CN104198910B - 一种集成电路自动测试系统和测试方法 - Google Patents
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Abstract
一种集成电路自动测试系统，其特征在于它包括主控计算机，USB接口电路，单片机，逻辑控制电路，DDS电路，整形电路，电源，多路模拟开关，芯片插座；主控计算机与USB接口电路通过USB连接线相连，单片机分别与逻辑控制电路、USB接口电路相连，DDS电路分别与逻辑控制电路和多路模拟开关相连，多路模拟开关分别与DDS电路、电源、整形电路、芯片插座、逻辑控制电路和其它模拟开关相连。它克服了现有的测试系统通用性差的不足。本发明具有测试方便、通用性强、测试速度快的优点。本发明还同时公开了一种集成电路自动测试方法。
Description
技术领域
本发明涉及集成电路的自动测试技术，特别是涉及一种集成电路功能测试系统，本发明还涉及利用这种测试系统的测试方法。
背景技术
集成电路在出厂前，都经过了严格的功能和性能测试，但是在实际使用过程中，可能会碰到使用过的芯片或损坏的芯片，当不能确定芯片的功能是否正常时则必须进行测试。目前常用的方法是针对每型芯片设计专用的测试电路，而部分通用的电路则通用性和自动化程度不够。
发明内容
本发明的目的是克服上述已有技术的不足之处，而提供一种集成电路功能测试系统。
本发明的另一个目的是提供一种利用这种测试系统的测试方法。它首先解决芯片功能测试问题。同时具有通用性，并且测试简单，速度快。
本发明的目的是通过如下措施来达到的：一种集成电路自动测试系统，它包括主控计算机，USB接口电路，单片机，逻辑控制电路，DDS电路，整形电路，电源，多路模拟开关，芯片插座；主控计算机与USB接口电路通过USB连接线相连，单片机分别与逻辑控制电路、USB接口电路相连，DDS电路分别与逻辑控制电路和多路模拟开关相连，多路模拟开关分别与DDS电路、电源、整形电路、芯片插座、逻辑控制电路和其它模拟开关相连。
一种集成电路自动测试方法，它包括以下步骤：
(1)将待测芯片放入芯片插座并固定，在主控计算机上设定控制参数，包括DDS电路输出信号频率，待测芯片的每个管脚的连接关系；
(2)单片机通过USB接口电路接收控制参数并将控制参数预置进逻辑控制电路中；
(3)逻辑控制电路将信号频率参数按照时序配置到DDS电路上，DDS电路输出测试需要的频率的正弦或方波信号，同时逻辑控制电路控制模拟开关的通道选择，芯片的每个管脚都相应的与设定的通路连接，通路包括正电源、负电源、地、DDS输出信号、芯片的其它管脚、电路输出、悬空七种连接方式；
(4)整形电路将芯片输出信号整形成方波信号并将信号送入逻辑控制电路，逻辑控制电路测量信号频率，单片机读取逻辑控制电路测量的频率值并将值通过USB电路上传到主控机；
(5)主控计算机比较设定值与返回值，频率一致即为芯片功能正常，否则为不正常。系统也支持示波器直接观测输出信号，示波器显示波形正常则芯片功能正常，否则功能不正常。
本发明具有如下优点：(1)测试简单方便，能对不同型号的集成电路进行功能测试；(2)自动化程度高，测量速度快；(3)系统集成度高，通用性好。
附图说明
图1为集成电路自动测试系统结构框图。
具体实施方式
下面结合附图详细说明本发明的实施情况，但它们并不构成对本发明的限制，仅作举例而已。同时通过说明本发明的优点将变得更加清楚和容易理解。
参阅附图可知：一种集成电路自动测试系统，它包括主控计算机，USB接口电路，单片机，逻辑控制电路，DDS电路，整形电路，电源，多路模拟开关，芯片插座；主控计算机与USB接口电路通过USB连接线相连，单片机分别与逻辑控制电路、USB接口电路相连，DDS电路分别与逻辑控制电路和多路模拟开关相连，多路模拟开关分别与DDS电路、电源、整形电路、芯片插座、逻辑控制电路和其它模拟开关相连。
一种集成电路自动测试方法，它包括以下步骤：
(1)将待测芯片放入芯片插座并固定，在主控计算机上设定控制参数，包括DDS电路输出信号频率，待测芯片的每个管脚的连接关系；
(2)单片机通过USB接口电路接收控制参数并将控制参数预置进逻辑控制电路中；
(3)逻辑控制电路将信号频率参数按照时序配置到DDS电路上，DDS电路输出测试需要的频率的正弦或方波信号，同时逻辑控制电路控制模拟开关的通道选择，芯片的每个管脚都相应的与设定的通路连接，通路包括正电源、负电源、地、DDS输出信号、芯片的其它管脚、电路输出、悬空七种连接方式；
(4)整形电路将芯片输出信号整形成方波信号并将信号送入逻辑控制电路，逻辑控制电路测量信号频率，单片机读取逻辑控制电路测量的频率值并将值通过USB电路上传到主控机；
(5)主控计算机此较设定值与返回值，频率一致即为芯片功能正常，否则为不正常。系统也支持示波器直接观测输出信号，示波器显示波形正常则芯片功能正常，否则功能不正常。
参见图1，其中建立了集成电路自动测试系统的框图，其中逻辑控制电路采用CPLD实现。测试芯片以运算放大器OP37为例，测试电路采用常用的射随电路，那么对应OP37的8个管脚中需要连接的管脚为：2脚与6脚相连，3脚接输入信号，4脚接-12V电源，6脚为信号输出，7脚接+12V电源，其它管脚悬空，因此每个管脚对应的模拟开关的控制值就确定了，主控计算机通过USB线对将开关控制值送入单片机，单片机将值置入CPLD，CPLD控制模拟开关，同时设定DDS电路的输出信号频率为20KHz，信号通过模拟开关接入OP37的3脚。当模拟开关接通后，4脚和7脚供电正常，芯片工作，6脚输出与3脚输入信号一致，此信号可直接接示波器观察，若信号正常则芯片功能正常，否则，芯片已损坏。此信号经过整形电路后成为方波信号并符合TTL电平，送入CPLD，CPLD测量信号频率，单片机读取频率值并将此值通过USB线传到主控机，主控机将测量频率值与设定值即20KHz此较，在误差范围内则正常，否则芯片已损坏。系统可通用运算放大器、光耦等类型芯片的功能测试。
Claims (2)
1.一种集成电路自动测试方法，其特征在于它包括以下步骤：
(1)将待测芯片放入芯片插座并固定，在主控计算机上设定控制参数，包括DDS电路输出信号频率和待测芯片的每个管脚的连接关系；
(2)单片机通过USB接口电路接收控制参数并将控制参数预置进逻辑控制电路中；
(3)逻辑控制电路将信号频率参数按照时序配置到DDS电路上，DDS电路输出测试需要的频率的正弦或方波信号，同时逻辑控制电路控制模拟开关的通道选择，芯片的每个管脚都相应的与设定的通路连接，所述的通路包括正电源、负电源、地、DDS输出信号、芯片的其它管脚、电路输出、悬空七种连接方式；
(4)整形电路将芯片输出信号整形成方波信号并将信号送入逻辑控制电路，逻辑控制电路测量信号频率，单片机读取逻辑控制电路测量的频率值并将值通过USB电路上传到主控机；
(5)主控计算机比较设定值与返回值，频率一致即为芯片功能正常，否则为不正常；系统也支持示波器直接观测输出信号，示波器显示波形正常则芯片功能正常，否则功能不正常。
2.一种实现如权利要求1所述的一种集成电路自动测试方法的系统，其特征在于，包括主控计算机，USB接口电路，单片机，逻辑控制电路，DDS电路，整形电路，电源，多路模拟开关，芯片插座；主控计算机与USB接口电路通过USB连接线相连，单片机分别与逻辑控制电路、USB接口电路相连，DDS电路分别与逻辑控制电路和多路模拟开关相连，多路模拟开关分别与DDS电路、电源、整形电路、芯片插座、逻辑控制电路和其它模拟开关相连。
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