆膜

150 金属弹片开关(1级SW)

151 金属弹片

152 绝缘基板

153，154 端子

B 电池

C1，C2 负载－位移曲线

F1 最大点

F2 最小点

F3 点

R 电阻

TOP 触觉导通位置

EOP 电导通位置

T1，T2 时间

Claims (11)

1.一种检查装置，检查具有金属弹片的金属弹片开关，其特征在于，包括：

第一检测部，检测触觉导通位置，所述触觉导通位置表示所述金属弹片开关触觉导通时的所述金属弹片的位移量；

第二检测部，检测电导通位置，该电导通位置表示所述金属弹片开关电导通时的所述金属弹片的位移量；

判定部，基于所述触觉导通位置及所述电导通位置来进行所述金属弹片开关的好坏判定。

2.根据权利要求1所述的检查装置，其特征在于，

所述第一检测部检测负载－位移曲线的最小点，所述负载－位移曲线表示施加于所述金属弹片的负载与所述金属弹片的位移之间的关系。

3.根据权利要求1或2所述的检查装置，其特征在于，

所述第二检测部检测第一端子与第二端子之间流过电流，所述第一端子与所述金属弹片的端部电连接，所述第二端子利用所述金属弹片的变形而与所述金属弹片的顶部接触。

4.根据权利要求1～3中任一项所述的检查装置，其特征在于，

所述检查装置还包括偏移量计算部，所述偏移量计算部计算出所述触觉导通位置与所述电导通位置之差，

所述偏移量计算部根据式(1)计算出所述差，

d＝V×(T2-T1) …(1)

其中，d：所述差、V：对所述金属弹片施加负载的压入部件的压入速度、T1：从基准时刻至所述金属弹片的负载变为最小为止的时间、T2：从所述基准时刻至所述金属弹片开关中流过导通电流为止的时间。

5.根据权利要求1～3中任一项所述的检查装置，其特征在于，

所述检查装置还包括偏移量计算部，所述偏移量计算部计算出所述触觉导通位置与所述电导通位置之差，

所述偏移量计算部根据式(2)计算出所述差，

d＝T2-T1 …(2)

其中，d：所述差、T1：从基准时刻至所述金属弹片的负载变为最小为止的时间、T2：从所述基准时刻至所述金属弹片开关中流过导通电流为止的时间。

6.根据权利要求1～5中任一项所述的检查装置，其特征在于，

在所述触觉导通位置与所述电导通位置之差为规定值以下的情况下，所述判定部判定所述金属弹片开关为合格品。

7.根据权利要求1～6中任一项所述的检查装置，其特征在于，

在所述电导通位置比所述触觉导通位置小的情况下，所述判定部判定所述金属弹片开关为不合格品。

8.根据权利要求1所述的检查装置，其特征在于，

所述金属弹片开关是具有第一阶段的导通状态及第二阶段的导通状态的二级开关，

所述第一检测部检测第一触觉导通位置和第二触觉导通位置，所述第一触觉导通位置表示所述金属弹片开关在第一阶段触觉导通时的所述金属弹片的位移量，所述第二触觉导通位置表示所述金属弹片开关在第二阶段触觉导通时的所述金属弹片的位移量，

所述第二检测部检测第一电导通位置和第二电导通位置，所述第一电导通位置表示所述金属弹片开关在第一阶段电导通时的所述金属弹片的位移量，所述第二电导通位置表示所述金属弹片开关在第二阶段电导通时的所述金属弹片的位移量，

所述判定部基于所述第一触觉导通位置及第二触觉导通位置、和所述第一电导通位置及第二电导通位置来进行所述金属弹片开关的好坏判定。

9.根据权利要求8所述的检查装置，其特征在于，

在所述第一触觉导通位置与所述第一电导通位置之差为第一规定值以下、且所述第二触觉导通位置与所述第二电导通位置之差为第二规定值以下的情况下，所述判定部判定所述金属弹片开关为合格品。

10.根据权利要求1～9中任一项所述的检查装置，其特征在于，

所述检查装置还包括显示部，所述显示部显示所述触觉导通位置、所述电导通位置、所述触觉导通位置与所述电导通位置之差、及所述好坏判定的结果中的至少任意一个。

11.一种检查方法，其是具有金属弹片的金属弹片开关的检查方法，其特征在于，包括：

第一检测部检测触觉导通位置的工序，所述触觉导通位置表示所述金属弹片开关触觉导通时的所述金属弹片的位移量；

第二检测部检测电导通位置的工序，所述电导通位置表示所述金属弹片开关电导通时的所述金属弹片的位移量；

判定工序，判定部基于所述触觉导通位置及所述电导通位置来进行所述金属弹片开关的好坏判定。