CN102208193A - 检测端头接触的系统和方法 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及检测端头接触的系统和方法。本发明的各种实施例提供了用于检测与存储介质接触的系统和方法。作为示例，公开了包括端头组件和数据处理电路的数据存储系统。所述端头包括可操作用于提供指示端头与相对端头设置的存储介质之间的接触的接触信号的端头盘界面传感器。所述数据处理电路可操作用于处理接触信号以产生对存储介质与端头之间的接触的指示。

Description

检测端头接触的系统和方法
技术领域
本发明涉及数据存储，并且更具体地涉及用于检测传感器与存储介质之间的接触的系统和方法。
背景技术
读通道集成电路是磁存储器件的元件。在操作中，读通道元件对数据进行转换及编码以使得读/写端头组件能够将数据写入盘以及随后能够将数据读取回来。例如，在硬盘驱动器中，盘典型地包括按照放射状图形围绕盘扩展的许多包含编码数据的轨道。每个轨道包括一个或多个用户数据区以及插入的伺服数据区。伺服数据区的信息被用来使读/写端头组件相对于盘定位，从而使得存储在用户数据区内的信息可以被准确地获取。
图1示出了具有两个由虚线指示的示例性轨道150、155的存储介质100。轨道由写在楔形区(wedge)160、165之内的伺服数据所隔离。这些楔形区包括数据以及用来在存储介质100上的期望位置之上控制和同步读/写端头组件的支持位图形110。特别地，这些楔形区一般地包括前同步码图形152，后面是扇区地址标记154(SAM)。扇区地址标记154之后是格雷码156，格雷码156之后是脉冲串信息158。应当注意，虽然示出了两个轨道和两个楔形区，但是在给定的存储介质上典型地包含有数百个轨道和数百个楔形区。此外，应当注意，伺服数据集可以具有两个或更多字段的脉冲串信息。在位图形110之间设置了用户数据区184。此类用户数据区184包括导致保持在用户数据区184内的数据的密度降低的各种开销和浪费的区域。
存储介质100的读取和写入使用相对于存储介质100布置的读/写端头组件(没有示出)来进行。有时由于在存储介质100的表面上的异常或者由于读/写端头组件的不当布置，读/写端头组件接触到存储介质100。这能够导致对存储介质100的表面和/或读/写端头组件的破坏。在接触没有被准确地检测到的情况下，随后可能重复同样的接触和/或数据可能被写到存储介质100的受损区域从而导致潜在的数据丢失。
因此，至少由于上述原因，在本领域中存在着对用于确定与存储介质的接触的先进系统和方法的需要。
发明内容
本发明涉及数据存储，并且更具体地涉及用于检测传感器与存储介质之间的接触的系统和方法。
本发明的多种实施例提供了包括读/写端头组件及数据处理电路的数据存储系统。读/写端头组件包括可操作用于提供指示读/写端头组件与相对于读/写端头组件布置的存储介质之间的接触的接触信号的端头盘界面(head disk interface)传感器。数据处理电路可操作用于处理接触信号以产生存储介质与读/写端头组件之间的接触指示。
在上述实施例的某些实例中，读/写端头组件还包括可操作用于传感保持在存储介质上的信息并提供与所传感信息对应的读信号的读端头。在某些这样的实例中，数据处理电路还可操作用于处理读信号以导出原先提供的存储在存储介质上数据。在特定的情形中，数据处理电路包括数据检测器电路和数据解码器电路。数据解码器电路可以是例如低密度奇偶校验的解码器电路。
在上述实施例的其他实例中，数据存储系统还包括前置放大器电路，该前置放大器电路接收接触信号和读信号这两种信号，并且选择接触信号或读信号之一以提供给数据处理电路。在某些这样的实例中，前置放大器可操作用于过滤和放大读信号。在各种实例中，前置放大器可操作用于过滤和放大接触信号。在此类实例的一个或多个中，前置放大器可操作用于过滤和放大读信号和接触信号中被选择的那种信号。在另外的此类实例中，前置放大器包括模拟多路复用器，其中该模拟多路复用器接收读信号和接触信号这两种信号，并且提供读信号和接触信号中被选择的那种信号。
