CN102047377B

CN102047377B - 四极型质量分析装置

Info

Publication number: CN102047377B
Application number: CN2008801294791A
Authority: CN
Inventors: 向畑和男; 中野茂畅; 藤本穰
Original assignee: Shimadzu Corp
Current assignee: Shimadzu Corp
Priority date: 2008-05-26
Filing date: 2008-05-26
Publication date: 2013-04-17
Anticipated expiration: 2028-05-26
Also published as: EP2299471A1; US20110101221A1; EP2299471A4; JP4730482B2; WO2009144765A1; US9548193B2; EP2299471B1; JPWO2009144765A1; CN102047377A

Abstract

在重复进行对整个规定质量范围进行的质量扫描的扫描测量中，由于在使电压从一次扫描的结束电压恢复到下一次扫描的开始电压时发生下冲等而导致电压值变得不稳定，因此需要合适的等待时间。以往，该等待时间与分析条件无关而设为固定的值。与此相对地，在本发明所涉及的四极型质量分析装置中，根据所指定的质量范围计算扫描结束质量与扫描开始质量的质量差ΔM，根据该质量差设定不同的调节时间。在质量差ΔM较小而稳压时间较短即可的情况下，设定相对较小的调节时间。由此，质量扫描的重复周期变短，时间分辨率提高。

Description

四极型质量分析装置

技术领域

本发明涉及一种使用了四极型质量过滤器作为根据质量(严格地说是根据m/z)来分离离子的质量分析器的四极型质量分析装置。

背景技术

作为质量分析装置之一，已知一种在根据质量来分离离子的质量分析器中使用了四极质量过滤器的四极型质量分析装置。图6是普通的四极型质量分析装置的概要结构图。

在离子源1中将试样分子离子化，所产生的离子被离子透镜等离子输送光学系统2聚集(有时也被加速)，并导入到四极质量过滤器3的长轴方向的空间中。四极质量过滤器3由围绕离子光轴C平行配置的4个(图6中仅描绘了2个)杆电极构成。对各杆电极分别施加将直流电压±U与高频电压±V·cosωt相加得到的电压±(U+V·cosωt)，根据该施加电压仅选择性地使具有特定质量的离子穿过长轴方向的空间，除此以外的离子在中途发散。检测器4输出与穿过了四极质量过滤器3的离子的量相应的电信号。

如上所述，由于通过四极质量过滤器3的离子的质量与对杆电极施加的施加电压相应地改变，因此通过扫描该施加电压，能够扫描整个规定质量范围内的要到达检测器4的离子的质量。这就是四极型质量分析装置中的扫描测量。例如气相色谱质量分析装置(GC/MS)、液相色谱质量分析装置(LC/MS)等那样，在导入到质量分析装置中的试样成分随着时间的经过而发生变化的情况下，通过重复进行上述扫描测量，能够大致连续地检测依次出现的各种成分。图7是概要性地表示在重复进行扫描测量时到达检测器4的离子的质量变化的图。

在这样的扫描测量中，使对杆电极施加的施加电压从与最小质量M1相对应的电压开始慢慢地增加，当达到与最大质量M2相对应的电压时，使电压迅速返回到与最小质量M1相对应的电压。当这样急剧地改变电压时，无法避免过冲(overshoot)(undershoot：下冲)的产生，因此在改变电压之后直到电压稳定为止需要等待时间(setting time：调节时间)。

例如，在专利文献1中记载了在选择离子监控(SIM)测量中设置调节时间是不可避免的，这在扫描测量中也是相同的。由此，如图7所示，按每一次的质量扫描设置调节时间。在该调节时间的期间内，不对导入到离子源1的成分实施质量分析。因而，调节时间越长质量扫描的时间间隔越长，也就是说，质量扫描的周期变长，从而时间分辨率下降。

另外，通常，在质量分析装置中，当用户指定想要观察的质量范围(图7的例子中是M1～M2)时，制作该范围的质谱，但是作为装置的内部动作，对与所指定的质量范围相比上下扩展了规定宽度后的质量范围执行质量扫描。即，即使在指定了M1～M2的质量范围的情况下，也是以M1-ΔM1为质量扫描的起点、以M2+ΔM2为质量扫描的终点来执行质量扫描。这是因为最初的目标离子从入射到四极质量过滤器起直到射出为止要花费时间，因此导致在目标离子出射之前残留在四极质量过滤器3内部的不期望的离子到达检测器4，从而无法获得正确的信号强度。列举一例，在想要观察的质量范围是m/z为100～1000的情况下，对在该质量范围的上下分别确保了m/z为10的扫描余量的、m/z为90～1010的质量范围执行扫描。

