WO2023148887A1 - 質量分析装置 - Google Patents

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一真 前田
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株式会社島津製作所
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    • H—ELECTRICITY
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    • H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/02—Details
    • H01J49/04—Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components

Definitions

  • the present invention relates to mass spectrometers.
  • a quadrupole mass spectrometer generally has a scan measurement mode and a SIM (Selected Ion Monitoring) measurement mode as measurement modes.
  • a scan measurement mode by sequentially changing the m/z value of ions to be measured over a predetermined mass-to-charge ratio (m/z) range, ions included in that m/z range are comprehensively measured.
  • m/z mass-to-charge ratio
  • SIM measurement mode only ions with specified specific m/z values are selectively measured.
  • scan measurement modes such as product ion scan measurement mode, precursor ion scan measurement mode, neutral loss scan measurement mode, MRM ( Multi Reaction Monitoring) measurement mode is provided.
  • the m/z value of the precursor ion is fixed, and the m/z value of the product ion is measured while changing within a predetermined m/z range.
  • the m/z value of product ions is fixed, and measurement is performed while changing the m/z value of precursor ions within a predetermined m/z range.
  • the difference between the precursor ion m/z value and the product ion m/z value (that is, the neutral loss) is kept constant while the m/z value of the precursor ion and the m/z value of the product ion are Measurement is performed while changing the z value within a predetermined m/z range.
  • the MRM measurement mode product ions with specific m/z values generated by dissociating precursor ions with specified specific m/z values are selectively measured.
  • scan measurement maintains a predetermined relationship between the RF (Radio Frequency) voltage applied to the quadrupole mass filter and the DC voltage. Measurements are made over a wide m/z range while changing both at high speed. The speed at which the m/z value of the object to be measured changes in response to this voltage change is called the scan speed, and is expressed in units of u/sec.
  • RF Radio Frequency
  • the faster the scan speed the narrower the time interval between the sample points that make up the chromatogram. Improves waveform accuracy. Thereby, the accuracy of the retention time and peak area value corresponding to the peak top is enhanced.
  • the faster the scan speed the lower the quality of the mass spectrum (see Patent Document 1, etc.), and the lower the accuracy of the mass peak m/z value in the centroided mass spectrum. For this reason, the scan speed is one of the important performances of a mass spectrometer, and the maximum value of the scan speed is determined depending on the device (model).
  • event time is directly or indirectly set as one of the analysis conditions.
  • the case where the event time is indirectly set means that the loop time corresponding to the time interval (that is, the sampling period) of the sampling points forming the chromatogram is analyzed, as disclosed in Patent Document 2, for example.
  • the event time is automatically derived according to the number of events to be executed during the loop time.
  • the optimum, usually slowest, scan speed within the range not exceeding this event time is determined by the control software or firmware of the mass spectrometer at a plurality of pre-prepared discrete values. selected from various scan speeds. In this manner, the conventional mass spectrometer automatically sets the optimum scan speed according to the event time of the event in which scan measurement is performed.
  • the present invention has been made to solve these problems, and its object is to eliminate as much as possible the time during which no measurement is substantially performed, thereby achieving more efficient mass spectrometry with high analytical performance. It is to provide a device.
  • One aspect of the mass spectrometer according to the present invention is a mass spectrometer capable of performing scan measurement, a provisional event time determination unit that determines a provisional event time to be assigned to a scan measurement event, which is a measurement unit for performing one scan measurement, according to analysis conditions specified by a user; a scan speed selection unit that selects from a plurality of candidates a scan speed such that the measurement time required for one scan measurement does not exceed the tentative event time of the scan measurement event; an event time determination unit that corrects the tentative event time of the scan measurement event to the time required for scan measurement under the scan speed selected by the scan speed selection unit, and determines the event time of the scan measurement event; a control information creation unit that creates control information for controlling the device based on the event time determined by the event time determination unit; Prepare.
  • the duration of the scan measurement performed in a scan measurement event is often shorter than the event time assigned to that scan measurement event, so near the end of each scan measurement event This can result in wasted time without data acquisition.
  • the event time of the scan measurement event is shortened in accordance with the time required for scan measurement under the adopted scan speed.
  • FIG. 1 is a configuration diagram of a main part of an LC-MS, which is an embodiment of a mass spectrometer according to the present invention
  • 4 is a flow chart showing an example of an analysis sequence creation procedure and processing in the LC-MS of the present embodiment.
  • FIG. 3 is a schematic explanatory diagram of the procedure for creating the analysis sequence shown in FIG. 2; Schematic diagram showing an example of event settings.
  • FIG. 1 is a configuration diagram of the main part of the LC-MS of this embodiment.
  • This LC-MS includes a liquid chromatograph (LC) 1 and a mass spectrometer (MS) 2, which are measurement units, a control/processing unit 3, an input unit 5, and a display unit 6.
  • LC liquid chromatograph
  • MS mass spectrometer
  • the LC unit 1 includes a mobile phase container 10, a liquid feed pump 11 for sucking and feeding the mobile phase, an injector 12 for injecting a sample into the mobile phase, and components (compounds) contained in the sample in the time direction. and a separating column 13 .
  • the MS section 2 is a triple quadrupole mass spectrometer, and includes an ionization chamber 201 having a substantially atmospheric pressure atmosphere and a vacuum chamber 200 whose interior is partitioned into three. A first intermediate vacuum chamber 202, a second intermediate vacuum chamber 203, and a high vacuum chamber 204 are provided in the vacuum chamber 200. Vacuum pumps (turbo-molecular pump and It is evacuated by a rotary pump). That is, this MS section 2 has a configuration of a multi-stage differential exhaust system.
  • An electrospray ionization (ESI) probe 20 to which an eluate is supplied from the outlet of the column 13 is arranged in the ionization chamber 201 .
  • the ionization chamber 201 and the first intermediate vacuum chamber 202 are communicated with each other through a thin desolvation tube 21 .
  • the first intermediate vacuum chamber 202 and the second intermediate vacuum chamber 203 communicate through an orifice formed at the top of the skimmer 23, and multiple Polar ion guides 22, 24 are arranged.
  • a front quadrupole mass filter 25 In the high vacuum chamber 204, along the ion optical axis, there are a front quadrupole mass filter 25, a collision cell 26 in which a multipole ion guide 27 is arranged, and a rear quadrupole mass filter 28. , an ion detector 29 are arranged.