本发明的其他实施例提供了用于数据处理的方法。所述方法包括提供具有读端头和端头盘界面传感器的读/写端头组件；以及接收来自读端头的读信号。读信号对应于存储在相对于读/写端头组件布置的存储介质上的信息。所述方法还包括接收来自端头盘界面的接触信号；选择接触信号来进行处理；将接触信号传送到数据处理电路；以及处理接触信号以确定读/写端头组件与存储介质之间的接触的发生。
在上述实施例的某些实例中，所述方法还包括选择读信号以进行处理；将读信号传送到数据处理电路；以及处理读信号以确定原先被导引写到存储介质的数据。在某些这样的实例中，所述方法还包括提供接收接触信号和读信号这两种信号的模拟多路复用器电路。在这样的情况下，选择读信号包括发布(assert)选择控制信号(selection control)使得读信号作为模拟多路复用器电路的输出来提供。
在上述实施例的各种实例中，确定读/写端头组件与存储介质之间的接触的发生包括确定接触信号是否超过了阈值。在其他实例中，所述方法还包括提供接收接触信号和读信号这两种信号的模拟多路复用器电路。在此类实例中，选择接触信号包括发布选择控制信号使得接触信号作为模拟多路复用器电路的输出来提供。
本发明的其他实施例提供了接触指示电路。此类电路包括：读/写端头组件，其包括可操作用于提供指示读/写端头组件与相对于读/写端头组件布置的存储介质之间的接触的接触信号的端头盘界面传感器；可操作用于传感保持在存储介质上的信息并提供与所传感信息对应的读信号的读端头；以及可操作用于处理接触信号和读信号中被选择的那种信号的数据处理电路，其中处理接触信号产生对存储介质与读/写端头组件之间的接触的指示，而处理读信号获得原先被导引到存储介质的数据。
本发明内容仅提供对本发明的某些实施例的一般性概括。本发明的许多其他目的、特征、优点以及其他实施例通过以下详细的描述、所附权利要求和附图将变得更加显而易见。
附图说明
对本发明的各种实施例的进一步理解可以通过参考在本说明书的剩余部分中描述的附图来实现。在附图中，始终使用相同的参考数字指示相同的元件。在某些实例中，由小写字母组成的子标签与参考数字关联以指示多个相似元件中的一个。当在没有指明现有子标签的情况下引用参考数字时，则意图指示所有这样的多个相似元件。
图1描绘了包括伺服数据的现有存储介质；
图2a描绘了根据本发明的一种或多种实施例的包括具有接触检测电路的读通道的存储器件；
图2b描绘了关于本发明的各种实施例可以使用的图2a的电路的子集；
图3a是跨图2a的电路的前置放大器、读通道和读/写端头组件分布的接触检测电路的框图；
图3b是跨图2a的电路的前置放大器、读通道和读/写端头组件分布的另一接触检测电路的框图；以及
图4是示出根据本发明的各种实施例使用读通道数据处理电路来处理端头接触传感器数据的方法的流程图。
具体实施方式
本发明涉及数据存储，并且更具体地涉及用于检测在传感器和存储介质之间的接触的系统和方法。
本发明的各种实施例提供了用于确定在端头和存储介质之间是否已经发生接触的系统和方法。端头包括端头盘界面和读端头。如在此所使用的，短语“端头盘界面”或“端头盘界面传感器”按照其最广泛的含义用于意指能够提供指示是否已经与传感器被并入其中的端头发生接触的接触信号的任意传感器。基于在此所提供的公开内容，本领域技术人员将会想到关于本发明的实施例可以使用的多种端头盘界面。如在此所使用的，术语“端头”按照其最广泛的含义用于意指包括可以相对于存储介质布置的一个或多个传感器的任意组件。例如，端头可以是包括用于从存储介质传感之前存储的信息的读端头的读端头组件。这种读端头提供了与从存储介质中传感出的信息对应的读信号。又如，端头可以是包括用于将数据写到存储介质的写端头以及用于从存储介质中传感出之前存储的信息的读端头的读/写端头组件。基于在此所提供的公开内容，本领域技术人员将会想到关于本发明的不同实施例可以使用的多种端头。
在某些实施例中，将接触信号而不是读信号提供给数据处理电路。数据处理电路被设计成处理所接收的读信号以恢复原先被导引写到存储介质的数据。当接触信号被提供给数据处理电路时，数据处理电路被用来确定接触信号是否指示在端头和存储介质之间已经发生接触。如在此所使用的，短语“数据处理电路”按照其最广泛的含义用于意指能够处理所接收信号的任意电路。在某些情况下，数据处理电路还被识别为能够处理读信号以恢复原先所写入的数据。例如，数据处理电路可以包括数据检测器电路和解码器电路。数据检测器电路可以是，但并不限定于，软输出Viterbi算法解码器电路。解码器电路可以是，但并不限定于，低密度奇偶校验(LDPC)解码器电路或Reed Solomon解码器电路。基于在此所提供的公开内容，本领域技术人员将会想到可以被设计用来处理来自端头盘界面和读端头的信息的多种数据处理电路。
转到图2a，其中示出了根据本发明的一种或多种实施例的包括具有接触检测电路的读通道210的存储系统200。存储系统200例如可以是硬盘驱动器。读通道210可以包括接触检测电路，所述接触检测电路相对于可从前置放大器270、读/写端头组件276和端头盘界面传感器偏压280中获得的信息运行。该接触检测电路的一种实现方式在下面关于图3进行讨论，并且一种用于操作该接触检测电路的方法在下面关于图4进行讨论。
除了读通道210之外，存储系统200还包括放大从读/写端头组件276中接收到的微小的电信号的前置放大器270。读/写端头组件276相对于盘片28进行设置。存储系统200还包括界面控制器(interface controller)220、硬盘控制器266、电动机控制器268及主轴电动机272。界面控制器220控制数据进/出盘片278的寻址和计时。在盘片278上的数据包括在读/写端头组件被适当定位于盘片278之上时可以由读/写端头组件276检测到的多组磁信号。在一种实施例中，盘片278包括根据垂直记录方案记录的磁信号。在本发明的其他实施例中，盘片278包括根据纵向记录方案记录的磁信号。
在典型的读操作中，读/写端头组件276由电动机控制器268准确地定位于盘片278上的所期望的数据轨道之上。电动机控制器268使读/写端头组件276相对于盘片278定位，并通过在硬盘控制器266的引导下将读/写端头组件276移动到盘片278上的适当数据轨道来驱动VCM。主轴电动机272使盘片278按确定的旋转速率(RPM)旋转。一旦读/写端头组件278被定位在适当的数据轨道附近，表示盘片278上的数据的磁信号就随着盘片278被主轴电动机272旋转而被读/写端头组件276所传感。所传感的磁信号作为表示盘片278上的磁数据的连续的、微小的模拟信号提供。该微小的模拟信号经由前置放大器270从读/写端头组件276传输到读通道210。前置放大器270可操作用于放大从盘片278中取出的微小的模拟信号。接下来，读通道210对所接收的模拟信号进行解码和数字化以重建原先写到盘片278的信息。该数据作为读数据203提供给接收电路。写操作基本上与上述读操作相反，其中将写入数据201提供给读通道模块210。该数据然后被编码并被写到盘片278。
在某些点，来自读/写端头组件276的读端头的被提供给读通道210的信息可以被来自读/写端头组件276的端头盘界面的信息所代替。该接触信息由读通道处理以确定在读/写端头组件276和盘片278之间是否已经发生接触。在指示接触的情况下，读通道210发布检测到接触事件的输出信号202。间歇地，可以在读端头与端头盘界面传感器之间进行切换以允许读通道210访问和处理来自盘片278的伺服数据。这种间歇的伺服数据访问使得能够识别读/写端头组件276相对于盘片278的位置。在可获得该位置信息的情况下，该位置信息可以作为检测到接触事件的输出202的一部分来提供，使得接收主机(没有示出)知道接触事件的发生和接触事件的位置。这允许接收主机描绘出(map)盘片278上的具体的问题区域，并且避免进一步使用所识别的位置。
图2b示出了图2a的电路的子集299。子集299包括在前置放大器270、端头盘界面传感器偏压280及读/写端头组件276之间的连接。如图所示，读/写端头组件276以识别为飞行高度281的距离保持在盘片278的上方。所保持的飞行高度281越小，则能够写到盘片278的位密度就越大并且从盘片278中读回的数据的信噪比就越高。因而，飞行高度278的距离直接影响到能够存储到盘片278的数据量。