这样，设置在制作质谱所需要的质量范围的外侧的用于稳定地进行测量的扫描余量的期间也与上述调节时间同样地，对于实质的质量分析来说是无用的期间。因而，为了提高分析的时间分辨率，最好也尽可能地缩小该扫描余量宽度。

专利文献1：日本特开2000-195464号公报

发明内容

发明要解决的问题

本发明是鉴于上述问题而完成的，其主要目的在于提供如下一种四极型质量分析装置：在重复进行规定质量范围内的质量扫描的情况下或者在重复进行依次设定规定的多个质量的情况下，通过尽可能地缩短对于实质的质量分析来说无用的时间，来缩短重复周期，从而提高时间分辨率。

用于解决问题的方案

为了解决上述问题而完成的第一发明是一种四极型质量分析装置，具备四极质量过滤器和检测器，上述四极质量过滤器选择性地使具有特定质量的离子通过，上述检测器对通过了该四极质量过滤器的离子进行检测，该四极型质量分析装置执行扫描测量或者执行使依次设定多个质量的周期重复的测量，在该扫描测量中使在规定的质量范围的整个范围内扫描要通过上述四极质量过滤器的离子的质量的周期重复，该四极型质量分析装置的特征在于，具备：a)四极驱动单元，其对构成上述四极质量过滤器的各电极施加规定的电压；以及b)控制单元，在进行扫描测量或者进行使依次设定多个质量的周期重复的测量时，该控制单元在控制上述四极驱动单元以与质量相应地扫描或者改变对构成上述四极质量过滤器的各电极施加的施加电压的情况下，根据周期的开始质量与结束质量之间的质量差来改变从一个周期的结束起到下一周期的开始为止的等待时间。

在此，作为使依次设定多个质量的周期重复的测量，例如列举选择离子监控(SIM)测量、选择性更高的利用MS/MS分析的MRM测量等。

在以往的四极型质量分析装置中，与扫描测量时的质量范围等分析条件无关地，从一次质量扫描的结束时刻起到下一次质量扫描的开始时刻为止的等待时间是固定的。与此相对地，在第一发明所涉及的四极型质量分析装置中，控制单元进行控制使得在扫描测量中，扫描开始质量与扫描结束质量之差越小，等待时间(调节时间)越短。

如果扫描开始质量与扫描结束质量之差较小，则对构成四极质量过滤器的电极施加的施加电压恢复到与扫描开始质量相对应的电压时的过冲(下冲)相对较小，直到电压稳定为止的时间较短。因而，即使缩短上述等待时间，也能够从电压足够稳定的状态开始下一次的质量扫描。由此，对收集质量分析数据不作贡献的无用的等待时间变短，能够缩短扫描测量中的质量扫描的重复周期。这不仅适用于广泛地扫描规定的质量范围的扫描测量，也同样适用于在一个周期中设定的质量数量非常少的SIM测量、MRM测量。

为了解决上述问题而完成的第二发明是四极型质量分析装置，具备四极质量过滤器和检测器，上述四极质量过滤器选择性地使具有特定质量的离子通过，上述检测器对通过了该四极质量过滤器的离子进行检测，该四极型质量分析装置执行扫描测量，在该扫描测量中使在规定的质量范围的整个范围内扫描要通过上述四极质量过滤器的离子的质量的周期重复，该四极型质量分析装置的特征在于，具备：a)四极驱动单元，其对构成上述四极质量过滤器的各电极施加规定的电压；以及b)控制单元，在进行扫描测量时，该控制单元设定针对所指定的质量范围的位于该范围之上和之下的至少一方的扫描余量，控制上述四极驱动单元以扫描对构成上述四极质量过滤器的各电极施加的施加电压来对增加了与该扫描余量相应的量的质量范围进行扫描，并且该控制单元根据扫描速度改变上述扫描余量的质量宽度。

