TW201508299A - 按鍵測試裝置及方法 - Google Patents

Abstract

本發明提出一種按鍵測試裝置，包含升降機構、至少一管體及拉桿；升降機構具有透孔；管體對應透孔而設置於升降機構上方，管體內活動容設有第一配重、第二配重及第三配重；第一配重活動容設於管體內最底端，第一配重凸設有向下穿出透孔外之測試頭，以壓持待測按鍵；第二配重活疊置於第一配重上方；第三配重活動疊置於第二配重上方，第二配重與第三配重之間連設有撓性引線；拉桿連動第三配重作升降運動，藉此改變待測按鍵上之配重，以檢測按鍵的各項性能；本發明亦提出使用上述按鍵測試裝置測試按鍵性能的按鍵測試方法。

Description

按鍵測試裝置及方法

本發明係有關於一種按鍵測試裝置及方法，特別係有關於一種可測試按鍵之多項性能的按鍵測試裝置及方法。

一般而言，電子裝置都具有可供使用者操作的按鍵，按鍵的好壞直接影響了使用者對電子裝置的功能操控，因此，對按鍵進行測試係為產品出廠前的必要流程。傳統的按鍵測試程序，是由一測試者以手指去按該鍵盤上的每一按鍵。如果能夠正確地分辨該測試者所按的每一按鍵，並據以執行相對應的運作，就表示該待測按鍵是正常的，否則，就表示該待測按鍵是不良品。然而待檢測之按鍵或鍵盤數量龐大，如果測試工程師僅靠手動按鍵來執行所有測試，不僅測試速度慢，效率低，還有可能造成測試的遺漏。

更重要的是，按鍵之各項性能皆有預設之數值規範，例如按鍵之支撐力範圍、按鍵對按壓力道之靈敏度或是按鍵之回彈力範圍，皆需要符合製造商所預設之數值規範，以提供使用者良好之使用經驗。

然而人工測試，僅能依據測試工程師之「手感」經驗，以判斷按鍵之各項性能，無法量化複製，造成按鍵 測試進度緩慢，不符經濟效益。而且測試工程師之主觀判定，並無法準確的檢測出按鍵之性能是否精準的落在預設之數值規範，造成每一按鍵所展現之性能有所不同，進而使每一使用者的使用者經驗，皆有所差異。

綜上所述，在先前技術中，採用人工方式進行按鍵測試，無法精準檢測按鍵之各項性能，且檢測效率低落，此實為市場應用上刻不容緩且亟需解決之議題。

有鑑於此，本發明提出一種按鍵測試裝置，包含：升降機構、至少一管體及拉桿。升降機構具有至少一透孔；至少一管體對應至少一透孔而設置於升降機構上方，至少一管體內容設有第一配重、第二配重及第三配重；第一配重活動容設於管體內最底端，第一配重凸設有測試頭，測試頭向下穿出透孔外；第二配重活動容設於管體內，並疊置於第一配重上方；第三配重活動容設於管體內，並疊置於第二配重上方，第二配重與第三配重之間連設有撓性引線；拉桿連動第三配重作升降運動。

本發明另提出一種按鍵測試方法，包含下列步驟：A步驟：提供按鍵測試裝置，其包含有升降機構及至少一管體，至少一管體內活動容設有第一配重及第二配重，第一配重凸設有測試頭並向下穿出升降機構之對應之透孔外，第二配重疊置於第一配重上方；B步驟：提供至少一待測按鍵至升降機構下方， 並對應至至少一管體內第一配重之測試頭；C步驟：降下升降機構自起始位置至測試位置，使測試頭負載於待測按鍵上；及D步驟：量測至少一待測按鍵之導通狀態。

本發明再提出一種按鍵測試方法，包含下列步驟：步驟：提供按鍵測試裝置，其包含有升降機構、至少一管體及拉桿，至少一管體內活動容設有第一配重、第二配重及第三配重，第一配重凸設有測試頭並向下穿出升降機構之對應之透孔外，第二配重疊置於第一配重上方，第三配重並藉由撓性引線連結於第二配重上拉桿係連結於第三配重上；步驟：提供至少一待測按鍵至升降機構下方，並對應至至少一管體內第一配重之測試頭；步驟：將升降機構移動至測試位置，該測試頭負載於待測按鍵上；步驟：驅動拉桿上升，使第三配重不疊置於第二配重上；步驟：量測至少一待測按鍵之導通狀態；步驟：驅動拉桿下降，使第三配重疊置於第二配重上；步驟：量測至少一待測按鍵之導通狀態。

本發明之其中一特點在於，透過第一配重上之測試頭壓抵待測按鍵，並藉由改變管體內配重的位置或是 改變升降機構位置，使壓抵於待測按鍵上之重量改變，或是待測按鍵運行之行程距離改變，進而檢測待測按鍵之各項性能。

以下在實施方式中詳細敘述本發明之詳細特徵以及優點，其內容足以使任何熟悉相關技藝者瞭解本發明之技術內容並據以實施，且根據本說明書所揭露之內容、申請專利範圍及圖式，任何熟習相關技藝者可輕易地理解本發明相關之目的及優點。