  • the control/processing unit 3 controls the LC unit 1 and the MS unit 2, respectively, and processes the signal obtained by the MS unit 2.
  • the control/processing unit 3 includes an analysis condition setting unit 30, an analysis sequence creation unit 31, an analysis control unit 32, and a data processing unit 33 as functional blocks.
  • the analysis sequence creation unit 31 includes, as lower functional blocks, a provisional event time determination unit 310, a scan speed selection unit 311, an event time correction unit 312, a loop time calculation unit 313, a surplus time distribution unit 314, and an analysis sequence determination unit 315 .
  • the control/processing unit 3 uses a personal computer including a CPU, RAM, ROM, etc. as hardware, and executes dedicated control/processing software (computer program) installed in the computer on the computer. can be configured to realize at least a part of its function.
  • the above computer program shall be stored in a computer-readable non-temporary recording medium such as a CD-ROM, DVD-ROM, memory card, USB memory (dongle) and provided to the user. be able to.
  • the program can also be provided to the user in the form of data transfer via a communication line such as the Internet.
  • the program can be pre-installed in a computer that is part of the system (strictly speaking, a storage device that is part of the computer) when the user purchases the system.
  • the liquid feed pump 11 sucks the mobile phase from the mobile phase container 10 and feeds it to the column 13 at a constant flow rate.
  • the injector 12 injects the sample into the mobile phase at a predetermined timing. This sample injection point is the starting point (retention time zero) for creating a chromatogram.
  • the injected sample is pushed by the mobile phase and introduced into the column 13 .
  • Various components in the sample are separated in the time direction by interaction with the liquid phase of the column 13 while passing through the column 13, and are eluted from the outlet of the column 13 with a time lag.
  • the analysis control unit 32 controls the voltage applied to the front-stage quadrupole mass filter 25 so that ions having a predetermined m/z value derived from the component to be measured selectively pass. do. Also, the voltage applied to the rear-stage quadrupole mass filter 28 is controlled so that the m/z value of passing ions sequentially changes over a predetermined m/z range.
  • the components in the eluate from the column 13 are ionized by being electrostatically sprayed from the ESI probe 20 into the ionization chamber 201 .
  • the generated ions pass through the desolvation pipe 21 , the ion guide 22 , the orifice of the skimmer 23 and the ion guide 24 in order, are sent to the high vacuum chamber 204 , and are introduced into the pre-stage quadrupole mass filter 25 .
  • the various ions derived from the sample only ions having a specific m/z value that depends on the voltage applied to the front quadrupole mass filter 25 pass through the front quadrupole mass filter 25 and enter the collision cell as precursor ions. Enter 26.
  • a collision gas such as Ar is intermittently introduced into the collision cell 26, and the precursor ions collide with the collision gas and dissociate.
  • Product ions generated by dissociation exit the collision cell 26 while being converged by the ion guide 27 and are introduced into the post-stage quadrupole mass filter 28 .
  • the post-quadrupole mass filter 28 is driven such that the m/z value of passing ions changes with time, and correspondingly, the predetermined Product ions having m/z values enter the ion detector 29 .
  • the ion detector 29 outputs an ion intensity signal corresponding to the amount of incident ions to the control/processing unit 3 as a detection signal.
  • the data processing unit 33 creates a mass spectrum (product ion spectrum) based on the data obtained by digitizing the received detection signal, and produces a total ion chromatogram and extraction based on the repeatedly obtained mass spectrum. Create an ion chromatogram.
  • MRM measurement in addition to the product ion scan measurement described above, MRM measurement, precursor ion scan measurement, and neutral loss scan measurement can be selectively performed as modes of MS/MS analysis.
  • scan measurement and SIM measurement can be selectively performed as normal MS analysis modes.
  • ion selection in the front quadrupole mass filter 25 and ion dissociation operation in the collision cell 26 are not performed, and the rear quadrupole mass filter 28 is a single type quadrupole mass spectrometer. It can be achieved by driving like a quadrupole mass filter in the instrument.
  • the analysis control unit 32 performs analysis by controlling each unit of the LC unit 1 and the MS unit 2 according to a method file that describes an analysis sequence (method), which is a type of control information. Execute. Next, procedures and processes for creating an analysis sequence in the LC-MS of this embodiment will be described with reference to FIGS. 2 to 4.
  • FIG. FIG. 2 is a flow chart showing an example of the procedure and processing for creating an analysis sequence in the LC-MS of this embodiment.
  • FIG. 3 is a schematic explanatory diagram of the procedure for creating the analysis sequence shown in FIG.
  • FIG. 4 is a schematic diagram showing a simple example of event setting.
  • analysis conditions are set in units of measurement called events.
  • one event can contain one measurement mode.
  • one event corresponds to one scan measurement. Therefore, for example, when product ion scan measurement in a predetermined m/z range is repeated in a predetermined time range as described above, the analysis conditions are set so that the event of product ion scan measurement is repeatedly performed for that time range. do.
  • the operator first inputs parameter values for prescribed analysis conditions through the input unit 5, and the analysis condition setting unit 30 accepts the input parameter values (step S1). Specifically, as analysis conditions, the time range of the retention time, the type of event (measurement mode) to be executed in that time range, the event time, the m / z range of the scan target in the case of scan measurement, MRM measurement and SIM In the case of measurement, it can include the m/z value of the object to be measured, and the like.
  • the event time is the execution time of one event, but instead of setting the event time directly by the operator, if the operator sets the loop time corresponding to the sampling period or its reciprocal, the loop time
  • the event time may be calculated inside the control/processing unit 3 by dividing by the number of events to be apparently executed simultaneously. That is, the event time may be set directly or indirectly.
  • FIG. 4 shows normal (MS analysis) scan measurement events for a given m/z range and MRM measurement events for a specific MRM transition within a retention time range of time t1-t2.
  • MS analysis normal (MS analysis) scan measurement events for a given m/z range and MRM measurement events for a specific MRM transition within a retention time range of time t1-t2.
  • This is intended to alternately and repeatedly perform scan measurements for a given m/z range and MRM measurements for specific MRM transitions in the holding time range t1 to t2, as shown in FIG.
  • one MRM measurement event is not limited to executing MRM measurement for one MRM transition, and may execute MRM measurement for a plurality of different MRM transitions.
  • the provisional event time determination unit 310 determines the event time when the event time is set as one of the analysis conditions, and the loop time when the loop time is set as the analysis condition by the number of events. By dividing, the provisional event time is determined (step S2).
  • the scan speed selection unit 311 selects the optimum scan speed for the scan measurement event according to the provisional event time (step S3).
  • three scan speeds [A], [B], and [C] can be used.
  • [A] is the fastest scan speed
  • [C] is the slowest scan speed.
  • each scan speed is shown in relation to time and the change in m/z value with scanning. Assuming that the m/z range of the scan in the scan measurement event is M1 to M2, the time required for the scan measurement (real time of scan measurement in FIG. 3) is less than the virtual event time and the scan speed is the slowest , the scan speed [B]. Therefore, the scan speed [B] is selected in step S3.
  • the event time correction unit 312 calculates the difference between the actual time of scan measurement obtained in the process of selecting the scan speed in step S3 and the tentative event time as surplus time (step S4).
  • the time required for scan measurement under scan speed [B] is the actual time of scan measurement.
  • the time required for scan measurement, which depends on the scan speed, is a discrete value with large increments. Therefore, in many cases, a long surplus time that cannot be ignored is generated. In the conventional mass spectrometer, this surplus time is wasted as time when the actual measurement is not performed.
  • the event time correction unit 312 corrects the event time of the scan measurement event to the time obtained by subtracting the surplus time from the tentative event time, that is, the actual time of the scan measurement, and then determines the event time (step S5). That is, when surplus time occurs, the event time is shortened from the event time determined according to the analysis conditions. After that, it is determined whether or not the processing of steps S3 to S5 has been completed for all scan measurement events, and if there is an unprocessed event, steps S3 to S5 are repeated. For example, if scan measurement events with different event times or different m/z ranges are set, different scan speeds may be selected for these scan measurement events. can be executed repeatedly.
  • the loop time calculation unit 313 determines the loop time based on the determined event times (step S7).
  • the loop time is the sum of the event time of the scan measurement event and the event time of the MRM measurement event. As noted above, if the event time of a scan measurement event is shortened, the loop time will be correspondingly shortened.
  • a chromatogram created based on the ion intensity signal for a specific MRM transition obtained in an MRM measurement or the intensity signal of an ion with a specific m/z value obtained in a scan measurement contains discrete data points at each loop time. consists of Therefore, the shorter the loop time, the more accurate the peak waveform of the chromatogram.
  • the accuracy of the peak waveform is improved, the accuracy of the retention time obtained from the position of the chromatographic peak is improved, so the accuracy of component identification using the retention time is improved.
  • the accuracy of the peak waveform is improved, the accuracy of the area value of the chromatographic peak is improved, so the accuracy of quantification using the area value is improved. That is, both qualitative and quantitative accuracy are improved.
  • the surplus time is used for other than the scan measurement. It can be distributed to events, specifically MRM measurement events and SIM measurement events (step S7).
  • the surplus time distribution unit 314 distributes the surplus time calculated in step S4 to the MRM measurement event and SIM measurement event performed within the same loop time. For example, in the example of FIG. 4, the extra time is added to the event time of the MRM measurement event to lengthen the event time.
  • a voltage is applied to each of the front-stage quadrupole mass filter 25 and/or the rear-stage quadrupole mass filter 28 so that ions having a desired m/z value pass through, and the voltage is static.
  • the ion intensity signal is acquired for a predetermined dwell time. The longer the dwell time, the better the detection sensitivity and accuracy.
  • the dwell time can be lengthened accordingly, so detection accuracy and detection sensitivity can be improved. As a result, for example, it becomes possible to detect trace amounts of components that could not be detected conventionally.
  • the analysis sequence determination unit 315 determines an analysis sequence based on the analysis conditions including the event time and loop time, and creates a method file describing the sequence. Save in the storage unit (step S8).
  • the analysis control unit 32 controls each unit according to the method file stored in the storage unit in this way, thereby reducing wasted time during which data is not acquired, and performing efficient, highly accurate and sensitive analysis. can do.
  • normal scan measurement and MRM measurement are alternately performed is taken as an example, but instead of or in addition to normal scan measurement, product ion scan measurement, precursor ion Obviously, it can be modified to perform one or more of scan measurements, neutral loss scan measurements. It is also clear that it can be modified to perform SIM measurements instead of or in addition to MRM measurements.
  • the MS part 2 of the LC-MS in the above embodiment is a triple quadrupole mass spectrometer, even if a single type quadrupole mass spectrometer is used, the event time of the scan measurement event is the same. can be shortened thereby shortening the loop time or allocating the excess time to the SIM measurement events.
  • the present invention can be applied not only to LC-MS but also to GC-MS, and it is clear that it can be applied to a single mass spectrometer that is not combined with LC or GC.
  • One aspect of the mass spectrometer according to the present invention is a mass spectrometer capable of performing scan measurement, a provisional event time determination unit that determines a provisional event time to be assigned to a scan measurement event, which is a measurement unit for performing one scan measurement, according to analysis conditions specified by a user; a scan speed selection unit that selects from a plurality of candidates a scan speed such that the measurement time required for one scan measurement does not exceed the tentative event time of the scan measurement event; an event time determination unit that corrects the tentative event time of the scan measurement event to the time required for scan measurement under the scan speed selected by the scan speed selection unit, and determines the event time of the scan measurement event; a control information creation unit that creates control information for controlling the device based on the event time determined by the event time determination unit; Prepare.
  • the event time of the scan measurement event is shortened according to the required time for scan measurement under the adopted scan speed.
  • wasted time during which no measurement is substantially performed can be eliminated, and for example, the time interval for repeating scan measurements can be shortened by that amount of time, and the accuracy of the peak waveform in the chromatogram can be improved.
  • the control information creation unit uses the surplus time, which is the difference between the tentative event time of the scan measurement event and the required time of the scan measurement, as SIM measurement or A surplus time distributor may be included that distributes to the events in which MRM measurements are performed.
  • the event time of the SIM measurement or MRM measurement other than the scan measurement that is apparently performed in parallel by the shortened event time of the scan measurement event can be extended. This makes it possible to lengthen the data acquisition time in SIM measurement and MRM measurement and improve detection sensitivity and detection accuracy.
  • control information creation unit calculates the loop time corresponding to the sampling time interval based on the event time determined by the event time determination unit. part can be included.
  • the mass spectrometer of item 3 it is possible to shorten the time interval of repetition of scan measurement and improve the accuracy of the peak waveform in the chromatogram. Thereby, the position (time) of the peak top of the peak becomes accurate, and the accuracy of component identification using the retention time is improved. In addition, since the accuracy of the peak area value is improved, the accuracy of quantification using the area value is improved. be.
  • the mass spectrometer according to any one of items 1 to 3 is a single-type quadrupole type that performs scan measurement over a predetermined mass-to-charge ratio range as the scan measurement. It can be a mass spectrometer.
  • the scan measurement includes at least one of precursor ion scan measurement, product ion scan measurement, and neutral loss scan measurement. It can be a triple quadrupole mass spectrometer that performs one.

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Abstract

本発明に係る質量分析装置の一態様は、スキャン測定を実行可能である質量分析装置であって、ユーザーにより指定された分析条件に応じて、１回のスキャン測定を実行する測定単位であるスキャン測定イベントに割り当てられる仮イベント時間を定める仮イベント時間決定部（３１０）と、１回のスキャン測定に要する測定時間がスキャン測定イベントの仮イベント時間を超えないようなスキャンスピードを、複数の候補の中から選定するスキャンスピード選定部（３１１）と、スキャン測定イベントの仮イベント時間を、選定されたスキャンスピードの下でのスキャン測定の所要時間に修正して、該スキャン測定イベントのイベント時間とするイベント時間確定部（３１２）と、イベント時間確定部で確定したイベント時間に基いて、当該装置を制御するための制御情報を作成する制御情報作成部（３１３－３１５）と、を備える。

Description

質量分析装置
　本発明は質量分析装置に関する。
　四重極型質量分析装置では一般に、測定モードとして、スキャン測定モードとＳＩＭ（Selected　Ion　Monitering）測定モードが設けられている。スキャン測定モードでは、所定の質量電荷比（m/z）範囲に亘り測定対象のイオンのm/z値を順次変化させることで、そのm/z範囲に含まれるイオンを網羅的に測定する。一方、ＳＩＭ測定モードでは、指定された特定のm/z値のイオンのみを選択的に測定する。
　また、ＭＳ／ＭＳ分析が可能であるトリプル四重極型質量分析装置では、測定モードとして、プロダクトイオンスキャン測定モード、プリカーサーイオンスキャン測定モード、ニュートラルロススキャン測定モード等のスキャン測定モードと、ＭＲＭ（Multi Reaction Monitering）測定モードが設けられている。
　プロダクトイオンスキャン測定モードでは、プリカーサーイオンのm/z値を固定し、プロダクトイオンのm/z値を所定のm/z範囲内で変化させつつ測定を行う。プリカーサーイオンスキャン測定モードでは、プロダクトイオンのm/z値を固定し、プリカーサーイオンのm/z値を所定のm/z範囲内で変化させつつ測定を行う。ニュートラルロススキャン測定モードでは、プリカーサーイオンのm/z値とプロダクトイオンのm/z値との差（つまりニュートラルロス）を一定に維持しつつ、プリカーサーイオンのm/z値とプロダクトイオンのm/z値とを各々所定のm/z範囲内で変化させつつ測定を行う。ＭＲＭ測定モードでは、指定された特定のm/z値のプリカーサーイオンを解離させることで生成された特定のm/z値のプロダクトイオンを選択的に測定する。
　四重極型質量分析装置、トリプル四重極型質量分析装置のいずれにおいても、スキャン測定では、四重極マスフィルターに印加するＲＦ（Radio Frequency）電圧と直流電圧とを所定の関係を維持しつつ共に高速に変化させながら、広いm/z範囲に亘る測定を行う。この電圧変化に対応する測定対象のm/z値の変化の速度はスキャンスピードと呼ばれ、u/secの単位で表される。
　液体クロマトグラフ質量分析装置（ＬＣ－ＭＳ）やガスクロマトグラフ質量分析装置（ＧＣ－ＭＳ）では、スキャンスピードが速いほどクロマトグラムを構成するサンプル点の時間間隔を狭くすることができ、クロマトグラムにおけるピーク波形の正確性が向上する。それによって、ピークトップに対応する保持時間やピーク面積値の精度が高まる。一方で、スキャンスピードが速いほどマススペクトルの品質は低下し（特許文献１等参照）、セントロイド化したマススペクトルにおけるマスピークのm/z値の精度は低下する。こうしたことから、スキャンスピードは質量分析装置における重要な性能の一つであり、装置（機種）によってスキャンスピードの最速値は決まっている。
　従来の質量分析装置では、分析に先立ってユーザーは、所望のm/z範囲に亘る１回のスキャン測定を一つの測定単位（以下「イベント」という）として、一測定単位の実行時間（以下「イベント時間」という）を直接的に又は間接的に分析条件の一つとして設定する。なお、間接的にイベント時間が設定される場合というのは、例えば特許文献２に開示されているように、クロマトグラムを構成するサンプリング点の時間間隔（つまりサンプリング周期）に対応するループ時間を分析条件の一つとしてユーザーが指定すると、ループ時間中に実施すべきイベントの数に応じて自動的にイベント時間が導出されるような場合である。
　スキャン測定のためのイベント時間が決まると、質量分析装置の制御用のソフトウェア又はファームウェアによって、このイベント時間を超えない範囲で最適な、通常は最も遅いスキャンスピードが、予め用意された複数の離散的なスキャンスピードの中から選択される。このようにして、従来の質量分析装置では、スキャン測定が実行されるイベントのイベント時間に応じて最適なスキャンスピードが自動的に設定されるようになっている。
特開２０１２－１９５１０４号公報 国際公開第２０１６／００２０４６号
　質量分析の分野では、取得されるデータの精度の向上や検出感度の向上が常に求められている。そのためには、データを取得する一連の測定の過程の中で、実質的にデータの取得に寄与していない無駄な時間を減らし、その時間をデータの取得に充てることが重要である。本発明者は、こうした観点で従来の質量分析装置において実施される分析の流れを見直し、一連の測定の中に、実質的にデータの取得が実行されていない無駄な時間があることを見出した。
　本発明はこうした課題を解決するためになされたものであり、その目的とするところは、実質的に測定が実施されていない時間をできるだけ排除することによって、より効率が良く分析性能が高い質量分析装置を提供することにある。
　本発明に係る質量分析装置の一態様は、スキャン測定を実行可能である質量分析装置であって、
　ユーザーにより指定された分析条件に応じて、１回のスキャン測定を実行する測定単位であるスキャン測定イベントに割り当てられる仮イベント時間を定める仮イベント時間決定部と、
　１回のスキャン測定に要する測定時間が前記スキャン測定イベントの仮イベント時間を超えないようなスキャンスピードを、複数の候補の中から選定するスキャンスピード選定部と、
　前記スキャン測定イベントの仮イベント時間を、前記スキャンスピード選定部において選定されたスキャンスピードの下でのスキャン測定の所要時間に修正して、該スキャン測定イベントのイベント時間とするイベント時間確定部と、
　前記イベント時間確定部で確定したイベント時間に基いて、当該装置を制御するための制御情報を作成する制御情報作成部と、
　を備える。
　従来の質量分析装置では、多くの場合、スキャン測定イベントにおいて実行されるスキャン測定の所要時間は、そのスキャン測定イベントに割り当てられているイベント時間よりも短いため、各スキャン測定イベントの終盤付近にはデータ取得が行われない無駄な時間が発生する可能性がある。これに対し、本発明に係る質量分析装置の上記態様によれば、スキャン測定イベントのイベント時間が、採用されるスキャンスピードの下でのスキャン測定の所要時間に合わせて短縮される。
　これにより、従来、実質的に測定が実施されていない無駄な時間が無くなり、例えば、その時間の分だけスキャン測定の繰り返しの時間間隔を短くしてクロマトグラムにおけるピーク波形の精度を高めることができる。或いは、スキャン測定イベントのイベント時間を短縮した分だけ、見かけ上並行して実施されるスキャン測定以外のＳＩＭ測定やＭＲＭ測定などのイベントの時間を延ばすこともできる。例えばＳＩＭ測定やＭＲＭ測定のイベント時間を延ばすことで、そのイベントにおけるデータの取込み時間を長くし、検出感度を向上させることができる。
本発明に係る質量分析装置の一実施形態であるＬＣ－ＭＳの要部の構成図。 本実施形態のＬＣ－ＭＳにおける分析シーケンスの作成手順及び処理の一例を示すフローチャート。 図２に示した分析シーケンスの作成手順の模式的な説明図。 イベント設定の一例を示す概略図。
　以下、本発明に係る質量分析装置の一実施形態であるＬＣ－ＭＳについて、添付図面を参照して説明する。
　図１は、本実施形態のＬＣ－ＭＳの要部の構成図である。
　このＬＣ－ＭＳは、測定部である液体クロマトグラフ部（ＬＣ部）１及び質量分析部（ＭＳ部）２と、制御・処理部３と、入力部５と、表示部６と、を備える。
　ＬＣ部１は、移動相容器１０と、移動相を吸引して送給する送液ポンプ１１と、移動相中に試料を注入するインジェクター１２と、試料に含まれる成分（化合物）を時間方向に分離するカラム１３と、を含む。
　ＭＳ部２はトリプル四重極型質量分析装置であり、略大気圧雰囲気であるイオン化室２０１と、内部が三つに区画された真空チャンバー２００と、を含む。真空チャンバー２００内には、第１中間真空室２０２、第２中間真空室２０３、高真空室２０４が設けられ、この順に真空度が高くなるように各室は図示しない真空ポンプ（ターボ分子ポンプ及びロータリーポンプ）により真空排気されている。即ち、このＭＳ部２は多段差動排気系の構成である。
　イオン化室２０１には、カラム１３の出口から溶出液が供給されるエレクトロスプレーイオン化（ＥＳＩ：Electrospray ionization）プローブ２０が配置されている。イオン化室２０１と第１中間真空室２０２とは細径の脱溶媒管２１を通して連通している。第１中間真空室２０２と第２中間真空室２０３とはスキマー２３の頂部に形成されたオリフィスを通して連通しており、第１中間真空室２０２内と第２中間真空室２０３内にはそれぞれ、多重極型のイオンガイド２２、２４が配置されている。
　高真空室２０４内には、イオン光軸に沿って、前段四重極マスフィルター２５と、内部に多重極型のイオンガイド２７が配置されたコリジョンセル２６と、後段四重極マスフィルター２８と、イオン検出器２９と、が配置されている。
　制御・処理部３は、ＬＣ部１及びＭＳ部２をそれぞれ制御するとともに、ＭＳ部２で得られた信号を処理するものである。この制御・処理部３は、機能ブロックとして、分析条件設定部３０と、分析シーケンス作成部３１と、分析制御部３２と、データ処理部３３と、を含む。分析シーケンス作成部３１は、さらに下位の機能ブロックとして、仮イベント時間決定部３１０と、スキャンスピード選定部３１１と、イベント時間修正部３１２と、ループ時間算出部３１３と、余剰時間分配部３１４と、分析シーケンス決定部３１５と、を含む。
　制御・処理部３は、ＣＰＵ、ＲＡＭ、ＲＯＭなどを含んで構成されるパーソナルコンピューターをハードウェアとし、該コンピューターにインストールされた専用の制御・処理ソフトウェア（コンピュータープログラム）を該コンピューター上で実行することによりその機能の少なくとも一部を実現する構成とすることができる。
　上記コンピュータープログラムは、例えば、ＣＤ－ＲＯＭ、ＤＶＤ－ＲＯＭ、メモリーカード、ＵＳＢメモリー（ドングル）などの、コンピューターが読み取り可能である非一時的な記録媒体に格納されてユーザーに提供されるものとすることができる。また、上記プログラムは、インターネットなどの通信回線を介したデータ転送の形式で、ユーザーに提供されるようにすることもできる。さらにまた、上記プログラムは、ユーザーがシステムを購入する時点で、システムの一部であるコンピューター（厳密にはコンピューターの一部である記憶装置）にプリインストールしておくこともできる。
　本実施形態のＬＣ－ＭＳにおいて、ＬＣ部１及びＭＳ部２により実行されるＬＣ／ＭＳ分析動作の一例を簡単に説明する。これは、ＭＳ部２においてプロダクトイオンスキャン測定を行う場合の例である。
　ＬＣ部１において、送液ポンプ１１は移動相容器１０から移動相を吸引して一定流量でカラム１３に送給する。分析制御部３２による制御の下で、所定タイミングで以てインジェクター１２は移動相中に試料を注入する。この試料注入時点がクロマトグラム作成の際の基点（保持時間ゼロ）となる。注入された試料は移動相に押されてカラム１３に導入される。そして、試料中の各種成分は、カラム１３を通過する間に該カラム１３の液相との相互作用により時間方向に分離され、時間的にずれてカラム１３の出口から溶出する。
　プロダクトイオンスキャン測定の場合、分析制御部３２は、測定対象の成分由来の所定のm/z値を有するイオンが選択的に通過するように、前段四重極マスフィルター２５に印加する電圧を制御する。また、通過するイオンのm/z値が所定のm/z範囲に亘り順に変化するように、後段四重極マスフィルター２８に印加する電圧を制御する。
　カラム１３からの溶出液中の成分は、ＥＳＩプローブ２０からイオン化室２０１内に静電噴霧されることでイオン化される。生成されたイオンは脱溶媒管２１、イオンガイド２２、スキマー２３のオリフィス、イオンガイド２４を順に経て高真空室２０４まで送られ、前段四重極マスフィルター２５に導入される。試料由来の各種イオンのうち、前段四重極マスフィルター２５に印加されている電圧に依存する特定のm/z値を有するイオンのみが前段四重極マスフィルター２５を通り抜け、プリカーサーイオンとしてコリジョンセル２６に入る。
　コリジョンセル２６にはＡｒなどのコリジョンガスが間欠的に導入され、プリカーサーイオンはコリジョンガスに衝突して解離する。解離により生成されたプロダクトイオンはイオンガイド２７で収束されつつコリジョンセル２６を出て、後段四重極マスフィルター２８に導入される。上述したように後段四重極マスフィルター２８は通過するイオンのm/z値が時間経過に伴って変化するように駆動され、それに対応して後段四重極マスフィルター２８を通り抜け得た所定のm/z値を有するプロダクトイオンがイオン検出器２９に入射する。イオン検出器２９は、入射したイオンの量に応じたイオン強度信号を検出信号として制御・処理部３に出力する。
　制御・処理部３においてデータ処理部３３は、受け取った検出信号をデジタル化したデータに基いてマススペクトル（プロダクトイオンスペクトル）を作成するとともに、繰り返し得られるマススペクトルに基いてトータルイオンクロマトグラムや抽出イオンクロマトグラムを作成する。
　このＬＣ－ＭＳでは、ＭＳ／ＭＳ分析のモードとして、上述したプロダクトイオンスキャン測定のほか、ＭＲＭ測定、プリカーサーイオンスキャン測定、ニュートラルロススキャン測定を選択的に実行することができる。また、通常のＭＳ分析のモードとして、スキャン測定及びＳＩＭ測定を選択的に実行することができる。通常のＭＳ分析は、前段四重極マスフィルター２５におけるイオンの選別、及びコリジョンセル２６でのイオンの解離操作、を行わず、後段四重極マスフィルター２８をシングルタイプの四重極型質量分析装置における四重極マスフィルターと同様に駆動することで達成され得る。
　本実施形態のＬＣ－ＭＳでは、分析制御部３２は、一種の制御情報である分析シーケンス（メソッド）が記載されたメソッドファイルに従って、ＬＣ部１及びＭＳ部２の各部を制御することで分析を実行する。次に、本実施形態のＬＣ－ＭＳにおいて分析シーケンスを作成する際の手順と処理を、図２～図４を用いて説明する。図２は、本実施形態のＬＣ－ＭＳにおける分析シーケンスの作成手順及び処理の一例を示すフローチャートである。図３は、図２に示した分析シーケンスの作成手順の模式的な説明図である。図４は、イベント設定の簡単な一例を示す概略図である。
　本実施形態のＬＣ－ＭＳでは、イベントと呼ばれる測定単位で以て分析条件が設定される。原則として、一つのイベントは一つの測定モードを含み得る。また、スキャン測定のモードでは、一つのイベントは１回のスキャン測定に対応する。従って、例えば上述したように所定のm/z範囲のプロダクトイオンスキャン測定を所定の時間範囲において繰り返す場合には、その時間範囲に対しプロダクトイオンスキャン測定のイベントを繰り返し実行するように分析条件を設定する。
　オペレーターはまず、入力部５により規定の分析条件についてパラメーター値を入力し、分析条件設定部３０は入力されたパラメーター値を受け付ける（ステップＳ１）。具体的には、分析条件として、保持時間の時間範囲とその時間範囲に実行するイベントの種類（測定モード）、イベント時間、スキャン測定の場合にはスキャン対象のm/z範囲、ＭＲＭ測定やＳＩＭ測定の場合には測定対象のm/z値、などを含むことができる。なお、イベント時間は一つのイベントの実行時間であるが、オペレーターがイベント時間を直接設定するのではなく、オペレーターがサンプリング周期やその逆数に相当するループ時間を設定すると、後述するように、ループ時間を見かけ上同時に実行すべきイベント数で除すことによってイベント時間が制御・処理部３の内部で算出されるようにしてもよい。即ち、イベント時間は、直接的に設定されても間接的に設定されてもいずれでもよい。
　ここでは簡単な例として、図４に、時間ｔ1～ｔ2の保持時間範囲内に、所定のm/z範囲に対する通常の（ＭＳ分析の）スキャン測定イベントと、特定のＭＲＭトランジションについてのＭＲＭ測定イベントとの２種類のイベントを実行する場合を例示する。これは、図４に示したように、保持時間範囲ｔ1～ｔ2において所定のm/z範囲に対するスキャン測定と特定のＭＲＭトランジションについてのＭＲＭ測定とを交互に繰り返し実行することを意図している。但し、一つのＭＲＭ測定イベントは、一つのＭＲＭトランジションについてのＭＲＭ測定を実行するものであるとは限らず、異なる複数のＭＲＭトランジションについてのＭＲＭ測定を実行するようにしても構わない。
　分析シーケンス作成部３１において仮イベント時間決定部３１０は、分析条件の一つとしてイベント時間が設定された場合にはそれを、分析条件としてループ時間が設定された場合にはループ時間をイベント数で除することで、仮イベント時間を決定する（ステップＳ２）。
　次いで、スキャンスピード選定部３１１は、スキャン測定イベントに対し、仮イベント時間に応じて最適なスキャンスピードを選定する（ステップＳ３）。図３に示す例では、［Ａ］、［Ｂ］、［Ｃ］の三つのスキャンスピードが採用可能である。［Ａ］が最も速いスキャンスピード、［Ｃ］が最も遅いスキャンスピードであり、図３では、各スキャンスピードは、時間とスキャンに伴うm/z値の変化との関係で示されている。スキャン測定イベントにおけるスキャンのm/z範囲がＭ1～Ｍ2であるとすると、そのスキャン測定の所要時間（図３ではスキャン測定の実時間）が仮イベント時間以下であってスキャンスピードが最も遅いのは、スキャンスピード［Ｂ］である。そのため、ステップＳ３ではスキャンスピード［Ｂ］が選定される。
　イベント時間修正部３１２は、上記ステップＳ３におけるスキャンスピード選定の過程で得られるスキャン測定の実時間と仮イベント時間との差を余剰時間として算出する（ステップＳ４）。図３の例では、スキャンスピード［Ｂ］の下でのスキャン測定の所要時間がスキャン測定の実時間である。スキャンスピードに依存して決まるスキャン測定の所要時間は刻みの大きな離散値である。そのため、多くの場合、無視できない程度に長い余剰時間が発生する。従来の質量分析装置では、実際の測定に際し、この余剰時間は実質的に測定が実行されない無駄な時間として費やされる。
　イベント時間修正部３１２は、スキャン測定イベントのイベント時間を、仮イベント時間から余剰時間を差し引いた時間つまりはスキャン測定の実時間に修正したうえで、そのイベント時間を確定する（ステップＳ５）。即ち、余剰時間が発生している場合には、イベント時間は分析条件に応じて決められたイベント時間よりも短縮される。そのあと、全てのスキャン測定イベントについてステップＳ３～Ｓ５の処理が終了しているか否かが判定され、未処理のイベントがあればステップＳ３～Ｓ５を繰り返す。例えばイベント時間が異なる、或いはm/z範囲が異なるスキャン測定イベントが設定されている場合には、それらスキャン測定イベントに対しては異なるスキャンスピードが選定される可能性があるから、ステップＳ３～Ｓ５が繰り返し実行され得る。
　ステップＳ６までの処理によって全てのスキャン測定イベントのイベント時間が確定すると、ループ時間算出部３１３は、確定したイベント時間に基いてループ時間を決定する（ステップＳ７）。図４の例では、スキャン測定イベントとＭＲＭ測定イベントが交互に実行されるから、スキャン測定イベントのイベント時間とＭＲＭ測定イベントのイベント時間を加算したものがループ時間である。上述したように、スキャン測定イベントのイベント時間が短縮された場合には、それに応じてループ時間も短くなる。
　例えばＭＲＭ測定で得られる特定のＭＲＭトランジションに対するイオン強度信号やスキャン測定で得られる特定のm/z値のイオンの強度信号に基いて作成されるクロマトグラムは、ループ時間毎の離散的なデータ点で構成される。従って、ループ時間が短くなるほどクロマトグラムのピーク波形の精度は向上する。ピーク波形の精度が向上すると、クロマトピークの位置から求まる保持時間の精度が向上するから、保持時間を利用した成分同定の正確性が向上する。また、ピーク波形の精度が向上すると、クロマトピークの面積値の精度が向上するため、その面積値を利用した定量の正確性が向上する。つまり、定性、定量のいずれの正確性も向上する。
　一方、上述したように、ループ時間が分析条件の一つであってループ時間が固定されている（変更不可である）場合には、ループ時間を短縮する代わりに、余剰時間をスキャン測定以外のイベント、具体的にはＭＲＭ測定イベントやＳＩＭ測定イベントに分配することができる（ステップＳ７）。この場合、余剰時間分配部３１４は、ステップＳ４において算出された余剰時間を、同じループ時間内に実施されるＭＲＭ測定イベントやＳＩＭ測定イベントに分配する。例えば図４の例では、余剰時間をＭＲＭ測定イベントのイベント時間に加算することで、該イベント時間を長くする。
　ＭＲＭ測定やＳＩＭ測定では、前段四重極マスフィルター２５及び／又は後段四重極マスフィルター２８にそれぞれ、目的とするm/z値のイオンを通過させるような電圧を印加し、その電圧が静定するような時間が経過したあと、所定のドウェル（Dwell）時間の間、イオン強度信号を取得する。このドウェル時間が長いほど、検出感度及び検出精度が向上する。上述したようにＭＲＭ測定イベントのイベント時間が長くなると、その分だけドウェル時間を長くすることができるため、検出精度や検出感度を向上させることができる。これにより、例えば従来では検出できなかった微量な成分の検出が可能となる。
　こうして各イベントのイベント時間やループ時間が確定したあと、分析シーケンス決定部３１５はそれらイベント時間やループ時間を含む分析条件に基いて分析シーケンスを決定し、該シーケンスを記載したメソッドファイルを作成して記憶部に保存する（ステップＳ８）。
　こうして記憶部に保存されたメソッドファイルに従って分析制御部３２が各部を制御することにより、データを取得していない無駄な時間を従来よりも削減した、効率的で且つ精度や感度の高い分析を実施することができる。
　なお、説明を簡単にするために、通常のスキャン測定とＭＲＭ測定とを交互に実施する場合を例に挙げたが、通常のスキャン測定に代えて又はそれに加えて、プロダクトイオンスキャン測定、プリカーサーイオンスキャン測定、ニュートラルロススキャン測定のうちの一又は複数を実施するように変更可能であることは明らかである。また、ＭＲＭ測定に代えて又はそれに加えて、ＳＩＭ測定を実施するように変更可能であることも明らかである。
　また、上記実施形態のＬＣ－ＭＳのＭＳ部２はトリプル四重極型質量分析装置であるが、シングルタイプの四重極型質量分析装置を用いた場合でも、同様にスキャン測定イベントのイベント時間を短縮し、それによってループ時間を短縮したり、余剰時間をＳＩＭ測定イベントに分配したりすることができることは明らかである。
　また、本発明は、ＬＣ－ＭＳに限らずＧＣ－ＭＳにも適用可能であるし、ＬＣやＧＣと組み合わせない単体の質量分析装置にも適用可能であることは明らかである。
　また、上記実施形態は本発明の一例にすぎず、本発明の趣旨の範囲で適宜変形、修正、追加等を行っても本願特許請求の範囲に包含されることは当然である。
　　［種々の態様］