在以往的四极型质量分析装置中，与上述等待时间(调节时间)同样地，与扫描速度等条件无关地，扫描余量的质量宽度(以下称为扫描余量宽度)也是固定的。与此相对地，在第二发明所涉及的四极型质量分析装置中，控制单元进行设定使得所指定的扫描速度越小(慢)，扫描余量宽度越短。扫描速度越小，对于同一扫描余量宽度的扫描时间越长。换言之，在扫描速度较小的情况下，即使减小扫描余量宽度，也能够确保与扫描速度较大且扫描余量宽度较大的情况相同程度的时间余裕。在该时间余裕的期间，能够排除残留在四极质量过滤器内部的不需要的离子而使最初的目标离子通过四极质量过滤器。

这样，相对于以往的在扫描速度较小的情况下也设定过大的时间余裕，在第二发明所涉及的四极型质量分析装置中，通过削减这种过大的时间余裕，能够缩短质量扫描的重复周期。

另外，即使扫描速度相同，质量扫描范围越向高质量区域移动，所需要的扫描余量宽度越大。这是因为越是大质量的离子，在四极质量过滤器内部的飞行速度越慢，最初的目标离子从入射到四极质量过滤器起到射出为止的时间越长。因而，在第二发明所涉及的四极型质量分析装置中，较为理想的是，控制单元还根据扫描开始质量改变扫描余量的质量宽度。具体地说，能够设为扫描开始质量越小扫描余量的质量宽度越小。

另外，离子通过四极质量过滤器所需要的时间还依赖于该离子被导入到四极质量过滤器的时刻所具有的动能，动能越大，通过的时间越短。因此，较为理想的是，上述控制单元还根据被导入到四极质量过滤器的离子的加速电压来改变扫描余量的质量宽度。具体地说，能够设为加速电压越大扫描余量的质量宽度越小。

在四极质量过滤器的前级具备用于输送离子的离子透镜等离子输送光学系统的结构中，上述加速电压相当于离子输送光学系统与四极质量过滤器之间的直流电位差。因而，在对离子输送光学系统施加的直流偏置电压固定的情况下，只要根据对四极质量过滤器施加的直流偏置电压(与离子的质量选择用电压不同的直流电压)来改变扫描余量的质量宽度即可。

发明的效果

根据第一发明所涉及的四极型质量分析装置，在扫描测量、SIM测量、MRM测量中，在相邻的周期之间改变对四极质量过滤器施加的施加电压时，能够缩短超过所需时间的无用的等待时间。由此，例如即使扫描速度相同，也能够缩短质量扫描的重复周期，通过缩短无法得到质量分析数据的所谓的无用时间，能够提高时间分辨率。

根据第二发明所涉及的四极型质量分析装置，在进行扫描测量时能够缩短设定在质量范围外的用于使测量稳定的扫描余量的质量宽度。由此，例如在扫描速度较小或者是质量范围中质量相对较低的区域的情况下，能够缩短质量扫描的重复周期，通过缩短无法得到质量分析数据的所谓的无用时间，能够提高数据分辨率。

附图说明

图1是作为本发明的一个实施例的四极型质量分析装置的主要部分的结构图。

图2是表示扫描测量时的质量变化的状态的图。

图3是表示扫描测量中的扫描开始质量与扫描结束质量之间的质量差和所需的稳压时间的关系的实测结果的图。

图4是表示SIM测量时的质量变化的状态的图。

图5是表示扫描速度与扫描开始质量以及扫描余量宽度之间的关系的实测结果的图。

图6是普通的四极型质量分析装置的以离子光学系统为中心的概要结构图。

图7是概要性地表示扫描测量中的质量变化的状态的图。

附图标记说明

1：离子源；2：离子输送光学系统；3：四极质量过滤器；3a、3b、3c、3d：杆电极；4：检测器；10：控制部；101：调节时间决定部；102：扫描余量宽度决定部；11：输入部；12：电压控制数据存储部；13：离子选择用电压产生部；15：高频电压产生部；16：直流电压产生部；17：高频/直流加法部；18：偏置电压产生部；19、20：偏置电压加法部；21：离子光学系统电压产生部。

