CN107278261A - 用于检查生产线中的轮胎的方法和设备 - Google Patents

用于检查生产线中的轮胎的方法和设备 Download PDF

Info

Publication number
CN107278261A
CN107278261A CN201580070170.XA CN201580070170A CN107278261A CN 107278261 A CN107278261 A CN 107278261A CN 201580070170 A CN201580070170 A CN 201580070170A CN 107278261 A CN107278261 A CN 107278261A
Authority
CN
China
Prior art keywords
image
light radiation
surface portion
tire
light source
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201580070170.XA
Other languages
English (en)
Other versions
CN107278261B (zh
Inventor
V·波法
V·巴拉迪尼
G·卡萨迪奥·托齐
B·蒙特鲁基奥
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Pirelli and C SpA
Pirelli Tyre SpA
Original Assignee
Pirelli Pneumatici SpA
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Pirelli Pneumatici SpA filed Critical Pirelli Pneumatici SpA
Publication of CN107278261A publication Critical patent/CN107278261A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN107278261B publication Critical patent/CN107278261B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/30—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M17/00—Testing of vehicles
    • G01M17/007—Wheeled or endless-tracked vehicles
    • G01M17/02—Tyres
    • G01M17/027—Tyres using light, e.g. infrared, ultraviolet or holographic techniques
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/952—Inspecting the exterior surface of cylindrical bodies or wires
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/954—Inspecting the inner surface of hollow bodies, e.g. bores
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00—Image analysis
    • G06T7/0002—Inspection of images, e.g. flaw detection
    • G06T7/0004—Industrial image inspection
    • G06T7/001—Industrial image inspection using an image reference approach
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N23/00—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
    • H04N23/56—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof provided with illuminating means
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/956—Inspecting patterns on the surface of objects
    • G01N21/95607—Inspecting patterns on the surface of objects using a comparative method
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/10—Image acquisition modality
    • G06T2207/10024—Color image
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/10—Image acquisition modality
    • G06T2207/10028—Range image; Depth image; 3D point clouds
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/10—Image acquisition modality
    • G06T2207/10141—Special mode during image acquisition
    • G06T2207/10152—Varying illumination
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/20—Special algorithmic details
    • G06T2207/20212—Image combination
    • G06T2207/20224—Image subtraction

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Tires In General (AREA)

Abstract

用于检查轮胎生产线中的轮胎的方法及相关设备，包括：用第一和第二掠射光辐射交替照射轮胎的表面部分，并且分别获得所照射的表面部分的第一和第二二维数字图像，其中对于表面部分的每个点(P，P’)，入射在该点处的第一和第二光辐射的相应的总体光功率分别来自相对于光学平面(107)相对的两个半空间，所述光学平面经过该点处的表面的垂线；和比较第一和第二图像，以便获得有关表面部分的测高轮廓的信息。

Description

用于检查生产线中的轮胎的方法和设备
技术领域
本发明涉及用于检查轮胎生产线中的轮胎的方法和设备，尤其是通过获取轮胎表面的图像以及通过后续处理，例如，用于检查可能存在的在轮胎表面上可见的缺陷。
背景技术
“轮胎”通常指成品轮胎，即在建造步骤后的模塑步骤和硫化步骤之后，但也可以是建造步骤之后、模塑步骤和/或硫化步骤之前的生轮胎。
通常，轮胎具有在操作过程中绕其旋转轴线的基本环面结构，并且具有垂直于旋转轴线的轴向中心线平面，所述平面通常是(基本)几何对称的平面(例如，忽略可能存在的微小不对称性，例如胎面和/或内部构造的设计)。
轮胎的外表面和内表面分别是指将轮胎与其安装轮辋联接之后保持可见的表面和在所述联接之后不再可见的表面。
术语“光学”、“光”等等指的是至少一部分光谱落入光波段的扩大范围内、但不必严格落入光波段内(即，400-700nm)的电磁辐射；例如，这种光波段的扩大范围可以从紫外线延伸到红外线(例如，介于约100nm到约1μm之间的波长)。
在本申请中，采用光辐射的射线模型，即，假设入射在表面的一点上并且由非点源生成的光辐射(在该情况下将仅有一条射线)对应于入射在该点上并且具有连接该源的每个点与表面的所述点的直线传播方向的一组光射线，其中这些射线中的每条具有与其相关联的入射在该点上的总体光功率的一部分。
入射在表面的一点处的“定向光辐射”指的是这样的光辐射：对于该光辐射，存在以所述点为顶点并且振幅小于或等于π/8球面度的立体角，总体光功率的至少75％、优选至少90％、更优选全部光功率在所述立体角内。
“漫射光辐射”指的是非定向光辐射。
入射在表面的一点处的“掠射光辐射”指的是这样的光辐射：在表面的所述点上的同一入射的总体光功率的至少75％和在所述每个点处与表面相切的平面形成小于或等于60度的入射角。
“图像”或同义词“数字图像”一般指通常包含在计算机文件中的数据集合，其中空间坐标(每个空间坐标对应于一个像素)的完整集合(finished set)(通常两个维度和矩阵，即N行×M列)的每个坐标(通常为两维的)与对应的数值集合(其可以代表不同类型的大小)相关联。例如，在单色图像(例如“灰度级”图像)中，这种数值集合与完整级(通常具有256个等级或色调)内的单个值一致，当显示时，这种数值例如代表对应空间坐标的亮度(或强度)等级，而在彩色图像中，所述数值集合代表多种颜色或通道的亮度等级，典型为原色(例如，在代码RGB中为红色、绿色和蓝色，而在代码CMYK中为青色、品红色、黄色和黑色)的亮度等级。术语“图像”并不一定意味着该图像的实际显示。
在本说明书和权利要求中，对特定“数字图像”(例如，在轮胎上最初获取的二维数字图像)的每次引用更普遍地包括通过所述特定数字图像的一种或多种数字处理(例如，滤波、均衡、阈值化、形态转换-开孔等、梯度计算、平滑等等)获得的任意一种数字图像。
“线性表面部分”指的是这样的表面部分：其尺寸远大于与其垂直的其他尺寸，通常大至少两个数量级。线性表面部分的较小尺寸通常小于或等于0.1mm。
“线性图像”指的是这样的数字图像：其像素的列数远大于行数，通常大至少两个数量级。通常，行数在1到4之间，列数大于1000。术语“行”和“列”按通常意义使用并且是可互换的。
在用于车轮的轮胎的生产和建造工艺领域，需要对生产的产品进行质量检查，其目的在于避免缺陷轮胎或者在任何情况下避免那些不符合设计规范的轮胎投放到市场上，和/或逐步调整所采用的设备和机器，以便改进和优化对生产过程中进行的操作的实施。
这种质量检查例如包括由人工操作员执行的检查，操作员在轮胎的视觉和触觉检查上花费预设时间；如果基于操作员的自身经验和敏感性，他/她怀疑轮胎不符合某些质量标准，则轮胎本身通过更详细的人工检查和/或通过合适设备进行进一步的检查，以便提供可能的结构和/或定性缺陷的深度评估。
US 2010/0002244 A1描述了一种用于检查轮胎表面的技术，该技术能够肯定地区分开包含在轮胎表面中的不同质量的小橡胶件。第一照射单元包括一对第一光投射器，其从相对两侧分别朝物镜线(objective line)投射光。第二照射单元包括一对第二光投射器，其沿不同于第一照射单元的方向并且从相对两侧分别朝物镜线投射光。第一和第二照射单元交替地照射。与第一和第二照射单元的相应照射操作同步地，线性相机形成对应于物镜线的轮胎的表面部分的图像。
US 2004/0212795 A1描述了一种用于测量物体的边界和/或变形的方法。为了改善图像的质量，利用相机和/或辐射源的第一构造产生第一图像，其适于图像的第一区域。此外，利用相机和/或辐射源的第二构造产生第二图像，其适于图像的第二区域。然后将两个图像组合。
US 6680471 B2描述了一种设备，其能够通过LED和CCD均匀地照射轮胎的弯曲内表面。
US 2012/0134656 A1描述了一种照射装置和一种用于轮胎的检查装置，其能够容易地检查所生产的轮胎中的形状异常。
在轮胎检查领域，申请人确立了以下问题：通过光学获取轮胎的数字图像以及后续处理来分析轮胎的内表面和/或外表面，例如以便检查可能存在的表面上可见的缺陷。所探求的缺陷例如可以是轮胎表面上的不规则性(非硫化复合物、形状变化等等)、结构不均一性、切口、表面上存在外来物等等。
申请人观察到，为了在用于生产轮胎的装备内“在线”地采取检查，需要在有限的时间内并且在降低的成本下实施检查本身。
申请人还观察到，在“三维”图像中(即，图像的每个像素与表面高度信息相关联，例如，利用激光三角测量获得的图像)，一些二维缺陷(即，该缺陷不包括表面高度变化，例如，匹配边缘的切口)难以通过图像处理被检测，或者不能够全部被检测。
此外，三维图像的尺寸分辨率、尤其是高度方向上的尺寸分辨率有时对于检测不是很明显的缺陷而言不足够高。
因此，申请人认识到，检测并分析“二维”图像(除了3D图像之外，或者代替3D图像)是有利的。
出于本说明书和权利要求的目的，术语“二维图像”表示数字图像，该数字图像的每个像素与代表表面的反射率/漫射率和/或颜色的信息相关联，例如由通用数字相机检测到的图像。
申请人意识到，US 2010/0002244 A1中描述的通过光学获取二维图像检查轮胎的方法(在该方法中，同时从相对两侧照射物镜线)不允许有效地区分三维元素(即，表面上的凸起和/或凹陷)和二维元素(例如，因反射率/散射率变化导致的色斑和/或亮点)。实际上，所获得的二维图像是利用漫射光获取的图像集合。
申请人还意识到，US 2004/0212795 A1中描述的通过光学获取二维图像的检查方法(在该方法中，从左侧利用照射获取的图像和从右侧利用照射获取的图像被组合在一起形成分别相对于过曝光区域和欠曝光区域而言完整的优化图像)不适用于有效地区分三维元素和二维元素。实际上，通过选择具有最高质量的独立贡献或者通过计算质量值的加权平均而一个像素一个像素地进行图像的组合。
因此，申请人确立了以下问题：实现用于基于光学获取二维图像检查轮胎的方法和设备(尤其是用于检查轮胎表面上的缺陷)，其适用于在线地插入到生产装备的轮胎生产线内，即，具有减少的操作时间和成本，获得的结果可靠，并且在区分表面上的凸起和/或凹陷和二维表面元素或斑方面具有较高的敏感度。
申请人认识到，比较通过掠射照射获得的二维图像可以带来区分表面凸起和/或凹陷(即，三维元素)和斑或其他二维元素的所需解决方案，即，获得经受检查的轮胎表面的定性测高轮廓(altimetric profile)。
更准确地，申请人最终发现，通过比较通过从一个方向掠射照射获得的图像和通过从与第一个方向基本相反的方向掠射照射获得的图像，同时使用二维图像(而非3D图像)，可以有效地检测相对于表面的凸起或凹陷结构的可能存在。
发明内容
更准确地，根据一个方面，本发明涉及一种用于检查轮胎生产线中的轮胎的方法。
优选地设置，提供待检测的轮胎。
优选地设置，用第一掠射光辐射照射所述轮胎的表面部分，并且获取通过所述第一光辐射照射的所述表面部分的第一图像，所述第一图像是二维的；
优选地设置，在与用第一辐射照射表面部分的时刻不同的时刻，用第二掠射光辐射照射大体所述表面部分，并且获取通过所述第二光辐射照射的大体所述表面部分的第二图像，所述第二图像是二维的。
表述“大体所述表面部分”或下文中的“大体同一表面部分”意味着第一和第二图像示出了两个相应的表面部分，这两个表面部分可能在空间上彼此分离，但是具有可比性，即，第一和第二图像基本在同一位置示出了相同元素。例如，这两个图像可以在表面本身的平面上分开小于0.2mm、优选地小于或等于0.1mm的距离。有利地，所述距离小于或等于与像素相关的表面的线性尺寸(后者例如等于0.1mm)。换言之，第一图像的每个像素示出的微表面部分与第二图像的对应于所述第一图像的所述每个像素的像素示出的微表面部分的距离小于0.2mm。
优选地，对于所述表面部分的每个点，入射在该点处的所述第一和第二光辐射的相应总体光功率的至少75％分别来自相对于光学平面相对的两个半空间，所述光学平面经过所述每个点处的轮胎表面的垂线。
优选地设置，处理所述第一和第二图像，其中，对所述第一和第二图像进行相互比较，以便获得所述表面部分的测高轮廓的信息。
根据第二方面，本发明涉及一种用于检查轮胎生产线中的轮胎的设备。
优选地，包括用于轮胎的支撑件。
