CN105700207B - 框胶固化率测试样品的制备方法及框胶固化率测试方法 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种框胶固化率测试样品的制备方法及框胶固化率测试方法。本发明的框胶固化率测试样品的制备方法，利用碱性溶液将框胶表面的黑色矩阵去除，操作简单，成功率高，制得的框胶固化率测试样品表面干净、无黑色矩阵残留。本发明的框胶固化率测试方法，利用碱性溶液将框胶表面的黑色矩阵去除后，采用红外光谱仪测试框胶的红外光谱图，计算得到框胶固化率，该方法操作简单，提高了框胶固化率测试的可执行性，测试结果的准确度高，为制程监控及框胶异常解析提供数据。

Description

框胶固化率测试样品的制备方法及框胶固化率测试方法
技术领域
本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种框胶固化率测试样品的制备方法及框胶固化率测试方法。
背景技术
随着显示技术的发展，液晶显示器(Liquid Crystal Display，LCD)等平面显示装置因具有高画质、省电、机身薄及应用范围广等优点，而被广泛的应用于手机、电视、个人数字助理、数字相机、笔记本电脑、台式计算机等各种消费性电子产品，成为显示装置中的主流。
现有市场上的液晶显示装置大部分为背光型液晶显示器，其包括液晶显示面板及背光模组(backlight module)。液晶显示面板的工作原理是在两片平行的玻璃基板当中放置液晶分子，两片玻璃基板中间有许多垂直和水平的细小电线，通过通电与否来控制液晶分子改变方向，将背光模组的光线折射出来产生画面。
通常液晶显示面板由彩膜(CF，Color Filter)基板、薄膜晶体管(TFT，Thin FilmTransistor)基板、夹于彩膜基板与薄膜晶体管基板之间的液晶(LC，Liquid Crystal)及密封胶框(Sealant)组成，其成型工艺一般包括：前段阵列(Array)制程(薄膜、黄光、蚀刻及剥膜)、中段成盒(Cell)制程(TFT基板与CF基板贴合)及后段模组组装制程(驱动IC与印刷电路板压合)。其中，前段Array制程主要是形成TFT基板，以便于控制液晶分子的运动；中段Cell制程主要是在TFT基板与CF基板之间添加液晶；后段模组组装制程主要是驱动IC压合与印刷电路板的整合，进而驱动液晶分子转动，显示图像。
根据目前Cell制造流程，CF基板或TFT基板在配向膜(PI)制程后进行框胶的涂布，然后进行液晶滴入，在CF和TFT上下基板对组完成后进行框胶的固化，形成密封的液晶盒(LCD Cell)。框胶的固化程度会直接影响框胶的粘合力，进而影响液晶盒的密封性能及可靠性表现，因此需测试框胶固化率。
目前测试框胶固化率方法为用外力将CF基板与TFT基板拉开，但因为框胶与黑色矩阵(BM)的粘合力大于黑色矩阵与玻璃的粘合力，故CF基板与TFT基板分开时表现为CF基板表面的黑色矩阵从CF基板上剥离，覆盖在TFT基板的框胶表面，从而影响了框胶的取样测试，目前只能用刀片等方法刮除框胶表面的黑色矩阵，然后再进行框胶固化率测试。但此去除黑色矩阵的方法操作困难，成功率较低，影响测试的可行性。
故此，开发一种框胶固化率测试样品的制备方法及框胶固化率测试方法显得尤为迫切。
发明内容
本发明的目的在于提供一种框胶固化率测试样品的制备方法，操作简单，成功率高，制得的框胶固化率测试样品表面干净、无黑色矩阵残留。
本发明的目的还在于提供一种框胶固化率测试方法，采用上述方法制得框胶固化率测试样品后，采用红外光谱仪测试框胶的红外光谱图，通过计算得到框胶固化率，操作简单，测试结果的准确度高。