具体实施方式

参照附图来说明作为本发明的一个实施例的四极型质量分析装置。图1是本实施例的四极型质量分析装置的主要部分的结构图。对与已经说明的图6相同的结构要素附加了相同的附图标记。本实施例的四极型质量分析装置是将气体状的试样导入到离子源1中的装置，能够在质量分析装置的前级连接气相色谱仪。在设为对液体状的试样进行分析的结构的情况下，作为离子源1，使用电喷雾离子源等大气压离子源，为了将该离子源1设为大致大气压环境并将四极质量过滤器3、检测器4配置在高真空环境中，只要设为多级差动排气系统的结构即可。在这种情况下，能够在质量分析装置的前级连接液相色谱仪。

在本实施例的四极型质量分析装置中，在未图示的真空室的内部如上述那样配置有离子源1、离子输送光学系统2、四极质量过滤器3以及检测器4。四极质量过滤器3具备被配置成与以离子光轴C为中心的规定半径的圆筒相内切的四个杆电极3a、3b、3c、3d。该四个杆电极3a、3b、3c、3d中的夹着离子光轴C而相对的两个杆电极、即杆电极3a与3c、杆电极3b与3d分别连接。作为对该四个杆电极3a、3b、3c、3d施加电压的单元的四极驱动单元是离子选择用电压产生部13、偏置电压产生部18、偏置电压加法部19、20。离子选择用电压产生部13包括直流(DC)电压产生部16、高频(RF)电压产生部15、高频/直流(RF/DC)加法部17。

离子光学系统电压产生部21对四极质量过滤器3的前级的离子输送光学系统2施加直流电压Vdc1。控制部10对离子光学系统电压产生部21、离子选择用电压产生部13、偏置电压产生部18等的动作进行控制，为了进行该控制而与电压控制数据存储部12连接。另外，控制部10还与由操作者进行操作的输入部11连接。此外，控制部10以包括CPU、存储器等的计算机为中心来实现其功能。

在离子选择用电压产生部13中，直流电压产生部16在控制部10的控制下产生极性互不相同的直流电压±U。高频电压产生部15同样地在控制部10的控制下产生相位相差180°的高频电压±V·cosωt。高频/直流加法部17将直流电压±U与高频电压±V·cosωt相加，产生U+V·cosωt和-(U+V·cosωt)的两个系统的电压。这就是控制要通过的离子的质量(严格地说是m/z)的离子选择用电压。

偏置电压产生部18为了在四极质量过滤器3的前侧形成将离子高效地导入到四极质量过滤器3的长轴方向的空间的直流电场，而生成要对各杆电极3a～3d施加的、与对离子输送光学系统2施加的直流电压Vdc1之间具有适当的电压差的共用的直流偏置电压Vdc2。偏置电压加法部19将离子选择用电压U+V·cosωt与直流偏置电压Vdc2相加，将所形成的电压Vdc2+U+V·cosωt施加给杆电极3a、3c，偏置电压加法部20将离子选择用电压-(U+V·cosωt)与直流偏置电压Vdc2相加，将所形成的电压Vdc2-(U+V·cosωt)施加给杆电极3b、3d。此外，能够通过使用标准试样等进行的自动调整来对直流偏置电压Vcd1、Vcd2设定最佳的值。

本实施例的四极型质量分析装置执行如下的扫描测量：通过扫描对四极质量过滤器3的各杆电极3a～3d施加的电压(具体地说是直流电压U和高频电压的振幅V)，来重复进行由用户设定的整个质量范围的质量扫描。在进行该扫描测量时，执行独特的电压控制。以下说明该控制动作。

在扫描测量中，如图2的(a)所示那样使施加电压从与扫描开始质量M1相对应的电压开始慢慢地增加，当达到与扫描结束质量M2相对应的电压时，使施加电压迅速返回到与扫描开始质量M1相对应的电压。这就是一次质量扫描、即一个周期。当使电压急剧降低时发生下冲，直到电压值平稳为止需要某种程度的时间。因此，进行等待直到电压稳定为止，然后开始用于下一次质量扫描的电压扫描、即下一个周期。发生下冲之前的电压变化量、即扫描结束电压与扫描开始电压之间的电压差越大，下冲量越大。因而，扫描结束质量M2与扫描开始质量M1之间的质量差ΔM越大，到电压稳定为止的时间(稳压时间)越长。

