JP2010011297A - 画像処理装置、画像処理プログラム - Google Patents

Abstract

【課題】簡易な構成でしかもシェーディング補正の基準となる情報を精度良く取得することができる画像処理装置、画像処理プログラムを提供する。
【解決手段】基準板を測光することで得られた画素値情報が示す基準板画素値と、記憶された補正用画素値情報が示す補正用画素値との比を、各々の画素毎に導出し、導出された複数の比のうち、予め定められた範囲外の比が導出された基準板画素値を補正用画素値を用いて補正し、補正された基準板画素値を用いて、測光手段により原稿を測光することで得られた画素値情報が示す原稿画素値を補正する。
【選択図】図６

Description

本発明は、画像処理装置、画像処理プログラムに関する。

最近、複写機等の読取装置として、原稿の表裏画像情報を読取る両面同時読取装置が用いられている。例えば原稿搬送路に対向して原稿の一方の面(表面)を読み取る表面読取部を配置すると共に、この表面読取部からみて原稿搬送方向下流側に原稿の他方の面(裏面)を読み取る裏面読取部を配置する。

ここで裏面読取部は、原稿の搬送方向に交差する方向に配置される光源と、この光源に隣接して平行に配設されるよう基板に実装された光電変換素子列と、光電変換素子列に平行に配置され原稿からの反射光を光電変換素子に集光するロッドレンズアレイと、これらの部品を固定し覆う筐体から構成された密着型イメージセンサ(CIS)であることが多い。

この裏面読取部は、プラテン読取部と共有できる可動式の表面読取部と異なり、その性格上ＤＡＤＦ（Dual Auto Document Feeder）内部に固定配置される。そして、裏面読取部は、裏面読取位置の対向面上に配置された背景白板を白基準板としてシェーディング用の白基準データを採取する必要がある。

しかし裏面読取部と背景白板の間で原稿が常時搬送される為、背景白板は、傷、紙粉、鉛筆の粉、トナーの削れカス等で非常に汚れやすい。この背景白板から白基準データを採取しても、背景白板の汚れを含んでしまう為、その白基準データでシェーディング補正を行なうと汚れ箇所が白筋となって残ってしまう。

これを避ける為に専用の可動式白基準板を用意し、白基準データ採取時のみ裏面読取位置に移動し、通常の原稿読取時には別の位置に移動して格納される、といった機構で解決する手段もあるが、機構が複雑となり装置が大型化、また大幅なコスト高となる。また背景白板を回転体とし、汚れの無い部分を探しシェーディングデータを採取する方法もあるが、回転することで回転体に付着した汚れが周回し、汚れが拡散する場合がある。

この課題に対して、特許文献１に開示された技術は不揮発性メモリに予め清浄な白基準板で採取した予備白基準データを用意しておき、原稿走行前に白基準板を読取って取得した白基準データのいずれかで汚れが検知された場合は、この予備白基準データに全面的に切り替えることで、スジの発生を回避している。
特開２００４−２６６５１２号公報

上記特許文献１に開示された技術は、光源、レンズ、ミラー等の光学部材がセンサ自体とは別に配置されている縮小型イメージセンサには有効であるが、光源、ロッドレンズアレイ、光電変換素子が一つの筐体に収めたられた密着型イメージセンサでは以下の理由で対応できない。

まず、密着型イメージセンサは通電すると駆動デバイス等の発熱でそれ自体が温度上昇する。また原稿読取時はランプやＬＥＤといった光源を点灯させる為に温度上昇が更に大きくなる。センサはＤＡＤＦ内部に配置されている為、周囲の積極的な空冷が難しく熱がこもり易い構造となっている。この為、電源投入直後と、ある程度時間が経過した後ではセンサの周囲温度が全く異なる。