读/写端头组件276包括写端头284、读端头286及端头盘界面传感器288。写端头284可以是本领域内已知的能够生成与经由电信号234接收到的信息图形对应的磁场的任意传感器。当紧密接近盘片278来生成磁场时，该磁场在盘片278上产生了基本上非易失性的图形，该图形可以在随后的时刻被传感。基于在此所提供的公开内容，本领域技术人员将会想到关于本发明的不同实施例可以使用的各种写传感器。读端头286可以是本领域内已知的能够传感盘片278上的磁图形并且将所传感的磁图形转换成对应的电信号236的任意传感器。因此，读端头286被用来传感或“读取”保持在盘片278上的数据。基于在此所提供的公开内容，本领域技术人员将会想到关于本发明的不同实施例可以使用的多种读取传感器。
端头盘界面传感器288可以是本领域内已知的任意传感器，其中所述传感器能够检测读/写端头组件276与盘片278之间发生接触，以及经由电信号238提供对任意检测到的接触的指示。该接触可以是仅在多次重复之后才会导致对盘片278和/或读/写端头组件276的损坏的轻接触，或者作为更显著的接触事件的重接触。由于在端头接触盘片278时端头温度显著提高，因而此类接触事件有时被称为“热粗糙(thermal asperity)”。端头盘界面传感器288可以位于同一组件中的写端头284和读端头286的附近。
作为一个示例，端头盘界面传感器288可以在其上施加有由端头盘界面传感器偏压280生成的直流偏压232的电阻而被建模。如果读/写端头组件276与盘片278接触，则动能被释放从而导致端头盘界面传感器288的基板温度的提高。该温度提高促使端头盘界面传感器288的电阻改变，从而改变端头盘界面传感器288上的电压降。端头盘界面传感器288的电阻变化可以增加或降低，这取决于传感器的温度系数的符号。同样，应当注意，电阻的变化可以通过监视端头盘界面传感器288上的电压降的变化或者经过端头盘界面传感器288的电流的变化来检测。基于在此所提供的公开内容，本领域技术人员将会想到关于本发明的不同实施例可以使用的多种端头盘界面传感器。例如，利用施加到电阻的低带宽电压以及传感电压或电流的变化的端头盘界面传感器288。
在某些情况下，电信号238包括代表通过端头盘界面传感器288的电流的电流。该电流可以被放大并且可以使所放大的电流通过前置放大器270中的参考电阻器(没有示出)以产生根据跨端头盘界面传感器288的电阻所承载的电压。参考电压被提供给前置放大器内的将参考电压与阈值电压进行比较的比较器(没有示出)。在参考电压超过阈值电压的情况下，前置放大器270将指示在读/写端头组件276与盘片278之间已经发生接触的信号提供给读通道210。该方法有利地将接触检测包含在前置放大器270之内。但是，该方法可能无法检测到与仅仅较轻微的接触对应的接触事件，这是因为参考电压可能没有超过阈值电压。
由于前置放大器270的芯片面积及功率消耗的约束和/或处理技术的约束，在读/写端头组件276之内可能不能实现更复杂的接触检测系统。在本发明的某些实施例中，可以修改前置放大器270以选择来自读端头286的电信号236或来自端头盘界面传感器288的电信号238进行放大并提供给读通道210。在这种情况下，包含于读通道210内的一般被用来处理所放大的电信号236以产生原先写到盘片278的数据的电路可以被用来处理所放大的电信号238以确定接触事件是否已经发生，以及接触事件的显著性。然而之前以其最简单的形式来描述的阈值检测方法仅产生对发生了接触事件的二值指示，读通道210的处理不仅提供了确定发生了接触事件的能力，而且提供了根据从电信号238中获得的值来量化接触事件的大小的能力。