图3是通过实测来调查质量差ΔM与稳压时间之间的关系而得到的结果的图。根据该结果可知，例如在质量差ΔM为2000[u]的情况下需要5[msec]的稳压时间，与此相对，在质量差ΔM为200[u]的情况下，0.5[msec]的稳压时间就已足够。在以往的四极型质量分析装置中，与该质量差ΔM无关地，考虑最大的稳压时间来设定固定的调节时间。因此，例如如果是5[msec]的调节时间，则在质量差ΔM为200[u]的情况下浪费了4.5[msec]的时间。图3中用斜线示出的三角形的区域相当于以往浪费的时间。此处所说的“浪费的时间”是指尽管电压已经稳定但不开始下一次质量扫描而仍然待机的时间。

在本实施例的四极型质量分析装置中，为了尽可能地减少上述浪费的时间，而根据质量差ΔM改变直到开始下一次质量扫描为止的等待时间(即，调节时间)的长度。因此，控制部10所包含的调节时间决定部101预先存储有用于根据质量差ΔM导出合适的调节时间的信息。该信息例如是能描绘出表示如图3所示那样的稳压时间与质量差ΔM之间的关系的直线的计算式、表等。

在实施扫描测量时，在实施该扫描测量之前，用户从输入部11设定包含质量范围、扫描速度等的分析条件。这样，在控制部10中，调节时间决定部101根据所指定的质量范围计算质量差ΔM，使用上述调节时间导出用信息求出与该质量差ΔM相对应的调节时间。由此，质量差ΔM越大，调节时间被设定得越长。控制部10在重复进行对整个所指定的质量范围进行的质量扫描时，将一次质量扫描结束起到下一次质量扫描开始为止的等待时间设定为由调节时间决定部101决定的调节时间。其结果是如图2的(b)所示，在质量差ΔM较小的情况下，调节时间t2变短，质量扫描的周期实质上变短。该调节时间的期间是无法获取质量分析数据的期间，通过缩短该期间能够提高时间分辨率。

并且，在本实施例的四极型质量分析装置中，根据分析条件，除了变更调节时间以外，也变更质量扫描时的扫描余量宽度ΔMs。如图2的(c)所示，扫描余量宽度ΔMs是指所指定的扫描开始质量Ms与实际开始质量扫描的质量之间的质量差。理想情况下该扫描余量宽度ΔMs是零，但是实际上为了在质量扫描开始之前消除残留在四极质量过滤器3内的不需要的离子的影响，需要设定某种程度的扫描余量宽度ΔMs。在这种情况下，从Ms-ΔMs开始进行质量扫描，但是在直到成为Ms为止的期间所获取的数据没有可靠性，因此被废弃，在质谱中实际反映的是质量Ms以上的数据。此外，不仅扫描开始质量Ms以下的范围，在扫描结束质量Me以上的范围中也同样地设定扫描余量。

图5是通过实测调查扫描速度与扫描开始质量以及扫描余量宽度ΔMs之间的关系得到的结果的图。这是在如下情况下得到的结果：在设定了不同的扫描速度的状态下，分别改变扫描开始质量和扫描余量宽度并观察信号强度的变化来调查能够得到具有可靠性的信号强度的扫描余量宽度。由此可知，在扫描速度较慢例如为1000[Da/sec]的情况下，可以使扫描余量宽度ΔMs非常小。与此相对地，在扫描速度较快例如为15000[Da/sec]的情况下，需要将扫描余量宽度ΔMs也设得较大。这是因为即使是相同的扫描余量宽度ΔMs，扫描速度越快，相应的时间越短。另外，当扫描开始质量较大时，需要将扫描余量宽度ΔMs设得较大。这是因为离子的质量越大，穿过四极质量过滤器3所需要的时间越长。作为一例，扫描速度为15000[Da/sec]、扫描开始质量为1048[u]的情况下，需要将扫描余量宽度ΔMs设为3[u]。也就是说，即使质谱的下端质量是1048，实际上也需要从m/z 1045开始进行质量扫描。

图5是离子的加速电压、即对四极质量过滤器3施加的直流偏置电压Vdc2与对离子输送光学系统2施加的直流偏置电压Vdc1之间的电压差固定的条件下的结果，但是从实验中能够确认出所需的扫描余量宽度ΔMs也依赖于离子加速电压。即，用下式求出扫描余量宽度ΔMs。

ΔMs＝k×[扫描速度]×[m/z值]^1/2

在此，k是由离子的加速电压决定的常数，加速电压越大，常数k越小。此外，常数k还依赖于四极质量过滤器3的杆电极3a～3d的长度，但是由于该长度不是由用户设定的分析条件，因此不重要。