センサは前述のように、光源、ロッドレンズアレイ、光電変換素子を実装した基板等が所定の位置関係で筐体に固定されている為に、温度上昇によるそれぞれの部材の膨張率や固定方法の差により、光電変換素子とロッドレンズアレイの位置関係にズレが発生する。特に主走査方向へのズレが顕著となる。(通常0.5画素分程度のズレ)
ここで、ロッドレンズアレイを構成する単一レンズは、そのカバーする範囲が、例えば約１４画素分に相当し、各単一レンズのカバー範囲と隣接する単一レンズのカバー範囲の境界付近に相当する画素に関しては集光量が減る。逆に単一レンズの中央付近に相当する画素については集光量が増える。

この為、均一な白基準データを用いたとしても、図８に示されるように、単一レンズの配置周期で白レベルのうねりが発生する。ここではこのうねりをレンズムラと称する。図８（Ａ）（Ｂ）は、いずれのグラフも横軸が主走査方向の画素の位置を示し、縦軸は画素値を示している。そして、図８（ａ）の一部の領域を拡大したものが図８（Ｂ）に示されるグラフである。図８（Ｂ）には、レンズムラが発生していることが示されている。

一方、温度上昇によりロッドレンズアレイと光電変換素子の位置関係が主走査方向にずれると、このレンズムラの発生位置が主走査方向にずれる。具体的に図９を用いて説明する。図９は、いずれのグラフも横軸が主走査方向の画素の位置を示し、縦軸は画素値を示している。そして、図９（Ａ）は、電源投入後直後の状態で採取したデータの画素値、及び電源投入後から短時間経過した状態で採取したデータの画素値を示している。更に図９（Ａ）は電源投入直後のデータで短時間経過後のデータをシェーディング補正した状態も示している。

また、図９（Ｂ）は、電源投入後直後の状態で採取したデータの画素値及び電源投入後から長時間経過した状態で採取したデータの画素値を示している。更に図９（Ｂ）は電源投入直後のデータで長時間経過後のデータをシェーディング補正した状態も示している。

図９（Ａ）に示されるように、電源投入後短時間しか経過していない場合は、電源投入直後と比べて主走査方向のずれが少ないためシェーディング補正出力はほぼ直線をなすが、図９（Ｂ）に示されるように、電源投入後長時間経過した場合は熱膨張により主走査方向にずれが生じるため、シェーディング補正出力はレンズムラと同じピッチのうねりが生じる。

通常、予備白基準データの取得は、工場出荷時に格納するケースが想定されるが、出荷検査の一工程として実施される為、電源投入して比較的短時間で白基準を読取り不揮発性メモリに記憶される。

これに対して実際の使用環境では電源投入後、長時間使用されることが普通である。この時レンズムラの発生位置が予備白基準データのものと比較して、図９（Ｂ）に示したように主走査方向にずれる為、予備白基準データでシェーディング補正を行なった場合、画像全面に単一レンズの配置周期でスジが発生する（図１０（Ｂ）参照）。

なお、図１０に示されるいずれのグラフも横軸が主走査方向における印刷された画像に示される直線部分を読み取った際の画素の位置を示し、縦軸は画素値を示している。そして、図１０（Ａ）は、レンズムラの発生位置が予備白基準データのものと比較して主走査方向にずれていない場合に印刷された画像を示しており、図１０（Ｂ）は、レンズムラの発生位置が予備白基準データのものと比較して主走査方向にずれた場合に印刷された画像を示している。

以上説明したように、予備白基準データを使用したシェーディング補正では、白板の汚れに起因する白筋を抑えることは出来るが、レンズムラの位置ずれによる縦筋が発生する為、画質劣化は否めない。これを防ぐには可動式のシェーディングデータ採取機構が必要となり、大幅なコストを要するという問題点があった。

本発明は上記問題点に鑑み、従来技術と比較して簡易な構成でしかもシェーディング補正情報を精度良く取得することができる画像処理装置、画像処理プログラムを提供することを目的とする。