优选地，包括第一光源和第二光源，其适于分别发射第一和第二光辐射，用于照射所述轮胎的大体同一表面部分；还包括检测系统，其适于获取分别由所述第一和第二光辐射照射的大体所述表面部分的第一和第二图像，所述第一和第二图像是二维图像。
优选地，包括命令与控制单元，其构造成：
-交替地激活所述第一光源和所述第二光源，和
-激活所述检测系统，以便分别与第一和第二光源的激活同步地获取所述第一和第二图像。
优选地，包括处理单元，其构造成用于以下功能：
-从检测系统接收所述第一和第二图像；
-处理所述第一和第二图像，其中，对所述第一和第二图像进行相互比较，以便获得所述表面部分的测高轮廓的信息。
优选地，所述第一光辐射是掠射的。
优选地，所述第二光辐射是掠射的。
优选地，对于所述表面部分的每个点，入射在该点处的所述第一和第二光辐射的相应的总体光功率的至少75％分别来自相对于光学平面相对的两个半空间，所述光学平面经过所述每个点处的轮胎表面的垂线。
申请人认为，出于在生产线中检查轮胎期间通过获取并处理二维数字光学图像对表面进行分析特别是以便检测所述表面的定性测高轮廓的目的，已证实从相对两侧用掠射光交替照射表面并且比较由此获得的数字图像是特别有利的，这是因为由此可以例如区分二维斑/标记和/或检测即使很小(例如，高度小于0.1mm)的三维元素和/或高亮三维元素。
申请人认为，本方法和设备可以允许区分表面上的凸起或凹陷结构和诸如色斑和/或漫射/反射点的二维表面元素(缺少高度变化)。以这种方式，可以例如通过从包括高度变化的表面缺陷的搜索中移除二维表面元素(例如，简单的斑)而限制图像(即使是用漫射光获得的图像)的处理，或者可以准确地识别三维元素，例如因在硫化模具中使用的可膨胀囊而在轮胎的内表面上以凸起留下的点蚀和/或刻线，以便对其数字处理。
申请人认为，本方法和设备可以利用沿三维元素的高度的甚至高于用三维图像可获得的分辨率检测三维元素。
更准确地，申请人观察到，根据US 2004/0212795 A1描述的方法，利用从左侧和从右侧的照射获取的图像没有组合在一起，以便优化整个表面部分上的曝光。最后，申请人观察到，根据US 2004/0212795 A1描述的方法，通过选择具有最高质量的独立贡献或通过计算质量数值的加权平均值而没有一个像素一个像素地进行图像的组合；相反，对两个图像进行相互比较，即，分析的重点放在两个图像之间的差异上，而不是放在评估与每个像素相关的质量上。
在前述方面中的至少一个方面中，本发明还可以具有下文描述的优选特征中的一个或多个。
优选地，在获取属于第一和第二图像的每对对应像素的两个像素中的时滞小于0.5毫秒，更优选地，小于或等于0.2毫秒。以这种方式，有利地，可以在小于10秒、例如在5秒内获取轮胎的整个表面圆形延伸。
优选地，第一和第二图像之间的所述比较包括计算所述第一和第二图像之间的差异。
更优选地，第一和第二图像之间的所述比较包括计算差分图像，在该差分图像中，每个像素与一数值相关联，该数值代表与所述第一和第二图像中的对应像素相关联的数值之间的差。以这种方式，利用简单的数学计算，指示第一和第二掠射辐射处每个像素的反射/漫射差异。
优选地设置，在对第一和第二图像进行相互比较之前，使所述第一和第二图像相对于彼此均衡化。以这种方式，使比较结果更为准确地指示定性测高轮廓。
优选地，所述第一和第二图像的所述处理包括检测表面部分上可能存在的缺陷。
优选地，对于所述表面部分的每个点，入射在该点处的所述第一和第二光辐射的相应的总体光功率的至少90％分别来自所述两个相对的半空间。
更优选地，对于所述表面部分的每个点，入射在该点处的所述第一和第二光辐射的相应的全部总体光功率分别来自所述两个相对的半空间。以这种方式，突出两个照射之间的对比。
优选地，入射在所述表面部分的每个点处的所述第一和第二光辐射的相应的总体光功率的至少75％、更优选至少90％和在所述每个点处与所述轮胎的表面相切的平面形成第一入射角，所述第一入射角的幅度小于或等于55度，更优选地小于或等于50度。以这种方式，突出光的掠射效果。
优选地，入射在所述表面部分的每个点处的所述第一和第二光辐射的相应的总体光功率的至少75％、更优选至少90％和在所述每个点处与所述轮胎的表面相切的平面形成第一入射角，所述第一入射角的幅度大于或等于10度，更优选地大于或等于20度，又更优选地大于或等于30度。以这种方式，即使利用紧邻轮胎表面放置的光源也允许照射。
优选地，入射在所述表面部分的每个点处的所述第一和第二光辐射的相应的总体光功率的至少75％、更优选至少90％和在所述每个点处垂直于所述光学平面并且经过所述每个点处的表面的垂线的参考平面形成第二入射角，所述第二入射角的绝对值小于或等于45度，更优选地小于或等于30度。以这种方式，突出第一和第二辐射之间的照射差异。
优选地设置，在与用第一和第二辐射照射表面部分时的时刻不同的时刻，用不同于第一和第二辐射的第三光辐射照射所述表面部分，并且获取由所述第三光辐射照射的所述表面部分的第三图像，所述第三图像是二维的。
优选地，包括第三光源，其适于发射第三光辐射用于照射所述表面部分，其中，所述检测系统适于获取所述第三图像，并且所述命令与控制单元构造成在与用第一和第二辐射照射表面部分时的时刻不同的时刻激活所述第三光源并且驱动所述检测系统以便与第三光源的激活同步地获取所述第三图像。
优选地，第三光辐射是漫射的。
优选地设置，处理所述第三图像，以便检测表面部分上可能存在的缺陷，所述处理利用通过第一和第二图像之间的前述比较获得的信息。
因此，用漫射光获得的第三图像的处理使用了通过比较掠射光下的两个图像获得的信息。例如，以这种方式，可以从第三图像中的可能缺陷中摈弃二维斑。另一方面，不在掠射光下的图像而是在用漫射光获取的第三图像上进行缺陷搜索，漫射光更适用于表面部分的完整再现。
优选地，所述第一和第二数字图像由彼此邻接或部分叠置的连续的线性表面部分的相应的多个第一和第二线性图像组成，所述第一和第二线性图像在以交替的顺序分别由所述第一和第二光辐射照射的所述连续的线性表面部分的每个线性表面部分上被获取。
优选地，所述第三数字图像由所述连续的线性表面部分的多个第三线性图像组成，所述第三线性图像在以与所述相应的第一和第二线性图像的所述获取交替的顺序由所述第三光辐射照射的所述连续的线性表面部分的每个线性表面部分上被获取。
以这种方式，可以通过线性相机获取沿轮胎的整个圆形延伸的相应图像。
优选地，检测系统包括具有物镜线的线性相机。
优选地，所述线性表面部分布置成在时间上连续地靠近所述物镜线。
优选地，所述连续的线性表面部分通过使轮胎绕其轴线旋转而获得。
优选地，设备包括运动构件，其适于使所述支撑件并因此使轮胎绕其旋转轴线旋转，命令与控制单元构造成用于驱动所述运动构件。
以这种方式，在线性相机的物镜线处存在连续的线性表面部分，所述线性相机可以保持固定。
优选地，设备包括用于检测所述支撑件的角位置的角位置检测系统(例如，编码器)，命令与控制单元构造成根据所述角位置检测系统发送的支撑件的角位置信号激活所述第一光源、第二光源和第三光源并驱动所述检测系统。以这种方式，独立于轮胎的旋转速度，正确地获取连续的线性表面部分。
附图说明
从根据本发明的用于检查轮胎生产线中的轮胎的方法和设备的若干示例性但非排他的实施例的详细描述中，进一步的特征和优点将变得更加清楚。下面将参照一组附图阐述所述描述，所述附图仅作为非限制性示例提供，其中：
图1示出了根据本发明的第一实施例的用于检查轮胎的设备的部分和示意性透视图，部分以横截面示出并且部分按功能块示出；
图2示出了图1的细节的部分和示意性透视图；
图2a示出了图2的放大细节；
图3示出了根据本发明的第二实施例的用于检查轮胎的设备的部分和示意性透视图；
图4a和图4b示意性地示出了分别用右掠射光和左掠射光照射的轮胎表面部分的图像；
图4c示意性地示出了通过比较图像4a和4b获得的图像。
具体实施方式
参照附图，附图标记1总体指示根据本发明的用于检查轮胎生产线中的轮胎的设备。总体上，对于类似元件的可能变型例将使用相同的附图标记。
设备1包括支撑件102，其适于在一个侧壁上支撑轮胎200并且使所述轮胎绕其旋转轴线201旋转，所述支撑件典型地根据竖直方向布置。支撑件102典型地由运动构件致动，所述运动构件没有进一步描述和示出，这是因为所述运动构件例如可以是已知类型的。用于轮胎的支撑件可以构造成用于阻挡所述轮胎，例如相应抵接胎圈。
优选地，该设备包括检测系统104，所述检测系统包括线性相机105，该线性相机具有位于光学平面107上的物镜线106，所述光学平面经过线性相机。本发明还构思该线性相机是矩阵相机(“区域相机”)的替代情形。在该情形下，被照射并获取的表面部分也是矩阵。
如图1和图2、2a所示，该设备包括第一光源108、第二光源109和第三光源110，其适于分别发射第一、第二、第三光辐射，用于照射所述轮胎的与物镜线重合(例如，当表面部分是平面时)或接近物镜线(由于轮胎表面的曲线延展)的线性表面部分202。
检测系统适于获取通过第一、第二和第三光辐射中的至少一个光辐射照射的线性表面部分的相应二维数字图像。
典型地，该设备包括机器人臂(未示出)，所述第一光源、第二光源和第三光源以及检测系统安装在所述机器人臂上。
优选地，第一光源108和第二光源109均由单个相应子源111和112构成。
