CN110261408B - 显示模组缺陷检测装置及方法 - Google Patents
显示模组缺陷检测装置及方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN110261408B CN110261408B CN201910697024.XA CN201910697024A CN110261408B CN 110261408 B CN110261408 B CN 110261408B CN 201910697024 A CN201910697024 A CN 201910697024A CN 110261408 B CN110261408 B CN 110261408B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- display module
- image
- defect
- different
- region
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/01—Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/01—Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
- G01N2021/0106—General arrangement of respective parts
- G01N2021/0112—Apparatus in one mechanical, optical or electronic block
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
本发明提供了一种显示模组缺陷检测装置及方法,通过在显示模组一侧设置外部光源和摄像部件来获取显示模组的图像,其中,外部光源的照射光线与显示模组的厚度方向之间的夹角大于0度且小于90度,且摄像部件的镜头方向与显示模组厚度方向之间的夹角也大于0度且小于90度,利用保护膜的缺陷会影响光线的反射而显示屏体的缺陷不会影响光线的反射,从而根据图像中缺陷的亮度可以判断该缺陷是显示屏体缺陷还是保护膜缺陷,提高了缺陷检测的准确度。
Description
技术领域
本发明涉及显示器领域,具体涉及显示模组缺陷检测装置及方法。
背景技术
为了得到高质量OLED显示面板,需要在屏体工段对产品外观进行质量检测和管控。目前的方法是将屏体置于灯箱内,灯箱顶部有光源,通过控制光源向屏体照射光线,配合相机对屏体拍照,再对照片进行分析,找出缺陷。
然而,此种检测方法存在如下问题:由于屏体表面覆盖着一层透明保护膜,保护膜表面也可能存在划伤、颗粒等缺陷,因此,相机拍照时容易将保护膜表面缺陷和屏体缺陷混淆,将保护膜表面缺陷视为屏体缺陷,造成过检,影响检出结果及效率。
发明内容
有鉴于此,本发明实施例致力于提供了显示模组缺陷检测装置及方法,通过设置与显示模组成一定倾斜角度的外部光源和摄像部件,来区分显示屏体的缺陷和保护膜的缺陷,从而解决上述过检和检测结果不准确的问题。
根据本发明的一方面,本发明一实施例提供的一种显示模组缺陷检测装置,包括:外部光源,用于提供照亮显示模组的照射光线,以及摄像部件,用于获取所述显示模组的图像;其中,所述外部光源与所述摄像部件位于所述显示模组的同一侧,所述照射光线与所述显示模组的厚度方向之间的夹角大于0度且小于90度,所述摄像部件的镜头方向与所述显示模组厚度方向之间的夹角大于0度且小于90度。
在一实施例中,所述照射光线与所述显示模组的厚度方向之间的夹角等于所述摄像部件的镜头方向与所述显示模组厚度方向之间的夹角。通过设置相同的夹角,可有效提高检测精度。
在一实施例中,所述外部光源与所述摄像部件靠近所述显示模组的同一侧边设置,或所述外部光源与所述摄像部件分别靠近所述显示模组的不同侧边设置。通过将外部光源和摄像部件设置于显示模组的同一侧边和不同侧边,可以根据光线的反射效果来区分缺陷区域,并且尽量实现照射光线经显示模组反射后为摄像部件获取,从而提高获取的图像的亮度及显示效果。
