CN104375080A - 按键测试装置及方法 - Google Patents

Abstract

本发明提出一种按键测试装置，包含升降机构、至少一管体及拉杆；升降机构具有透孔；管体对应透孔而设置于升降机构上方，管体内活动容设有第一配重、第二配重及第三配重；第一配重活动容设于管体内最底端，第一配重凸设有向下穿出透孔外的测试头，以压持待测按键；第二配重活动叠置于第一配重上方；第三配重活动叠置于第二配重上方，第二配重与第三配重之间连设有挠性引线；拉杆连动第三配重作升降运动，藉此改变待测按键上的配重，以检测按键的各项性能；本发明亦提出使用上述按键测试装置测试按键性能的按键测试方法。

Description

按键测试装置及方法

技术领域

本发明有关于一种按键测试装置及方法，特别有关于一种可测试按键的多项性能的按键测试装置及方法。

背景技术

一般而言，电子装置都具有可供使用者操作的按键，按键的好坏直接影响了使用者对电子装置的功能操控，因此，对按键进行测试为产品出厂前的必要流程。传统的按键测试程序，是由一测试者以手指去按该键盘上的每一按键。如果能够正确地分辨该测试者所按的每一按键，并据以执行相对应的运作，就表示该待测按键是正常的，否则，就表示该待测按键是不良品。然而待检测的按键或键盘数量庞大，如果测试工程师仅靠手动按键来执行所有测试，不仅测试速度慢，效率低，还有可能造成测试的遗漏。

更重要的是，按键的各项性能皆有预设的数值规范，例如按键的支撑力范围、按键对按压力道的灵敏度或是按键的回弹力范围，皆需要符合制造商所预设的数值规范，以提供使用者良好的使用经验。

然而人工测试，仅能依据测试工程师的「手感」经验，以判断按键的各项性能，无法量化复制，造成按键测试进度缓慢，不符经济效益。而且测试工程师的主观判定，并无法准确的检测出按键的性能是否精准的落在预设的数值规范，造成每一按键所展现的性能有所不同，进而使每一使用者的使用者经验，皆有所差异。

综上所述，在现有技术中，采用人工方式进行按键测试，无法精准检测按键的各项性能，且检测效率低落，此实为市场应用上刻不容缓且亟需解决的问题。

发明内容

有鉴于此，本发明提出一种按键测试装置，包含：升降机构、至少一管体及拉杆。升降机构具有至少一透孔；至少一管体对应至少一透孔而设置于升降机构上方，至少一管体内容设有第一配重、第二配重及第三配重；第一配重活动容设于管体内最底端，第一配重凸设有测试头，测试头向下穿出透孔外；第二配重活动容设于管体内，并叠置于第一配重上方；第三配重活动容设于管体内，并叠置于第二配重上方，第二配重与第三配重之间连设有挠性引线；拉杆连动第三配重作升降运动。

本发明另提出一种按键测试方法，包含下列步骤：

A步骤：提供按键测试装置，其包含有升降机构及至少一管体，至少一管体内活动容设有第一配重及第二配重，第一配重凸设有测试头并向下穿出升降机构的对应的透孔外，第二配重叠置于第一配重上方；

B步骤：提供至少一待测按键至升降机构下方，并对应至至少一管体内第一配重的测试头；

C步骤：降下升降机构自起始位置至测试位置，使测试头负载于待测按键上；及

D步骤：量测至少一待测按键的导通状态。

本发明再提出一种按键测试方法，包含下列步骤：

步骤：提供按键测试装置，其包含有升降机构、至少一管体及拉杆，至少一管体内活动容设有第一配重、第二配重及第三配重，第一配重凸设有测试头并向下穿出升降机构的对应的透孔外，第二配重叠置于第一配重上方，第三配重并藉由挠性引线连结于第二配重上拉杆连结于第三配重上；

步骤：提供至少一待测按键至升降机构下方，并对应至至少一管体内第一配重的测试头；

步骤：将升降机构移动至测试位置，该测试头负载于待测按键上；

步骤：驱动拉杆上升，使第三配重不叠置于第二配重上；

步骤：量测至少一待测按键的导通状态；

步骤：驱动拉杆下降，使第三配重叠置于第二配重上；

步骤：量测至少一待测按键的导通状态。

本发明的其中一特点在于，通过第一配重上的测试头压抵待测按键，并藉由改变管体内配重的位置或是改变升降机构位置，使压抵于待测按键上的重量改变，或是待测按键运行的行程距离改变，进而检测待测按键的各项性能。

以下在实施方式中详细叙述本发明的详细特征以及优点，其内容足以使本领域技术人员了解本发明的技术内容并据以实施，且根据本说明书所揭露的内容、权利要求书及附图，本领域技术人员可轻易地理解本发明相关的目的及优点。

附图说明

图1为理想的按键行程距离－力量曲线规格。

图2A为本发明实施例结构的立体示意图。

图2B为本发明实施例结构的分解示意图。

图3为本发明另一实施例的测视剖面作动示意图。

图4为本发明实施例结构的侧视剖面作动示意图（一）。

图5为本发明实施例结构的侧视剖面作动示意图（二）。

图6为本发明实施例结构的侧视剖面作动示意图（三）。

图7为本发明实施例结构的起始状态示意图。

图8为本发明实施例结构的侧视剖面作动示意图（四）。

图9A为本发明实施例的操作流程示意图（一）。

图9B为本发明实施例的操作流程示意图（二）。

图9C为本发明实施例的操作流程示意图（三）

图10为本发明再一实施例结构的侧视剖面作动示意图（一）。

图11为本发明实施例的操作流程示意图（四）。

图12A为本发明再一实施例的侧视剖面作动示意图（二）。

图12B为本发明再一实施例的侧视剖面作动示意图（三）。

图13A为本发明实施例的操作流程示意图（五）。

图13B为本发明实施例的操作流程示意图（六）。

【符号说明】

11升降机构

111透孔

12管体

121第一配重

121a测试头

122第二配重

123第三配重

123a限位槽

123b限位区间

124挠性引线

13拉杆

131限位件

2待测按键

3升降装置

P1支撑力测试点

S1行程位置

F1力量

P2支撑力测试点

S2行程位置

F2力量

P4回弹力测试点

S4行程位置

F4力量

FP触发点

L1曲线

L2曲线

具体实施方式

请参照图1，为待测理想的按键行程距离－力量曲线规格。一般而言，功能正常的按键需具备各项性能，例如回弹力、支撑力及运行的行程距离，以具备基本的工作效能，且针对不同产品或是根据使用者经验，按键的回弹力、支撑力或运行的行程距离皆可预设一特定数值范围，以提供较佳的使用经验。如图1所示，纵轴为施加于功能正常的按键上的力量变化；横轴为按键运行的行程位置变化，上方的曲线L1为按键于按压行程中的力量变化曲线；下方的曲线L2为为按键于回弹行程中的力量变化曲线，兹配合第1表，按键的行程距离-力量表，进行说明：

第1表：按键的行程距离-力量规格表

功能正常的按键受到外力按压时，其支撑力自初始的行程位置开始增加，随着按键向下移动经行程位置S1，再经行程位置S2，支撑力会随上方的曲线一路上升至力量F1，再下降至力量F2，其中力量F1为按键支撑力于行程位置S2之前的最大值，之后随着按键向下移动至行程位置S2，按键支撑力亦即力量F2下降至最小值。

经参照上表可知，支撑力测试点P1为按键运行到行程位置S1时，测得力量F1，其中行程位置S1的范围在0.7mm～1.5mm，力量F1的范围在46g～74g，为按键支撑力的最大值；支撑力测试点P2为按键运行到行程位置S2时，测得力量F2，其中行程位置S2的范围在2.1mm～2.9mm，力量F2的范围在20.7g～44.4g，为按键支撑力的下限值。

而后，随着按键自行程位置S2继续向下移动至触发点FP，按键支撑力逐步回升。当按键运行至触发点FP时，按键电性导通，其中触发点FP的行程位置范围在2.1mm～3.5mm。

当移除或减轻按键上的按压力量至一定程度时，按键会沿着原本下降的运行轨迹回弹至初始位置，而按键于回弹轨迹上所呈现的回弹力，如曲线L2所呈现。其中当按键回弹至行程位置S4时，按键的回弹力亦即力量F4为按键回弹力的下限值。按键位于行程位置S4与行程位置S2属相同位置，差别在于，当按键位于行程位置S4时，按键处于朝初始位置前进的回弹轨迹上；当按键位于行程位置S2时，按键处于自初始位置出发，朝触发点前进的运行轨迹上。

回弹力测试点P4为按键回弹到行程位置S4时，测得力量F4，力量F4的范围大于20g，为按键回弹力的下限值。

按键运行的总行程距离的范围在3.4mm～4.2mm。

如上述图1及第1表所述，测试按键的运行位置轨迹及其对应的力量数值范围，即可检测出按键的性能及良率。然而，依据不同产品或不同使用环境，亦可进行不同的数值设定，亦即上述图1及第1表，用以辅助说明，非用以限定本发明及本发明所能量测的范围。

请参照图2A及图2B所示，分别为本发明实施例结构的立体示意图及分解示意图。在第一实施例中，本发明提出一种按键测试装置，包含：升降机构11、至少一管体12及拉杆13。