优选地，第三光源110由四个相应子源113构成，所述四个相应子源分布在光学平面107的两侧并且相对于所述平面对称。
每个子源111-113具有相应的主延伸方向(作为示例，在图2a中用虚线114指示)，该主延伸方向平行于光学平面107并因此平行于物镜线106延伸。
每个子源典型地包括沿主延伸方向对准布置的多个LED源。
在附图中，子光源参照其各自的发射表面(在图中，用长方形举例)示意性地示出，所述发射表面例如可以与透明保护玻璃和/或漫射器相重合。
作为示例，对于图2所示的实施例，子源沿主延伸方向114的尺寸等于10cm，对于图3所示的实施例，子源沿主延伸方向的尺寸等于6cm，并且子源沿与主延伸方向垂直的方向的尺寸等于约1cm。
优选地，子源111和112分别位于相对于光学平面的两侧，并且与所述光学平面等距。
优选地，第三光源的子源113与光学平面107的距离小于所述第一光源和第二光源的每个子源与光学平面的距离。
优选地，第一光源、第二光源和第三光源的子源布置成使得对于其整个延伸而言，其被叠置在与物镜线垂直的视野中。作为示例，相对于主延伸方向的所有第一端部和第二端部位于垂直于物镜线的相应平面上。
在一个实施例中，如图1和图2、2a中示例所示，第一光源、第二光源和第三光源的子源沿垂直于物镜线的参考平面116上的线(在图2中由附图标记115指示)布置，线115成形成中心在物镜线上的圆的弧(即，子源与物镜线等距)。
在替代实施例中，如图3所示，子源沿参考平面116上的角线(在图3中由附图标记116指示)布置，该角线的顶点在光学平面107上。
作为示例，对于物镜线的每个点P(在图2和2a中在一个端部处作为示例指示)，顶点在点P处、位于垂直于物镜线的平面中并且对着每个子源的相应的角度120(在图2a中，参照子源113示出)等于6度。
作为示例，取垂直于光学平面并且经过物镜线106的焦平面，焦平面与经过物镜线以及第一光源108和第二光源109(子源111和112)各自的所有点的平面之间形成的所有角度中相应的最大角度122和123等于48度。
作为示例，焦平面与经过物镜线以及第一光源和第二光源各自的所有点的平面之间形成的所有角度中相应的最小角度124和125等于42度。
优选地，第三光源110适于用漫射光照射物镜线。
作为示例，顶点在物镜线的每个点P处、位于垂直于物镜线的平面中并且对着第三光源的相应的角度126等于约80度。以这种方式，获得漫射光的宽立体角。
作为示例，顶点在物镜线的每个点P处、位于前述垂直于物镜线的平面中并且对着第一光源、第二光源和第三光源的集合的相应的角度等于96度。
如图3所示的示例，在尤其适用于检测轮胎的内表面的设备的一个实施例中，检测系统包括具有平坦反射表面的反射镜150(也典型地安装在机器人臂上)，所述反射表面布置在第三光源处，垂直于光学平面并且与光学平面相交(典型地在反射镜的中线上相交)以便以例如等于90度的角度在光学平面中反射物镜线。
优选地，包括命令与控制单元140，其构造成：
-选择性地激活所述第一光源、第二光源和第三光源中的一个或多个；
-激活线性相机，以便与所述第一光源、第二光源和第三光源中的一个或多个的激活同步地获取线性表面部分的相应二维数字图像(彩色或单色)。
命令与控制单元典型地构造成还用于驱动支撑件102的运动构件。这样，在线性相机的物镜线处存在连续的线性表面部分，线性相机可以保持固定。
优选地，设备包括用于检测支撑件的角位置的编码器(未示出)，命令与控制单元构造成用于根据编码器发送的支撑件的角位置信号激活所述第一光源、第二光源和优选第三光源并且驱动检测系统。
优选地，命令与控制单元140构造成：
-以交替的顺序激活所述第一光源、第二光源和第三光源；
-驱动线性相机，以便分别与第一光源、第二光源和第三光源的激活同步地获取相应的第一、第二和第三图像。这样，可以既在漫射光下获得一个图像又在掠射光下获取两个图像。
优选地，包括处理单元(例如，集成在命令与控制单元140中)，其构造成用于以下功能：
-接收从线性相机获取的图像；
-处理图像以便检查表面部分。
优选地，处理单元构造成用于计算第一和第二图像之间的差异，以便获得有关线性表面部分的测高轮廓的信息(例如，凸起和/或凹陷的可能存在或缺少)。
优选地，计算第一和第二图像之间的差异包括计算差分图像，在差分图像中，每个像素与一数值相关联，所述数值代表与第一和第二图像中的对应像素相关联的数值之间的差。这样，可以使用从第一和第二图像之间的差异获得的图像来指示三维元素(例如，在轮胎的内表面上的凸起中的点蚀或凸起中的痕迹)以及在处理漫射光下的图像时始终考虑这样的信息以便搜索缺陷。
下文描述了例如通过前述设备实施的用于检查轮胎生产线中的轮胎的表面的方法。
首先，布置待检查的轮胎200，例如使其抵靠支撑件102上方的侧壁。
命令与控制单元140驱动机器人臂，以便移动光源靠近轮胎的(外或内)表面，使得线性表面部分与物镜线至少部分地重合或者靠近物镜线。
然后，命令与控制单元驱动支撑件102的运动构件，以便旋转轮胎。
根据由编码器接收的角位置信号，在轮胎旋转途中，命令与控制单元以快速的交替顺序周期地激活所述第一光源、第二光源和第三光源，并激活线性相机，以便分别与第一光源、第二光源和第三光源的激活同步地获取相应线性表面部分的相应二维数字图像(彩色或单色)。作为示例，在单色相机的情况下，线性表面部分的每个单个数字图像包括1×2048个像素，在双线性或RGB彩色相机的情况下，线性表面部分的每个单个数字图像包括2×2048个像素。作为示例，第一和第二线性图像的获取之间的时滞、第二和第三线性图像的获取之间的时滞、以及周期地第一和第三线性图像的获取之间的时滞小于0.2毫秒。
在执行完用于探测所期望的表面部分的轮胎的所期望的旋转(优选地至少一圈完整旋转以便获取整个圆形延伸)之后，获得单个数字图像，该单个数字图像用连续的线性表面部分的所有数字图像(均由相应光源照射)获得。处理单元从检测系统接收这样的图像，并且分开整个所期望的表面部分的对应的第一、第二和第三图像。
这些图像基本是一个像素一个像素地叠置的，即使由于同时进行的轮胎旋转，与单个线性图像相关联的实际线性表面部分对于三个图像而言没有准确地重合。然而，图像的获取频率和旋转速度被选择成使得三个图像彼此交错并因此可以一个像素一个像素地比较。有利地，第一(或第二或第三)图像的每个像素示出了微表面部分，该微表面部分被与对应于所述每个像素的第二(或相应地第三或第一)图像的像素示出的微表面部分分开，除了与像素相关联的线性表面尺寸之外，作为示例，空间间隙等于像素的约三分之一。这样，三个图像彼此交错，并且在一时间间隔内发生三个线性图像的获取，在所述时间间隔内，轮胎已经旋转了等于一个像素(作为示例，等于0.1mm)的区段。
如所述的，对于每个线性表面部分的每个点并因此对于所探测的表面部分的每个点，入射在该点处的第一和第二光辐射的相应总体光功率的至少75％或者作为示例全部总体光功率相应地来自相对于光学平面107相对的两个半空间。
此外，对于每个线性表面部分的每个点，入射在该点上的第一和第二光辐射的相应总体光功率的至少75％或者作为示例全部总体光功率和在该点处与表面相切的平面(即，焦平面121)形成等于约48度的最大入射角度122和123(掠射光)。
优选地，入射在表面部分(或物镜线)的每个点上的第一、第二和第三光辐射的相应总体光功率的全部和垂直于光学平面并经过该点处的表面的垂线的参考平面116形成绝对值小于或等于45度的入射角度。例如，顶点在物镜线的任何点(在图2a中由P’作为示例指示)处、位于经过物镜线和经过第一光源和第二光源或第三光源的任一平面中、并且分别对着第一光源、第二光源或第三光源的角度127等于60度。这样，有利地，每个子源发射入射在物镜线上的定向光辐射。
优选地，处理单元处理第一和第二图像，将它们相互比较以便获得有关表面部分的测高轮廓的信息。优选地，第一和第二图像之间的比较包括计算差分图像，在该差分图像中，每个像素与一数值相关联，所述数值代表与第一和第二图像中的对应像素相关联的数值之间的差。
优选地，在将第一和第二图像相互比较之前设置，使第一和第二图像相对于彼此均衡化，例如，通过整体或局部地均衡化第一和第二图像的平均亮度。
优选地，处理单元使用从第一和第二图像之间的前述比较获得的信息，处理漫射光下的第三图像，以便检查表面部分上可能存在的缺陷。
图4a和4b示意性地示出了轮胎200的表面部分的第一和第二图像各自的实施例，所述表面部分包括凸起元素203和没有凸起的元素或二维元素204(例如脱模剂斑)。
在图4a中，其中图像由从该图右侧的掠射光获得，该图像包括通过元素203朝左侧投影的阴影区域205；在图4b中，其中图像由从附图左侧的掠射光获得，该图像包括通过同一元素203朝右侧投影的阴影区域206。应观察到，元素204在两个图像中基本以相同的方式获取，这是因为其同等地遇到右侧和左侧掠射照射。
图4c示意性地示出了差分图像，其通过将每个像素与图4a和图4b的两个图像的数值之间的差(绝对值)相关联而获得。如可以看出的那样，在二维斑204处，差分图像没有任何亮度变化，而在凸起元素203处(在图4c中用阴影标记)存在明显的亮度变化，从而标记凸起元素203本身的存在。