在一实施例中,所述外部光源包括多个发光体,多个发光体位于靠近所述显示模组的同一侧边设置,或所述多个发光体靠近所述显示模组的不同侧边设置。通过设置多个发光体,并单独开启与摄像部件位于同一侧边和不同侧边的发光体来获取两幅图像,综合判断得出更为准确的检测结果,进一步提高检测的准确性。根据本发明的另一方面,本发明一实施例提供的一种显示模组缺陷检测方法,包括:提供照亮显示模组的照射光线,其中,所述显示模组包括显示屏体和覆盖于所述显示屏体表面的保护膜,所述照射光线与所述显示模组的厚度方向之间的夹角大于0度且小于90度;获取所述显示模组的图像,其中,获取所述图像的摄像部件的镜头方向与所述显示模组厚度方向之间的夹角大于0度且小于90度;以及当所述图像中存在与周围图像的形状不同但是亮度相同的区域时,确定该区域为所述显示屏体的缺陷。
在一实施例中,所述照射光线与所述显示模组的厚度方向之间的夹角等于所述图像的摄像部件的镜头方向与所述显示模组厚度方向之间的夹角。
在一实施例中,所述方法还包括:当所述图像中存在与周围图像的形状和亮度均不同的区域时,确定该区域为所述保护膜的缺陷。利用照射光线照射到保护膜的缺陷上时会发生漫反射,从而造成该区域的亮度与周围区域的亮度不同,以实现确定保护膜缺陷的目的。
在一实施例中,所述照射光线由多个发光体提供,所述多个发光体分别靠近所述显示模组的不同的两个侧边设置,所述摄像部件靠近所述不同的两个侧边中的其中一边设置;所述提供照亮显示模组的照射光线包括:分别单独开启所述不同的两个侧边中的其中一边的发光体;所述获取所述显示模组的图像包括:分别获取单独开启与所述摄像部件位于所述显示模组不同侧边的发光体时的第一图像,和单独开启与所述摄像部件位于所述显示模组同一侧边的发光体时的第二图像。通过设置多个发光体,并获取两幅图像,综合判断得出更为准确的检测结果,进一步提高检测的准确性。
在一实施例中,所述当所述图像中存在与周围图像的形状不同但是亮度相同的区域时,确定该区域为所述显示屏体的缺陷包括:当所述第一图像和所述第二图像中均存在与周围图像的形状不同但是亮度相同的区域时,确定该区域为所述显示屏体的缺陷。通过两幅图像中同一位置的形状和亮度特征,综合判断确定得到的显示屏体缺陷更为准确,进一步提高检测的准确性。
在一实施例中,所述当所述图像中存在与周围图像的形状和亮度均不同的区域时,确定该区域为所述保护膜的缺陷包括:当所述第一图像中存在与周围图像的形状不同且亮度低于周围图像的区域,并且所述第二图像中与该区域对应的位置与周围图像的形状不同且亮度高于周围图像时,确定该区域为所述保护膜的缺陷。通过两幅图像中同一位置的形状和亮度特征,综合判断确定得到的保护膜缺陷更为准确,进一步提高检测的准确性。
本发明实施例提供的显示模组缺陷检测装置,通过在显示模组一侧设置外部光源和摄像部件来获取显示模组的图像,外部光源的照射光线的入射角大于0度且小于90度且摄像部件的镜头方向与显示模组厚度方向成一倾斜角度,利用保护膜的缺陷会影响光线的反射,但是显示屏体的缺陷不会影响光线的反射,进而不会影响亮度,从而根据图像中缺陷的亮度可以判断该缺陷是显示屏体缺陷还是保护膜缺陷,提高了缺陷检测的准确度。
附图说明
图1所示为本申请一实施例提供的一种显示模组缺陷检测装置的结构示意图。
图2所示为本申请另一实施例提供的一种显示模组缺陷检测装置的结构示意图。
图3所示为本申请另一实施例提供的一种显示模组缺陷检测装置的结构示意图。
图4所示为本申请另一实施例提供的一种显示模组缺陷检测装置的结构示意图。
图5所示为本申请一实施例提供的一种显示模组缺陷检测方法的流程图。
图6所示为本申请另一实施例提供的一种显示模组缺陷检测方法的流程图。
图7所示为本申请另一实施例提供的一种显示模组缺陷检测方法的流程图。
图8所示为本申请另一实施例提供的一种显示模组缺陷检测方法的流程图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
此外,在示例性实施例中,因为相同的参考标记表示具有相同结构的相同部件或相同方法的相同步骤,如果示例性地描述了一实施例,则在其他示例性实施例中仅描述与已描述实施例不同的结构或方法。
在整个说明书及权利要求书中,当一个部件描述为“连接”到另一部件,该一个部件可以“直接连接”到另一部件,或者通过第三部件“电连接”到另一部件。此外,除非明确地进行相反的描述,术语“包括”及其相应术语应仅理解为包括所述部件,而不应该理解为排除任何其他部件。
通常检测显示模组的缺陷的方法是利用外部光源或显示模组的内部光源照亮该显示模组,然后由摄像部件(例如相机)拍摄以获取显示模组的图像,并对该图像进行图像分析处理,根据图像中的区域与周围区域的图像有明显区别来判断该区域为缺陷。然而,由于显示模组中包括显示屏体和保护膜,保护膜表面也可能会出现缺陷,而保护膜表面的缺陷也会在图像中体现,很难区分保护膜缺陷和显示屏体缺陷,从而影响显示屏体缺陷检测的准确性和效果。为了解决该技术问题,有效区分保护膜缺陷和显示屏缺陷,以提高显示屏体缺陷检测的准确性,本申请提出了一种显示模组缺陷检测装置及方法,下面结合附图具体说明本申请的技术方案。
图1所示为本申请一实施例提供的一种显示模组缺陷检测装置的结构示意图。如图1所示,该检测装置包括:显示模组1、外部光源2、摄像部件3,外部光源2与摄像部件3位于显示模组1的同一侧(显示模组1待检测缺陷的一侧)。其中,显示模组1包括显示屏体11和覆盖于显示屏体11表面的保护膜12,外部光源2用于提供照亮显示模组1的照射光线,摄像部件3用于获取显示模组1的图像;外部光源2的照射光线与显示模组1的厚度方向之间的夹角α(入射角)大于0度且小于90度,即外部光源2的照射光线与显示模组1成一倾斜角度(外部光源2的照射光线并非垂直照射显示模组1),摄像部件3的镜头方向与显示模组1厚度方向之间的夹角β大于0度且小于90度,即摄像部件3的镜头方向与显示模组1成一倾斜角度(摄像部件3并非垂直设置于显示模组1上方)。
如果将外部光源和摄像部件垂直设置于显示模组上方,摄像部件所获取的图像仅能获知缺陷区域与周围区域的形状上有明显区别,而在光线亮度上无明显区别。因此,无论缺陷是在保护膜或显示屏体上,所获取的图像显示效果基本相同,从而无法区分保护膜缺陷和显示屏体缺陷。本申请通过在显示模组一侧设置外部光源和摄像部件来获取显示模组的图像,其中,外部光源的照射光线与显示模组的厚度方向之间的夹角大于0度且小于90度,且摄像部件的镜头方向与显示模组厚度方向之间的夹角也大于0度且小于90度,即外部光源的照射光线的入射角大于0度且小于90度且摄像部件的镜头方向与显示模组厚度方向成一倾斜角度,利用保护膜缺陷会影响光线的反射而显示屏体的缺陷不会影响光线的反射,则不会影响亮度,从而根据图像中缺陷的亮度可以判断该缺陷是显示屏体缺陷还是保护膜缺陷,提高了缺陷检测的准确度。
在一实施例中,显示模组1、外部光源2可以设置于一个灯箱内,摄像部件3可以设置于该灯箱内,也可以设置于该灯箱外部且镜头置于该灯箱内部。通过设置灯箱,可以保证显示模组1只由外部光源2提供照射光线,避免其他光线(例如自然光线)的干扰,从而进一步提高检测的准确性。应当理解,显示模组和外部光源也可以设置于没有外界光线干扰的室内即可,本申请对于显示模组和外部光源的具体设置环境不做限定。
在一实施例中,外部光源2的照射光线与显示模组1的厚度方向之间的夹角α可以等于摄像部件3的镜头方向与显示模组1厚度方向之间的夹角β。此种设置方式可有效提高获取的图像的亮度与显示效果。优选地,摄像部件3的镜头方向与外部光源2的照射光线的反射角的方向一致,通过设置摄像部件3的镜头方向与照射光线的反射角方向一致,可以保证照射光线经显示模组1反射后尽量为摄像部件3获取,从而提高获取的图像的亮度及显示效果。应当理解,本申请实施例可以根据实际应用场景的需求而选取夹角β和夹角α的相对大小关系,只要夹角β和夹角α的相对大小尽量接近以提高图像的显示效果即可,本申请实施例对于夹角β和夹角α的相对大小关系不做限定。
图2所示为本申请另一实施例提供的一种显示模组缺陷检测装置的结构示意图,图3所示为本申请另一实施例提供的一种显示模组缺陷检测装置的结构示意图。如图2、图3所示,外部光源2与摄像部件3可以靠近显示模组1的同一侧边设置(如图2所示),或外部光源2与摄像部件3可以分别靠近显示模组1的两个不同侧边设置(如图3所示)。当外部光源2与摄像部件3位于显示模组1的同一侧边时,若存在保护膜缺陷,则在该缺陷处会发生漫反射(投射在粗糙表面上的光向各个方向反射的现象),造成部分光线会反射至外部光源2同侧的摄像部件3,从而使得该缺陷处的亮度高于周围区域;若存在显示屏体缺陷时,则在该缺陷处不会发生漫反射,从而该缺陷处的亮度与周围区域的亮度相同或相近。当外部光源2与摄像部件3位于显示模组1的两个不同侧边时,若存在保护膜缺陷,则在该缺陷处会发生漫反射(投射在粗糙表面上的光向各个方向反射的现象),造成部分光线会反射至偏离摄像部件3的位置,从而使得该缺陷处的亮度低于周围区域;若存在显示屏体缺陷时,则在该缺陷处不会发生漫反射,从而该缺陷处的亮度与周围区域的亮度相同或相近。
可知的,图3中的外部光源2与摄像部件3分别位于显示模组1的两个不同侧边,即外部光源2的照射光线与摄像部件3的镜头方向不同。这里的不同侧边可以理解为显示模组在水平面上的投影图形的四个侧边,此处并不特指,可根据实际情况进行设置。
图4所示为本申请另一实施例提供的一种显示模组缺陷检测装置的结构示意图。如图4所示,外部光源2可包括多个发光体21,多个发光体21分别位于显示模组1的两个不同侧边,且摄像部件3靠近两个不同侧边中的一边设置。设置多个发光体21,且多个发光体21可以自由开启和关闭,即可以选取外部光源2中的任一多个发光体21开启和关闭,且部分发光体21与摄像部件3位于显示模组1的同一侧边,部分发光体21与摄像部件3位于显示模组1的不同侧边。通过设置多个发光体21,可以开启与摄像部件3同一侧边的发光体21并关闭与摄像部件3不同侧边的发光体21,以获取显示模组1的一幅图像,然后开启与摄像部件3不同侧边的发光体21并关闭与摄像部件3同一侧边的发光体21,以获取显示模组1的另一幅图像,通过两幅图像的综合判断,从而得出更为准确的检测结果,进一步提高检测的准确性。根据所获取的图像中缺陷的亮度判断其是保护膜缺陷还是显示屏体缺陷,具体原理如上所述,此处不再赘述。应当理解,开启与摄像部件同一侧边的发光体和开启与摄像部件不同侧边的发光体没有先后顺序,本申请实施例可以根据实际需求调整开启发光体的顺序。
在进一步的实施例中,发光体21可以是阵列排布设置于灯箱内部,优选地,发光体21为12×12的阵列。通过设置阵列式排布的发光体,可以灵活的选择开启不同发光体以获取不同照射方向的照射光线。
应当理解,本申请实施例可以根据实际应用场景的不同而选取外部光源的数量以及其与摄像部件的相对位置,只要能够获取显示模组的图像且能够在图像中准确反映出缺陷及其位置属性(平面位置及竖直位置,即缺陷在显示模组平面上的具体位置,以及该缺陷是保护膜缺陷还是显示屏体缺陷),本申请对于外部光源的数量以及其与摄像部件的相对位置不做限定。
图5所示为本申请一实施例提供的一种显示模组缺陷检测方法的流程图。如图5所示,该检测方法包括如下步骤。
步骤510:提供照亮显示模组的照射光线,其中,显示模组包括显示屏体和覆盖于显示屏体表面的保护膜,照射光线与显示模组的厚度方向之间的夹角大于0度且小于90度。
由外部光源提供照亮显示模组的照射光线,其中外部光源设置于显示模组需要检测缺陷的一侧,并且设置照射光线与显示模组的厚度方向之间的夹角大于0度且小于90度,即照射光线的入射角大于0度且小于90度。
在一实施例中,显示模组、外部光源可以设置于一个灯箱内,摄像部件可以设置于该灯箱内,也可以设置于该灯箱外部且镜头置于该灯箱内部。通过设置灯箱,可以保证显示模组只由外部光源提供照射光线,避免其他光线(例如自然光线)的干扰,从而进一步提高检测的准确性。
在进一步的实施例中,外部光源可以包括多个发光体,且多个发光体可以是阵列排布设置于灯箱内部,优选地,发光体为12×12的阵列。通过设置阵列式排布的发光体,可以灵活的选择开启不同发光体以获取不同照射方向的照射光线。
步骤520:获取显示模组的图像,其中,获取图像的摄像部件的镜头方向与显示模组厚度方向之间的夹角大于0度且小于90度。
通过设置相机等摄像部件来获取显示模组的图像,根据所获取的图像来判断显示模组中是否存在缺陷,并且设置摄像部件的镜头方向与显示模组厚度方向之间的夹角大于0度且小于90度,即摄像部件的镜头方向与显示模组厚度方向成一倾斜角度。
步骤530:当图像中存在与周围图像的形状不同但是亮度相同的区域时,确定该区域为显示屏体的缺陷。
若显示屏体存在缺陷,则缺陷区域的形状会与周围区域的形状不同,在图像上可以区分开,并且由于显示屏体表面还存在保护膜,显示屏体上的缺陷是不会对照射光线造成影响,缺陷区域的亮度与周围区域的亮度相同,因此,若图像中存在与周围区域图像的形状不同但是亮度却相同的区域时,可以确定该区域为显示屏体的缺陷。
可知的,显示屏体上没有缺陷的图像为规则的像素排布的图像,若显示屏体存在缺陷,则缺陷区域与周围没有缺陷区域的图像的形状是不同的,但缺陷区域与周围没有缺陷区域的亮度是相同的。
通过在显示模组一侧设置外部光源提供照亮显示模组的照射光线,并于同一侧设置摄像部件来获取显示模组的图像,其中,外部光源的照射光线与显示模组的厚度方向之间的夹角大于0度且小于90度,且摄像部件的镜头方向与显示模组厚度方向之间的夹角也大于0度且小于90度,利用保护膜的缺陷会影响光线的反射而显示屏体的缺陷不会影响光线的反射,则不会影响亮度,从而确定图像中形状不同且亮度相同的区域为显示屏体缺陷,排除了保护膜缺陷对检测的干扰,避免了过检,提高了缺陷检测的准确度。
图6所示为本申请另一实施例提供的一种显示模组缺陷检测方法的流程图。如图6所示,该方法还可包括:
步骤540:当图像中存在与周围图像的形状和亮度均不同的区域时,确定该区域为保护膜的缺陷。
由于保护膜的缺陷存在与显示模组的表面,当照射光线照射到保护膜的缺陷上时会发生漫反射,从而造成该区域的亮度与周围区域的亮度不同,因此,若图像中存在与周围区域图像的形状和亮度均不同的区域时,可以确定该区域为保护膜的缺陷。应当理解,步骤530和步骤540分别为确定显示屏体缺陷和确定保护膜缺陷的方法,虽然在本实施例中步骤530在步骤540之前执行,但是在实际检测过程中,步骤540可以于步骤530之前执行,本申请实施例对于步骤530和步骤540的先后顺序没有限定。
图7所示为本申请另一实施例提供的一种显示模组缺陷检测方法的流程图。如图7所示,照射光线由多个发光体提供,多个发光体分别靠近显示模组的不同的两个侧边设置,摄像部件靠近所述不同的两个侧边中的其中一边设置;步骤510可包括:分别单独开启两个侧边的其中一边的发光体;步骤520可包括:分别获取单独开启与所述摄像部件位于所述显示模组不同侧边的发光体时的第一图像,和单独开启与所述摄像部件位于所述显示模组同一侧边的发光体时的第二图像。
通过设置多个发光体,并且分别单独开启位于摄像部件靠近显示模组同一侧边和不同侧边设置的部分发光体,以获取第一图像和第二图像两幅显示模组的图像,并且根据该两幅图像的显示情况综合判断是否存在缺陷以及所存在的缺陷是属于保护膜上的还是属于显示屏体上的,利用两幅图像综合判断,可以进一步提高准确性。
图8所示为本申请另一实施例提供的一种显示模组缺陷检测方法的流程图。如图8所示,步骤530可包括:当第一图像和第二图像中均存在与周围图像的形状不同但是亮度相同的区域时,确定该区域为显示屏体的缺陷。步骤540可包括:当第一图像中存在与周围图像的形状不同且亮度低于周围图像的区域,并且第二图像中与该区域对应的位置与周围图像的形状不同且亮度高于周围图像时,确定该区域为保护膜的缺陷。
根据第一图像和第二图像中存在与周围区域图像的形状不同的同一区域时,该区域为缺陷,若该区域在第一图像和第二图像中的亮度均与周围区域的亮度相同,则说明该区域为显示屏体的缺陷;若该区域在第一图像的亮度比周围区域的亮度低且在第二图像中的亮度比周围区域的亮度高时,则说明该区域为保护膜的缺陷。通过第一图像和第二图像的综合判断,可以进一步提高检测的准确性。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已,并不用以限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换等,均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (7)
1.一种显示模组缺陷检测装置,其特征在于,包括:
外部光源,用于提供照亮显示模组的照射光线,以及
摄像部件,用于获取所述显示模组的图像;
其中,所述外部光源与所述摄像部件位于所述显示模组的同一侧,所述照射光线与所述显示模组的厚度方向之间的夹角大于0度且小于90度,所述摄像部件的镜头方向与所述显示模组厚度方向之间的夹角大于0度且小于90度;其中,
所述外部光源由多个发光体提供,所述多个发光体分别靠近所述显示模组的不同的两个侧边设置,所述摄像部件靠近所述不同的两个侧边中的其中一边设置;
所述提供照亮显示模组的照射光线包括:
分别单独开启所述不同的两个侧边中的其中一边的发光体;
所述获取所述显示模组的图像包括:
分别获取单独开启与所述摄像部件位于所述显示模组不同侧边的发光体时的第一图像,和单独开启与所述摄像部件位于所述显示模组同一侧边的发光体时的第二图像。
