CN105609025B - 显示面板检测结构 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种显示面板检测结构，属于显示技术领域。本发明的显示面板检测结构，用于检测显示面板上的信号线；其中，信号线至少包括多条数据线，将多条数据线分成N组，显示面板检测结构包括设置在显示面板检测区的N条第一短路条，每一条第一短路条用于将一组数据线短接在一起，显示面板检测结构还包括：设置在检测区的多个第一测试焊盘，每一个第一测试焊盘连接一条第一短路条，第一测试焊盘用于在检测时，将检测信号引入至数据线中。其中，第一测试焊盘与Block Pin充分保证两者连接的稳定性，同时也可以避免Block Pin之间出现短路的问题，且即使Block Pin很小也不会划伤显示面板的数据线。

Description

显示面板检测结构
技术领域
本发明属于显示技术领域，具体涉及一种显示面板检测结构。
背景技术
薄膜晶体管液晶显示器(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display,简称TFT-LCD)具有体积小、功耗低、无辐射等特点，近年来得到了迅速地发展，在当前的平板显示器市场中占据了主导地位。
目前TFT-LCD生产过程包括，将制作好的阵列基板和彩膜基板利用封框胶贴合在一起，形成一个完整闭合的显示面板(Panel)，在形成显示面板后进行显示面板的检测，其中包括采用显示面板检测结构对显示面板进行检测。
如图1所示，通过显示面板显示区Q1和位于显示区Q1外侧的连接区Q2(lead区)；其中，在显示区Q1设置有多条交叉设置的栅线20和数据线10。假若该显示面板为单边驱动显示面板，为了给栅线20和数据线10加载信号，栅线20和数据线10各自的一端均延伸至连接区Q2，以用于加载信号。但是，在为各个栅线20和数据线10输入显示信号之前，还要对栅线20和数据线10的质量进行检测，以判断这些信号线是否存在不良。接下来，以对数据线10是否存在不良进行检测的检测结构为例进行说明。
数据线10不良的检测结构通常采用短路条30(Shorting Bar)，其中，短路条30设置在检测区Q3，而检测区Q3则设置在显示面板的连接区Q2区的外侧，连接区Q2设置在显示区Q1的外侧。对于单个显示面板(single panel)通常采用6D Shorting Bar，即将数据线10分成6组每一组通过一条短路条30短接在一起。之后采用Block Pin(检测探针)与信号引入区的数据线10进行连接(一个检测探针连接一条数据线10)，将信号加载至数据线10中，此时尽管个别检测探针出现Pin Miss(检测探针没有与数据线10对应连接)的情况，由于一组数据线10是通过Shorting Bar短接在一起的，被Pin Miss的数据线10也会通过和其短接的数据线10将信号引入至该数据线10中，以完成数据线10不良的检测。
但是，发明人发现现有技术中至少存在如下问题：1、在点反转、列反转驱动时，两相邻的数据线10中的驱动电压极性相反，而一旦两相邻的Block Pin发生电路，必然会造成电流过大烧毁数据线10，或者其他信号线加载出现异常；2、Block Pin数量众多，且很小，这样极易造成Block Pin与数据线10连接时划伤显示面板。
发明内容
本发明所要解决的技术问题包括，针对现有的显示面板检测结构存在的上述问题，提供一种避免显示面板出现烧伤和划伤问题的显示面板检测结构。
解决本发明技术问题所采用的技术方案是一种显示面板检测结构，用于检测显示面板上的信号线；其中，所述信号线至少包括多条数据线，将多条所述数据线分成N组，所述显示面板检测结构包括设置在显示面板检测区的N条第一短路条，每一条所述第一短路条用于将一组数据线短接在一起，所述显示面板检测结构还包括：设置在所述检测区的多个第一测试焊盘，每一个第一测试焊盘连接一条所述第一短路条，所述第一测试焊盘用于在检测时，将检测信号引入至所述数据线中。
优选的是，所述N为2。
进一步优选的是，位于奇数位置的所述数据线连接同一条第一短路条；位于偶数位置的所述述数据线连接同一条第一短路条。
优选的是，每一条所述第一短路条的电阻为12至15欧姆。
优选的是，两相邻的所述第一测试焊盘之间的距离大于两相邻数据线之间的距离。
优选的是，所述显示面板上还包括相对设置的两个栅极驱动电路；所述信号线还包括为栅极驱动电路加载信号的多条信号引入线；所述显示面板检测结构还包括：设置在检测区的多条第二短路条，以及与第二短路条一端连接的第二测试焊盘；其中，
每一条所述第二短路条，用于将多条所述信号引入线中加载同样信号的信号引入线短接在一起；
所述第二测试焊盘，用于在检测时，将测试信号引入至所述信号引入线中。
进一步优选的是，所述显示面板检测结构还包括：与所述第一测试焊盘尺寸相同且同侧设置的冗余第一测试焊盘，以及与所述第二测试焊盘尺寸相同且同侧设置的冗余第二测试焊盘；其中，所述第一测试焊盘和冗余第一测试焊盘与第二测试焊盘所在位置和所述冗余第二测试焊盘所在位置沿Y轴对称。
进一步优选的是，每一条所述第二短路条的电阻为27至50欧姆。
优选的是，所述显示面板还包括与多条数据线交叉且绝缘设置的多条栅线；其中，所述第一短路条与所述栅线同层设置且材料相同，并通过贯穿所述栅线和所述数据线之间的绝缘层的过孔与所述数据线连接。
本发明具有如下有益效果：
本发明的显示面板检测结构，在第一短路条的一端增加了第一测试焊盘，而BlockPin所提供的测试信号，仅需与第一测试焊盘连接就可以将测试信号引入数据线中，而可以理解的是，第一测试焊盘的宽度远大于每一根数据线的宽度，且两相邻第一焊盘之间的距离是大于两条数据线的宽度的，因此，第一测试焊盘与Block Pin充分保证两者连接的稳定性，同时也可以避免Block Pin之间出现短路的问题，且即使Block Pin很小也不会划伤显示面板的数据线。
附图说明
图1为现有的显示面板检测结构的示意图；
图2为本发明的实施例1的显示面板检测结构的示意图；
图3为本发明的实施例2的显示面板检测结构的示意图。
其中附图标记为：Q1、显示区；Q2、连接区；Q3、检测区；10、数据线；20、栅线；30、短路条；31、第一短路条；32、第二短路条；41、第一测试焊盘；42、第二测试焊盘；43、冗余第一测试焊盘；44、冗余第二测试焊盘；50、信号引入线。
具体实施方式
为使本领域技术人员更好地理解本发明的技术方案，下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细描述。
实施例1：
如图2所示，本实施例提供一种显示面板检测结构，用于对显示面板上的信号线是否存在不良进行检测的。显示面板可以划分为显示区Q1、连接区Q2，以及检测区Q3，而这三个区域从内到外依次环绕设置。显示面板上包括交叉且绝缘设置的多条栅线20和多条数据线10；其中，数据线10的一端从显示区Q1穿过连接区Q2延伸至检测区Q3。将这多条数据线10分成N组，所述显示面板检测结构包括设置在显示面板检测区Q3的N条第一短路条31和N个第一测试焊盘41，每一个第一短路条31的一端连接一个第一测试焊盘41；且每一第一短路条31用于将一组数据线10短接在一起，在对数据线10进行不良检测时，只需从检测探针(Block Pin)与第一测试焊盘41连接，即可将测试信号引入至数据线10中。
在本实施例中，在第一短路条31的一端增加了第一测试焊盘41，而Block Pin所提供的测试信号，仅需与第一测试焊盘41连接就可以将测试信号引入数据线10中，而可以理解的是，第一测试焊盘41的宽度远大于每一根数据线10的宽度，且两相邻第一焊盘之间的距离是大于两条数据线10的宽度的，因此，第一测试焊盘41与Block Pin充分保证两者连接的稳定性，同时也可以避免Block Pin之间出现短路的问题，且即使Block Pin很小也不会划伤显示面板的数据线10。
作为本实施例中的一种优选情况，显示面板检测结构包括两条第一短路条31，也就是说其中第一条第一短路条31连接一部分数据线10，另一条第一短路条31连接另一部分数据线10，优选的，位于奇数位置的所述数据线10连接同一条第一短路条31；位于偶数位置的所述述数据线10连接同一条第一短路条31。从而避免在引入检测信号时，由于信号延时，导致不良的误判断。
之所以采用两条第一短路条31，存在如下有益效果：第一短路条31较现有技术中的6条短路条中的每一条短路条的宽度宽，可以有效降低电阻，解决了单侧第一测试焊盘41加载检测信号引起的信号衰减问题。两条第一短路条31设计极大减少Block Pin数量(1000根左右>2根)，提高第一测试焊盘41与Block Pin连接的稳定性，避免显示连接区Q2扎伤，以及Block Pin短接引起的烧伤的问题。
当然，第一短路条31的条数也不局限于两条，可以根据具体情况具体设定。
其中，在本实施例中的每一条所述第一短路条31的电阻为12至15欧姆；两相邻的所述第一测试焊盘41之间的距离大于两相邻数据线10之间的距离，有效的避免Block Pin短接引起的烧伤的问题。
其中，本实施例中的显示面板检测结构的第一短路条31与所述栅线20同层设置且材料相同，并通过贯穿所述栅线20和所述数据线10之间的绝缘层的过孔与所述数据线10连接。也就是说，栅线20可以与第一短路条31可以采用同一次构图工艺制备，因此可以降低生产成本，提高效率。
综上所述，本实施例的显示面板检测结构，在第一短路条31的一端增加了第一测试焊盘41，而Block Pin所提供的测试信号，仅需与第一测试焊盘41连接就可以将测试信号引入数据线10中，而可以理解的是，第一测试焊盘41的宽度远大于每一根数据线10的宽度，且两相邻第一焊盘之间的距离是大于两条数据线10的宽度的，因此，第一测试焊盘41与Block Pin充分保证两者连接的稳定性，同时也可以避免Block Pin之间出现短路的问题，且即使Block Pin很小也不会划伤显示面板的数据线10。
实施例2：
如图3所示，本实施例提供一种显示面板检测结构，该显示面板检测结构包括实施例1中的显示面板检测结构，故这部分结构就不再详细描述。本领域技术人员公知的是，显示面板分为单边驱动和双边驱动，即栅线20的一端连接栅极驱动电路为单边驱动，而栅线20的两端均连接栅极驱动电路为双边驱动。为了实现窄边框，以及降低生产成本目前流行的一种栅极驱动电路的结构是GOA电路，即栅极驱动电路设置在显示面板上。在本实施例中以具有相对设置的两个栅极驱动电路(GOA电路)的显示面板为例，对本实施例的显示面板检测结构进行说明。
其中，信号线还包括为栅极驱动电路加载信号的多条信号引入线50，即第一时钟信号线CLK、第二时钟信号线CLKB、帧选通信号线STV等；本实施例的显示面板检测结构还包括：设置在检测区Q3的多条第二短路条32，以及与第二短路条32一端连接的第二测试焊盘42；其中，每一条所述第二短路条32，用于将多条所述信号引入线50中加载同样信号的信号引入线50短接在一起；所述第二测试焊盘42，用于在检测时，将测试信号引入至所述信号引入线50中。
由此可以看出的是，给栅极驱动电路连接的多条信号引入线50检测的原理是与数据线10进行检测的原理相同，故不再详细描述。
优选的，本实施例中的显示面板检测结构还包括：与所述第一测试焊盘41尺寸相同且同侧设置的冗余第一测试焊盘43，以及与所述第二测试焊盘42尺寸相同且同侧设置的冗余第二测试焊盘44；其中，所述第一测试焊盘41和冗余第一测试焊盘43与第二测试焊盘42所在位置和所述冗余第二测试焊盘44所在位置沿Y轴对称。其中，每一条所述第二短路条42的电阻为27至50欧姆。
之所以设置冗余第一测试焊盘43和冗余第二测试焊盘44的原因是，为了检测数据线10的Block Pin与检测与栅极驱动电路连接的多条信号引入线50的Block Pin可以通用，且对于不同型号的显示面板设计中，所有的第一测试焊盘41与第二测试焊盘42的相对位置相同。Block Pin在无信号位置悬空，在有第一测试焊盘41和第二测试焊盘42的位置连接，且所有型号产品Block通用。
综上所述，与实施例1中相同的原理，对用于栅极驱动电路的信号引入线50短接的第二短路条32的一端增加了第二测试焊盘42，同样可以避免Block Pin之间出现短路的导致信号引入线50上的电流过大导致显示面板烧伤的问题，且即使Block Pin很小也不会划伤显示面板的数据线10。
可以理解的是，以上实施方式仅仅是为了说明本发明的原理而采用的示例性实施方式，然而本发明并不局限于此。对于本领域内的普通技术人员而言，在不脱离本发明的精神和实质的情况下，可以做出各种变型和改进，这些变型和改进也视为本发明的保护范围。

Claims (7)

1.一种显示面板检测结构，用于检测显示面板上的信号线；其中，所述信号线至少包括多条数据线，将多条所述数据线分成N组，所述显示面板检测结构包括设置在显示面板检测区的N条第一短路条，每一条所述第一短路条用于将一组数据线短接在一起，其特征在于，所述显示面板检测结构还包括：设置在所述检测区的多个第一测试焊盘，每一个第一测试焊盘连接一条所述第一短路条，所述第一测试焊盘用于在检测时，将检测信号引入至所述数据线中，
所述显示面板上还包括相对设置的两个栅极驱动电路；所述信号线还包括为栅极驱动电路加载信号的多条信号引入线；所述显示面板检测结构还包括：设置在检测区的多条第二短路条，以及与第二短路条一端连接的第二测试焊盘；其中，
每一条所述第二短路条，用于将多条所述信号引入线中加载同样信号的信号引入线短接在一起；
所述第二测试焊盘，用于在检测时，将测试信号引入至所述信号引入线中；
所述显示面板检测结构还包括：与所述第一测试焊盘尺寸相同且同侧设置的冗余第一测试焊盘，以及与所述第二测试焊盘尺寸相同且同侧设置的冗余第二测试焊盘；其中，所述第一测试焊盘和冗余第一测试焊盘与第二测试焊盘所在位置和所述冗余第二测试焊盘所在位置沿Y轴对称。
2.根据权利要求1所述的显示面板检测结构，其特征在于，所述N为2。
3.根据权利要求2所述的显示面板检测结构，其特征在于，位于奇数位置的所述数据线连接同一条第一短路条；位于偶数位置的所述述数据线连接同一条第一短路条。
4.根据权利要求1所述的显示面板检测结构，其特征在于，每一条所述第一短路条的电阻为12至15欧姆。
5.根据权利要求1所述的显示面板检测结构，其特征在于，两相邻的所述第一测试焊盘之间的距离大于两相邻数据线之间的距离。
6.根据权利要求1所述的显示面板检测结构，其特征在于，每一条所述第二短路条的电阻为27至50欧姆。
7.根据权利要求1所述的显示面板检测结构，其特征在于，所述显示面板还包括与多条数据线交叉且绝缘设置的多条栅线；其中，所述第一短路条与所述栅线同层设置且材料相同，并通过贯穿所述栅线和所述数据线之间的绝缘层的过孔与所述数据线连接。
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