为实现上述目的，本发明提供一种框胶固化率测试样品的制备方法，包括如下步骤：
步骤1、获取表面附着有框胶和黑色矩阵的TFT基板，作为待测样本；
步骤2、将所述待测样本放置于容器中，在所述容器中加入碱性溶液，浸泡所述待测样本，直至黑色矩阵软化；
步骤3、将软化的黑色矩阵从框胶上剥离，得到由TFT基板与附着于其上的框胶构成的框胶固化率测试样品。
所述步骤1包括：
步骤11、提供一待测试的液晶面板，所述液晶面板包括CF基板、TFT基板、设于所述CF基板与TFT基板之间用于将CF基板与TFT基板粘接在一起的框胶、设于所述CF基板上远离框胶一侧的上偏光片、以及设于所述TFT基板上远离框胶一侧的下偏光片；其中，所述CF基板包括基板和设于基板上的黑色矩阵，所述框胶与所述黑色矩阵相接触；
步骤12、将液晶面板两面的上、下偏光片撕去，加热液晶面板的一角，待该角落的框胶软化后，从该角落将CF基板与TFT基板撕开，黑色矩阵从CF基板的基板上剥离，与框胶共同附着于TFT基板表面；
步骤13、切下一部分表面附着有框胶和黑色矩阵的TFT基板，作为待测样本，所述待测样本中的框胶为所述步骤12中非加热软化的部分。
所述步骤12中，采用热风枪加热液晶面板的一角。
所述步骤13中，采用玻璃刀切下一部分表面附着有框胶和黑色矩阵的TFT基板。
所述步骤13获取的待测样本的大小为4cm×2cm。
所述步骤2中，将所述待测样本以黑色矩阵朝上的方向放置于容器中，碱性溶液从所述黑色矩阵的表面加入容器中，加入量为淹没所述黑色矩阵表面。
所述步骤2中，所述碱性溶液为氢氧化钾水溶液，所述容器为培养皿。
所述氢氧化钾水溶液的质量百分比浓度为30wt％。
还包括步骤4、对所述框胶固化率测试样品进行清洗，去除表面残留的碱性溶液，之后将其烘干。
本发明还提供一种框胶固化率测试方法，包括：采用上述方法制得框胶固化率测试样品后，将所述框胶固化率测试样品放入红外光谱仪中采集框胶的红外光谱图，通过计算得到框胶的固化率。
本发明的有益效果：本发明提供的一种框胶固化率测试样品的制备方法，利用碱性溶液将框胶表面的黑色矩阵去除，操作简单，成功率高，制得的框胶固化率测试样品表面干净、无黑色矩阵残留。本发明提供的一种框胶固化率测试方法，利用碱性溶液将框胶表面的黑色矩阵去除后，采用红外光谱仪测试框胶的红外光谱图，通过计算得到框胶固化率，该方法操作简单，提高了框胶固化率测试的可执行性，测试结果的准确度高，为制程监控及框胶异常解析提供数据。
为了能更进一步了解本发明的特征以及技术内容，请参阅以下有关本发明的详细说明与附图，然而附图仅提供参考与说明用，并非用来对本发明加以限制。
附图说明
下面结合附图，通过对本发明的具体实施方式详细描述，将使本发明的技术方案及其它有益效果显而易见。
附图中，
图1为本发明的框胶固化率测试样品的制备方法的示意流程图；
图2为本发明的框胶固化率测试样品的制备方法的步骤11的示意图；
图3为本发明的框胶固化率测试样品的制备方法的步骤12的示意图；
图4为本发明的框胶固化率测试样品的制备方法的步骤13的示意图；
图5为本发明的框胶固化率测试样品的制备方法的步骤2的示意图；
图6为本发明的框胶固化率测试样品的制备方法的步骤3的示意图。
具体实施方式
为更进一步阐述本发明所采取的技术手段及其效果，以下结合本发明的优选实施例及其附图进行详细描述。
本发明的首要目的在于开发一种框胶固化率测试样品的制备方法，利用碱性溶液将框胶表面的黑色矩阵(BM)去除，该方法操作简单，成功率高，可得到黑色矩阵去除彻底、方便测试的框胶固化率测试样品。
本发明的次要目的在于开发一种框胶固化率测试方法，利用碱性溶液将框胶表面的黑色矩阵(BM)进行去除，然后用红外光谱仪测试框胶的红外光谱图，通过计算得到框胶固化率，该方法操作简单，提高框胶固化率测试的可执行性，测试结果的准确度高，为制程监控及框胶异常解析提供数据。
请参阅图1，本发明首先提供一种框胶固化率测试样品的制备方法，包括如下步骤：
步骤1、如图2-4所示，获取表面附着有框胶30和黑色矩阵12的TFT基板20，作为待测样本80。
具体的，所述步骤1包括：
步骤11、如图2所示，提供一待测试的液晶面板90，所述液晶面板90包括CF基板10、TFT基板20、设于所述CF基板10与TFT基板20之间用于将CF基板10与TFT基板20粘接在一起的框胶30、设于所述CF基板10上远离框胶30一侧的上偏光片40、以及设于所述TFT基板20上远离框胶30一侧的下偏光片50；其中，所述CF基板10包括基板11和设于基板11上的黑色矩阵12，所述框胶30与所述黑色矩阵12相接触。
具体的，所述框胶30呈框形，分布于所述CF基板10与TFT基板20的周边位置。
步骤12、如图3所示，将液晶面板90两面的上、下偏光片40、50撕去，加热液晶面板90的一角，待该角落的框胶30软化后，从该角落将CF基板10与TFT基板20撕开，黑色矩阵12从基板11上剥离，与框胶30共同附着于TFT基板20表面。
步骤13、如图4所示，切下一部分表面附着有框胶30和黑色矩阵12的TFT基板20，作为待测样本80，所述待测样本80中的框胶30为所述步骤12中非加热软化的部分。
具体的，所述步骤12中，采用热风枪加热液晶面板90的一角。
具体的，所述步骤12中，通过加热液晶面板90的一角，并从该角落将CF基板10与TFT基板20撕开，可保证所述液晶面板90中的大部分框胶30还处于固化状态，便于后续取样。
具体的，所述步骤13中，采用玻璃刀切下一部分表面附着有框胶30和黑色矩阵12的TFT基板20。
具体的，所述步骤13获取的待测样本80的大小为约4cm×2cm。
步骤2、如图5所示，将所述待测样本80放置于容器70中，在所述容器70中加入碱性溶液，浸泡所述待测样本80，直至黑色矩阵12软化。
具体的，所述步骤2中，将所述待测样本80以黑色矩阵12朝上的方向放置于容器70中，碱性溶液从所述黑色矩阵12的表面加入容器中，加入量为淹没所述黑色矩阵12表面。
具体的，所述步骤2中，所述碱性溶液为氢氧化钾水溶液，所述容器70为培养皿。
优选的，所述氢氧化钾水溶液的质量百分比浓度为30wt％，采用该氢氧化钾水溶液水溶液浸泡所述待测样本80至黑色矩阵12软化的时间为5h左右。
步骤3、如图6所示，将软化的黑色矩阵12从框胶30上剥离，得到由TFT基板20与附着于其上的框胶30构成的框胶固化率测试样品60。
具体的，还包括步骤4、对所述框胶固化率测试样品60进行清洗，去除表面残留的碱性溶液，之后将其烘干。优选的，采用去离子水对所述框胶固化率测试样品60进行清洗。
本发明还提供一种框胶固化率测试方法，包括：采用上述方法制得框胶固化率测试样品60后，将所述框胶固化率测试样品60放入红外光谱仪中采集框胶30的红外光谱图，通过计算得到框胶30的固化率，其中，通过红外光谱仪采集框胶的红外光谱图并计算其固化率的方法为本领域的现有技术，在此不再赘述。
综上所述，本发明提供的一种框胶固化率测试样品的制备方法，利用碱性溶液将框胶表面的黑色矩阵去除，操作简单，成功率高，制得的框胶固化率测试样品表面干净、无黑色矩阵残留。本发明提供的一种框胶固化率测试方法，利用碱性溶液将框胶表面的黑色矩阵去除后，采用红外光谱仪测试框胶的红外光谱图，通过计算得到框胶固化率，该方法操作简单，提高了框胶固化率测试的可执行性，测试结果的准确度高，为制程监控及框胶异常解析提供数据。
以上所述，对于本领域的普通技术人员来说，可以根据本发明的技术方案和技术构思作出其他各种相应的改变和变形，而所有这些改变和变形都应属于本发明权利要求的保护范围。

Claims (9)

1.一种框胶固化率测试样品的制备方法，其特征在于，包括如下步骤：
步骤1、获取表面附着有框胶(30)和黑色矩阵(12)的TFT基板(20)，作为待测样本(80)；
步骤2、将所述待测样本(80)放置于容器(70)中，在所述容器(70)中加入碱性溶液，浸泡所述待测样本(80)，直至黑色矩阵(12)软化；
步骤3、将软化的黑色矩阵(12)从框胶(30)上剥离，得到由TFT基板(20)与附着于其上的框胶(30)构成的框胶固化率测试样品(60)；
所述步骤1包括：
步骤11、提供一待测试的液晶面板(90)，所述液晶面板(90)包括CF基板(10)、TFT基板(20)、设于所述CF基板(10)与TFT基板(20)之间用于将CF基板(10)与TFT基板(20)粘接在一起的框胶(30)、设于所述CF基板(10)上远离框胶(30)一侧的上偏光片(40)、以及设于所述TFT基板(20)上远离框胶(30)一侧的下偏光片(50)；其中，所述CF基板(10)包括基板(11)和设于基板(11)上的黑色矩阵(12)，所述框胶(30)与所述黑色矩阵(12)相接触；
步骤12、将液晶面板(90)两面的上、下偏光片(40、50)撕去，加热液晶面板(90)的一角，待所述一角的框胶(30)软化后，从所述一角将CF基板(10)与TFT基板(20)撕开，黑色矩阵(12)从CF基板(10)的基板(11)上剥离，与框胶(30)共同附着于TFT基板(20)表面；
步骤13、切下一部分表面附着有框胶(30)和黑色矩阵(12)的TFT基板(20)，作为待测样本(80)，所述待测样本(80)中的框胶(30)为所述步骤12中非加热软化的部分。
2.如权利要求1所述的框胶固化率测试样品的制备方法，其特征在于，所述步骤12中，采用热风枪加热液晶面板(90)的一角。
3.如权利要求1所述的框胶固化率测试样品的制备方法，其特征在于，所述步骤13中，采用玻璃刀切下一部分表面附着有框胶(30)和黑色矩阵(12)的TFT基板(20)。
4.如权利要求1所述的框胶固化率测试样品的制备方法，其特征在于，所述步骤13获取的待测样本(80)的大小为4cm×2cm。
5.如权利要求1所述的框胶固化率测试样品的制备方法，其特征在于，所述步骤2中，将所述待测样本(80)以黑色矩阵(12)朝上的方向放置于容器(70)中，碱性溶液从所述黑色矩阵(12)的表面加入容器中，加入量为淹没所述黑色矩阵(12)表面。
6.如权利要求1所述的框胶固化率测试样品的制备方法，其特征在于，所述步骤2中，所述碱性溶液为氢氧化钾水溶液，所述容器(70)为培养皿。
7.如权利要求6所述的框胶固化率测试样品的制备方法，其特征在于，所述氢氧化钾水溶液的质量百分比浓度为30wt％。
8.如权利要求1所述的框胶固化率测试样品的制备方法，其特征在于，还包括步骤4、对所述框胶固化率测试样品(60)进行清洗，去除表面残留的碱性溶液，之后将其烘干。
9.一种框胶固化率测试方法，其特征在于，包括：采用如权利要求1所述的方法制得框胶固化率测试样品(60)后，将所述框胶固化率测试样品(60)放入红外光谱仪中采集框胶(30)的红外光谱图，通过计算得到框胶(30)的固化率。
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