2.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于,所述照射光线与所述显示模组的厚度方向之间的夹角等于所述摄像部件的镜头方向与所述显示模组厚度方向之间的夹角。
3.一种显示模组缺陷检测方法,其特征在于,包括:
提供照亮显示模组的照射光线,其中,所述显示模组包括显示屏体和覆盖于所述显示屏体表面的保护膜,所述照射光线与所述显示模组的厚度方向之间的夹角大于0度且小于90度;
获取所述显示模组的图像,其中,获取所述图像的摄像部件的镜头方向与所述显示模组厚度方向之间的夹角大于0度且小于90度;以及
当所述图像中存在与周围图像的形状不同但是亮度相同的区域时,确定该区域为所述显示屏体的缺陷;其中,
所述照射光线由多个发光体提供,所述多个发光体分别靠近所述显示模组的不同的两个侧边设置,所述摄像部件靠近所述不同的两个侧边中的其中一边设置;
所述提供照亮显示模组的照射光线包括:
分别单独开启所述不同的两个侧边中的其中一边的发光体;
所述获取所述显示模组的图像包括:
分别获取单独开启与所述摄像部件位于所述显示模组不同侧边的发光体时的第一图像,和单独开启与所述摄像部件位于所述显示模组同一侧边的发光体时的第二图像。
4.根据权利要求3所述的检测方法,其特征在于,所述照射光线与所述显示模组的厚度方向之间的夹角等于所述图像的摄像部件的镜头方向与所述显示模组厚度方向之间的夹角。
5.根据权利要求3所述的检测方法,其特征在于,还包括:
当所述图像中存在与周围图像的形状和亮度均不同的区域时,确定该区域为所述保护膜的缺陷。
6.根据权利要求3所述的检测方法,其特征在于,所述当所述图像中存在与周围图像的形状不同但是亮度相同的区域时,确定该区域为所述显示屏体的缺陷包括:
当所述第一图像和所述第二图像中均存在与周围图像的形状不同但是亮度相同的区域时,确定该区域为所述显示屏体的缺陷。
7.根据权利要求5所述的检测方法,其特征在于,所述当所述图像中存在与周围图像的形状和亮度均不同的区域时,确定该区域为所述保护膜的缺陷包括:
当所述第一图像中存在与周围图像的形状不同且亮度低于周围图像的区域,并且所述第二图像中与该区域对应的位置与周围图像的形状不同且亮度高于周围图像时,确定该区域为所述保护膜的缺陷。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201910697024.XA CN110261408B (zh) | 2019-07-30 | 2019-07-30 | 显示模组缺陷检测装置及方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201910697024.XA CN110261408B (zh) | 2019-07-30 | 2019-07-30 | 显示模组缺陷检测装置及方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN110261408A CN110261408A (zh) | 2019-09-20 |
CN110261408B true CN110261408B (zh) | 2021-11-23 |
Family
ID=67912406
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201910697024.XA Active CN110261408B (zh) | 2019-07-30 | 2019-07-30 | 显示模组缺陷检测装置及方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN110261408B (zh) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN111982477B (zh) * | 2020-08-31 | 2023-04-28 | 合肥维信诺科技有限公司 | 显示面板的测试方法、测试装置 |
CN112782182B (zh) * | 2020-12-28 | 2024-05-24 | 武汉理工氢电科技有限公司 | 一种7 mea的外观检测方法 |
CN113866182A (zh) * | 2021-09-09 | 2021-12-31 | 安徽亿普拉斯科技有限公司 | 一种用于检测显示模组缺陷的检测方法及系统 |
Citations (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004239674A (ja) * | 2003-02-04 | 2004-08-26 | Minato Electronics Inc | フラット液晶ディスプレイにおける表示素子の検査装置および表示素子の検査方法 |
CN1648645A (zh) * | 2004-01-30 | 2005-08-03 | 三星电子株式会社 | 检查显示面板的设备和方法 |
CN201397305Y (zh) * | 2009-05-05 | 2010-02-03 | 北京凌云光视数字图像技术有限公司 | 硬质卡片表面质量检测设备 |
JP2010281772A (ja) * | 2009-06-08 | 2010-12-16 | Toppan Printing Co Ltd | シート状透明体の凹凸を主とした欠陥検査方法 |
CN104297259A (zh) * | 2014-11-04 | 2015-01-21 | 苏州精创光学仪器有限公司 | 触摸屏保护玻璃外观缺陷检测方法 |
CN105424723A (zh) * | 2015-11-28 | 2016-03-23 | 惠州高视科技有限公司 | 一种显示屏幕模组缺陷检测方法 |
CN105549231A (zh) * | 2015-12-04 | 2016-05-04 | 凌云光技术集团有限责任公司 | 液晶屏缺陷检测装置及方法 |
CN105738380A (zh) * | 2014-12-29 | 2016-07-06 | 三星显示有限公司 | 显示装置的检查装置以及显示装置的检查方法 |
CN206369707U (zh) * | 2016-12-23 | 2017-08-01 | 联策科技股份有限公司 | 光学检测系统 |
CN108982520A (zh) * | 2018-08-03 | 2018-12-11 | 汕头超声显示器(二厂)有限公司 | 一种膜底可视缺陷的检测方法及装置 |
CN110031480A (zh) * | 2018-01-11 | 2019-07-19 | Hb技术有限公司 | 导光板的上面图案检测装置 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10429318B2 (en) * | 2017-12-19 | 2019-10-01 | Industrial Technology Research Institute | Detection system for a multilayer film and method thereof using dual image capture devices for capturing forward scattered light and back scattered light |
-
2019
- 2019-07-30 CN CN201910697024.XA patent/CN110261408B/zh active Active
Patent Citations (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004239674A (ja) * | 2003-02-04 | 2004-08-26 | Minato Electronics Inc | フラット液晶ディスプレイにおける表示素子の検査装置および表示素子の検査方法 |
CN1648645A (zh) * | 2004-01-30 | 2005-08-03 | 三星电子株式会社 | 检查显示面板的设备和方法 |
CN201397305Y (zh) * | 2009-05-05 | 2010-02-03 | 北京凌云光视数字图像技术有限公司 | 硬质卡片表面质量检测设备 |
JP2010281772A (ja) * | 2009-06-08 | 2010-12-16 | Toppan Printing Co Ltd | シート状透明体の凹凸を主とした欠陥検査方法 |
CN104297259A (zh) * | 2014-11-04 | 2015-01-21 | 苏州精创光学仪器有限公司 | 触摸屏保护玻璃外观缺陷检测方法 |
CN105738380A (zh) * | 2014-12-29 | 2016-07-06 | 三星显示有限公司 | 显示装置的检查装置以及显示装置的检查方法 |
CN105424723A (zh) * | 2015-11-28 | 2016-03-23 | 惠州高视科技有限公司 | 一种显示屏幕模组缺陷检测方法 |
CN105549231A (zh) * | 2015-12-04 | 2016-05-04 | 凌云光技术集团有限责任公司 | 液晶屏缺陷检测装置及方法 |
CN206369707U (zh) * | 2016-12-23 | 2017-08-01 | 联策科技股份有限公司 | 光学检测系统 |
CN110031480A (zh) * | 2018-01-11 | 2019-07-19 | Hb技术有限公司 | 导光板的上面图案检测装置 |
CN108982520A (zh) * | 2018-08-03 | 2018-12-11 | 汕头超声显示器(二厂)有限公司 | 一种膜底可视缺陷的检测方法及装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN110261408A (zh) | 2019-09-20 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN110261408B (zh) | 显示模组缺陷检测装置及方法 | |
US7782451B2 (en) | Device for and method of inspecting surface condition having different curvatures | |
CN107796825B (zh) | 器件检测方法 | |
CN104335030B (zh) | 基板的异物检测方法 | |
JP5014003B2 (ja) | 検査装置および方法 | |
TWI426261B (zh) | End inspection device | |
TWI773032B (zh) | 一種拱形照明裝置、具有其之成像系統及成像方法 | |
JPH0961363A (ja) | ゴルフボールの外観検査方法及び該検査方法に用いる照明装置 | |
JP2001249012A (ja) | 被検体の外観形状検査方法及び装置 | |
JP2009513984A (ja) | 複合構造に欠陥がないか検査するための装置および方法 | |
JP2007303829A (ja) | 画像検査装置およびこの画像検査装置を用いた画像検査方法 | |
JP5144401B2 (ja) | ウエハ用検査装置 | |
JP6859628B2 (ja) | 外観検査方法および外観検査装置 | |
TWI495867B (zh) | Application of repeated exposure to multiple exposure image blending detection method | |
KR20150099956A (ko) | 렌즈 검사 장치 | |
JP6512585B1 (ja) | 部品外観自動検査装置 | |
KR101006983B1 (ko) | 패널 검사장치 | |
CN117571744A (zh) | 一种用于盖板玻璃双表面缺陷光学检测方法 | |
CN113612991A (zh) | 一种补光型摄像机的亮度均匀性检测方法及装置 | |
JP5312182B2 (ja) | タイヤ内面検査装置 | |
JPH10274515A (ja) | 曲面検査方法及び検査用カメラユニット | |
JP2016118518A (ja) | 外観検査装置 | |
JP2007033240A (ja) | 板状体の欠陥検出方法及び欠陥検出装置 | |
JP2005249946A (ja) | 表示装置の欠陥検査装置 | |
JP6973783B2 (ja) | レンズ外観検査装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |