CN207528760U - 双面接触式导通治具 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供了一种双面接触式导通治具，包括：产品固定块，其通过具有回弹性的支柱固定在工作台上，产品固定块上设置有与待测试产品相匹配的容置槽；第一测试探针，其固定在产品固定块下方的工作台上，第一测试探针的位置与待测试产品底面的探点位置相对应，第一测试探针与待测试产品的底面不接触；第二探针固定板，其通过升降机构设置在工作台上且位于产品固定块的上方，所述第二探针固定块上还设置有立柱；以及第二测试探针，其设置在第二探针固定板上，第二测试探针的位置与待测试产品顶面上的探点位置相对应，所述第二探针底部的高度不高于立柱底部的高度。本实用新型待测试产品水平受压且受压均匀，保证了产品的接触良好，易于导通。

Description

双面接触式导通治具

技术领域

本实用新型涉及工装治具的技术领域，更为具体地，涉及一种双面接触式导通治具。

背景技术

目前行业内，对于需要正反两面进行接触导通的产品进行接触时，一般是先将产品的一面与探针进行接触，再将另一面进行接触。此方法往往很难控制探针的伸出长度，因此常常由于探针将产品顶起而导致产品放置不平，从而影响接触点位置接触，造成接触不良。

实用新型内容

鉴于上述问题，本实用新型的目的是提供一种双面接触式导通治具，以解决现有技术产品测试时容易不平而导致接触不良的问题。

为了实现上述目的，本实用新型通过以下的技术方案来实现的：

一种双面接触式导通治具，包括：

产品固定块，其通过具有回弹性的支柱固定在工作台上，在所述产品固定块上设置有与待测试产品形状大小相匹配的容置槽，且所述待测试产品上下两面的探点均从所述容置槽中露出；

第一测试探针，其固定在所述产品固定块下方的工作台上，所述第一测试探针的位置与所述待测试产品底面的探点位置相对应，且在不测试的情况下，所述第一测试探针与所述待测试产品的底面不接触；

第二探针固定板，其通过升降机构设置在所述工作台上，所述第二探针固定板与所述产品固定块相对设置且位于所述产品固定块的上方，在所述第二探针固定块上还设置有立柱，所述升降机构可带动所述第二探针固定块和所述立柱上下运动，并且在向下运动时所述立柱可向下按压所述产品固定块；以及

第二测试探针，其设置在所述第二探针固定板上，所述第二测试探针的位置与所述待测试产品顶面上的探点位置相对应，所述第二探针底部的高度不高于所述立柱底部的高度。

优选的是，所述支柱为其内设置有弹簧的光棒探针。

优选的是，所述第一测试探针通过第一测试探针固定板设置在所述产品固定块下方的工作台上。

优选的是，所述升降机构包括设置在所述工作台上的滑台固定板、沿所述滑台固定板高度方向设置的导轨、滑接于所述导轨的滑块以及与所述滑块连接且可推动所述滑块上下移动的气缸，所述气缸可带动所述滑块上下移动。

优选的是，所述第二测试探针具有回弹性且所述第二探针底部的高度低于所述立柱底部的高度。

与现有技术相比，本实用新型至少具有以下有益效果：本实用新型在测试之前，待测试产品与第一测试探针和第二测试探针均处于分离状态，这就保证了产品是水平放置的；测试时，采用升降机构带动第二探针固定板、第二测试探针和立柱向下运动，第二测试探针先受压收缩，之后由立柱推动产品固定块向下运动，再与第一测试探针接触，这样确保了产品固定块和其上的待测试产品水平受压且受压均匀，保证了产品的接触良好，易于导通，防止了产品不平而导致的接触不良。

附图说明

通过参考以下结合附图的说明内容，并且随着对本实用新型的更全面理解，本实用新型的其它目的及结果将更加明白及易于理解。在附图中：

图1为本实用新型的实施例的结构示意图。

在所有附图中相同的标号指示相似或相应的特征或功能。

其中，产品固定块1，第一测试探针2，第二测试探针3，待测试产品4，容置槽5，工作台6，光棒探针7，第一探针固定板8，滑台固定板9，导轨10，滑块11，第二探针固定板12，立柱13，开关14。

具体实施方式

以下将结合附图对本实用新型的具体实施例进行详细描述。

图1给出了本实施例的结构示意图。见图1，本实施例提供的双面接触式导通治具，主要包括产品固定块1、第一测试探针2、升降机构和第二测试探针3。产品固定块1中心位置上设置有一与待测试产品4形状大小相匹配的容置槽5。待测试产品4放置在容置槽5中，其上下两面的探点均从容置槽5中露出以便后续测试用。

其中，产品固定块1通过具有回弹性的支柱设置在工作台6上，在图1所示的实施例中，支柱设置有四根。此处的支柱可为其内设置有弹簧的光棒探针7，这样对光棒探针7施加向下的压力时，光棒探针7压缩且带动其上的产品固定块1向下移动。在产品固定块1的下方设置有第一测试探针2。第一测试探针2通过第一探针固定板8设置在产品固定块1下方的工作台6上，第一测试探针2的位置与待测试产品4底面上的探点位置相对应，且待测试产品4底面的高度高于第一测试探针2顶点的高度，即在不测试的情况下，第一测试探针2与待测试产品4的底面不接触。

在本实用新型的一个具体实施方式中，升降机构包括滑台固定板9、沿滑台固定板9上高度方向设置的导轨10、与导轨10上滑接的滑块11以及与滑块11连接的气缸(图中未示出)，气缸运动带动滑块11在导轨10上上下运动。滑块11上固定有一第二探针固定板12，该第二探针固定板12与位于其下方的产品固定块1相对设置，且第二探针固定板12的四角处均设置有立柱13，该四根立柱13分别与产品固定块1的四角对应。

第二测试探针3垂直设置在第二探针固定板12上且位于产品固定块1的上方，安装好的第二测试探针3的位置与待测试产品4顶面上的探点位置相对应。

为了使得第二测试探针3在下降过程中与待测试产品4顶面先接触，第二测试探针3底部的高度低于立柱13底部的高度。第二测试探针3也具有回弹性，即第二测试探针3内也设置有弹簧，这样在气缸推动滑块11、第二探针固定板12以及第二测试探针3下降的过程中，第二测试探针3会先被压缩，再由立柱13对产品固定块1施加向下的压力，光棒探针7受压收缩。

此外，为了方便控制气缸，可以将气缸通过电路与一开关14电连接，开启开关14，气缸工作。

在应用本实施例的双面接触式导通治具的过程中，将待测试产品4放置在容置槽5中，开启开关14，气缸工作带动滑块11、第二探针固定板12以及第二测试探针3向下运动，第二测试探针3先与待测试产品4顶面上的探点接触，气缸继续带动第二探针固定板12向下运动至立柱13与产品固定块1接触时，第二测试探针3受压收缩，立柱13向下按压产品固定块1，产品固定块1底部的光棒探针7受压压缩，进而带动产品固定块1和位于产品固定块1上的待测试产品4向下运动。

当待测试产品4向下运动至第一测试探针2与待测试产品4底面上的探点接触时，此时待测试产品4底面和顶面上的探点同时与第一测试探针2和第二测试探针3接触导通，这时控制气缸停止运动，将第一测试探针2和第二测试探针3与外部设备连接进行测试。测试完成后，通过开关14控制气缸带动滑块11、第二探针固定板12以及第二测试探针3向上运动，第二测试探针3对产品固定块1施加的压力逐渐消失，由于回弹作用，光棒探针7带动产品固定块1恢复至原位，则此时待测试产品4与第一测试探针2分离。第二测试探针3继续向上运动到一定高度，第二测试探针3也与待测试产品4分离，至此本实施例完成一次导通测试。

如上参照附图以示例的方式描述根据本实用新型的双面接触式导通治具。但是，本领域技术人员应当理解，对于上述本实用新型所提出的双面接触式导通治具，还可以在不脱离本实用新型内容的基础上做出各种改进。因此，本实用新型的保护范围应当由所附的权利要求书的内容确定。

Claims (5)

1.一种双面接触式导通治具，其特征在于，包括：

产品固定块，其通过具有回弹性的支柱固定在工作台上，在所述产品固定块上设置有与待测试产品形状大小相匹配的容置槽，且所述待测试产品上下两面的探点均从所述容置槽中露出；

第一测试探针，其固定在所述产品固定块下方的工作台上，所述第一测试探针的位置与所述待测试产品底面的探点位置相对应，且在不测试的情况下，所述第一测试探针与所述待测试产品的底面不接触；

第二探针固定板，其通过升降机构设置在所述工作台上，所述第二探针固定板与所述产品固定块相对设置且位于所述产品固定块的上方，在所述第二探针固定块上还设置有立柱，所述升降机构可带动所述第二探针固定块和所述立柱上下运动，并且在向下运动时所述立柱可向下按压所述产品固定块；以及

第二测试探针，其设置在所述第二探针固定板上，所述第二测试探针的位置与所述待测试产品顶面上的探点位置相对应，所述第二探针底部的高度不高于所述立柱底部的高度。

2.如权利要求1所述的双面接触式导通治具，其特征在于，所述支柱为其内设置有弹簧的光棒探针。

3.如权利要求1所述的双面接触式导通治具，其特征在于，所述第一测试探针通过第一测试探针固定板设置在所述产品固定块下方的工作台上。

4.如权利要求1所述的双面接触式导通治具，其特征在于，所述升降机构包括设置在所述工作台上的滑台固定板、沿所述滑台固定板高度方向设置的导轨、滑接于所述导轨的滑块以及与所述滑块连接且可推动所述滑块上下移动的气缸，所述气缸可带动所述滑块上下移动。

5.如权利要求1所述的双面接触式导通治具，其特征在于，所述第二测试探针具有回弹性且所述第二探针底部的高度低于所述立柱底部的高度。