在以往的四极型质量分析装置中，扫描余量宽度ΔMs也与上述调节时间同样地，被设定为考虑了最差条件的固定值。因此，在扫描速度较慢或扫描开始质量较小的情况等时，扫描余量宽度过大，可以说扫描该质量范围的时间的一部分是上述的“浪费的时间”。与此相对地，在本实施例的四极型质量分析装置中，根据扫描速度、扫描开始质量以及离子加速电压改变扫描余量宽度ΔMs。因此，控制部10所包含的扫描余量宽度决定部102预先存储有用于根据扫描速度、扫描开始质量以及离子加速电压导出合适的扫描余量宽度ΔMs的信息。该信息例如是描绘出如图5所示那样的表示扫描速度与扫描开始质量以及扫描余量宽度之间的关系的直线的计算式、表等。并且，按决定离子的加速电压的每个偏置直流电压准备不同的计算式、表。

在实施扫描测量时，当用户设定包含质量范围、扫描速度等的分析条件时，控制部10中的扫描余量宽度决定部102使用上述的扫描余量宽度导出用信息来求出与所指定的扫描速度、扫描开始质量以及由偏置直流电压Vdc1、Vdc2决定的加速电压相对应的扫描余量宽度ΔMs。偏置直流电压Vdc1、Vdc2并不依赖于由用户设定的分析条件，通常被决定为使离子强度最大而自动执行的调整的结果。

由此，扫描速度越大，并且扫描开始质量越大，扫描余量宽度被设定得越长。控制部10在重复进行对所指定的例如M3～M4的整个质量范围进行的质量扫描时，根据由扫描余量宽度决定部102决定的扫描余量宽度ΔMs，将实际的质量扫描范围确定为M3-ΔMs～M4+ΔMs。在扫描速度较小(较慢)或者扫描开始质量较小的情况下，扫描余量宽度相对变小，因此质量扫描的重复周期实质上变短。该扫描余量宽度的期间是无法获取有效的质量分析数据的期间，通过缩短该扫描余量宽度能够提高时间分辨率。

此外，在上述说明中记述了执行扫描测量的情况，但是如图4所示那样，即使在重复执行对预先指定的多个质量依次进行质量分析的SIM测量的情况下或者在MS/MS分析中重复执行MRM测量的情况下，如上述那样根据质量差ΔM改变调节时间的长度当然也是有效的。

另外，在上述实施例中，对于质量扫描，以从低质量向高质量方向进行扫描的情形为前提，这是通常的情况，但是也可以相反地从高质量向低质量方向进行扫描。在这种情况下，也能够直接利用上述技术。

另外，上述实施例是本发明的一例，在本发明的宗旨的范围内适当进行的变形、追加、修改当然也包含在本申请的权利要求范围中。

Claims

1.一种四极型质量分析装置，具备四极质量过滤器和检测器，上述四极质量过滤器选择性地使具有特定质量的离子通过，上述检测器对通过了该四极质量过滤器的离子进行检测，该四极型质量分析装置执行扫描测量，在该扫描测量中使在规定的质量范围的整个范围内扫描要通过上述四极质量过滤器的离子的质量的周期重复，该四极型质量分析装置的特征在于，还具备：

a)四极驱动单元，其对构成上述四极质量过滤器的各电极施加规定的电压；以及

b)控制单元，在进行扫描测量时，该控制单元设定针对所指定的质量范围的位于该范围之上和之下的至少一方的扫描余量，控制上述四极驱动单元以扫描对构成上述四极质量过滤器的各电极施加的施加电压来对增加了与该扫描余量相应的量的质量范围进行扫描，并且该控制单元根据扫描速度改变上述扫描余量的质量宽度。

2.根据权利要求1所述的四极型质量分析装置，其特征在于，

扫描速度越小，上述控制单元使上述扫描余量的质量宽度越小。

3.根据权利要求1或2所述的四极型质量分析装置，其特征在于，

上述控制单元还根据扫描开始质量改变上述扫描余量的质量宽度。

4.根据权利要求3所述的四极型质量分析装置，其特征在于，

上述控制单元还根据被导入到上述四极质量过滤器的离子的加速电压来改变上述扫描余量的质量宽度。