CN102915065A - 稳压器 - Google Patents

稳压器 Download PDF

Info

Publication number
CN102915065A
CN102915065A CN201210274653XA CN201210274653A CN102915065A CN 102915065 A CN102915065 A CN 102915065A CN 201210274653X A CN201210274653X A CN 201210274653XA CN 201210274653 A CN201210274653 A CN 201210274653A CN 102915065 A CN102915065 A CN 102915065A
Authority
CN
China
Prior art keywords
transistor
grid
circuit
drain electrode
voltage
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201210274653XA
Other languages
English (en)
Other versions
CN102915065B (zh
Inventor
远藤大树
S.恒
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ablic Inc
Original Assignee
Seiko Instruments Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Instruments Inc filed Critical Seiko Instruments Inc
Publication of CN102915065A publication Critical patent/CN102915065A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN102915065B publication Critical patent/CN102915065B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05FSYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
    • G05F3/00Non-retroactive systems for regulating electric variables by using an uncontrolled element, or an uncontrolled combination of elements, such element or such combination having self-regulating properties
    • G05F3/02Regulating voltage or current
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05FSYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
    • G05F1/00Automatic systems in which deviations of an electric quantity from one or more predetermined values are detected at the output of the system and fed back to a device within the system to restore the detected quantity to its predetermined value or values, i.e. retroactive systems
    • G05F1/10Regulating voltage or current
    • G05F1/46Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc
    • G05F1/56Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc using semiconductor devices in series with the load as final control devices
    • G05F1/575Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc using semiconductor devices in series with the load as final control devices characterised by the feedback circuit
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05FSYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
    • G05F3/00Non-retroactive systems for regulating electric variables by using an uncontrolled element, or an uncontrolled combination of elements, such element or such combination having self-regulating properties
    • G05F3/02Regulating voltage or current
    • G05F3/08Regulating voltage or current wherein the variable is dc
    • G05F3/10Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics
    • G05F3/16Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices
    • G05F3/20Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations
    • G05F3/24Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations wherein the transistors are of the field-effect type only
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05FSYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
    • G05F3/00Non-retroactive systems for regulating electric variables by using an uncontrolled element, or an uncontrolled combination of elements, such element or such combination having self-regulating properties
    • G05F3/02Regulating voltage or current
    • G05F3/08Regulating voltage or current wherein the variable is dc
    • G05F3/10Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics
    • G05F3/16Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices
    • G05F3/20Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations
    • G05F3/26Current mirrors

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Continuous-Control Power Sources That Use Transistors (AREA)
  • Amplifiers (AREA)

Abstract

本发明提供一种稳压器,其具有对应负载电流而变化消耗电流的低消耗电流的相位补偿电路。相位补偿电路具备:第一晶体管,其漏极连接于误差放大电路的输出端子;第二晶体管,其漏极连接于第一晶体管的栅极,而栅极通过电阻连接于第一晶体管的栅极;电流镜电路,连接于误差放大电路的输出端子和第一晶体管的漏极以及第二晶体管的漏极;电容,在第二晶体管的栅极和输出晶体管的漏极之间连接。通过这样的结构,能够实现具有能够对应负载电流而变化相位补偿电路中的消耗电流,达到低消耗电流的相位补偿电路的稳压器。

Description

稳压器
技术领域
本发明涉及稳压器(voltage regulator)的相位补偿电路和低消耗电力化。
背景技术
作为以往的不受输出电容、输出电阻影响而稳定动作的稳压器,如图6所示的电路被众所周知。
以往的稳压器,包括:基准电压电路101、差动放大电路102、PMOS晶体管106、相位补偿电路460、电阻108、109、接地端子100、输出端子121、电源端子150。相位补偿电路460由恒流电路405、NMOS晶体管401、406、403、408、电容407、电阻404。差动放大电路102由如图7所示的1级放大器构成。
作为连接方法,差动放大电路102的反相输入端子连接于基准电压电路101,非反相输入端子连接于电阻108和109的连接点,输出端子连接于PMOS晶体管106的栅极(gate)及NMOS晶体管401的漏极(drain)。基准电压电路101的另一端连接于接地端子100。NMOS晶体管401的源极(source)连接于NMOS晶体管403的漏极,其栅极连接于NMOS晶体管406的栅极及漏极。NMOS晶体管403的源极连接于接地端子100,其栅极连接于电阻404及NMOS晶体管408的漏极。NMOS晶体管408的源极连接于接地端子100,其栅极连接于电阻404的另一端及电容407,其漏极连接于NMOS晶体管406的源极。NMOS晶体管406的漏极连接于恒流电路405,恒流电路405的另一端连接于电源端子150。PMOS晶体管106的源极连接于电源端子150,其漏极连接于输出端子121及电容407的另一端以及电阻108的另一端。电阻109的另一端连接于接地端子100(例如,参见非专利文献1)。
非专利文献1:电气电子工程师学会电路及系统汇刊I辑:论文,VOL.54, NO.9, 2007年9月(图13)(IEEE TRANSACTIONS ON CIRCUITS AND SYSTEM-I : REGULAR PAPERS, VOL.54, NO.9, SEPTEMBER 2007(Fig. 13.))。
发明内容
然而,以往的技术中,其结构为相位补偿电路460将差动放大电路102的输出端子的电流的一部分流向大地(ground)。因此,存在电流从差动放大电路102的晶体管503流向输出,流入输入晶体管501、504的电流失衡而发生偏移(offset)、难以得到正确的输出电压的问题。
另外,为使相位补偿电路460的动作不受负载电流大小的影响,始终保持一定的电流流动,所以在轻负载时不必要地消耗大量电力。
因此,本发明的目的在于解决上述问题,提供能够不受输出电容、输出电阻影响而稳定动作,得到正确的输出电压,且能够降低轻负载时的消耗电力的稳压器。
本发明的稳压器具备:误差放大电路,放大并输出基准电压和对输出晶体管输出的电压分压后的分压电压之差,控制所述输出晶体管的栅极;以及相位补偿电路,其特征在于,所述相位补偿电路具备:第一晶体管,其漏极连接于所述误差放大电路的输出端子;第二晶体管,其漏极连接于所述第一晶体管的栅极,而栅极通过电阻与所述第一晶体管的栅极连接;电流镜电路,连接于所述误差放大电路的输出端子和所述第一晶体管的漏极以及所述第二晶体管的漏极;电容,在所述第二晶体管的栅极和所述输出晶体管的漏极之间连接。
本发明的具备相位补偿电路的稳压器,能够做到:不会因流入差动放大电路的输入晶体管的电流失衡而产生偏移,而得到正确的输出电压,不受输出电容、输出电阻的影响稳定且高速地动作。进而,能够将轻负载时的消耗电力抑制在低水平。
附图说明
图1是示出稳压器的第1实施方式的电路图;
图2是示出电流镜电路的第1实施方式的电路图;
图3是示出电流镜电路的第2实施方式的电路图;
图4是示出电流镜电路的第3实施方式的电路图;
图5是示出电流镜电路的第4实施方式的电路图;
图6是示出以往的稳压器的电路图;
图7是示出由1级放大器构成的差动放大电路的电路图。
具体实施方式
以下,参照附图说明本发明的实施方式。
实施例1
首先,说明稳压器的结构。图1是示出本发明的稳压器的电路图。
稳压器包括基准电压电路101、差动放大电路102、相位补偿电路160、PMOS晶体管106、电阻108、109、接地端子100、输出端子121、电源端子150。相位补偿电路160包括NMOS晶体管112、114、电容115、电阻113、电流镜电路110。电流镜电路具有4个端子:端子1、端子2、端子3及端子4;对应输入端子1的电压,从端子2、端子3输出规流。
接下来,说明稳压器的要素电路的连接。
差动放大电路102的反相输入端子连接于基准电压电路的101,非反相输入端子连接于电阻108和109的连接点,输出端子连接于PMOS晶体管106的栅极及NMOS晶体管112的漏极及电流经电路110的端子1及端子2。基准电压电路101的另一端连接于接地端子100。NMOS晶体管112的源极连接于接地端子100,其栅极连接于电阻113及NMOS晶体管114的漏极。NMOS晶体管114的栅极连接于电阻113的另一端及电容115,其漏极连接于电流镜电路的端子3,其源极连接于接地端子100。电流镜电路的端子4连接于电源端子150。PMOS晶体管106的源极连接于电源端子150,其漏极连接于输出端子121、电容115的另一端及电阻108的另一端。电阻109的另一端连接于接地端子100。
接下来,说明稳压器的动作。
当输出端子121的电压变高时,节点120的电压也变高。当节点120的电压变得比基准电压101的电压还要高时,差动放大电路102的输出电压变高。从而,因为PMOS晶体管106的栅极电压变高,所以PMOS晶体管106的漏极电流减少,输出端子121的电压变低。因此,输出端子被控制为固定的所希望电压。
在此,图1中所示的稳压器,以以下公式表示的频率产生极点(pole):
Figure 325253DEST_PATH_IMAGE001
Figure 180076DEST_PATH_IMAGE002
R1是差动放大电路102的输出阻抗的寄生电阻分量。Rout是连接于输出端子121的负载电阻。GmP106是PMOS晶体管106的跨导(transconductance)。GmN114是NMOS晶体管114的跨导。R113是电阻113的电阻值。C113是电容115的电容值。Cout是被连接的输出电容。CG是PMOS晶体管106的栅极电容值。
由公式1、公式2能够知道,第一极点和第二极点的位置能够通过电阻113和电容115及NMOS晶体管114的跨导调节,能够在不受输出电阻Rout、输出电容Cout的值影响稳定动作的情况下进行调节。
因为差动放大电路102的输出端子连接于NMOS晶体管112的漏极和电流镜电路110,所以流向NMOS晶体管112的电流可以从电流镜电路110流出。而且,因为从差动放大电路102的输出端子流向NMOS晶体管112的电流不再流动,差动放大电路102的输入级的晶体管中也产生偏移的情形也会消失。由此,因偏移产生的输出电压的偏差消除,从而能够正确地设定输出电压。
另外,由上面的公式能够知道,负载电阻Rout足够大时,即使将GmN114变小也能够分离第一极点和第二极点的位置。在此,MOS晶体管的Gm由以下公式表示。
Figure 959813DEST_PATH_IMAGE003
由上面的公式能够知道,负载电阻Rout足够大时,即使将相位补偿电路160的NMOS晶体管114的漏极电流变小也能够稳定地动作。
因此,通过对应PMOS晶体管106向负载电阻Rout流动的电流的大小限制电流镜电路101向相位补偿电路160流动的电流值,能够将驱动电流抑制在低水平。
如上所述,本发明的稳压器,不会在差动放大电路102的输入级的晶体管上产生偏移,由偏移导致的输出电压的偏差消除,从而能够正确地设定输出电压。且,能够对应PMOS晶体管106向负载电阻Rout流动的电流的大小,将相位补偿电路160的消耗电流抑制在低水平。
实施例2
图2是表示本发明的稳压器涉及的电流镜电路110的第1实施方式的电路图。电流镜电路110包括PMOS晶体管201、202、203、204、NMOS晶体管205、206。PMOS晶体管201的源极连接于电源端子150,其栅极连接于差动放大电路102的输出即节点130,其漏极连接于NMOS晶体管205的漏极。NMOS晶体管205的源极连接于接地端子100,其栅极连接于NMOS晶体管205的漏极及NMOS晶体管206的栅极。NMOS晶体管206的源极连接于接地端子100,其漏极连接于PMOS晶体管202的漏极。PMOS晶体管202的源极连接于电源端子150,其栅极连接于PMOS晶体管202的漏极及PMOS晶体管203和PMOS晶体管204的栅极。PMOS晶体管203的源极连接于电源端子150,其漏极连接于相位补偿电路160的NMOS晶体管112的漏极。PMOS晶体管204的源极连接于电源端子150,其漏极连接于相位补偿电路160的NMOS晶体管114的漏极。
第1实施形态的电流镜电路中,形成差动放大电路102的输出的PMOS晶体管106的栅极电压被输入到PMOS晶体管201的栅极中,对应PMOS晶体管106流入负载电阻的电流值,PMOS晶体管201的漏极电流发生变化。PMOS晶体管201的漏极电流被NMOS晶体管205、206的电流镜映射到PMOS晶体管202中,通过PMOS晶体管202、203、204的电流镜,相位补偿电路160中产生与PMOS晶体管106流向负载电阻的电流值对应的镜像电流。
如上所述,具备附有第1实施方式的电流镜电路的相位补偿电路的本发明的稳压器,在差动放大电路102的输入级的晶体管上不会产生偏移,由偏移导致的输出电压的偏差消除从而能够正确地设定输出电压。且,能够对应PMOS晶体管106流向负载电阻Rout的电流的大小,将相位补偿电路160的消耗电流抑制在低水平。
实施例3
图3是示出本发明的稳压器涉及的电流镜电路110的第2实施方式的电路图。第2实施方式的电流镜电路是追加有NMOS晶体管301、302,能够以低电压驱动电流镜电路,且正确的电流镜。将NMOS晶体管301追加于PMOS晶体管201和NMOS晶体管205之间,将NMOS晶体管205的栅极连接于NMOS晶体管301的漏极。将NMOS晶体管302追加于PMOS晶体管202和NMOS晶体管206之间,将NMOS晶体管206的栅极连接于NMOS晶体管301的漏极。NMOS晶体管301、302的栅极电压由另外的电路供给。
第2实施方式的电流镜电路中,NMOS晶体管301、302作为栅-阴(cascode)电路动作,提高NMOS晶体管205、206的电流镜电路的精度。另外,通过用另外的电路供给NMOS晶体管301、302的栅极电压,能够将由NMOS晶体管205、206、301、302构成的栅-阴型电流镜电路的消耗电流的上限抑制在低水平。
如上所述,具备附有第2实施方式的电流镜电路的相位补偿电路的本发明的稳压器,在差动放大电路102的输入级的晶体管上不会产生偏移,由偏移导致的输出电压的偏差消除从而能够正确地设定输出电压。且,能够对应PMOS晶体管106流向负载电阻Rout的电流的大小,将相位补偿电路160的消耗电流抑制在低水平,PMOS晶体管106流向负载电阻的电流值大时,进行限制以使相位补偿电路160的驱动电流不会过大。
实施例4
图4是示出本发明的稳压器涉及的电流镜电路110的第3实施方式的电路图。第3实施方式的电流镜电路,将NMOS晶体管401作为电流源追加于PMOS晶体管201和NMOS晶体管205之间。NMOS晶体管401为耗尽(depletion)型晶体管,其栅极连接于NMOS晶体管205的漏极。
源极、漏极间电压被固定的耗尽型晶体管在动作状态到达饱和区域后作为恒流源动作。PMOS晶体管201参照的PMOS晶体管106流动的负载电流值超过某个固定的值后NMOS晶体管401作为恒流源动作,从而限制相位补偿电路160的驱动电流。
如上所述,具备附有第3实施方式的电流镜电路的相位补偿电路的本发明的稳压器,在差动放大电路102的输入级的晶体管上不会产生偏移,由偏移导致的输出电压的偏差消除从而能够正确地设定输出电压。且,能够对应PMOS晶体管106流向负载电阻Rout的电流的大小,将相位补偿电路160的消耗电流抑制在低水平,PMOS晶体管106流向负载电阻的电流值大时,进行限制以使相位补偿电路160的驱动电流不会过大。
实施例5
图5是示出本发明的稳压器涉及的电流镜电路110的第4实施方式的电路图。第4实施方式的电流镜电路,追加恒流源电路506以替代NMOS晶体管205。恒流源电路506包括PMOS晶体管501和502、NMOS晶体管503和504、电阻505。
PMOS晶体管501的源极连接于PMOS晶体管201的漏极,其栅极连接于PMOS晶体管501的漏极,其漏极连接于NMOS晶体管503的漏极。PMOS晶体管502的源极连接于PMOS晶体管201的漏极,其栅极连接于PMOS晶体管501的漏极,其漏极连接于NMOS晶体管504的漏极。NMOS晶体管503的栅极连接于NMOS晶体管504的漏极,其源极连接于电阻505。NMOS晶体管504的栅极连接于NMOS晶体管504的漏极,其源极连接于接地端子100。电阻505的另一端连接于接地端子100。
PMOS晶体管501、502构成电流镜电路。NMOS晶体管503、504够成栅极彼此连接的电流镜电路,而NMOS晶体管503的源极通过电阻连接于接地端子100。因此,电阻505中因NMOS晶体管503的漏极电流产生电压降,NMOS晶体管503的栅极/源极电压相应地变小。电阻505中的电压降由NMOS晶体管503和504的K值的差异、或者PMOS晶体管501、502的K值的差异和电阻505的值决定,所以作为不依存于电源电压的恒流源电路动作。
PMOS晶体管201参照的PMOS晶体管106流动的负载电流值超过某个固定的值后恒流源电路506作为恒流电路动作,从而限制相位补偿电路160的驱动电流值。
如上所述,具备附有第4实施方式的电流镜电路的相位补偿电路的本发明的稳压器,在差动放大电路102的输入级的晶体管上不会产生偏移,由偏移导致的输出电压的偏差消除从而能够正确地设定输出电压。且,能够对应PMOS晶体管106流向负载电阻Rout的电流的大小,将相位补偿电路160的消耗电流抑制在低水平,PMOS晶体管106流向负载电阻的电流值大时,进行限制以使相位补偿电路160的驱动电流不会过大。
符号说明
110 接地端子
101 基准电压电路
102 差动放大电路
121 输出端子
150 电源端子
160 相位补偿电路
401 耗尽型NMOS
405 恒流源。

Claims (5)

1. 一种稳压器,其中具备:误差放大电路,放大并输出基准电压和对输出晶体管输出的电压分压后的分压电压之差,控制所述输出晶体管的栅极;以及
相位补偿电路,
其特征在于,所述相位补偿电路具备:
第一晶体管,其漏极连接于所述误差放大电路的输出端子;
第二晶体管,其漏极连接于所述第一晶体管的栅极,而栅极通过电阻与所述第一晶体管的栅极连接;
电流镜电路,其具备检测输入所述输出晶体管的栅极的电压的电压检测用晶体管,并将流入所述电压检测用晶体管的电流镜像地供给所述第一晶体管的漏极和所述第二晶体管的漏极;以及
第一电容,在所述第二晶体管的栅极和所述输出晶体管的漏极之间连接。
2. 如权利要求1所述的稳压器,其特征在于:
所述电流镜电路中,流入所述电压检测用晶体管的电流的上限被限制为规定的值。
3. 如权利要求2所述的稳压器,其特征在于:
所述电流镜电路是栅-阴电流镜电路,所述栅-阴电流镜电路具有至少一级的电流镜电路部分,其栅极与外部电路连接。
4. 如权利要求2所述的稳压器,其特征在于:
所述电压检测用晶体管的漏极和耗尽型晶体管连接,该耗尽型晶体管的栅极与源极连接。
5. 如权利要求2所述的稳压器,其特征在于,具备:
第三晶体管,其源极连接于所述电压检测用晶体管的漏极,而栅极连接于自身的源极;
第四晶体管,其源极连接于所述电压检测用晶体管的漏极,而栅极连接于所述第三晶体管的栅极;
第五晶体管,其漏极连接于所述第四晶体管的漏极,而栅极连接于自身的漏极,源极被接地;
第六晶体管,其漏极连接于所述第三晶体管的漏极,而栅极连接于所述第五晶体管的栅极;以及
第一电阻,一端连接于所述第六晶体管的源极,另一端被接地。
CN201210274653.XA 2011-08-05 2012-08-03 稳压器 Active CN102915065B (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011-171780 2011-08-05
JP2011171780A JP5715525B2 (ja) 2011-08-05 2011-08-05 ボルテージレギュレータ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN102915065A true CN102915065A (zh) 2013-02-06
CN102915065B CN102915065B (zh) 2015-09-30

Family

ID=47613465

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201210274653.XA Active CN102915065B (zh) 2011-08-05 2012-08-03 稳压器

Country Status (5)

Country Link
US (1) US8866457B2 (zh)
JP (1) JP5715525B2 (zh)
KR (1) KR101939843B1 (zh)
CN (1) CN102915065B (zh)
TW (1) TWI534581B (zh)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106444959A (zh) * 2015-08-07 2017-02-22 意法半导体 (Alps) 有限公司 电压源
CN107368141A (zh) * 2016-05-04 2017-11-21 英飞凌科技股份有限公司 具有快速反馈的调压器
CN112000166A (zh) * 2019-05-27 2020-11-27 艾普凌科有限公司 电压调节器
CN112346507A (zh) * 2019-08-09 2021-02-09 亚德诺半导体国际无限责任公司 电压发生器
US11550349B2 (en) 2018-10-31 2023-01-10 Rohm Co., Ltd. Linear power supply circuit

Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5715401B2 (ja) * 2010-12-09 2015-05-07 セイコーインスツル株式会社 ボルテージレギュレータ
DE102011087440A1 (de) * 2011-11-30 2013-01-31 Osram Ag Schaltung zur Ansteuerung einer Beleuchtungskomponente
EP2825928B1 (en) * 2012-03-16 2019-11-13 Intel Corporation A low-impedance reference voltage generator
JP2014164702A (ja) * 2013-02-27 2014-09-08 Seiko Instruments Inc ボルテージレギュレータ
US9488505B2 (en) * 2013-10-28 2016-11-08 Infineon Technologies Ag Circuit, method and sensor for obtaining information on a physical quantity
US9778067B2 (en) * 2015-04-02 2017-10-03 Infineon Technologies Ag Sensing a physical quantity in relation to a sensor
JP6632358B2 (ja) * 2015-12-11 2020-01-22 エイブリック株式会社 増幅回路及びボルテージレギュレータ
US11283436B2 (en) 2019-04-25 2022-03-22 Teradyne, Inc. Parallel path delay line
US10942220B2 (en) 2019-04-25 2021-03-09 Teradyne, Inc. Voltage driver with supply current stabilization
US11119155B2 (en) 2019-04-25 2021-09-14 Teradyne, Inc. Voltage driver circuit
JP2021144411A (ja) 2020-03-11 2021-09-24 キオクシア株式会社 半導体装置及びメモリシステム
EP3951551B1 (en) * 2020-08-07 2023-02-22 Scalinx Voltage regulator and method
US20230198394A1 (en) * 2021-12-17 2023-06-22 Qualcomm Incorporated Nonlinear current mirror for fast transient and low power regulator

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1320852A (zh) * 2000-03-31 2001-11-07 精工电子有限公司 稳压器
EP1439444A1 (en) * 2003-01-16 2004-07-21 Dialog Semiconductor GmbH Low drop out voltage regulator having a cascode structure
CN101075143A (zh) * 2006-05-17 2007-11-21 深圳安凯微电子技术有限公司 一种低压线性电压调节器
CN101227146A (zh) * 2006-12-08 2008-07-23 精工电子有限公司 电压调节器
CN101604174A (zh) * 2008-06-09 2009-12-16 精工电子有限公司 稳压器

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4181695B2 (ja) * 1999-07-09 2008-11-19 新日本無線株式会社 レギュレータ回路
JP4322360B2 (ja) * 1999-07-21 2009-08-26 エルピーダメモリ株式会社 電圧安定化回路およびそれを用いた半導体装置
TWI244582B (en) 2003-04-18 2005-12-01 Fujitsu Ltd Constant voltage power supply circuit
JP4029812B2 (ja) * 2003-09-08 2008-01-09 ソニー株式会社 定電圧電源回路
JP2006127225A (ja) * 2004-10-29 2006-05-18 Torex Device Co Ltd 電源回路
JP2008217677A (ja) * 2007-03-07 2008-09-18 Ricoh Co Ltd 定電圧回路及びその動作制御方法
JP5580608B2 (ja) * 2009-02-23 2014-08-27 セイコーインスツル株式会社 ボルテージレギュレータ
JP2010277192A (ja) * 2009-05-26 2010-12-09 Toshiba Corp 電圧レギュレータ
JP5715401B2 (ja) * 2010-12-09 2015-05-07 セイコーインスツル株式会社 ボルテージレギュレータ
JP5670773B2 (ja) * 2011-02-01 2015-02-18 セイコーインスツル株式会社 ボルテージレギュレータ

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1320852A (zh) * 2000-03-31 2001-11-07 精工电子有限公司 稳压器
EP1439444A1 (en) * 2003-01-16 2004-07-21 Dialog Semiconductor GmbH Low drop out voltage regulator having a cascode structure
CN101075143A (zh) * 2006-05-17 2007-11-21 深圳安凯微电子技术有限公司 一种低压线性电压调节器
CN101227146A (zh) * 2006-12-08 2008-07-23 精工电子有限公司 电压调节器
CN101604174A (zh) * 2008-06-09 2009-12-16 精工电子有限公司 稳压器

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106444959A (zh) * 2015-08-07 2017-02-22 意法半导体 (Alps) 有限公司 电压源
CN106444959B (zh) * 2015-08-07 2019-03-15 意法半导体 (Alps) 有限公司 电压源
CN109933121A (zh) * 2015-08-07 2019-06-25 意法半导体 (Alps) 有限公司 电压源
CN107368141A (zh) * 2016-05-04 2017-11-21 英飞凌科技股份有限公司 具有快速反馈的调压器
CN107368141B (zh) * 2016-05-04 2019-09-10 英飞凌科技股份有限公司 具有快速反馈的调压器
US11550349B2 (en) 2018-10-31 2023-01-10 Rohm Co., Ltd. Linear power supply circuit
CN112000166A (zh) * 2019-05-27 2020-11-27 艾普凌科有限公司 电压调节器
CN112000166B (zh) * 2019-05-27 2022-11-04 艾普凌科有限公司 电压调节器
CN112346507A (zh) * 2019-08-09 2021-02-09 亚德诺半导体国际无限责任公司 电压发生器
US11392155B2 (en) 2019-08-09 2022-07-19 Analog Devices International Unlimited Company Low power voltage generator circuit

Also Published As

Publication number Publication date
KR101939843B1 (ko) 2019-01-17
TWI534581B (zh) 2016-05-21
KR20130016083A (ko) 2013-02-14
TW201329666A (zh) 2013-07-16
US20130033247A1 (en) 2013-02-07
CN102915065B (zh) 2015-09-30
US8866457B2 (en) 2014-10-21
JP5715525B2 (ja) 2015-05-07
JP2013037469A (ja) 2013-02-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN102915065A (zh) 稳压器
US10481625B2 (en) Voltage regulator
US20190258283A1 (en) Low power regulator circuits, systems and methods regarding the same
CN100432886C (zh) 一种双环低压差线性稳压器电路
US9389620B2 (en) Apparatus and method for a voltage regulator with improved output voltage regulated loop biasing
JP6038516B2 (ja) ボルテージレギュレータ
CN101227146B (zh) 电压调节器
CN103105883A (zh) 具有负载检测电路及动态零点补偿电路的线性稳压器
CN111176358B (zh) 一种低功耗低压差线性稳压器
CN207488871U (zh) 一种采用新型缓冲器的cmos低压差线性稳压器
US9134740B2 (en) Low dropout regulator having differential circuit with X-configuration
CN103034275A (zh) 低噪声电压调节器和具有快速稳定和低功率消耗的方法
CN102566639B (zh) 电压调节器
CN103713682A (zh) 低压差线性稳压器
CN104777871A (zh) 一种低压差线性稳压器
CN104750148A (zh) 一种低压差线性稳压器
CN107092295A (zh) 一种高摆率快速瞬态响应ldo电路
CN102035484A (zh) 差动放大器
CN104467716A (zh) 一种输出共模电压恒定的全差分轨到轨放大器的设计
CN103472882A (zh) 集成摆率增强电路的低压差线性稳压器
US20150137858A1 (en) Buffer circuit
CN102043416A (zh) 低压差线性稳压器
CN204667241U (zh) 一种低压差线性稳压器
CN108268078B (zh) 一种低成本低功耗的低压差线性稳压器
US9847758B2 (en) Low noise amplifier

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
C41 Transfer of patent application or patent right or utility model
TR01 Transfer of patent right

Effective date of registration: 20160310

Address after: Chiba County, Japan

Patentee after: DynaFine Semiconductor Co.,Ltd.

Address before: Chiba, Chiba, Japan

Patentee before: Seiko Instruments Inc.

CP01 Change in the name or title of a patent holder

Address after: Chiba County, Japan

Patentee after: ABLIC Inc.

Address before: Chiba County, Japan

Patentee before: DynaFine Semiconductor Co.,Ltd.

CP01 Change in the name or title of a patent holder
CP02 Change in the address of a patent holder

Address after: Nagano

Patentee after: ABLIC Inc.

Address before: Chiba County, Japan

Patentee before: ABLIC Inc.

CP02 Change in the address of a patent holder