CN106841889A - 一种短路开路测试方法及系统 - Google Patents
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Abstract
本申请公开了一种短路开路测试方法及系统,短路测试单元用于对待测线路进行短路测试,确定待测线路的短路群个数;若待测线路的短路群个数为N(N≥2),则进入待测线路开路测试过程;开路测试单元用于进行待测线路开路测试:对第m短路群至第N短路群,将第m+1短路群至第N短路群做短路处理从而建立第m单点,对第m短路群与第m单点进行测试以确定第m短路群与第m单点的短路/开路关系。采用本发明的短路开路测试方法及系统,对于N个短路群,最少仅需N‑1次测试即可完成对整个短路群网络的开路测试要求,能够极大地减少测试次数,缩短测试时间,节省测试资源,提高工作效率。
Description
技术领域
本申请涉及电路测试领域,具体涉及一种短路开路测试方法及系统。
背景技术
短路开路测试(open/short test,OS测试,开短路测试)又叫continuity test或contact test,是一种非常快速发现芯片的各个引脚间是否有短路的测试方法,还能发现集成电路板中各点接触是否良好,探针卡或测试座是否有问题。短路开路测试的测试原理分open_short_to_VDD测试和open_short_to_VSS测试。
短路测试(即短路测试)主要用来检测在原理设计上相连的测试点是否正确的连接在一起;开路测试(即开路/断路测试)主要是用来检测在原理设计上本不相连的测试点之间是否断连。随着电子技术的发展,PCB(Printed Circuit Board,印制电路板,印刷线路板)制造行业正朝着高密度、高集成度的方向发展,现有技术采取点对点方案进行短路开路测试,即每一个当前测试点都要与其它短路群的所有的测试点进行开路测试,随着测试点的大量增多而显得冗长而又复杂。
发明内容
根据本发明的一方面,提供一种短路开路测试方法,包括如下过程:
待测线路短路测试:
对待测线路进行短路测试,确定待测线路的短路群个数;若待测线路的短路群个数为N,则待测线路包括第1短路群至第N短路群,则进入待测线路开路测试过程,其中,N≥2;
待测线路开路测试:
对第m短路群至第N短路群,将第m+1短路群至第N短路群做短路处理从而建立第m单点,对第m短路群与第m单点进行测试以确定第m短路群与第m单点的短路/开路关系,其中,1≤m<N-1;
结束短路开路测试。
根据本发明的另一方面,提供一种短路开路测试系统,包括短路测试单元和开路测试单元;
短路测试单元用于对待测线路进行短路测试,确定待测线路的短路群个数;若待测线路的短路群个数为N,则待测线路包括第1至第N短路群,其中,N≥2;
开路测试单元用于根据短路测试单元的测试结果建立N-1个测试模块,N-1个测试模块为第一模块、第二模块…第N-1模块;
短路测试单元分别与第一模块至第N-1模块相连接;或者,短路测试单元与第一模块连接,第一模块至第N-1模块依次连接;
第m模块用于对第m短路群至第N短路群,将第m+1短路群至第N短路群做短路处理从而建立第m单点,对第m短路群与第m单点进行测试以确定第m短路群与第m单点的短路/开路关系,其中,1≤m<N-1;
第N短路群为第N-1单点,第N-1模块用于对第N-1短路群与第N-1单点进行测试以确定第N-1短路群与第N-1单点的短路/开路关系。
采用本发明的短路开路测试方法及系统,对于N个短路群,最少仅需N-1次测试即可完成对整个短路群网络的开路测试要求,能够极大地减少测试次数,缩短测试时间,节省测试资源,提高工作效率。
附图说明
图1为实施例一的短路开路测试系统结构示意图;
图2为实施例一的短路开路测试方法流程示意图;
图3为实施例一的待测线路测试点示意图;
图4为实施例一的待测线路短路群示意图;
图5为实施例一的另一种待测线路测试点示意图;
图6为实施例一的另一种待测线路短路群示意图;
图7为实施例一的短路开路测试方法St201步骤示意图;
图8为实施例一的短路开路测试方法St202步骤示意图;
图9为实施例一的短路开路测试方法St203步骤示意图;
图10为实施例二的短路开路测试系统结构示意图。
具体实施方式
下面通过具体实施方式结合附图对本申请作进一步详细说明。
实施例一:
本实施例的短路开路测试方法尤其适用于治具测试行业,可以采用如图1所示的短路开路测试系统实现,短路开路测试系统包括短路测试单元10和开路测试单元20。
如图2所示为本实施例的短路开路测试方法流程图,具体过程如下:
St1、待测线路短路测试:
短路测试单元10对待测线路进行短路测试(即进行全短路测试),确定待测线路的N个短路群个数,N≥2。
