CN103439812B - 液晶玻璃基板45°角检查法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种液晶玻璃基板45°角检查法,包括以下检测步骤:第一步,将待检查的玻璃基板放置于暗室检查空间内的可调节检查装置上;第二步,打开卤素灯,调节卤素灯箱的刻度到MAX照度值,对玻璃基板进行检测;第三步,调节卤素灯使得卤素灯光与玻璃基板呈夹角45°倾斜照射,在玻璃基板上方100-200mm处,质检员的人眼垂直于玻璃基板往下观察;第四步,移动卤素灯光源,逐行扫描玻璃基板,找出缺陷位置。通过本发明45°角检查法,能很快找到玻璃基板表面缺陷所在位置并作出判断,提高了对玻璃基板表面缺陷检测、判断的准确性,保证了玻璃基板的内部以及表面质量,提高工作效率。
Description
技术领域
本发明涉及一种液晶玻璃基板45°角检查法,尤其涉及一种通过光线折射来对玻璃表面进行检测的方法,属于玻璃表面缺陷检测技术领域。
背景技术
浮法建筑玻璃一般通过在线检测设备进行检测,其工作原理为:照相设备与显示屏电连接,照射灯箱产生一特定图案的光源照射在浮法玻璃上,照相设备的摄像端正对该光源照射在浮法玻璃上的影像,显示屏显示该照相设备所摄的影像,若浮法玻璃上有缺陷,照射在浮法玻璃上而形成的特定图案的影像在所述缺陷处就会发生变形或模糊不清,照相设备摄取到的影响皆显示在显示屏上,通过显示屏可清洗的看到所述影像的变形或模糊不清,即可判断该浮法玻璃存在有内部缺陷。该浮法玻璃的检测方法,着重于玻璃内部缺陷的检测。除此之外,浮法玻璃还可以通过使用透射光来进行离线检测,其检测原理为:在光源透过玻璃时,质检员近距离观察玻璃,用肉眼来直接观察玻璃内部是否有缺陷。
TFT(薄膜场效应晶体管ThinFilmTransistor的英文缩写)是指液晶显示器上的每一液晶象素点都是由集成在其后的薄膜晶体管来驱动,对于TFT玻璃基板来说,TFT玻璃基板除了要检测玻璃内部缺陷外,用户更加关注玻璃基板的表面质量,因而对玻璃基板表面检测提出更高要求,现有的浮法玻璃检测方法并不能够对浮法玻璃表面进行有效的检测。
对现有浮法玻璃的检测来说,浮法玻璃直接用卤素灯透射后用肉眼检测,凭借观察者自身经验来进行检测,因为卤素灯光线发出的强光如果通过光线直接观察的话,眼睛的视野内全是卤素灯头发出的强光源;人在反射光正面观察,其效果和原理类似于:用强光手电筒直射眼睛,不仅不能观察到表面缺陷,还会对眼睛产生损害。
因此,这种凭经验检测的方式根据每个人检查方式以及个人判断能力不同,往往不能准确、迅速的找出缺陷所在位置,并不能准确、高效的对玻璃基板表面进行直接观察和检测,在很大程度上影响玻璃基板的表面质量,从而影响到整个玻璃产线的质量。
发明内容
本发明的目的在于:提供一种液晶玻璃基板45°角检查法,能快速找到玻璃基板表面缺陷所在位置并作出判断,避免现有浮法玻璃通过采用直接透射后用肉眼检测内部缺陷而存在的不足,保证了玻璃基板的内部以及表面质量,从而能有效的解决上述现有技术中存在的问题。
本发明目的通过下述技术方案来实现:一种液晶玻璃基板45°角检查法,包括以下检测步骤:
第一步,将待检查的玻璃基板放置于暗室检查空间内的可调节检查装置上;
第二步,打开卤素灯,调节卤素灯箱的刻度到MAX照度值,对玻璃基板进行检测;
第三步,调节卤素灯使得卤素灯光与玻璃基板呈夹角45°倾斜照射,在玻璃基板上方100-200mm处,质检员的人眼垂直于玻璃基板往下观察;
第四步,移动卤素灯光源,逐行扫描玻璃基板,找出缺陷位置。
作为一种优选方式,在第一步中,可调节检查装置是指能够旋转、左右摆动的旋转抽检装置。
作为一种优选方式,在第二步中,用20000-30000LUX的光强对玻璃基板进行检测。
作为一种优选方式,在第三步中,质检员通过滑轨卤素灯观察装置来保证人眼垂直于玻璃基板。
与现有技术相比,本发明的有益效果:通过本发明45°角检查法,能很快找到玻璃基板表面缺陷所在位置并作出判断,避免现有的浮法玻璃直接透射后用肉眼检测内部缺陷的不足,提高了检验员对玻璃基板表面缺陷检测、判断的准确性,保证了玻璃基板的内部以及表面质量,大大提高检验员的工作效率,提升产线节拍。
附图说明
图1是本发明观察时的原理示意图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合实施例,对本发明进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
本说明书中公开的所有特征,或公开的所有方法或过程中的步骤,除了相互排斥的特质和/或步骤以外,均可以以任何方式组合,除非特别叙述,均可被其他等效或具有类似目的的替代特征加以替换,即,除非特别叙述,每个特征之一系列等效或类似特征中的一个实施例而已。
实施例1
如图1所示,一种液晶玻璃基板45°角倾斜检查法,包括以下检测步骤:
第一步,将待检查的液晶玻璃基板放置于暗室检查空间内的可调节检查装置上;在本实施例中,可调节检查装置是指能够旋转、左右摆动的旋转抽检装置,此装置为悬空设计,有一个四边形固定架,用于放置玻璃基板,固定架仅有短边两点固定于立柱上,其余均悬空,固定立柱左右均有气缸,通过CDA压缩空气推动气缸带动立柱,使立柱带动固定架的装置;暗室内的旋转抽检装置可以上、下移动,也可以调节观察的倾斜角度,达到根据质检员身高不同而调节其目光垂直于玻璃表面的目的,满足不同质检员的使用要求。
第二步,打开卤素灯,调节卤素灯箱的刻度到MAX照度值,用20000-30000LUX的光强对玻璃基板进行检测;灯光倾斜打到玻璃基板表面后,由于暗室的存在,可以形成反射光,便于观察。
第三步,调节卤素灯使得卤素灯光与玻璃基板呈夹角45°倾斜照射,在玻璃基板上方100-200mm处,质检员位于基板正前方,质检员通过滑轨卤素灯观察装置,此观察装置有一固定在暗房横梁上的滑轨,滑轨位于玻璃基板垂直方向,而卤素灯连接在滑轨上,质检员与卤素灯相同方向来观察玻璃基板,即可保证人眼始终垂直于玻璃基板。质检员的人眼垂直于玻璃基板往下观察;通过调节检查装置来保证目光始终垂直玻璃基板表面。
第四步,卤素灯的灯光通过灯箱用光纤连接,可以在光纤长度内随意移动,移动卤素灯光源,质检员不必跟随移动,迅速的逐行扫描玻璃基板观察,快速找出缺陷位置。
本发明的工作原理如下:
暗室原理:也叫暗房,是用黑色亚光PV膜隔绝出一个检测空间,防止外界光线对检测空间的影响,所有检测空间内的装置均使用黑色。由于实际上黑白感光剂对红色不敏感,彩色感光剂对蓝绿色不敏感,因此利用这些特性,在有红光的条件下处理黑白材料、在蓝绿光下处理彩色材料,这种光线条件下的工作室,就是暗房。
检测原理:通过45°角倾斜检查方式,避开了原始透射光方式只能观察玻璃内部缺陷的不足,如图1所示,某个缺陷5在玻璃基板4表面,卤素灯光通过45°角照射到玻璃基板表面,由于暗室的存在,光源会在玻璃基板表面形成反射,而有缺陷的位置接收到入射光过后,会形成无定向漫反射,检查人员目光垂直玻璃基板表面观察而不是在反射光正面,是因为卤素灯光线1发出的强光如果通过光线3来观察的话,眼睛的视野内全是卤素灯头发出的强光源,而此强光照度高达20000-30000LUX,不仅不能观察到表面缺陷,还会对眼睛产生损害,但是通过反射光线2来接收缺陷产生的部分反射光的话,可以避免强光直射,肉眼能很好的接收到缺陷产生的漫反射光,便于质检员准确找出缺陷所在位置,而且避免了强光的直射,可以对眼睛起到保护作用。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已,并不用以限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (3)
1.一种液晶玻璃基板45°角检查法,其特征在于:包括以下检测步骤:
第一步,将待检查的玻璃基板放置于暗室检查空间内的可调节检查装置上;
第二步,打开卤素灯,调节卤素灯箱的刻度到MAX照度值并采用20000-30000LUX的光强对玻璃基板进行检测;
第三步,调节卤素灯使得卤素灯光与玻璃基板呈夹角45°倾斜照射,在玻璃基板上方100-200mm处,质检员的人眼垂直于玻璃基板往下观察;
第四步,移动卤素灯光源,逐行扫描玻璃基板,找出缺陷位置。
2.如权利要求1所述的液晶玻璃基板45°角检查法,其特征在于:在第一步中,可调节检查装置是指能够旋转、左右摆动的旋转抽检装置。
3.如权利要求1所述的液晶玻璃基板45°角检查法,其特征在于:在第三步中,质检员通过滑轨卤素灯观察装置来保证人眼垂直于玻璃基板。
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