CN105738380B - 显示装置的检查装置以及显示装置的检查方法 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及显示装置的检查装置以及显示装置的检查方法。该显示装置的检查装置包括：第一照明单元，以第一入射角向所述显示装置提供第一入射光；第二照明单元，以第二入射角向所述显示装置提供第二入射光；第三照明单元，以第三入射角向所述显示装置提供第三入射光；以及缺陷检测器，接收从由所述显示装置以第一反射角反射的所述第一入射光获得的第一反射光、从由所述显示装置以第二反射角反射的所述第二入射光获得的第二反射光、以及从由所述显示装置以第三反射角反射的所述第三入射光获得的第三反射光中的至少一个，以检测所述显示装置的缺陷。

Description

显示装置的检查装置以及显示装置的检查方法
优先权申明
本申请要求于2014年12月29日在韩国知识产权局(KIPO)提交的韩国专利申请第10-2014-0192097号的优先权和所有权益，其全部内容通过引用结合于此。
技术领域
本公开涉及显示装置的检查装置以及显示装置的检查方法。更具体地，本公开涉及包括附接在显示面板上的保护膜的显示装置的检查装置以及该显示装置的检查方法。
背景技术
近年来，开发了与阴极射线管相比具有轻重量以及小体积的各种显示装置。作为这些显示装置的例子，液晶显示装置、电湿润显示装置以及电泳显示装置被广泛使用。显示装置应用于各种信息处理装置(例如，电视机、显示器、笔记本电脑、移动电话等)以显示图像。显示装置包括显示面板以及形成在显示面板上的保护膜。
通常，在显示装置的生产线中，检查员对显示装置进行视觉检查，以检查显示装置的缺陷。然而，由于检查员导致在视觉检查的结果之间存在某种程度的差异，并且难以区分显示装置的缺陷和保护膜的缺陷，并且难以区分在显示面板上的异物和在保护膜上的异物。因此，积极研究显示装置的检查装置和检查方法。
发明内容
本公开提供了一种显示装置的检查装置，其能够将显示面板的缺陷、保护膜的缺陷、显示面板上的异物、以及保护膜上的异物彼此区分。
本公开提供了一种显示装置的检查方法。
本发明概念的实施方式提供了一种包括显示面板以及设置在所述显示面板上的保护膜的显示装置的检查装置，包括：第一照明单元、第二照明单元、第三照明单元以及缺陷检测器。第一照明单元以第一入射角向所述显示装置提供第一入射光。第二照明单元以大于所述第一入射角的第二入射角向所述显示装置提供第二入射光。第三照明单元以大于所述第二入射角的第三入射角向所述显示装置提供第三入射光。缺陷检测器接收从由所述显示装置以第一反射角反射的所述第一入射光获得的第一反射光、从由所述显示装置以第二反射角反射的所述第二入射光获得的第二反射光、以及从由所述显示装置以第三反射角反射的所述第三入射光获得的第三反射光中的至少一个，以检测所述显示装置的缺陷。
所述第一照明单元包括第一光源和第一偏振板。第一光源向所述显示装置提供所述第一入射光。第一偏振板设置在所述第一光源与所述显示装置之间，并且所述第一偏振板是线性偏振板、圆偏振板或椭圆偏振板。
所述第一照明单元进一步包括带通滤波器。带通滤波器设置在所述第一光源与所述显示装置之间。
所述第二照明单元包括第二光源和第二偏振板。第二光源向所述显示装置提供所述第二入射光。第二偏振板设置在所述第二光源与所述显示装置之间，并且所述第二偏振板是线性偏振板、圆偏振板或椭圆偏振板。
所述第三照明单元包括第三光源和第三偏振板。第三光源向所述显示装置提供所述第三入射光。第三偏振板设置在所述第三光源与所述显示装置之间，并且所述第三偏振板是线性偏振板、圆偏振板或椭圆偏振板。
所述第一照明单元包括第一偏振板，所述第二照明单元包括第二偏振板，所述第三照明单元包括第三偏振板。所述第一偏振板与所述第二偏振板偏振相同的光分量，并且所述第一偏振板与所述第三偏振板偏振不同的光分量。
所述缺陷检测器包括摄影单元和控制器。摄影单元接收所述第一反射光、所述第二反射光以及所述第三反射光中的至少一个，以拍摄所述显示装置的照片。控制器从所述摄影单元接收显示装置图像，以检测所述显示装置的缺陷。
所述摄影单元包括照相机和第四偏振板。照相机拍摄所述显示装置的照片。第四偏振板设置在所述照相机与所述显示装置之间。
所述照相机包括电荷耦合器件照相机与互补金属氧化物半导体照相机中的至少一个。
所述第四偏振板是线性偏振板、圆偏振板或椭圆偏振板。
所述第一照明单元包括第一偏振板。所述第二照明单元包括第二偏振板。所述第三照明单元包括第三偏振板。所述摄影单元包括第四偏振板。所述第一偏振板与所述第二偏振板偏振相同的光分量。所述第三偏振板与所述第四偏振板偏振相同的光分量，并且所述第一偏振板与所述第三偏振板偏振不同的光分量。
所述第一入射角在从大约0°到大约5°的范围内，所述第二入射角在从大约10°到大约20°的范围内，并且所述第三入射角在从大约30°到大约50°的范围内。
本发明概念的实施方式提供了一种包括显示面板以及设置在所述显示面板上的保护膜的显示装置的检查方法，包括：以第一入射角向所述显示装置提供第一入射光；以大于所述第一入射角的第二入射角向所述显示装置提供第二入射光；以大于所述第二入射角的第三入射角向所述显示装置提供第三入射光；以及接收从由所述显示装置以第一反射角反射的所述第一入射光获得的第一反射光、从由所述显示装置以第二反射角反射的所述第二入射光获得的第二反射光、以及从由所述显示装置以第三反射角反射的所述第三入射光获得的第三反射光中的至少一个，以检测所述显示装置的缺陷。
所述提供第一入射光包括：设置第一光源以提供所述第一入射光；以及在所述第一光源与所述显示装置之间设置第一偏振板。
所述提供第一入射光进一步包括在所述第一光源与所述显示装置之间设置带通滤波器。
所述提供第二入射光包括：设置第二光源以提供所述第二入射光；以及在所述第二光源与所述显示装置之间设置第二偏振板。
所述提供第三入射光包括：设置第三光源以提供所述第三入射光；以及在所述第三光源与所述显示装置之间设置第三偏振板。
检测所述显示装置的缺陷包括：接收所述第一反射光、所述第二反射光以及所述第三反射光中的至少一个，以拍摄所述显示装置的照片并且提供显示装置图像；并且接收显示装置图像，以检测所述显示装置的缺陷。
提供显示装置图像包括：接收所述第一反射光以拍摄所述显示装置的照片并且提供第一显示装置图像；接收所述第二反射光以拍摄所述显示装置的照片并且提供第二显示装置图像；以及接收所述第三反射光以拍摄所述显示装置的照片并且提供第三显示装置图像。
提供显示装置图像包括：设置照相机以拍摄所述显示装置的照片；并且在照相机与显示装置之间设置第四偏振板。
根据以上内容，可以将显示面板的缺陷、保护膜的缺陷、附着在显示面板的异物、以及附着在保护膜的异物彼此区分。
附图说明
由于在结合附图考虑时参照以下详细描述，将更好地理解本发明及伴随的很多优点，所以本发明的更完整的理解及伴随的很多优点是显而易见的，在附图中，相似的参考符号表示相同或相似的元件，其中：
图1是示出根据本公开的一个示例性实施方式的显示装置的检查装置的示图；
图2是示出根据本公开的一个示例性实施方式的显示装置的检查装置的示图；
图3A是示出第一入射光的截面图，所述第一入射光从包含在根据本公开的一个示例性实施方式的显示装置的检查装置内的第一照明单元提供给显示装置之后，被反射和散射；
图3B是示出第二入射光的截面图，所述第二入射光从包含在根据本公开的一个示例性实施方式的显示装置的检查装置内的第二照明单元提供给显示装置之后，被反射和散射；
图3C是示出第三入射光的截面图，所述第三入射光从包含在根据本公开的一个示例性实施方式的显示装置的检查装置内的第三照明单元提供给显示装置之后，被反射和散射；以及
图4是示出根据本公开的一个示例性实施方式的显示装置的检查方法的流程图。
具体实施方式
要理解的是，在提及部件或层位于另一个部件或层“上”、与其“连接”或与其“耦合”时，该部件或层可以直接位于所述另一个部件或层上、与其连接或与其耦合，或者可以具有中间部件或层。相反，在提及部件“直接位于”另一个部件或层“上”、与其“直接连接”或与其“直接耦合”时，没有中间部件或层。相似的数字在全文中表示相似的部件。在本文中使用的术语“和/或”包括一个或多个相关列出项的任何和所有组合。
要理解的是，虽然术语第一、第二等可以在本文中用于描述各种部件、元件、区域、层和/或部分，但是这些部件、元件、区域、层和/或部分不应受到这些术语的限制。这些术语仅仅用于区分一个部件、元件、区域、层或部分和另一个部件、元件、区域、层或部分。因此，在不背离本发明的教导内容的情况下，下面讨论的第一部件、元件、区域、层或部分可以称为第二部件、元件、区域、层或部分。
为了便于描述，“下面”、“之下”、“下部”、“之上”、“上部”等在空间上的相对术语可以用于描述图中示出的一个部件或特征与另一个(另一些)部件或特征的关系。要理解的是，除了在图中描述的方向以外，在空间上的相对术语旨在还包括在使用或操作中的装置的不同方向。例如，如果在图中的装置翻转，那么描述为位于其他部件或特征“之下”或“下面”的部件会位于其他部件或特征“之上”。因此，示例性术语“之下”可以包括之上和之下的两种方向。装置可以另外定向(旋转90°或者具有其他方向)，并且相应地解释在本文中使用的在空间上的相对描述符。
在本文中使用的术语仅仅用于描述特定实施方式的目的，并非旨在限制本发明。除非上下文另有明确说明，否则在本文中使用的单数形式“a”、“an”以及“the”也旨在包括复数形式。进一步要理解的是，在本说明书中使用术语“包括”和/或“包含”时，这些术语指定具有规定的特征、整体、步骤、操作、部件和/或元件，但是不排除具有或增加一个或多个其他特征、整体、步骤、操作、部件、元件和/或其组。
除非另有规定，否则在本文中使用的所有术语(包括技术和科学术语)具有与本发明所属的领域的技术人员通常理解的意义相同的意义。还要理解的是，诸如常用词典内定义的术语应解释为具有与其在相关技术的背景中意义一致的意义，并且不理想化地或过于刻板地解释，除非在本文中明确这样规定。
在下文中，将参照附图详细解释本发明。
图1是示出根据本公开的一个示例性实施方式的显示装置100的检查装置10的示图，并且图2是示出根据本公开的一个示例性实施方式的显示装置的检查装置的示图。
参照图1和图2，显示装置100的检查装置10包括第一照明单元210、第二照明单元220、第三照明单元230以及缺陷检测器300。
显示装置100的检查装置10检查显示装置100的缺陷，例如，裂纹、划痕等。显示装置100包括显示面板110以及设置在显示面板110上的保护膜120。
显示面板110是有机发光显示面板、液晶显示面板、电泳显示面板或电湿润显示面板，但是不应限于特定的显示面板。
在显示面板110上可能存在诸如裂纹、划痕等缺陷111以及灰尘、废物等异物112。
保护膜120设置在显示面板110上。保护膜120保护显示面板110。保护膜120可以具有优异的透明性、机械强度、热稳定性、防潮性以及各向异性。保护膜120由三乙酰纤维素(TAC)、盘状液晶(discotic liquid crystal)涂层、由Sumitomo.Kagaku Co.,Ltd.生产的VAC、环烯烃聚合物(COP)、环烯烃共聚物(COC)、聚碳酸酯(PC)、聚对苯二甲酸乙二醇酯(PET)、聚丙烯(PP)、聚砜(PSF)、以及聚甲基丙烯酸甲酯(PMMA)中的至少一种构成。
保护膜120具有光学各向异性。保护膜120延迟光的相位。例如，保护膜120具有偏振轴或者慢轴，以延迟沿着偏振轴或者慢轴振动的光的相位。保护膜120对线性偏振的光圆形偏振或者对圆形偏振的光线性偏振，但是不应限于此或者由此限制。
在保护膜120上可能存在诸如裂纹、划痕等缺陷121以及例如灰尘、废物等异物112。
图3A是示出了第一入射光L11的截面图，第一入射光L11从包含在根据本公开的一个示例性实施方式的显示装置100的检查装置10中的第一照明单元210提供给显示装置100之后，被反射和散射。
参照图1、2以及3A，第一照明单元210以第一入射角θ11向显示装置100提供第一入射光L11。第一入射光L11与显示装置100的参考轴AX形成第一入射角θ11。参考轴AX与显示面板110的厚度方向基本平行。第一入射角θ11在从大约0°到大约5°的范围内，但是不应限于此或者由此限制。
在将第一入射光L11提供给显示装置100时，第一入射光L11由显示装置100以第一反射角θ12反射，以生成第一反射光L12。第一反射光L12被提供给缺陷检测器300。为了方便说明，在图1中第一反射角θ12与第一入射角θ11不同，但是根据实施方式第一反射角θ12可以与第一入射角θ11基本相同。
第一反射光L12包括从保护膜120的上表面反射的第一保护反射光L12_1以及在透过保护膜120之后从显示面板110的上表面反射的第一显示反射光L12_2。第一反射光L12包括从显示面板110的没有缺陷111和异物112的区域反射的光以及从保护膜120的没有缺陷121和异物122的区域反射的光。
在将第一入射光L11提供给显示装置100时，由存在于显示面板110上的缺陷111、存在于保护膜120上的缺陷121、附着至显示面板110的异物112以及与附着至保护膜120的异物122产生第一散射光L13。第一散射光L13被提供给缺陷检测器300。
第一散射光L13包括由附着至保护膜120的灰尘或废物的异物122散射的第一保护异物散射光L13_1、由附着至显示面板110的灰尘或废物的异物112散射的第一显示异物散射光L13_2、由存在于保护膜120上的缺陷121散射的第一保护散射光L13_3、以及由存在于显示面板110上的缺陷111散射的第一显示散射光L13_4。
第一照明单元210包括第一光源211和第一偏振板212。第一光源211向显示装置100提供光。第一偏振板212设置在第一光源211与显示装置100之间。第一偏振板212偏振从第一光源211中提供的光。第一偏振板212可以是但不限于线性偏振板、圆偏振板或椭圆偏振板。
例如，在从第一光源211中提供的光是未偏振的光并且第一偏振板212是圆偏振板时，从第一光源211提供的光在透过第一偏振板212的同时被左圆偏振。即，以第一入射角θ11将左圆偏振的光提供给显示装置100，作为第一入射光L11。
在由保护膜120的上表面反射之后，第一入射光L11可被右圆偏振。因此，由保护膜120的上表面反射的第一保护反射光L12_1、由附着至保护膜120的异物122散射的第一保护异物散射光L13_1、以及由存在于保护膜120上的缺陷121散射的第一保护散射光L13_3中的每个可以是右圆偏振的光。
第一入射光L11在透过具有光学各向异性的保护膜120的同时，在水平方向被线性偏振，并且在由显示面板110的上表面反射之后，在水平方向线性偏振的光在垂直方向被线性偏振。在垂直方向线性偏振的光在透过保护膜120的同时，被右圆偏振。
因此，由显示面板110的上表面反射的第一显示反射光L12_2、由附着至显示面板110的异物112散射的第一显示异物散射光L13_2、以及由存在于显示面板110上的缺陷111散射的第一显示散射光L13_4可以是右圆偏振的光。
参照图2，第一照明单元210可以进一步包括带通滤波器BPF。带通滤波器BPF设置在第一光源211与显示装置100之间。图2示出了设置在第一光源211与第一偏振板212之间的带通滤波器BPF，但是不应限于此或者由此限制。即，带通滤波器BPF可以设置在第一偏振板212与显示装置100之间。
图3B是示出了第二入射光L21的截面图，第二入射光L21从包含在根据本公开的一个示例性实施方式的显示装置100的检查装置10中的第二照明单元220提供给显示装置100之后，被反射和散射。
参照图1、2以及3B，第二照明单元220向显示装置100提供第二入射光L21。第二入射光L21与显示装置100的参考轴AX形成第二入射角θ21。参考轴AX与显示面板110的厚度方向基本平行。第二入射角θ21大于第一入射角θ11。第二入射角θ21在从大约10°到大约20°的范围内，但是不应限于此或者由此限制。在将第二入射光L21提供给显示装置100时，第二照明单元220被设置为具有与第一入射角θ11不同的第二入射角θ21，因此，第二照明单元220可以检查第一照明单元210未检查出的缺陷。
在将第二入射光L21提供给显示装置100时，第二入射光L21由显示装置100以第二反射角θ22反射，以生成第二反射光L22。将第二反射光L22提供给缺陷检测器300。为了方便说明，在图1中第二反射角θ22与第二入射角θ21不同，但是根据实施方式第二反射角θ22可以与第二入射角θ21基本相同。
第二反射光L22包括从保护膜120的上表面反射的第二保护反射光L22_1以及在透过保护膜120之后从显示面板110的上表面反射的第二显示反射光L22_2。第二反射光L22包括从显示面板110的没有缺陷111和异物112的区域反射的光以及从保护膜120的没有缺陷121和异物122的区域反射的光。
在将第二入射光L21提供给显示装置100时，由存在于显示面板110上的缺陷111、存在于保护膜120上的缺陷121、附着至显示面板110的异物112以及附着至保护膜120的异物122产生第二散射光L23。第二散射光L23被提供给缺陷检测器300。
第二散射光L23包括由附着至保护膜120的灰尘或废物的异物122散射的第二保护异物散射光L23_1、由附着至显示面板110的灰尘或废物的异物112散射的第二显示异物散射光L23_2、由存在于保护膜120上的缺陷121散射的第二保护散射光L23_3、以及由存在于显示面板110上的缺陷111散射的第二显示散射光L23_4。
第二照明单元220包括第二光源221和第二偏振板222。第二光源221向显示装置100提供光。第二偏振板222设置在第二光源221与显示装置100之间。第二偏振板222偏振从第二光源221提供的光。第二偏振板222与第一偏振板212偏振相同的光分量。第二偏振板222可以是但不限于线性偏振板、圆偏振板或椭圆偏振板。
例如，在从第二光源221提供的光是未偏振的光并且第二偏振板222是圆偏振板时，从第二光源221中提供的光在透过第二偏振板222的同时，被左圆偏振。即，以第二入射角θ21将左圆偏振的光提供给显示装置100，作为第二入射光L21。
在由保护膜120的上表面反射之后，第二入射光L21可被右圆偏振。因此，由保护膜120的上表面反射的第二保护反射光L22_1、由附着至保护膜120的异物122散射的第二保护异物散射光L23_1、以及由存在于保护膜120上的缺陷121散射的第二保护散射光L23_3中的每个可以是右圆偏振的光。
第二入射光L21在透过具有光学各向异性的保护膜120的同时，在水平方向被线性偏振，并且在由显示面板110的上表面反射之后，在水平方向线性偏振的光在垂直方向被线性偏振。在垂直方向线性偏振的光在透过保护膜120的同时，被右圆偏振。
因此，由显示面板110的上表面反射的第二显示反射光L22_2、由附着至显示面板110的异物112散射的第二显示异物散射光L23_2、以及由存在于显示面板110上的缺陷111散射的第二显示散射光L23_4可以是右圆偏振的光。
图3C是示出了第三入射光L31的截面图，第三入射光L31从包含在根据本公开的一个示例性实施方式的显示装置100的检查装置10中的第三照明单元230提供给显示装置100之后，被反射和散射。
参照图1、2以及3C，第三照明单元230向显示装置100提供第三入射光L31。第三入射光L31与显示装置100的参考轴AX形成第三入射角θ31。参考轴AX与显示面板110的厚度方向基本平行。第三入射角θ31大于第一和第二入射角θ11和θ21中的每个。第三入射角θ31在从大约30°到大约50°的范围内，但是不应限于此或者由此限制。
在将第三入射光L31提供给显示装置100时，第三入射光L31由显示装置100以第三反射角θ32反射，以产生第三反射光L32。第三反射光L32被提供给缺陷检测器300。为了方便说明，在图1中第三反射角θ32与第三入射角θ31不同，但是根据实施方式第三反射角θ32可以与第三入射角θ31基本相同。
第三反射光L32包括从保护膜120的上表面反射的第三保护反射光L32_1以及在透过保护膜120之后从显示面板110的上表面反射的第三显示反射光L32_2。第三反射光L32包括从显示面板110的没有缺陷111和异物112的区域中反射的光以及从保护膜120的没有缺陷121和异物122的区域中反射的光。
在将第三入射光L31提供给显示装置100时，由存在于显示面板110上的缺陷111、存在于保护膜120上的缺陷121、附着至显示面板110的异物112以及附着至保护膜120的异物122产生第三散射光L33。第三散射光L33被提供给缺陷检测器300。
第三散射光L33包括由附着至保护膜120的灰尘或废物的异物122散射的第三保护异物散射光L33_1、由附着至显示面板110的灰尘或废物的异物112散射的第三显示异物散射光L33_2、由存在于保护膜120上的缺陷121散射的第三保护散射光L33_3、以及由存在于显示面板110上的缺陷111散射的第三显示散射光L33_4。
第三照明单元230设置为将第三保护异物散射光L33_1的量最大化。第三照明单元230包括第三光源231和第三偏振板232。第三光源231向显示装置100提供光。第三偏振板232设置在第三光源231与显示装置100之间。第三偏振板232偏振从第三光源231提供的光。第三偏振板232偏振与第一和第二偏振板212和222的光分量不同的光分量。第三偏振板232可以是但不限于线性偏振板、圆偏振板或椭圆偏振板。
例如，在从第三光源231提供的光是未偏振的光并且第三偏振板232是线性偏振板时，从第三光源231提供的光在透过第三偏振板232的同时，在水平方向被线性偏振。即，以第三入射角θ31将在水平方向线性偏振的光提供给显示装置100，作为第三入射光L31。
在由保护膜120的上表面反射之后，第三入射光L31可以在垂直方向线性偏振。因此，由保护膜120的上表面反射的第三保护反射光L32_1、由附着至保护膜120的异物122散射的第三保护异物散射光L33_1、以及由存在于保护膜120上的缺陷121散射的第三保护散射光L33_3中的每个可以是线性偏振的光。
第三入射光L31在透过具有光学各向异性的保护膜120的同时，被左圆偏振，并且在由显示面板110的上表面反射之后，左圆偏振的光被右圆偏振。右圆偏振的光在透过保护膜120的同时，被线性偏振。
因此，由显示面板110的上表面反射的第三显示反射光L32_2、由附着至显示面板110的异物112散射的第三显示异物散射光L33_2、以及由存在于显示面板110上的缺陷111散射的第三显示散射光L33_4中的每个可以是在水平方向线性偏振的光。
参照图1、2以及3A到3C，缺陷检测器300检测显示装置100的缺陷。缺陷检测器300接收第一反射光L12、第二反射光L22、第三反射光L32、第一散射光L13、第二散射光L23、以及第三散射光L33中的至少一种。
缺陷检测器300包括摄影单元310和控制器320。摄影单元310拍摄显示装置100的照片并且将显示装置图像PS提供给控制器320。摄影单元310接收第一反射光L12、第二反射光L22、第三反射光L32、第一散射光L13、第二散射光L23、以及第三散射光L33中的至少一个，以拍摄显示装置100的照片。
摄影单元310接收第一反射光L12和第一散射光L13中的至少一个，以拍摄显示装置100的照片并且将第一显示装置图像提供给控制器320。摄影单元310接收第二反射光L22和第二散射光L23中的至少一个，以拍摄显示装置100的照片并且将第二显示装置图像提供给控制器320。摄影单元310接收第三反射光L32和第三散射光L33中的至少一个，以拍摄显示装置100的照片并且将第三显示装置图像提供给控制器320。
在将光提供给显示面板110和保护膜120时，提供给存在显示面板110和保护膜120的缺陷和异物的缺陷区域的光被散射并且具有与提供给不存在显示面板110和保护膜120的缺陷和异物的正常区域的光的路径不同的路径。因此，在摄影单元310拍摄显示装置100的照片时，缺陷区域区别于正常区域。例如，显示装置图像PS在缺陷区域内显示时，显示装置图像PS失真。
摄影单元310包括照相机311和第四偏振板312。照相机311拍摄显示装置100的照片。照相机311包括电荷耦合器件(CCD)照相机和互补金属氧化物半导体(CMOS)照相机中的至少一种，但是不应限于此或者由此限制。
第四偏振板312设置在照相机311与显示装置100之间。第四偏振板312偏振第一反射光L12、第二反射光L22、第三反射光L32、第一散射光L13、第二散射光L23、以及第三散射光L33中的至少一个。第四偏振板312偏振与由第一和第二偏振板212和222偏振的光分量不同的光分量。第四偏振板312偏振与由第三偏振板232偏振的光分量相同的光分量。第四偏振板312可以是但不限于线性偏振板、圆偏振板或椭圆偏振板。
控制器320从摄影单元310接收显示装置图像PS，以检测显示装置100的缺陷。控制器320可以将显示面板110的缺陷、保护膜120的缺陷、附着至显示面板110的异物、以及附着至保护膜120的异物彼此区分。
控制器320比较从摄影单元310提供的第一、第二以及第三显示装置图像，以将存在于显示面板110上的缺陷111、存在于保护膜120上的缺陷121、附着至显示面板110和保护膜120中的每个的上表面的例如灰尘、废物等异物彼此区分。
例如，在第一显示装置图像中，存在显示面板110的缺陷111、保护膜120的缺陷121、附着至显示面板110的异物112、以及附着至保护膜120的异物122的区域失真。在第二显示装置图像中，存在显示面板110的缺陷111、保护膜120的缺陷121、附着至显示面板110的异物112、以及附着至保护膜120的异物122的区域失真。在第三显示装置图像中，存在显示面板110的缺陷111、保护膜120的缺陷121、附着至显示面板110的异物112、以及附着至保护膜120的异物122的区域失真。如上所述，由于第三照明单元230设置为允许第三保护异物散射光L33_1的量被最大化，所以在第三显示装置图像中明亮地显示存在附着至保护膜120的异物122的区域。
因此，在将第一和第二显示装置图像中的每个与第三显示装置图像比较时，可以检测出存在附着至保护膜120的异物122的区域。
在第一和第二显示装置图像中的每个中，除了异物122附着至保护膜120的区域以外，存在保护膜120的缺陷121的区域最亮并且存在显示面板110的缺陷111的区域最暗淡。在存在显示面板110的缺陷111的区域的情况下，由显示面板110的缺陷111散射的散射光在透过显示面板110和保护膜120之后，提供给摄影单元310，从而在存在显示面板110的缺陷111的区域中光损失增大。结果，存在显示面板110的缺陷111的区域相对暗淡。
如上所述，由于根据本示例性实施方式的显示装置的检查装置包括第一、第二以及第三照明单元，所以即使保护膜附接至显示面板，检查装置也可以将显示面板的缺陷、保护膜的缺陷、附着至显示面板的异物、以及附着至保护膜的异物彼此区分。
在下文中，将详细描述根据本公开的示例性实施方式的显示装置的检查方法。
图4是示出根据本公开的一个示例性实施方式的显示装置的检查方法的流程图。
参照图1、2、3A到3C以及4，显示装置100的检查方法包括：以第一入射角θ11向显示装置100(其包括显示面板110以及设置在所述显示面板110上的保护膜120)提供第一入射光L11(S110)；以大于第一入射角θ11的第二入射角θ21向显示装置100提供第二入射光L21(S120)；以大于第二入射角θ21的第三入射角θ31向显示装置100提供第三入射光L31(S130)；以及接收从由显示装置100以第一反射角θ12反射的第一入射光L11获得的第一反射光L12、从由显示装置100以第二反射角θ22反射的第二入射光L21获得的第二反射光L22、以及从由显示装置100以第三反射角θ32反射的第三入射光L31获得的第三反射光L32中的至少一个，以检测显示装置100的缺陷(S200)。
提供第一入射光L11(S110)、提供第二入射光L21(S120)以及提供第三入射光L31(S130)可以依次执行或者随机执行。
提供第一入射光L11(S110)由第一照明单元210执行。第一照明单元210以第一入射角θ11向显示装置100提供第一入射光L11。第一入射光L11与显示装置100的参考轴AX形成第一入射角θ11。参考轴AX与显示面板110的厚度方向基本平行。第一入射角θ11在从大约0°到大约5°的范围内，但是不应限于此或者由此限制。
在将第一入射光L11提供给显示装置100时，第一入射光L11由显示装置100以第一反射角θ12反射，以生成第一反射光L12。第一反射光L12被提供给缺陷检测器300。
第一反射光L12包括从保护膜120的上表面反射的第一保护反射光L12_1以及在透过保护膜120之后从显示面板110的上表面反射的第一显示反射光L12_2。
在将第一入射光L11提供给显示装置100时，由存在于显示面板110上的缺陷111、存在于保护膜120上的缺陷121、附着至显示面板110的异物112以及附着至保护膜120的异物122产生第一散射光L13。第一散射光L13被提供给缺陷检测器300。
第一散射光L13包括由附着至保护膜120的灰尘或废物的异物122散射的第一保护异物散射光L13_1、由附着至显示面板110的灰尘或废物的异物112散射的第一显示异物散射光L13_2、由存在于保护膜120上的缺陷121散射的第一保护散射光L13_3、以及由存在于显示面板110上的缺陷111散射的第一显示散射光L13_4。
提供第一入射光L11(S110)包括设置提供光的第一光源211并且在第一光源211与显示装置100之间设置第一偏振板212。第一光源211向显示装置100提供光。第一偏振板212设置在第一光源211与显示装置100之间。第一偏振板212偏振从第一光源211提供的光。第一偏振板212可以是但不限于线性偏振板、圆偏振板或椭圆偏振板。
提供第一入射光L11(S110)可以进一步包括在第一光源211与显示装置100之间设置带通滤波器BPF。图2示出了设置在第一光源211与第一偏振板212之间的带通滤波器BPF，但是不应限于此或者由此限制。即，带通滤波器BPF可以设置在第一偏振板212与显示装置100之间。
提供第二入射光L21(S120)由第二照明单元220执行。第二照明单元220以第二入射角θ21向显示装置100提供第二入射光L21。第二入射光L21与显示装置100的参考轴AX形成第二入射角θ21。参考轴AX与显示面板110的厚度方向基本平行。第二入射角θ21大于第一入射角θ11。第二入射角θ21在从大约10°到大约20°的范围内，但是不应限于此或者由此限制。在将第二入射光L21提供给显示装置100时，第二照明单元220被设置为具有与第一入射角θ11不同的第二入射角θ21，因此，第二照明单元220可以检查第一照明单元210未检查出的缺陷。
在将第二入射光L21提供给显示装置100时，第二入射光L21由显示装置100以第二反射角θ22反射，以产生第二反射光L22。第二反射光L22被提供给缺陷检测器300。
第二反射光L22包括从保护膜120的上表面反射的第二保护反射光L22_1以及在透过保护膜120之后从显示面板110的上表面反射的第二显示反射光L22_2。
在将第二入射光L21提供给显示装置100时，由存在于显示面板110上的缺陷111、存在于保护膜120上的缺陷121、附着至显示面板110的异物112以及附着至保护膜120的异物122产生第二散射光L23。第二散射光L23被提供给缺陷检测器300。
第二散射光L23包括由附着至保护膜120的灰尘或废物的异物122散射的第二保护异物散射光L23_1、由附着至显示面板110的灰尘或废物的异物112散射的第二显示异物散射光L23_2、由存在于保护膜120上的缺陷121散射的第二保护散射光L23_3、以及由存在于显示面板110上的缺陷111散射的第二显示散射光L23_4。
提供第二入射光L21(S120)包括设置提供光的第二光源221并且在第二光源221与显示装置100之间设置第二偏振板222。第二光源221向显示装置100提供光。第二偏振板222设置在第二光源221与显示装置100之间。第二偏振板222偏振从第二光源221提供的光。第二偏振板222偏振与由第一偏振板212偏振的光分量相同的光分量。第二偏振板222可以是但不限于线性偏振板、圆偏振板或椭圆偏振板。
提供第三入射光L31(S130)由第三照明单元230执行。第三照明单元230以第三入射角θ31向显示装置100提供第三入射光L31。第三入射光L31与显示装置100的参考轴AX形成第三入射角θ31。参考轴AX与显示面板110的厚度方向基本平行。第三入射角θ31大于第一和第二入射角θ11和θ21中的每个。
在将第三入射光L31提供给显示装置100时，第三入射光L31由显示装置100以第三反射角θ32反射，以产生第三反射光L32。第三反射光L32被提供给缺陷检测器300。
第三反射光L32包括从保护膜120的上表面反射的第三保护反射光L32_1以及在透过保护膜120之后从显示面板110的上表面反射的第三显示反射光L32_2。
在将第三入射光L31提供给显示装置100时，由存在于显示面板110上的缺陷111、存在于保护膜120上的缺陷121、附着至显示面板110的异物112以及附着至保护膜120的异物122产生第三散射光L33。第三散射光L33被提供给缺陷检测器300。
第三散射光L33包括由附着至保护膜120的灰尘或废物的异物122散射的第三保护异物散射光L33_1、由附着至显示面板110的灰尘或废物的异物112散射的第三显示异物散射光L33_2、由存在于保护膜120上的缺陷121散射的第三保护散射光L33_3、以及由存在于显示面板110上的缺陷111散射的第三显示散射光L33_4。第三照明单元230设置为允许将第三保护异物散射光L33_1的量最大化。
提供第三入射光L31(S130)包括设置提供光的第三光源231并且在第三光源231与显示装置100之间设置第三偏振板232。第三光源231向显示装置100提供光。第三偏振板232设置在第三光源231与显示装置100之间。第三偏振板232偏振从第三光源231提供的光。第三偏振板232偏振与由第一和第二偏振板212和222中的每个偏振的光分量不同的光分量。第三偏振板232可以是但不限于线性偏振板、圆偏振板或椭圆偏振板。
检测显示装置100的缺陷(S200)包括：接收第一、第二以及第三反射光L12、L22以及L32中的至少一个，以拍摄显示装置100的照片，从而提供显示装置图像PS；并且接收显示装置图像PS，以检测显示装置100的缺陷。
提供显示装置图像PS包括接收第一反射光L12，以拍摄显示装置100的照片并且提供第一显示装置图像，接收第二反射光L22，以拍摄显示装置100的照片并且提供第二显示装置图像，并且接收第三反射光L32，以拍摄显示装置100的照片并且提供第三显示装置图像。
提供显示装置图像PS包括：设置照相机311，照相机拍摄显示装置100的照片；在照相机311与显示装置100之间设置第四偏振板312。
照相机311拍摄显示装置100的照片。照相机311包括电荷耦合器件(CCD)照相机与互补金属氧化物半导体(CMOS)照相机中的至少一种，但是不应限于此或者由此限制。
第四偏振板312设置在照相机311与显示装置100之间。第四偏振板312偏振第一反射光L12、第二反射光L22、第三反射光L32、第一散射光L13、第二散射光L23、以及第三散射光L33中的至少一个。第四偏振板312偏振与由第一和第二偏振板212和222偏振的光分量不同的光分量。第四偏振板312偏振与由第三偏振板232偏振的光分量相同的光分量。第四偏振板312可以是但不限于线性偏振板、圆偏振板或椭圆偏振板。
显示装置100的缺陷的检测由控制器320进行。控制器320可以将显示面板110的缺陷111、保护膜120的缺陷121、附着至显示面板110的异物112、以及附着至保护膜120的异物122彼此区分。
控制器320将第一、第二以及第三显示装置图像彼此进行比较，以将存在于显示面板110上的缺陷111、存在于保护膜120上的缺陷121、附着至显示面板110和保护膜120中的每个的上表面的异物彼此区分。
例如，在第一显示装置图像中，存在显示面板110的缺陷111、保护膜120的缺陷121、附着至显示面板110的异物112、以及附着至保护膜120的异物122的区域失真。在第二显示装置图像中，存在显示面板110的缺陷111、保护膜120的缺陷121、附着至显示面板110的异物112、以及附着至保护膜120的异物122的区域失真。在第三显示装置图像中，存在显示面板110的缺陷111、保护膜120的缺陷121、附着至显示面板110的异物112、以及附着至保护膜120的异物122的区域失真。如上所述，由于第三照明单元230设置为允许第三保护异物散射光L33_1的量最大化，所以在第三显示装置图像中明亮地显示存在附着至保护膜120的异物122的区域。
因此，在将第一和第二显示装置图像中的每个与第三显示装置图像比较时，可以检测出存在附着至保护膜120的异物122的区域。
在第一和第二显示装置图像中的每个中，除了异物122附着至保护膜120的区域以外，存在保护膜120的缺陷121的区域最亮并且存在显示面板110的缺陷111的区域最暗淡。在存在显示面板110的缺陷111的区域的情况下，由显示面板110的缺陷111散射的散射光在透过显示面板110和保护膜120之后，被提供给摄影单元310，从而在存在显示面板110的缺陷111的区域内，光损失增大。结果，存在显示面板110的缺陷111的区域相对暗淡。
如上所述，由于根据本示例性实施方式的显示装置的检查方法包括提供第一入射光、提供第二入射光以及提供第三入射光，所以即使保护膜附接至显示面板，也可以将显示面板的缺陷、保护膜的缺陷、附着于显示面板的异物、以及附着于保护膜的异物彼此区分。
虽然描述了本发明的示例性实施方式，但是要理解的是，本发明不限于这些示例性实施方式，而是在要求保护的本发明的精神和范围内，本领域的技术人员可以进行各种变更和修改。

Claims (14)

1.一种显示装置的检查装置，所述显示装置包括显示面板以及设置在所述显示面板上的保护膜，所述检查装置包括：
第一照明单元，其以第一入射角向所述显示装置提供第一入射光；
第二照明单元，其以大于所述第一入射角的第二入射角向所述显示装置提供第二入射光；
第三照明单元，其以大于所述第二入射角的第三入射角向所述显示装置提供第三入射光，
所述第一入射光、所述第二入射光和所述第三入射光分别被所述显示面板和所述保护膜中的每者的正常区域以第一反射角、第二反射角和第三反射角反射而产生第一反射光、第二反射光和第三反射光，
所述第一入射光、所述第二入射光和所述第三入射光分别被所述显示面板和所述保护膜中的每者的缺陷区域散射而产生第一散射光、第二散射光和第三散射光，
所述第一散射光、所述第二散射光和所述第三散射光每者包括被附着至所述保护膜的异物散射而产生的保护异物散射光、被附着至所述显示面板的异物散射而产生的显示异物散射光、被所述保护膜上的缺陷散射而产生的保护散射光、被所述显示面板上的缺陷散射而产生的显示散射光；以及
缺陷检测器，其包括：
摄影单元，接收所述第一反射光和所述第一散射光中的至少一个、所述第二反射光和所述第二散射光中的至少一个以及所述第三反射光和所述第三散射光中的至少一个以分别拍摄第一图片、第二图片和第三图片；以及
控制器，比较从所述摄影单元接收的所述第一图片、所述第二图片和所述第三图片，以通过检测所述第一图片、所述第二图片和所述第三图片中的失真来区分所述缺陷区域和所述正常区域，
其中，所述失真由所述保护异物散射光、所述显示异物散射光、所述保护散射光和所述显示散射光中的至少一者导致。
2.根据权利要求1所述的检查装置，其中，所述第一照明单元包括：
第一光源，其向所述显示装置提供所述第一入射光；以及
第一偏振板，其设置在所述第一光源与所述显示装置之间，并且所述第一偏振板是线性偏振板、圆偏振板或椭圆偏振板。
3.根据权利要求2所述的检查装置，其中，所述第一照明单元进一步包括带通滤波器，所述带通滤波器设置在所述第一光源与所述显示装置之间。
4.根据权利要求1所述的检查装置，其中，所述第二照明单元包括：
第二光源，其向所述显示装置提供所述第二入射光；以及
第二偏振板，其设置在所述第二光源与所述显示装置之间，并且所述第二偏振板是线性偏振板、圆偏振板或椭圆偏振板。
5.根据权利要求1所述的检查装置，其中，所述第三照明单元包括：
第三光源，其向所述显示装置提供所述第三入射光；以及
第三偏振板，其设置在所述第三光源与所述显示装置之间，并且所述第三偏振板是线性偏振板、圆偏振板或椭圆偏振板。
6.根据权利要求1所述的检查装置，其中，所述第一照明单元包括第一偏振板，所述第二照明单元包括第二偏振板，所述第三照明单元包括第三偏振板，所述第一偏振板与所述第二偏振板偏振相同的光分量，并且所述第一偏振板与所述第三偏振板偏振不同的光分量。
7.根据权利要求1所述的检查装置，其中，所述摄影单元包括：
照相机，其拍摄所述显示装置的所述第一图片、所述第二图片和所述第三图片；以及
第四偏振板，其设置在所述照相机与所述显示装置之间。
8.根据权利要求7所述的检查装置，其中，所述照相机包括电荷耦合器件照相机和互补金属氧化物半导体照相机中的至少一个。
9.根据权利要求7所述的检查装置，其中，所述第四偏振板是线性偏振板、圆偏振板或椭圆偏振板。
10.根据权利要求1所述的检查装置，其中，所述第一照明单元包括第一偏振板，所述第二照明单元包括第二偏振板，所述第三照明单元包括第三偏振板，所述摄影单元包括第四偏振板，所述第一偏振板与所述第二偏振板偏振相同的光分量，所述第三偏振板与所述第四偏振板偏振相同的光分量，并且所述第一偏振板与所述第三偏振板偏振不同的光分量。
11.根据权利要求1所述的检查装置，其中，所述第一入射角在0°到5°的范围内，所述第二入射角在10°到20°的范围内，并且所述第三入射角在30°到50°的范围内。
12.一种显示装置的检查方法，所述显示装置包括显示面板以及设置在所述显示面板上的保护膜，所述检查方法包括：
以第一入射角向所述显示装置提供第一入射光；
以大于所述第一入射角的第二入射角向所述显示装置提供第二入射光；
以大于所述第二入射角的第三入射角向所述显示装置提供第三入射光，
所述第一入射光、所述第二入射光和所述第三入射光分别被所述显示面板和所述保护膜中的每者的正常区域以第一反射角、第二反射角和第三反射角反射而产生第一反射光、第二反射光和第三反射光，
所述第一入射光、所述第二入射光和所述第三入射光分别被所述显示面板和所述保护膜中的每者的缺陷区域散射而产生第一散射光、第二散射光和第三散射光，
所述第一散射光、所述第二散射光和所述第三散射光每者包括被附着至所述保护膜的异物散射而产生的保护异物散射光、被附着至所述显示面板的异物散射而产生的显示异物散射光、被所述保护膜上的缺陷散射而产生的保护散射光、被所述显示面板上的缺陷散射而产生的显示散射光；
接收所述第一反射光和所述第一散射光中的至少一个、所述第二反射光和所述第二散射光中的至少一个以及所述第三反射光和所述第三散射光中的至少一个以分别拍摄第一图片、第二图片和第三图片；以及
比较接收的所述第一图片、所述第二图片和所述第三图片，以通过检测所述第一图片、所述第二图片和所述第三图片中的失真来区分所述缺陷区域和所述正常区域，
其中，所述失真由所述保护异物散射光、所述显示异物散射光、所述保护散射光和所述显示散射光中的至少一者导致。
13.根据权利要求12所述的检查方法，其中，提供第一入射光包括：
设置第一光源以提供所述第一入射光；以及
在所述第一光源与所述显示装置之间设置第一偏振板。
14.根据权利要求13所述的检查方法，其中，提供第一入射光进一步包括在所述第一光源与所述显示装置之间设置带通滤波器。
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