上記目的を達成するために、請求項１の発明は、原稿及び基準板に対して照明光を照射する所定方向に沿って配列された複数の発光素子を備えた光源と、前記光源により照明された前記原稿及び前記基準板を複数の画素に分割して測光し、画素毎に測光した画素値に応じた画素値情報を出力する測光手段と、前記測光手段により塵埃が存在しない基準板を測光することで得られた画素値情報を補正用画素値情報として記憶する記憶手段と、前記測光手段により前記基準板を測光することで得られた画素値情報が示す基準板画素値と、前記記憶手段に記憶された補正用画素値情報が示す補正用画素値との比を、各々の前記画素毎に導出する導出手段と、前記導出手段により導出された複数の比のうち、予め定められた範囲外の比が導出された基準板画素値を前記補正用画素値を用いて補正する第１の補正手段と、前記第１の補正手段により補正された基準板画素値を用いて、前記測光手段により前記原稿を測光することで得られた画素値情報が示す原稿画素値を補正する第２の補正手段と、を有する。

また、請求項２の発明は、請求項１の発明において、前記予め定められた範囲は、前記測光手段により出力された画素値情報が示す画素値の平均値を示す画素値平均値、及び前記補正用画素値の平均値である補正用平均値により定まるものである。

また、請求項３の発明は、請求項２の発明において、前記導出手段により比が導出された場合には、前記第１の補正手段は、予め定められた範囲外の比が導出された前記基準板画素値を、前記補正用画素値に前記画素値平均値と前記補正用平均値との比が乗算された値にすることにより補正するものである。

また、請求項４の発明は、請求項１〜請求項３のいずれか１項の発明において、前記基準板画素値は、前記測光手段が複数回に渡り測光することで得られた画素値情報が示す画素値の平均値である。

また、請求項５の発明は、請求項１〜請求項４のいずれか１項の発明において、前記第１の補正手段は、前記第２の補正手段により前記原稿を測光することで前記測光手段により得られた画素値情報が示す原稿画素値が補正される前に前記基準板画素値を補正するものである。

また、上記目的を達成するために、請求項６の発明は、コンピュータを、原稿及び基準板に対して照明光を照射する所定方向に沿って配列された複数の発光素子を備えた光源と、前記光源により照明された前記原稿及び前記基準板を複数の画素に分割して測光し、画素毎に測光した画素値に応じた画素値情報を出力する測光手段と、前記測光手段により塵埃が存在しない基準板を測光することで得られた画素値情報を補正用画素値情報として記憶する記憶手段と、を有する画像処理装置における前記測光手段により前記基準板を測光することで得られた画素値情報が示す基準板画素値と、前記記憶手段に記憶された補正用画素値情報が示す補正用画素値との比を、各々の前記画素に対応する補正値として導出する導出手段と、前記導出手段により導出された複数の比のうち、予め定められた範囲外の比が導出された基準板画素値を前記補正用画素値を用いて補正する第１の補正手段と、前記第１の補正手段により補正された基準板画素値を用いて、前記測光手段により前記原稿を測光することで得られた画素値情報が示す原稿画素値を補正する第２の補正手段と、して機能させるものである。

請求項１の発明によれば、専用の可動式の基準板を必要としないため、簡易な構成でしかもシェーディング補正情報を精度良く取得することができる画像処理装置を提供することができるという効果が得られる。

請求項２の発明によれば、予め定められた範囲と比較対象となる基準板画素値と補正用画素値との比は、発光素子の経年劣化等によりばらつくことがあるため、各々の平均値である画素値平均値及び補正用平均値の比を用いることにより、本発明を適用しない場合に比較して、より確実に塵埃の有無を検出することができる。

請求項３の発明によれば、基準板画素値を、補正用画素値に画素値平均値と補正用平均値との比が乗算された値にすることにより、本発明を適用しない場合に比較して、補正されない基準板画素値との差を小さくすることができる。

請求項４の発明によれば、複数回に渡り測光することで得られた画素値情報が示す画素値の平均値を用いることにより、本発明を適用しない場合に比較して、より確実にノイズによる影響を低減することができる。

請求項５の発明によれば、原稿画素値が補正される前に前記基準板画素値を補正することにより、本発明を適用しない場合に比較して、より精度良くシェーディング補正することができる。

請求項６の発明によれば、シェーディング補正情報を精度良く取得することができる画像処理プログラムを提供することができるという効果が得られる。

以下、図面を参照して、本発明の実施の形態について詳細に説明する。なお、本実施の形態では、所定方向を主走査方向として説明する。

まず、図１を参照して、本実施の形態に係る画像処理装置１０の全体構成を説明する。

同図に示すように、画像処理装置１０は、原稿搬送部１２（ＤＡＤＦ：Dual Auto Document Feeder）と画像読取部１４とを備えている。

原稿搬送部１２は、画像が記録された原稿１８が置かれる原稿台２０を備えており、原稿台２０に置かれた原稿１８は、一枚ずつ取り出しロール２２で取り出され、搬送路２４へ送られる。

搬送路２４に送られた原稿１８は、搬送ロール対２６によって画像読取部１４による表面読取位置まで搬送され、表面を画像読取部１４で読み取られた後、表面読取位置よりも搬送方向下流側に設置されている裏面画像読取部２８に搬送され、裏面を裏面画像読取部２８で読み取られた後、排紙部３０に排紙される。また、裏面画像読取部２８は、原稿１８及び基準板４６に対して照明光を照射する主走査方向に沿って配列された複数の発光素子を備えた光源２８Ｂと、光源２８Ｂにより照明された原稿１８及び前記基準板４６を複数の画素に分割して測光し、画素毎に測光した画素値に応じた画素値情報を出力するラインセンサ２８Ａとを含む。

一方、画像読取部１４は、上面に原稿１８を置くことが可能とされている透明なプラテンガラス３２を備えており、上記表面読取位置はプラテンガラス３２の上面に位置している。

表面読取位置におけるプラテンガラス３２の下側には、原稿１８の表面に向けて照明光を照射する光源３４と、原稿１８の表面で反射した反射光を受ける第１反射ミラー３６、第１反射ミラー３６で受けた反射光の進行方向を９０°曲げるための第２反射ミラー３８、第２反射ミラー３８で受けた反射光の進行方向をさらに９０°曲げるための第３反射ミラー４０とが備えられている。

また、画像読取部１４は、レンズ４２と、複数の画素を備えた光検出部４４とを備えており、画像読取部１４は、第３反射ミラー４０で反射された反射光を、レンズ４２によって光検出部４４に結像させることで、原稿１８の表面を読み取る。

なお、本実施の形態に係る画像処理装置１０は、光源３４として蛍光ランプを適用するが、これに限らず、原稿１８の搬送方向と交差する方向に沿って配列された複数のＬＥＤ（Light Emitting Diode）等、他の光源を適用しても良い。

また、本実施の形態に係る画像処理装置１０では、光検出部４４として複数のＣＣＤ（Charge Coupled Device）で構成されるＣＣＤラインセンサを適用するが、これに限らず、ＣＭＯＳ（Complementary Metal-Oxide Semiconductor）イメージセンサ等の固体撮像素子を適用しても良い。

なお、本実施の形態に係る画像処理装置１０は、光源３４、第１反射ミラー３６、第２反射ミラー３８、及び第３反射ミラー４０が図１の矢印Ａ方向に移動可能とされている。これにより、原稿搬送部１２が画像読取部１４の上方へ開けられ、プラテンガラス３２の上面に原稿１８が置かれた場合に、光源３４から照明光を原稿１８に向けて照射しつつ、矢印Ａ方向へ光源３４、第１反射ミラー３６、第２反射ミラー３８、及び第３反射ミラー４０を移動させることで、上記原稿１８に記録された画像を読み取ることが可能とされている。

次に、図２を用いて画像処理装置１０のハードウェア構成について説明する。画像処理装置１０は、主にコントローラ５０、画像読取制御部５２、ＤＡＤＦ制御部５４、裏面画像読取制御部５６、ＣＣＤ５８、及びＵＩ（User Interface）６０で構成されている。

このうち、コントローラ５０は、画像処理装置１０全体の制御を行う。また、コントローラ５０は、画像読取制御部５２及び裏面画像読取制御部５６から画像信号を受信し、ＵＩ６０からはユーザの指示等が入力される。

画像読取制御部５２は、この画像処理装置１０における画像の読取処理全体を制御するもので、具体的にはＤＡＤＦ制御部５４、裏面画像読取制御部５６、ＣＣＤ５８、走査制御部７２、及び照明制御部７６等の制御を行う。また、画像読取制御部５２は、表面ＲＯＭ（Read Only Memory）６８、及び表面ＮＶＭ（Non Volatile Memory）７０にアクセス可能となっている。

表面ＲＯＭ６８及び表面ＮＶＭ７０は、原稿の表面を読み取るための各種プログラムやそのときに用いられる各種情報等が記憶されている。

なお、走査制御部７２は、原稿を読み取る際の走査に関する制御を行うものであり、モーター７４の制御も行う。このモーター７４は、図１で説明した光源３４と各種ミラーを一体的に移動させるモーターである。また、照明制御部７６は、光源３４を制御するものである。

ＤＡＤＦ制御部５４は、ＤＡＤＦを制御するものであり、上述したロール２２や搬送ロール対２６を回転させるための各モーター６６を制御する各ローラ制御部６４、及び各センサ６２からの情報を受信する。この各センサ６２として、例えば原稿搬送部１２が画像読取部１４の上方へ開いていないか否か等を検出するセンサが挙げられる。

更に裏面画像読取制御部５６は、裏面密着センサ８０を制御するものである。また、裏面画像読取制御部５６は、後に説明する裏面ＲＯＭ８２、裏面ＲＡＭ（Random Access Memory）８４、裏面ＮＶＭ８６、及び裏面ＥＥＰＲＯＭ（Electrically Erasable and Programmable Read Only Memory）８８にアクセス可能となっている。

このうち、裏面密着センサ８０は、上述した裏面画像読取部２８を含むもので、画像信号を裏面画像読取制御部５６に出力する。

また、裏面ＲＯＭ８２には、裏面画像読取制御部５６を動作させるためのプログラム等が記憶されている。裏面ＲＡＭ８４は、裏面画像読取制御部５６が動作する際に使用するメモリである。裏面ＥＥＰＲＯＭ８８には、ラインセンサ２８Ａにより塵埃が存在しない基準板（基準板４６とは異なる専用の清浄な白基準板）を測光することで得られた画素値情報である補正用画素値情報が記憶されている。裏面ＮＶＭ８６には、補正用画素値の平均値である補正用平均値を示す情報が記憶されている。

次に、図３を用いて、裏面画像読取制御部５６の詳細について説明する。裏面画像読取制御部５６は、同図に示されるように平均化部９０を有し、この平均化部９０は、ラインメモリ９２、平均値導出部９６、及びレジスタ９４を有する。このうち、ラインメモリ９２は、裏面画像読取部２８が読み取り入力された画像信号から、画素情報（画素値）を記憶するものである。平均値導出部９６は、画素値情報が示す画素値の平均値を示す画素値平均値を導出する。レジスタ９４には、この平均値が記憶される。

平均化部９０から出力された画素値は、まず定数として例えば３ＦＦ（１０ビット：１６進数）倍される。またシェーディング用メモリ領域９８には、各画素値をシェーディング補正するための情報であるシェーディング補正画素値（シェーディング補正情報が示す画素値）が各画素毎に記憶されており、３ＦＦ倍された画素値は、乗算係数Ｋが乗算されたシェーディング補正画素値に割り算され、その値が後段メモリ１００に記憶される。後段メモリ１００に記憶された補正された画素値は、種々の画像処理が施される。

次に、上記シェーディング補正画素値の導出方法について説明する。まず、図４、図５を用いて、シェーディング補正画素値の導出方法の概略について説明する。

図４に示されるグラフは、横軸が主走査方向の画素の位置を示し、縦軸は画素値を示している。そして、図４では、上記補正用画素値がなす曲線Ｑと基準板４６を読み取ったことにより得られた基準板画素値がなす曲線Ｒが示されている。

更に基準板画素値は、塵埃による影響を受けた画素値が２つほど示されている。この状態で、位置が同じ補正用画素値と基準板画素値のそれぞれの値をα、βとし、それらの比β/αの値を調べる。

塵埃により影響を受けない基準板画素値の場合のβ/αは、曲線ＱＲがほぼ相似していることから、予め定められた範囲内の値となる。一方、塵埃により影響を受けた基準板画素値の場合のβ/αは、上記予め定められた範囲外の値となる可能性が高い。

具体的には、図５に示されるように、塵埃により影響を受けない基準板画素値の場合のβ/αはある値（図では１．０）の近傍に分布するが、塵埃により影響を受けた基準板画素値の場合のβ/αは、１．０と比較して大きく異なる可能性が高い。そこで、予め定められた範囲外に存在する基準板画素値の位置における基準板画素値を補正することで、塵埃により影響の受けないシェーディング補正画素値を導出することができる。

上記シェーディング補正画素値を導出する裏面画像読取制御部５６により行われる画像処理の流れを、図６のフローチャートを用いて説明する。なお、このフローチャートにおいて、Ａ[]と括弧がついた変数は配列であることを示している。またＡ[]←Ｂ[]は、配列Ｂを配列Ａに代入することを示している。すなわち、この代入により添え字が同じものは同一の値となる。

また、上述したように、裏面ＥＥＰＲＯＭ８８に補正用画素値InitDT[]が記憶されている。更に、補正用画素値InitDT[]の全画素平均値の補正用平均値InitAveが裏面ＮＶＭ８６に記憶されている。

まず、ステップ１００で、コントローラ５０から読取りジョブ開始の通知を受信すると、裏面画像読取制御部５６は裏面密着センサ８０に光源点灯の指示し、裏面密着センサ８０は光源を点灯し、基準板に対して照明光を照射する。基準板の同一箇所を１つ又は複数ライン分読取り、ステップ１０１で基準板画素値がSampAveDT[]に代入される。

複数ライン分読み取る場合は、同じ位置において、ラインセンサ２８Ａが複数回に渡り測光することで出力された画素値情報が示す複数の画素値の平均値を基準板画素値とする。上記ステップ１０１により、ラインセンサ２８Ａにより基準板４６を測光することで得られた画素値情報が示す基準板画素値が得られる。

次のステップ１０２で、SampAveDT[]の全て或いは一部の平均値を導出し、画素値平均値SampAveに代入する。ここで、SampAveDT[]の一部の平均値とは、図７に示されるように、主走査方向における中央付近を平均値導出用区間とし、この区間内に存在する画素の画素値だけの平均値を示している。また、SampAveDT[]は上記ラインメモリ９２、SampAveはレジスタ９４にそれぞれ一旦保持される。

更にステップ１０３で、乗算係数Ｋに画素値平均値SampAveと補正用平均値InitAveの比（SampAve/InitAve）を代入する。

次のステップ１０４で、裏面ＥＥＰＲＯＭ８８から裏面ＲＡＭ８４に展開された補正用画素値InitDT[]に乗算係数Ｋを乗算したものを新たな配列CorInitDT[]（新補正用画素値）に代入し、裏面ＲＡＭ８４に保持しておく。この乗算係数Ｋによる乗算は、InitDT[]の各値を、SampAveDT[]の各値にほぼ同じくするためのものである。すなわち、CorInitDT[]の各値と、SampAveDT[]の各値との比を１．０前後にするためのものである。

次に、ステップ１０５で、InitDT[]をシェーディング用メモリ９８に展開した後、ラインメモリ９２に格納されているSampAveDT[]を出力する。その結果、後段メモリ１００にはSampAveDT[]/（InitDT[]×K）で算出される比Ratio[]が書き込まれる。ここでは比Ratio[]=3FFが比1.0に相当する。そして、ステップ１０６でループカウンタｊを１で初期化し、ステップ１０７で後段メモリ１００に格納された比Ratio[]の各値が最大閾値Thmax及び最小閾値Thminの範囲内の値か否か判断する。

ステップ１０７で否定判断された場合には、ステップ１０９へ処理が進む。一方、ステップ１０７で肯定判断、すなわちRatio[ｊ]が予め定められた範囲外と判断された場合には、ステップ１０８で基準板画素値SampAveDT[j]に新補正用画素値CorInitDT[j]を代入し、ステップ１０９へ処理が進む。すなわち、基準板画素値SampAveDT[j]を、補正用画素値InitDT[]に画素値平均値SampAveと補正用平均値InitAveとの比Ｋが乗算された値（CorInitDT[j]）にする
ステップ１０９では、ループカウンタｊを１増分し、ステップ１１０でｊが全画素数を超えたか否か判断する。このステップ１１０で肯定判断した場合には処理を終了し、否定判断した場合には、ステップ１０７の処理に戻る。上記ステップ１０７〜ステップ１１０が第１の補正手段に対応する。

この処理により導出されるSampAveDT[]がシェーディング補正画素値となる。次のステップ１１１で、補正された基準板画素値SampAveDT[]を用いて、ラインセンサ２８Ａにより原稿１８を測光することで得られた画素値情報が示す原稿画素値をシェーディング補正する（第２の補正手段）。すなわち、ステップ１０７〜ステップ１１０は、ステップ１１１により原稿１８を測光することでラインセンサ２８Ａにより出力された画素値情報が示す原稿画素値がシェーディング補正される前に基準板画素値SampAveDT[]を補正する。

なお、上述した説明で、Ratio[]にSampAveDT[]/CorInitDT[]が代入され、そのRatio[]と最大閾値Thmax及び最小閾値Thminが比較されているが、CorInitDT[]＝Ｋ×InitDT[]であるため、Ratio[]＝SampAveDT[]/CorInitDT[]＝SampAveDT[]/（Ｋ×InitDT[]）である。

これよりRatio[]と最大閾値Thmax及び最小閾値Thminとを比較する式であるThmin＜Ratio[]＜Thmaxは、変形するとＫ×Thmin＜SampAveDT[]/InitDT[]＜Ｋ×Thmaxである。

SampAveDT[]/InitDT[]は、基準板画素値と補正用画素値との比である。また、Ｋ×Thmin及びＫ×Thmaxは予め定められた範囲の最小閾値、最大閾値である。

更にＫは、画素値情報が示す画素値の平均値を示す画素値平均値SampAve、及び前記補正用画素値の平均値である補正用平均値InitAveの比であるため、予め定められた範囲は、ラインセンサ２８Ａにより出力された画素値情報が示す画素値の平均値を示す画素値平均値、及び補正用画素値の平均値である補正用平均値により定まっている。

なお、以上説明した各フローチャートの処理の流れは一例であり、本発明の主旨を逸脱しない範囲内で処理順序を入れ替えたり、新たなステップを追加したり、不要なステップを削除したりすることができることは言うまでもない。

実施の形態に係る画像処理装置の全体構成を示す図である。 画像処理装置のハードウェア構成を示す図である。 裏面画像読取制御部の詳細を示す図である。 補正用画素値がなす曲線と基準板画素値がなす曲線を示す図である。 基準板画素値と補正用画素値との比の分布を示す図である。 実施の形態に係る画像処理の流れを示すフローチャートである。 平均値導出に用いる画素の位置を示す図である。 単一レンズの配置周期で発生する白レベルのうねりを示す図である。 うねりが電源投入から経過した時間によりずれることを示す図である。 うねりが発生した場合の印刷物の一例を示す図である。

符号の説明

１０ 画像処理装置
１２ 原稿搬送部（ＤＡＤＦ）
１４ 画像読取部
１８ 原稿
２８ 裏面画像読取部
２８Ａ ラインセンサ
２８Ｂ 光源
４６ 基準板
５０ コントローラ
５２ 画像読取制御部
５４ ＤＡＤＦ制御部
５６ 裏面画像読取制御部
８０ 裏面密着センサ
８６ 裏面ＮＶＭ
８８ 裏面ＥＥＰＲＯＭ
９０ 平均化部
９６ 平均値導出部

Claims (6)

1. 原稿及び基準板に対して照明光を照射する所定方向に沿って配列された複数の発光素子を備えた光源と、
   前記光源により照明された前記原稿及び前記基準板を複数の画素に分割して測光し、画素毎に測光した画素値に応じた画素値情報を出力する測光手段と、
   前記測光手段により塵埃が存在しない基準板を測光することで得られた画素値情報を補正用画素値情報として記憶する記憶手段と、
   前記測光手段により前記基準板を測光することで得られた画素値情報が示す基準板画素値と、前記記憶手段に記憶された補正用画素値情報が示す補正用画素値との比を、各々の前記画素毎に導出する導出手段と、
   前記導出手段により導出された複数の比のうち、予め定められた範囲外の比が導出された基準板画素値を前記補正用画素値を用いて補正する第１の補正手段と、
   前記第１の補正手段により補正された基準板画素値を用いて、前記測光手段により前記原稿を測光することで得られた画素値情報が示す原稿画素値を補正する第２の補正手段と、
   を有する画像処理装置。
2. 前記予め定められた範囲は、前記基準板画素値の平均値を示す画素値平均値、及び前記補正用画素値の平均値である補正用平均値により定まる請求項１に記載の画像処理装置。
3. 前記導出手段により比が導出された場合には、前記第１の補正手段は、予め定められた範囲外の比が導出された前記基準板画素値を、前記補正用画素値に前記画素値平均値と前記補正用平均値との比が乗算された値にすることにより補正する請求項２に記載の画像処理装置。
4. 前記基準板画素値は、前記測光手段が複数回に渡り測光することで得られた画素値情報が示す画素値の平均値である請求項１〜請求項３のいずれか１項に記載の画像処理装置。
5. 前記第１の補正手段は、前記第２の補正手段により前記原稿を測光することで前記測光手段により得られた画素値情報が示す原稿画素値が補正される前に前記基準板画素値を補正する請求項１〜請求項４のいずれか１項に記載の画像処理装置。
6. コンピュータを、
   原稿及び基準板に対して照明光を照射する所定方向に沿って配列された複数の発光素子を備えた光源と、前記光源により照明された前記原稿及び前記基準板を複数の画素に分割して測光し、画素毎に測光した画素値に応じた画素値情報を出力する測光手段と、前記測光手段により塵埃が存在しない基準板を測光することで得られた画素値情報を補正用画素値情報として記憶する記憶手段と、を有する画像処理装置における前記測光手段により前記基準板を測光することで得られた画素値情報が示す基準板画素値と、前記記憶手段に記憶された補正用画素値情報が示す補正用画素値との比を、各々の前記画素に対応する補正値として導出する導出手段と、
   前記導出手段により導出された複数の比のうち、予め定められた範囲外の比が導出された基準板画素値を前記補正用画素値を用いて補正する第１の補正手段と、
   前記第１の補正手段により補正された基準板画素値を用いて、前記測光手段により前記原稿を測光することで得られた画素値情報が示す原稿画素値を補正する第２の補正手段と、
   して機能させるための画像処理プログラム。

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