CN103024241B - 图像读取装置、图像形成装置以及图像读取方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了图像读取装置、图像形成装置以及图像读取方法。该图像读取装置包括：读取单元、提取单元以及生成单元。读取单元输出基准板读取信息。提取单元将基准板读取信息的像素设定为关注像素，并且当关注像素的像素值与初始值之间的比率超出预定范围时，提取单元重复地提取关注像素中的一个关注像素作为对象像素，直至对象像素的数量大于预定值。当提取单元提取基准板读取信息的所有像素时，生成单元生成通过下述方式获得的校正信息：将对象像素的像素值替换为使用初始值的校正值；以及当提取单元没有提取所有像素时，生成单元生成通过下述方式获得的校正信息：将所有像素的像素值设定为初始值。

Description

图像读取装置、图像形成装置以及图像读取方法
技术领域
本发明涉及图像读取装置、图像形成装置以及图像读取方法。
背景技术
在现有技术中，例如，专利文献JP 2010-011297A已提出了如下的图像处理装置：该图像处理装置推导由通过对基准板进行测光而获得的像素信息所表示的基准板像素值与由为每个像素而存储的校正像素信息所表示的校正像素值的比率，通过使用该校正像素值校正与多个推导出的比率中的预定范围之外的比率相对应的基准板像素值，并通过使用经校正的基准板像素值校正由利用测光模块对原稿进行测光而获得的像素值信息所表示的原稿像素值。
发明内容
本发明的目的在于提供能够在抑制数据处理量的增加的同时以高精度生成用于校正污点像素的像素值的校正信息的图像读取装置、图像形成装置以及图像读取方法。
(1)根据本发明的一个方面，提供一种图像读取装置，其包括读取单元、提取单元和生成单元。所述读取单元包括多个光电转换元件，并且所述读取单元通过读取文档和基准板来输出表示与各光电转换元件对应的每个像素的像素值的读取信息。所述读取单元通过读取所述基准板来输出基准板读取信息。所述提取单元将所述基准板读取信息的像素设定为关注像素，并且当所述关注像素的像素值与初始值之间的比率超出预定范围时，所述提取单元重复地提取所述关注像素中的一个关注像素作为对象像素，直至所述对象像素的数量大于预定值，所述初始值的值根据像素位置预先设定。所述生成单元生成校正信息。当所述提取单元提取所述基准板读取信息的所有像素时，所述生成单元生成通过下述方式获得的所述校正信息：将所述基准板读取信息中的所述对象像素的像素值替换为使用所述初始值的校正值。当所述提取单元没有提取所述基准板读取信息的所有像素时，所述生成单元生成通过下述方式获得的所述校正信息：将所述基准板读取信息中的所述对象像素的像素值替换为使用所述初始值的所述校正值，并且将没有被设定为所述关注像素的像素的像素值替换为所述初始值，或者所述生成单元生成通过下述方式获得的所述校正信息：将所述基准板读取信息中的所有像素的像素值设定为所述初始值。
(2)根据第(1)方面的图像读取装置还包括检测单元。所述检测单元检测与所述多个光电转换元件的布置方向对应的所述文档的区域。所述提取单元将所述基准板读取信息的像素之中与所述文档的区域对应的像素顺序地设定为所述关注像素。当所述提取单元没有提取所述基准板读取信息中的至少与所述文档的区域对应的像素时，所述生成单元生成通过下述方式获得的校正信息：将所述基准板读取信息中的所述对象像素的像素值替换为使用所述初始值的校正值，并且将所述基准板读取信息中的至少与所述文档的区域对应且没有被设定为所述关注像素的像素的像素值替换为所述初始值。
(3)根据第(1)方面的图像读取装置还包括校正单元。所述校正单元基于由所述生成单元生成的所述校正信息对通过使用所述读取单元读取所述文档而输出的文档读取信息进行校正。
(4)根据本发明的另一个方面，提供一种图像形成装置，其包括根据第(3)方面的图像读取装置和图像形成单元。图像形成单元基于由所述校正单元所校正的所述文档读取信息在记录介质上形成图像。
(5)根据本发明的又一个方面，提供一种使用多个光电转换元件的图像读取方法，所述方法包括：通过读取文档和基准板来输出表示与各光电转换元件对应的每个像素的像素值的读取信息，其中，通过读取所述基准板输出基准板读取信息；将所述基准板读取信息的像素设定为关注像素；当所述关注像素的像素值与初始值之间的比率超出预定范围时，重复地提取所述关注像素中的一个关注像素作为对象像素，直至所述对象像素的数量大于预定值，所述初始值的值根据像素位置而预先设定；当提取所述基准板读取信息的所有像素时，生成通过下述方式获得的所述校正信息：将所述基准板读取信息中的所述对象像素的像素值替换为使用所述初始值的校正值；以及当没有提取所述基准板读取信息中的所有像素时，生成通过下述方式获得的所述校正信息：将所述基准板读取信息中的所述对象像素的像素值替换为使用所述初始值的所述校正值，并且将没有被设定为所述关注像素的像素的像素值替换为所述初始值，或者生成通过下述方式获得的所述校正信息：将所述基准板读取信息中的所有像素的像素值设定为所述初始值。
根据本发明的第(1)和第(5)方面，与没有采用本发明构造的情况相比，能够在抑制数据处理量增加的同时，以高精度生成用于校正污点像素的像素值的校正信息。
根据本发明的第(2)方面，与没有采用本发明构造的情况相比，能够减少不必要的处理。
根据本发明的第(3)和第(4)方面，与没有采用本发明构造的情况相比，能够在抑制数据处理量增加的同时，以高精度校正污点像素的像素值。
附图说明
基于以下附图，将详细地描述本发明的示例性实施例，其中：
图1是示出根据第一实施例的图像读取装置的整体构造的视图。
图2是示出图像读取装置的硬件构造的视图。
图3是详细示出背面图像读取控制单元的视图。
图4是示出与初始数据对应的曲线以及与基准板读取数据对应的曲线的视图。
图5是示出根据第一实施例的图像读取装置中的明暗校正信息生成处理程序的内容的流程图。
图6是示出平均值推导部分的视图。
图7是示出根据第二实施例的图像读取装置中的明暗校正信息生成处理程序的内容的流程图。
图8是示出根据第三实施例的图像读取装置中的明暗校正信息生成处理程序的内容的流程图。
图9是示出根据第四实施例的图像形成装置的示意性外观图。
具体实施方式
下文中，将参照附图说明本发明的实施例。
首先，参照图1，对根据第一实施例的图像读取装置10的整体构造进行说明。
如图1所示，图像读取装置10包括：含有背面图像读取单元28的双自动文档输送器(DADF)12；以及表面图像读取单元14。
DADF12构造为包括：台板20，其上放置着记录有图像的文档18；取出辊22，其逐页地取出在台板20上放置的文档18；传送路径24，其具有多个传送辊对26；背面图像读取单元28；基准板46，其与背面图像读取单元28相对设置；以及排纸单元30，在其内排出有完成读取的文档。
背面图像读取单元28为固定接触式图像传感器，该背面图像读取单元28构造为包括：光源28B，其具有沿主扫描方向布置的多个光发射元件并且将照明光照射到文档18和基准板46上；以及线传感器28A，其对由光源28B所照射的被划分为多个像素的文档18和基准板46进行测光，并根据对每个像素进行测光所测得的像素值输出读取数据。背面图像读取单元28包括棒状透镜阵列(未示出)，文档18或基准板46所反射的光通过该棒状透镜阵列由传感器28A进行测光。基准板46作为在明暗校正信息生成处理(将在下文中说明)中由线传感器28A所读取的基准板可以采用例如白色树脂板或者涂成白色的金属板。
同时，表面图像读取单元14包括透明台板玻璃32，在透明台板玻璃32的顶面上可以放置文档18，并且在该台板玻璃32的顶面上设置有表面读取位置。在表面读取位置处在台板玻璃32的下方设置有：光源34，其构造为朝着文档18的表面照射照明光；第一反射镜36，其构造为接收从文档18的表面所反射的反射光；第二反射镜38，其构造为将第一反射镜36所反射的反射光的行进方向弯折90度；以及第三反射镜40，其构造为将第二反射镜38所反射的反射光的行进方向再次弯折90度。表面图像读取单元14包括透镜42和光电转换单元44，该光电转换单元44包含多个像素。表面图像读取单元14通过如下方式读取文档18的表面：利用透镜42将第三反射镜40所反射的反射光成像至光电转换单元44。
根据上述构造的第一实施例的图像读取装置10，在台板20上放置的文档18由取出辊22逐页地取出并被传送至传送路径24上。
被传送至传送路径24上的文档18由多个传送辊对26传送至表面图像读取单元14的表面读取位置处，并且由表面读取单元14读取文档18的表面。然后，文档18被传送至在表面读取位置的传送方向下游侧安装的背面图像读取单元28，并且文档18的背面由背面图像读取单元28进行读取，然后，文档18被排出至排纸单元30。
在根据第一实施例的图像读取装置10中，采用荧光灯作为光源34，但是本发明不限于此，可以采用例如沿着与文档18的传送方向交叉的方向布置的多个发光二极管(LED)等其他光源。
在根据第一实施例的图像读取装置10中，作为光电转换单元44，采用由多个电荷耦合器件(CCD)构成的CCD线传感器，但是本发明不限于此，可以采用例如互补金属氧化半导体(CMOS)图像传感器等固体摄像元件。
在根据第一实施例的图像读取装置10中，光源34、第一反射镜36、第二反射镜38以及第三反射镜40能够沿着图1中的箭头A的方向移动。因此，当将表面图像读取单元14上方的DADF12打开并且将文档18放置在台板玻璃32的顶面上时，可以通过在光源34朝着文档18照射照明光的同时沿着箭头A的方向移动光源34、第一反射镜36、第二反射镜38和第三反射镜40读取在文档18上所记录的图像。
接下来，参照图2对图像读取装置10的硬件构造进行说明。图像读取装置10构造为主要包括控制器50、图像读取控制单元52、DADF控制单元54、背面图像读取控制单元56以及用户界面(UI)60。
在该图像读取装置10的上述部件中，控制器50控制整个图像读取装置10。控制器50从图像读取控制单元52和背面图像读取控制单元56中的每一者接收读取数据。控制器50接收表示用户的指示的信号，该用户的指示从UI60输入。
图像读取控制单元52控制图像读取装置10中的全部的图像读取过程，具体地说，控制例如DADF控制单元54、背面图像读取控制单元56、表面图像读取单元14、扫描控制单元72以及照明控制单元76。图像读取控制单元52构造为能够访问表面只读存储器(ROM)68和表面非易失性存储器(NVM)70。用于读取文档表面的各种程序或者在那时所使用的各种信息被存储在表面ROM68或者表面NVM70中。
扫描控制单元72在读取文档时控制扫描，并且还控制电动机74。电动机74使图1中所示的光源34和各种镜子一体地移动。光源34由照明控制单元76来控制。
DADF控制单元54控制DADF，并从各辊控制单元64和各传感器62接收信息，其中，各辊控制单元64对使上述取出辊22或传送辊对26旋转的各电动机66进行控制。作为各传感器62的实例，可以采用检测表面图像读取单元14上方的DADF12是否打开的传感器。
背面图像读取控制单元56控制背面图像读取单元28。背面图像读取控制单元56构造为能够访问背面ROM82、背面随机存取存储器(RAM)84、背面NVM86以及背面电可擦可编程只读存储器(EEPROM)88。
在背面ROM82和背面NVM86中存储有用于操作背面图像读取控制单元56的程序或者在那时所使用的各种信息。背面RAM84在背面图像读取控制单元56操作时被使用。在背面EEPROM88中存储有通过由无污点的线传感器28A对无污点的基准板(与基准板46不同的专用的洁净的白色基准板)进行测光而获得的显示每个像素的像素值(初始值)的初始数据。在此，污点包括诸如纸张粉末和色调剂粉末等可以想到的粘附在线传感器28A或者基准板46上的所有污点。在此，对使用从洁净的白色基准板获得的初始数据的情形进行了说明，但是初始数据可以是通过与基准板读取数据进行比较来判定污点像素的数据，该基准板读取数据为在下文中将要说明的处理中通过读取基准板46而输出的数据。
接下来，参照图3对背面图像读取控制单元56进行详细说明。如图3所示，背面图像读取控制单元56具有平均化单元90，该平均化单元90包括：线存储器92、平均值推导单元96以及寄存器94。在这些部件之中，线存储器92对通过在背面图像读取单元28中进行读取而输出的读取数据的像素信息(像素值)进行存储。平均值推导单元96推导像素值平均值，该像素值平均值表示由像素信息所表示的像素值的平均值。在寄存器94中存储该平均值。
从平均化单元90输出的像素值例如是3FF(10比特：十六进制)倍的整数。将用于对各像素值进行明暗校正的由各校正值(明暗校正像素值)表示的明暗校正信息存储在明暗存储区域98中，并且用3FF倍像素值除以已与相应的乘法系数K相乘的明暗校正像素值，将所得到的商值存储在后阶段存储器100中。对存储在后阶段存储器100中的校正的像素值进行各种图像处理。
这里，将对存储在明暗存储区域98中的明暗校正信息进行说明。
图4示出表示初始数据的曲线Q以及表示通过读取基准板46而获得的基准板读取数据的曲线R。在图4中，水平轴线表示像素在主扫描方向上的位置，而竖直轴线表示像素值。在基准板读取数据中显示了受污点影响的大致两个像素值。在此状态下，将具有相同位置的初始数据的像素的像素值(初始值)和基准板读取数据的像素的像素值(基准板像素值)分别设定为α和β，并检测二者的比率(β/α)。
在基准板像素值未受污点影响的情形下，由于曲线Q和曲线R彼此基本相似，因而β/α为在预定范围以内的值。同时，在基准板像素值受污点影响的情形下，β/α的值为预定范围以外的值的可能性高。具体地说，当基准板像素值未受污点影响时，β/α的值分布在预定值(例如1.0)的附近，但是当基准板像素值受污点影响时，β/α的值显著不同于1.0的可能性高。将受污点影响的像素提取作为污点像素，并且推导用于从通过读取文档而获得的读取数据所表示的像素值中消除污点影响的明暗校正像素值。
作为明暗校正像素值，可以考虑将污点像素的基准板像素值替换为使用初始值的校正值的情况，或者将污点像素的基准板像素值替换为初始值的情况。然而，当使用初始值作为明暗校正像素值时，则如专利文献JP2010-011297A中公开的那样，根据透镜污点的位置偏差产生了竖条问题。同时，当将污点像素的基准板像素值替换为使用初始值的校正值作为明暗校正值时，则产生了相应于污点像素的数量的处理量变得过大等类似的问题。因此，在本实施例中，明暗校正信息根据提取出的污点像素的数量选择性地生成：或者使用初始值，或者以校正值进行替换。
接下来，参照图5，对在第一实施例的图像读取装置中执行的明暗校正信息生成处理程序进行说明。该程序是恰在读取文档之前执行。
在步骤100中，通过由背面图像读取单元28读取基准板46获得基准板读取数据。
接下来，在步骤102中，初始化关注像素位置计数器i和污点像素数计数器k(分别设定为0)，其中，关注像素位置计数器i为表示在基准板读取数据中设定的关注像素的像素位置的变量，污点像素数计数器k用于对所提取的污点像素进行计数。例如，基准板读取数据的右端的像素位置可以设定为1，与其相邻的左侧像素的像素位置可以设定为2，以此类推，并且左端的像素位置可以设定为n。
接下来，在步骤104，通过判定像素位置计数器i是否大于n来判定是否基准板读取数据中的所有像素被设定为关注像素。当关注像素位置计数器i等于或小于n时，则处理进行至步骤106以将关注像素位置计数器i加1，并且处理进行至步骤108。
在步骤108中，读取存储在背面EEPROM88中的初始数据。将步骤100中获得的基准板读取数据的像素位置i处的像素设定为关注像素i，并且将该像素与已读取的初始数据的像素位置i处的像素值(初始值)i进行比较。例如，计算关注像素i的像素值与初始值i的比率，并且将该比率与预定范围进行比较。
接下来，在步骤110中，基于步骤108中的比较结果判定关注像素i是否是污点像素。例如，当比率大于预定范围时，则可以判定关注像素i是污点像素。当关注像素i是污点像素时，则处理进行至步骤112以将污点像素数计数器k加1，并将像素位置i存储在预定存储区域中，并且处理进行至步骤114。同时，当关注像素i不是污点像素时，则处理直接进行至步骤114。
在步骤114中，判定污点像素数计数器k是否变为预定的上限值kmax。上限值kmax是根据装置的处理能力或明暗校正所需的精度而预先设定的。如果k≠kmax，则处理返回至步骤104，并且重复步骤104至步骤114的处理。当在步骤104中判定为否定，但在步骤114中判定为肯定时，即，当对基准板读取数据的所有像素的处理结束之前，污点像素数k超过上限值kmax时，则处理进行至步骤116。在步骤116中，将初始数据设定为明暗校正信息，并存储在明暗存储区域98中，并且处理结束。在这种情形下，因透镜污点所产生的竖条仍会出现，但是与因残余污点像素所造成的影响相比，该影响是较小的。
同时，当在步骤114中判定为否定，但在步骤104中判定为肯定时，即，当对基准板读取数据的所有像素的处理结束而污点像素数k不大于上限值kmax时，则处理进行至步骤118。在步骤118中，读取在步骤112中存储在预定区域中的污点像素的像素位置；生成通过下述方式获得的明暗校正信息：将基准板读取数据中的污点像素的像素值替换为使用初始数据的相同像素位置的初始值的校正值；并将该明暗校正信息存储在明暗存储区域98中。然后，处理结束。
可以如下所述地推导出在步骤118中用于替换的校正值。在下述说明中，类似A[]的带有方括弧的变量表示数组。A[]←B[]表示将数组B代入数组A。也就是说，通过该代入，具有相同脚标表示具有相同的值。如上文所述，初始数据InitDT[]存储在背面EEPROM88中。初始数据InitDT[]的所有像素的平均值的校正平均值InitAve存储在背面NVM86中。
首先，将步骤100中获得的基准板读取数据的基准板像素值代入SampAveDT[]中。推导出SampAveDT[]的全部或一部分的平均值，并将该平均值代入像素值平均值SampAve中。如图6所示，在此，SampAveDT[]的一部分的平均值表示：在将主扫描方向上的中间部分设定为平均值推导部分时，存在于该平均值推导部分中的像素的平均像素值。将SampAveDT[]和SampAve分别暂时地保存在线存储器92和寄存器94中。
将像素值平均值SampAve与校正平均值InitAve的比率(SampAve/InitAve)代入乘法系数K。将以乘法系数K乘以初始数据InitDT[i]所获得的值设定为像素位置i处的校正值CorInitDT[i]。用乘法系数K所做的乘法用于将InitDT[]中的各值设定为与SampAveDT[]中的各值基本相同。也就是说，该乘法用于将CorInitDT[]中的各值与SampAveDT[]中的各值的比率设定为大约1.0。
也就是说，将待替换的污点像素的像素位置i处的基准板像素值SampAveDT[i]替换为通过用像素值平均值SampAve与校正平均值InitAve的比率K乘以初始数据InitDT[i]所获得的值CorInitDT[i]。
通过使用如上所述所生成的明暗校正信息，对通过读取文档而获得的读取数据执行明暗校正。
接下来，将说明第二实施例。由于第二实施例的图像读取装置的构造与第一实施例的图像读取装置10的构造相同，所以省略对其的说明。
在第二实施例的图像读取装置中，由于明暗校正信息生成处理与第一实施例的明暗校正信息生成处理不同，因而将参照图7对第二实施例的明暗校正信息生成处理程序进行说明。在第二实施例的明暗校正信息生成处理中，执行处理步骤200以代替第一实施例的明暗校正信息生成处理中的处理步骤116。
当在步骤104中判定为否定，但在步骤114中判定为肯定时，即，当在对基准板读取数据的所有像素的处理结束之前，污点像素数k超过上限值kmax时，则处理进行至步骤200。在步骤200中，读取在步骤112中存储在预定区域中的污点像素的像素位置，并且将基准板读取数据中的污点像素的像素值替换为使用初始数据的相同像素位置处的初始值的校正值。作为校正值，使用与第一实施例的明暗校正信息生成处理的步骤118中所使用的校正值相同的校正值。将像素位置i+1之后的像素位置的像素，即，未执行步骤108至步骤112中的处理的像素的像素值替换为初始数据中的相同像素位置处的初始值。通过执行如上所述的处理，生成明暗校正信息并将该明暗校正信息存储在明暗存储区域98中，并且处理结束。
接下来，将说明第三实施例。由于第三实施例的图像读取装置的构造与第一实施例的图像读取装置10的构造相同，所以省略对其的说明。
在第三实施例的图像读取装置中，明暗校正信息生成处理与第一实施例的明暗校正信息生成处理不同，并且将参照图8对第三实施例的明暗校正信息生成处理程序进行说明。与第一实施例相同的处理采用相同的附图标记，并且将省略对其的详细说明。
首先，在步骤300中，对待读取的文档的宽度进行检测，在本步骤之后执行读取文档。在此，为了便于说明，假设文档18设定成使得文档的右端与线传感器28A的右端(线传感器28A的读取开始位置)彼此重合。也就是说，检测文档宽度作为与线传感器28A的像素位置对应的区域。
接下来，与第一实施例类似地执行步骤100至步骤114。
当在步骤104中判定为否定，但在步骤114中判定为肯定时，即，当在对基准板读取数据中的所有像素的处理结束之前，污点像素数k超过上限值kmax时，则处理进行至步骤302。
在步骤302中，判定像素位置i是否小于文档宽度。例如，当在步骤300中检测到的文档宽度对应于m个像素，则判定是否i＜m。如果i＜m，则在对与基准板读取数据中的文档宽度对应的区域中的像素的处理结束之前，污点像素数k大于上限值kmax，并且处理因此进行至步骤116。同时，如果i≥m，则至少在与基准板读取数据中的文档宽度对应的区域中，污点像素数k不大于上限值kmax，并且处理因此进行至步骤118。在这种情形下，即使在i+1之后的像素位置处残存有污点像素，也不会对文档的读取数据造成影响。
虽然第三实施例描述了文档的右端与线传感器28A的右端彼此重合的例子，但是，其还可以应用于例如将文档设定在线传感器28A的可读取区域的中央的情形。在此情形下，对从与文档右端对应的像素位置到与文档左端对应的像素位置的范围进行检测以作为文档宽度，并且可以从与文档右端对应的像素位置起执行处理步骤108至步骤112。
即使在第三实施例中，也可以如第二实施例中那样执行步骤200以代替步骤116。
在作为实例的第一实施例至第三实施例中所描述的各流程图的处理流程中，在不脱离本发明的精神的范围内的情况下，可以替换处理顺序，增加新的步骤，或者删除非必要的步骤。
接下来，将说明第四实施例。第四实施例是具有第一实施例至第三实施例中任一实施例的图像读取装置10的图像形成装置11。
如图9所示，第四实施例的图像形成装置11构造为包括图像读取装置10、图像形成单元80、供纸单元83以及打印件输出单元85。图像读取装置10的构造与第一实施例的图像读取装置10的构造相同。
利用电子照相方法在纸张上打印文档图像的图像形成单元80包括：环状中间转印带；图像形成单元，其将各颜色(Y：黄色，M：品红色，C：蓝绿色(青色)，K：黑色)的色调剂图像转印到中间转印带上；以及光学部，其利用基于图像信息所调制的激光对图像形成单元的感光鼓(将在下文中进行说明)进行曝光在感光鼓上形成静电潜像。
图像形成单元包括：感光鼓；充电器，其对感光鼓的表面均匀地进行充电；显影单元，其通过利用各颜色的色调剂对由光学部在感光鼓表面上形成的静电潜像进行显影而形成色调剂图像；以及转印辊，其将中间转印带按压到感光鼓上。中间转印带由与电动机连接的驱动辊驱动。
图像形成单元80包括：转印部，其将在中间转印带上形成的色调剂图像转印到供纸单元83所供给的纸张上；定影部，其将纸张上所转印的色调剂图像定影到纸张上；以及排出辊，其将穿过定影部的纸张排出至打印件输出单元85。
供纸单元83包括：多个纸盒，其接收具有不同方向、尺寸和纸张质量的纸张；以及多个辊，其用于从各纸盒取出纸张，以将纸张传送至图像形成单元80的转印部。
根据如上构造的第四实施例的图像形成装置11，图像读取装置10读取文档，并且在图像形成单元80中，基于通过使用生成的明暗校正信息校正读取数据而获得的读取数据在供纸单元83供给的纸张上形成图像。
在第四实施例中，虽然对采用电子照相图像形成单元的图像形成装置进行了说明，但是本发明还可以应用于喷墨型图像形成装置。
在各实施例中，虽然将本发明应用于背面图像读取单元上，但是本发明还可以应用于正面图像读取单元的明暗校正信息的生成。
为了解释和说明起见，已提供了对于本发明的示例性实施例的前述说明。其本意并不是穷举或将本发明限制为所公开的确切形式。显然，对于本技术领域的技术人员可以进行多种修改和变型。选择和说明这些实施例是为了更好地解释本发明的原理及其实际应用，因此使得本技术领域的其他技术人员能够理解本发明所适用的各种实施例并预见到适合于特定应用的各种修改。目的在于通过所附权利要求及其等同内容限定本发明的范围。

Claims (5)

1.一种图像读取装置，包括：
读取单元，所述读取单元包括多个光电转换元件，并且所述读取单元通过读取文档和基准板来输出表示与各光电转换元件对应的每个像素的像素值的读取信息，所述读取单元通过读取所述基准板来输出基准板读取信息；
提取单元，其将所述基准板读取信息的像素设定为关注像素，并且当所述关注像素的像素值与初始值之间的比率超出预定范围时，所述提取单元重复地提取所述关注像素中的像素值与初始值之间的比率超出预定范围的像素作为对象像素，直至所述对象像素的数量大于预定值，所述初始值的值根据像素位置预先设定；以及
生成单元，其生成校正信息，其中，当所述提取单元提取所述基准板读取信息的所有像素并且所述对象像素的数量不大于所述预定值时，所述生成单元生成通过下述方式获得的所述校正信息：将所述基准板读取信息中的所述对象像素的像素值替换为使用所述初始值的校正值，
当所述提取单元没有提取所述基准板读取信息的所有像素并且所述对象像素的数量大于所述预定值时，所述生成单元生成通过下述方式获得的所述校正信息：将所述基准板读取信息中的所述对象像素的像素值替换为使用所述初始值的所述校正值，并且将没有被设定为所述关注像素的像素的像素值替换为所述初始值，或者所述生成单元生成通过下述方式获得的所述校正信息：将所述基准板读取信息中的所有像素的像素值设定为所述初始值。
2.根据权利要求1所述的图像读取装置，还包括：
检测单元，其检测与所述多个光电转换元件的布置方向对应的所述文档的区域，
其中，所述提取单元将所述基准板读取信息的像素之中与所述文档的区域对应的像素顺序地设定为所述关注像素，并且
当所述提取单元没有提取所述基准板读取信息中的至少与所述文档的区域对应的像素时，所述生成单元生成通过下述方式获得的校正信息：将所述基准板读取信息中的所述对象像素的像素值替换为使用所述初始值的校正值，并且将所述基准板读取信息中的至少与所述文档的区域对应且没有被设定为所述关注像素的像素的像素值替换为所述初始值。
3.根据权利要求1所述的图像读取装置，还包括：
校正单元，其基于由所述生成单元生成的所述校正信息，对通过使用所述读取单元读取所述文档而输出的文档读取信息进行校正。
4.一种图像形成装置，包括：
根据权利要求3所述的图像读取装置；以及
图像形成单元，其基于由所述校正单元所校正的所述文档读取信息在记录介质上形成图像。
5.一种使用多个光电转换元件的图像读取方法，包括：
通过读取文档和基准板来输出表示与各光电转换元件对应的每个像素的像素值的读取信息，其中，通过读取所述基准板输出基准板读取信息；
将所述基准板读取信息的像素设定为关注像素；
当所述关注像素的像素值与初始值之间的比率超出预定范围时，重复地提取所述关注像素中的像素值与初始值之间的比率超出预定范围的像素作为对象像素，直至所述对象像素的数量大于预定值，所述初始值的值根据像素位置而预先设定；以及
当提取所述基准板读取信息的所有像素并且所述对象像素的数量不大于所述预定值时，生成通过下述方式获得的校正信息：将所述基准板读取信息中的所述对象像素的像素值替换为使用所述初始值的校正值；以及
当没有提取所述基准板读取信息中的所有像素并且所述对象像素的数量大于所述预定值时，生成通过下述方式获得的校正信息：将所述基准板读取信息中的所述对象像素的像素值替换为使用所述初始值的所述校正值，并且将没有被设定为所述关注像素的像素的像素值替换为所述初始值，或者生成通过下述方式获得的所述校正信息：将所述基准板读取信息中的所有像素的像素值设定为所述初始值。
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