CN106574940A - 带引线热敏电阻的电阻测量装置 - Google Patents

带引线热敏电阻的电阻测量装置 Download PDF

Info

Publication number
CN106574940A
CN106574940A CN201580037071.1A CN201580037071A CN106574940A CN 106574940 A CN106574940 A CN 106574940A CN 201580037071 A CN201580037071 A CN 201580037071A CN 106574940 A CN106574940 A CN 106574940A
Authority
CN
China
Prior art keywords
critesistor
lead
temperature
support
measurement
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201580037071.1A
Other languages
English (en)
Other versions
CN106574940B (zh
Inventor
户田圭
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Murata Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Murata Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Murata Manufacturing Co Ltd filed Critical Murata Manufacturing Co Ltd
Publication of CN106574940A publication Critical patent/CN106574940A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN106574940B publication Critical patent/CN106574940B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/02Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01CRESISTORS
    • H01C7/00Non-adjustable resistors formed as one or more layers or coatings; Non-adjustable resistors made from powdered conducting material or powdered semi-conducting material with or without insulating material
    • H01C7/04Non-adjustable resistors formed as one or more layers or coatings; Non-adjustable resistors made from powdered conducting material or powdered semi-conducting material with or without insulating material having negative temperature coefficient

Abstract

本发明主要是提供一种带引线的电子元器件的电阻测量装置,其能够防止测量精度可靠性的降低。包括:在使多个带引线热敏电阻(W)排列的状态下,保持引线部分(b)的工件托架(12);在支承工件托架(12)以使热敏电阻部分(a)突出的状态下,能在规定方向上传送带引线热敏电阻(W)的支承部(14);收纳使热敏电阻部分(a)浸渍的载热体的浸渍槽(26);以及在引线部分(b)的长边方向观察时,通过使测量端子(46)在气氛中接触至与热敏电阻部分(a)相反一侧的引线部分(b)的前端部,来对带引线热敏电阻(W)的电阻值进行测量的测量部(40),在支承部(14)中内置使与浸渍槽(26)的载热体(h)相同的载热体循环的循环流路(24),在浸渍槽(26)中被加热的热敏电阻部分(a)的温度与经由在循环流路(24)内循环的载热体(h)而被加热的引线部分(a)的温度被设定成大致相同的温度。

Description

带引线热敏电阻的电阻测量装置
技术领域
本发明涉及带引线热敏电阻的电阻测量装置,该带引线热敏电阻的电阻测量装置用于对该带引线热敏电阻是否具有规定的温度特性进行判定,对带引线热敏电阻的电阻值进行测量。
背景技术
作为成为本发明的背景的现有技术的一个例子,现有一种热敏电阻电阻值测量分类装置,其包括:具有分别保持多个热敏电阻的贯通孔的环形带、收纳了该环形带所浸渍并运行的绝缘性溶剂的高低温的多个液槽、通过使测量电极在液槽中与各热敏电阻的两端接触来测量热敏电阻的电阻值的测量装置、使热敏电阻嵌入至所述环形带的贯通孔中的热敏电阻供给装置、基于来自所述测量装置的指令使热敏电阻从所述环形带的贯通孔脱离来进行分选的排出装置(例如参照专利文献1)。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本专利特开9-222441号公报(图1、图2、图3、图8、图9)
发明内容
发明所要解决的技术问题
在该现有技术所使用的“用于测量热敏电阻的电阻值的测量装置”构成为,将保持多个贴片型热敏电阻的环形带浸渍在收纳有绝缘性溶剂的温度不同的多个液槽中,通过在液槽中使测量电极接触各贴片型热敏电阻来测量各贴片型热敏电阻的电阻值,因此在利用该测量装置进行的测量中,特别是,在对具有引线部的热敏电阻等带引线电子元器件(以下称为“工件”)测量电阻值的情况下,存在各种问题。
即,对于该工件,若采用如下方式:利用纸制的固定用片材或者固定用载带等托架来固定,以传送对该工件的电阻值进行测量的前序工序及对工件的电阻值进行测量后的后序工序中的工件,则在利用上述的现有技术的“对热敏电阻的电阻值进行测量的测量装置”对该工件的电阻值进行测量的情况下,存在以下问题:一旦将工件从纸制的托架取下并转移至环形带,在测量该工件的电阻值后,需要再次保持在托架上,工序烦琐,不利于缩短测量时间。
此外,在将工件保持在纸制的托架或者环形带上的状态下,若使该托架或者环形带浸渍在液槽中,则液槽中的绝缘性溶剂附着在纸制的托架上,因此存在例如托架不能用作保持出货用工件的问题。在该情况下,虽然考虑从附着了绝缘性溶剂的托架取下工件并将该工件转移至其他出货用的托架,但是会增加转移工序,相应地,工序数变多,产生问题。然而,在将工件整体浸渍在液槽中的情况下,与将工件的一部分浸渍在液槽中的情况相比,液槽中的绝缘性溶剂消耗更多,因此会产生成本变高的问题。
因此,为了解决上述各种问题,考虑在将工件保持在纸制的托架或者环形带的状态下,仅使工件的一部分(例如,带引线热敏电阻的热敏电阻部分)浸渍在液槽中,而不使该托架或者环形带浸渍在液槽中。
然而,在仅将工件(例如,带引线热敏电阻)的一部分(例如,热敏电阻部分)浸渍在液槽中的情况下,在工件的一部分和除此以外的部分(例如,引线部分)之间产生温度差,因此该工件的一部分的温度不稳定,从而成为导致电阻值的测量产生误差的主要原因。因此,可能会导致测量精度的可靠性降低。
因此,本发明的主要目的是提供一种带引线的电子元器件的电阻测量装置,其能够防止测量精度的可靠性降低,并且能够实现缩短测量时间和减少测量成本。
解决技术问题的技术方案
权利要求1所述的本发明涉及一种电阻测量装置,用于对带引线热敏电阻是否具有规定的温度特性进行判定,通过使测量端子与带引线热敏电阻的引线部分接触,来对带引线热敏电阻的电阻值进行测量,其特征在于,包括:工件托架,该工件托架在使多个带引线热敏电阻排列的状态下,保持引线部分;支承部,该支承部能在支承工件托架以使带引线热敏电阻的热敏电阻部分从端部突出的状态下,在规定的方向上传送多个带引线热敏电阻;浸渍槽,该浸渍槽收纳了供热敏电阻部分浸渍的规定温度的载热体;以及测量部,该测量部在引线部分的长边方向观察时,通过使测量端子在气氛中接触热敏电阻部分相反侧的引线部分的前端部,来对带引线热敏电阻的电阻值进行测量,支承部中内置循环流路,其中循环有与浸渍槽的载热体相同的载热体,浸渍在浸渍槽的载热体而被加热的热敏电阻部分的温度与经由在支承部的循环流路内循环的载热体而被加热的引线部分的温度成为大致相同的温度。
在权利要求1所涉及的本发明中,通过具有上述结构,与浸渍槽的载热体相同的载热体在支承部的循环流路中循环,从而能使浸渍槽与支承部的温度差变得极小。因此,在本发明中,能够防止由来自被支承部支承的带引线热敏电阻的引线部分的热传递导致的温度降低,并能防止测量精度可靠性的浸渍。此外,在本发明中,特别使带引线热敏电阻的热敏电阻部分浸渍,而不使工件托架整体浸渍在载热体中,从而能节约载热体的消耗量。而且,在用例如纸来形成工件托架的情况下,由于能够将该工件托架用作工件保持部,以用于在测量后的带引线热敏电阻的后序工序中进行出货/传送等,因此能够节省如现有技术(例如参照专利文献1)那样,从环形带转移至其他工件托架的工序。
即,在本发明中,能够极大地减少热传递影响,并且能够减少载热体的消耗量,且能够将工件托架用作出货用的工件保持部,因此能够防止测量精度可靠性的降低,并且能够实现缩短测量时间和减少测量成本。
权利要求2所涉及的本发明从属于权利要求1所涉及的发明,该带引线热敏电阻的电阻测量装置的特征在于,工件托架包括保持引线部分的带状的工件托架,支承部包括支承部,该支承部具有相对的端部,在对工件托架进行支承,以使热敏电阻部分从一端部突出并且引线部分的前端侧从另一端部突出的状态下,能在规定方向上传送多个带引线热敏电阻,使浸渍槽的载热体在浸渍槽和支承部的循环流路之间循环,使得热敏电阻部分的温度与引线部分的温度成为大致相同的温度。
权利要求2所涉及的本发明,通过具有上述的结构,特别是使浸渍槽的载热体在浸渍槽和支承部的循环流路之间循环,利用该载热体,使得热敏电阻部分的温度与引线部分的温度成为大致相同的温度,因此能够使热敏电阻部分的温度与引线部分的温度的温度差变得极小。因此,在本发明中,能够使由该温度差导致的带引线热敏电阻的电阻值的测量误差变得极小,从而能够防止测量精度可靠性的降低。
权利要求3所涉及的本发明从属于权利要求1或权利要求2所涉及的发明,如权利要求1或权利要求2所述的带引线热敏电阻的电阻测量装置,其特征在于,所述电阻测量装置还包括:基准样品用支承部,该基准样品用支承部对基准样品用工件托架进行支承,该基准样品用工件托架对成为测量对象的多个带引线热敏电阻之外的、成为基准样品且规定的温度特性和电阻值明确的基准样品用的带引线热敏电阻的引线部分进行保持;以及内置于基准样品用支承部的流路,使浸渍槽的载热体在浸渍槽和支承部的循环流路和基准样品用支承部的流路之间循环,参照基准样品用的带引线热敏电阻的电阻值,对成为测量对象的多个带引线热敏电阻的测量后的电阻值进行校正,使得成为测量对象的多个带引线热敏电阻的热敏电阻部分和引线部分的温度与基准样品用的带引线热敏电阻的热敏电阻部分的温度和引线部分的温度成为大致相同的温度。
权利要求3所涉及的本发明中,通过具有上述的结构,即使浸渍槽的载热体的温度发生了变动,成为测量对象的多个带引线热敏电阻和基准样品用的带引线热敏电阻基准样品也同样地温度变动。此时,在本发明中,能够参照规定的温度特性和电阻值明确的基准样品用的带引线热敏电阻的测量值,对成为测量对象的多个带引线热敏电阻的测量后的电阻值进行校正。因此,在本发明中,即使浸渍槽的载热体由于外部影响等导致温度变动,也能防止测量精度变差。
另外,在上述发明中,在使多个带引线热敏电阻排列的状态下,保持引线部分的工件托架优选为由纸或合成树脂形成,特别是进一步优选为用纸形成。此外,支承部的循环流路进一步优选为,形成为与支承部的外观方式对应的环状的循环流路。而且,将带引线热敏电阻的热敏电阻部分浸渍在浸渍槽的载热体中的位置与使载热体在浸渍槽和支承部的循环流路之间循环的出入口的位置优选为彼此远离,而非彼此接近。其原因在于,若两者的位置靠近,则相互作用所引起的漩涡流动、搅拌流动等对浸渍槽带来不良影响,使得浸渍槽内的载热体的温度可能会产生由于该浸渍槽的位置不同导致的温度变化。
发明效果
根据本发明,能够获得一种带引线的电子元器件的电阻测量装置,其能够防止测量精度的可靠性降低,并且能够实现缩短测量时间和减少测量成本。
本发明的上述目的、其他目的、特征以及优点能通过参照附图对以下的用于实施本发明的实施方式进行说明来进一步明确。
附图说明
图1是示出本发明所涉及的带引线热敏电阻的电阻测量装置的一个实施方式的主要部分的简要主视图。
图2(A)是示出支承部的一个示例的主要部分俯视说明图,图2(B)是其主要部分的剖视说明图,图2(C)是其主要部分的仰视说明图。
图3是示出图1的带引线热敏电阻的电阻测量装置的其他主要部分的简要主视图。
图4是图3中用单点划线包围的x部的放大图。
图5是示出本发明所涉及的带引线热敏电阻的电阻测量装置的其他实施方式的简要主视图。
具体实施方式
图1是示出本发明所涉及的带引线热敏电阻的电阻测量装置的一个实施方式的主要部分的简要主视图。