11‧‧‧升降機構

111‧‧‧透孔

12‧‧‧管體

121‧‧‧第一配重

121a‧‧‧測試頭

122‧‧‧第二配重

123‧‧‧第三配重

123a‧‧‧限位槽

123b‧‧‧限位區間

124‧‧‧撓性引線

13‧‧‧拉桿

131‧‧‧限位件

2‧‧‧待測按鍵

3‧‧‧升降裝置

401‧‧‧A步驟

402‧‧‧B步驟

403‧‧‧C步驟

404‧‧‧D步驟

405‧‧‧E步驟

406‧‧‧C1步驟

501‧‧‧步驟

502‧‧‧步驟

503‧‧‧步驟

504‧‧‧步驟

505‧‧‧步驟

506‧‧‧步驟

507‧‧‧步驟

508‧‧‧步驟

509‧‧‧步驟

510‧‧‧步驟

511‧‧‧步驟

512‧‧‧步驟

P1‧‧‧支撐力測試點

S1‧‧‧行程位置

F1‧‧‧力量

P2‧‧‧支撐力測試點

S2‧‧‧行程位置

F2‧‧‧力量

P4‧‧‧回彈力測試點

S4‧‧‧行程位置

F4‧‧‧力量

FP‧‧‧觸發點

L1‧‧‧曲線

L2‧‧‧曲線

第1圖係理想的按鍵行程距離-力量曲線規格。

第2A圖係本發明實施例結構之立體示意圖。

第2B圖係本發明實施例結構之分解示意圖。

第3圖係本發明另一實施例之測視剖面作動示意圖。

第4圖係本發明實施例結構之側視剖面作動示意圖(一)。

第5圖係本發明實施例結構之側視剖面作動示意圖(二)。

第6圖係本發明實施例結構之側視剖面作動示意圖(三)。

第7圖係本發明實施例結構之起始狀態示意圖。

第8圖係本發明實施例結構之側視剖面作動示意圖(四)。

第9A圖係本發明實施例之操作流程示意圖(一)。

第9B圖係本發明實施例之操作流程示意圖(二)。

第9C圖係本發明實施例之操作流程示意圖(三)

第10圖係本發明再一實施例結構之側視剖面作動示意圖(一)。

第11圖係本發明實施例之操作流程示意圖(四)。

第12A圖係本發明再一實施例之側視剖面作動示意圖(二)。

第12B圖係本發明再一實施例之側視剖面作動示意圖(三)。

第13A圖係本發明實施例之操作流程示意圖(五)。

第13B圖係本發明實施例之操作流程示意圖(六)。

請參照第1圖，為待測理想的按鍵行程距離-力量曲線規格。一般而言，功能正常的按鍵需具備各項性能，例如回彈力、支撐力及運行之行程距離，以具備基本之工作效能，且針對不同產品或是根據使用者經驗，按鍵之回彈力、支撐力或運行之行程距離皆可預設一特定數值範圍，以提供較佳的使用經驗。如第1圖所示，縱軸為施加於功能正常的按鍵上之力量變化；橫軸為按鍵運行之行程位置變化，上方的曲線L1係為按鍵於按壓行程中之力量變化曲線；下方的曲線L2為係為按鍵於回彈行程中之力量變化曲線，茲配合第1表，按鍵之行程距離-力量表，進行說明：

功能正常的按鍵受到外力按壓時，其支撐力自初始之行程位置開始增加，隨著按鍵向下移動經行程位置S1，再經行程位置S2，支撐力會隨上方的曲線一路上升至力量F1，再下降至力量F2，其中力量F1係為按鍵支撐力於行程位置S2之前的最大值，之後隨著按鍵向下移動至行程位置S2，按鍵支撐力亦即力量F2下降至最小值。

經參照上表可知，支撐力測試點P1係為按鍵運行到行程位置S1時，測得力量F1，其中行程位置S1之範圍係在0.7mm~1.5mm，力量F1之範圍係在46g~74g，係為按鍵支撐力之最大值；支撐力測試點P2係為按鍵運行到行程位置S2時，測得力量F2，其中行程位置S2之範圍係在2.1mm~2.9mm，力量F2之範圍係在20.7g~44.4g，係為按鍵支撐力之下限值。

而後，隨著按鍵自行程位置S2繼續向下移動至觸發點FP，按鍵支撐力係逐步回升。當按鍵運行至觸發點FP時，按鍵電性導通，其中觸發點FP之行程位置範圍係在2.1mm~3.5mm。

當移除或減輕按鍵上之按壓力量至一定程度時，按鍵會沿著原本下降之運行軌跡回彈至初始位置，而按鍵於回彈軌跡上所呈現之回彈力，係如曲線L2所呈現。其中當按鍵回彈至行程位置S4時，按鍵之回彈力亦即力量F4係為按鍵回彈力之下限值。按鍵位於行程位置S4與行程位置S2係屬相同位置，差別在於，當按鍵位於行程位置 S4時，按鍵係處於朝初始位置前進之回彈軌跡上；當按鍵位於行程位置S2時，按鍵係處於自初始位置出發，朝觸發點前進之運行軌跡上。