在来自端头盘界面传感器288的电信号238与来自读端头286的电信号236之间的切换可以使用本领域内所已知的任意类型的开关来完成。开关可以经由到读/写端头组件276的外部输入来管理。该引脚可以在读通道210的处理之前或者在读通道210的处理之后根据读端头286的输出驱动。在操作期间，当处理从端头盘界面传感器288中获得的数据时，间歇地切换到对从读端头286中获得的数据的处理可能是处理盘片278上的伺服数据所希望的。这种对伺服数据的间歇处理使得能够识别读/写端头组件276相对于盘片278所设置的地方。在该位置信息可获得的情况下，由读通道210生成的任意接触信息可以被增大以包括与接触关联的位置信息。这种增大了位置的接触信息可以向上游提供给主机，所述主机可以描绘出发生接触的特别位置以避免将来使用该位置。这避免了由于使用盘片278的受损部分所导致的数据丢失的可能和/或降低了在所识别的位置再接触盘片278的可能。
转到图3a，其中示出了根据本发明的各种实施例的跨存储系统200的前置放大器、读通道和读/写端头组件分布的接触检测电路300的框图。接触检测电路300结合了包含于读/写端头组件276内的端头盘界面传感器288。另外，还包括了读端头286。端头盘传感器偏压280如之前所讨论的那样施加于端头盘界面传感器286。来自读端头276的电信号236被提供给作为前置放大器270的一部分而被结合的读前置放大器电路310。读前置放大器电路310可以是本领域内已知的能够接收来自读端头的电信号并使之放大以供下游的读通道使用的任意放大器电路。在本发明的一种特别的实施例中，读前置放大器电路310包括结合了高通滤波器的低噪声放大器，在高通滤波器后跟随着可编程的增益放大器。基于在此所提供的公开内容，本领域技术人员将会想到关于本发明的不同实施例可以用来接收和放大电信号232的其他电路。
来自端头盘界面传感器288的电信号238被提供给作为前置放大器270的一部分而被结合的端头盘界面传感器电路315。端头盘界面传感器电路315可以是本领域内已知的能够接收来自端头盘界面的电信号并使之放大以供下游的读通道使用的任意放大器电路。在本发明的一种特定的实施例中，端头盘界面传感器电路315包括结合了高通滤波器的低噪声放大器，在高通滤波器后跟随着可编程的增益放大器。基于在此所提供的公开内容，本领域技术人员将会想到关于本发明的不同实施例可以用来接收和放大电信号238的其他电路。
端头盘界面传感器电路315的输出被提供给模拟多路复用器320的输入B，而读前置放大器电路310的输出被提供给模拟多路复用器320的输入A。模拟多路复用器320的选择器输入(S)由HDI模式选择信号305来驱动。模拟多路复用器将所选择的端头盘界面传感器电路315的输出或读前置放大器电路310的输出提供给读前置放大器输出驱动器325。读前置放大器输出驱动器修改所收到的信号并且向对应的信号提供读通道210的信号处理电路335所需的特性。基于在此所提供的公开内容，本领域技术人员将会想到根据特定的设计特性可以代替读前置放大器输出驱动器325使用的多种驱动电路。
HDI模式选择信号305可响应于标准的读数据处理(即，处理从读端头286获得的数据)与接触数据处理(即，处理从端头盘界面传感器288获得的数据)之间的切换。在本发明的某些实施例中，HDI模式选择信号305由执行保持在计算机可读介质(没有示出)上的指令的处理器(没有示出)生成。在某些情况下，HDI模式选择信号305根据在读通道210的处理之前或者在读通道210的处理之后从读端头286获得的数据驱动。在其他情况下，HDI模式选择信号305由用户输入手动选择。在某些情况下，手动选择可以由上述处理器来驱动。基于在此所提供的公开内容，本领域技术人员将会想到可以用来控制HDI模式选择信号305的发布水平(assertion level)，并由此控制从模拟多路复用器320选择的输出的多种驱动器和/或驱动条件。
信号处理电路335可以是本领域内已知的任意信号处理电路，其中所述信号处理电路能够接收从读端头286获得的数据，通过处理伺服数据识别在存储介质上的位置，并且恢复原先由写电路写到盘片的数据。所恢复的原始数据作为读数据输出203来提供。在本发明的一种特定的实施例中，信号处理电路335可以包括本领域内已知的一种或多种数据检测器电路和/或本领域内已知的一种或多种解码器电路。基于在此所提供的公开内容，本领域技术人员将会想到关于本发明的不同实施例可以被用来实现信号处理电路的多种电路。
信号处理电路335是可重配置的，以处理从端头盘界面传感器288获得的数据。这包括确定所接收信号中的任意异常，相对于盘片识别异常的位置，以及报告接触事件(其中异常提示了这样的事件)。所识别的事件及其位置作为检测到接触事件的输出202来提供。该数据可以被提供给可操作用于绘出盘片上的问题区域的其他控制器或处理器。
转到图3b，其中示出了根据本发明的其他实施例的跨存储系统200的前置放大器、读通道和读/写端头组件分布的另一接触检测电路399的框图。接触检测电路399基本上类似于接触检测电路300，不同之处在于接触检测电路399使用读放大器电路310来修改从读端头286和端头盘界面传感器288获得的数据。这通过将读放大器电路310从模拟多路复用器320的输入侧移动到模拟多路复用器320的输出侧来实现。
转到图4，流程图400示出了根据本发明的各种实施例使用读通道数据处理电路来处理端头接触传感器数据的方法。按照流程图400，确定端头相对于盘片的位置是否是已知的(方框440)。在位置为未知的情况下(方框440)，则开始用于确定位置的处理。特别地，选择读数据处理(方框445)。这包括将从前置放大器电路提供的数据切换到从读/写端头组件的读端头获得的数据。从读端头中获得的该数据被提供给其中应用了标准的数据处理的数据处理电路。这包括检测和处理来自围绕盘片分布的伺服数据区的伺服数据(方框450)。这可以使用本领域内已知的用于检测和处理伺服数据的任意处理来完成。这种被处理的伺服数据提供了对读/写端头组件相对于盘片定位的位置指示。
在端头相对盘片的位置已知的情况下(方框440)或者在端头位置被重新确定的情况下(方框445、450)，确定是否选择了端头接触处理(方框405)。端头接触处理包括选择从读/写端头组件的端头盘界面获得的数据来代替从读端头获得的数据。因而，在选择端头接触处理的情况下(方框405)，来自端头盘界面传感器的数据由前置放大器导引至数据处理电路(方框410)。数据处理电路处理从端头盘界面传感器获得的数据(方框415)。该处理确定端头盘界面传感器的电压或电流输出的大小。该数据处理包括噪声降低处理和/或平均。基于在此所提供的公开内容，本领域技术人员将会想到可以用来处理从端头盘界面传感器获得的数据的多种方法。
然后确定所处理的数据是否超过了一个或多个阈值(方框420)。该阈值可以是可编程的并用来指示在读/写端头组件之间是否发生了接触，以及接触的大小。在检测到接触的情况下(方框420)，接触事件信号被发送给主机(方框425)并且识别所报告接触的位置的位置信息被提供给主机(方框430)。在这样的情况下，主机可以是，例如，可与计算机可读介质通信耦合的处理器。计算机可读介质包括由处理器执行以执行任务的指令。在一种情况下，所执行的任务可以包括绘出接触位置使得盘片上的该位置可以被避开。这能够限制接触事件发生的次数和/或避免数据丢失。在没有识别到接触事件的情况下(方框420)或者在接触信息已经被报告的情况下(方框425、430)，则报告处理。
作为选择，在端头接触处理没有被选择的情况下(方框405)，则处理读数据。这包括将从读/写端头组件的读端头获得的数据导引至数据处理电路(方框450)。这种来自读端头的数据由数据处理电路使用本领域内已知的方法来处理以恢复原先写到盘片的数据(方框455)。然后确定从读端头获得的数据是否与原先写入的数据一致(方框460)。在数据一致的情况下(方框460)，则将所恢复的读数据提供给请求主机(方框430)。作为选择，在数据不一致的情况下(方框460)，则发布数据错误(方框465)。
综上所述，本发明提供了用于检测与存储介质的接触的新系统、器件、方法、格式和布置。虽然在上面已经给出了对本发明的一种或多种实施例的详细描述，但是对本领域技术人员而言在没有脱离本发明的精神的情况下各种可选方案、修改及等同物将会是显而易见的。因此，以上描述不应当被看作是对本发明的范围的限定，本发明的范围由所附的权利要求来限定。

Claims (20)

1.一种数据存储系统，所述系统包括：
端头，包括可操作用于提供指示所述端头与相对读/写端头组件设置的存储介质之间的接触的接触信号的端头盘界面传感器；以及