　上述した例示的な実施形態は、以下の態様の具体例であることが当業者により理解される。
　（第１項）本発明に係る質量分析装置の一態様は、スキャン測定を実行可能である質量分析装置であって、
　ユーザーにより指定された分析条件に応じて、１回のスキャン測定を実行する測定単位であるスキャン測定イベントに割り当てられる仮イベント時間を定める仮イベント時間決定部と、
　１回のスキャン測定に要する測定時間が前記スキャン測定イベントの仮イベント時間を超えないようなスキャンスピードを、複数の候補の中から選定するスキャンスピード選定部と、
　前記スキャン測定イベントの仮イベント時間を、前記スキャンスピード選定部において選定されたスキャンスピードの下でのスキャン測定の所要時間に修正して、該スキャン測定イベントのイベント時間とするイベント時間確定部と、
　前記イベント時間確定部で確定したイベント時間に基いて、当該装置を制御するための制御情報を作成する制御情報作成部と、
　を備える。
　第１項に記載の質量分析装置によれば、スキャン測定イベントのイベント時間が、採用されるスキャンスピードの下でのスキャン測定の所要時間に合わせて短縮される。これにより、従来、実質的に測定が実施されていない無駄な時間が無くなり、例えば、その時間の分だけスキャン測定の繰り返しの時間間隔を短くしてクロマトグラムにおけるピーク波形の精度を高めることができる。或いは、スキャン測定イベントのイベント時間を短縮した分だけ、見かけ上並行して実施されるスキャン測定以外のＳＩＭ測定やＭＲＭ測定などのイベントの時間を延ばすこともできる。例えばＳＩＭ測定やＭＲＭ測定のイベント時間を延ばすことで、そのイベントにおけるデータの取込み時間を長くし、検出感度を向上させることができる。
　（第２項）第１項に記載の質量分析装置において、前記制御情報作成部は、前記スキャン測定イベントの仮イベント時間と前記スキャン測定の所要時間との差である余剰時間を、ＳＩＭ測定又はＭＲＭ測定が実行されるイベントに分配する余剰時間分配部を含むものとすることができる。
　第２項に記載の質量分析装置によれば、上述したように、スキャン測定イベントのイベント時間を短縮した分だけ、見かけ上並行して実施されるスキャン測定以外のＳＩＭ測定又はＭＲＭ測定のイベント時間を延ばすことができる。これにより、ＳＩＭ測定やＭＲＭ測定におけるデータの取込み時間を長くし、検出感度や検出精度を向上させることができる。
　（第３項）第１項に記載の質量分析装置において、前記制御情報作成部は、前記イベント時間確定部で確定したイベント時間に基いてサンプリング時間間隔に対応するループ時間を算出するループ時間算出部を含むものとすることができる。
 　第３項に記載の質量分析装置によれば、上述したように、スキャン測定の繰り返しの時間間隔を短くして、クロマトグラムにおけるピーク波形の精度を高めることができる。それにより、該ピークのピークトップの位置（時間）が正確になり、保持時間を利用した成分同定の正確性が向上する。また、ピークの面積値の精度が向上するので、該面積値を利用した定量の正確性が向上する。
る。
　（第４項）第１項～第３項のいずれか１項に記載の質量分析装置は、前記スキャン測定として、所定の質量電荷比範囲に亘るスキャン測定を実行するシングルタイプの四重極型質量分析装置であるものとすることができる。
　（第５項）また第１項～第３項のいずれか１項に記載の質量分析装置は、前記スキャン測定として、プリカーサーイオンスキャン測定、プロダクトイオンスキャン測定、ニュートラルロススキャン測定のうちの少なくとも一つを実行するトリプル四重極型質量分析装置であるものとすることができる。
１…液体クロマトグラフ部（ＬＣ）部
　１０…移動相容器
　１１…送液ポンプ
　１２…インジェクター
　１３…カラム
２…質量分析部（ＭＳ部）
　２０…ＥＳＩプローブ
　２１…脱溶媒管
　２２、２４、２７…イオンガイド
　２３…スキマー
　２５…前段四重極マスフィルター
　２６…コリジョンセル
　２８…後段四重極マスフィルター
　２９…イオン検出器
　２００…真空チャンバー
　２０１…イオン化室
　２０２…第１中間真空室
　２０３…第２中間真空室
　２０４…高真空室
３…制御・処理部
　３０…分析条件設定部
　３１…分析シーケンス作成部
　　３１０…仮イベント時間決定部
　　３１１…スキャンスピード選定部
　　３１２…イベント時間修正部
　　３１３…ループ時間算出部
　　３１４…余剰時間分配部
　　３１５…分析シーケンス決定部
　３２…分析制御部
　３３…データ処理部
５…入力部
６…表示部

Claims (5)

  1. 　スキャン測定を実行可能である質量分析装置であって、
    　ユーザーにより指定された分析条件に応じて、１回のスキャン測定を実行する測定単位であるスキャン測定イベントに割り当てられる仮イベント時間を定める仮イベント時間決定部と、
    　１回のスキャン測定に要する測定時間が前記スキャン測定イベントの仮イベント時間を超えないようなスキャンスピードを、複数の候補の中から選定するスキャンスピード選定部と、
    　前記スキャン測定イベントの仮イベント時間を、前記スキャンスピード選定部において選定されたスキャンスピードの下でのスキャン測定の所要時間に修正して、該スキャン測定イベントのイベント時間とするイベント時間確定部と、
    　前記イベント時間確定部で確定したイベント時間に基いて、当該装置を制御するための制御情報を作成する制御情報作成部と、
    　を備える質量分析装置。
  2. 　前記制御情報作成部は、前記スキャン測定イベントの仮イベント時間と前記スキャン測定の所要時間との差である余剰時間を、ＳＩＭ測定又はＭＲＭ測定が実行されるイベントに分配する余剰時間分配部を含む、請求項１に記載の質量分析装置。
  3. 　前記制御情報作成部は、前記イベント時間確定部で確定したイベント時間に基いてサンプリング時間間隔に対応するループ時間を算出するループ時間算出部を含む、請求項１に記載の質量分析装置。
  4. 　前記スキャン測定として、所定の質量電荷比範囲に亘るスキャン測定を実行するシングルタイプの四重極型質量分析装置である、請求項１に記載の質量分析装置。
  5. 　前記スキャン測定として、プリカーサーイオンスキャン測定、プロダクトイオンスキャン測定、ニュートラルロススキャン測定のうちの少なくとも一つを実行するトリプル四重極型質量分析装置である、請求項１に記載の質量分析装置。
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