CN102479699A - 超级结半导体器件结构的制作方法 - Google Patents
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Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102779757A (zh) * | 2012-07-23 | 2012-11-14 | 上海宏力半导体制造有限公司 | 超结功率器件的形成方法 |
CN104112670A (zh) * | 2014-06-27 | 2014-10-22 | 杭州士兰集成电路有限公司 | 一种半导体器件及其制作方法 |
CN104576352A (zh) * | 2013-10-16 | 2015-04-29 | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 | 改善深沟槽化学机械研磨均一性的方法 |
WO2019086049A1 (zh) * | 2017-10-30 | 2019-05-09 | 全球能源互联网研究院有限公司 | 一种制备碳化硅超结二极管的方法 |
CN111244158A (zh) * | 2020-01-21 | 2020-06-05 | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 | 超级结器件及其制造方法 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20020130359A1 (en) * | 2001-03-19 | 2002-09-19 | Hideki Okumura | Semiconductor device and method of manufacturing the same |
US20060255402A1 (en) * | 2005-05-12 | 2006-11-16 | M-Mos Sdn. Bhd. | Elimination of gate oxide weak spot in deep trench |
CN101872724A (zh) * | 2009-04-24 | 2010-10-27 | 上海华虹Nec电子有限公司 | 超级结mosfet的制作方法 |
-
2010
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Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20020130359A1 (en) * | 2001-03-19 | 2002-09-19 | Hideki Okumura | Semiconductor device and method of manufacturing the same |
US20060255402A1 (en) * | 2005-05-12 | 2006-11-16 | M-Mos Sdn. Bhd. | Elimination of gate oxide weak spot in deep trench |
CN101872724A (zh) * | 2009-04-24 | 2010-10-27 | 上海华虹Nec电子有限公司 | 超级结mosfet的制作方法 |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102779757A (zh) * | 2012-07-23 | 2012-11-14 | 上海宏力半导体制造有限公司 | 超结功率器件的形成方法 |
CN102779757B (zh) * | 2012-07-23 | 2016-08-03 | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 | 超结功率器件的形成方法 |
CN104576352A (zh) * | 2013-10-16 | 2015-04-29 | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 | 改善深沟槽化学机械研磨均一性的方法 |
CN104576352B (zh) * | 2013-10-16 | 2017-10-24 | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 | 改善深沟槽化学机械研磨均一性的方法 |
CN104112670A (zh) * | 2014-06-27 | 2014-10-22 | 杭州士兰集成电路有限公司 | 一种半导体器件及其制作方法 |
WO2019086049A1 (zh) * | 2017-10-30 | 2019-05-09 | 全球能源互联网研究院有限公司 | 一种制备碳化硅超结二极管的方法 |
CN111244158A (zh) * | 2020-01-21 | 2020-06-05 | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 | 超级结器件及其制造方法 |
CN111244158B (zh) * | 2020-01-21 | 2023-10-20 | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 | 超级结器件及其制造方法 |
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