具体地,例如如图3所示,待测线路中有1.1、1.2、1.3、……4.3、4.4等16个测试点,如图4所示,本实施例确定待测线路有第1短路群301、第2短路群302、第3短路群303、第4短路群304四个短路群(即N=4)。
或者,如图5所示,待测线路中有测试点1.1、1.2、1.3、1.4、2.1、3.1、3.2、3.3、3.4、4.1、4.2,如图6所示,本实施例确定待测线路有第1短路群301、第2短路群302、第3短路群303、第4短路群304四个短路群。其中,存在测试点2.1开路的情况,则测试点2.1单独构成独立的短路群。
若待测线路中所有的测试点都具有短路关系,即只能确定一个短路群(N=1),则结束测试过程。
当短路群个数N≥2时,开路测试单元20根据短路测试单元10的测试结果建立N-1个测试模块,本实施例具体为开路测试单元包括依次连接的第一模块201、第二模块202、第三模块203、第四模块204,短路测试单元10与第一模块201相连接。
St2、利用开路测试单元20进行待测线路开路测试:
St201、第1短路群与第1单点开路测试:
如图7所示,对第1短路群301至4短路群304,将第2短路群302至第4短路群304做短路处理从而建立第1单点001,即第2短路群302至第4短路群304此时视为一个单点,对第1短路群301与第1单点001进行测试;第1单点001可以选用第2短路群302至第4短路群304中的任意一个测试点来代表,例如可以是测试点2.1,第1短路群301中也只需要利用一个测试点与测试点2.1进行测试,例如,具体可以是对测试点1.1和测试点2.1进行测试,测试点1.1与测试点2.1的短路/开路关系等同于第1短路群301与第1单点001的短路/开路关系;
若测试点1.1与第1单点001为开路关系,即待测的测试点1.1与第1单点001无短路,则证明第1短路群301与第2短路群302至第4短路群304所构成的待测网络之间全部开路,则进入步骤St202;
若测试点1.1与第1单点之间为短路关系,则证明第1短路群301与第2短路群302至第4短路群304所构成的待测网络之间存在短路,则进入短路查找程序St3:具体地,将第2短路群302至第4短路群304分成两组,例如第2短路群302为一组,第3短路群303与第4短路群304为一组,对第1短路群与该两组短路群分别进行开路测试;若第1短路群与两组短路群中的第二组短路群为短路关系,则重复此过程,将第二组短路群分成两组,即第3短路群303为一组,第4短路群304为一组,对第1短路群与该两组短路群再分别进行开路测试,直至查找出与第1短路群具有短路关系的短路群为止,例如第3短路群303;通过测试查找出与第1短路群具有短路关系的第3短路群303以及具体发生短路的测试点(例如图6中为测试点1.2与测试点3.3发生了相互短路),再进入步骤St202;
图6中,通过上述程序查找出第1短路群与第3短路群之间存在短路,如何具体确定是测试点1.2与测试点3.3发生了短路的方法属于现有技术,例如可以采取令第1短路群中的每一个测试点都与第3短路群中的每一个测试点进行一次测试,最终即可确认是测试点1.2与测试点3.3发生了短路。
St202、第2短路群与第2单点开路测试:
如图8所示,对第2短路群302至4短路群304,将第3短路群303至第4短路群304做短路处理从而建立第2单点002,对第2短路群302与第2单点002进行测试;第2单点002可以选用第3短路群303至第4短路群304中的任意一个测试点来代表,例如可以是测试点3.1,则具体就是对测试点2.1和测试点3.1进行测试;
若第2短路群302与第2单点002为开路关系,则进入步骤St203;
若第2短路群302与第2单点之间为短路,则进入短路查找程序St3:具体地,分成第3短路群303为一组,第4短路群304为一组,对第2短路群与该两组短路群分别进行开路测试;若第2短路群与两组短路群中的第二组短路群即第4短路群304为短路关系;则再通过测试确定第4短路群中具体发生短路的点,再进入步骤St203;
St203、第3短路群与第3单点开路测试:
如图9所示,对第3短路群303至4短路群304,第4短路群304为第3单点003,对第3短路群303与第3单点003进行测试;具体可以是对测试点3.1和测试点4.1进行测试;
若第3短路群303与第3单点003为开路关系,则结束短路开路测试过程;
若第3短路群303与第3单点003之间为短路,则再通过测试确定第4短路群中具体发生短路的点,再结束短路开路测试过程;
St3、短路查找程序:
第m短路群与第m单点开路测试中,若第m短路群与第m单点之间为短路,才进入本程序;
本程序为,将第m+1短路群至第N短路群分成t组,对第m短路群与该t组短路群分别进行开路测试;若第m短路群与t组短路群中的第t’组短路群为短路,则重复此过程,将第t’组短路群分成若干组,对第m短路群与该若干组短路群分别进行开路测试,……,直至查找出与第m短路群具有短路关系的短路群为止;其中,1≤m<N-1,t’≥1。
通常,将第m+1短路群至第N短路群分成两组,两组的短路群个数相当,对于第m+1短路群至第N短路群个数为偶数的情况,则平分为两组;对于第m+1短路群至第N短路群个数为奇数的情况,则分成的两组组数只相差一组。若第m短路群与t组短路群中的第t’组短路群为短路,则重复此过程,并按照同样的原理将第t’组短路群分成个数相当的两组短路群。
实施例二:
本实施例的短路开路测试方法可以采用如图10所示的短路开路测试系统实现,短路开路测试系统包括短路测试单元10和开路测试单元20,经过短路测试单元10的测试确定短路群个数为4个,则开路测试单元建立起分别与短路测试单元10相连接的第一模块201、第二模块202、第三模块203、第四模块204。
本实施例的短路开路测试方法发明也包括:
St1、待测线路短路测试;
St2、待测线路开路测试:
St201、第1短路群与第1单点开路测试:若第1短路群与第1单点为开路关系,则本过程结束;若第1短路群与第1单点之间为短路,则进入短路查找程序St3;
St202、第2短路群与第2单点开路测试:若第2短路群与第2单点为开路关系,则本过程结束;若第2短路群与第2单点之间为短路,则进入短路查找程序St3;
St203、第3短路群与第3单点开路测试:若第3短路群与第3单点为开路关系,则结束本过程;若第3短路群与第3单点之间为短路,通过测试确定第4短路群中具体发生短路的点,再结束本过程;
St201、St202、St203以及St3过程都完成后,则结束短路开路测试过程。
本实施例与实施例一的区别在于,实施例一中,St201、St202、St203步骤具有先后顺序,即只能在完成St201后才会继续进行St202,只能在完成St202后才会继续进行St203;而本实施例中,St201、St202、St203步骤没有限制先后顺序,可以并行处理。
本发明采用点对面的形式(即全短路的方式,例如实施例一中第1短路群与第1单点即是点对面的形式)进行短路开路测试,经过在实际项目中的验证实验,该方式可以实现更加高效的开路测试要求。
对于N个短路群,最少仅需N-1次测试即可完成对整个短路群网络的开路测试要求,例如对实施例一中的4*4测试点阵列,其分为4各短路群,最少只需第1短路群与第1单点开路测试、第2短路群与第2单点开路测试、第3短路群与第3单点开路测试三次开路测试。而采用现有的点对点测试方式,例如对与实施例一同样的4*4测试点阵列,分为4各短路群,需要4×12+4×8+4×4=104次开路测试。因此本发明的短路开路测试方法及短路开路测试系统能够极大地减少测试次数,缩短测试时间,节省测试资源,提高工作效率。
以上内容是结合具体的实施方式对本申请所作的进一步详细说明,不能认定本申请的具体实施方式只局限于这些说明。对于所属技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本申请的构思的前提下,还可以做出若干简单推演或替换。
Claims (10)
1.一种短路开路测试方法,其特征在于,包括待测线路短路测试和待测线路开路测试:
待测线路短路测试包括:
对待测线路进行短路测试,确定待测线路的短路群个数;若所述待测线路的短路群个数为N,则所述待测线路包括第1短路群至第N短路群,则进入待测线路开路测试过程,其中,N≥2;
待测线路开路测试包括:
对第m短路群至第N短路群,将第m+1短路群至第N短路群做短路处理从而建立第m单点,对所述第m短路群与所述第m单点进行测试以确定所述第m短路群与所述第m单点的短路/开路关系,其中,1≤m<N-1;
对第N-1短路群至第N短路群,所述第N短路群为第N-1单点,对所述第N-1短路群与所述第N-1单点进行测试以确定所述第N-1短路群与所述第N-1单点的短路/开路关系。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,
所述待测线路短路测试中,若得到所述待测线路的短路群个数为1个,则结束短路开路测试。
3.如权利要求1所述的方法,其特征在于,
所述第m短路群与所述第m单点测试中,若所述第m短路群与所述第m单点之间为开路,则进入第m+1短路群与第m+1单点测试过程。
4.如权利要求1所述的方法,其特征在于,
所述第m短路群与所述第m单点测试中,若所述第m短路群与所述第m单点之间为短路,则进入短路查找程序:
将所述第m+1短路群至所述第N短路群分成t组,对所述第m短路群与所述t组短路群分别进行开路测试;若所述第m短路群与所述t组短路群中的第t’组短路群为短路,则重复此过程,将所述第t’组短路群分成若干组,对所述第m短路群与该若干组短路群分别进行开路测试,……,直至查找出与所述第m短路群具有短路关系的短路群为止;其中,t≥2,t’≥1;
所述第N-1短路群与所述第N-1单点测试中,若所述第N-1短路群与所述第N-1单点之间为短路,则确定所述第N-1短路群与所述第N短路群为短路关系。
5.如权利要求4所述的方法,其特征在于,
所述第m短路群与所述第m单点测试中,当查找出与所述第m短路群具有短路关系的短路群后,通过测试确定该短路群中与所述第m短路群中具体发生短路的测试点。
6.如权利要求1-5任一项所述的方法,其特征在于,
所述待测线路开路测试过程包括:
第1短路群与第1单点开路测试:
对第1短路群至第N短路群,将第2短路群至第N短路群做短路处理从而建立第1单点,对所述第1短路群与所述第1单点进行测试以确定所述第1短路群与所述第1单点的短路/开路关系;
第2短路群与第2单点开路测试:
对第2短路群至第N短路群,将第3短路群至第N短路群做短路处理从而建立第2单点,对所述第2短路群与所述第2单点进行测试以确定所述第2短路群与所述第2单点的短路/开路关系;
……
第N-1短路群与第N-1单点开路测试:
对第N-1短路群至第N短路群,所述第N短路群为第N-1单点,对所述第N-1短路群与所述第N-1单点进行测试以确定所述第N-1短路群与所述第N-1单点的短路/开路关系。
7.如权利要求6所述的方法,其特征在于,
所述第1短路群与所述第1单点开路测试中,若所述第1短路群与所述第1单点之间为短路,则进入短路查找程序;
所述第2短路群与所述第2单点开路测试中,若所述第2短路群与所述第2单点之间为短路,则进入短路查找程序;
……
所述第N-1短路群与所述第N-1单点开路测试中,若所述第N-1短路群与所述第N-1单点之间为短路,则确定所述第N-1短路群与所述第N短路群为短路关系。
8.一种短路开路测试系统,其特征在于,包括短路测试单元和开路测试单元;
所述短路测试单元用于对待测线路进行短路测试,确定待测线路的短路群个数;若所述待测线路的短路群个数为N,则所述待测线路包括第1短路群至第N短路群,其中,N≥2;
所述开路测试单元用于根据所述短路测试单元的测试结果建立N-1个测试模块,所述N-1个测试模块为第一模块、第二模块…第N-1模块;
所述短路测试单元分别与所述第一模块至所述第N-1模块相连接;或者,所述短路测试单元与所述第一模块连接,所述第一模块至所述第N-1模块依次连接;
第m模块用于对第m短路群至第N短路群,将第m+1短路群至第N短路群做短路处理从而建立第m单点,对所述第m短路群与所述第m单点进行测试以确定所述第m短路群与所述第m单点的短路/开路关系,其中,1≤m<N-1;
所述第N短路群为第N-1单点,所述第N-1模块用于对所述第N-1短路群与所述第N-1单点进行测试以确定所述第N-1短路群与所述第N-1单点的短路/开路关系。
9.如权利要求8所述的系统,其特征在于,
所述第一模块用于对第1短路群至第N短路群,将第2短路群至第N短路群做短路处理从而建立第1单点,对所述第1短路群与所述第1单点进行测试以确定所述第1短路群与所述第1单点的短路/开路关系;
所述第二模块用于对第2短路群至第N短路群,将第3短路群至第N短路群做短路处理从而建立第2单点,对所述第2短路群与所述第2单点进行测试以确定所述第2短路群与所述第2单点的短路/开路关系;
……
所述第N短路群为第N-1单点,所述第N-1模块用于对所述第N-1短路群与所述第N-1单点进行测试以确定所述第N-1短路群与所述第N-1单点的短路/开路关系。
10.如权利要求8或9所述的系统,其特征在于,
所述第m模块还用于在测得所述第m短路群与所述第m单点之间为开路时,启动第m+1模块的第m+1短路群与第m+1单点测试过程
所述第m模块还用于在测得所述第m短路群与所述第m单点之间为短路时,将所述第m+1短路群至所述第N短路群分成t组,对所述第m短路群与所述t组短路群分别进行开路测试;若所述第m短路群与所述t组短路群中的第t’组短路群为短路,则重复此过程,将所述第t’组短路群分成若干组,对所述第m短路群与该组若干短路群分别进行开路测试,……,直至查找出与所述第m短路群具有短路关系的短路群为止;其中,t≥2,t’≥1。
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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PB01 | Publication | ||
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SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |
Application publication date: 20170613 |
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