CN104198910B - 一种集成电路自动测试系统和测试方法 - Google Patents

一种集成电路自动测试系统和测试方法 Download PDF

Info

Publication number
CN104198910B
CN104198910B CN201410215762.3A CN201410215762A CN104198910B CN 104198910 B CN104198910 B CN 104198910B CN 201410215762 A CN201410215762 A CN 201410215762A CN 104198910 B CN104198910 B CN 104198910B
Authority
CN
China
Prior art keywords
circuit
chip
logic control
dds
control circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
CN201410215762.3A
Other languages
English (en)
Other versions
CN104198910A (zh
Inventor
朱芳
黄雄飞
叶宝玉
魏娜
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Guangzhou Civil Aviation College
Original Assignee
Guangzhou Civil Aviation College
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Guangzhou Civil Aviation College filed Critical Guangzhou Civil Aviation College
Priority to CN201410215762.3A priority Critical patent/CN104198910B/zh
Publication of CN104198910A publication Critical patent/CN104198910A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN104198910B publication Critical patent/CN104198910B/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

一种集成电路自动测试系统,其特征在于它包括主控计算机,USB接口电路,单片机,逻辑控制电路,DDS电路,整形电路,电源,多路模拟开关,芯片插座;主控计算机与USB接口电路通过USB连接线相连,单片机分别与逻辑控制电路、USB接口电路相连,DDS电路分别与逻辑控制电路和多路模拟开关相连,多路模拟开关分别与DDS电路、电源、整形电路、芯片插座、逻辑控制电路和其它模拟开关相连。它克服了现有的测试系统通用性差的不足。本发明具有测试方便、通用性强、测试速度快的优点。本发明还同时公开了一种集成电路自动测试方法。

Description

一种集成电路自动测试系统和测试方法
技术领域
本发明涉及集成电路的自动测试技术,特别是涉及一种集成电路功能测试系统,本发明还涉及利用这种测试系统的测试方法。
背景技术
集成电路在出厂前,都经过了严格的功能和性能测试,但是在实际使用过程中,可能会碰到使用过的芯片或损坏的芯片,当不能确定芯片的功能是否正常时则必须进行测试。目前常用的方法是针对每型芯片设计专用的测试电路,而部分通用的电路则通用性和自动化程度不够。
发明内容
本发明的目的是克服上述已有技术的不足之处,而提供一种集成电路功能测试系统。
本发明的另一个目的是提供一种利用这种测试系统的测试方法。它首先解决芯片功能测试问题。同时具有通用性,并且测试简单,速度快。
本发明的目的是通过如下措施来达到的:一种集成电路自动测试系统,它包括主控计算机,USB接口电路,单片机,逻辑控制电路,DDS电路,整形电路,电源,多路模拟开关,芯片插座;主控计算机与USB接口电路通过USB连接线相连,单片机分别与逻辑控制电路、USB接口电路相连,DDS电路分别与逻辑控制电路和多路模拟开关相连,多路模拟开关分别与DDS电路、电源、整形电路、芯片插座、逻辑控制电路和其它模拟开关相连。
一种集成电路自动测试方法,它包括以下步骤:
(1)将待测芯片放入芯片插座并固定,在主控计算机上设定控制参数,包括DDS电路输出信号频率,待测芯片的每个管脚的连接关系;
(2)单片机通过USB接口电路接收控制参数并将控制参数预置进逻辑控制电路中;
(3)逻辑控制电路将信号频率参数按照时序配置到DDS电路上,DDS电路输出测试需要的频率的正弦或方波信号,同时逻辑控制电路控制模拟开关的通道选择,芯片的每个管脚都相应的与设定的通路连接,通路包括正电源、负电源、地、DDS输出信号、芯片的其它管脚、电路输出、悬空七种连接方式;
(4)整形电路将芯片输出信号整形成方波信号并将信号送入逻辑控制电路,逻辑控制电路测量信号频率,单片机读取逻辑控制电路测量的频率值并将值通过USB电路上传到主控机;
(5)主控计算机比较设定值与返回值,频率一致即为芯片功能正常,否则为不正常。系统也支持示波器直接观测输出信号,示波器显示波形正常则芯片功能正常,否则功能不正常。
本发明具有如下优点:(1)测试简单方便,能对不同型号的集成电路进行功能测试;(2)自动化程度高,测量速度快;(3)系统集成度高,通用性好。
附图说明
图1为集成电路自动测试系统结构框图。
具体实施方式
下面结合附图详细说明本发明的实施情况,但它们并不构成对本发明的限制,仅作举例而已。同时通过说明本发明的优点将变得更加清楚和容易理解。
参阅附图可知:一种集成电路自动测试系统,它包括主控计算机,USB接口电路,单片机,逻辑控制电路,DDS电路,整形电路,电源,多路模拟开关,芯片插座;主控计算机与USB接口电路通过USB连接线相连,单片机分别与逻辑控制电路、USB接口电路相连,DDS电路分别与逻辑控制电路和多路模拟开关相连,多路模拟开关分别与DDS电路、电源、整形电路、芯片插座、逻辑控制电路和其它模拟开关相连。
一种集成电路自动测试方法,它包括以下步骤:
(1)将待测芯片放入芯片插座并固定,在主控计算机上设定控制参数,包括DDS电路输出信号频率,待测芯片的每个管脚的连接关系;
(2)单片机通过USB接口电路接收控制参数并将控制参数预置进逻辑控制电路中;
(3)逻辑控制电路将信号频率参数按照时序配置到DDS电路上,DDS电路输出测试需要的频率的正弦或方波信号,同时逻辑控制电路控制模拟开关的通道选择,芯片的每个管脚都相应的与设定的通路连接,通路包括正电源、负电源、地、DDS输出信号、芯片的其它管脚、电路输出、悬空七种连接方式;
(4)整形电路将芯片输出信号整形成方波信号并将信号送入逻辑控制电路,逻辑控制电路测量信号频率,单片机读取逻辑控制电路测量的频率值并将值通过USB电路上传到主控机;
(5)主控计算机此较设定值与返回值,频率一致即为芯片功能正常,否则为不正常。系统也支持示波器直接观测输出信号,示波器显示波形正常则芯片功能正常,否则功能不正常。
参见图1,其中建立了集成电路自动测试系统的框图,其中逻辑控制电路采用CPLD实现。测试芯片以运算放大器OP37为例,测试电路采用常用的射随电路,那么对应OP37的8个管脚中需要连接的管脚为:2脚与6脚相连,3脚接输入信号,4脚接-12V电源,6脚为信号输出,7脚接+12V电源,其它管脚悬空,因此每个管脚对应的模拟开关的控制值就确定了,主控计算机通过USB线对将开关控制值送入单片机,单片机将值置入CPLD,CPLD控制模拟开关,同时设定DDS电路的输出信号频率为20KHz,信号通过模拟开关接入OP37的3脚。当模拟开关接通后,4脚和7脚供电正常,芯片工作,6脚输出与3脚输入信号一致,此信号可直接接示波器观察,若信号正常则芯片功能正常,否则,芯片已损坏。此信号经过整形电路后成为方波信号并符合TTL电平,送入CPLD,CPLD测量信号频率,单片机读取频率值并将此值通过USB线传到主控机,主控机将测量频率值与设定值即20KHz此较,在误差范围内则正常,否则芯片已损坏。系统可通用运算放大器、光耦等类型芯片的功能测试。

Claims (2)

1.一种集成电路自动测试方法,其特征在于它包括以下步骤:
(1)将待测芯片放入芯片插座并固定,在主控计算机上设定控制参数,包括DDS电路输出信号频率和待测芯片的每个管脚的连接关系;
(2)单片机通过USB接口电路接收控制参数并将控制参数预置进逻辑控制电路中;
(3)逻辑控制电路将信号频率参数按照时序配置到DDS电路上,DDS电路输出测试需要的频率的正弦或方波信号,同时逻辑控制电路控制模拟开关的通道选择,芯片的每个管脚都相应的与设定的通路连接,所述的通路包括正电源、负电源、地、DDS输出信号、芯片的其它管脚、电路输出、悬空七种连接方式;
(4)整形电路将芯片输出信号整形成方波信号并将信号送入逻辑控制电路,逻辑控制电路测量信号频率,单片机读取逻辑控制电路测量的频率值并将值通过USB电路上传到主控机;
(5)主控计算机比较设定值与返回值,频率一致即为芯片功能正常,否则为不正常;系统也支持示波器直接观测输出信号,示波器显示波形正常则芯片功能正常,否则功能不正常。
2.一种实现如权利要求1所述的一种集成电路自动测试方法的系统,其特征在于,包括主控计算机,USB接口电路,单片机,逻辑控制电路,DDS电路,整形电路,电源,多路模拟开关,芯片插座;主控计算机与USB接口电路通过USB连接线相连,单片机分别与逻辑控制电路、USB接口电路相连,DDS电路分别与逻辑控制电路和多路模拟开关相连,多路模拟开关分别与DDS电路、电源、整形电路、芯片插座、逻辑控制电路和其它模拟开关相连。
CN201410215762.3A 2014-05-21 2014-05-21 一种集成电路自动测试系统和测试方法 Expired - Fee Related CN104198910B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201410215762.3A CN104198910B (zh) 2014-05-21 2014-05-21 一种集成电路自动测试系统和测试方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201410215762.3A CN104198910B (zh) 2014-05-21 2014-05-21 一种集成电路自动测试系统和测试方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN104198910A CN104198910A (zh) 2014-12-10
CN104198910B true CN104198910B (zh) 2016-10-05

Family

ID=52084222

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201410215762.3A Expired - Fee Related CN104198910B (zh) 2014-05-21 2014-05-21 一种集成电路自动测试系统和测试方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN104198910B (zh)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104749514B (zh) * 2015-04-10 2017-12-19 中国电子科技集团公司第三十八研究所 一种低功耗差分传输芯片的直通化测试装置
CN105277824B (zh) * 2015-10-10 2018-07-24 陕西千山航空电子有限责任公司 一种多通道采集接口在线自检测电路及方法
CN105510763B (zh) * 2016-02-25 2018-08-10 珠海全志科技股份有限公司 集成电路管脚测试装置
CN106483450A (zh) * 2016-09-28 2017-03-08 河海大学常州校区 一种用于数字电路实践教学的芯片检测系统
CN110118922B (zh) * 2018-02-07 2022-02-15 龙芯中科技术股份有限公司 集成电路输出端测试装置及集成电路
CN112118166B (zh) * 2020-09-18 2022-05-31 上海国微思尔芯技术股份有限公司 一种多芯片的组网系统、方法及应用
CN113759239B (zh) * 2021-11-09 2022-02-15 武汉普赛斯电子技术有限公司 芯片测试装置及芯片测试方法

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6167545A (en) * 1998-03-19 2000-12-26 Xilinx, Inc. Self-adaptive test program
US8166361B2 (en) * 2001-09-28 2012-04-24 Rambus Inc. Integrated circuit testing module configured for set-up and hold time testing
CN100392420C (zh) * 2005-03-17 2008-06-04 上海华虹集成电路有限责任公司 非接触式应用芯片的多通道测试仪
US8327202B2 (en) * 2005-07-13 2012-12-04 Hewlett-Packard Development Company, L.P. System and method for scan testing
US7620862B1 (en) * 2005-09-08 2009-11-17 Xilinx, Inc. Method of and system for testing an integrated circuit
CN200996986Y (zh) * 2007-01-15 2007-12-26 宁波大学 一种新型数字电路与系统实验平台
CN101029918B (zh) * 2007-01-23 2011-03-16 北京芯技佳易微电子科技有限公司 一种基于可编程器件的可控集成电路测试系统及方法
CN100578240C (zh) * 2007-05-29 2010-01-06 北京中星微电子有限公司 一种实现芯片测试的方法
CN101158708B (zh) * 2007-10-23 2011-05-04 无锡汉柏信息技术有限公司 基于可编程逻辑器件的多芯片自动测试方法
CN102540060A (zh) * 2010-12-27 2012-07-04 北京中电华大电子设计有限责任公司 一种数字集成电路芯片测试系统
CN202693755U (zh) * 2012-05-08 2013-01-23 安徽理工大学 集成电路综合测试装置
CN203337779U (zh) * 2013-07-21 2013-12-11 哈尔滨理工大学 集成电路功能测试仪

Also Published As

Publication number Publication date
CN104198910A (zh) 2014-12-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN104198910B (zh) 一种集成电路自动测试系统和测试方法
CN103698654B (zh) 芯片管脚的开路短路测试装置及测试方法
CN103033738B (zh) 一种电路板全自动测试系统
CN205844473U (zh) 一种用于测试pcba的功能测试装置
CN107907815B (zh) 一种单板双通道ft量产测试及良率分析系统及方法
CN104933928A (zh) 能够自动检测电路接线正确性的实训装置
CN202815077U (zh) 一种多通道电压电流测试仪
CN201812014U (zh) 集成电路开短路自动测试系统
CN104484248A (zh) 计算机主板上电故障的诊断方法及装置
US20160068073A1 (en) DC Fast Charge Testing Method and System for Electric Vehicles
CN204256122U (zh) 一种输入输出开关量测试系统
CN107942235A (zh) 单芯片的测试装置
WO2015085833A1 (zh) 内燃机车控制器自检测电路及方法
CN105891736A (zh) 一种qc2.0快速充电检测电路及检测方法
CN203490285U (zh) 一种无人机全自动阻抗检测装置
CN207473046U (zh) 一种遥控器电路板的测试系统
CN103618897A (zh) 一种电视一体机机芯主板测试设备
CN103235191A (zh) 卫星分插分离信号检测装置
CN105093096A (zh) 一种fpga的测试装置
CN106932700A (zh) 晶体管外形封装的光电子器件直流性能测试系统
CN204177928U (zh) 温度开关的检测装置
CN208239888U (zh) 整车控制器自动测试装置
CN102841273A (zh) 一种设备输入输出测试方法
CN104536433A (zh) 一种动车组端部信号测试方法
CN211043647U (zh) 一种便携式测试装备检验验收系统

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20161005