CN203337779U

CN203337779U - 集成电路功能测试仪

Info

Publication number: CN203337779U
Application number: CN2013204330139U
Authority: CN
Inventors: 徐瑞; 姜占鹏; 郭红
Original assignee: Harbin University of Science and Technology
Current assignee: Harbin University of Science and Technology
Priority date: 2013-07-21
Filing date: 2013-07-21
Publication date: 2013-12-11
Anticipated expiration: 2023-07-21

Abstract

集成电路功能测试仪。目前市场上的测试仪产品功能较单一，价格非常昂贵，给电路的测试、维护带来不便。本实用新型的组成包括：壳体（ 1 ），所述的壳体上安装有显示屏（ 2 ）、控制按钮（ 3 ），所述的显示屏、所述的控制按钮与安装在所述的壳体内部的中央处理器（ 4 ）连接，所述的中央处理器分别与 A/D 转换芯片（ 5 ）、地址译码器（ 6 ）、电源电路（ 7 ）连接，所述的 A/D 转换芯片。本实用新型用于集成电路功能测试仪。

Description

集成电路功能测试仪

技术领域：

本实用新型涉及一种集成电路功能测试仪。

背景技术：

集成电路的测试技术随着集成电路开发应用的飞速发展而发展。集成电路测试仪也从最初测试小规模集成电路发展到测试中规模、大规模和超大规模集成电路。集成电路测试仪按测试门类可分为：数字集成电路测试仪、存储器测试仪、模拟与混合信号电路测试仪、在线测试系统和验证系统等。目前市场上的测试仪产品功能较单一，价格非常昂贵，给电路的测试、维护带来不便。　　

在高等学校的电子实验教学中，经常要用到如模数转换器(ADC）、数模转换器(DAC)、555集成定时电路、3524开关电源控制器等中规模集成电路。由于学生通常是初次接触使用芯片，经常会由于操作不当造成电路芯片的损伤或损坏，而表面上却无法作出正确的判断。在这种情况下，非常需要有适当的集成电路的测试仪，用于测试、判断芯片的好坏。而市面上又没有合适的测试仪可供选购。

发明内容：

本实用新型的目的是提供一种集成电路功能测试仪。

上述的目的通过以下的技术方案实现：

一种集成电路功能测试仪，其组成包括：壳体，所述的壳体上安装有显示屏、控制按钮，所述的显示屏、所述的控制按钮与安装在所述的壳体内部的中央处理器连接，所述的中央处理器分别与A/D转换芯片、地址译码器、电源电路连接，所述的A/D转换芯片。

所述的集成电路功能测试仪，所述的电源电路与安装在所述的壳体外部的电源指示灯连接。

所述的集成电路功能测试仪，所述的中央处理器为AT89C55单片机、所述的地址译码器分别与ADC0809测试电路、DAC0832测试电路、LM555测试电路、WC3524测试电路连接。

有益效果：

本实用新型在接通电源后，电源指示灯亮，表明电源工作正常，显示器显示等待测试信息，表明可以开始测试操作。由按键选择所要测试的芯片，显示光标停留的芯片型号表示是当前待测芯片。每按1次选择键，光标指向下一个型号，不断地按键可以循环选择。当光标移到所要测试的芯片时，按下确定键2，接下来由单片机控制，开始自动测试该芯片，此时对应该芯片的指示灯亮;然后由外部电路或单片机给待测芯片一定的模拟或数字输入量，经过每个芯片的测试电路后，通过MAX197进行处理（或直接送到单片机），与单片机中预存的标准值进行比较。如果测试值在标准值附近的一定范围内，则芯片正常，测试指示灯常亮，液晶显示器显示OK；否则，芯片出错，测试指示灯闪烁，液晶显示器显示BAD。此芯片测试完毕，按下复位键3，即回到初始状态，可以进行下一轮测试。操作简单、测试准确、效率高。

附图说明：

附图1是本实用新型的结构示意图。

附图2是附图1中ADC0809测试电路的电路原理图。

附图3是附图1中DAC0832测试电路的电路原理图。

附图4是附图1中LM555测试电路的电路原理图。

附图5是附图1中WC3524测试电路的电路原理图。

附图6是附图1中WC3524测试电路的框图。

具体实施方式：

实施例1：

一种集成电路功能测试仪，其组成包括：壳体1，所述的壳体上安装有显示屏2、控制按钮3，所述的显示屏、所述的控制按钮与安装在所述的壳体内部的中央处理器4连接，所述的中央处理器分别与A/D转换芯片5、地址译码器6、电源电路7连接，所述的A/D转换芯片。

所述的地址译码器分别与ADC0809测试电路8、DAC0832测试电路9、LM555测试电路10、WC3524测试电路11连接。

实施例2：

根据实施例1所述的集成电路功能测试仪，所述的电源电路与安装在所述的壳体外部的电源指示灯连接。

实施例3：

根据实施例1或2所述的集成电路功能测试仪，所述的中央处理器为AT89C55单片机。

实施例4：

上述的集成电路功能测试仪，模数转换器ADC0809的测试电路图如图2所示。根据测试电路，ADC0809的8个通道输入同样的模拟量，该模拟量同样也输送给MAX197。控制器选择ADC0809的1个模拟通道，并发出启动转换信号，使ADC0809开始转换，然后控制MAX197也开始转换。等待转换结束，分别读取两者的转换结果，并进行数值比较，根据误差限确定器件功能是否正常。改变通道继续测试，直到8个通道测试完毕，显示其结果。

实施例5：

上述的集成电路功能测试仪，D/A转换器DAC0832是8位二进制数模转换器，8个数字量输入端分别为DI7~DI0，其中DI7为MSB,DI0为LSB。它的模拟量输出端为电流输出IOUT1和IOUT2，当输入的数字量最大时，IOUT1端输出的电流最大；当输入的数字量为零时，输出电流最小。IOUT2端的电流输出情况正好相反。这两个端子可以和外部的运算放大器相接实现电流/电压的变换。此芯片内部还有1个反馈电阻，可以作为外部运算放大器的反馈电阻，DAC0832测试原理图如图3所示。芯片内有两级输入寄存器，使之具备双缓冲、单缓冲和直通3种输入方式，以适于各种电路的需要，例如要求多路D/A异步输入、同步转换等。

由单片机输送1个8位的二进制数字量给DAC0832，使两级缓冲的写控制和片选控制都有效时，开始D/A转换，转换速度为微秒级。经过数模转换后，输出的电流再经过运放转换成电压，该电压经过MAX197转换成数字量读回到单片机中，然后和原输出的数字量相比较，以判断被测芯片正常与否。

单片机输出1个负脉冲到LM555芯片的第2引脚，触发定时电路。单片机读取定时电路的输出端信号，确定是否出现相应的上升沿和下降沿，从而可以判断芯片的功能正常与否。

实施例6：

上述的集成电路功能测试仪，SG3524内部方框图如图6所示。输入直流电源UIN从15脚进入后分2路：一路作为放大器、比较器、振荡器以及逻辑电路和控制电路的电源；另一路作为基准电压源，产生＋5 V基准电压输出到16引脚，作为外部电压基准。在振荡器部分的引脚7和引脚6上外接定时电容CT和定时电阻RT，得到所需的振荡频率。SG3524测试原理图如图5所示，连接成一个典型的降压型开关电源电路，利用误差放大器构成电压负反馈。通过改变取样比例系数就可以改变输出电压，单片机通过测取引脚3上的脉冲频率，通过MAX197测取输出端的电压，即可判断SG3524芯片的好坏。测试中暂时没有考虑过流保护功能的测试。

Claims

1.一种集成电路功能测试仪，其组成包括：壳体，其特征是：所述的壳体上安装有显示屏、控制按钮，所述的显示屏、所述的控制按钮与安装在所述的壳体内部的中央处理器连接，所述的中央处理器分别与A/D转换芯片、地址译码器、电源电路连接。

2.根据权利要求1所述的集成电路功能测试仪，其特征是：所述的电源电路与安装在所述的壳体外部的电源指示灯连接。

3.根据权利要求1或2所述的集成电路功能测试仪，其特征是：所述的中央处理器为AT89C55单片机，所述的A/D转换芯片、所述的地址译码器分别与ADC0809测试电路、DAC0832测试电路、LM555测试电路、WC3524测试电路连接。