Claims (20)

1.一种用于检查轮胎生产线中的轮胎的方法，所述方法包括：
-提供待检查的轮胎(200)；
-用第一掠射光辐射照射所述轮胎的表面部分，并且获取由所述第一掠射光辐射照射的所述表面部分的第一图像，所述第一图像是二维的；
-在与用第一掠射光辐射照射所述表面部分时的时刻不同的时刻，用第二掠射光辐射照射大体所述表面部分，并且获取通过所述第二掠射光辐射照射的大体所述表面部分的第二图像，所述第二图像是二维的；
其中，对于所述表面部分的每个点(P，P’)，在该点处入射的所述第一掠射光辐射和第二掠射光辐射的相应的总体光功率的至少75％分别来自相对于光学平面(107)相对的两个半空间，所述光学平面经过所述每个点处的轮胎的表面的垂线；
-处理所述第一图像和第二图像，其中，将所述第一图像和第二图像相互比较，以便获得有关所述表面部分的测高轮廓的信息。
2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述第一图像和第二图像之间的所述比较包括计算所述第一图像和第二图像之间的差异。
3.根据权利要求1或2所述的方法，其中，所述第一图像和第二图像之间的所述比较包括计算差分图像，在所述差分图像中，每个像素与一数值相关联，该数值代表与所述第一图像和第二图像中的相应像素相关联的数值之间的差。
4.根据前述权利要求中的任一项所述的方法，其中，所述第一图像和第二图像的所述处理包括检测表面部分上可能存在的缺陷。
5.根据前述权利要求中的任一项所述的方法，其中，对于所述表面部分的每个点，在该点处入射的所述第一掠射光辐射和第二掠射光辐射的相应的总体光功率的至少90％分别来自所述相对的两个半空间。
6.根据前述权利要求中的任一项所述的方法，其中，在所述表面部分的每个点上入射的所述第一掠射光辐射和第二掠射光辐射的相应的总体光功率的至少75％和在所述每个点处与所述轮胎的表面相切的平面形成第一入射角度，所述第一入射角度的幅度小于或等于55度。
7.根据前述权利要求中的任一项所述的方法，其中，在所述表面部分的每个点上入射的所述第一掠射光辐射和第二掠射光辐射的相应的总体光功率的至少75％和在所述每个点处与所述轮胎的表面相切的平面形成第一入射角度，所述第一入射角度的幅度大于或等于10度。
8.根据前述权利要求中的任一项所述的方法，其中，在所述表面部分的每个点上入射的所述第一掠射光辐射和第二掠射光辐射的相应的总体光功率的至少75％和在所述每个点处垂直于所述光学平面(107)并经过所述每个点处的表面的垂线的参考平面(116)形成第二入射角度，所述第二入射角度的幅度的绝对值小于或等于45度。
9.根据前述权利要求中的任一项所述的方法，包括：在与用第一掠射光辐射和第二掠射光辐射照射表面部分时的时刻不同的时刻，用不同于第一掠射光辐射和第二掠射光辐射的第三光辐射照射所述表面部分，并且获取由所述第三光辐射照射的所述表面部分的第三图像，所述第三图像是二维的并且所述第三光辐射是漫射的。
10.根据权利要求9所述的方法，还包括：处理所述第三图像以便检测表面部分上可能存在的缺陷，所述第三图像的处理利用通过前述第一图像和第二图像之间的比较获取的信息。
11.根据前述权利要求中的任一项所述的方法，其中，所述第一和第二数字图像由彼此邻接或部分叠置的连续的线性表面部分的相应的多个第一和第二线性图像组成，所述第一和第二线性图像以交替的顺序在分别由所述第一掠射光辐射和第二掠射光辐射照射的所述连续的线性表面部分中的每个线性表面部分上被获取。
12.根据权利要求11所述的方法，其中，所述第三数字图像由所述连续的线性表面部分的多个第三线性图像组成，所述第三线性图像以与所述相应的第一和第二线性图像的所述获取交替的顺序在由所述第三光辐射照射的所述连续的线性表面部分中的每个线性表面部分上被获取。
13.根据权利要求11或12所述的方法，其中，所述连续的线性表面部分通过使轮胎绕其轴线旋转而获得。
14.根据前述权利要求中的一项或多项所述的方法，其中，在将所述第一图像和第二图像相互比较之前，使所述第一图像和第二图像相对于彼此均衡化。
15.根据前述权利要求中的一项或多项所述的方法，其中，属于所述第一图像和第二图像的每对对应像素的两个像素的获取的时滞小于0.5毫秒。
16.一种用于检查轮胎生产线中的轮胎的设备(1)，所述设备包括：
-用于轮胎(200)的支撑件(102)；
-第一光源(108)和第二光源(109)以及检测系统(105)，所述第一光源和第二光源适于分别发射第一光辐射和第二光辐射用于照射所述轮胎的大体同一表面部分，所述检测系统适于获取分别由所述第一光辐射和第二光辐射照射的大体所述表面部分的第一图像和第二图像，所述第一和第二图像是二维图像；
-命令与控制单元(140)，所述命令与控制单元构造成：
-选择性地激活所述第一光源和所述第二光源，和
-激活所述检测系统，以便分别与第一和第二光源的激活同步地获取所述第一图像和第二图像；
-处理单元，所述处理单元构造成用于以下功能：
-从所述检测系统接收所述第一数字图像和第二数字图像；
-处理所述第一图像和第二图像，其中，将所述第一图像和第二图像相互比较，以便获得有关所述表面部分的测高轮廓的信息，
其中，所述第一光辐射和所述第二光辐射是掠射光辐射；以及
其中，对于所述表面部分的每个点，在该点处入射的所述第一光辐射和第二光辐射的相应的总体光功率的至少75％分别来自相对于光学平面(107)相对的两个半空间，所述光学平面经过所述每个点处的轮胎的表面的垂线。
17.根据权利要求16所述的设备，包括第三光源(110)，所述第三光源适于发射第三光辐射用于照射所述表面部分，其中，所述检测系统适于获取所述第三图像，并且其中，所述命令与控制单元构造成在与用第一光辐射和第二光辐射照射所述表面部分时的时刻不同的时刻激活所述第三光源，并且驱动所述检测系统，以便与所述第三光源的激活同步地获取所述第三图像。
18.根据权利要求16或17所述的设备，其中，所述检测系统包括具有物镜线的线性相机。
19.根据权利要求15至18中的一项或多项所述的设备，其中，所述设备包括用于检测所述支撑件的角位置的角位置检测系统，所述命令与控制单元构造成用于根据由所述角位置检测系统发送的支撑件的角位置的信号激活所述第一光源、第二光源和第三光源并且驱动所述检测系统。
20.根据权利要求15至19中的一项或多项所述的设备，包括运动构件，所述运动构件适于使所述支撑件(102)并因此使所述轮胎(200)绕其旋转轴线旋转，所述命令与控制单元(140)构造成用于驱动所述运动构件。
CN201580070170.XA 2014-12-22 2015-12-14 用于检查生产线中的轮胎的方法和设备 Active CN107278261B (zh)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
ITMI2014A002215 2014-12-22
ITMI20142215 2014-12-22
PCT/IB2015/059575 WO2016103103A1 (en) 2014-12-22 2015-12-14 Method and apparatus for checking tyres in a production line