该带引线热敏电阻的电阻测量装置10用于对带引线热敏电阻是否具有规定的温度特性进行判定,其对带引线热敏电阻的电阻值进行测量。因此,首先,对于用该电阻测量装置10进行测量的带引线热敏电阻W进行简单说明。带引线热敏电阻W例如如图1和图4所示的带引线热敏电阻,其包括将陶瓷材料作为主要成分的热敏电阻部分a、以及经由焊料(未图示)连接至热敏电阻部分a并且配置成相平行的一对引线部分b。在图1所示的电阻测量装置10中,例如对带引线NTC热敏电阻的测量值进行测量。
带引线热敏电阻的电阻测量装置10中,例如如图1所示,包括支承部14,该支承部14在使多个带引线热敏电阻(以下,称为工件W)排列的状态下,对保持工件W的一对引线部分b、b的工件托架12进行支承。支承部14如图1和图2所示,例如包括圆板状的固定圆板16和旋转圆板18。固定圆板16和旋转圆板18在其中央部进行俯视时,分别具有例如圆形的贯通孔17和19。固定圆板16和旋转圆板18以铝等高热传导率材料形成,在其外表面实施用于确保绝缘性的表面处理。
另一方面,固定板16如图2(A)、图2(B)所示,例如在俯视时具有圆环状的槽部20,如图2(B)所示,该固定板16与旋转圆板18重合。此时,固定板16的贯通孔17和旋转板18的贯通孔19连通,成为支承部14的贯通孔15,而且槽部20如图2(A)所示,在支承部14内形成循环流路24。
此外,旋转圆板18可自由旋转地支承于固定圆板16,旋转圆板18通过经由旋转轴S连接的电动机M的驱动进行自由旋转。
如图1所示,例如带状的工件托架12沿着该支承部14的旋转圆板18的外周面,由该支承部14支承。工件托架12例如由纸或者合成树脂形成,如图1所示,具有供各工件W的一对引线部分b、b的一部分、例如该引线部分b、b的长边方向的大致中央部插入的狭缝部(未图示),通过该狭缝部,对各工件W的一对引线部分b、b的长边方向的中间部进行保持。
支承部14如图1所示,在该支承部14的外周面上,具有在该支承部14的半径方向正交的方向相对的端部14A、14B,能在支承工件托架12的状态下,将多个工件W在规定的方向上,该情况下,沿着支承部14的圆周方向进行传送,使得热敏电阻部分a从一端部14A突出,并且一对引线部分b、b的前端侧从另一端部14B突出。
该带引线热敏电阻的电阻测量装置10如图1所示,还包含配置在上述支承部14的下方的浸渍槽26。在浸渍槽26中,收纳载热体h,以使各工件W的热敏电阻部分a浸渍在规定温度的载热体。该载热体h例如使用油,通过热源(未图示)设定成规定的温度。载热体h经由配管28,利用泵P进行泵送。被泵送的载热体h经由输入管30,输入至支承部14的循环流路24。输入至循环流路24的载热体h在该循环流路24中旋转后,再经由输出管32,再次输出至浸渍槽26。即,收纳在浸渍槽26的载热体h经由输入管30和输出管32,在浸渍槽26和支承部14的循环流路24中循环。
另外,作为载热体,除了油以外,也可以使用具有优异的电绝缘性和热特性的氟类惰性液体等绝缘性液体。
而且,该带引线的热敏电阻的电阻测量装置10如图3和图4所示,包括对工件W的电阻值进行测量的测量部40。该测量部40特别是,如图4所示,包括固定在支承部14的固定圆板16的块状的基底部42,在基底部42配设汽缸等的致动器44。在致动器44的轴向的前端侧,设置有安装构件48,用于安装测量端子例如多个探针46。在安装于该安装构件48的前端面的多个探针46的前方,在与该多个探针46之间隔开规定的间隔,配置例如横向较长的矩形板状的夹持构件50。夹持构件50例如利用截面为矩形的2个支承棒52、54来进行支撑。在该情况下,2个支承棒52、54彼此平行地配置,分别将其长边方向的一端固定于基底部42,将其长边方向的另一端固定于夹持构件50。
在该测量部40中,在工件W的一对引线部分b、b的长边方向观察时,工件W的与热敏电阻部分a相反一侧的引线部分b、b的前端部夹持在上述的多个探针46和夹持构件50之间,通过与多个探针46接触,来测量该工件W的电阻值。在该情况下,工件W的电阻值是在大气中测量而得的。
接着,对于使用了上述的电阻测量装置10的电阻测量方法的一个示例进行说明。
首先,在使多个工件W排列的状态下,对工件W的一对引线部分b、b进行保持的工件托架12可自由拆卸地安装在支承部14的旋转圆板18的外周面来受到支承。接着,使支承部14的旋转圆板18在规定的方向上进行传送,并将工件W的热敏电阻部分a浸渍在浸渍槽26的载热体h中。之后,通过将在热敏电阻部分a附着了载热体h的工件W传送至测量部40,并与多个探针46接触,从而测量该工件W的电阻值。
在该电阻测量装置10中,特别是,通过使浸渍槽26的载热体h在浸渍槽26与支承部14的循环流路24之间循环,使工件W的热敏电阻部分a的温度与工件W的一对引线部分b、b的温度成为大致相同的温度。
在本实施方式所涉及的电阻测量装置10和使用了该电阻测量装置10的电阻测量方法中,通过使浸渍槽26的载热体h在浸渍槽26和支承部14的循环流路24之间循环,利用该载热体h,使得工件W的热敏电阻部分a的温度与一对引线部分b、b的温度成为大致相同的温度,因此能够使该热敏电阻部分a的温度与一对引线部分b、b的温度的温度差变得极小。因而,能够使由该温度差导致的工件W的电阻值的测量误差变得极小,从而能够防止测量精度的可靠性降低。
在上述的各实施方式所涉及的电阻测量装置10中,通过使收纳于1个浸渍槽26的载热体h循环,从而在浸渍槽26中对工件W的热敏电阻部分a进行加热,在支承部14的循环流路24中对工件W的一对引线部分b、b进行加热,但例如也可以从其他液槽泵送在支承部14的循环流路24中循环的载热体h。
图5是示出本发明所涉及的带引线热敏电阻的电阻测量装置的另一个实施方式的简要主视图。图5所示的电阻测量装置60与上述电阻测量装置10相比,特别是在以下这点上不同:通过使用温度特性已经明确的基准样品(与成为测量对象的工件W相同的物品),与工件W同样地加热基准样品,从而能够使用基准样品的电阻值,来对工件W的测量后的电阻值进行校正,除此以外,参照图1~图4,具有与已说明的上述电阻测量装置10相同的结构。
即,图5所示的带引线热敏电阻的电阻测量装置60包括基准样品用支承部66,该基准样品用支承部66对成为测量对象的多个工件W以外的基准样品用工件托架64进行支承,该基准样品用工件托架64用于保持成为基准样品的规定温度特性和电阻值明确的基准样品用的带引线热敏电阻62的一对引线部分b、b。基准样品用支承部66例如包括固定圆板68,并对样品用工件托架64进行支持,使得基准样品用的带引线热敏电阻62的热敏电阻部分a从固定圆板68的端部突出。该支承方式是与上述电阻测量装置10相同的支承结构相同的支承方式。此外,在基准样品用支承部66中内置流路(在图5中未图示)。
而且,在该电阻测量装置60中,从输入管30分支的分支管34与基准样品用支承部66连接,并且基准样品用支承部66与浸渍槽26经由配管36相连接。
因而,在该电阻测量装置60中,通过使浸渍槽26的载热体h在浸渍槽26和支承部14的循环流路24和基准样品用支承部66的流路之间循环,使得成为测量对象的多个工件W的热敏电阻部分a和一对引线部分b、b的温度与基准样品用的带引线热敏电阻62的热敏电阻部分a的温度以及一对引线部分b、b的温度成为大致相同的温度,从而能够参照基准样品用的带引线热敏电阻62的电阻值,对成为测量对象的多个工件W的测量后的电阻值进行校正。因此,在该电阻测量装置60中,即使浸渍槽26的载热体h存在由外部影响等引起的温度变动,也能够防止多个工件W的电阻值的测量精度的劣化。
在该电阻测量装置60中,基准样品用支承部66的流路与上述的电阻测量装置10的循环流路24相同,可以是与基准样品用支承部66的外观方式对应的环状的流路,此外,基准样品用支承部66也可以包括固定圆板和旋转圆板。另外,作为进行校正时的计算公式的一个示例,将基准样品用的带引线热敏电阻62的电阻值设为α,将成为测量对象的多个工件W的测量后的电阻值设为β时,成为测量对象的多个工件W的电阻测量值和基准样品用的带引线热敏电阻62的电阻值之差(%)=(β/α)-1。
标号说明
10、60 带引线热敏电阻的电阻测量装置
12 工件托架
14 支承部
14A、14B 相对的端部
15、17、19 贯通孔
16 固定板
18 旋转板
20 槽部
24 循环流路
26 浸渍槽
28、36 配管
30 输入管
32 输出管
34 分支管
40 测量部
42 基底部
44 致动器
46 探针
50 夹持构件
52、54 支承棒
62 基准样品用的带引线热敏电阻
64 基准样品用工件托架
66 基准样品用支承部
68 基准样品用支承部的固定圆板
W 带引线热敏电阻(工件)
a 带引线热敏电阻的热敏电阻部分
b 带引线热敏电阻的一对引线部分

Claims (3)

1.一种带引线热敏电阻的电阻测量装置,用于对带引线热敏电阻是否具有规定的温度特性进行判定,通过使测量端子与所述带引线热敏电阻的引线部分接触,来对所述带引线热敏电阻的电阻值进行测量,其特征在于,包括:
工件托架,该工件托架在使多个带引线热敏电阻排列的状态下,保持所述引线部分;
支承部,该支承部能在支承所述工件托架以使带引线热敏电阻的热敏电阻部分从端部突出的状态下,在规定的方向上传送多个所述带引线热敏电阻;
浸渍槽,该浸渍槽收纳了供所述热敏电阻部分浸渍的规定温度的载热体;以及
测量部,该测量部在所述引线部分的长边方向观察时,通过使所述测量端子在气氛中接触所述热敏电阻部分相反侧的所述引线部分的前端部,来对所述带引线热敏电阻的电阻值进行测量,
在所述支承部中内置循环流路,该循环流路中循环有与所述浸渍槽的载热体相同的载热体,
使得浸渍在所述浸渍槽的载热体中而被加热的所述热敏电阻部分的温度与经由在所述支承部的循环流路内循环的载热体而被加热的所述引线部分的温度成为大致相同的温度。
2.如权利要求1所述的带引线热敏电阻的电阻测量装置,其特征在于,所述工件托架包括保持所述引线部分的带状的工件托架,
所述支承部包括如下那样的支承部,该支承部具有相对的端部,能在对所述工件托架进行支承,以使所述热敏电阻部分从一个所述端部突出并且所述引线部分的前端侧从另一个所述端部突出的状态下,在规定方向上传送多个所述带引线热敏电阻,
使所述浸渍槽的载热体在所述浸渍槽和所述支承部的循环流路之间循环,使得所述热敏电阻部分的温度与所述引线部分的温度成为大致相同的温度。
3.如权利要求1或2所述的带引线热敏电阻的电阻测量装置,其特征在于,
所述电阻测量装置还包括:
基准样品用支承部,该基准样品用支承部对基准样品用工件托架进行支承,该基准样品用工件托架对成为测量对象的多个所述带引线热敏电阻之外的、成为基准样品的规定的温度特性和电阻值明确的基准样品用的带引线热敏电阻的引线部分进行保持;以及
内置于所述基准样品用支承部的流路,
使所述浸渍槽的载热体在所述浸渍槽和所述支承部的循环流路和所述基准样品用支承部的流路之间循环,参照所述基准样品用的带引线热敏电阻的电阻值,对成为所述测量对象的多个带引线热敏电阻的测量后的电阻值进行校正,使得成为所述测量对象的多个所述带引线热敏电阻的热敏电阻部分和引线部分的温度与所述基准样品用的带引线热敏电阻的热敏电阻部分的温度和引线部分的温度成为大致相同的温度。
CN201580037071.1A 2014-07-09 2015-02-27 带引线热敏电阻的电阻测量装置 Active CN106574940B (zh)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2014-141339 2014-07-09
JP2014141339 2014-07-09
PCT/JP2015/055757 WO2016006269A1 (ja) 2014-07-09 2015-02-27 リード付きサーミスタの抵抗測定装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN106574940A true CN106574940A (zh) 2017-04-19
CN106574940B CN106574940B (zh) 2019-02-15

Family

ID=55063917

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201580037071.1A Active CN106574940B (zh) 2014-07-09 2015-02-27 带引线热敏电阻的电阻测量装置

Country Status (3)

Country Link
JP (1) JP6278115B2 (zh)
CN (1) CN106574940B (zh)
WO (1) WO2016006269A1 (zh)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107817385B (zh) * 2016-09-14 2020-08-28 株式会社村田制作所 电子元件装置的电气特性测定方法、筛选方法及测定装置
CN108918592B (zh) * 2018-04-25 2023-10-03 国网湖北省电力有限公司经济技术研究院 一种电力系统防雷接地材料模块化测量装置及使用方法

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09222441A (ja) * 1996-02-16 1997-08-26 Mitsubishi Materials Corp サーミスタ抵抗値測定選別装置
KR20060076676A (ko) * 2004-12-29 2006-07-04 유니썸테크놀로지 주식회사 써미스터 저항 측정장치
JP2007240158A (ja) * 2006-03-04 2007-09-20 Murata Mfg Co Ltd サーミスタの抵抗測定装置および抵抗測定方法
CN101583858A (zh) * 2007-06-19 2009-11-18 株式会社村田制作所 带引线的温度传感器
CN101677151A (zh) * 2008-09-16 2010-03-24 株式会社村田制作所 带引线的电子零件
CN201926714U (zh) * 2010-12-20 2011-08-10 常州市科文传感器材料有限公司 一种二极管型热敏电阻高温测试系统
CN201926713U (zh) * 2010-12-20 2011-08-10 常州市科文传感器材料有限公司 一种二极管型热敏电阻测试系统的进料装置
CN203216632U (zh) * 2013-01-30 2013-09-25 株式会社村田制作所 电子元器件

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3166028B2 (ja) * 1995-09-28 2001-05-14 三菱マテリアル株式会社 抵抗値測定装置
JP2001004461A (ja) * 1999-06-22 2001-01-12 Kazuyoshi Hirai 温度計較正装置
US8840301B2 (en) * 2010-06-08 2014-09-23 Analysis & Measurement Services Corporation Diverse and redundant resistance temperature detector

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09222441A (ja) * 1996-02-16 1997-08-26 Mitsubishi Materials Corp サーミスタ抵抗値測定選別装置
KR20060076676A (ko) * 2004-12-29 2006-07-04 유니썸테크놀로지 주식회사 써미스터 저항 측정장치
JP2007240158A (ja) * 2006-03-04 2007-09-20 Murata Mfg Co Ltd サーミスタの抵抗測定装置および抵抗測定方法
CN101583858A (zh) * 2007-06-19 2009-11-18 株式会社村田制作所 带引线的温度传感器
CN101677151A (zh) * 2008-09-16 2010-03-24 株式会社村田制作所 带引线的电子零件
CN201926714U (zh) * 2010-12-20 2011-08-10 常州市科文传感器材料有限公司 一种二极管型热敏电阻高温测试系统
CN201926713U (zh) * 2010-12-20 2011-08-10 常州市科文传感器材料有限公司 一种二极管型热敏电阻测试系统的进料装置
CN203216632U (zh) * 2013-01-30 2013-09-25 株式会社村田制作所 电子元器件

Also Published As

Publication number Publication date
CN106574940B (zh) 2019-02-15
WO2016006269A1 (ja) 2016-01-14
JP6278115B2 (ja) 2018-02-14
JPWO2016006269A1 (ja) 2017-04-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN106574940A (zh) 带引线热敏电阻的电阻测量装置
CN107003169B (zh) 液面检测电路、液位计、含有液位计的容器以及使用该容器的气化器
CN104007380A (zh) 一种pcb板测试治具
TWI623742B (zh) 包含主動環境控制的探測系統和方法
US20140341563A1 (en) Process controller with integrated optical sensing
CN104136894A (zh) 用于确定气体质量流的设备和再校准这种设备的方法
CN104296887A (zh) 一种实现稳定测温的测温装置及其所在的半导体设备
CN105738009B (zh) 一种用于温度监测器的校准装置
CN107690259B (zh) 电子元件温控模块及具备该模块的检测设备
US6501290B2 (en) Direct to chuck coolant delivery for integrated circuit testing
JP2009115456A (ja) ハンドラ、テストトレイおよびメモリ装置
JP7178062B2 (ja) 低温超精密熱輸送測定用プローブシステム及びそれを含む測定装置
CN102564631A (zh) 物理量测量装置及物理量测量方法
TW200846683A (en) Monitoring burn-in test apparatus and method and heating test apparatus and method of controlling temperature therefor
TWI698627B (zh) 液體感測裝置及其感測方法
CN208959936U (zh) 一种基于气体介质的恒温装置
KR101424772B1 (ko) 냉각 팁과 진동 감쇠부를 갖는 마모 시험장치 및 그 시험 방법.
JP4621111B2 (ja) デバイス試験機構、ハンドラおよびデバイスの試験方法
JP2010014736A (ja) 電子部品特性測定装置および電子部品選別装置
WO2015040361A1 (en) Sensor for high temperature turbulent flow
JP2018185282A (ja) 支持装置
JP2004093276A (ja) 熱敏感素子測定装置
CN112557900A (zh) 一种油冷电机定子的测试系统
CN111965212A (zh) 热物性计算方法、热物性测试系统、电子设备及存储介质
CN206281919U (zh) 一种耐热水测试装置

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant