JP6719972B2 - 検査装置および検査方法 - Google Patents
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Description
メタルドームを有するメタルドームスイッチを検査する検査装置であって、
前記メタルドームスイッチが触覚的にオンしたときの前記メタルドームの変位量を示す触覚的オンポジションを検知する第1の検知部と、
前記メタルドームスイッチが電気的にオンしたときの前記メタルドームの変位量を示す電気的オンポジションを検知する第2の検知部と、
前記触覚的オンポジションおよび前記電気的オンポジションに基づいて前記メタルドームスイッチの良否判定を行う判定部と、
を備えることを特徴とする。
メタルドームを有するメタルドームスイッチの検査方法であって、
第1の検知部が、前記メタルドームスイッチが触覚的にオンしたときの前記メタルドームの変位量を示す触覚的オンポジションを検知する工程と、
第2の検知部が、前記メタルドームスイッチが電気的にオンしたときの前記メタルドームの変位量を示す電気的オンポジションを検知する工程と、
判定部が、前記触覚的オンポジションおよび前記電気的オンポジションに基づいて前記メタルドームスイッチの良否判定を行う工程と、
を備えることを特徴とする。
本発明の実施形態に係る検査装置1は、メタルドームを有するメタルドームスイッチの良否を検査するための装置である。検査装置1について説明する前に、検査対象であるメタルドームスイッチの一例について図4(a),(b)を参照して説明する。なお、メタルドームスイッチの構成は、図4(a),(b)に示すものに限られない。
次に、メタルドームスイッチ50の検査方法について図5のフローチャートを参照しつつ説明する。
次に、メタルドームスイッチ60の検査方法について図9のフローチャートを参照しつつ説明する。
10 第1の検知部
11 荷重計
11a 押し込み棒
12 リニアゲージ
20 第2の検知部
21 直流電流計
22 直流電圧計
30 情報処理装置
31 制御部
311 ずれ量算出部
312 判定部
32 表示部
50 メタルドームスイッチ(1段SW)
51 メタルドーム
52 絶縁基板
53,54 端子
55 カバーフィルム
60 メタルドームスイッチ(2段SW)
61,62 メタルドーム
63 絶縁基板
64,65,66 端子
67 カバーフィルム
150 メタルドームスイッチ(1段SW)
151 メタルドーム
152 絶縁基板
153,154 端子
B バッテリー
C1,C2 荷重−変位曲線
F1 極大点
F2 極小点
F3 点
R 抵抗
TOP 触覚的オンポジション
EOP 電気的オンポジション
T1,T2 時間
Claims (8)
- メタルドームを有するメタルドームスイッチを検査する検査装置であって、
前記メタルドームスイッチが触覚的にオンしたときの前記メタルドームの変位量を示す触覚的オンポジションを検知する第1の検知部と、
前記メタルドームスイッチが電気的にオンしたときの前記メタルドームの変位量を示す電気的オンポジションを検知する第2の検知部と、
前記触覚的オンポジションと前記電気的オンポジションとの差が良品判定の規定値以下の場合であっても、前記電気的オンポジションが前記触覚的オンポジションよりも小さい場合には、前記メタルドーム内に金属粉が混入しており前記メタルドームスイッチは不良品であると判定する判定部と、
を備えることを特徴とする検査装置。 - 前記第1の検知部は、前記メタルドームに加えられる荷重と前記メタルドームの変位との関係を示す荷重−変位曲線の極小点を検知することを特徴とする請求項1に記載の検査装置。
- 前記第2の検知部は、前記メタルドームの端部に電気的に接続された第1の端子と、前記メタルドームの変形により前記メタルドームの頂部に接触する第2の端子との間に電流が流れたことを検知することを特徴とする請求項1または2に記載の検査装置。
- 前記触覚的オンポジション、前記電気的オンポジション、および前記触覚的オンポジションと前記電気的オンポジションとの差のうち少なくともいずれか一つを表示する表示部をさらに備えることを特徴とする請求項1〜5のいずれかに記載の検査装置。
- メタルドームを有するメタルドームスイッチの検査方法であって、
第1の検知部が、前記メタルドームスイッチが触覚的にオンしたときの前記メタルドームの変位量を示す触覚的オンポジションを検知する工程と、
第2の検知部が、前記メタルドームスイッチが電気的にオンしたときの前記メタルドームの変位量を示す電気的オンポジションを検知する工程と、
判定部が、前記触覚的オンポジションと前記電気的オンポジションとの差が良品判定の規定値以下の場合であっても、前記電気的オンポジションが前記触覚的オンポジションよりも小さい場合には、前記メタルドーム内に金属粉が混入しており前記メタルドームスイッチは不良品であると判定する工程と、
を備えることを特徴とする検査方法。 - 第1のメタルドームと、前記第1のメタルドームの内側に配置された第2のメタルドームとを有し2段スイッチを構成するメタルドームスイッチを検査する検査装置であって、
前記メタルドームスイッチが第1段階で触覚的にオンしたときの前記第1のメタルドームの変位量を示す第1の触覚的オンポジションと、前記メタルドームスイッチが第2段階で触覚的にオンしたときの前記第2のメタルドームの変位量を示す第2の触覚的オンポジションとを検知する第1の検知部と、
前記メタルドームスイッチが第1段階で電気的にオンしたときの前記第1のメタルドームの変位量を示す第1の電気的オンポジションと、前記メタルドームスイッチが第2段階で電気的にオンしたときの前記第2のメタルドームの変位量を示す第2の電気的オンポジションとを検知する第2の検知部と、
前記第1の触覚的オンポジションと前記第1の電気的オンポジションとの差が良品判定の第1規定値以下の場合であっても、前記第1の電気的オンポジションが前記第1の触覚的オンポジションよりも小さい場合には、前記第1のメタルドーム内に金属粉が混入しており前記メタルドームスイッチは不良品であると判定し、前記第2の触覚的オンポジションと前記第2の電気的オンポジションとの差が良品判定の第2規定値以下の場合であっても、前記第2の電気的オンポジションが前記第2の触覚的オンポジションよりも小さい場合には、前記第2のメタルドーム内に金属粉が混入しており前記メタルドームスイッチは不良品であると判定する判定部と、
を備えることを特徴とする検査装置。
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