可操作用于处理所述接触信号以产生对所述存储介质与所述读/写端头组件之间的接触的指示的数据处理电路。
2.根据权利要求1所述的数据存储系统，其中所述端头还包括可操作用于传感保持在所述存储介质上的信息并提供与所传感的信息对应的读信号的读端头。
3.根据权利要求2所述的数据存储系统，其中所述数据处理电路还可操作用于处理所述读信号以获得原先导引至所述存储介质的数据。
4.根据权利要求3所述的数据存储系统，其中所述数据处理电路包括数据检测器电路和数据解码器电路。
5.根据权利要求4所述的数据存储系统，其中所述数据解码器电路是低密度奇偶校验的解码器电路。
6.根据权利要求2所述的数据存储系统，其中所述数据存储系统还包括：前置放大器电路，其中所述前置放大器电路接收所述接触信号和所述读信号，并且选择所述接触信号或所述读信号之一以提供给所述数据处理电路。
7.根据权利要求6所述的数据存储系统，其中所述前置放大器可操作用于过滤和放大所述读信号。
8.根据权利要求6所述的数据存储系统，其中所述前置放大器可操作用于过滤和放大所述接触信号。
9.根据权利要求6所述的数据存储系统，其中所述前置放大器可操作用于过滤和放大所述读信号和所述接触信号中被选择的那种信号。
10.根据权利要求6所述的数据存储系统，其中所述前置放大器包括模拟多路复用器，所述模拟多路复用器接收所述读信号和所述接触信号，并且提供所述读信号和所述接触信号中被选择的那种信号。
11.一种用于数据处理的方法，所述方法包括：
提供具有读端头和端头盘界面传感器的端头；
接收来自所述读端头的读信号，其中所述读信号对应于存储在相对于所述端头布置的存储介质上的信息；
接收来自所述端头盘界面的接触信号；
选择所述接触信号以进行处理；
将所述接触信号传送到数据处理电路；以及
处理所述接触信号以确定所述端头与所述存储介质之间的接触的发生。
12.根据权利要求11所述的方法，其中所述方法还包括：
选择所述读信号以进行处理；
将所述读信号传送到所述数据处理电路；以及
处理所述读信号以确定原先被导引写到所述存储介质的数据。
13.根据权利要求12所述的方法，其中所述方法还包括：
提供模拟多路复用器电路，其中所述模拟多路复用器电路接收所述接触信号和所述读信号；以及
其中选择所述读信号包括发布选择控制信号使得所述读信号作为所述模拟多路复用器电路的输出来提供。
14.根据权利要求11所述的方法，其中确定所述端头与所述存储介质之间的接触的发生包括确定所述接触信号是否超过了阈值。
15.根据权利要求11所述的方法，其中所述方法还包括：
提供模拟多路复用器电路，其中所述模拟多路复用器电路接收所述接触信号和所述读信号；以及
其中选择所述接触信号包括发布选择控制信号使得所述接触信号作为所述模拟多路复用器电路的输出来提供。
16.一种接触指示电路，所述电路包括：
端头，包括：
可操作用于提供指示所述端头与相对所述端头设置的存储介质之间的接触的接触信号的端头盘界面传感器；以及
可操作用于传感保持在所述存储介质上的信息以及提供与所传感的信息对应的读信号的读端头；以及
数据处理电路，所述数据处理电路可操作用于处理所述接触信号和所述读信号中被选择的那种信号，其中处理所述接触信号以产生对所述存储介质与所述端头组件之间的接触的指示，而处理所述读信号以获得原先导引至所述存储介质的数据。
17.根据权利要求16所述的电路，其中所述数据处理电路包括数据检测器电路和数据解码器电路。
18.根据权利要求16所述的电路，其中所述电路还包括：
模拟多路复用器，可操作用于接收所述读信号和所述接触信号，并且至少部分基于选择器输入将所述读信号或所述接触信号之一作为输出提供给所述数据处理电路。
19.根据权利要求16所述的电路，其中所述电路还包括：
前置放大器电路，其中所述前置放大器电路接收所述接触信号和所述读信号，并且选择所述接触信号或所述读信号之一以提供给所述数据处理电路。
20.根据权利要求19所述的电路，其中所述前置放大器可操作用于过滤和放大所述接触信号。
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