升降机构11连接管体12，用以连动管体12进行升降运动，进而可调整按键测试装置的测试行程，于本实施例当中，升降机构11可为一升降板，且具有至少一透孔111，本发明不以此为限；至少一管体12对应至少一透孔111而设置于升降机构11上方，至少一管体12内容设有第一配重121、第二配重122及第三配重123；第一配重121活动容设于管体12内最底端，第一配重121凸设有测试头121a，测试头121a向下穿出管体12及透孔111外，用以施加外力于待测按键2；第二配重122活动容设于管体12内，并叠置于第一配重121上方；第三配重123活动容设于管体12内，并叠置于第二配重122上方，第二配重122与第三配重123之间连设有挠性引线124；拉杆13连动第三配重123作升降运动。第一配重121、第二配重122及第三配重123可为特定重量的砝码，其重量的配置与按键的所需测试的项目相关，可因应不同特性的按键及所欲测试的标准作适当的调整，后续将有更详细的说明。

升降机构11为可连接升降装置，如油压缸、气压缸、电磁装置、轴向马达或线性马达等机械结构，以使按键测试装置相对于待测按键2进行升降运动，本发明不以此为限。因此，可藉由调整升降机构11的位置，来限定测试头121a可压持于待测按键2的行程。

在另一实施例当中，升降机构11可具有一个以上的透孔111，透孔111的数量可依据待测按键2的数量或是增进测试效率的作业流程来加以设计，例如，如图2A所示，若是待测物为智能手机仅包含一待测按键2，则升降机构11可仅需一透孔111即便于检测一待测按键2；请参照图3所示，为本发明另一实施例的侧视剖面作动示意图，若是待测物为一键盘包含多数待测按键2，则升降机构11亦可设有多数透孔111，便于批量检测多个待测按键2，本发明不以此为限。

管体12的数量可与透孔111的数量相同，管体12与透孔111可为一对一的对应关系，然本发明不以此为限。

拉杆13为可连接升降装置3，如油压缸、气压缸、电磁装置、轴向马达或线性马达等机械结构，以使拉杆13相对于待测按键2进行升降运动，本发明不以此为限。藉此，拉杆13连接于第三配重123并连动第三配重123作升降运动。

支撑力检测（一）

请参照图1、图4以及第1表所示，为本发明实施例结构的侧视剖面作动示意图（一）。在第一实施例中，以第一配重121与第二配重122的总重量作为支撑力下限的测试标准，原则上，可使第一配重121与第二配重122的总重量小于等于按键支撑力规格的下限值，亦即小于等于待测按键2的预设支撑力的下限值，并将拉杆13置于使第三配重123不叠置在第二配重122上的位置，并将升降机构11下降至测试位置，在一实施态样中，升降机构11下降至得以使测试头121a位于或超过触发点FP的行程距离，对应图1的曲线，于支撑力测试点P2上进行待测按键2的支撑力下限值的检测。

其中，由于第一配重121与第二配重122的总重量小于等于按键支撑力规格的下限值，亦即小于等于待测按键2的预设支撑力的下限值，因此若是待测按键2经测试头121a按压后导通，则代表待测按键的支撑力不足以承受第一配重121与第二配重122的总重量，不符合按键规格，即可检测出此按键属不良品；反之，若是待测按键2未导通，则代表测得待测按键2的支撑力大于第一配重121与第二配重122的总重量，即显示出待测按键2的支撑力符合按键支撑力下限的规格。在本实施态样下，参照第1表，支撑力测试点P1的力量最小值为46g，藉由将第一配重121与第二配重122的总重量设为46g，亦可将第一配重121与第二配重122的总重量设为小于46g的重量，该重量可依照测试所需的规格或精确度进行调整，当然亦可依据不同产品或不同使用环境，进行不同的数值设定，例如47g、45.5g或44g，本发明不以此为限。

回弹力检测

请参照图1、图5及第1表所示，为本发明实施例结构的侧视剖面作动示意图（二）。在第二实施例中，要测试按键2在被外力按压后是否具备足够的回弹力，因此，先将待测按键2按压至低于回弹力测试点P4的行程后，使拉杆13向上移动，以连动第三配重123通过挠性引线124向上拉动第二配重122，使第二配重122不叠置在第一配重121上，并将第一配重121设为等于或小于回弹力规格的重量。

其中，可如图6所示，首先，将升降机构11下降至测试位置，在一实施态样中，升降机构11下降至使测试头121a得以位于或超过触发点FP的行程距离，并藉由第一配重121、第二配重122及第三配重123的重量，使待测按键2导通；或是藉由拉杆13下降，推挤管体12内的配重，进而压通待测按键2（图未示）。总而言之，当待测按键2位于或超过触发点FP的行程距离，亦即待测按键2处于导通状态后，拉杆13向上拉动第三配重123，促使第三配重123通过挠性引线124向上拉动第二配重122，使第二配重122不叠置在第一配重121上，换句话说，此时仅有第一配重121按压于待测按键2的上。对应图1的曲线，于回弹力测试点P4上进行待测按键2的回弹力的检测。由于第一配重121的重量小于等于待测按键2的预设回弹力的下限值。因此，若是仅有第一配重121按压于待测按键2的上时，待测按键2为导通，则代表待测按键2在经过外力触发而在外力移除之后无足够的回弹力(回弹力小于第一配重121)，故可测得待测按键2的回弹力非落入预设回弹力下限值(力量F4)的规格区间，即可检测出此按键属不良品；反之，若是待测按键2未导通，则代表待测按键2的回弹力大于第一配重121，即可测得待测按键2的回弹力落入预设回弹力的下限值（力量F4）的规格区间，故此按键通过回弹力下限值的检测。在本实施态样下，参照第1表，按键的回弹力规格为20g，故第一配重121总重量应小于等于20g，若将第一配重121设为19g，若待测按键2经测试后为导通，表示待测按键2的回弹力不足支撑19g的重量。当然亦可依据不同产品或不同使用环境，进行不同的数值设定，例如21g、19.5g或19g，本发明不以此为限。

支撑力检测（二）

请参照图1、图6及第1表所示，为本发明实施例结构的侧视剖面作动示意图（三）。在第三实施例中，拉杆13包含限位件131，第三配重123包含对应限位件131的限位槽123a，限位槽123a具有限位区间123b，限位件131容设于限位槽123a内，并轴向活动于限位区间123b，对应图1的曲线，于支撑力测试点P1上进行待测按键2的支撑力上限值的检测。在配重方面，将第一配重121、第二配重122及第三配重123的总重量设为大于或等于待测按键2的预设支撑力的上限值。

限位件131设置于与第三配重123连接的拉杆13一端，限位件131自拉杆13的表面向外突出，而成盘状或杆状。限位槽123a位于第三配重123的内部，而限位件131容设于限位槽123a内，其中限位件131的尺寸大于限位槽123a供拉杆13进入的开口尺寸，但小于限位区间123b径向截面的尺寸，藉此限位件131可轴向活动于限位区间123b，且拉杆13与第三配重123不分离。

如图6所示，先将升降机构11下降至测试位置，在一实施态样中，升降机构11下降至使测试头121a位于或超过触发点FP的行程距离。当拉杆13向下移动，第三配重123叠置于第二配重122，第二配重122叠置于第一配重121上，且限位件131的上侧不接触限位槽123a，藉此第一配重121、第二配重122及第三配重123皆直接压持于待测按键2上。其中，由于第一配重121、第二配重122及第三配重123的总重量大于或等于待测按键2的预设支撑力的上限值，因此若是待测按键2为导通，则代表测得的支撑力落入预设支撑力上限值（力量F1）的规格区间，即可检测出此按键通过支撑力上限值的检测，此按键属良品；反之，若是待测按键2未导通，则代表测得的支撑力大于预设支撑力的上限值（力量F1）的规格，即可检测出此按键属不良品。参照第1表所示，在本实施态样下所欲测试的支撑力上限值为74g，故使第一配重121、第二配重122及第三配重123的总重量等于74g来进行上述测试，当然亦可依据不同产品或不同使用环境，进行不同的数值设定，例如75g、73.5g或73g，本发明不以此为限。

过敏检测

请参照图1、图7、图8及第1表所示，分别为本发明实施例结构的起始状态示意图及侧视剖面作动示意图（四）。在第四实施例中，升降机构11自起始位置至测试位置所运行的行程距离小于使待测按键2导通所预设的驱动行程，对应图1的曲线，于触发点FP之前，进行待测按键2的触发点的检测。

第一配重121、第二配重122及第三配重123相互堆叠的重量大于待测按键2的支撑力，足以克服按键支撑力，以便测试头121a压持待测按键2时，能够克服力量F1（亦即支撑力的上限值）而使待测按键2自行程位置S1朝待测按键2的触发点FP前进。亦即负载于测试按键2上的总重量大于待测按键2的预设支撑力的上限值。

如图7至图8所示，当升降机构11自起始位置运行至测试位置，亦即测试头121a压持待测按键2，使待测按键2朝触发点FP前进，且升降机构11自起始位置（如图7所示）运行至测试位置（如图8所示）的行程距离小于待测按键2的触发点FP的预设行程距离，亦即待测按键2移动至触发点FP之前，故不应有待测按键2导通的现象发生。因此若是待测按键2为导通，则代表待测按键2的灵敏度过高，尚未被按压到触发点FP即自行触发，此按键非属良品；反之，若是待测按键2未导通，则代表待测按键2的灵敏度合格，待测按键2通过灵敏度的检测。在本实施态样下，参照第1表，触发点的行程位置为2.1～3.5mm，故将升降机构11自起始位置运行至测试位置的行程距离小于2.1mm，例如1.5mm，当然亦可依据不同产品或不同使用环境，进行不同的数值设定，例如2mm、1.7mm或1.3mm，本发明不以此为限。

上述各实施例所揭示的技术特征，在不脱离本发明的中心思想下，可交互使用，以测量按键的多种性能数值，本发明不以此为限。

请参照图9A所示，为本发明实施例的操作流程示意图（一）。在第五实施例中，本发明亦提出一种按键测试方法，包含下列步骤：

A步骤401：提供按键测试装置，其包含有升降机构11及至少一管体12，该升降机构11用以连动该管体12进行升降运动，于本实施例当中，该升降机构11可为一升降板且具有一透孔111，本发明不以此为限，至少一管体12内活动容设有第一配重121及第二配重122，第一配重121凸设有测试头121a并向下穿出升降机构11的对应的透孔111外，第二配重122叠置于第一配重121上方；

B步骤402：提供至少一待测按键2至升降机构11下方，并对应至至少一管体12内第一配重121的测试头121a；

C步骤403：将升降机构11置于测试位置，使测试头121a负载于待测按键2上；及

D步骤404：量测至少一待测按键2的导通状态。

支撑力检测（一）

其中在C步骤403中，第二配重122叠置于第一配重121进而负载于待测按键2上，以检测待测按键2于行程位置S1上的支撑力。请参照图10所示，本发明再一实施例结构的侧视剖面作动示意图（一），若在A步骤401中，第一配重121与第二配重122的总重量小于等于待测按键2的预设支撑力的上限值，且在D步骤404中，待测按键2的导通状态为导通，即检测得知此按键通过支撑力上限值的检测；反之，若未导通，此按键属不良品。

若在A步骤401中，第一配重121与第二配重122的总重量小于或等于待测按键2的预设支撑力的下限值；在D步骤404中，待测按键2的导通状态为未导通，即检测得知此按键通过支撑力下限值的检测；反之，若导通，此按键属不良品。

支撑力检测（二）

请再次参照图6所示，为本发明实施例结构侧视剖面作动示意图（三）。在第六实施例中，在A步骤401中，至少一管体12内活动容设有第三配重123，拉杆13连结于第三配重123上，第三配重123并藉由挠性引线124连结于第二配重122上，且叠置于第二配重上。

藉此，检测待测按键2于行程位置S1上的支撑力上限。若在A步骤401中，第一配重121、第二配重122及第三配重123的总重量大于或等于待测按键2的支撑力的上限值，且在D步骤404中，待测按键2的导通状态为导通，即检测得知此按键通过支撑力上限值的检测；反之，若未导通，此按键属不良品。

请参照图9B及图6所示，分别为本发明实施例的操作流程示意图（二）及本发明实施例结构侧视剖面作动示意图（三）。承第六实施例，于第七实施例中，其中，A步骤401的该第三配重123包含一限位槽123a，限位槽123a具有限位区间123b；拉杆13包含一限位件131并对应容设于该限位槽123a内，且轴向活动于该限位区间123b；按键测试方法更包含下列步骤于C步骤403之后，D步骤404之前：

C1步骤406：驱动该拉杆下降，使该限位件的上侧不接触该限位槽。

在A步骤401中，第一配重121、第二配重122及第三配重123的总重量大于或等于待测按键2的支撑力的上限值，且在D步骤404中，待测按键2的导通状态为导通，即检测得知此按键通过支撑力上限值的检测；反之，若未导通，此按键属不良品。

回弹力检测

请参照图11、图12A及图12B所示，为本发明实施例的操作流程示意图（四）、再一实施例的侧视剖面作动示意图（二）及（三）。在第八实施例中，在A步骤401中，按键测试装置包含拉杆13以连动第二配重122作升降运动；按键测试方法更包含下列步骤：

其中在C步骤403中：将升降机构11置于测试位置，使测试头121a负载于待测按键2上，并使驱动拉杆13下降，促使待测按键2为已导通状态(若于此步骤即发现待测按键无法导通，则该待测按键为不良品)；

在D步骤404之前，加入E步骤405：驱动拉杆13上升带动第二配重122上升，使该第二配重122不叠置在第一配重121上；

其中在A步骤401中，第一配重121的重量小于或等于待测按键2的预设回弹力的下限值；在C步骤403中，驱动拉杆13下降，推挤管体12内的配重，进而压通待测按键2，亦即待测按键2移动等于或超过触发点FP的行程距离；并于E步骤405中，驱动拉杆13上升，使仅第一配重121负载于待测按键2上，以检测待测按键2于行程位置S4上的回弹力；在D步骤404中，待测按键2的导通状态为未导通，即检测得知此按键通过回弹力下限值的检测；反之，若导通，此按键属不良品。

请再次参照图6所示，为本发明实施例结构侧视剖面作动示意图（三）。承第八实施例，在A步骤401中，至少一管体12内活动容设有第三配重123，拉杆13连结于第三配重123上，第三配重123并藉由挠性引线124连结于第二配重122上；其中，E步骤405的驱动拉杆13下降，促使第三配重123叠置于第二配重122上方，藉由第三配重123的重量负荷加压于测试头121a上，以令待测按键2为已导通状态。若于此步骤即发现待测按键无法导通，则该待测按键为不良品。

请再次参照图5所示，为本发明实施例结构侧视剖面作动示意图（二）。承第八实施例，在A步骤401中，第一配重121的重量小于或等于待测按键2的回弹力的设定值。其中，于E步骤405中，驱动拉杆13上升，拉动第三配重123及第二配重122，使仅第一配重121负载于待测按键2上，以检测待测按键2于行程位置S4上的回弹力；在D步骤404中，待测按键2的导通状态为未导通，即检测得知此按键通过回弹力下限值的检测；反之，若导通，此按键属不良品。

过敏检测

请再次参照图7、图8及图9C所示，分别为本发明实施例结构侧视剖面作动示意图（四）、（五）及实施例的操作流程示意图（三）。承第五实施例或在第九实施例中，在C步骤403中，升降机构11自该起始位置至测试位置所运行的行程距离小于使待测按键2导通的所预设行程距离，且负载于测试按键2上的总重量大于待测按键2的预设支撑力的上限值。

其中，如第五实施例中，第一配重121及第二配重122的总重量，或是如第六实施例中，第一配重121、第二配重122及第三配重123的总重量，经相互堆叠使力量F1大于待测按键2的支撑力，足以克服按键支撑力，以便当测试头121a负载于待测按键2时，待测按键2能够自行程位置S1朝待测按键2的触发点FP前进，亦即负载于测试按键2上的总重量大于待测按键2的预设支撑力的上限值。

在C步骤403中，升降机构11自起始位置（如图7所示）运行至测试位置（如图8所示），亦即测试头121a压持待测按键2，使待测按键2朝触发点FP前进，且升降机构11运行的行程距离小于待测按键2的触发点的预设行程距离，亦即待测按键2移动至触发点FP之前。因此若是在D步骤404中，待测按键2为导通，则代表待测按键2的灵敏度过高，此按键非属良品；反之，若是在D步骤404中，待测按键2未导通，则代表待测按键2的灵敏度合格，代表待测按键2通过灵敏度的检测。

上述方法的各步骤可藉由排列组合以产生不同的步骤顺序，本发明不以此为限，且各步骤的英文字母顺序，不影响限制各步骤的实施顺序。

测试流程

请参照图13A所示，为本发明实施例的操作流程示意图（五）。在第十实施例中，本发明再提出一种按键测试方法，包含下列步骤：

步骤501：提供按键测试装置，其包含有升降机构11、至少一管体12及拉杆13，至少一管体12内活动容设有第一配重121、第二配重122及第三配重123，第一配重121凸设有测试头121a并向下穿出升降机构11的对应的透孔外，第二配重122叠置于第一配重121上方，第三配重123并藉由挠性引线124连结于第二配重122上该拉杆13连结于该第三配重123上；

步骤502：提供至少一待测按键2至升降机构11下方，并对应至至少一管体12内第一配重121的测试头121a；

步骤503：将升降机构11移动至测试位置，该测试头121a负载于待测按键2上；

步骤504：驱动拉杆13上升，使第三配重123不叠置于第二配重122上；

步骤505：量测至少一待测按键2的导通状态；

步骤506：驱动拉杆13下降，使第三配重123叠置于第二配重122上；

步骤507：量测至少待测按键2的导通状态。

步骤508：驱动拉杆13上升带动第二配重122上升，使第二配重122不叠置在该第一配重121上；及

步骤509：量测至少一待测按键2的导通状态。

并配合第一配重121与第二配重122的总重量小于或等于待测按键2的预设支撑力的下限值、第一配重121、第二配重122及第三配重123的总重量等于或大于待测按键2的预设支撑力的上限值，及第一配重121的重量等于或小于待测按键2的预设回弹力的下限值等测试配重限制，藉此可依序测量按键支撑力下限值、按键支撑力上限值及按键回弹力下限值。

请参照图13B所示，为本发明实施例的操作流程示意图（六）。承第十实施例，本发明更包含下列步骤于步骤502之后，步骤503之前：

步骤510:驱动该拉杆13下降，使该第三配重123叠置于该第二配重122上；

步骤511：移动升降机构11自起始位置至过敏测试位置，使测试头121a负载于该待测按键2上，其中升降机构11自起始位置至过敏测试位置所运行的行程距离小于使该待测按键2导通所预设的行程距离；

步骤512：量测该至少一待测按键2的导通状态

由于第一配重121、第二配重122及第三配重123的总重量大于待测按键2的预设支撑力的上限值，且升降机构11自起始位置至过敏测试位置所运行的行程距离小于使该待测按键2导通所预设的行程距离，藉此可进行按键测试。综上所述，本实施例可依序进行按键过敏测试、按键支撑力下限值测试、按键支撑力上限值测试及按键回弹力下限值测试，依照上述顺序进行测试可节省测试步骤，以达到节省测试时间、增进测试效率的功效。

藉由上述实施例可得知，本发明的其中一特点在于，通过第一配重121上的测试头121a压抵待测按键2，并藉由改变管体12内配重的位置或是改变升降机构11位置，使压抵于待测按键2上的重量改变，或是待测按键2运行的行程距离改变，进而检测待测按键2的各项性能。藉此解决，在现有技术中，采用人工方式进行按键测试，无法精准检测按键的各项性能，且检测效率低落的问题。

虽然本发明的技术内容已经以较佳实施例揭露如上，然其并非用以限定本发明，本领域技术人员，在不脱离本发明的精神所作些许的更动与润饰，皆应涵盖于本发明的范畴内，因此本发明的保护范围当视后附的权利要求书所界定者为准。

Claims (25)

1.一种按键测试装置，其特征在于，包含：

一升降机构；

至少一管体，该升降机构连动该管体作升降运动，该至少一管体内容设有一第一配重、一第二配重及一第三配重；该第一配重活动容设于该管体内最底端，该第一配重凸设有一测试头；该第二配重活动容设于该管体内，并叠置于该第一配重上方；该第三配重活动容设于该管体内，并叠置于该第二配重上方，该第二配重与该第三配重之间连设有一挠性引线；及

一拉杆，该拉杆连动该第三配重作升降运动。

2.如权利要求1所述的按键测试装置，其特征在于，该拉杆向上拉动该第三配重，使该第三配重不叠置在该第二配重上。

3.如权利要求1所述的按键测试装置，其特征在于，该拉杆向上拉动该第三配重，促使该第三配重通过该挠性引线向上拉动该第二配重，使该第二配重不叠置在该第一配重上。

4.如权利要求1、2或3所述的按键测试装置，其特征在于，该第一配重与该第二配重的总重量小于等于该待测按键的预设支撑力的下限值。

5.如权利要求4所述的按键测试装置，其特征在于，该第一配重、第二配重及第三配重的总重量大于等于该待测按键的预设支撑力的上限值。

6.如权利要求4所述的按键测试装置，其特征在于，该第一配重的重量小于等于该待测按键的预设回弹力的设定值。

7.如权利要求1所述的按键测试装置，其特征在于，该拉杆包含一限位件，该第三配重包含对应该限位件的一限位槽，该限位槽具有一限位区间，该限位件容设于该限位槽内，并轴向活动于该限位区间。

8.如权利要求1所述的按键测试装置，其特征在于，更包含一升降装置连接该拉杆，该升降装置驱动该拉杆相对于该管体作升降运动。

9.如权利要求1所述的按键测试装置，该升降机构为一升降板，且该升降板具有一透孔，该测试头向下穿出该透孔。

10.一种按键测试方法，其特征在于，包含下列步骤：

A步骤：提供一按键测试装置，其包含有一升降机构及至少一管体，该升降机构连动该管体作升降运动，该至少一管体内活动容设有一第一配重及一第二配重，该第一配重凸设有一测试头，该第二配重叠置于该第一配重上方；

B步骤：提供至少一待测按键至该测试头下方，并对应至该至少一管体内第一配重的测试头；

C步骤：将该升降机构置于一测试位置，使该测试头负载于该待测按键上；及

D步骤：量测该至少一待测按键的导通状态。

11.如权利要求10所述的按键测试方法，其特征在于，该A步骤中该第一配重与该第二配重的总重量小于等于该待测按键的预设支撑力的下限值。

12.如权利要求10所述的按键测试方法，其特征在于，该A步骤中该按键测试装置包含一拉杆，该至少一管体内活动容设有一第三配重，该拉杆连结于该第三配重上以连动该第三配重作升降运动，该第三配重并藉由一挠性引线连结于该第二配重上，且叠置于该第二配重上。

13.如权利要求12所述的按键测试方法，其特征在于，该A步骤的该第三配重包含一限位槽，该限位槽具有一限位区间；该拉杆包含一限位件并对应容设于该限位槽内，且轴向活动于该限位区间；该按键测试方法更包含下列步骤于该D步骤之前：

C1步骤：驱动该拉杆下降，使该限位件的上侧不接触该限位槽。

14.如权利要求12或13所述的按键测试方法，其特征在于，该A步骤的该第一配重、第二配重及第三配重的总重量大于等于该待测按键的预设支撑力的上限值。

15.如权利要求10所述的按键测试方法，其特征在于，该A步骤中该按键测试装置包含一拉杆以连动该第二配重作升降运动；该按键测试方法更包含下列步骤：

在C步骤中：驱动该拉杆下降，促使该待测按键为已导通状态；及

D步骤之前，加入E步骤：驱动该拉杆上升带动该第二配重上升，使该第二配重不叠置在该第一配重上。

16.如权利要求15所述的按键测试方法，其特征在于，该A步骤中该至少一管体内活动容设有一第三配重，该拉杆连结于该第三配重上，该第三配重并藉由一挠性引线连结于该第二配重上；

其中，该C步骤中的驱动该拉杆下降，促使该第三配重叠置于该第二配重上方，藉由该第三配重的重量负荷加压于该测试头上，以令该待测按键为已导通状态。

17.如权利要求15所述的按键测试方法，其特征在于，该A步骤中该第一配重的重量小于等于该待测按键的预设回弹力的设定值。

18.如权利要求16所述的按键测试方法，其特征在于，该A步骤的该第三配重包含一限位槽，该限位槽具有一限位区间；该拉杆包含一限位件并对应容设于该限位槽内，且轴向活动于该限位区间；

其中，该C步骤的驱动该拉杆下降，使该限位件的上侧不接触该限位槽。

19.如权利要求10所述的按键测试方法，其特征在于，该C步骤的该升降机构自一起始位置至该测试位置所运行的行程距离小于使该待测按键导通所预设的行程距离，且负载于该测试按键上的总重量大于该待测按键的预设支撑力的上限值。

20.一种按键测试方法，其特征在于，包含下列步骤：

A步骤：提供一按键测试装置，其包含有一升降机构、至少一管体及一拉杆，该升降机构连动该管体作升降运动，该至少一管体内活动容设有一第一配重、一第二配重及一第三配重，该第一配重凸设有一测试头，该第二配重叠置于该第一配重上方，该第三配重并藉由一挠性引线连结于该第二配重上，该拉杆连结于该第三配重上；

B步骤：提供至少一待测按键至该升降机构下方，并对应至该至少一管体内第一配重的测试头；

C步骤：将该升降机构移动至一测试位置，使该测试头负载于该待测按键上；

D步骤：驱动该拉杆上升，使该第三配重不叠置于该第二配重上；

E步骤：量测该至少一待测按键的导通状态；

F步骤：驱动该拉杆下降，使该第三配重叠置于该第二配重上；及

G步骤：量测该至少一待测按键的导通状态。

21.如权利要求20所述的按键测试方法，其特征在于，该A步骤中该第一配重与该第二配重的总重量小于等于该待测按键的预设支撑力的下限值。

22.如权利要求20所述的按键测试方法，其特征在于，该A步骤中该第一配重、第二配重及第三配重的总重量大于等于该待测按键的预设支撑力的上限值。

23.如权利要求20所述的按键测试方法，其特征在于，该E步骤的驱动该拉杆下降，促使该第三配重叠置于该第二配重上方，藉由该第三配重的重量负荷加压于该测试头上，以令该待测按键为已导通状态；该按键测试方法更包含下列步骤于G步骤之后：

H步骤：驱动该拉杆上升带动该第二配重上升，使该第二配重不叠置在该第一配重上；及

I步骤：量测该至少一待测按键的导通状态。

24.如权利要求22所述的按键测试方法，其特征在于，该A步骤中该第一配重的重量小于等于该待测按键的预设回弹力的设定值。

25.如权利要求21所述的按键测试方法，其特征在于，更包含下列步骤于该C步骤之前：

J步骤：驱动该拉杆下降，使该第三配重叠置于该第二配重上；

K步骤：移动该升降机构自一起始位置至一过敏测试位置，使该测试头负载于该待测按键上，其中该升降机构自该起始位置至该过敏测试位置所运行的行程距离小于使该待测按键导通所预设的行程距离；及

L步骤：量测该至少一待测按键的导通状态。