回彈力測試點P4係為按鍵回彈到行程位置S4時，測得力量F4，力量F4之範圍係大於20g，係為按鍵回彈力之下限值。

按鍵運行之總行程距離之範圍係在3.4mm~4.2mm。

如上述第1圖及第1表所述，測試按鍵之運行位置軌跡及其對應之力量數值範圍，即可檢測出按鍵之性能及良率。然而，依據不同產品或不同使用環境，亦可進行不同之數值設定，亦即上述第1圖及第一表，係用以輔助說明，非用以限定本發明及本發明所能量測之範圍。

請參照第2A圖及第2B圖所示，分別為本發明實施例結構之立體示意圖及分解示意圖。在第一實施例中，本發明提出一種按鍵測試裝置，包含：升降機構11、至少一管體12及拉桿13。

升降機構11連接管體12，用以連動管體12進行升降運動，進而可調整按鍵測試裝置之測試行程，於本實施例當中，升降機構11可為一升降板，且具有至少一透孔111，本發明不以此為限；至少一管體12對應至少一透孔111而設置於升降機構11上方，至少一管體12內容設有第一配重121、第二配重122及第三配重123；第一配 重121活動容設於管體12內最底端，第一配重121凸設有測試頭121a，測試頭121a向下穿出管體12及透孔111外，用以施加外力於待測按鍵2；第二配重122活動容設於管體12內，並疊置於第一配重121上方；第三配重123活動容設於管體12內，並疊置於第二配重122上方，第二配重122與第三配重123之間連設有撓性引線124；拉桿13連動第三配重123作升降運動。第一配重121、第二配重122及第三配重123可為特定重量之砝碼，其重量的配置與按鍵的所需測試的項目相關，可因應不同特性的按鍵及所欲測試的標準作適當的調整，後續將有更詳細的說明。

升降機構11係可連接升降裝置，如油壓缸、氣壓缸、電磁裝置、軸向馬達或線性馬達等機械結構，以使按鍵測試裝置相對於待測按鍵2進行升降運動，本發明不以此為限。因此，可藉由調整升降機構11的位置，來限定測試頭121a可壓持於待測按鍵2的行程。

在另一實施例當中，升降機構11可具有一個以上之透孔111，透孔111之數量係可依據待測按鍵2之數量或是增進測試效率之作業流程來加以設計，例如，如第2A圖所示，若是待測物為智慧型手機僅包含一待測按鍵2，則升降機構11可僅需一透孔111即便於檢測一待測按鍵2；請參照第3圖所示，為本發明另一實施例之側視剖面作動示意圖，若是待測物係為一鍵盤包含複數待測按鍵2，則升降機構11亦可設有複數透孔111，便於批量檢測多個待測按鍵2，本發明不以此為限。

管體12之數量可與透孔111之數量相同，管體12與透孔111係可為一對一之對應關係，然本發明不以此為限。

拉桿13係可連接升降裝置3，如油壓缸、氣壓缸、電磁裝置、軸向馬達或線性馬達等機械結構，以使拉桿13相對於待測按鍵2進行升降運動，本發明不以此為限。藉此，拉桿13連接於第三配重123並連動第三配重123作升降運動。

支撐力檢測(一)

請參照第1圖、第4圖以及第1表所示，為本發明實施例結構之側視剖面作動示意圖(一)。在第一實施例中，以第一配重121與第二配重122之總重量作為支撐力下限的測試標準，原則上，可使第一配重121與第二配重122之總重量小於等於按鍵支撐力規格之下限值，亦即小於等於待測按鍵2之預設支撐力之下限值，並將拉桿13置於使第三配重123不疊置在第二配重122上之位置，並將升降機構11下降至測試位置，在一實施態樣中，升降機構11下降至得以使測試頭121a位於或超過觸發點FP之行程距離，對應第1圖之曲線，係於支撐力測試點P2上進行待測按鍵2之支撐力下限值之檢測。

其中，由於第一配重121與第二配重122之總重量小於等於按鍵支撐力規格之下限值，亦即小於等於待測按鍵2之預設支撐力之下限值，因此若是待測按鍵2經 測試頭121a按壓後導通，則代表待測按鍵的支撐力不足以承受第一配重121與第二配重122之總重量，不符合按鍵規格，即可檢測出此按鍵屬不良品；反之，若是待測按鍵2係未導通，則代表測得待測按鍵2之支撐力大於第一配重121與第二配重122之總重量，即顯示出待測按鍵2的支撐力符合按鍵支撐力下限之規格。在本實施態樣下，參照第1表，支撐力測試點P1的力量最小值為46g，藉由將第一配重121與第二配重122之總重量設為46g，亦可將第一配重121與第二配重122之總重量設為小於46g的重量，該重量可依照測試所需的規格或精確度進行調整，當然亦可依據不同產品或不同使用環境，進行不同之數值設定，例如47g、45.5g或44g，本發明不以此為限。

回彈力檢測

請參照第1圖、第5圖及第1表所示，為本發明實施例結構之側視剖面作動示意圖(二)。在第二實施例中，要測試按鍵2在被外力按壓後是否具備足夠的回彈力，因此，先將待測按鍵2按壓至低於回彈力測試點P4的行程後，使拉桿13向上移動，以連動第三配重123通過撓性引線124向上拉動第二配重122，使第二配重122不疊置在第一配重121上，並將第一配重121設為等於或小於回彈力規格之重量。

