CN112345922A - 一种电路故障检测装置及检测方法 - Google Patents

一种电路故障检测装置及检测方法 Download PDF

Info

Publication number
CN112345922A
CN112345922A CN202011322730.5A CN202011322730A CN112345922A CN 112345922 A CN112345922 A CN 112345922A CN 202011322730 A CN202011322730 A CN 202011322730A CN 112345922 A CN112345922 A CN 112345922A
Authority
CN
China
Prior art keywords
test point
detected
value
processing module
sample
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN202011322730.5A
Other languages
English (en)
Inventor
唐徽艳
李观鸿
梁锦星
李世林
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yili Guangzhou Electronic Technology Co ltd
EELY Guangzhou Electronic Technology Co Ltd
Original Assignee
Yili Guangzhou Electronic Technology Co ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Yili Guangzhou Electronic Technology Co ltd filed Critical Yili Guangzhou Electronic Technology Co ltd
Priority to CN202011322730.5A priority Critical patent/CN112345922A/zh
Publication of CN112345922A publication Critical patent/CN112345922A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G01R31/2806Apparatus therefor, e.g. test stations, drivers, analysers, conveyors
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2832Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
    • G01R31/2834Automated test systems [ATE]; using microprocessors or computers

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Abstract

本发明公开了一种电路故障检测装置及检测方法,该电路故障检测装置包括:控制处理模块和至少一个测试点组;测试点组包括第一测试点和至少一个第二测试点,第一测试点与第二测试点组成一个测试点对;测试点对的两个测试点分别与待测样品的两个待检测点对应设置;控制处理模块分别与第一测试点以及第二测试点电连接;控制处理模块用于依次控制各测试点对的第一测试点以及第二测试点与待测样品的待检测点一一对应接触,并获取测试点对的检测信号,若存在同一测试点组的两个测试点对的检测信号的差值大于预设阈值,则确定待测样品故障。本发明提供的技术方案,操作过程简单,可实现电路自动检测,提高了准确率和检测效率。

Description

一种电路故障检测装置及检测方法
技术领域
本发明涉及电路检测技术领域,尤其涉及一种电路故障检测装置及检测方法。
背景技术
印制电路板(简称PCB)几乎是所有电子产品中重要的电子部件,是电子元器件的支撑体,是电子元器件电气连接的载体。电路板使电路集成化、直观化,对于固定电路的批量生产和优化用电器的布局起着重要的作用。由于电路板上由于集成了大量的电路以及电器元件,而在目前的制造过程中,通常存在一些不良连接点,因此为了保证这些电器元件在安装之后都可以按照设定的要求运转,需要对于安装好各类电器元件的电路板进行电路通断的检测,这就需要有专用的检测设备才能完成相应的检测任务。
由于电路板的电性能不相同,需要电路板的生产厂家根据电路板的大小、形状、和线路板上的线路布置针对性的进行检测,而且现有的电路检测装置是在检测时,需要先将待测产品通过螺丝固定在检测台上,然后将待测产品与一块检测用的PCB板连接,最后进行通电测试,检测过程繁琐复杂,检测成本和生产成本较高,但准确率和检测效率较低。
发明内容
本发明实施例提供了一种电路故障检测装置及检测方法,操作过程简单,可实现电路自动检测,提高了准确率和检测效率。
第一方面,本发明实施例提供了一种电路故障检测装置,包括:控制处理模块和至少一个测试点组;
所述测试点组包括第一测试点和至少一个第二测试点,所述第一测试点与所述第二测试点组成一个测试点对;所述测试点对的两个测试点分别与待测样品的两个待检测点对应设置;
所述控制处理模块分别与所述第一测试点以及所述第二测试点电连接;所述控制处理模块用于依次控制各所述测试点对的所述第一测试点以及所述第二测试点与所述待测样品的待检测点一一对应接触,并获取所述测试点对的检测信号,若存在同一所述测试点组的两个所述测试点对的检测信号的差值大于预设阈值,则确定所述待测样品故障。
可选的,所述第一测试点以及所述第二测试点均包括导电块。
可选的,所述第一测试点以及所述第二测试点还均包括气缸;
所述气缸与所述导电块一一对应连接,所述气缸还与所述控制处理模块电连接;
所述控制处理模块用于控制所述气缸带动所述导电块运动,以使所述导电块与所述待测样品的对应的待检测点接触。
可选的,所述控制处理模块还包括采样电阻;所述测试点对的检测信号包括所述测试点对对应回路的电流值;
所述控制处理模块用于根据所述采样电阻的分压值计算所述测试点对对应回路的电流值,若存在同一所述测试点组的两个所述测试点对对应回路的电流值的差值大于预设电流阈值,则确定所述待测样品故障。
可选的,所述控制处理模块还包括采样电阻;所述测试点对的检测信号包括所述测试点对对应回路的电阻值;
所述控制处理模块用于根据所述采样电阻的分压值计算所述测试点对对应回路的电流值,并根据所述测试点对对应回路的电流值确定所述测试点对对应回路的电阻值;若存在同一所述测试点组的两个所述测试点对对应回路的电阻值的差值大于预设电阻阈值,则确定所述待测样品故障。
可选的,所述控制处理模块还包括放大电路;所述放大电路与所述采样电阻并联设置,所述放大电路用于获取所述采样电阻的分压放大值。
第二方面,本发明实施例提供了一种电路故障检测方法,适用于上述的电路故障检测装置,所述电路故障检测方法包括:
依次控制各测试点对的第一测试点以及第二测试点与待测样品的待检测点一一对应接触;
获取所述测试点对的检测信号;
判断是否存在同一测试点组的两个所述测试点对的检测信号的差值大于预设阈值,若是,则确定所述待测样品故障。
可选的,所述第一测试点以及所述第二测试点均包括导电块以及气缸;所述气缸与所述导电块一一对应连接,所述气缸还与控制处理模块电连接;
所述依次控制各测试点对的第一测试点以及第二测试点与待测样品的待检测点一一对应接触,包括:
控制所述气缸带动所述导电块运动,以使所述导电块与所述待测样品的对应的待检测点接触。
可选的,控制处理模块包括采样电阻;所述测试点对的检测信号包括所述测试点对对应回路的电流值;所述判断是否存在同一测试点组的两个所述测试点对的检测信号的差值大于预设阈值,包括:
根据所述采样电阻的分压值计算所述测试点对对应回路的电流值;
判断是否存在同一测试点组的两个所述测试点对对应回路的电流值的差值大于预设电流阈值。
可选的,控制处理模块包括采样电阻;所述测试点对的检测信号包括所述测试点对对应回路的电阻值;所述判断是否存在同一测试点组的两个所述测试点对的检测信号的差值大于预设阈值,包括:
根据所述采样电阻的分压值计算所述测试点对对应回路的电流值;
根据所述测试点对对应回路的电流值确定所述测试点对对应回路的电阻值;
判断是否存在同一测试点组的两个所述测试点对对应回路的电阻值的差值大于预设电阻阈值。
本发明提供的电路故障检测装置包括控制处理模块和至少一个测试点组,测试点组的数量根据待测样品的待检测点的分布情况决定,每个测试点组包括一个第一测试点和至少一个第二测试点,第二测试点的数量根据待测样品的待检测点的分布情况决定,每个测试点组内的第一测试点分别与一个第二测试点组成一个测试点对,并设置每个测试点对的两个测试点分别与待测样品的两个待检测点对应,而且将控制处理模块与每个测试点对的中第一测试点和第二测试点电连接,通过依次控制各测试点对的两个测试点与待测样品的两个待检测点接触,使得电路故障检测装置与待测样品的两个待检测点之间的线路形成闭合回路,进而可以获取测试点对之间的检测信号;并对同一测试点组内的所有测试点对的检测信号进行两两做差处理,若其中存在两个测试点对的检测信号的差值大于预设阈值,则确定待测样品存在故障。本发明提供的技术方案,操作过程简单,通过依次控制每个测试点对的两个测试点与待测样品的两个待检测点接触,可实现电路自动检测,提高了检测效率;同时对同一测试点组内的所有测试点对的检测信号进行两两做差处理,可以排除产品之间的差异性,提高了准确率。
附图说明
图1是本发明实施例提供的一种待测样品的结构示意图;
图2是本发明实施例提供的一种电路故障检测装置的结构示意图;
图3是本发明实施例提供的一种电路故障检测装置与待测样品的检测连接示意图;
图4是本发明实施例提供的一种电路故障检测方法的流程示意图;
图5是本发明实施例提供的另一种电路故障检测方法的流程示意图;
图6是本发明实施例提供的另一种电路故障检测方法的流程示意图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是,此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明,而非对本发明的限定。另外还需要说明的是,为了便于描述,附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部结构。
本发明实施例提供的电路故障检测装置适用于各种电路产品,本发明实施例对待测样品的形状和线路不做限定,但为更加清晰明白地说明本发明的技术方案,本发明实施例提供了一种待测样品的结构示意图,如图1所示,图1是本发明实施例提供的一种待测样品的结构示意图。参考图1所示,待测样品是一种用超薄的导电材料经过刻蚀或镭射出来的电路板,为方便说明,在该电路板上标识了10个待检测点(1、2、3、4、5、6、7、8、9、10),需要说明的是,本发明实施例对待测产品上的待检测点的数量和位置分布不做限定,可根据实际待测产品的形状和线路分布设计待检测点的数量和位置。
图2是本发明实施例提供的一种电路故障检测装置的结构示意图。如图2所示,该电路故障检测装置10包括:控制处理模块100和至少一个测试点组200;测试点组200包括第一测试点210和至少一个第二测试点220(图中示例性的表示出两个测试点组:测试点组A和测试点组B;测试点组A包括第一测试点1’、第二测试点3’和第二测试点5’;测试点组B包括第一测试点2’、第二测试点4’和第二测试点6’),第一测试点210与第二测试点220组成一个测试点对;测试点对的两个测试点分别与待测样品的两个待检测点对应设置;控制处理模块100分别与第一测试点210以及第二测试点220电连接;控制处理模块100用于依次控制各测试点对的第一测试点210以及第二测试点220与待测样品的待检测点一一对应接触,并获取测试点对的检测信号,若存在同一测试点组的两个测试点对的检测信号的差值大于预设阈值,则确定待测样品故障。
具体的,控制处理模块100可以是任何具有控制、采集、计算和处理功能的中央处理器,用于按照预设程序一次控制各测试点对与待测样品的待检测点接触,并通过施加额定电压获取测试点对之间的检测信号,进而对同一测试点组内的所有测试点对进行两两做差处理,判断待测样品是否存在故障。第一测试点和第二测试点通过与待测样品的待检测点接触,使得该电路故障检测装置与待测样品形成闭合回路,实质用于检测两个待检测点之间的电流、电压或电压信号,第一测试点和第二测试点可以是具有导电功能的探针。
为方便说明,参考图1和图2所示,本发明实施例提供了一种电路故障检测装置与待测样品的检测连接示意图。图3是本发明实施例提供的一种电路故障检测装置与待测样品的检测连接示意图,如图3所示,待测样品具有10个待检测点(1、2、3、4、5、6、7、8、9、10),本发明实施例根据待测样品的形状和待检测点的位置分布,提供的电路故障检测装置包括控制处理模块100和两个测试点组200,具体包括10个测试点(1’、2’、3’、4’、5’、6’、7’、8’、9’、10’),每个测试点分别与待测样品的10个待检测点(1、2、3、4、5、6、7、8、9、10)一一对应,并设置控制处理模块100与每个测试点(1’、2’、3’、4’、5’、6’、7’、8’、9’、10’)电连接。根据待测样品的10个待检测点的位置分布情况,可以将10个测试点分为两个测试点组,并设置测试点1’和测试点2’为两个第一测试点,测试点3’、测试点4’、测试点5’、测试点6’、测试点7’、测试点8’、测试点9’和测试点10’为八个第二测试点,而且第一测试点组包括四个测试点对,分别是1’-3’、1’-5’、1’-7’和1’-9’,第二测试点组包括四个测试点对,分别是2’-4’、2’-6’、2’-8’和2’-10’。
控制处理模块100按预设程序每次控制一个测试点对的两个测试点与待测样品的两个待检测点接触,使得电路故障检测装置与待测样品的两个待检测点之间的线路形成闭合回路,随后对相应的闭合回路施加一个预设电压,并获取测试点对之间的检测信号;最后控制处理模块100对同一测试点组内的所有测试点对的检测信号进行两两做差处理,若其中存在两个测试点对的检测信号的差值大于预设阈值,则确定待测样品存在故障。示例性的,继续参考图3所示,本发明实施例首先可以控制第一测试点1’和2’分别与待测样品的待检测点1和2接触,并对该闭合回路施加额定电压,进而获取测试点对1’-2’的之间的检测信号,首先判断整个待测样品是否存在故障;随后,控制测试点2’不与待检测点2接触,并控制测试点3’与待检测点3接触,检测测试点对1’-3’之间的检测信号并记录;以此类推,控制处理模块100一键操作,则按照预设程序依次控制各测试点对的两个测试点与待测样品的两个待检测点接触,并获取相应测试点对之间的检测信号并记录;最后控制处理模块100对第一测试点组内的所有测试点对(1’-3’、1’-5’、1’-7’和1’-9’)的检测信号进行两两做差处理,比较差值至是否超过预设阈值,对第二测试点组内的所有测试点对(2’-4’、2’-6’、2’-8’和2’-10’)的检测信号进行两两做差处理,比较差值至是否超过预设阈值,若存在同一测试点组内的两个测试点对的检测信号的差值大于预设阈值,则可以确定待测样品的线路中存在故障。
本发明提供的技术方案,操作过程简单,通过依次控制每个测试点对的两个测试点与待测样品的两个待检测点接触,可实现电路自动检测,提高了检测效率;同时对同一测试点组内的所有测试点对的检测信号进行两两做差处理,可以排除产品之间的差异性,提高了准确率。
可选的,第一测试点以及第二测试点均可以包括导电块。
具体的,导电块可以是具有导电功能的软胶块,若待测样品为超薄的导电材料形成的电路器件,本发明实施例采用较软的导电块,可以避免刮花待测产品。
可选的,第一测试点以及第二测试点还均可以包括气缸;气缸与导电块一一对应连接,气缸还与控制处理模块电连接;控制处理模块用于控制气缸带动导电块运动,以使导电块与待测样品的对应的待检测点接触。
具体的,气缸可以是引导活塞在缸内进行直线往复运动的气动元件,气缸与导电块的一一对应设置,气缸还与控制处理模块电连接,控制处理模块通过按照预设程序依次控制与各测试点对的两个导电块对应的两个气缸运动,使得气缸与导电块接触并继续带动导电块移动,直至两个导电块与待测样品的两个待检测点接触,使得电路故障检测装置与待测样品之间形成闭合回路。
可选的,控制处理模块还可以包括采样电阻;测试点对的检测信号可以包括测试点对对应回路的电流值;控制处理模块用于根据采样电阻的分压值计算测试点对对应回路的电流值,若存在同一测试点组的两个测试点对对应回路的电流值的差值大于预设电流阈值,则确定待测样品故障。
具体的,采样电阻可以与测试点对的两个测试点串联,控制处理模块控制测试点对的两个与待测样品的两个待检测点接触形成闭合回路后,对闭合回路施加一个额定电压,通过采集采样电阻的分压可以计算获得测试对应闭合回路的电流,即测试点对的检测信号为测试点对对应回路的电流值,通过对同一测试点组内的所有测试点对对应回路的电流值进行两两做差处理,若存在差值大于预设阈值的情况,则可以判断待测样品存在故障。
可选的,控制处理模块还可以包括采样电阻;测试点对的检测信号可以包括测试点对对应回路的电阻值;控制处理模块用于根据采样电阻的分压值计算测试点对对应回路的电流值,并根据测试点对对应回路的电流值确定测试点对对应回路的电阻值;若存在同一测试点组的两个测试点对对应回路的电阻值的差值大于预设电阻阈值,则确定待测样品故障。
具体的,采样电阻可以与测试点对的两个测试点串联,控制处理模块控制测试点对的两个与待测样品的两个待检测点接触形成闭合回路后,对闭合回路施加一个额定电压,通过采集采样电阻的分压可以计算出测试点对之间的分压和电流值,进而可以计算获得测试点对对应回路的电阻值,即测试点对的检测信号为测试点对对应回路的电阻值,通过对同一测试点组内的所有测试点对对应回路的电阻值进行两两做差处理,若存在差值大于预设阈值的情况,则可以判断待测样品存在故障。
可选的,控制处理模块还可以包括放大电路;放大电路与采样电阻并联设置,放大电路用于获取采样电阻的分压放大值。
具体的,放大电路可以与采样电阻并联设置,用于将采样电阻两端的分压进行放大,通过放大电路放大采样电阻两端的电压,可以保证采样的精准性,进一步提高检测的准确性。
本发明实施例提供的电路故障检测装置通过依次控制各测试点对的两个测试点与待测样品的两个待检测点接触,使得电路故障检测装置与待测样品的两个待检测点之间的线路形成闭合回路,进而可以获取测试点对之间的检测信号;并对同一测试点组内的所有测试点对的检测信号进行两两做差处理,若其中存在两个测试点对的检测信号的差值大于预设阈值,则确定待测样品存在故障,操作过程简单,可实现电路自动检测,提高了检测效率;同时对同一测试点组内的所有测试点对的检测信号进行两两做差处理,可以排除产品之间的差异性,提高了准确率;另外通过将放大电路与采样电阻并联设置可以保证采样的精准性,进一步提高检测的准确性。
基于同一构思,本发明实施例还提供了一种电路故障检测方法,适用于上述任一实施例提供的电路故障检测装置。图4是本发明实施例提供的一种电路故障检测方法的流程示意图。如图4所示,该电路故障检测方法包括:
S110、依次控制各测试点对的第一测试点以及第二测试点与待测样品的待检测点一一对应接触。
S120、获取测试点对的检测信号。
S130、判断是否存在同一测试点组的两个测试点对的检测信号的差值大于预设阈值;若是,则执行S140。
S140、确定待测样品故障。
本发明提供的技术方案,操作过程简单,通过依次控制每个测试点对的两个测试点与待测样品的两个待检测点接触,可实现电路自动检测,提高了检测效率;同时对同一测试点组内的所有测试点对的检测信号进行两两做差处理,可以排除产品之间的差异性,提高了准确率。
可选的,第一测试点以及第二测试点均可以包括导电块以及气缸;气缸与导电块一一对应连接,气缸还与控制处理模块电连接;依次控制各测试点对的第一测试点以及第二测试点与待测样品的待检测点一一对应接触,包括:控制气缸带动导电块运动,以使导电块与待测样品的对应的待检测点接触。
本发明实施例采用较软的导电块,可以避免刮花待测产品。设置气缸与导电块的一一对应设置,气缸还与控制处理模块电连接,控制处理模块通过按照预设程序依次控制与各测试点对的两个导电块对应的两个气缸运动,使得气缸与导电块接触并继续带动导电块移动,直至两个导电块与待测样品的两个待检测点接触,使得电路故障检测装置与待测样品之间形成闭合回路。
在上述实施例的基础上,本发明实施例还提供了另一种电路故障检测方法。图5是本发明实施例提供的另一种电路故障检测方法的流程示意图。如图5所示,控制处理模块包括采样电阻;测试点对的检测信号包括测试点对对应回路的电流值;该电路故障检测方法包括:
S210、依次控制各测试点对的第一测试点以及第二测试点与待测样品的待检测点一一对应接触。
S220、获取测试点对的检测信号。
S230、根据采样电阻的分压值计算测试点对对应回路的电流值。
S240、判断是否存在同一测试点组的两个测试点对对应回路的电流值的差值大于预设电流阈值;若是,则执行S250。
S250、确定待测样品故障。
采样电阻可以与测试点对的两个测试点串联,控制处理模块控制测试点对的两个与待测样品的两个待检测点接触形成闭合回路后,对闭合回路施加一个额定电压,通过采集采样电阻的分压可以计算获得测试对应闭合回路的电流,即测试点对的检测信号为测试点对对应回路的电流值,通过对同一测试点组内的所有测试点对对应回路的电流值进行两两做差处理,若存在差值大于预设阈值的情况,则可以判断待测样品存在故障。
在上述实施例的基础上,本发明实施例还提供了另一种电路故障检测方法。图6是本发明实施例提供的另一种电路故障检测方法的流程示意图。如图6所示,控制处理模块包括采样电阻;测试点对的检测信号包括测试点对对应回路的电阻值;该电路故障检测方法包括:
S310、依次控制各测试点对的第一测试点以及第二测试点与待测样品的待检测点一一对应接触。
S320、获取测试点对的检测信号。
S330、根据采样电阻的分压值计算测试点对对应回路的电流值。
S340、根据测试点对对应回路的电流值确定测试点对对应回路的电阻值。
S350、判断是否存在同一测试点组的两个测试点对对应回路的电阻值的差值大于预设电阻阈值;若是,则执行S360。
S360、确定待测样品故障。
采样电阻可以与测试点对的两个测试点串联,控制处理模块控制测试点对的两个与待测样品的两个待检测点接触形成闭合回路后,对闭合回路施加一个额定电压,通过采集采样电阻的分压可以计算出测试点对之间的分压和电流值,进而可以计算获得测试点对对应回路的电阻值,即测试点对的检测信号为测试点对对应回路的电阻值,通过对同一测试点组内的所有测试点对对应回路的电阻值进行两两做差处理,若存在差值大于预设阈值的情况,则可以判断待测样品存在故障。
本发明实施例提供的电路故障检测装置通过依次控制各测试点对的两个测试点与待测样品的两个待检测点接触,使得电路故障检测装置与待测样品的两个待检测点之间的线路形成闭合回路,进而可以获取测试点对之间的检测信号;并对同一测试点组内的所有测试点对的检测信号进行两两做差处理,若其中存在两个测试点对的检测信号的差值大于预设阈值,则确定待测样品存在故障,操作过程简单,可实现电路自动检测,提高了检测效率;同时对同一测试点组内的所有测试点对的检测信号进行两两做差处理,可以排除产品之间的差异性,提高了准确率;另外通过将放大电路与采样电阻并联设置可以保证采样的精准性,进一步提高检测的准确性。
注意,上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解,本发明不限于这里所述的特定实施例,对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此,虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明,但是本发明不仅仅限于以上实施例,在不脱离本发明构思的情况下,还可以包括更多其他等效实施例,而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (10)

1.一种电路故障检测装置,其特征在于,包括控制处理模块和至少一个测试点组;
所述测试点组包括第一测试点和至少一个第二测试点,所述第一测试点与所述第二测试点组成一个测试点对;所述测试点对的两个测试点分别与待测样品的两个待检测点对应设置;
所述控制处理模块分别与所述第一测试点以及所述第二测试点电连接;所述控制处理模块用于依次控制各所述测试点对的所述第一测试点以及所述第二测试点与所述待测样品的待检测点一一对应接触,并获取所述测试点对的检测信号,若存在同一所述测试点组的两个所述测试点对的检测信号的差值大于预设阈值,则确定所述待测样品故障。
2.根据权利要求1所述的电路故障检测装置,其特征在于,所述第一测试点以及所述第二测试点均包括导电块。
3.根据权利要求2所述的电路故障检测装置,其特征在于,所述第一测试点以及所述第二测试点还均包括气缸;
所述气缸与所述导电块一一对应连接,所述气缸还与所述控制处理模块电连接;
所述控制处理模块用于控制所述气缸带动所述导电块运动,以使所述导电块与所述待测样品的对应的待检测点接触。
4.根据权利要求1所述的电路故障检测装置,其特征在于,所述控制处理模块包括采样电阻;所述测试点对的检测信号包括所述测试点对对应回路的电流值;
所述控制处理模块用于根据所述采样电阻的分压值计算所述测试点对对应回路的电流值,若存在同一所述测试点组的两个所述测试点对对应回路的电流值的差值大于预设电流阈值,则确定所述待测样品故障。
5.根据权利要求1所述的电路故障检测装置,其特征在于,所述控制处理模块包括采样电阻;所述测试点对的检测信号包括所述测试点对对应回路的电阻值;
所述控制处理模块用于根据所述采样电阻的分压值计算所述测试点对对应回路的电流值,并根据所述测试点对对应回路的电流值确定所述测试点对对应回路的电阻值;若存在同一所述测试点组的两个所述测试点对对应回路的电阻值的差值大于预设电阻阈值,则确定所述待测样品故障。
6.根据权利要求4或5所述的电路故障检测装置,其特征在于,所述控制处理模块还包括放大电路;所述放大电路与所述采样电阻并联设置,所述放大电路用于获取所述采样电阻的分压放大值。
7.一种电路故障检测方法,其特征在于,适用于上述权利要求1-6任一项所述的电路故障检测装置,所述电路故障检测方法包括:
依次控制各测试点对的第一测试点以及第二测试点与待测样品的待检测点一一对应接触;
获取所述测试点对的检测信号;
判断是否存在同一测试点组的两个所述测试点对的检测信号的差值大于预设阈值,若是,则确定所述待测样品故障。
8.根据权利要求7所述的电路故障检测方法,其特征在于,所述第一测试点以及所述第二测试点均包括导电块以及气缸;所述气缸与所述导电块一一对应连接,所述气缸还与控制处理模块电连接;
所述依次控制各测试点对的第一测试点以及第二测试点与待测样品的待检测点一一对应接触,包括:
控制所述气缸带动所述导电块运动,以使所述导电块与所述待测样品的对应的待检测点接触。
9.根据权利要求7所述的电路故障检测方法,其特征在于,控制处理模块包括采样电阻;所述测试点对的检测信号包括所述测试点对对应回路的电流值;所述判断是否存在同一测试点组的两个所述测试点对的检测信号的差值大于预设阈值,包括:
根据所述采样电阻的分压值计算所述测试点对对应回路的电流值;
判断是否存在同一测试点组的两个所述测试点对对应回路的电流值的差值大于预设电流阈值。
10.根据权利要求7所述的电路故障检测方法,其特征在于,控制处理模块包括采样电阻;所述测试点对的检测信号包括所述测试点对对应回路的电阻值;所述判断是否存在同一测试点组的两个所述测试点对的检测信号的差值大于预设阈值,包括:
根据所述采样电阻的分压值计算所述测试点对对应回路的电流值;
根据所述测试点对对应回路的电流值确定所述测试点对对应回路的电阻值;
判断是否存在同一测试点组的两个所述测试点对对应回路的电阻值的差值大于预设电阻阈值。
CN202011322730.5A 2020-11-23 2020-11-23 一种电路故障检测装置及检测方法 Pending CN112345922A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202011322730.5A CN112345922A (zh) 2020-11-23 2020-11-23 一种电路故障检测装置及检测方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202011322730.5A CN112345922A (zh) 2020-11-23 2020-11-23 一种电路故障检测装置及检测方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN112345922A true CN112345922A (zh) 2021-02-09

Family

ID=74365302

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202011322730.5A Pending CN112345922A (zh) 2020-11-23 2020-11-23 一种电路故障检测装置及检测方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN112345922A (zh)

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1979195A (zh) * 2005-12-05 2007-06-13 英业达股份有限公司 故障检测方法
CN201796103U (zh) * 2010-08-30 2011-04-13 中国航天科工集团第三研究院第八三五八研究所 提高总线板测试效率的装置
CN106226684A (zh) * 2016-09-22 2016-12-14 合肥京东方光电科技有限公司 装配印刷电路板测试装置
CN106680630A (zh) * 2016-12-29 2017-05-17 北京金风科创风电设备有限公司 导电滑环故障测试装置和测试方法
CN106841889A (zh) * 2016-11-24 2017-06-13 深圳市燕麦科技股份有限公司 一种短路开路测试方法及系统
CN106990343A (zh) * 2017-04-25 2017-07-28 邵敏 电子元器件的测试方法及系统
CN107192940A (zh) * 2017-04-27 2017-09-22 中国石油天然气股份有限公司 一种检测电路板工作状态的装置
CN110514949A (zh) * 2019-09-09 2019-11-29 珠海格力智能装备有限公司 印制电路板组件的检测方法、装置、存储介质和处理器

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1979195A (zh) * 2005-12-05 2007-06-13 英业达股份有限公司 故障检测方法
CN201796103U (zh) * 2010-08-30 2011-04-13 中国航天科工集团第三研究院第八三五八研究所 提高总线板测试效率的装置
CN106226684A (zh) * 2016-09-22 2016-12-14 合肥京东方光电科技有限公司 装配印刷电路板测试装置
CN106841889A (zh) * 2016-11-24 2017-06-13 深圳市燕麦科技股份有限公司 一种短路开路测试方法及系统
CN106680630A (zh) * 2016-12-29 2017-05-17 北京金风科创风电设备有限公司 导电滑环故障测试装置和测试方法
CN106990343A (zh) * 2017-04-25 2017-07-28 邵敏 电子元器件的测试方法及系统
CN107192940A (zh) * 2017-04-27 2017-09-22 中国石油天然气股份有限公司 一种检测电路板工作状态的装置
CN110514949A (zh) * 2019-09-09 2019-11-29 珠海格力智能装备有限公司 印制电路板组件的检测方法、装置、存储介质和处理器

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US20120049857A1 (en) Programmable Gain Trans-Impedance Amplifier Overload Recovery Circuit
CN109444650B (zh) 超大尺寸电容屏单膜的开短路测试方法及装置
CN106526456B (zh) 一种集成电路在线测试装置和测试方法
CN110440955B (zh) 一种热电阻调理模块响应时间测试系统
JP2002156399A (ja) 回路基板の検査装置及び検査方法
US9753075B2 (en) Inspection apparatus and inspection method
CN108549009B (zh) 解决vr掉电时序测试powergood信号不单调的方法及系统
CN112345922A (zh) 一种电路故障检测装置及检测方法
CN110991131B (zh) 一种用于fpga的结温动态调节装置和方法
CN113960456B (zh) 电路接口微损伤自动检测方法
CN109188143B (zh) 一种检测电容式触摸屏功能片的方法及系统
JP2007333465A (ja) 検査装置
CN111766836A (zh) 智能制造方法和系统
GB2278965A (en) Electrical continuity testing apparatus
CN1272634C (zh) 检测成批的电气部件
CN219777811U (zh) 一种阻抗测试装置
CN104569502A (zh) 一种具有自动对位功能的电板检测治具
US7221180B2 (en) Device and method for testing electronic components
CN211928089U (zh) 一种印刷电路板组件的检测装置
CN115656758B (zh) 一种半导体cv特性空夹具检测的方法
TWI652484B (zh) 探針卡線上調針維修系統及其方法
CN111796208A (zh) 一种键盘开短路检测装置及方法
CN113804948B (zh) 一种适用于多路并联电路的电流采样方法
CN104614643A (zh) 线路中短路位置的检测装置及方法
CN219039276U (zh) 一种首件pcb板自动化检测装置

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination