CN105549231A - 液晶屏缺陷检测装置及方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开的液晶屏缺陷检测装置，包括：检测暗室、位于所述检测暗室内的图像采集装置，及与所述图像采集装置的图像采集端面相对设置的液晶屏支撑件，在所述图像采集装置与所述液晶屏支撑件之间还设置有环形光源；所述环形光源的端边所形成的空白区面平行于所述图像采集装置的图像采集端面以及所述液晶屏支撑件的支撑端面，且所述液晶屏支撑件的支撑端面位于所述空白区面的范围内；其中，所述环形光源包括光源支架，和在平行于所述空白区面方向上铰接在所述光源支架上的发光设备。本发明还公开了一种液晶屏缺陷检测方法。与现有技术相比，不仅能够清楚的区分出划痕所在的主体，而且能够提高检测结果的准确性。

Description

液晶屏缺陷检测装置及方法

技术领域

本发明涉及光学检测技术领域，更具体而言，涉及一种液晶屏缺陷检测装置及方法。

背景技术

液晶屏作为低功耗显示设备，被广泛应用在各行各业，而作为电子配件，在投入使用前，液晶屏需要经过生产、贴合、运输等环节，液晶屏的表面不可避免的会形成各种划伤。因此，为了不影响使用，需要对液晶屏进行缺陷检测，将存在划痕的液晶屏作为缺陷产品筛选出。

现有技术中，采用光学检测的方式检测液晶屏的划痕，具体的，如图1所示，在检测暗室03中，将液晶屏04放置在液晶屏支撑件02之上，与液晶屏04的待检测端面相对设置的是图像采集装置01。液晶屏04由与之连接的信号发生器控制，可以显示不同颜色、不同亮度的光，图像采集装置01在液晶屏04显示光亮时，采集液晶屏04端面的图像。当液晶屏04有划痕时，图像采集装置01所采集的图像中，划痕处对应的图像显示为亮或暗的点、线、色斑等，从而能够很明显的筛选出存在缺陷的液晶屏。

然而，由于液晶屏端面外层附有保护膜，使用现有的缺陷检测装置，无法清楚地的区分划痕是处在保护膜上还是液晶屏上，导致检测结果的准确性较低。

发明内容

为了解决上述技术问题，本发明实施例提供一种液晶屏缺陷检测装置及方法，能够清楚的区分出划痕所在的主体，从而提高检测结果的准确性。

第一方面，本发明实施例提供了一种液晶屏缺陷检测装置，包括检测暗室、位于所述检测暗室内的图像采集装置，及与所述图像采集装置的图像采集端面相对设置的液晶屏支撑件，在所述图像采集装置与所述液晶屏支撑件之间还设置有环形光源；所述环形光源的端边所形成的空白区面平行于所述图像采集装置的图像采集端面以及所述液晶屏支撑件的支撑端面，且所述液晶屏支撑件的支撑端面位于所述空白区面的范围内；其中，所述环形光源包括光源支架，和在平行于所述空白区面方向上铰接在所述光源支架上的发光设备。

优选的，所述环形光源为矩形光源，所述环形光源为矩形光源，所述矩形光源包括四条子光源支架，其中，每条所述子光源支架通过铰接件连接一个条形发光设备。

优选的，所述铰接件固定连接有穿透所述子光源支架侧壁的连接臂；所述连接臂位于所述子光源支架侧壁外侧的一端固定有指针；所述指针与设置在所述子光源支架侧壁外侧的角度标记相配合；所述角度标记精确到1度。

优选的，所述铰接件上设置有第一固定件，所述子光源支架上设置有与所述第一固定件活动连接的第二固定件；其中，所述第一固定件的数量与所述角度标记的总度数相同；在垂直于所述条形发光设备的方向上均匀分布；且每两个所述第一固定件之间的距离与所述条形发光设备旋转1度的弧长相等；和/或，所述第二固定件的数量与所述角度标记的总度数相同；在垂直于所述条形发光设备的方向上均匀分布；且每两个所述第二固定件之间的距离与所述条形发光设备旋转1度的弧长相等。

优选的，所述条形发光设备的光线发散角度范围为30度-60度。

第二方面，本发明实施例还提供了一种液晶屏缺陷检测方法，包括：在将所述液晶屏固定在液晶屏支撑件的支撑端面上之后，按照预设标准调整环形光源中发光设备的照射角度；通过图像采集装置的图像采集端面采集得到第一缺陷图像；关闭所述环形光源中的发光设备，并控制所述液晶屏发光；通过所述图像采集装置的图像采集端面采集得到第二缺陷图像；从所述第二缺陷图像中删除所述第一缺陷图像，得到所述液晶屏的缺陷图像。

优选的，当所述环形光源为矩形光源时，所述按照预设标准调整环形光源中发光设备的照射角度，包括：根据所述液晶屏的尺寸确定安装在所述矩形光源上的每条条形发光设备的角度范围；逐条调整所述条形发光设备的角度；当调整到相应角度时，固定所述条形发光设备。

由以上描述可知，本发明实施例提供的液晶屏缺陷检测装置及方法，在所述图像采集装置与所述液晶屏支撑件之间设置环形光源，其中，所述环形光源的端边所形成的空白区面平行于所述图像采集装置的图像采集端面以及所述液晶屏支撑件的支撑端面，并且所述液晶屏支撑件的支撑端面位于所述空白区面的范围内。此外，所述环形光源包括光源支架，和在平行于所述空白区面方向上铰接在所述光源支架上的发光设备。在检测液晶屏的缺陷时，可以先通过环形光源照射液晶屏，以采集所述液晶屏保护膜的缺陷，然后，再检测液晶屏本身的缺陷，从而能够清楚的区分液晶屏与保护膜上的划痕，与现有技术相比，不仅能够清楚的区分出划痕所在的主体，而且能够提高检测结果的准确性。

应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅为示例性和解释性描述，对本发明技术方案并不构成限制。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。通过附图所示，本发明的上述及其它目的、特征和优势将更加清晰。在全部附图中相同的附图标记指示相同的部分。并未刻意按实际尺寸等比例缩放绘制附图，重点在于示出本发明的主旨。

图1是现有的液晶屏缺陷检测装置的结构示意图；

图2是本发明实施例提供的液晶屏缺陷检测装置的结构示意图；

图3是本发明实施例提供的检测液晶屏保护膜划痕的原理示意图；

图4是本发明实施例提供的液晶屏缺陷检测方法的方法流程图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整的描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

由于现有的检测液晶屏缺陷的装置和方法，并未针对缺陷存在的主体进行区别检测，因而，存在一定的误检率。而下面将从装置和方法两方面，详细描述解决上述技术问题的技术方案。

请参见图2，图2为本发明实施例提供的液晶屏缺陷检测装置的结构示意图，其中，可以看出，在检测暗室03中，除了图像采集装置01，及与图像采集装置01的图像采集端面相对设置的液晶屏支撑件02之外，在图像采集装置01与液晶屏支撑件02之间还设置有环形光源07。其中，环形光源07用于检测液晶屏保护膜的划痕，因此，其端边所形成的空白区面平行于图像采集装置01的图像采集端面以及液晶屏支撑件02的支撑端面。

为了在检测液晶屏保护膜的划痕时，不影响图像采集装置01采集液晶屏04的图像，液晶屏支撑件02的支撑端面位于环形光源07的空白区面范围内，从而避免环形光源07的端边对液晶屏04形成遮挡。

此外，环形光源07包括光源支架05和铰接在光源支架05上的发光设备06。其中，由于环形光源07用于为液晶屏04提供照射，所以发光设备06可以在平行于空白区面方向上连接，并且可以向面对液晶屏04的方向上旋转。

需要说明的是，环形光源07的形状可以是任意规则的几何形状，例如，圆形、矩形等，在本发明的一个优选示例中，环形光源07为矩形光源。

为了使本领技术人员更加清楚、详细的了解本发明实施例的技术方案，下面将以矩形光源为例，对本发明实施例的技术方案进行描述。

请参见图3，图3是本发明实施例提供的检测液晶屏保护膜划痕的原理示意图，由于液晶屏保护膜08在正常状态下表面平整，当矩形光源07以一定角度入射时，液晶屏保护膜08产生镜面反射；但是，如果液晶屏保护膜08存在划痕或者破损等缺陷09时，平整的表面中会出现沟槽，当矩形光源07以一定角度照射时，平整部分将产生镜面反射，而沟槽部分将产生漫反射。因此，若适当调整矩形光源07的入射角度，使缺陷09反射的光线进入图像采集装置01，平整部分反射的光线超出图像采集装置01，则使得图像采集装置01所采集的图像背景为暗色，而缺陷09部分为色亮，从而能够得到液晶屏保护膜08的缺陷。

需要说明的是，液晶屏04的尺寸和长宽比各有不同，而不同尺寸的液晶屏04对应的光线入射角度不同，且不同长宽比的液晶屏04，每条边所要求的光线入射角度也不相同。因此，为了能够灵活的调整每一侧的光线入射角度，矩形光源07包括四条子光源支架，而且每条子光源支架通过铰接件连接一个条形发光设备，从而能够灵活的调整每一侧发光设备的入射光线，提高矩形光源07的适用广泛度。

此外，由于在检测液晶屏保护膜08的缺陷09之前，需要调整每条条形发光设备的入射角度，而且在调整时，所旋转的角度大小很难把握。因此，本实施例中，为了便于调整，每个铰接件固定连接有穿透子光源支架侧壁的连接臂，连接臂伸出的子光源支架侧壁外侧的一端固定有指针，而子光源支架侧壁外侧设置有角度标记，其中，角度标记精确到1度，该指针配合指示当前条形发光设备的旋转角度，以便于在调整条形发光设备角度时，能够根据指针的指示，明确的得知光线的入射角度，操作方便。

基于上述描述，为了进一步优化本发明实施例的技术方案，在条形发光设备旋转到合适的角度之后，可以将条形光源设备固定，以防止条形光源设备自行旋转，改变光线入射角度。具体的，可以在铰接件上设置第一固定件，在子光源支架上设置与第一固定件活动连接的第二固定件。其中，第一固定件的数量可以与角度标记的总度数相同，并在垂直于条形发光设备的方向上均匀分布，且每两个第一固定件之间的距离与条形发光设备旋转1度的弧长相等；和/或第二固定件的数量可以与角度标记的总度数相同，并在垂直于条形发光设备的方向上均匀分布，且每两个第二固定件之间的距离与条形发光设备旋转1度的弧长相等。

例如，第一固定件可以是设置在铰接件上的一排卡扣，与卡扣配合设置的第二固定件是卡槽，当调整条形发光设备的光线入射角度时，当前卡接的卡扣与卡槽断开卡接，卡槽相继与其他的卡扣卡接、断开，直到调整到合适的角度，卡槽与相应的卡扣卡接。当然，其中，第一固定件也可以设置为卡槽，第二固定件设置为一排卡扣，且卡槽也可以设置为一排，本发明实施例对此不做限制。

此外，卡槽与卡扣的设置仅为本发明的一个优选示例，本发明实施例中，也可以将第一固定件和第二固定件设置为相互配合的其他活动链接件，本发明对此不做限制。

需要说明的是，为保证条形发光设备所照射的光更容易控制，本发明实施例中，条形发光设备的光线发散角度较小，其范围可以是30度-60度，在本发明的一个优选示例中，可以采用直插型LED颗粒光源。

基于上述描述可知，本发明实施例提供的液晶屏缺陷检测装置，在检测液晶屏的缺陷时，可以先通过环形光源照射液晶屏，以采集所述液晶屏保护膜的缺陷，然后，再检测液晶屏本身的缺陷，从而能够清楚的区分液晶屏与保护膜上的划痕，与现有技术相比，不仅能够清楚的区分出划痕所在的主体，而且能够提高检测结果的准确性。

与上述装置描述相对应的，本发明实施例还提供了一种液晶屏缺陷检测方法，请参见图4，图4为本发明实施例所提供的液晶屏缺陷检测方法的方法流程图，所述方法包括以下步骤：

步骤S101：按照预设标准调整环形光源中发光设备的照射角度。

其中，当将液晶屏固定在液晶屏支撑件的支撑端面上之后，可以先采集液晶屏保护膜上的缺陷，因此，首先，可以调整环形光源中发光设备的照射角度，以采集液晶屏保护膜的缺陷图像。

具体的，以矩形光源为例，首先可以根据液晶屏的尺寸及长款比，确定每条条形发光设备的光线入射角度，然后，按照所确定的光线入射角度调整每条条形发光设备的角度，并在调整到相应角度时，固定条形发光设备。

需要说明的是，在调整条形发光设备的角度时，可以参考设置在子光源支架侧壁外侧的角度标记，当旋转铰接件至指针指向相应角度标记时，则认为调整完成。

步骤S102：通过图像采集装置的图像采集端面采集得到第一缺陷图像。

由于当前仅通过环形光源为液晶屏提供照射，因此，图像采集装置所采集的第一图像仅为液晶屏保护膜的缺陷图像，从而能够清楚的区分缺陷存在的主体。

步骤S103：关闭所述环形光源中的发光设备，并控制所述液晶屏发光。

当采集液晶屏保护膜的缺陷图像之后，将环形光源关闭，采集液晶屏的缺陷。其中，液晶屏的缺陷图像采集方法与现有技术相同，均是通过信号发生器控制液晶屏发光，采集液晶屏的图像进行，具体的，本发明实施例此处不再赘述。

步骤S104：通过所述图像采集装置的图像采集端面采集得到第二缺陷图像。

需要说明的是，第二缺陷图像中不仅包括液晶屏的缺陷标识，也包括液晶屏保护膜的缺陷标识，即，第二缺陷图像中的部分或者全部缺陷标识与第一缺陷图像重合。

步骤S105：从所述第二缺陷图像中删除所述第一缺陷图像，得到所述液晶屏的缺陷图像。

其中，根据上述描述可知，第二缺陷图像中包括液晶屏本身的缺陷标识和液晶屏保护膜的缺陷标识，而第一缺陷图像标识仅仅是液晶屏保护膜的缺陷标识，因此，在第二缺陷图像中将与第一缺陷图像中的缺陷标识重合的部分删除，即可得到液晶屏的缺陷图像。

综合上述，本发明实施例提供的液晶屏缺陷检测装置及方法，在所述图像采集装置与所述液晶屏支撑件之间设置环形光源，其中，所述环形光源的端边所形成的空白区面平行于所述图像采集装置的图像采集端面以及所述液晶屏支撑件的支撑端面，并且所述液晶屏支撑件的支撑端面位于所述空白区面的范围内。此外，所述环形光源包括光源支架，和在平行于所述空白区面方向上铰接在所述光源支架上的发光设备。在检测液晶屏的缺陷时，可以先通过环形光源照射液晶屏，以采集所述液晶屏保护膜的缺陷，然后，再检测液晶屏本身的缺陷，从而能够清楚的区分液晶屏与保护膜上的划痕，与现有技术相比，不仅能够清楚的区分出划痕所在的主体，而且能够提高检测结果的准确性。

本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的发明后，将容易想到本发明的其它实施方案。本发明旨在涵盖本发明的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本发明的一般性原理并包括本发明未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本发明的真正范围和精神由下面的权利要求指出。

应当理解的是，本发明并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构，并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本发明的范围仅由所附的权利要求来限制。

Claims (7)

1.一种液晶屏缺陷检测装置，包括检测暗室、位于所述检测暗室内的图像采集装置，及与所述图像采集装置的图像采集端面相对设置的液晶屏支撑件，其特征在于，

在所述图像采集装置与所述液晶屏支撑件之间还设置有环形光源；所述环形光源的端边所形成的空白区面平行于所述图像采集装置的图像采集端面以及所述液晶屏支撑件的支撑端面，且所述液晶屏支撑件的支撑端面位于所述空白区面的范围内；

其中，所述环形光源包括光源支架，和在平行于所述空白区面方向上铰接在所述光源支架上的发光设备。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述环形光源为矩形光源，所述矩形光源包括四条子光源支架，其中，每条所述子光源支架通过铰接件连接一个条形发光设备。

3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述铰接件固定连接有穿透所述子光源支架侧壁的连接臂；所述连接臂位于所述子光源支架侧壁外侧的一端固定有指针；所述指针与设置在所述子光源支架侧壁外侧的角度标记相配合；所述角度标记精确到1度。

4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，所述铰接件上设置有第一固定件，所述子光源支架上设置有与所述第一固定件活动连接的第二固定件；

其中，所述第一固定件的数量与所述角度标记的总度数相同；在垂直于所述条形发光设备的方向上均匀分布；且每两个所述第一固定件之间的距离与所述条形发光设备旋转1度的弧长相等；和/或，所述第二固定件的数量与所述角度标记的总度数相同；在垂直于所述条形发光设备的方向上均匀分布；且每两个所述第二固定件之间的距离与所述条形发光设备旋转1度的弧长相等。

5.根据权利要求2至4中任一项所述的装置，其特征在于，所述条形发光设备的光线发散角度范围为30度-60度。

6.一种液晶屏缺陷检测方法，其特征在于，包括：

在将所述液晶屏固定在液晶屏支撑件的支撑端面上之后，按照预设标准调整环形光源中发光设备的照射角度；

通过图像采集装置的图像采集端面采集得到第一缺陷图像；

关闭所述环形光源中的发光设备，并控制所述液晶屏发光；

通过所述图像采集装置的图像采集端面采集得到第二缺陷图像；

从所述第二缺陷图像中删除所述第一缺陷图像，得到所述液晶屏的缺陷图像。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，当所述环形光源为矩形光源时，所述按照预设标准调整环形光源中发光设备的照射角度，包括：

根据所述液晶屏的尺寸确定安装在所述矩形光源上的每条条形发光设备的角度范围；

逐条调整所述条形发光设备的角度；

当调整到相应角度时，固定所述条形发光设备。