其中，可如第6圖所示，首先，將升降機構11下降至測試位置，在一實施態樣中，升降機構11下降至使 測試頭121a得以位於或超過觸發點FP之行程距離，並藉由第一配重121、第二配重122及第三配重123之重量，使待測按鍵2導通；或是藉由拉桿13下降，推擠管體12內之配重，進而壓通待測按鍵2(圖未示)。總而言之，當待測按鍵2位於或超過觸發點FP之行程距離，亦即待測按鍵2係處於導通狀態後，拉桿13向上拉動第三配重123，促使第三配重123通過撓性引線124向上拉動第二配重122，使第二配重122不疊置在第一配重121上，換句話說，此時僅有第一配重121按壓於待測按鍵2之上。對應第1圖之曲線，係於回彈力測試點P4上進行待測按鍵2之回彈力之檢測。由於第一配重121之重量小於等於待測按鍵2之預設回彈力之下限值。因此，若是僅有第一配重121按壓於待測按鍵2之上時，待測按鍵2係為導通，則代表待測按鍵2在經過外力觸發而在外力移除之後無足夠的回彈力(回彈力小於第一配重121)，故可測得待測按鍵2之回彈力非落入預設回彈力下限值(力量F4)之規格區間，即可檢測出此按鍵屬不良品；反之，若是待測按鍵2係未導通，則代表待測按鍵2的回彈力大於第一配重121，即可測得待測按鍵2之回彈力落入預設回彈力之下限值(力量F4)之規格區間，故此按鍵係通過回彈力下限值之檢測。在本實施態樣下，參照第1表，按鍵之回彈力規格為20g，故第一配重121總重量應小於等於20g，若將第一配重121設為19g，若待測按鍵2經測試後係為導通，表示待測按鍵2的回彈力不足支撐19g之重量。當然亦可依據不同產 品或不同使用環境，進行不同之數值設定，例如21g、19.5g或19g，本發明不以此為限。

支撐力檢測(二)

請參照第1圖、第6圖及第1表所示，為本發明實施例結構之側視剖面作動示意圖(三)。在第三實施例中，拉桿13包含限位件131，第三配重123包含對應限位件131之限位槽123a，限位槽123a具有限位區間123b，限位件131容設於限位槽123a內，並軸向活動於限位區間123b，對應第1圖之曲線，係於支撐力測試點P1上進行待測按鍵2之支撐力上限值之檢測。在配重方面，將第一配重121、第二配重122及第三配重123之總重量設為大於或等於待測按鍵2之預設支撐力之上限值。

限位件131係設置於與第三配重123連接之拉桿13一端，限位件131自拉桿13之表面向外突出，而成盤狀或桿狀。限位槽123a係位於第三配重123之內部，而限位件131容設於限位槽123a內，其中限位件131之尺寸係大於限位槽123a供拉桿13進入之開口尺寸，但小於限位區間123b徑向截面之尺寸，藉此限位件131可軸向活動於限位區間123b，且拉桿13與第三配重123不分離。

如第6圖所示，先將升降機構11下降至測試位置，在一實施態樣中，升降機構11下降至使測試頭121a位於或超過觸發點FP之行程距離。當拉桿13向下移動，第三配重123疊置於第二配重122，第二配重122疊置於 第一配重121上，且限位件131之上側不接觸限位槽123a，藉此第一配重121、第二配重122及第三配重123皆直接壓持於待測按鍵2上。其中，由於第一配重121、第二配重122及第三配重123之總重量大於或等於待測按鍵2之預設支撐力之上限值，因此若是待測按鍵2係為導通，則代表測得之支撐力落入預設支撐力上限值(力量F1)之規格區間，即可檢測出此按鍵係通過支撐力上限值之檢測，此按鍵屬良品；反之，若是待測按鍵2係未導通，則代表測得之支撐力大於預設支撐力之上限值(力量F1)之規格，即可檢測出此按鍵屬不良品。參照第1表所示，在本實施態樣下所欲測試的支撐力上限值為74g，故使第一配重121、第二配重122及第三配重123之總重量等於74g來進行上述測試，當然亦可依據不同產品或不同使用環境，進行不同之數值設定，例如75g、73.5g或73g，本發明不以此為限。

過敏檢測

請參照第1圖、第7圖、第8圖及第1表所示，分別為本發明實施例結構之起始狀態示意圖及側視剖面作動示意圖(四)。在第四實施例中，升降機構11自起始位置至測試位置所運行之行程距離小於使待測按鍵2導通所預設之驅動行程，對應第1圖之曲線，係於觸發點FP之前，進行待測按鍵2之觸發點之檢測。

第一配重121、第二配重122及第三配重123 相互堆疊之重量大於待測按鍵2之支撐力，足以克服按鍵支撐力，以便測試頭121a壓持待測按鍵2時，能夠克服力量F1(亦即支撐力之上限值)而使待測按鍵2自行程位置S1朝待測按鍵2之觸發點FP前進。亦即負載於測試按鍵2上的總重量大於待測按鍵2之預設支撐力之上限值。

如第7圖至第8圖所示，當升降機構11自起始位置運行至測試位置，亦即測試頭121a壓持待測按鍵2，使待測按鍵2朝觸發點FP前進，且升降機構11自起始位置(如第7圖所示)運行至測試位置(如第8圖所示)之行程距離小於待測按鍵2之觸發點FP之預設行程距離，亦即待測按鍵2移動至觸發點FP之前，故不應有待測按鍵2導通的現象發生。因此若是待測按鍵2係為導通，則代表待測按鍵2之靈敏度過高，尚未被按壓到觸發點FP即自行觸發，此按鍵非屬良品；反之，若是待測按鍵2係未導通，則代表待測按鍵2之靈敏度合格，待測按鍵2通過靈敏度之檢測。在本實施態樣下，參照第1表，觸發點的行程位置為2.1~3.5mm，故將升降機構11自起始位置運行至測試位置之行程距離小於2.1mm，例如1.5mm，當然亦可依據不同產品或不同使用環境，進行不同之數值設定，例如2mm、1.7mm或1.3mm，本發明不以此為限。

上述各實施例所揭示之技術特徵，在不脫離本發明之中心思想下，係可交互使用，以測量按鍵之多種性能數值，本發明不以此為限。

請參照第9A圖所示，為本發明實施例之操作 流程示意圖(一)。在第五實施例中，本發明亦提出一種按鍵測試方法，包含下列步驟：A步驟401：提供按鍵測試裝置，其包含有升降機構11及至少一管體12，該升降機構11用以連動該管體12進行升降運動，於本實施例當中，該升降機構11可為一升降板且具有一透孔111，本發明不以此為限，至少一管體12內活動容設有第一配重121及第二配重122，第一配重121凸設有測試頭121a並向下穿出升降機構11之對應之透孔111外，第二配重122疊置於第一配重121上方；B步驟402：提供至少一待測按鍵2至升降機構11下方，並對應至至少一管體12內第一配重121之測試頭121a；C步驟403：將升降機構11置於測試位置，使測試頭121a負載於待測按鍵2上；及D步驟404：量測至少一待測按鍵2之導通狀態。

支撐力檢測(一)

其中在C步驟403中，第二配重122疊置於第一配重121進而負載於待測按鍵2上，以檢測待測按鍵2於行程位置S1上之支撐力。請參照第10圖所示，本發明再一實施例結構之側視剖面作動示意圖(一)，若在A步驟401中，第一配重121與第二配重122之總重量小於等於待測按鍵2之預設支撐力之上限值，且在D步驟404中， 待測按鍵2之導通狀態係為導通，即檢測得知此按鍵係通過支撐力上限值之檢測；反之，若未導通，此按鍵係屬不良品。

若在A步驟401中，第一配重121與第二配重122之總重量小於或等於待測按鍵2之預設支撐力之下限值；在D步驟404中，待測按鍵2之導通狀態係為未導通，即檢測得知此按鍵係通過支撐力下限值之檢測；反之，若導通，此按鍵係屬不良品。

支撐力檢測(二)

請再次參照第6圖所示，為本發明實施例結構側視剖面作動示意圖(三)。在第六實施例中，在A步驟401中，至少一管體12內活動容設有第三配重123，拉桿13係連結於第三配重123上，第三配重123並藉由撓性引線124連結於第二配重122上，且疊置於第二配重上。

藉此，檢測待測按鍵2於行程位置S1上之支撐力上限。若在A步驟401中，第一配重121、第二配重122及第三配重123之總重量大於或等於待測按鍵2之支撐力之上限值，且在D步驟404中，待測按鍵2之導通狀態係為導通，即檢測得知此按鍵係通過支撐力上限值之檢測；反之，若未導通，此按鍵係屬不良品。

請參照第9B圖及第6圖所示，分別為本發明實施例之操作流程示意圖(二)及本發明實施例結構側視剖面作動示意圖(三)。承第六實施例，於第七實施例中， 其中，A步驟401之該第三配重123包含一限位槽123a，限位槽123a具有限位區間123b；拉桿13包含一限位件131並對應容設於該限位槽123a內，且軸向活動於該限位區間123b；按鍵測試方法更包含下列步驟於C步驟403之後，D步驟404之前：C1步驟406：驅動該拉桿下降，係使該限位件之上側不接觸該限位槽。

在A步驟401中，第一配重121、第二配重122及第三配重123之總重量大於或等於待測按鍵2之支撐力之上限值，且在D步驟404中，待測按鍵2之導通狀態係為導通，即檢測得知此按鍵係通過支撐力上限值之檢測；反之，若未導通，此按鍵係屬不良品。

回彈力檢測

請參照第11圖、第12A圖及第12B圖所示，為本發明實施例之操作流程示意圖(四)、再一實施例之側視剖面作動示意圖(二)及(三)。在第八實施例中，在A步驟401中，按鍵測試裝置包含拉桿13以連動第二配重122作升降運動；按鍵測試方法更包含下列步驟：其中在C步驟403中：將升降機構11置於測試位置，使測試頭121a負載於待測按鍵2上，並使驅動拉桿13下降，促使待測按鍵2為已導通狀態(若於此步驟即發現待測按鍵無法導通，則該待測按鍵為不良品)；在D步驟404之前，加入E步驟405：驅動拉 桿13上升帶動第二配重122上升，使該第二配重122不疊置在第一配重121上；其中在A步驟401中，第一配重121之重量小於或等於待測按鍵2之預設回彈力之下限值；在C步驟403中，係驅動拉桿13下降，推擠管體12內之配重，進而壓通待測按鍵2，亦即待測按鍵2移動等於或超過觸發點FP之行程距離；並於E步驟405中，驅動拉桿13上升，使僅第一配重121負載於待測按鍵2上，以檢測待測按鍵2於行程位置S4上之回彈力；在D步驟404中，待測按鍵2之導通狀態係為未導通，即檢測得知此按鍵係通過回彈力下限值之檢測；反之，若導通，此按鍵係屬不良品。

請再次參照第6圖所示，為本發明實施例結構側視剖面作動示意圖(三)。承第八實施例，在A步驟401中，至少一管體12內活動容設有第三配重123，拉桿13係連結於第三配重123上，第三配重123並藉由撓性引線124連結於第二配重122上；其中，E步驟405之驅動拉桿13下降，促使第三配重123疊置於第二配重122上方，藉由第三配重123之重量負荷加壓於測試頭121a上，以令待測按鍵2為已導通狀態。若於此步驟即發現待測按鍵無法導通，則該待測按鍵為不良品。

請再次參照第5圖所示，為本發明實施例結構側視剖面作動示意圖(二)。承第八實施例，在A步驟401中，第一配重121之重量小於或等於待測按鍵2之回彈力 之設定值。其中，於E步驟405中，驅動拉桿13上升，拉動第三配重123及第二配重122，使僅第一配重121負載於待測按鍵2上，以檢測待測按鍵2於行程位置S4上之回彈力；在D步驟404中，待測按鍵2之導通狀態係為未導通，即檢測得知此按鍵係通過回彈力下限值之檢測；反之，若導通，此按鍵係屬不良品。

過敏檢測

請再次參照第7圖、第8圖及第9C圖所示，分別為本發明實施例結構側視剖面作動示意圖(四)、(五)及實施例之操作流程示意圖(三)。承第五實施例或在第九實施例中，在C步驟403中，升降機構11自該起始位置至測試位置所運行之行程距離小於使待測按鍵2導通之所預設行程距離，且負載於測試按鍵2上的總重量大於待測按鍵2之預設支撐力之上限值。

其中，如第五實施例中，第一配重121及第二配重122之總重量，或是如第六實施例中，第一配重121、第二配重122及第三配重123之總重量，經相互堆疊使力量F1大於待測按鍵2之支撐力，足以克服按鍵支撐力，以便當測試頭121a負載於待測按鍵2時，待測按鍵2能夠自行程位置S1朝待測按鍵2之觸發點FP前進，亦即負載於測試按鍵2上的總重量大於待測按鍵2之預設支撐力之上限值。

在C步驟403中，升降機構11自起始位置(如 第7圖所示)運行至測試位置(如第8圖所示)，亦即測試頭121a壓持待測按鍵2，使待測按鍵2朝觸發點FP前進，且升降機構11運行之行程距離小於待測按鍵2之觸發點之預設行程距離，亦即待測按鍵2移動至觸發點FP之前。因此若是在D步驟404中，待測按鍵2係為導通，則代表待測按鍵2之靈敏度過高，此按鍵非屬良品；反之，若是在D步驟404中，待測按鍵2係未導通，則代表待測按鍵2之靈敏度合格，代表待測按鍵2通過靈敏度之檢測。

上述方法之各步驟係可藉由排列組合以產生不同之步驟順序，本發明不以此為限，且各步驟之英文字母順序，不影響限制各步驟之實施順序。

測試流程

請參照第13A圖所示，為本發明實施例之操作流程示意圖(五)。在第十實施例中，本發明再提出一種按鍵測試方法，包含下列步驟：步驟501：提供按鍵測試裝置，其包含有升降機構11、至少一管體12及拉桿13，至少一管體12內活動容設有第一配重121、第二配重122及第三配重123，第一配重121凸設有測試頭121a並向下穿出升降機構11之對應之透孔外，第二配重122疊置於第一配重121上方，第三配重123並藉由撓性引線124連結於第二配重122上該拉桿13係連結於該第三配重123上；步驟502：提供至少一待測按鍵2至升降機構 11下方，並對應至至少一管體12內第一配重121之測試頭121a；步驟503：將升降機構11移動至測試位置，該測試頭121a負載於待測按鍵2上；步驟504：驅動拉桿13上升，使第三配重123不疊置於第二配重122上；步驟505：量測至少一待測按鍵2之導通狀態；步驟506：驅動拉桿13下降，使第三配重123疊置於第二配重122上；步驟507：量測至少待測按鍵2之導通狀態。

步驟508：驅動拉桿13上升帶動第二配重122上升，使第二配重122不疊置在該第一配重121上；及步驟509：量測至少一待測按鍵2之導通狀態。

並配合第一配重121與第二配重122之總重量小於或等於待測按鍵2之預設支撐力之下限值、第一配重121、第二配重122及第三配重123之總重量等於或大於待測按鍵2之預設支撐力之上限值，及第一配重121之重量等於或小於待測按鍵2之預設回彈力之下限值等測試配重限制，藉此可依序測量按鍵支撐力下限值、按鍵支撐力上限值及按鍵回彈力下限值。

請參照第13B圖所示，為本發明實施例之操作流程示意圖(六)。承第十實施例，本發明更包含下列步驟於步驟502之後，步驟503之前：步驟510：驅動該拉桿13下降，使該第三配重 123疊置於該第二配重122上；步驟511：移動升降機構11自起始位置至過敏測試位置，使測試頭121a負載於該待測按鍵2上，其中升降機構11自起始位置至過敏測試位置所運行之行程距離小於使該待測按鍵2導通所預設之行程距離；步驟512：量測該至少一待測按鍵2之導通狀態

由於第一配重121、第二配重122及第三配重123之總重量大於待測按鍵2之預設支撐力之上限值，且升降機構11自起始位置至過敏測試位置所運行之行程距離小於使該待測按鍵2導通所預設之行程距離，藉此可進行按鍵按鍵測試。綜上所述，本實施例可依序進行按鍵過敏測試、按鍵支撐力下限值測試、按鍵支撐力上限值測試及按鍵回彈力下限值測試，依照上述順序進行測試可節省測試步驟，以達到節省測試時間、增進測試效率的功效。

藉由上述實施例可得知，本發明之其中一特點在於，透過第一配重121上之測試頭121a壓抵待測按鍵2，並藉由改變管體12內配重的位置或是改變升降機構11位置，使壓抵於待測按鍵2上之重量改變，或是待測按鍵2運行之行程距離改變，進而檢測待測按鍵2之各項性能。藉此解決，在先前技術中，採用人工方式進行按鍵測試，無法精準檢測按鍵之各項性能，且檢測效率低落之問題。

雖然本發明的技術內容已經以較佳實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何熟習此技藝者， 在不脫離本發明之精神所作些許之更動與潤飾，皆應涵蓋於本發明的範疇內，因此本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。

11‧‧‧升降機構

111‧‧‧透孔

12‧‧‧管體

121‧‧‧第一配重

121a‧‧‧測試頭

122‧‧‧第二配重

123‧‧‧第三配重

124‧‧‧撓性引線

13‧‧‧拉桿

2‧‧‧待測按鍵

3‧‧‧升降裝置

Claims (25)

1. 一種按鍵測試裝置，包含：一升降機構；至少一管體，該升降機構連動該管體作升降運動，該至少一管體內容設有一第一配重、一第二配重及一第三配重；該第一配重活動容設於該管體內最底端，該第一配重凸設有一測試頭；該第二配重活動容設於該管體內，並疊置於該第一配重上方；該第三配重活動容設於該管體內，並疊置於該第二配重上方，該第二配重與該第三配重之間連設有一撓性引線；及一拉桿，該拉桿連動該第三配重作升降運動。
2. 如請求項1所述之按鍵測試裝置，其中，該拉桿向上拉動該第三配重，使該第三配重不疊置在該第二配重上。
3. 如請求項1所述之按鍵測試裝置，其中，該拉桿向上拉動該第三配重，促使該第三配重通過該撓性引線向上拉動該第二配重，使該第二配重不疊置在該第一配重上。
4. 如請求項1、2或3其中之一所述之按鍵測試裝置，其中，該第一配重與該第二配重之總重量小於等於該待測按鍵之預設支撐力之下限值。
5. 如請求項4所述之按鍵測試裝置，其中，該第一配重、第二配重及第三配重之總重量大於等於該待測按鍵之預設支撐力之上限值。
6. 如請求項4所述之按鍵測試裝置，其中，該第一配重之重量小於等於該待測按鍵之預設回彈力之設定值。
7. 如請求項1所述之按鍵測試裝置，其中，該拉桿包含一限位件，該第三配重包含對應該限位件之一限位槽，該限位槽具有一限位區間，該限位件容設於該限位槽內，並軸向活動於該限位區間。
8. 如請求項1所述之按鍵測試裝置，更包含一升降裝置連接該拉桿，該升降裝置驅動該拉桿相對於該管體作升降運動。
9. 如請求項1所述之按鍵測試裝置，該升降機構為一升降板，且該升降板具有一透孔，該測試頭向下穿出該透孔。
10. 一種按鍵測試方法，包含下列步驟：A步驟：提供一按鍵測試裝置，其包含有一升降機構及至少一管體，該升降機構連動該管體作升降運動，該至少一管體內活動容設有一第一配重及一第二配重，該第一配重凸設有一測試頭，該第二配重疊置於該第一配重上方；B步驟：提供至少一待測按鍵至該測試頭下方，並對應至該至少一管體內第一配重之測試頭；C步驟：將該升降機構置於一測試位置，使該測試頭負載於該待測按鍵上；及D步驟：量測該至少一待測按鍵之導通狀態。
11. 如請求項10所述之按鍵測試方法，其中，該A步驟中該第一配重與該第二配重之總重量小於等於該待測按鍵之預設支撐力之下限值。
12. 如請求項10所述之按鍵測試方法，其中，該A步驟中該 按鍵測試裝置包含一拉桿，該至少一管體內活動容設有一第三配重，該拉桿係連結於該第三配重上以連動該第三配重作升降運動，該第三配重並藉由一撓性引線連結於該第二配重上，且疊置於該第二配重上。
13. 如請求項12所述之按鍵測試方法，其中，該A步驟之該第三配重包含一限位槽，該限位槽具有一限位區間；該拉桿包含一限位件並對應容設於該限位槽內，且軸向活動於該限位區間；該按鍵測試方法更包含下列步驟於該D步驟之前：C1步驟：驅動該拉桿下降，係使該限位件之上側不接觸該限位槽。
14. 如請求項12或13所述之按鍵測試方法，其中，該A步驟之該第一配重、第二配重及第三配重之總重量大於等於該待測按鍵之預設支撐力之上限值。
15. 如請求項10所述之按鍵測試方法，其中，該A步驟中該按鍵測試裝置包含一拉桿以連動該第二配重作升降運動；該按鍵測試方法更包含下列步驟：在C步驟中：驅動該拉桿下降，促使該待測按鍵為已導通狀態；及D步驟之前，加入E步驟：驅動該拉桿上升帶動該第二配重上升，使該第二配重不疊置在該第一配重上。
16. 如請求項15所述之按鍵測試方法，其中，該A步驟中該至少一管體內活動容設有一第三配重，該拉桿係連結於該第三配重上，該第三配重並藉由一撓性引線連結於該第二 配重上；其中，該C步驟中之驅動該拉桿下降，促使該第三配重疊置於該第二配重上方，藉由該第三配重之重量負荷加壓於該測試頭上，以令該待測按鍵為已導通狀態。
17. 如請求項15所述之按鍵測試方法，其中，該A步驟中該第一配重之重量小於等於該待測按鍵之預設回彈力之設定值。
18. 如請求項16所述之按鍵測試方法，其中，該A步驟之該第三配重包含一限位槽，該限位槽具有一限位區間；該拉桿包含一限位件並對應容設於該限位槽內，且軸向活動於該限位區間；其中，該C步驟之驅動該拉桿下降，係使該限位件之上側不接觸該限位槽。
19. 如請求項10所述之按鍵測試方法，其中，該C步驟之該升降機構自一起始位置至該測試位置所運行之行程距離小於使該待測按鍵導通所預設之行程距離，且負載於該測試按鍵上的總重量大於該待測按鍵之預設支撐力之上限值。
20. 一種按鍵測試方法，包含下列步驟：A步驟：提供一按鍵測試裝置，其包含有一升降機構、至少一管體及一拉桿，該升降機構連動該管體作升降運動，該至少一管體內活動容設有一第一配重、一第二配重及一第三配重，該第一配重凸設有一測試頭，該第二配重疊置於該第一配重上方，該第三配重並藉由一撓性引線連 結於該第二配重上，該拉桿係連結於該第三配重上；B步驟：提供至少一待測按鍵至該升降機構下方，並對應至該至少一管體內第一配重之測試頭；C步驟：將該升降機構移動至一測試位置，使該測試頭負載於該待測按鍵上；D步驟：驅動該拉桿上升，使該第三配重不疊置於該第二配重上；E步驟：量測該至少一待測按鍵之導通狀態；F步驟：驅動該拉桿下降，使該第三配重疊置於該第二配重上；及G步驟：量測該至少一待測按鍵之導通狀態。
21. 如請求項20所述之按鍵測試方法，其中，該A步驟中該第一配重與該第二配重之總重量小於等於該待測按鍵之預設支撐力之下限值。
22. 如請求項20所述之按鍵測試方法，其中，該A步驟中該第一配重、第二配重及第三配重之總重量大於等於該待測按鍵之預設支撐力之上限值。
23. 如請求項20所述之按鍵測試方法，其中，該E步驟之驅動該拉桿下降，促使該第三配重疊置於該第二配重上方，藉由該第三配重之重量負荷加壓於該測試頭上，以令該待測按鍵為已導通狀態；該按鍵測試方法更包含下列步驟於G步驟之後：H步驟：驅動該拉桿上升帶動該第二配重上升，使該第二配重不疊置在該第一配重上；及 I步驟：量測該至少一待測按鍵之導通狀態。
24. 如請求項22所述之按鍵測試方法，其中，該A步驟中該第一配重之重量小於等於該待測按鍵之預設回彈力之設定值。
25. 如請求項21所述之按鍵測試方法，更包含下列步驟於該C步驟之前：J步驟：驅動該拉桿下降，使該第三配重疊置於該第二配重上；K步驟：移動該升降機構自一起始位置至一過敏測試位置，使該測試頭負載於該待測按鍵上，其中該升降機構自該起始位置至該過敏測試位置所運行之行程距離小於使該待測按鍵導通所預設之行程距離；及L步驟：量測該至少一待測按鍵之導通狀態。