CN104471409A - 片状电子部件的检查挑选装置 - Google Patents

Abstract

提供一种能够防止不适当片状电子部件混入到片状电子部件收容容器而且还容易取出片状电子部件收容容器的片状电子部件的检查挑选装置。该装置对在片状电子部件保持板(24)所具备的很多透孔(23)收容的片状电子部件的电特性进行检查挑选并收容于上表面开口的至少两个片状电子部件收容容器(34)，在所述片状电子部件的检查挑选装置中，在与从上述保持板(24)的透孔(23)排出的片状电子部件的排出通路(37)连接的片状电子部件排出通路支承构造体(39a)具备把经由排出通路(37)送入到容器(34)的加压气体的至少一部分放出的加压气体放出通路(41)；而且容器(34)由使得能够调节与该容器(34)的开口面(33)与支承构造体(39a)的下侧表面(43a)之间的间隔的升降单元(42)支承。

Description

片状电子部件的检查挑选装置

技术领域

本发明涉及以高速对大量片状电子部件进行检查并挑选的装置。

背景技术

随着由便携式电话、液晶电视机、游戏机所代表的电产品的生产量增加，装入到这样的电产品的片状电子部件的生产量正在显著增加。作为片状电子部件，广为所知有片状电容器(还被称为片状电容件)、片状电阻器(包括变阻器)以及片状电感器。

片状电子部件例如片状电容器具有极小的尺寸(例如宽度为0.3mm左右而且长度为0.6mm左右的尺寸)，在一次制造中制作出几万~几十万个的这样大量的片状电容器。

为了降低装入有片状电子部件的电产品的起因于片状电子部件的缺陷的次品率，关于被大量生产的片状电子部件，以高速对其全部进行电特性的测定和判定(检查)，电特性的值处于规定范围内的片状电子部件被从中挑选出而作为合格品。

为了检查大量片状电子部件的电特性，例如使用圆盘状的片状电子部件保持板。在片状电子部件保持板设置有分别收容检查对象的片状电子部件的很多透孔。使该片状电子部件保持板高速且间歇性地旋转，将片状电子部件收容于各个透孔。在该状态下，把在片状电子部件保持板的径向方向上排列的多个片状电子部件作为一组，反复进行片状电子部件的电特性的检查。电特性已被检查的片状电子部件被从片状电子部件保持板的各透孔依次排出。关于从片状电子部件保持板排出的大量片状电子部件，根据上述电特性的检查结果来从其中挑选合格品，如果需要则根据所述电特性更详细地进行挑选，并收容于规定的片状电子部件收容容器。

在专利文献1公开了对很多电线路部件进行试验而且收容于按照试验结果选择的分箱的电线路部件分拣机(片状电子部件检查挑选装置)。

该文献的电线路部件分拣机具备：盘状试验板(圆盘状的片状电子部件保持板)，具备能够收容电线路部件(片状电子部件)的很多部件台(透孔)；将电线路部件安装于试验板的单元(片状电子部件供给单元)；上侧触点和下侧触点(一对电极端子)，配置于接近于试验板的各部件台的位置；与各触点电连接的测试器(电特性测定单元)；配置于试验板附近的电线路部件的排出机构；分箱托盘，载置四个分箱(片状电子部件收容容器)，该四个分箱收容通过排出机构吹喷加压(压缩)气体而从试验板的部件台排出的电线路部件。

在该电线路部件分拣机所具备的各分箱的上表面的开口与配置于其上方的棚板(管路径支承板)的下表面之间设置有间隙。当用棚板堵塞各分箱的上表面的开口时，由于变得不能通过上述排出机构放出片状电子部件以及送到各分箱的空气，因此变得难以将片状电子部件送到各分箱，另外是因为变得不能将载置了分箱的分箱托盘从装置容易地取出。

现有技术文献。

专利文献。

专利文献1 ：特表2000-501174号公报。

发明内容

发明要解决的问题

本发明人以提高片状电子部件的检查挑选装置的处理能力为目的，关于通过使片状电子部件保持板间歇性地并且以高速旋转来以高速对大量片状电子部件进行检查并挑选的装置结构进行了研究。

详细地，首先使片状电子部件检查挑选装置的片状电子部件保持板以高速旋转，以高速(短时间)对很多片状电容器(片状电子部件)的静电电容(电特性)进行检查。接着，从上述装置取出收容有检查了的很多片状电容器的片状电子部件收容容器。而且，关于检查过的很多片状电容器，除了使片状电子部件保持板以低速旋转以外在与上述检查相同的条件下再次检查静电电容。其结果，判明了混入不满足在该收容容器收容的片状电容器的静电电容值的条件的片状电容器(以下还称为“不适当片状电子部件”)。因此，虽然调查了上述片状电子部件检查挑选装置所具备的电特性测定单元(静电电容测定器)的动作，但是没有特别地发现问题。

因此，当本发明人详细地研究上述片状电子部件检查挑选装置的整体结构时，判明了不适当片状电子部件向上述那样的片状电子部件收容容器的混入是由于下述那样的原因而发生的。

即，如上述那样，为了从以高速旋转的片状电子部件保持板的透孔排出片状电容器，需要对该片状电容器吹喷高压气体。因此，在将从上述片状电子部件保持板排出的片状电子部件收容于片状电子部件收容容器时，成为对该片状电子部件收容容器的内部吹入高压气体。像这样，通过吹入高压气体，有时被收容于片状电子部件收容容器的片状电子部件在上方的空间飞起(被吹走)，飞出片状电子部件收容容器之外。判明了使得像这样而从片状电子部件收容容器飞出的片状电子部件特别是落在相邻的片状电子部件收容容器的内部而使混入上述不适当片状电子部件这样的问题发生。

本发明的课题在于提供一种即使在以高速对大量片状电子部件进行检查并挑选的情况下也能够防止不适当片状电子部件向片状电子部件收容容器的混入，而且片状电子部件收容容器的取出也容易的片状电子部件的检查挑选装置。

用于解决课题的方案

本发明是一种片状电子部件的检查挑选装置，包括：基台；片状电子部件保持板，经由中心轴可旋转地固定于基台并经所述中心轴的周围间歇性地旋转，具备能够临时收容片状电子部件的很多透孔，但是所述透孔被配置于在所述片状电子部件保持板的表面在多个同心圆上把该同心圆均等分割的位置；片状电子部件供给单元，把片状电子部件供给到所述片状电子部件保持板的各透孔，所述片状电子部件供给单元在接近于所述片状电子部件保持板的一个表面的位置被配置于基台上：一对电极端子，被配置于接近于片状电子部件保持板的各透孔的两个开口部的位置；电特性测定单元，与一对电极端子的每个电连接；电特性判定单元，与电特性测定单元电连接；片状电子部件排出指示信号发送单元，与电特性判定单元电连接；片状电子部件排出机构，被沿着以上侧开口部位于片状电子部件保持板附近且与所述同心圆的每个对应的位置的方式分别配置的所述同心圆的半径方向至少配置两列，能够接收来自上述片状电子部件排出指示信号发送单元的信号；以及上表面开口的至少两个片状电子部件收容容器，收纳从片状电子部件保持板经由片状电子部件排出机构排出的片状电子部件而进行收容，

所述片状电子部件排出机构包括：加压气体供给单元，在片状电子部件保持板的一个表面侧开口；片状电子部件排出通路，经由片状电子部件保持板在与加压气体供给单元相反侧的位置配置所述上侧开口部；以及片状电子部件排出通路支承构造体，被固定于基台，具备与片状电子部件排出通路的下侧开口部连接的透孔，而且

所述片状电子部件收容容器的每个上述开口被配置于上述片状电子部件排出通路支承构造体的透孔的下侧，被使得收纳经由片状电子部件排出通路和所述支承构造体的透孔排出的片状电子部件而进行收容，

本发明在于特征在于如下的片状电子部件的检查挑选装置：

在上述片状电子部件排出通路支承构造体具备把经由片状电子部件排出通路送入到片状电子部件收容容器的加压气体的至少一部分放出的加压气体放出通路；而且片状电子部件收容容器由使得能够调节该收容容器的开口面与片状电子部件排出通路支承构造体的下侧表面之间的间隔的片状电子部件收容容器升降单元支承。

上述本发明的片状电子部件的检查挑选装置的优选方式为以下那样。

(1)上述片状电子部件排出通路支承构造体包括：具备透孔的支承板；以及覆盖片状电子部件收容容器的开口面的盖构件，盖构件被配置于支承板的下侧，在与支承板的透孔对应的位置具备透孔，所述加压气体放出通路被设置于盖构件。

(2)上述片状电子部件排出通路支承构造体包括：具备透孔的支承板；以及在支承板的上侧表面在与支承板的透孔对应的位置设置有透孔的可取下的辅助板，上述片状电子部件排出通路的下侧的开口部与辅助板的透孔相接。

(3)在上述(2)的方式中，更优选的是上述片状电子部件排出通路支承构造体在上述支承板与上述辅助板之间具备在与支承板的透孔对应的位置设置有透孔的闸板，进一步地，所述闸板具备在将上述辅助板从支承板取下时以支承板的透孔和闸板的透孔不重叠的方式使闸板沿着该支承板的表面滑动而固定的闸板滑动移动单元。

(4)在上述(3)的方式中，更优选的是上述片状电子部件排出通路支承构造体包括覆盖片状电子部件收容容器的开口部的盖构件，盖构件在与上述支承板的透孔对应的位置具备透孔，所述加压气体放出通路被设置于盖构件。

(5)在上述(4)的方式中，更优选的是上述片状电子部件排出通路支承构造体的支承板除了与片状电子部件排出通路的下侧的开口部连接的透孔以外，在上述闸板经上述支承板的表面滑动而被固定时在预备透孔与闸板的透孔成为重叠的位置具备不与片状电子部件排出通路的开口部连接的所述预备透孔，上述盖构件在上述支承板的下侧经由在与支承板的透孔对应的位置具备透孔的连接构件而被固定，另外，在上述支承板的预备透孔的下侧具备连接构件，连接构件设置了与预备透孔连接的混入片状电子部件排出用通路。

(6)片状电子部件为在相对的表面具备一对电极的部件。

(7)片状电子部件为片状电容器。

发明的效果

在本发明的片状电子部件的检查挑选装置中，在以高速对大量片状电子部件进行检查挑选时，通过调节片状电子部件收容容器的开口面与配置于与其上侧的片状电子部件排出通路支承构造体的下侧表面的间隔，能够使各收容容器的开口面与上述支承构造体的下侧表面等密合。因此，即使在为了使检查过的片状电子部件从片状电子部件保持板的透孔排出而使用的高压气体吹入到片状电子部件收容容器、由此收容容器内部的片状电子部件飞起的情况下，该片状电子部件也不会从所述收容容器飞出而进入别的收容容器。因而，能够防止不适当片状电子部件向片状电子部件收容容器的混入。另外，由于使与上述收容容器的开口面密合的上述支承构造体具备用于把吹入到收容容器内部的高压气体放出到外部的加压气体放出通路，因此不妨碍检查过的片状电子部件向该收容容器的收容。而且，通过在片状电子部件的检查挑选结束之后，扩大上述收容容器的开口面与上述支承构造体的下侧表面之间的间隔，从而能够容易地从片状电子部件检查挑选装取出片状电子部件收容容器。

附图说明

图1是示出检查挑选对象的片状电容器(片状电子部件)的结构例子的立体图。

图2是示出本发明的片状电子部件的检查挑选装置的结构例子的正面图。

图3是沿着片状电子部件保持板24的周向方向切断图2的检查挑选装置20a的片状电子部件收容部51的放大截面图。

图4是沿着片状电子部件保持板24的半径方向切断图2的检查挑选装置20a的片状电子部件检查部52的放大截面图。

图5是沿着片状电子部件保持板24的半径方向切断图2的检查挑选装置20a的片状电子部件排出部53的放大截面图。

图6是概要地示出图2的检查挑选装置20a的电连接状态的框图。

图7是概要地示出图2的检查挑选装置20a的电连接状态的电线路图。

图8是图2的检查挑选装置20a的片状电子部件收容容器34附近部位的放大图。

图9是在使片状电子部件收容容器34下降的状态下示出图8示出的检查挑选装置20a的图。

图10是图9示出的检查挑选装置20a的侧视图。

图11是示出图8~图10示出的检查挑选装置20a的支承构造体39a的辅助板81、闸板82以及支承板83的结构的截面图。但是，辅助板81在从支承板83取下的状态下记入。

图12是示出图11示出的闸板82以及支承板83的结构的局部切口平面图。

图13是示出图12示出的支承板83的结构的平面图。

图14是放大示出图8示出的盖构件86的底面的图。

图15是图8和图9示出的连接构件87的平面图。

图16是示出本发明的片状电子部件的检查挑选装置的其它结构例子的主要部分的正面图。

图17是示出本发明的片状电子部件的检查挑选装置的进一步其它结构例子的主要部分的正面图。

图18是示出本发明的片状电子部件的检查挑选装置的进一步其它结构例子的主要部分的正面图。

图19是示出片状电子部件的检查挑选装置的进一步其它结构例子的正面图。

图20是图19的检查挑选装置20e的片状电子部件收容容器34附近部位的放大图。

具体实施方式

首先，一边参照随附附图一边说明本发明的片状电子部件的检查挑选装置的代表性实施方式。

图1是示出检查挑选对象的片状电容器(片状电子部件)的结构例子的立体图。图1的片状电容器11由如下构成：由电介质构成的电容器主体12以及设置于该电容器主体12的两端部的一对电极13a、13b。片状电容器11是作为电介质使用陶瓷的片状陶瓷电容器。电容器主体由陶瓷形成，在其内部具备从电极13a、13b的每个交替地且相互平行地延伸的多个电极层。作为本例子，将片状电容器11的宽度设定为0.3mm，而且将长度设定为0.6mm。

图2是示出本发明的片状电子部件的检查挑选装置的结构例子的正面图。图3是沿着片状电子部件保持板24的周向方向切断图2的检查挑选装置20a的片状电子部件收容部51的放大截面图。图4是沿着片状电子部件保持板24的半径方向切断图2的检查挑选装置20a的片状电子部件检查部52的放大截面图。图5是沿着片状电子部件保持板24的半径方向切断图2的检查挑选装置20a的片状电子部件排出部53的放大截面图。图6是概要地示出图2的检查挑选装置20a的电连接状态的框图。图7是概要地示出图2的检查挑选装置20a的电连接状态的电线路图。而且，图8是图2的检查挑选装置20a的片状电子部件收容容器34附近部位的放大图。

图2~图8示出的片状电子部件的检查挑选装置20a具备：基台21；片状电子部件保持板24，经由中心轴22可旋转地固定于基台21并经中心轴22的周围间歇性地旋转，具备能够临时收容片状电子部件(例如上述片状电容器11)的很多透孔23 (但是，透孔23被配置于在片状电子部件保持板24的表面在多个同心圆上把该同心圆均等分割的位置)；片状电子部件供给单元25，把片状电子部件供给到片状电子部件保持板24的各透孔23，片状电子部件供给单元25在接近于所述片状电子部件保持板24的一个表面的位置被配置于基台上；一对电极端子26a、26b，被配置于接近于片状电子部件保持板24的各透孔23的两个开口部的位置；电特性测定单元27a、27b，与一对电极端子26a、26b的每个电连接；电特性判定单元28，与电特性测定单元27a、27b电连接；片状电子部件排出指示信号发送单元29，与电特性判定单元28电连接；片状电子部件排出机构32，被沿着以上侧开口部36a位于片状电子部件保持板24附近且与所述同心圆的每个对应的位置的方式分别配置的所述同心圆的半径方向至少配置两列(例如七列)，能够接收来自片状电子部件排出指示信号发送单元29的信号；以及上表面33开口的至少两个(例如七个)片状电子部件收容容器34，收纳从片状电子部件保持板24经由片状电子部件排出机构32排出的片状电子部件而进行收容。

片状电子部件排出机构32具有：加压气体供给单元35，在片状电子部件保持板24的一个表面侧开口；片状电子部件排出通路37，经由片状电子部件保持板24在与加压气体供给单元35相反侧的位置配置所述上侧开口部36a；以及片状电子部件排出通路支承构造体39a，被固定于基台21，具备与片状电子部件排出通路37的下侧开口部36b连接的透孔38。

片状电子部件收容容器34的每个开口面33被配置于片状电子部件排出通路支承构造体39a的透孔38下侧，被使得收纳经由片状电子部件排出通路37和支承构造体39a的透孔38排出的片状电子部件而进行收容。

而且，该片状电子部件的检查挑选装置20a的特征在于，在片状电子部件排出通路支承构造体39a具备经由片状电子部件排出通路37放出被送入到片状电子部件收容容器34的加压气体的至少一部分的加压气体放出通路41，而且片状电子部件收容容器34由使得能够调节收容容器34的开口面(上表面)33与片状电子部件排出通路支承构造体39a的下侧表面43a之间的间隔的片状电子部件收容容器升降单元42支承。

在图2~图8示出的片状电子部件检查挑选装置20a中，按在保持板24的中心与周缘之间沿半径方向(在通过保持板24的旋转的中心位置的直线上)排列成一列而配置的合计六个透孔23所收容的六个片状电容器的每个，进行电特性的检查与挑选。

虽然片状电子部件保持板24的形状没有特别的限制，但是通常设定为圆盘状的形状。

保持板24具备能够临时收容片状电容器(片状电子部件)11的很多透孔23。透孔23被配置于在保持板24的表面在多个同心圆上把该同心圆均等分割的位置。

保持板24经由中心轴22可旋转地固定于基台21。中心轴22与旋转驱动装置45连接。通过使旋转驱动装置45进行动作，从而保持板24经中心轴22的周围间歇性地旋转。

此外，片状电子部件保持板24“间歇性地旋转”意味着按把在保持板24的旋转方向(旋转的周向方向)上相互邻接的两个透孔的每个与保持板24的旋转中心位置连结的两条直线所形成的角度(锐角)的每个来旋转的情况。

为了对片状电子部件收容部51中检查挑选对象的片状电容器(片状电子部件)11的电特性进行检查，将其临时收容于保持板24的透孔23的每个。

如图3所示，在片状电子部件收容部51配置有对保持板24的各透孔23供给片状电容器11的片状电子部件供给单元25。片状电子部件供给单元25在接近于保持板24的一个表面(前面)的位置被配置于基台(图2:21)上。

如图2和图3所示，片状电子部件供给单元25由如下构成：部件送给装置(送料器)46，具备投入有检查挑选对象的大量片状电容器的料斗46a；片状电子部件保持盖47，被配置于接近于保持板24的前面(在图3中左侧的面)的位置，收容由部件送给装置46送给的片状电容器11而进行临时保持；以及减压单元48，在保持板24的另一表面侧(背面侧)开口。

减压单元48由如下构成：基板54，具备在各保持板24的背面侧开口的多个气体排出通路49；以及减压装置(代表例子为真空泵)55，与各气体排出通路49连接。当使减压装置55进行动作时，从气体排出通路49排出气体，保持板24与基板54之间的间隙成为被减压的状态(成为比大气压小的压力)。

而且，在使片状电子部件保持板24在记入于图3的箭头56所示的方向上间歇性地旋转而且使减压装置55进行动作的状态下，把检查挑选对象的很多片状电容器投入于料斗46a。由此，片状电容器11被由部件送给装置46向片状电子部件保持盖47的内侧送给，而且被吸入于保持板24的各透孔23被临时收容。

此外，由于保持板24与基板54之间的间隙处于减压的状态，因此即使在保持板24收容的片状电容器11移动至比在图3中最上部的气体排出通路49更靠上方的位置的情况下，片状电容器11也不会从透孔23出来而落下。

在透孔23收容的片状电容器11通过保持板24的间歇性旋转移动而被送到图2和图4示出的片状电子部件检查部52。

在与保持板24的各透孔23的两个开口部接近的位置配置有一对电极端子26a、26b。

此外，在与上述保持板的各透孔的两个开口部接近的位置意味着在各透孔收容有片状电子部件时上述一对电极端子与各片状电子部件电连接的位置，或者在上述一对电极端子的一个或者两者被设为可移动的结构的情况下，通过上述电极端子的移动从而能够使上述一对电极端子与各片状电子部件电连接的位置。

电极端子26a经由配设于其周围的电绝缘性的筒体57而被固定于基板54。例如以形成为一个平滑的平面的方式对电极端子26a和基板54的保持板24一侧的表面实施研磨加工。

电极端子26b固定于电极端子支承板58。支承板58固定于直线运动驱动装置59。

通过使直线运动驱动装置59动作并使支承板58向保持板24一侧移动，被支承于支承板58的各电极端子26b同样也向保持板24一侧移动。由此，各片状电容器、例如图4示出的片状电容器11a、11b、11c、11d、11e、11f的每个被夹持在电极端子26a、26b之间。

因而，各片状电容器的电极13a与电极端子26a电连接，而且电极13b与电极端子26b电连接。由此，各片状电容器经由一对电极端子26a、26b与电特性测定单元27a、27b电连接。

在图2~图8示出的检查挑选装置20a中，与一个电特性测定单元电连接的片状电容器为三个。三个片状电容器11a、11b、11c经由切换器71a与电特性测定单元27a电连接。而且，三个片状电容器11d、11e、11f经由切换器71b与电特性测定单元27b电连接。

作为电特性测定单元27a、27b的每个例如使用静电电容测定器。作为静电电容测定器能够使用市场上销售的静电电容测定器(代表例子为电容计：E4981A，Agilent Technologies(アジレント?テクノロジー)(株)制)。

测定单元27a、27b分别具备电源62、电压计63以及电流计64。由电源62发生的检查用电压经由切换器71a或者切换器71b施加到各片状电容器。由电压计63检测检查用电压(交变电压)的电压值。由电流计64检测通过施加检查用电压而由各片状电容器发生的电流的电流值。而且，根据检测出的电压值和电流值例如通过对电压值和电流值进行运算处理(数据处理)，从而测定各片状电容器的静电电容(电特性)。此外，各测定单元的放大器65和电阻器66是用于使电流计64指示上述电流值的放大器和电阻器。

在电特性测定单元27a、27b电连接有电特性判定单元28。电特性判定单元28根据由各测定器测定的片状电容器的静电电容的大小，判定测定的片状电容器是合格品还是次品。另外，关于合格品的片状电容器，例如根据静电电容的大小来判定是与预先决定的几个等级中的哪一个等级对应的合格品。同样地，关于次品片状电容器，例如也根据静电电容的大小来判定是与预先决定的几个等级中的哪一个等级对应的次品。

电特性判定单元28与片状电子部件排出指示信号发送单元29电连接。发送单元29对在后面说明的片状电子部件排出机构32供给指示把片状电容器从保持板24的透孔23排出的信号。

此外，电特性判定单元28和片状电子部件排出指示信号发送单元29也可以构成为另外的装置，也可以构成为组合了这些单元的一个控制器61。

对电特性进行了检查(测定和判定)的片状电容器通过片状电子部件保持板24的间歇性旋转移动而被送到图2和图5示出的片状电子部件排出部53。

在片状电子部件排出部53沿着保持板24的半径方向(配置有保持板24的透孔23的同心圆的半径方向)配置有合计七列的片状电子部件排出机构32。在保持板24的前方侧(在图5中下侧)配设有具备多个透孔72a的盖72。

各列的片状电子部件排出机构32分别具备六个片状电子部件排出通路37，各排出通路37的上侧开口部36a与盖72的各列的各透孔72a相连接。但是，在图2仅记入了各列的排出机构32所具备的六个排出通路中到保持板24的外周缘最近的排出通路37。

当从片状电子部件排出指示信号发送单元29接收指示排出片状电子部件的意思的信号时，各片状电子部件排出机构32使加压气体供给单元35进行动作，例如对在保持板24的各透孔23收容的一个或者两个以上的片状电容器例如片状电容器11a喷射加压气体。由此，片状电容器被排出到片状电子部件排出通路37。

例如，片状电容器11a通过图2示出的合计七个片状电子部件排出通路37的每个的上侧开口部36a。每个排出通路37经由片状电子部件排出通路支承构造体39a的每个透孔38与每个片状电子部件收容容器34连接。

因而，所述合计七列的片状电子部件排出机构32根据从片状电子部件排出指示信号发送单元29接收到的信号，使加压气体供给单元35进行动作，例如使片状电容器11a排出到图2示出的合计七个的片状电子部件排出通路37中的任一个，送到与该排出通路37连接的收容容器34。

使得像这样，片状电子部件检查挑选装置20a根据由电特性测定单元测定出的电特性对大量片状电容器(片状电子部件)进行检查挑选(挑选为合格品和次品，优选地如前述那样将合格品和次品的每个挑选为几个等级)，收容于规定的片状电子部件收容容器34。

而且，在图2和图8示出的检查挑选装置20a中，在片状电子部件排出通路支承构造体39a具备把经由片状电子部件排出通路37送入到片状电子部件收容容器34的加压气体的至少一部分放出的加压气体放出通路41，而且每个片状电子部件收容容器34由使得能够调节收容容器34的开口面(上表面)33与片状电子部件排出通路支承构造体39a的下侧表面43a之间的间隔的片状电子部件收容容器升降单元(代表例子为气缸)42支承。

图9是在使升降单元42进行动作并使片状电子部件收容容器34下降的状态下示出图8示出的检查挑选装置20a的图。而且，图10是图9示出的检查挑选装置20a的侧面图。

如图9和图10所示，在检查挑选装置20a中，配置于上侧的合计四个收容容器34配置于上侧支承板73上，配置于下侧的合计三个收容容器34配置于下侧支承板74上。分别由直线导轨75、76可升降地支承支承板73、74。

直线导轨75由轨道75a以及可升降地安装于轨道75a的滑块75b构成。上侧支承板73被固定于滑块75b，使得由于止挡件77a而不会移动至比图示的位置更下侧的位置。

同样地，直线导轨76由轨道76a以及可升降地安装于轨道76a的滑块76b构成。下侧支承板74被固定于滑块76b，使得由于止挡件77b而不会移动至比图示的位置更下的侧位置。

当使升降单元42进行动作并使下侧支承板74上升时，首先配置于下侧支承板74上的三个收容容器34上升，每个收容容器34的开口面与上侧支承板73的下侧表面73a密合。而且，当使下侧支承板74进一步上升时，上侧支承板73以及配置于该上侧支承板73上的合计四个收容容器34上升，每个收容容器34的开口面与片状电子部件排出通路支承构造体39a的下侧表面43a密合。

像这样，在检查挑选装置20a中，设为可调节配置于下侧支承板74上的各收容容器34的开口面33与支承构造体39a的下侧表面43a之间的间隔，而且设为可调节配置于上侧支承板73上的各收容容器34的开口面与支承构造体39a的下侧表面43a之间的间隔。

因而，在检查挑选装置20a中，在以高速对大量片状电容器(片状电子部件)进行检查挑选时，能够使各收容容器34的开口面33与支承构造体39a的下侧表面43a或者上侧支承板73的下侧表面73a(还称为“支承构造体的下侧表面等”)密合。因此，在检查挑选装置20a中，即使在为了使检查过的片状电子部件从保持板24的透孔23排出而使用的高压气体被吹入到片状电子部件收容容器34、由此收容容器34内部的片状电子部件飞起的情况下，该片状电子部件也不会从收容容器34飞出而进入别的收容容器。因而，能够防止不适当片状电子部件混入到片状电子部件收容容器34。

此外，片状电子部件排出通路支承构造体39a具备加压气体放出通路41，该加压气体放出通路41用于把与片状电子部件一起吹入到收容容器34内部的加压气体放出到外部。因此，例如如图5所示，被使用加压气体而从保持板24的透孔23排出的片状电容器11a与所述加压气体一起经排出通路37内部顺利地移动而被收容于收容容器34。

而且，在片状电子部件的检查挑选结束之后，扩大收容容器34的开口面33与支承构造体39a的下侧表面43a之间的间隔，由此能够将各收容容器34从检查挑选装置20a容易地取出。

以下，详细说明本发明的直线运动轴承的结构和优选实施方式。

优选的是检查挑选装置的片状电子部件为在相对的表面具备一对电极的部件。

作为被检查挑选的片状电子部件的代表例子，可举出片状电容器、片状电阻器(包括片状变阻器)以及片状电感器。特别优选的是被检查挑选的片状电子部件为片状电容器。

优选的是，在片状电子部件保持板的中心与周缘之间在所述保持板的半径方向上排列成一列的透孔的数量为处于2~20个的范围内，更优选的是处于4~12个的范围内。

作为由本发明的检查挑选装置检查的片状电子部件的电特性的代表例子，可举出能够根据对片状电子部件施加的检查用电压的电压值以及通过施加该检查用电压而在片状电子部件中发生的电流的电流值来决定的电特性。

作为像这样的电特性的例子，可举出电阻、静电电容(电容)、电感、阻抗、导纳等。另外，作为上述片状电容器的电特性的代表例子，可举出静电电容以及泄露电流。

此外，上述的测定对象的片状电子部件的种类与要测定的电特性并不是必须一对一地对应。例如，还能够关于上述的片状电容器以外的片状电子部件(详细地，关于表示于片状电容器以外的片状电子部件的等效线路的电容器)对其静电电容进行测定。例如还能够对片状变阻器的静电电容进行测定。

另外，还能够沿着检查挑选装置20a的片状电子部件检查部52的保持板24的周向方向，进一步配设与别的电特性测定单元(与电特性测定单元27a、27b不同的检查电特性的电特性测定单元)电连接的一对电极端子。

在检查挑选装置20a中，为了由两台电特性测定单元27a、27b来测定检查挑选对象的合计六个片状电容器的电特性，使用切换器71a、71b。如果要由合计六台的电特性测定单元来分别对上述合计六个片状电容器的电特性进行测定，则不需要使用上述那样的切换器。

作为升降单元42的例子，可举出由气缸、油压缸以及线性电动机为代表的直线运动驱动装置。

配设于升降单元42周围的多根(优选3~6根)线圈弹簧97起到使每个收容容器34的开口面与支承构造体39a的下侧表面43a或者上侧支承板73的下侧表面73a均匀地密合的作用。

图11是示出图8~图10示出的检查挑选装置20a的支承构造体39a所具备的辅助板81、闸板82以及支承板83的结构的截面图。但是，辅助板81以从支承板83取下的状态来记入。图12是示出图11示出的闸板82以及支承板83的结构的局部切口平面图。而且，图13是示出图12示出的支承板83的结构的平面图。

如图8~图13所示，优选的是，片状电子部件排出通路支承构造体39a包括：具备透孔83a的支承板83，以及在支承板83的上侧表面在与支承板83的透孔83a对应的位置(参照图8和图9)设置有透孔81a的可取下的辅助板81，片状电子部件排出通路37的下侧开口部36b与辅助板81的透孔81a相接。

在检查挑选装置20a中，例如在将检查挑选对象的片状电子部件变更为另外的片状电子部件时，有时将保持板24交换成另外的保持板。而且，在交换保持板24时，需要使处于保持板24的前面侧的多个(例如合计42个)排出通路37移动至另外的位置。

通过将上述辅助板81从支承板83取下，从而能够将多条片状电子部件排出通路37的下侧的端部总体地从支承构造体39a取下。因而，交换保持板24的作业变得极容易。

另外，片状电子部件排出通路支承构造体39a在支承板83与辅助板81之间具备在与支承板83的透孔83a对应的位置(参照图8和图9)设置有透孔82a的闸板82，进一步地，更优选的是闸板82具备在将辅助板81从支承板83取下时以支承板83的透孔83a与闸板82的透孔82a不重叠的方式使闸板沿着支承板83的表面滑动而固定的闸板滑动移动单元84。

滑动移动单元84由如下构成：凹部83b，形成于支承板83的上侧表面，引导闸板82的滑动移动；以及线圈弹簧85，一个端部被部分地收容于形成于凹部83b的侧壁的孔83c。

在辅助板81的下侧表面设置有凹部81b，而且在闸板82的上侧表面形成有凸部82b。在辅助板81的凹部81b与闸板82的凸部82b卡合的状态下，当使辅助板81在图11和图12中向左侧方向滑动而固定于支承板83的上侧表面的规定位置(图8和图9示出的位置)时，滑动移动单元84的各线圈弹簧85被闸板82按压而收缩，闸板82的透孔82a被配置于与支承板83的透孔83a对应的位置。由处于像这样的配置(图8和图9示出的配置)的闸板的透孔82a、支承板83的透孔83a以及辅助板81的透孔81a构成支承构造体39a的透孔38。

而且，当将辅助板81从支承板83取下时，滑动移动单元84的各线圈弹簧85伸展，闸板82沿着支承板83的表面在图11和图12中向右侧方向滑动。当闸板82滑动至支承板83的透孔83a与闸板82的透孔82a不重叠的位置时，闸板82的右侧的端面与支承板83的凹部83b的右侧的侧面接触。因此，闸板82固定于支承板83的表面上。

当采用像这样的结构时，在将辅助板81从支承板83取下时，支承板83的透孔83a的上侧开口被闸板82堵塞。因此，在如前述那样的交换保持板24的作业中落到支承板83上的片状电子部件不会通过支承板83的透孔83a混入到各收容容器34。

另外，片状电子部件排出通路支承构造体39a具备覆盖片状电子部件收容容器34的开口部的盖构件86，该盖构件86在与支承板83的透孔83a对应的位置具备透孔86a，也可以在盖构件86设置加压气体放出通路41。另外，也可以具备在与支承板83的透孔83a对应的位置具备透孔73b的上侧支承板73。优选的是还在该上侧支承板73设置加压气体放出通路41。

图14是放大示出图8示出的盖构件86的底面的图。在盖构件86设置有加压气体放出通路41。如图14所示，优选的是在加压气体放出通路41的片状电子部件收容容器一侧的开口部具备妨碍片状电子部件的通过的网体89。

另外，片状电子部件排出通路支承构造体39a的支承板83除了与片状电子部件排出通路37的下侧开口部36b连接的透孔83a以外，如图11和图12所示在闸板82经支承板83的表面滑动而被固定时在预备透孔83d与闸板82的透孔82a成为不重叠的位置具备不与片状电子部件排出通路37的下侧开口部36b连接的预备透孔83d，如图8和图9所示，盖构件86在支承板83的下侧经由在与支承板的透孔83a对应的位置具备透孔87a的连接构件87而被固定，另外，还优选的是在支承板83的预备透孔83d的下侧具备设置了与预备透孔83d连接的混入片状电子部件排出用的通路88a的连接构件88。

图15是图8和图9示出的连接构件87的平面图。在连接构件87，在与支承板83的透孔83a对应的位置具备合计六个的透孔87a。同样地，连接构件88还另外具备构成电子部件排出用的通路88a的合计六个的透孔。

如图8和图9所示，在将辅助板81固定于支承板83的表面的情况下，被排出到片状电子部件排出通路37的片状电子部件通过连接构件87的透孔87a而被收容于收容容器34。如图11和图12所示，当将辅助板81从支承板83取下时，闸板82沿着支承板83的表面滑动。因此，在像前述那样的交换保持板24的作业中落到支承板83和闸板82上的片状电子部件经由支承板83的预备透孔83d以及连接构件88的电子部件排出用通路88a而被收容于片状电子部件退避容器91。

图16是示出本发明的片状电子部件的检查挑选装置的其它结构例子的主要部分的正面图。除了图示的片状电子部件收容容器34附近部位的结构不同以外，图16的片状电子部件检查挑选装置20b的结构与图2~图10示出的片状电子部件检查挑选装置20a的结构相同。

具体地，除了片状电子部件排出通路支承构造体39b由具备把经由片状电子部件排出通路37送入到片状电子部件收容容器34的加压气体的至少一部分放出的加压气体放出通路41的一片板状构件构成、即不具备图8~图10示出的辅助板81、闸板82以及盖构件86以外，图16的检查挑选装置20b的结构与图2~图10示出的片状电子部件检查挑选装置20a的结构相同。

图17是示出本发明的片状电子部件的检查挑选装置的进一步其它结构例子的主要部分的正面图。除了图示的片状电子部件收容容器34附近部位的结构不同以外，图17的片状电子部件检查挑选装置20c的结构与图2~图10示出的片状电子部件检查挑选装置20a的结构相同。

具体地，除了片状电子部件排出通路支承构造体39c包括具备透孔93a的支承板93以及覆盖片状电子部件收容容器34的开口面33的盖构件94(盖构件94被配置于支承板93的下侧，在与支承板93的透孔93a对应的位置具备透孔94a)，并且所述加压气体放出通路41被设置于盖构件94、即不具备图8~图10示出的辅助板81以及闸板82以外，图17的检查挑选装置20c的结构与图2~图10示出的片状电子部件检查挑选装置20a的结构相同。

图18是示出本发明的片状电子部件的检查挑选装置的进一步其它结构例子的主要部分的正面图。除了图示的片状电子部件收容容器34附近部位的结构不同以外，图18的片状电子部件检查挑选装置20d的结构与图2~图10示出的片状电子部件检查挑选装置20a的结构相同。

具体地，除了片状电子部件排出通路支承构造体39d包括具备透孔95a的支承板95以及在支承板95的上侧表面在与支承板95的透孔95a对应的位置设置有透孔96a的可取下的辅助板96、并且片状电子部件排出通路37的下侧开口部36b与辅助板96的透孔96a相接、即不具备图8~图10示出的闸板82以及盖构件86以外，图18的检查挑选装置20d的结构与图2~图10示出的片状电子部件检查挑选装置20a的结构相同。

图16~18示出的片状电子部件检查挑选装置20b、20c、20d分别与图2~图10示出的片状电子部件检查挑选装置20a同样地，即使在以高速对大量片状电子部件进行检查并挑选的情况下，也能够防止不适当片状电子部件向片状电子部件收容容器的混入，而且发挥片状电子部件收容容器的取出也容易这一效果。

图19是示出片状电子部件检查挑选装置的进一步其它结构例子的正面图。而且，图20是图19的检查挑选装置20e的片状电子部件收容容器34附近部位的放大图。

除了不具备图8~图10示出的片状电子部件收容容器升降单元42以及加压气体放出通路41以外，图19和图20示出的检查挑选装置20e的结构与图2~图10示出的片状电子部件检查挑选装置20a的结构相同。

片状电子部件挑选装置20e通过将辅助板81从支承板83取下，从而能够将多条(例如合计42条)片状电子部件排出通路37的下侧端部总体地从片状电子部件排出通路支承构造体39e取下。因而，交换保持板24的作业变得极容易。另外，在将辅助板81从支承板83取下时，由闸板82堵塞支承板83的透孔83a上侧开口。因此，在像前述那样的交换保持板24的作业中落到支承板83上的片状电子部件不会通过支承板83的透孔83a混入到各收容容器34。

片状电子部件检查挑选装置20e是如下的片状电子部件检查挑选装置，包括：基台21；片状电子部件保持板24，经由中心轴22可旋转地固定于基台21并经中心轴22的周围间歇性地旋转，具备能够临时收容片状电子部件的很多透孔23 (但是，透孔23被配置于在片状电子部件保持板24的表面在多个同心圆上把该同心圆均等分割的位置)；片状电子部件供给单元25，把片状电子部件供给到片状电子部件保持板24的各透孔23，片状电子部件供给单元25在接近于所述片状电子部件保持板24的一个表面的位置被配置于基台上；一对电极端子，被配置于接近于片状电子部件保持板24的各透孔23的两个开口部的位置；电特性测定单元27a、27b，与一对电极端子的每个电连接；电特性判定单元28，与电特性测定单元27a、27b电连接；片状电子部件排出指示信号发送单元29，与电特性判定单元28电连接；片状电子部件排出机构32，被沿着以上侧开口部36a位于片状电子部件保持板24附近且与所述同心圆的每个对应的位置的方式分别配置的所述同心圆的半径方向至少配置两列(例如七列)，能够接收来自片状电子部件排出指示信号发送单元29的信号；以及上表面33开口的至少两个(例如七个)片状电子部件收容容器34，收纳从片状电子部件保持板24经由片状电子部件排出机构32排出的片状电子部件而进行收容，

所述片状电子部件排出机构32包括：加压气体供给单元，在片状电子部件保持板24的一个表面侧开口；片状电子部件排出通路37，经由片状电子部件保持板24在与加压气体供给单元相反侧的位置配置所述上侧开口部36a；以及片状电子部件排出通路支承构造体39e，被固定于基台21，具备与片状电子部件排出通路37的下侧开口部36b连接的透孔38，而且

所述片状电子部件收容容器34的每个开口面33被配置于片状电子部件排出通路支承构造体39e的透孔38下侧，被使得收纳经由片状电子部件排出通路37和支承构造体39e的透孔38排出的片状电子部件而进行收容，

所述片状电子部件的检查挑选装置的特征在于，上述片状电子部件排出通路支承构造体39e具备：具备透孔83a的支承板83；可取下的辅助板81，在支承板83的上侧表面在与支承板的透孔83a对应的位置设置有透孔81a (但是，片状电子部件排出通路37的下侧开口部36b与辅助板81的透孔81a相接)，以及闸板82，在支承板83与辅助板81之间在与支承板83的透孔83a对应的位置设置有透孔82a，进一步具备闸板滑动移动单元，在将辅助板81从支承板83取下时以支承板83的透孔83a和闸板82的透孔82a不重叠的方式使闸板82沿着该支承板83的表面滑动而将闸板82固定。

上述片状电子部件的检查挑选装置20e的优选方式为以下那样。

(1)片状电子部件排出通路支承构造体39e包括覆盖片状电子部件收容容器的开口部的盖构件94，盖构件94在与支承板83的透孔83a对应的位置具备透孔94a。

(2) 片状电子部件排出通路支承构造体39e的支承板83除了与片状电子部件排出通路37的下侧的开口部36b连接的透孔83a以外，在闸板82经支承板83的表面滑动而被固定时在预备透孔83d与闸板82的透孔82a成为重叠的位置具备不与片状电子部件排出通路37的下侧开口部36b连接的预备透孔83d，盖构件94在支承板83的下侧经由在与支承板83的透孔83a对应的位置具备透孔87a的连接构件87而被固定，另外，在支承板83的预备透孔83d的下侧具备连接构件88，连接构件88设置了与预备透孔83d连接的混入片状电子部件排出用通路88a。

(3)片状电子部件为在相对的表面具备一对电极的部件。

(4)片状电子部件为片状电容器。

在片状电子部件检查挑选装置20e中，为了防止来自各收容容器34的片状电子部件的飞出，通常，将上侧的收容容器34的开口面33与盖构件94的下侧表面43a之间的间隔以及下侧的收容容器34的开口面33与上侧支承板73的下侧表面73a之间的间隔分别设定为2mm以下，优选地设定为1mm以下，更优选地设定为0.5mm以下。

附图标记说明

11：片状电容器(片状电子部件)；11a、11b、11c：片状电容器；11d、11e、11f：片状电容器；12：电容器主体；13a、13b：电极；20a、20b、20c：片状电子部件的检查挑选装置；20d、20e：片状电子部件的检查挑选装置；21：基台；22：中心轴；23：透孔；24：片状电子部件保持板；25：片状电子部件供给单元；26a、26b：电极端子；27a、27b：电特性测定单元；28：电特性判定单元；29：片状电子部件排出指示信号发送单元；32：片状电子部件排出机构；33：上表面(开口面)；34：片状电子部件收容容器；35：加压气体供给单元；36a：上侧开口部；36b：下侧开口部；37：片状电子部件排出通路；38：透孔；39a、39b、39c：片状电子部件排出通路支承构造体；39d、39e：片状电子部件排出通路支承构造体；41：加压气体放出通路；42：片状电子部件收容容器升降单元；43a：下侧表面；45：旋转驱动装置；46：部件送给装置；46a：料斗；47：片状电子部件保持盖；48：减压单元；49：气体排出通路；51：片状电子部件收容部；52：片状电子部件检查部；53：片状电子部件排出部；54：基板；55：减压装置；56：示出片状电子部件保持板的旋转方向的箭头；57：筒体；58：电极端子支承板；59：直线运动驱动装置；61：控制器；62：电源；63：电压计；64：电流计；65：放大器；66：电阻器；71a、71b：切换器；72：盖；72a：透孔；73：上侧支承板；73a：下侧表面；73b：透孔；74：下侧支承板；75：直线导轨；75a：轨道；75b：滑块；76：直线导轨；76a：轨道；76b：滑块；77a、77b：止挡件；81：辅助板；81a：透孔；81b：凹部；82：闸板；82a：透孔；82b：凸部；83：支承板；83a：透孔；83b：凹部；83c：孔；83d：预备透孔；84：闸板滑动移动单元；85：线圈弹簧；86：盖构件；86a：透孔；87：连接构件；87a：透孔；88：连接构件；88a：通路；89：网体；91：片状电子部件退避容器；93：支承板；93a：透孔；94：盖构件；94a：透孔；95：支承板；95a：透孔；96：辅助板；96a：透孔；97：线圈弹簧。

Claims (8)

1.一种片状电子部件的检查挑选装置，包括：

基台；片状电子部件保持板，经由中心轴可旋转地固定于基台并经该中心轴的周围间歇性地旋转，具备能够临时收容片状电子部件的很多透孔，但是该透孔被配置于在所述片状电子部件保持板的表面在多个同心圆上把该同心圆均等分割的位置；片状电子部件供给单元，把片状电子部件供给到所述片状电子部件保持板的各透孔，所述片状电子部件供给单元在接近于所述片状电子部件保持板的一个表面的位置被配置于基台上：一对电极端子，被配置于接近于所述片状电子部件保持板的各透孔的两个开口部的位置；电特性测定单元，与所述一对电极端子的每个电连接；电特性判定单元，与所述电特性测定单元电连接；片状电子部件排出指示信号发送单元，与所述电特性判定单元电连接；片状电子部件排出机构，被沿着以上侧开口部位于所述片状电子部件保持板附近且与所述同心圆的每个对应的位置的方式分别配置的所述同心圆的半径方向至少配置两列，能够接收来自上述片状电子部件排出指示信号发送单元的信号；以及上表面开口的至少两个片状电子部件收容容器，收纳受け入れ从所述片状电子部件保持板经由所述片状电子部件排出机构排出的片状电子部件而进行收容，

所述片状电子部件排出机构包括：加压气体供给单元，在所述片状电子部件保持板的一个表面侧开口；片状电子部件排出通路，经由所述片状电子部件保持板在与所述加压气体供给单元相反侧的位置配置所述上侧开口部；以及片状电子部件排出通路支承构造体，被固定于基台，具备与所述片状电子部件排出通路的下侧开口部连接的透孔，而且，

所述片状电子部件收容容器的每个上述开口被配置于所述片状电子部件排出通路支承构造体的透孔的下侧，被使得收纳经由所述片状电子部件排出通路和所述支承构造体的透孔排出的片状电子部件而进行收容，

所述片状电子部件的检查挑选装置的特征在于，

在所述片状电子部件排出通路支承构造体具备把经由所述片状电子部件排出通路送入到片状电子部件收容容器的加压气体的至少一部分放出的加压气体放出通路；而且所述片状电子部件收容容器由使得能够调节该收容容器的开口面与片状电子部件排出通路支承构造体的下侧表面之间的间隔的片状电子部件收容容器升降单元支承。

2.根据权利要求1所述的片状电子部件的检查挑选装置，其特征在于，

所述片状电子部件排出通路支承构造体包括：具备透孔的支承板；以及覆盖所述片状电子部件收容容器的开口面的盖构件，所述盖构件被配置于所述支承板的下侧，在与所述支承板的透孔对应的位置具备透孔，所述加压气体放出通路被设置于所述盖构件。

3.根据权利要求1所述的片状电子部件的检查挑选装置，其特征在于，

所述片状电子部件排出通路支承构造体包括：具备透孔的支承板；以及在所述支承板的上侧表面在与所述支承板的透孔对应的位置设置有透孔的可取下的辅助板，所述片状电子部件排出通路的下侧的开口部与所述辅助板的透孔相接。

4.根据权利要求3所述的片状电子部件的检查挑选装置，其特征在于，

所述片状电子部件排出通路支承构造体在所述支承板与所述辅助板之间具备在与所述支承板的透孔对应的位置设置有透孔的闸板，进一步地所述闸板具备在将所述辅助板从所述支承板取下时以所述支承板的透孔和所述闸板的透孔不重叠的方式使所述闸板沿着所述支承板的表面滑动而固定的闸板滑动移动单元。

5.根据权利要求4所述的片状电子部件的检查挑选装置，其特征在于，

所述片状电子部件排出通路支承构造体包括覆盖所述片状电子部件收容容器的开口部的盖构件，所述盖构件在与所述支承板的透孔对应的位置具备透孔，所述加压气体放出通路被设置于所述盖构件。

6.根据权利要求5所述的片状电子部件的检查挑选装置，

所述片状电子部件排出通路支承构造体的支承板除了与所述片状电子部件排出通路的下侧的开口部连接的透孔以外，在所述闸板经所述支承板的表面滑动而被固定时在所述预备透孔与所述闸板的透孔成为重叠的位置具备不与所述片状电子部件排出通路的开口部连接的所述预备透孔，所述盖构件在所述支承板的下侧经由在与所述支承板的透孔对应的位置具备透孔的连接构件而被固定，另外，在所述支承板的预备透孔的下侧具备连接构件，所述连接构件设置了与所述预备透孔连接的混入片状电子部件排出用通路。

7.根据权利要求1~6中的任一项所述的片状电子部件的检查挑选装置，

所述片状电子部件为在相对的表面具备一对电极的部件。

8.根据权利要求7所述的片状电子部件的检查挑选装置，

所述片状电子部件为片状电容器。