CN107202794A - 全自动aoi检测设备 - Google Patents

全自动aoi检测设备 Download PDF

Info

Publication number
CN107202794A
CN107202794A CN201710436363.3A CN201710436363A CN107202794A CN 107202794 A CN107202794 A CN 107202794A CN 201710436363 A CN201710436363 A CN 201710436363A CN 107202794 A CN107202794 A CN 107202794A
Authority
CN
China
Prior art keywords
conveyer belt
platform
full
light source
detection devices
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201710436363.3A
Other languages
English (en)
Inventor
张方德
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
ZHEJIANG OVA TECHNOLOGY Co Ltd
Original Assignee
ZHEJIANG OVA TECHNOLOGY Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ZHEJIANG OVA TECHNOLOGY Co Ltd filed Critical ZHEJIANG OVA TECHNOLOGY Co Ltd
Priority to CN201710436363.3A priority Critical patent/CN107202794A/zh
Publication of CN107202794A publication Critical patent/CN107202794A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/01Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8806Specially adapted optical and illumination features
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/01Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
    • G01N2021/0106General arrangement of respective parts
    • G01N2021/0112Apparatus in one mechanical, optical or electronic block
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N2021/845Objects on a conveyor
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/06Illumination; Optics
    • G01N2201/061Sources
    • G01N2201/06146Multisources for homogeneisation, as well sequential as simultaneous operation

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

本发明提供了一种全自动AOI检测设备,其包括框架,在所述框架上设置光学检测机构,光学检测机构包括至少两组传送带,在传送带的上下侧之间设置可升降的检测平台,所述检测平台上方设置光学成像装置,所述检测平台上对应设有至少两个凹槽,所述检测平台具有下降后与传送带不接触的第一位置以及上升将传送带置于凹槽内且与传送带上的PCB板接触的第二位置,采用传送带传送的方式输送PCB板,而在进入检测平台的范围时,通过平台的上升来使得PCB板脱离传送带,直接置于所述平台上,保证在光学扫描时,该板不会出现抖动、晃动等现象,从而影响光学扫描的精准性,且采用该方式,可以省去对光学成像的清晰度分析的算法设计。

Description

全自动AOI检测设备
技术领域
本发明涉及光学检测领域,具体涉及一种全自动AOI检测设备。
背景技术
现有的PCB光学检测设备,一般采用滚轴带动PCB板移动,并进行检测,而采用滚轴移动的方式,其在移动的过程中会存在振动的现象,对薄板进行检测的时候,该振动的现象更加明显,为了解决滚轴传输带来的振动的现象,大多需要设计光学检测算法,来适应该振动,以获取更加清晰的光源图像,并对该光源图像进行检测。
发明内容
为了克服以上的技术不足,本发明提供一种全自动AOI检测设备。
本发明提供一种全自动AOI检测设备,其包括框架,在所述框架上设置光学检测机构,所述光学检测机构包括沿进料方向平行设置至少两组用于传送PCB板的传送带,在所述传送带的上下侧之间设置可升降的检测平台,所述检测平台上方设置光学成像装置,所述检测平台上对应设有至少两个凹槽,所述检测平台具有下降后与传送带不接触的第一位置以及上升将传送带置于凹槽内且与传送带上的PCB板接触的第二位置。
所述检测平台包括平台、设置在平台底部四个角的支撑轴以及设置在平台底部的驱动装置,所述驱动装置驱动平台轴向升降移动,所述平台上设有负压吸附装置。
所述两组传送带并排设置在框架上,并在所述传送带前后两端设置支撑滚轴。
所述光学成像装置可滑移设置在框架上。
所述光学检测机构为两组,沿进料方向依次设置,且在两者之间设置翻板机构。
所述翻板机构包括两个侧板、设置在任意一个侧板中心位置的翻转机构以及若干阵列设置在两个侧板之间的转轴,所述转轴分成上下两层,且在上下分层的转轴之间形成夹持PCB板的空隙,所述转轴通过传动机构联动配合。
所述翻板机构的前后两侧均设有可开启限位机构。
所述限位机构包括设置在翻板机构上方的支架,设置在支架上的气缸以及与气缸联动配合的限位挡板,所述限位挡板具有上升露出翻板机构的进料口/出料口的第一位置和下降挡住翻板机构的进料口/出料口的第二位置。
所述转轴外侧设置第一伞齿轮,所述传动机构包括电机以及传动杆,所述传动杆的两端均设有与转轴的第一伞齿轮相适配的第二伞齿轮。
所述光学成像装置包括呈一排设置的摄像头以及AOI光源结构,所述AOI光源结构包括光源组件,所述光源组件包括安装座、主光源、半反镜、侧光源,所述半反镜设置在主光源与光学成像装置的光线交汇处;所述侧光源数量为至少二组,并沿同一扇形圆周对称分布在半反镜的两侧;所述主光源经过半反镜后的焦点、光学成像装置经过半反镜后的焦点以及侧光源的焦点聚集在同一聚光带上,所述侧光源与焦点之间分别设有相对应组数的透镜。
本发明的有益效果:采用传送带传送的方式输送PCB板,而在进入检测平台的范围时,通过平台的上升来使得PCB板脱离传送带,直接置于所述平台上,保证在光学扫描时,该板不会出现抖动、晃动等现象,从而影响光学扫描的精准性,且采用该方式,可以省去对光学成像的清晰度分析的算法设计,使得设备更加方便,使用起来更可靠。
附图说明
图1是本发明的主视图。
图2是本发明的立体示意图。
图3是本发明的光学检测机构的结构示意图。
图4是本发明的光学检测机构的主视图。
图5是本发明的传送带与检测平台的示意图。
图6是本发明的检测平台的俯视图。
图7是本发明的检测平台的结构示意图。
图8是本发明的翻板机构的结构示意图。
图9是本发明的翻板机构的主视图。
图10是本发明的AOI光源结构的主视图。
具体实施方式
下面结合附图对本发明实施例作进一步说明:
如图所示,本发明提供一种全自动AOI检测设备,其包括框架2,在所述框架2上设置光学检测机构3,所述光学检测机构3包括沿进料方向平行设置至少两组用于传送PCB板的传送带4,在所述传送带的上下侧之间设置可升降的检测平台6,所述检测平台6上方设置光学成像装置5,所述检测平台6上对应设有至少两个凹槽11,所述检测平台具有下降后与传送带不接触的第一位置以及上升将传送带置于凹槽内且与传送带上的PCB板接触的第二位置。
即在送料过程中,所述PCB板7始终是处于传送带4上,由所述传送带带动PCB板7,而在进入光学成像装置检测范围之后,则所述检测平台上升,且该检测平台上设有两个与传送带对应的凹槽,也即是在检测平台上升后将所述传送带置于所述凹槽内,而传送带继续运动,但是此时的PCB板已经被所述检测平台支撑,即所述传送带空转,而PCB板固定在所述检测平台上,而该检测平台可以设置真空吸附装置,即更好的将PCB板吸附在该检测平台上,保证其在扫描过程中不会发生移位,采用传送和扫描分开的方式,能够保证扫描时PCB板的固定不动,从而在扫描时不会产生振动、晃动或其他状态导致的检测图像不清晰的问题,而且省去了以往依靠成像算法来进行分析获得更加清晰的图像,且该方式成像其更加可靠,更加精准。
所述检测平台6包括平台12、设置在平台12底部四个角的支撑轴9以及设置在平台底部的驱动装置10,所述驱动装置驱动平台轴向升降移动。所述平台12经配置可支撑PCB板,且可以将所述PCB板稳稳的固定在该平台上,而所述驱动装置则可带动该平台上下升降,实现支撑PCB板以及脱离PCB板的两种状态,使得传送带承当传送PCB板的作用以及空转不带动PCB板的效果,在检测平台前方设置到位检测的机构,用于检测PCB板是否完全进入检测平台的范围,从而控制平台升降,实现对PCB板的固定。
所述平台上设有负压吸附装置,在与PCB板接触时,该负压吸附装置能够更好的将PCB板吸附在该平台上,该负压吸附装置为负压吸盘,可以使得玻璃屏和吸盘能够稳定的吸附在平台上,在扫描时吸附在平台上的PCB板不会移动,更加可靠。
所述两组传送带4并排设置在框架上,并在所述传送带前后两端设置支撑滚轴8,利用两端的支撑滚轴8撑开所述传送带,并保证传送带的稳定性,不会由于所述PCB板的重量而向下压缩,导致传送过程中,PCB板与平台干涉,导致PCB板传送出现偏位。
所述光学成像装置可滑移设置在框架上,为了减少整个设备的体积,采用光学成像装置滑移的方式,该光学成像装置设置一排的摄像头以及AOI光源结构,该摄像头为CCD,垂直设置在AOI光源结构上方,其中摄像头可以由6K、8K、12K、16K线扫描相机组成,而相机的个数为3-n个,n为大于3的自然数。
该AOI光源结构包括光源组件,所述光源组件包括安装座、主光源、半反镜、侧光源,所述半反镜设置在主光源与光学成像装置的光线交汇处;所述侧光源数量为至少二组,并沿同一扇形圆周对称分布在半反镜的两侧;所述主光源经过半反镜后的焦点、光学成像装置经过半反镜后的焦点以及侧光源的焦点聚集在同一聚光带上,所述侧光源与焦点之间分别设有相对应组数的透镜,至少二组透镜一体成型构成一个具有二排透镜的透镜结构,且该透镜结构的弧度与侧光源的排布弧度相一致。
优选的是所述侧光源数量为三组,所述三组侧光源与焦点之间设有三排透镜,三排透镜以与侧光源的设置弧度相一致的弧度贴合在一起并形成一具有三排透镜的透镜结构,所述侧光源为一排LED排列构成排光,设置三排,呈一定的弧度排列,并通过透镜聚焦,保证同轴光。
三组透镜直接成型在一起,且呈一定的弧度设置,能够使得三组透镜成为一整体,解决了以前采用多个透镜排列在一起,而各个透镜之间会存在间隙的问题,当光照射该透镜结构时,不会出现死角,使得光照更加均匀,从而使得AOI检测效果更好,提高产品的出厂良品率。
所述光学检测机构2为两组,沿进料方向依次设置,且在两者之间设置翻板机构3,采用两组光学检测机构,利用设置在两组光学检测机构之间的翻板机构,实现PCB板正反面扫描,可以直接在一流水线上实现双面扫描。
所述翻板机构3包括两个侧板13、设置在任意一个侧板13中心位置的翻转机构16以及若干阵列设置在两个侧板之间的转轴15,所述转轴分成上下两层,且在上下分层的转轴之间形成夹持PCB板的空隙,所述转轴通过传动机构联动配合。所述翻板机构的前后两侧均设有可开启限位机构14。当PCB板由传送带传送至两个转轴之间的空隙时,当且仅当整个PCB板均进入该翻板机构时,进料口的限位机构闭合,防止PCB板由翻转机构内掉落,在完全进入翻板机构后,翻转机构带动整个翻板机构转动,实现正反面的切换,且该翻转机构可以采用气缸或电机,而在进料口或出料口一侧设置红外传感器,用于检测整个PCB班是否完全进入翻板机构,而且进料口和出料口可以为同一个,并不限定,如在翻转前前方的口为进料口,翻转后该口则为出料口,而对应的后方的口变成下一次的进料口,即两者可以实时切换,并不限定,该进料口/出料口只为区分翻板机构的前后端,并不限定两个口的功能。因此分别设置在进料口/出料口的可开启限位机构,在一次使用中仅开启一个,采用双向的结构设置,可以实现一次翻转即可完成翻面和下一步工序的需求,不需要两次翻板来适应下个PCB板检测。