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN107278261A true CN107278261A (zh) 2017-10-20
CN107278261B CN107278261B (zh) 2020-08-28

Family

ID=52597076

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201580070170.XA Active CN107278261B (zh) 2014-12-22 2015-12-14 用于检查生产线中的轮胎的方法和设备

Country Status (9)

Country Link
US (1) US10697857B2 (zh)
EP (1) EP3237837B1 (zh)
JP (1) JP6691541B2 (zh)
KR (1) KR102596252B1 (zh)
CN (1) CN107278261B (zh)
BR (1) BR112017013327B1 (zh)
MX (1) MX2017007772A (zh)
RU (1) RU2696343C2 (zh)
WO (1) WO2016103103A1 (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111492221A (zh) * 2017-12-20 2020-08-04 倍耐力轮胎股份公司 用于在用于构造用于车辆车轮的轮胎的处理和装备中检查轮胎的方法和设备

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10697762B2 (en) 2014-12-22 2020-06-30 Pirelli Tyre S.P.A. Apparatus for controlling tyres in a production line
KR102595037B1 (ko) * 2015-12-16 2023-10-27 피렐리 타이어 소시에떼 퍼 아찌오니 타이어를 검사하는 장치 및 방법
EP3869176A1 (de) * 2020-02-21 2021-08-25 Continental Reifen Deutschland GmbH Verfahren zum prüfen von reifen
WO2022085821A1 (ko) 2020-10-22 2022-04-28 (주)레이텍 테라헤르츠 투과 영상기술을 이용한 타이어 내부 결함 검사장치

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1030173A1 (en) * 1999-02-18 2000-08-23 Spectra-Physics VisionTech Oy Arrangement and method for inspection of surface quality
CN101896865A (zh) * 2007-12-19 2010-11-24 米其林技术公司 用于评价轮胎表面的设备
EP1742041B1 (de) * 2005-07-04 2013-10-23 Baumer Inspection GmbH Kostengünstige multi-sensorielle Oberflächeninspektion

Family Cites Families (83)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4606634A (en) 1984-07-27 1986-08-19 Owens-Illinois, Inc. System for detecting selective refractive defects in transparent articles
DE3565893D1 (en) * 1984-12-14 1988-12-01 Flachglas Ag Method and device for inspecting transparent strip material, in particular flat glass ribbons
US4634879A (en) 1985-03-21 1987-01-06 General Electric Company Method and system for determining surface profile information
FR2642164B1 (fr) 1989-01-26 1991-04-12 Saint Gobain Cinematique Contr Controle d'objets a forte cadence
JPH07237270A (ja) 1994-02-28 1995-09-12 Shimadzu Corp タイヤ判別装置
US7603894B2 (en) 2000-09-08 2009-10-20 Automotive Technologies International, Inc. Self-powered tire monitoring system
DE19534716C2 (de) * 1995-09-19 1999-06-17 Autronic Bildverarbeitung Einrichtung zum Erfassen von Fehlstellen auf einer glatten Oberfläche
US5703680A (en) 1996-01-16 1997-12-30 The Goodyear Tire & Rubber Company Method for dynamic interference pattern testing
US5802201A (en) * 1996-02-09 1998-09-01 The Trustees Of Columbia University In The City Of New York Robot system with vision apparatus and transparent grippers
JPH09277806A (ja) 1996-04-18 1997-10-28 Toyota Motor Corp タイヤ種別判別方法及び装置
US6075883A (en) * 1996-11-12 2000-06-13 Robotic Vision Systems, Inc. Method and system for imaging an object or pattern
US5987978A (en) 1997-04-02 1999-11-23 Assembly Technology & Test Ltd. Apparatus for testing tire tread depth
JP4514007B2 (ja) 1999-12-28 2010-07-28 株式会社ブリヂストン 被検体の外観形状検査方法及び装置
US6901160B2 (en) 2000-04-28 2005-05-31 Electro Scientific Industries Directional lighting and method to distinguish three dimensional information
JP4589555B2 (ja) 2001-03-23 2010-12-01 株式会社ブリヂストン 照明装置
JP4717285B2 (ja) * 2001-08-24 2011-07-06 キヤノン株式会社 走査光学装置及びそれを用いた画像形成装置
JP2003240521A (ja) * 2002-02-21 2003-08-27 Bridgestone Corp 被検体の外観・形状検査方法とその装置、及び、被検体の外観・形状検出装置
DE10319099B4 (de) 2003-04-28 2005-09-08 Steinbichler Optotechnik Gmbh Verfahren zur Interferenzmessung eines Objektes, insbesondere eines Reifens
ATE301828T1 (de) 2003-09-04 2005-08-15 Snap On Equip Srl Unico Socio Punktweises optisches abtasten der beschaffenheit eines luftreifens eines fahrzeugrades (an radauswuchtmaschine)
US7436504B2 (en) 2003-09-10 2008-10-14 Shear Graphics, Llc Non-destructive testing and imaging
US6934018B2 (en) 2003-09-10 2005-08-23 Shearographics, Llc Tire inspection apparatus and method
JP2005337957A (ja) 2004-05-28 2005-12-08 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板検査装置
DE102004050355A1 (de) 2004-10-15 2006-04-27 Steinbichler Optotechnik Gmbh Verfahren und Vorrichtung zum Prüfen der Oberfläche eines Reifens
JP4881584B2 (ja) * 2005-06-28 2012-02-22 株式会社ブリヂストン 凹凸図形検査のためのマスターデータの作成方法
US7495231B2 (en) * 2005-09-08 2009-02-24 Agilent Technologies, Inc. MALDI sample plate imaging workstation
US7177740B1 (en) * 2005-11-10 2007-02-13 Beijing University Of Aeronautics And Astronautics Method and apparatus for dynamic measuring three-dimensional parameters of tire with laser vision
DE102005058873A1 (de) * 2005-12-09 2007-06-14 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Vorrichtung und Verfahren zur Vermessung der Oberfläche eines Körpers
US7660509B2 (en) * 2006-05-24 2010-02-09 3M Innovative Properties Company Backlight asymmetric light input wedge
JP5481012B2 (ja) 2006-06-05 2014-04-23 吉郎 山田 表面検査装置
JP5019849B2 (ja) 2006-11-02 2012-09-05 株式会社ブリヂストン タイヤの表面検査方法および装置
JP2008153057A (ja) * 2006-12-18 2008-07-03 Citizen Electronics Co Ltd 光源ユニット、バックライトユニット及び表示装置
JP2008179131A (ja) * 2006-12-26 2008-08-07 Ricoh Co Ltd 画像処理方法及び画像処理装置
DE102007009040C5 (de) 2007-02-16 2013-05-08 Bernward Mähner Vorrichtung und Verfahren zum Prüfen eines Reifens, insbesondere mittels eines interferometrischen Messverfahrens
EP2023078B1 (en) * 2007-08-06 2017-06-14 Kabushiki Kaisha Kobe Seiko Sho Tire shape measuring system
JP5436431B2 (ja) * 2008-08-26 2014-03-05 株式会社ブリヂストン 被検体の凹凸検出方法とその装置
CN101672627B (zh) 2008-09-08 2014-03-19 株式会社神户制钢所 轮胎形状检测装置及轮胎形状检测方法
FR2938330A1 (fr) * 2008-11-07 2010-05-14 Michelin Soc Tech Evaluation du relief de la surface d'un pneumatique par stereovision active
ITMI20082132A1 (it) * 2008-12-02 2010-06-03 Wide Eye S R L Dispositivo riflettente ad ampio angolo di visuale, ridotta distorsione e anamorfosi e ridotto sdoppiamento delle immagini riflesse, particolarmente per veicoli.
ES2389916T3 (es) 2009-01-22 2012-11-05 Snap-On Equipment Srl A Unico Socio Sistema de diagnóstico de rueda
GB0903689D0 (en) 2009-03-03 2009-04-15 Sigmavision Ltd Vehicle tyre measurement
CL2009001393A1 (es) * 2009-06-10 2011-07-08 Marcelo Alberto Olivares Godoy 31 5% Metodo para inspeccionar neumaticos de grandes dimensiones, que permite detectar in situ la condicion de este, que comprende las etapas de; calibrar un equipo de ultrasonido; determinar el espesor remanente de caucho; ejecutar un barrido ultrasonido sobre el neumatico; y recibir ecos de respuesta para obtener su condicion interna.
JP5371848B2 (ja) 2009-12-07 2013-12-18 株式会社神戸製鋼所 タイヤ形状検査方法、及びタイヤ形状検査装置
JP5518571B2 (ja) 2010-05-24 2014-06-11 株式会社ブリヂストン タイヤの外観検査装置及び外観検査方法
WO2011153633A1 (en) * 2010-06-11 2011-12-15 Morgan Solar Inc. Monolithic photovoltaic solar concentrator
US8542881B2 (en) 2010-07-26 2013-09-24 Nascent Technology, Llc Computer vision aided automated tire inspection system for in-motion inspection of vehicle tires
EP2602585B1 (en) 2010-08-04 2017-01-04 Bridgestone Corporation Tire contour measurement data correction method and tire visual inspection device
CN103189713B (zh) * 2010-09-03 2016-02-17 株式会社普利司通 用于检测带状构件的形状的方法和设备及二维位移传感器
JP5670161B2 (ja) 2010-11-25 2015-02-18 東洋ゴム工業株式会社 タイヤの検査装置
US8824878B2 (en) 2010-11-25 2014-09-02 Toyo Tire & Rubber Co., Ltd. Illumination device and inspection device of tire
JP5562278B2 (ja) * 2011-03-15 2014-07-30 株式会社神戸製鋼所 タイヤ形状検査装置、及びタイヤ形状検査方法
JP5726045B2 (ja) * 2011-11-07 2015-05-27 株式会社神戸製鋼所 タイヤ形状検査方法、及びタイヤ形状検査装置
ITMI20112253A1 (it) * 2011-12-13 2013-06-14 Pirelli Metodo per controllare la deposizione di semilavorati elementari in un processo di confezione di pneumatici per ruote di veicoli
JP5882730B2 (ja) * 2011-12-28 2016-03-09 株式会社ブリヂストン 外観検査装置及び外観検査方法
JP2013242256A (ja) 2012-05-22 2013-12-05 Ricoh Elemex Corp 検査データ取得方法及び外観検査装置
US9835524B2 (en) * 2012-07-31 2017-12-05 Pirelli Tyre S.P.A. Method for segmenting the surface of a tyre and apparatus operating according to said method
JP6187789B2 (ja) * 2012-11-15 2017-08-30 アンドロイド インダストリーズ エルエルシー タイヤの均一性を決定するためのシステム及び方法
JP5969906B2 (ja) * 2012-11-29 2016-08-17 株式会社神戸製鋼所 計測方法及び計測装置
RU2642169C2 (ru) * 2012-12-21 2018-01-24 Пирелли Тайр С.П.А. Способ и устройство для контроля над шинами или соответствующими полуфабрикатами в производственной линии
DE102013207374A1 (de) * 2013-04-23 2014-10-23 Robert Bosch Gmbh Vorrichtung und Verfahren zum Erkennen von Beschriftungen auf Fahrzeugreifen
KR101500375B1 (ko) 2013-06-27 2015-03-10 현대자동차 주식회사 차체 도장 외관 검사장치
ITMI20131157A1 (it) 2013-07-10 2015-01-11 Pirelli Metodo e apparato per controllare pneumatici in una linea di produzione
US9091596B2 (en) * 2013-08-09 2015-07-28 Davis Instruments Corporation UV irradiance sensor with improved cosine response
GB201318824D0 (en) * 2013-10-24 2013-12-11 Wheelright Ltd Tyre condition analysis
JP5775132B2 (ja) * 2013-11-01 2015-09-09 株式会社ブリヂストン タイヤの検査装置
US9677897B2 (en) * 2013-11-13 2017-06-13 Elwha Llc Dead reckoning system for vehicles
GB201401352D0 (en) * 2014-01-27 2014-03-12 Pre Chasm Res Ltd Tyre tread depth and tyre condition determination
JP6614137B2 (ja) * 2014-04-07 2019-12-04 横浜ゴム株式会社 タイヤモールドの刻印検査方法および装置
US9476569B2 (en) * 2014-05-20 2016-10-25 King Abdulaziz City for Science and Technology (KACST) Apparatus light pen and its use
JP6289283B2 (ja) * 2014-06-20 2018-03-07 株式会社ブリヂストン 円環状回転体の表面形状データの補正方法、及び、円環状回転体の外観検査装置
JP6651520B2 (ja) 2014-12-05 2020-02-19 ピレリ・タイヤ・ソチエタ・ペル・アツィオーニ 車両ホイール用のタイヤを製造するプロセスおよびプラントにおいてタイヤを検査する方法および装置
US20170349007A1 (en) * 2014-12-16 2017-12-07 Bridgestone Americas Tire Operations, Llc Optical-based tread depth measuring device, system, and method
US10697762B2 (en) * 2014-12-22 2020-06-30 Pirelli Tyre S.P.A. Apparatus for controlling tyres in a production line
CN108337900B (zh) 2015-06-30 2020-04-07 倍耐力轮胎股份公司 用于检测轮胎的表面上的缺陷的方法和设备
MX2017016137A (es) 2015-06-30 2018-06-18 Pirelli Metodo y aparato para analizar una superficie de un neumatico.
GB201517926D0 (en) 2015-10-09 2015-11-25 Wheelright Ltd Tyre condition analysis
ITUB20155721A1 (it) 2015-11-19 2017-05-19 Pirelli Metodo e linea di controllo di pneumatici per ruote di veicoli
EP3391015B1 (en) 2015-12-16 2020-10-14 Pirelli Tyre S.p.A. Device and method for the analysis of tyres
JP6789292B2 (ja) 2015-12-16 2020-11-25 ピレリ・タイヤ・ソチエタ・ペル・アツィオーニ タイヤを検査する方法および装置
KR102595037B1 (ko) 2015-12-16 2023-10-27 피렐리 타이어 소시에떼 퍼 아찌오니 타이어를 검사하는 장치 및 방법
BR112018012732B1 (pt) 2015-12-28 2022-11-16 Pirelli Tyre S.P.A. Dispositivo e kit para verificação de um pneu
JP6732027B2 (ja) 2015-12-28 2020-07-29 ピレリ・タイヤ・ソチエタ・ペル・アツィオーニ タイヤを検査するための装置および方法
EP3397938B1 (en) 2015-12-28 2019-08-28 Pirelli Tyre S.p.A. Apparatus for checking tyres
ITUA20163534A1 (it) 2016-05-18 2017-11-18 Pirelli Metodo e linea di controllo di pneumatici per ruote di veicoli

