JP2007240158A - サーミスタの抵抗測定装置および抵抗測定方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】サーミスタの抵抗測定装置は、(a)抵抗値が未知の被測定ワーク4と、抵抗値測定の基準となる抵抗値を有する基準ワーク2とが互いに接近して載置され、絶縁体かつ熱伝導率が2.1W/mK以下である検測ベース13と、(b)被測定ワーク4と基準ワーク2とについて、検測ベース13に互いに接近して載置されている状態のときに、それぞれの抵抗値を測定するプローブ24〜27とを備える。
【選択図】図2
Description
測定値ずれ率(%)=(ri−r0)/r0 ×100 ・・・(1)
(1)被測定ワーク4と基準ワーク2とを接近した位置に配置することによって、2測定点間の温度分布が小さくなるため。
(2)検測ベース13の熱伝導率を小さくすることにより、測定雰囲気および熱外乱からの伝熱の差が小さくなり、検測ベース13の温度分布が小さくなるため。
(3)検測ベース13の熱伝導率を小さくすることにより、測定雰囲気および熱外乱による急激な温度変化が生じた場合に、伝熱の急激な進行が緩和されるため。
(4)被測定ワーク4と基準ワーク2とが共通の検測ベース13に接するため、熱伝導率の差がなくなり、測定雰囲気および熱外乱からの伝熱が等しくなるため。
(5)被測定ワーク4と基準ワーク2との周囲を空調し、測定雰囲気を安定させることにより、2測定点の温度分布が小さくなったため。
11 パーツフィーダー(ワーク供給部)
13 検測ベース
14 インデックステーブル(テーブル部)
24〜27 プローブ
Claims (5)
- 抵抗値が未知の被測定ワークと、抵抗値測定の基準となる抵抗値を有する基準ワークとを比較測定し、前記被測定ワークを所定の抵抗値範囲を有する複数のグループに層別するサーミスタの抵抗測定装置において、
前記被測定ワークと前記基準ワークとが互いに接近して載置され、絶縁体かつ熱伝導率が2.1W/mK以下である検測ベースと、
前記被測定ワークと前記基準ワークとについて、前記検測ベースに互いに接近して載置されている状態のときに、それぞれの抵抗値を測定するプローブと、
を備えることを特徴とする、サーミスタの抵抗測定装置。 - 前記検測ベースは、ジルコニアを主成分とする基板であることを特徴とする、請求項1に記載のサーミスタの抵抗測定装置。
- 前記検測ベースに載置された前記被測定ワークと前記基準ワークとは、それぞれの抵抗値が前記プローブで測定されるとき、それぞれの中心間の距離が4mm以内であることを特徴とする、請求項1又は2に記載のサーミスタの抵抗測定装置。
- 前記被測定ワークを整列させて搬送するテーブル部と、
前記テーブル部に前記被測定ワークを供給するワーク供給部と、
前記テーブル部から前記被測定ワークを分類して排出するワーク回収部と、
をさらに備え、
前記テーブル部が前記ワーク供給部から前記ワーク回収部まで前記被測定ワークを搬送する搬送経路の途中に、前記プローブが設けられていることを特徴とする、請求項1、2又は3に記載のサーミスタの抵抗測定装置。 - 絶縁体かつ熱伝導率が2.1W/mK以下である検測ベースに、抵抗値が未知の被測定ワークと、抵抗値測定の基準となる抵抗値を有する基準ワークとを互いに接近して載置する第1の工程と、
前記被測定ワークと前記基準ワークとについて、それぞれの抵抗値を略同時に測定する第2の工程と、
を備えることを特徴とする、サーミスタの抵抗測定方法。
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