所述限位机构包括设置在翻板机构上方的支架,设置在支架上的气缸以及与气缸联动配合的限位挡板18,所述限位挡板具有上升露出翻板机构的进料口/出料口的第一位置和下降挡住翻板机构的进料口/出料口的第二位置,所述气缸设置在支架上,利用气缸带动限位挡板升降, 而且在使用时,可设置一个红外传感器,来进行PCB板的检测,在该红外传感器检测到PCB板的时候实现限位挡板的开启和关闭。
所述转轴外侧设置第一伞齿轮,所述传动机构17包括电机以及传动杆,所述传动杆的两端均设有与转轴的第一伞齿轮相适配的第二伞齿轮,为了让PCB板容易从该翻板机构内输出,设置带动转轴转动的传动机构,通过转轴的转动将PCB板输入或输出,而设置分层的传动杆,分别带动上下分层的转轴动作,而在传动杆两端均设置第二伞齿轮,来实现一个电机带动前后两端的转轴动作。
实施例不应视为对本发明的限制,任何基于本发明的精神所作的改进,都应在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种全自动AOI检测设备,其包括框架,其特征在于:在所述框架上设置光学检测机构,所述光学检测机构包括沿进料方向平行设置至少两组用于传送PCB板的传送带,在所述传送带的上下侧之间设置可升降的检测平台,所述检测平台上方设置光学成像装置,所述检测平台上对应设有至少两个凹槽,所述检测平台具有下降后与传送带不接触的第一位置以及上升将传送带置于凹槽内且与传送带上的PCB板接触的第二位置。
2.根据权利要求1所述的全自动AOI检测设备,其特征在于,所述检测平台包括平台、设置在平台底部四个角的支撑轴以及设置在平台底部的驱动装置,所述驱动装置驱动平台轴向升降移动,所述平台上设有负压吸附装置。
3.根据权利要求1所述的全自动AOI检测设备,其特征在于,所述两组传送带并排设置在框架上,并在所述传送带前后两端设置支撑滚轴。
4.根据权利要求1所述的全自动AOI检测设备,其特征在于,所述光学成像装置可滑移设置在框架上。
5.根据权利要求1或2或3或4所述的全自动AOI检测设备,其特征在于,所述光学检测机构为两组,沿进料方向依次设置,且在两者之间设置翻板机构。
6.根据权利要求5所述的全自动AOI检测设备,其特征在于,所述翻板机构包括两个侧板、设置在任意一个侧板中心位置的翻转机构以及若干阵列设置在两个侧板之间的转轴,所述转轴分成上下两层,且在上下分层的转轴之间形成夹持PCB板的空隙,所述转轴通过传动机构联动配合。
7.根据权利要求6所述的全自动AOI检测设备,其特征在于,所述翻板机构的前后两侧均设有可开启限位机构。
8.根据权利要求7所述的全自动AOI检测设备,其特征在于,所述限位机构包括设置在翻板机构上方的支架,设置在支架上的气缸以及与气缸联动配合的限位挡板,所述限位挡板具有上升露出翻板机构的进料口/出料口的第一位置和下降挡住翻板机构的进料口/出料口的第二位置。
9.根据权利要求6所述的全自动AOI检测设备,其特征在于,所述转轴外侧设置第一伞齿轮,所述传动机构包括电机以及传动杆,所述传动杆的两端均设有与转轴的第一伞齿轮相适配的第二伞齿轮。
10.根据权利要求1或2或3或4所述的全自动AOI检测设备,其特征在于,所述光学成像装置包括呈一排设置的摄像头以及AOI光源结构,所述AOI光源结构包括光源组件,所述光源组件包括安装座、主光源、半反镜、侧光源,所述半反镜设置在主光源与光学成像装置的光线交汇处;所述侧光源数量为至少二组,并沿同一扇形圆周对称分布在半反镜的两侧;所述主光源经过半反镜后的焦点、光学成像装置经过半反镜后的焦点以及侧光源的焦点聚集在同一聚光带上,所述侧光源与焦点之间分别设有相对应组数的透镜。
CN201710436363.3A 2017-06-12 2017-06-12 全自动aoi检测设备 Pending CN107202794A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201710436363.3A CN107202794A (zh) 2017-06-12 2017-06-12 全自动aoi检测设备

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201710436363.3A CN107202794A (zh) 2017-06-12 2017-06-12 全自动aoi检测设备

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN107202794A true CN107202794A (zh) 2017-09-26

Family

ID=59907532

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201710436363.3A Pending CN107202794A (zh) 2017-06-12 2017-06-12 全自动aoi检测设备

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN107202794A (zh)

Cited By (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107961991A (zh) * 2017-11-16 2018-04-27 铭板精密科技(中山)有限公司 一种适用于电话壳的检验图像装置
CN108132215A (zh) * 2018-02-07 2018-06-08 中山市鸿菊自动化设备制造有限公司 一种smt贴片生产线的aoi检测方法
CN108226166A (zh) * 2017-12-29 2018-06-29 信利(惠州)智能显示有限公司 一种自动光学检测扫描方法
CN108444915A (zh) * 2018-03-20 2018-08-24 山东大学苏州研究院 一种压电驱动的单自由度光学检测平台及使用方法
CN109738463A (zh) * 2019-03-19 2019-05-10 中信戴卡股份有限公司 一种工业用x光检测设备
CN110346378A (zh) * 2019-07-24 2019-10-18 浙江欧视电科技有限公司 一种全自动aoi检测设备
CN110849878A (zh) * 2019-11-20 2020-02-28 湖北中纬幸和自动化设备科技有限公司 一种pcb板的aoi检测装置
CN110987807A (zh) * 2019-12-30 2020-04-10 浙江力创自动化科技有限公司 一种能实现aoi智能光学检测的在线检测设备及控制方法
CN111220629A (zh) * 2020-03-10 2020-06-02 宋志龙 Pcb电路板的aoi视觉检测系统及其工作方法
CN111307810A (zh) * 2020-03-17 2020-06-19 湖州师范学院 一种计算机主板视觉检测设备
CN111505021A (zh) * 2020-05-07 2020-08-07 宋志龙 Pcb电路板的aoi检测系统及其检测方法
CN111678925A (zh) * 2020-05-18 2020-09-18 宋志龙 Pcb电路板的正反面光学检测系统与检测方法
CN112748119A (zh) * 2020-12-29 2021-05-04 宁波丞达精机股份有限公司 一种aoi光学测试机的扫描检测平台
CN112881411A (zh) * 2021-01-20 2021-06-01 江苏方桥智能科技股份有限公司 一种aoi自动光学无损检测设备
CN113390874A (zh) * 2021-07-01 2021-09-14 昆山宸泽测控科技有限公司 一种镭射焊点aoi视觉测试设备
CN113740260A (zh) * 2021-08-31 2021-12-03 苏州天准科技股份有限公司 一种光学检测装置、成像方法和智能双面检测系统
CN114518326A (zh) * 2022-01-11 2022-05-20 深圳市昊天宸科技有限公司 一种pcb板质量检测设备及pcb板质量检测方法
CN116773541A (zh) * 2022-06-15 2023-09-19 欧阳津 一种aoi自动光学无损检测设备

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102788800A (zh) * 2012-08-09 2012-11-21 英利能源(中国)有限公司 一种太阳能电池组件检测装置
CN103487444A (zh) * 2013-08-30 2014-01-01 东莞市乐琪光电科技有限公司 一种高尔夫球钉全自动光学外观检测装置
CN104568965A (zh) * 2014-12-20 2015-04-29 佛山市多谱光电科技有限公司 一种led光源芯片缺陷检测方法及其装置
CN204639519U (zh) * 2015-04-13 2015-09-16 中国联合工程公司 一种钢板翻板机
CN204855351U (zh) * 2015-08-18 2015-12-09 浙江欧威科技有限公司 全自动aoi整机
CN206074466U (zh) * 2016-09-29 2017-04-05 无锡绿缘汽车零部件有限公司 用于零件检测的装置
CN206818630U (zh) * 2017-06-12 2017-12-29 浙江欧威科技有限公司 全自动aoi检测设备

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102788800A (zh) * 2012-08-09 2012-11-21 英利能源(中国)有限公司 一种太阳能电池组件检测装置
CN103487444A (zh) * 2013-08-30 2014-01-01 东莞市乐琪光电科技有限公司 一种高尔夫球钉全自动光学外观检测装置
CN104568965A (zh) * 2014-12-20 2015-04-29 佛山市多谱光电科技有限公司 一种led光源芯片缺陷检测方法及其装置
CN204639519U (zh) * 2015-04-13 2015-09-16 中国联合工程公司 一种钢板翻板机
CN204855351U (zh) * 2015-08-18 2015-12-09 浙江欧威科技有限公司 全自动aoi整机
CN206074466U (zh) * 2016-09-29 2017-04-05 无锡绿缘汽车零部件有限公司 用于零件检测的装置
CN206818630U (zh) * 2017-06-12 2017-12-29 浙江欧威科技有限公司 全自动aoi检测设备

Cited By (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107961991A (zh) * 2017-11-16 2018-04-27 铭板精密科技(中山)有限公司 一种适用于电话壳的检验图像装置
CN108226166A (zh) * 2017-12-29 2018-06-29 信利(惠州)智能显示有限公司 一种自动光学检测扫描方法
CN108132215A (zh) * 2018-02-07 2018-06-08 中山市鸿菊自动化设备制造有限公司 一种smt贴片生产线的aoi检测方法
CN108444915A (zh) * 2018-03-20 2018-08-24 山东大学苏州研究院 一种压电驱动的单自由度光学检测平台及使用方法
CN109738463A (zh) * 2019-03-19 2019-05-10 中信戴卡股份有限公司 一种工业用x光检测设备
CN109738463B (zh) * 2019-03-19 2023-12-08 中信戴卡股份有限公司 一种工业用x光检测设备
CN110346378A (zh) * 2019-07-24 2019-10-18 浙江欧视电科技有限公司 一种全自动aoi检测设备
CN110346378B (zh) * 2019-07-24 2024-05-14 浙江欧视电科技有限公司 一种全自动aoi检测设备
CN110849878A (zh) * 2019-11-20 2020-02-28 湖北中纬幸和自动化设备科技有限公司 一种pcb板的aoi检测装置
CN110849878B (zh) * 2019-11-20 2022-08-05 湖北中纬幸和自动化设备科技有限公司 一种pcb板的aoi检测装置
CN110987807A (zh) * 2019-12-30 2020-04-10 浙江力创自动化科技有限公司 一种能实现aoi智能光学检测的在线检测设备及控制方法
CN111220629A (zh) * 2020-03-10 2020-06-02 宋志龙 Pcb电路板的aoi视觉检测系统及其工作方法
CN111307810A (zh) * 2020-03-17 2020-06-19 湖州师范学院 一种计算机主板视觉检测设备
CN111505021A (zh) * 2020-05-07 2020-08-07 宋志龙 Pcb电路板的aoi检测系统及其检测方法
CN111678925A (zh) * 2020-05-18 2020-09-18 宋志龙 Pcb电路板的正反面光学检测系统与检测方法
CN112748119A (zh) * 2020-12-29 2021-05-04 宁波丞达精机股份有限公司 一种aoi光学测试机的扫描检测平台
CN112748119B (zh) * 2020-12-29 2024-05-14 宁波丞达精机股份有限公司 一种aoi光学测试机的扫描检测平台
CN112881411B (zh) * 2021-01-20 2022-01-11 江苏方桥智能科技股份有限公司 一种aoi自动光学无损检测设备
CN112881411A (zh) * 2021-01-20 2021-06-01 江苏方桥智能科技股份有限公司 一种aoi自动光学无损检测设备
CN113390874A (zh) * 2021-07-01 2021-09-14 昆山宸泽测控科技有限公司 一种镭射焊点aoi视觉测试设备
CN113740260A (zh) * 2021-08-31 2021-12-03 苏州天准科技股份有限公司 一种光学检测装置、成像方法和智能双面检测系统
CN114518326A (zh) * 2022-01-11 2022-05-20 深圳市昊天宸科技有限公司 一种pcb板质量检测设备及pcb板质量检测方法
CN116773541A (zh) * 2022-06-15 2023-09-19 欧阳津 一种aoi自动光学无损检测设备

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN107202794A (zh) 全自动aoi检测设备
CN106814084A (zh) 一种新型显示面板表面缺陷检测系统
CN202649134U (zh) 瓶盖质量检测装置
CN102004108B (zh) 用于检查带标签容器的装置和方法
CN101473218B (zh) 用于表征透明基底中的缺陷的装置和方法
CN209707403U (zh) 一种乳白玻璃瓶的组合式空瓶检测机构
GB2334576A (en) Container Inspection Machine
CN107228861A (zh) 液晶面板的缺陷检测装置
CN206818630U (zh) 全自动aoi检测设备
CN102735694A (zh) 全自动胶囊检测机
CN208736816U (zh) 全自动aoi检测设备
CN104081192A (zh) 一种对玻璃多层面摄像的摄像装置及其方法
CN108362713A (zh) 一种光学检测成像系统
CN103884651A (zh) 一种全自动瓶盖质量检测系统
CN105044942B (zh) 液晶显示面板的对位检查设备及对位检查方法
US20200378899A1 (en) Glass processing apparatus and methods
CN108414534A (zh) 一种白酒低密度极轻异物自动检测方法及装置
CN106290175A (zh) 传送带启停装置及印刷品视觉检测设备
CN103940825B (zh) 一种全方位胶囊检测设备及相应检测方法
CN207502417U (zh) 用于在线检测的图像采集装置
CN206990465U (zh) 液晶面板的缺陷检测装置
CN202145197U (zh) 一种胶囊检测机的图像检测装置
US8559074B2 (en) Illumination device for an image capture system
CN108855992A (zh) 一种玻璃检测及不良品剔除机构
JP6897929B2 (ja) 透明物品の検査装置

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
RJ01 Rejection of invention patent application after publication

Application publication date: 20170926