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1030173A1 (en) * 1999-02-18 2000-08-23 Spectra-Physics VisionTech Oy Arrangement and method for inspection of surface quality
EP1742041B1 (de) * 2005-07-04 2013-10-23 Baumer Inspection GmbH Kostengünstige multi-sensorielle Oberflächeninspektion
CN101896865A (zh) * 2007-12-19 2010-11-24 米其林技术公司 用于评价轮胎表面的设备

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111492221A (zh) * 2017-12-20 2020-08-04 倍耐力轮胎股份公司 用于在用于构造用于车辆车轮的轮胎的处理和装备中检查轮胎的方法和设备

Also Published As

Publication number Publication date
WO2016103103A1 (en) 2016-06-30
US10697857B2 (en) 2020-06-30
KR20170097688A (ko) 2017-08-28
EP3237837B1 (en) 2020-02-19
BR112017013327A2 (pt) 2018-03-06
KR102596252B1 (ko) 2023-10-31
RU2696343C2 (ru) 2019-08-01
RU2017126225A3 (zh) 2019-06-03
JP6691541B2 (ja) 2020-04-28
JP2018505385A (ja) 2018-02-22
CN107278261B (zh) 2020-08-28
US20170350793A1 (en) 2017-12-07
BR112017013327B1 (pt) 2022-05-24
MX2017007772A (es) 2017-10-02
RU2017126225A (ru) 2019-01-24
EP3237837A1 (en) 2017-11-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10670497B2 (en) Device and method for analysis of tyres comprising first and second image acquistion systems
CN107278261A (zh) 用于检查生产线中的轮胎的方法和设备
CN104040324B (zh) 外观检查设备和外观检查方法
JP6746578B2 (ja) 製造ラインでタイヤをチェックする装置
JP6890594B2 (ja) タイヤを検査するデバイス
CN108474720B (zh) 用于检查轮胎的设备和方法
EP3365651B1 (en) Station and method for checking tyres
CN108291857B (zh) 用于分析轮胎的设备和方法
EP3639002B1 (en) Method for checking tyres
CN113167687A (zh) 用于检查轮胎的方法和站

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant