CN103399422A - 信号线和修复线短路检测方法 - Google Patents

信号线和修复线短路检测方法 Download PDF

Info

Publication number
CN103399422A
CN103399422A CN2013103297212A CN201310329721A CN103399422A CN 103399422 A CN103399422 A CN 103399422A CN 2013103297212 A CN2013103297212 A CN 2013103297212A CN 201310329721 A CN201310329721 A CN 201310329721A CN 103399422 A CN103399422 A CN 103399422A
Authority
CN
China
Prior art keywords
line
voltage
short circuit
repair
repair line
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN2013103297212A
Other languages
English (en)
Other versions
CN103399422B (zh
Inventor
汤展峰
刘俊豪
张明亮
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
BOE Technology Group Co Ltd
Hefei BOE Optoelectronics Technology Co Ltd
Original Assignee
BOE Technology Group Co Ltd
Hefei BOE Optoelectronics Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by BOE Technology Group Co Ltd, Hefei BOE Optoelectronics Technology Co Ltd filed Critical BOE Technology Group Co Ltd
Priority to CN201310329721.2A priority Critical patent/CN103399422B/zh
Publication of CN103399422A publication Critical patent/CN103399422A/zh
Priority to PCT/CN2013/088996 priority patent/WO2015014065A1/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN103399422B publication Critical patent/CN103399422B/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1306—Details
    • G02F1/1309—Repairing; Testing
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G02F1/1362—Active matrix addressed cells
    • G02F1/136259—Repairing; Defects
    • G02F1/136263—Line defects
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F2201/00—Constructional arrangements not provided for in groups G02F1/00 - G02F7/00
    • G02F2201/50—Protective arrangements
    • G02F2201/506—Repairing, e.g. with redundant arrangement against defective part
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2300/00—Aspects of the constitution of display devices
    • G09G2300/04—Structural and physical details of display devices
    • G09G2300/0421—Structural details of the set of electrodes
    • G09G2300/0426—Layout of electrodes and connections
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2330/00—Aspects of power supply; Aspects of display protection and defect management
    • G09G2330/08—Fault-tolerant or redundant circuits, or circuits in which repair of defects is prepared

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)
  • Liquid Crystal Display Device Control (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)

Abstract

本发明涉及显示技术领域，公开了一种信号线和修复线短路检测方法，包括步骤：在液晶盒检测阶段驱动像素显示时，施加第一检测电压至所述信号线，同时施加与所述第一检测电压不相等的第二检测电压至所述修复线；检测像素的显示情况，若所述信号线驱动的像素出现预定的显示异常，则检测出所述信号线和所述修复线短路。本发明通过在对信号线施加第一检测电压同时，对修复线施加第二检测电压，若信号线和修复线的短路，通过第二检测电压使与修复线短路的信号线与其它信号线的压差增大，从而放大最终显示的差异程度，从而更容易地检测出哪条信号线与修复线发生了短路。

Description

信号线和修复线短路检测方法
技术领域
本发明涉及显示技术领域，特别涉及一种信号线和修复线短路检测方法。
背景技术
在薄膜晶体管液晶显示器（TFT-LCD）制造过程中，小尺寸产品在液晶盒检测（Cell Test）过程中通常采用短路条（Shorting Bar）检测方式。如图1所示，显示面板上形成有公共电极线4、驱动红色亚像素数据线5对应的短路条1、驱动绿色亚像素数据线6对应的短路条2和驱动蓝色亚像素数据线7对应的短路条3。三条短路条1、2和3分别通过过孔8连接对应的数据线5、6和7，用于为数据线5、6和7施加检测电压。
显示面板上还形成有修复线9，如果其中某一条数据线与修复线9短路，如图1中，某条数据线6与修复线9在交叉点10发生短路，该某条数据线6的检测电压被拉低（数据线的电压都为正，而修复线电压为零，即无电压）。但是由于修复线9本身无电压，且该条数据线6与其他数据线6连接（驱动相同颜色亚像素的数据线连在一起），修复线9只能将这些数据线6电压拉低极小部分，与修复线9短路的数据线6相对于未短路的数据线6被拉低的差异很小，即短路的这条数据线6驱动的像素电极与其它数据线6驱动的像素电极的电压差距很小，液晶偏转的差异不明显，显示颜色的差异也不明显，因此这种短路不良不容易检出。而模组（Module）阶段时为全接触（Full Contact）检测方式，该条数据线6不与其他数据线6连接（沿图中虚线断开），修复线9可以拉低这条数据线6电压，电压变小会导致液晶偏转程度不同于正常区域，检测现象表现为亮线。但此时检测出来后若问题严重可能导致整个面板报废，不严重时也会额外增加修复流程。
发明内容
（一）要解决的技术问题
本发明要解决的技术问题是：如何在液晶盒测试（Cell Test）阶段检测出数据线和修复线短路的情况。
（二）技术方案
为解决上述技术问题，本发明提供了一种信号线和修复线短路检测方法，包括步骤：
在液晶盒检测阶段驱动像素显示时，施加第一检测电压至所述信号线，同时施加与所述第一检测电压不相等的第二检测电压至所述修复线；
检测像素的显示情况，若所述信号线驱动的像素出现预定的显示异常，则检测出所述信号线和所述修复线短路。
其中，将所述信号线连接至短路条，通过所述短路条施加所述第一检测电压至所述信号线。
其中，将所述修复线连接至公共电极线，将所述公共电极线的电压作为所述第二检测电压施加至所述修复线。
其中，所述信号线包括：栅线或数据线。
其中，所述数据线连接一条数据线短路条；或者驱动相同颜色亚像素的数据线连接同一条所述数据线短路条，驱动不同颜色亚像素的数据线连接不同的所述数据线短路条，通过不同的数据线短路条施加第一检测电压至所述不同的数据线。
其中，所述预定的显示异常包括：与所述修复线短路的数据线驱动的像素的显示与正常单色画面差异最大，越向与所述修复线短路的数据线驱动的像素两侧延伸，显示色彩越接近于正常单色画面，所述正常单色画面为所述数据线未与所述修复线短路时应该显示的单色画面。
其中，所述栅线连接栅线短路条，通过所述栅线短路条施加所述第一检测电压至所述栅线；
所述第一检测电压小于所述栅线驱动的薄膜晶体管的开启电压，所述第二检测电压不小于所述栅线驱动的薄膜晶体管的开启电压；或者所述第一检测电压不小于所述栅线驱动的薄膜晶体管的开启电压，所述第二检测电压小于所述栅线驱动的薄膜晶体管的开启电压。
其中，所述预定的显示异常包括：与所述修复线短路的栅线驱动的像素及其两侧一定宽度内的像素显示与正常单色画面不同颜色的单色画面，所述正常单色画面为所述栅线未与所述修复线短路时应该显示的单色画面。
（三）有益效果
本发明通过在对信号线施加第一检测电压同时，对修复线施加第二检测电压，若信号线和修复线短路，通过第二检测电压使与修复线短路的信号线与其它信号线的压差增大，从而放大最终显示的差异程度，从而更容易地检测出哪条信号线与修复线发生了短路。
附图说明
图1是现有技术中的短路条检测示意图；
图2是本发明实施例的一种数据线和修复线短路检测方法流程图；
图3是本发明方法的检测示意图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例，对本发明的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本发明，但不用来限制本发明的范围。
如图2所示，本发明实施例的信号线和修复线短路检测方法流程包括：
步骤S210，驱动像素显示时，施加第一检测电压至所述信号线，同时施加与所述第一检测电压不相等的第二检测电压至所述修复线；
步骤S220，检测像素的显示情况，若对应所述信号线驱动的像素出现不符合预定画面的显示异常，则检测出信号线和修复线短路。
在显示领域中，对液晶盒进行检测时，信号线通常包括栅线和数据线，下面以数据线为例进行详细说明。
步骤S210中可以通过外接信号线的方式为数据线施加第一检测电压，同时也通过不同的外接信号线为所述修复线施加第二检测电压。
本实施例中，可在短路条（Shorting Bar）检测方式的检测结构基础上来检测数据线和修复线是否短路。如图3所示，具体地，将数据线5＇、6＇和7＇分别连接至对应的数据线短路条1＇、2＇和3＇，修复线9＇连接到与短路条不同的信号源，优选地，为了不额外地增加信号源，通过导线11＇将修复线9＇连接到公共电极线4＇（显示装置中通常对公共电极线和数据线的电压不同）。数据线短路条1＇、2＇和3＇分别施加不同电压值的第一检测电压至所述数据线5＇、6＇和7＇，同时将公共电极线的电压作为第二检测电压施加至所述修复线9＇。也可以通过数据线短路条1＇、2＇和3＇分时施加第一检测电压至所述数据线5＇、6＇和7＇，同时将公共电极线的电压作为第二检测电压施加至所述修复线9＇。
步骤S220中，该检测方式可以通过数据线短路条1＇、2＇和3＇与公共电极线4＇的压差来控制液晶的偏转以实现各种预定的测试颜色画面（测试时通常显示单色画面），若画面中出现亮线或暗线异常，则对应的检测出数据线与修复线短路异常问题。
以第二检测电压小于第一检测电压为例进行说明，如图3所示，其中一条数据线6＇与修复线9＇短路（如：数据线6＇与修复线9＇在交叉点10＇发生短路），所有数据线6＇的电压都会被拉低，相对于修复线9＇未连接公共电极线4＇时，与修复线9＇短路的数据线6＇的电压被拉的更低，离短路的数据线6＇越远的其它数据线6被拉低的程度越小，短路的数据线6＇的电压被拉的最低，使得公共电极和该短路的数据线6＇驱动的像素电极之间电压差不等于公共电极和其它数据线6＇驱动的像素电极之间的电压差，且公共电极和该短路的数据线6＇驱动的像素电极之间电压差明显小于公共电极和其它数据线6＇驱动的像素电极之间的电压差（尤其相对于公共电极和离短路数据线6＇较远的数据线6＇驱动的像素电极之间的电压差）。电压差不同会导致液晶偏转程度明显不同于正常区域，检测现象表现为以短路的数据线6＇驱动的像素显示与正常单色画面差异最大，越向该像素两侧延伸色彩越接近于正常单色画面，从而根据画面差异最大的地方更容易确定哪条数据线6＇与修复线9＇短路。正常单色画面为数据线6＇未与修复线9＇短路时应该显示的单色画面。若第二检测电压大于第一检测电压时，短路的数据线6＇和其它数据线6＇会被拉高，检测原理和第二检测电压小于第一检测电压时类似，此处不再赘述。
在检测阶段通常采用单色模式进行检测，即整个画面只显示一种颜色，采用不同的数据线短路条1＇、2＇和3＇施加不同大小的第一检测电压，能够使数据线驱动的红绿蓝像素组合成多种不同的单种颜色，采用不同的数据线短路条1＇、2＇和3＇分时施加第一检测电压时，画面显示红绿蓝单色画面，使检测更加准确。
当然也可以只设置一条数据线短路条，通过该数据线短路条为所有数据线施加第一检测电压，尤其适用于一些单色显示装置。
对于栅线和修复线短路，栅线短路条对栅线施加一小于栅线驱动的薄膜晶体管TFT的开启电压的第一检测电压，即栅线无法打开TFT，数据线无法为对应的像素电极充电，此时的显示画面为正常单色画面（即为对像素电极不加电时的显示画面，此时液晶不会发生偏转，若是常黑模式，背光无法透过，通常显示黑色，若是常白模式，背光可以透过，显示与背光相同的白色画面）。公共电极线短路条为修复线施加一不小于栅线驱动的薄膜晶体管TFT的开启电压的第二检测电压。若某条栅线与修复线短路，相当于为该条栅线施加了公共电极线的电压，该条栅线驱动的TFT打开，数据线为该条栅线打开的一行像素充电，该行像素的液晶发生偏转。由于栅线都连接在短路条上，栅线的电压都会被拉高，离该短路栅线越近的栅线的电压比离该短路栅线越远的栅线的电压拉的越高，有可能大于TFT的打开电压，因此离该短路栅线越近的栅线驱动的TFT处于打开状态，数据线为这些栅线打开的多行像素充电，该多行像素的液晶发生偏转，以显示与正常单色画面不同的画面（通常是在短路栅线驱动像素及其两侧一定宽度内的像素显示与正常单色画面不同颜色的单色画面），从而检测出哪条栅线与修复线短路。正常单色画面为栅线未与修复线短路时应该显示的单色画面，不会存在不同颜色的区域。
或者栅线短路条对栅线施加一不小于栅线驱动的薄膜晶体管TFT的开启电压的第一检测电压，即栅极驱动信号能够打开TFT，公共电极线短路条为修复线施加一小于栅线驱动的薄膜晶体管TFT的开启电压的第二检测电压。正常情况下，每条栅线都能打开相应行的TFT，因此会显示一定色彩的正常画面。若某条栅线与修复线短路，该栅线的电压被拉低至第二检测电压，由于栅线都连接在短路条上，栅线的电压都会被拉高，离该短路栅线越近的栅线的电压比离该短路栅线越远的栅线的电压拉的越高，有可能小于TFT的打开电压。因此该条栅线及附近栅线驱动的TFT无法打开，数据线不能为这些栅线对应的像素充电，该行像素的液晶不会发生偏转，以显示与正常画面不同的画面（若是常黑模式，背光无法透过，通常在短路栅线驱动像素及其两侧一定宽度内的像素显示黑色画面，若是常白模式，背光可以透过，通常在短路栅线驱动像素及其两侧一定宽度内的像素显示与背光相同的白色画面），从而检测出哪条栅线与修复线短路。
检测完毕后若液晶盒无异常，则可进入模组（Module）阶段，进入Module阶段之前，将信号线和短路条连接的线路切断或关断，同时也将修复线和公共电极线短路条连接的线路切断或关断。
本发明通过在对信号线施加第一检测电压同时，对修复线施加第二检测电压，若信号线和修复线的短路，从而进一步增大与修复线短路的信号线和其它信号线之间的电压差距，则通过显示画面很容易检测出信号线与修复线的短路。
以上实施方式仅用于说明本发明，而并非对本发明的限制，有关技术领域的普通技术人员，在不脱离本发明的精神和范围的情况下，还可以做出各种变化和变型，因此所有等同的技术方案也属于本发明的范畴，本发明的专利保护范围应由权利要求限定。

Claims (8)

1.一种信号线和修复线短路检测方法，其特征在于，包括步骤：
在液晶盒检测阶段驱动像素显示时，施加第一检测电压至所述信号线，同时施加与所述第一检测电压不相等的第二检测电压至所述修复线；
检测像素的显示情况，若所述信号线驱动的像素出现预定的显示异常，则检测出所述信号线和所述修复线短路。
2.如权利要求1所述的信号线和修复线短路检测方法，其特征在于，将所述信号线连接至短路条，通过所述短路条施加所述第一检测电压至所述信号线。
3.如权利要求1或2所述的信号线和修复线短路检测方法，其特征在于，将所述修复线连接至公共电极线，将所述公共电极线的电压作为所述第二检测电压施加至所述修复线。
4.如权利要求1或2所述的信号线和修复线短路检测方法，其特征在于，所述信号线包括：栅线或数据线。
5.如权利要求4所述的信号线和修复线短路检测方法，其特征在于，所述数据线连接一条数据线短路条；或者驱动相同颜色亚像素的数据线连接同一条所述数据线短路条，驱动不同颜色亚像素的数据线连接不同的所述数据线短路条，通过不同的数据线短路条施加第一检测电压至所述不同的数据线。
6.如权利要求5所述的信号线和修复线短路检测方法，其特征在于，所述预定的显示异常包括：与所述修复线短路的数据线驱动的像素的显示与正常单色画面差异最大，越向与所述修复线短路的数据线驱动的像素两侧延伸，显示色彩越接近于正常单色画面，所述正常单色画面为所述数据线未与所述修复线短路时应该显示的单色画面。
7.如权利要求4所述的信号线和修复线短路检测方法，其特征在于，所述栅线连接栅线短路条，通过所述栅线短路条施加所述第一检测电压至所述栅线；
所述第一检测电压小于所述栅线驱动的薄膜晶体管的开启电压，所述第二检测电压不小于所述栅线驱动的薄膜晶体管的开启电压；或者所述第一检测电压不小于所述栅线驱动的薄膜晶体管的开启电压，所述第二检测电压小于所述栅线驱动的薄膜晶体管的开启电压。
8.如权利要求7所述的信号线和修复线短路检测方法，其特征在于，所述预定的显示异常包括：与所述修复线短路的栅线驱动的像素及其两侧一定宽度内的像素显示与正常单色画面不同颜色的单色画面，所述正常单色画面为所述栅线未与所述修复线短路时应该显示的单色画面。
CN201310329721.2A 2013-07-31 2013-07-31 信号线和修复线短路检测方法 Expired - Fee Related CN103399422B (zh)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201310329721.2A CN103399422B (zh) 2013-07-31 2013-07-31 信号线和修复线短路检测方法
PCT/CN2013/088996 WO2015014065A1 (zh) 2013-07-31 2013-12-10 检测信号线和修复线的短路的方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201310329721.2A CN103399422B (zh) 2013-07-31 2013-07-31 信号线和修复线短路检测方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN103399422A true CN103399422A (zh) 2013-11-20
CN103399422B CN103399422B (zh) 2015-11-11

Family

ID=49563074

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201310329721.2A Expired - Fee Related CN103399422B (zh) 2013-07-31 2013-07-31 信号线和修复线短路检测方法

Country Status (2)

Country Link
CN (1) CN103399422B (zh)
WO (1) WO2015014065A1 (zh)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104183206A (zh) * 2014-09-10 2014-12-03 南京中电熊猫液晶显示科技有限公司 显示面板的检测方法
WO2015014065A1 (zh) * 2013-07-31 2015-02-05 合肥京东方光电科技有限公司 检测信号线和修复线的短路的方法
CN104407481A (zh) * 2014-12-09 2015-03-11 京东方科技集团股份有限公司 阵列基板、信号线不良的检测方法、显示面板及显示装置
CN105609025A (zh) * 2016-01-05 2016-05-25 京东方科技集团股份有限公司 显示面板检测结构
CN105759521A (zh) * 2016-05-06 2016-07-13 深圳市华星光电技术有限公司 用于具有半源极驱动像素阵列的液晶显示面板的测试线路
CN105785610A (zh) * 2016-04-28 2016-07-20 深圳市华星光电技术有限公司 液晶显示面板测试线路
WO2019090910A1 (zh) * 2017-11-07 2019-05-16 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 修复感测信号线的方法、装置及显示装置
CN110164346A (zh) * 2019-06-27 2019-08-23 惠科股份有限公司 驱动电路的修复系统及修复方法

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP3160734B1 (en) 2014-06-30 2023-09-06 Immunolight, Llc. Improved adhesive bonding composition and method of use

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002328627A (ja) * 2001-04-27 2002-11-15 Seiko Epson Corp 表示装置の検査方法
CN1916700A (zh) * 2005-08-17 2007-02-21 三星电子株式会社 液晶显示装置及其测试和修复方法
CN101930128A (zh) * 2009-06-24 2010-12-29 上海天马微电子有限公司 线路修复结构及其修复方法
CN102116950A (zh) * 2009-12-30 2011-07-06 上海天马微电子有限公司 具有触控功能的显示面板及其检测方法
CN102955306A (zh) * 2011-08-30 2013-03-06 上海天马微电子有限公司 液晶显示装置及其测试方法

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006267416A (ja) * 2005-03-23 2006-10-05 Victor Co Of Japan Ltd アクティブマトリクス基板の検査方法
CN103399422B (zh) * 2013-07-31 2015-11-11 合肥京东方光电科技有限公司 信号线和修复线短路检测方法

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002328627A (ja) * 2001-04-27 2002-11-15 Seiko Epson Corp 表示装置の検査方法
CN1916700A (zh) * 2005-08-17 2007-02-21 三星电子株式会社 液晶显示装置及其测试和修复方法
CN101930128A (zh) * 2009-06-24 2010-12-29 上海天马微电子有限公司 线路修复结构及其修复方法
CN102116950A (zh) * 2009-12-30 2011-07-06 上海天马微电子有限公司 具有触控功能的显示面板及其检测方法
CN102955306A (zh) * 2011-08-30 2013-03-06 上海天马微电子有限公司 液晶显示装置及其测试方法

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2015014065A1 (zh) * 2013-07-31 2015-02-05 合肥京东方光电科技有限公司 检测信号线和修复线的短路的方法
CN104183206A (zh) * 2014-09-10 2014-12-03 南京中电熊猫液晶显示科技有限公司 显示面板的检测方法
CN104407481A (zh) * 2014-12-09 2015-03-11 京东方科技集团股份有限公司 阵列基板、信号线不良的检测方法、显示面板及显示装置
CN105609025A (zh) * 2016-01-05 2016-05-25 京东方科技集团股份有限公司 显示面板检测结构
CN105609025B (zh) * 2016-01-05 2018-02-16 京东方科技集团股份有限公司 显示面板检测结构
US9921446B2 (en) 2016-01-05 2018-03-20 Boe Technology Group Co., Ltd. Display panel test structure
CN105785610A (zh) * 2016-04-28 2016-07-20 深圳市华星光电技术有限公司 液晶显示面板测试线路
CN105785610B (zh) * 2016-04-28 2019-05-03 深圳市华星光电技术有限公司 液晶显示面板测试线路
CN105759521A (zh) * 2016-05-06 2016-07-13 深圳市华星光电技术有限公司 用于具有半源极驱动像素阵列的液晶显示面板的测试线路
WO2019090910A1 (zh) * 2017-11-07 2019-05-16 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 修复感测信号线的方法、装置及显示装置
CN110164346A (zh) * 2019-06-27 2019-08-23 惠科股份有限公司 驱动电路的修复系统及修复方法

Also Published As

Publication number Publication date
WO2015014065A1 (zh) 2015-02-05
CN103399422B (zh) 2015-11-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN103399422B (zh) 信号线和修复线短路检测方法
CN105093593B (zh) 显示基板及其测试方法、显示装置
CN104062784B (zh) 一种面板检测电路及显示面板
CN104483789B (zh) 液晶显示面板及其驱动方法
US9767758B2 (en) Driving apparatus of display panel and driving method thereof, display device
US9898944B2 (en) Detecting circuit, detecting method and display device
CN202916564U (zh) 液晶显示装置
US8077130B2 (en) Method for driving an LCD device
CN104407481B (zh) 阵列基板、信号线不良的检测方法、显示面板及显示装置
CN110136618B (zh) 一种显示面板检测电路、显示装置和显示面板检测方法
US20120169346A1 (en) Test device for liquid crystal display device and test method thereof
CN102944945B (zh) 一种液晶显示面板的检测方法
CN103280173B (zh) 液晶显示面板的检测装置及其检测方法
CN102629003B (zh) 一种检测液晶显示面板交叉串扰的方法
CN106128342B (zh) 阵列基板、显示装置及阵列基板的检测方法
CN104375346B (zh) 液晶显示面板与液晶显示面板的驱动方法
AU2010344521B2 (en) Liquid crystal display device
CN103777379B (zh) 一种液晶显示屏亮点检测方法
CN107358922A (zh) 液晶显示设备及其驱动方法
KR101932363B1 (ko) 액정 디스플레이 패널 및 액정 디스플레이 기기
TW201314335A (zh) 像素防護線及多閘極線組態
CN106297696B (zh) 一种显示装置的补偿方法、补偿电路及显示装置
CN106601163A (zh) 一种液晶盒的辉点检测方法
CN101852956A (zh) 具修补线之画素驱动电路结构
CN106847177B (zh) 显示装置及其寿命延长方法

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20151111

Termination date: 20200731

CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee