CN102004347B - 一种液晶显示器及基板 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种液晶显示器及基板，为解决目前设有基板的产品，尤其液晶显示器，其基板对位时所需时间较长而发明。所述液晶显示器，包括阵列基板和彩膜基板，在所述阵列基板和彩膜基板上均设有组合型对位标记，所述组合型对位标记包括粗对位标记和细对位标记，所述细对位标记位于所述粗对位标记的外围四周区域；所述阵列基板的粗对位标记和所述彩膜基板上的粗对位标记相对应；所述阵列基板的细对位标记和所述彩膜基板上的细对位标记相对应。本发明可用于涉及基板对位的产品，尤其液晶显示器。

Description

一种液晶显示器及基板
技术领域
本发明属于液晶显示器制造领域，涉及液晶显示器的面板的对位。
背景技术
随着科技的迅猛发展，液晶显示器已广泛应用于人们的生活中，如电视、电脑、手机、各种现代化办公设备等。
液晶显示工艺制作过程涉及对位标记(以下称Mark)的识别、读取、对位等。对于涉及到微电子/半导体制作工艺，Mark识别、读取、对位对工艺的精确性显得尤为重要。
通常情况下，在制作面板时，在栅极层设置Mark。制作液晶显示面板时，在玻璃基板上形成阵列图案，而阵列图形一般在微米级别识别而进行。
要确保在这些工艺制作中形成微米级别乃至更小的图形时，必须确保Mark的准确识别、读取、对位。
通常完成这些工艺是分别采用粗对位、细对位两步骤分开进行识别，两步骤分别进行识别会增加工艺制作时间。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是提供一种液晶显示器。在该液晶显示器中，阵列基板和彩膜基板的对位时间较短。
为了达到上述目的本发明采用以下技术方案：
在所述阵列基板和彩膜基板上均设有组合型对位标记，所述组合型对位标记包括粗对位标记和细对位标记，所述细对位标记位于所述粗对位标记的外围四周区域；
所述阵列基板上的粗对位标记和所述彩膜基板上的粗对位标记相对应；
所述阵列基板上的细对位标记和所述彩膜基板上的细对位标记相对应。
所述阵列基板上的粗对位标记为正方环、长方环、椭圆环或圆环等形状；
相应地，所述彩膜基板上的粗对位标记为正方形、长方形、椭圆形或圆形等形状，其大小小于所述正方环、长方环、椭圆环或圆环的内环大小。
所述细对位标记包括：
在所述阵列基板平面上X方向上的细对位标记、Y方向上的细对位标记；和
在所述彩膜基板平面上的X方向上的细对位标记、Y方向上的细对位标记；
所述阵列基板平面上X方向和Y方向上的细对位标记，由平行布置的至少两个细对位标记符号组成；
所述彩膜基板平面上X方向和Y方向上的细对位标记，也由平行布置的至少两个细对位标记符号组成；
所述阵列基板上的细对位标记的对位标记符号之间间隙的形状、大小与所述彩膜基板上的细对位标记的对位标记符号的形状、大小相对应；
所述彩膜基板上的细对位标记的对位标记符号之间间隙的形状、大小与所述阵列基板上的细对位标记的对位标记符号的形状、大小相对应。
其中，所述阵列基板上的细对位对位标记符号的形状为长方形、倒L形、三角形或梯形等现状。
进一步地，在所述阵列基板上的细对位标记符号中，至少一条为初始对位标记符号，所述初始对位标记符号比该阵列基板上的其余对位标记符号长，该阵列基板上的其余对位标记符号等长；和/或
所述彩膜基板上的细对位标记符号中，至少一条为初始对位标记符号，所述初始对位标记符号比该彩膜基板上的其余对位标记符号长，该阵列基板上的其余对位标记符号等长；
所述阵列基板上的细对位标记符号和彩膜基板上的细对位标记符号的上端或下端分别处于同一直线上。
进一步地，所述阵列基板上的细对位标记的对位标记符号间距相等或不相等。
所述阵列基板上的细对位标记的对位标记符号的宽度相等或不相等。
所述阵列基板上的细对位标记的对位标记符号之间的间距与该对位标记符号的宽度相等或不相等。
进一步地，所述细对位标记的宽度为0.3μm～1.0mm。
本发明液晶显示器，在其阵列基板和彩膜基板上均设置组合型对位标记，可以在同一个工艺中进行粗对位和细对位，可避免传统技术中粗对位和细对位两步骤分开进行识别，减少对位时间。
本发明所要解决的另一个技术问题是提供一种带有对位标记的基板，根据所述对位标记进行对位可缩短对位时间。
为了达到上述目的本发明采用以下技术方案：
一种基板，在所述基板上设有组合型对位标记，所述组合型对位标记包括粗对位标记和细对位标记，所述细对位标记位于所述粗对位标记的外围四周区域。
所述细对位标记包括：
在基板平面上X方向上的细对位标记、Y方向上的细对位标记；
所述基板平面上X方向和Y方向上的细对位标记，由平行布置的至少两个细对位标记符号组成。
所述阵列基板上的细对位标记符号中，至少一条为初始对位标记，所述初始对位标记符号比其余初始对位标记符号长，其余对位标记符号等长。
进一步地，所述基板上的细对位标记符号的形状为长方形、倒L形、三角形或梯形等形状。
本发明带有对位标记的基板设有组合型对位标记，可以在同一个工艺中进行粗对位和细对位，可避免传统技术中粗对位和细对位两步骤分开进行识别，减少对位时间。
附图说明
图1为设在本发明液晶显示器的对位标记的结构示意图；
图2为实施例1中本发明的液晶显示器的阵列基板上的细对位标记的结构示意图；
图3为实施例1中本发明的液晶显示器的彩膜基板上的细对位标记的结构示意图；
图4为实施例1中阵列基板细对位标记和彩膜基板细对位标记对合良好的结构示意图；
图5为实施例1中阵列基板细对位标记和彩膜基板细对位标记对合不理想1结构示意图；
图6为实施例1中阵列基板细对位标记和彩膜基板细对位标记对合不理想2结构示意图；
图7为实施例1中阵列基板细对位标记和彩膜基板细对位标记对合不理想3结构示意图；
图8为实施例1中阵列基板细对位标记和彩膜基板细对位标记对合不理想4结构示意图；
图9实施例1中阵列基板细对位标记和彩膜基板细对位标记对合不理想5结构示意图；
图10为实施例2中本发明的液晶显示器的阵列基板上的细对位标记的结构示意图；
图11实施例2中本发明的液晶显示器的彩膜基板上的细对位标记的结构示意图；
图12为实施例2中阵列基板细对位标记和彩膜基板细对位标记对合良好的结构示意图；
图13为实施例2中阵列基板细对位标记和彩膜基板细对位标记对合不理想1结构示意图；
图14实施例2中阵列基板细对位标记和彩膜基板细对位标记识别符号对合不理想2结构示意图；
图15为实施例2中阵列基板细对位标记和彩膜基板细对位标记对合不理想3结构示意图；
图16为实施例2中阵列基板细对位标记和彩膜基板细对位标记对合不理想4结构示意图；
图17为实施例2中阵列基板细对位标记和彩膜基板细对位标记对合不理想5结构示意图；
图18为实施例2中阵列基板细对位标记和彩膜基板细对位标记对合不理想6结构示意图。
附图符号说明：
1阵列基板上的粗对位标记；2彩膜基板上的粗对位标记；3阵列基板平面上X方向上细对位标记；4彩膜基板平面上上X方向上细对位标记；5阵列基板平面上Y方向上细对位标记；6彩膜基板平面上Y方向细对位标记。
具体实施方式
本发明的目的在于提供一种阵列基板和彩膜基板对位时间较短的液晶显示器。
所述液晶显示器，包括阵列基板和彩膜基板，在所述阵列基板和彩膜基板上均设有组合型对位标记，所述组合型对位标记包括粗对位标记和细对位标记，所述细对位标记位于所述粗对位标记的外围四周区域；
所述阵列基板的粗对位标记和所述彩膜基板上的粗对位标记相对应；
所述阵列基板的细对位标记和所述彩膜基板上的细对位标记相对应。
本发明液晶显示器，具有组合型对位标记，可以在同一个工艺中进行粗对位和细对位，可避免传统技术中粗对位和细对位两步骤分开进行识别，减少对位时间。
以下结合实施例对本发明液晶显示器作进一步的说明。
实施例1
本实施例液晶显示器包括阵列基板和彩膜基板，在所述阵列基板和彩膜基板上均设有组合型对位标记，所述组合型对位标记包括粗对位标记和细对位标记，所述细对位标记位于所述粗对位标记的外围四周区域；
所述阵列基板上的粗对位标记和所述彩膜基板上的粗对位标记相对应；
所述阵列基板上的细对位标记和所述彩膜基板上的细对位标记相对应。
图1为设于本发明液晶显示器的对位标记的结构示意图。
其中包括：
所述阵列基板上的粗对位标记(1)；
所述彩膜基板上的粗对位标记(2)；
所述阵列基板平面上X方向上的细对位标记(3)、Y方向上的细对位标记(5)；
所述彩膜基板平面上的X方向上的细对位标记(4)、Y方向上的细对位标记(6)。
图中其余未标出的黑色细对位标记均为阵列基板上的细对位标记，其余未标出的斜线细对位标记均为彩膜基板上的细对位标记。
为方便，图中只示出了整个细对位标记的部分细对位标记。
本实施例中，所述粗对位标记(1)为正方形；
所述粗对位标记(2)为正方环。
将阵列基板和彩膜基板进行对位时，根据所述粗对位标记(1)、粗对位标记(2)进行粗对位，将所述粗对位标记(1)置于所述粗对位标记(2)的环中心位置，再根据细对位标记进行细对位。
本实施例中，所述细对位标记的设计如下：
阵列基板上的细对位标记由13条长方形的细对位标记符号组成。
其中，最左侧的细对位标记符号为初始对位标记符号，该初始对位标记符号比该阵列基板上的其余对位标记符号长，该阵列基板上的其余对位标记符号等长(如图2所示)；
彩膜基板上设置的细对位标记由等长的12条长方形的细对位标记符号组成(如图3所示)。
阵列基板和彩膜基板上的细对位符号的下端均处于同一直线上；
所述阵列基板上的细对位标记的对位标记符号之间间隙的形状、大小与所述彩膜基板上的细对位标记的对位标记符号的形状、大小相对应；
所述彩膜基板上的细对位标记的对位标记符号之间间隙的形状、大小与所述阵列基板上的细对位标记的对位标记符号的形状、大小相对应。
本实例中，阵列基板上的细对位标记的对位标记符号间距相等；
阵列基板上的细对位标记的对位标记符号的宽度相等；
阵列基板上的细对位标记的对位标记符号之间的间距与该对位标记符号的宽度相等。
将阵列基板设置的细对位标记和彩膜基板设置的细对位标记进行对合，当对位准确时，对位标记无透光区域，且出现全黑的长方形图案；
当对位不准确时，对位标记出现透光区域，且能够很容易判断阵列基板或彩膜基板的偏移或倾斜情况，可根据其偏移或倾斜情况进行对位调整，至出现全黑图案，从而提高阵列基板和彩膜基板的对位精确度。
具体对位及调整方法如下：
(1)当阵列基板和彩膜基板进行对合工艺时，如果在阵列基板上设置(如图2所示)细对位标记，在彩膜基板上设置细对位标记(如图3所示)，将阵列基板上设置(如图2所示)细对位标记和在彩膜基板上设置细对位标记(如图3所示)对合后产生了如图4所示的图形，即细对位标记没有一丝透光区域，表明阵列基板上设置的细对位标记(如图2所示)和彩膜基板上设置的细对位标记(如图3所示)对合紧密，对位情况良好，对位符合设计要求。
(2)当阵列基板和彩膜基板进行对合工艺时，如果在阵列基板上设置(如图2所示)细对位标记，在彩膜基板上设置细对位标记(如图3所示)，将阵列基板上设置(如图2所示)细对位标记和在彩膜基板上设置细对位标记(如图3所示)对合后产生了如图5所示的图形，即细对位标记出现了透光区域，且阵列基板上的细对位标记向右偏移了2个对位标记距离，或彩膜基板上的细对位标记(如图3所示)向左偏移了2个对位标记距离。表明阵列基板上设置(如图2所示)的细对位标记和彩膜基板上设置的细对位标记(如图3所示)对合时，阵列基板向右偏移了2个对位标记距离，或彩膜基板向左偏移了2个对位标记距离。此时可将阵列基板左移2个对位标记距离，或将彩膜基板右移2个对位标记距离进行调整，直到对合后，对位标记出现全黑长方形图案为止。
(3)当阵列基板和彩膜基板进行对合工艺时，如果在阵列基板上设置(如图2所示)细对位标记，在彩膜基板上设置细对位标记(如图3所示)，将阵列基板上设置(如图2所示)细对位标记和在彩膜基板上设置细对位标记(如图3所示)对合后产生了如图6所示的图形，即细对位标记出现了透光区域，且阵列基板上的细对位标记向右偏移了1个对位标记距离或彩膜基板上的细对位标记(如图3所示)向左偏移了1个对位标记距离。表明阵列基板上设置的(如图2所示)细对位标记和彩膜基板上设置的细对位标记(如图3所示)对合时，阵列基板向右偏移了1个对位标记距离，或彩膜基板向左移动了1个对位标记距离。此时可将阵列基板左移1个对位标记距离，或将彩膜基板右移1个对位标记距离进行调整，直到对合后，对位标记出现全黑长方形图案为止。
(4)当阵列基板和彩膜基板进行对合工艺时，如果在阵列基板上设置(如图2所示)细对位标记，在彩膜基板上设置细对位标记(如图3所示)，将阵列基板上设置(如图2所示)细对位标记和在彩膜基板上设置细对位标记(如图3所示)对合后产生了如图7所示的图形，即细对位标记出现了透光区域，且阵列基板上的对位标记向右偏移了0.5个对位标记距离，或彩膜基板上的细对位标记(如图3所示)向左偏移了0.5个对位标记距离。表明阵列基板上设置(如图2所示)的细对位标记和彩膜基板上设置的细对位标记(如图3所示)对合时，阵列基板向右偏移了0.5个对位标记距离，或彩膜基板向左偏移了0.5个对位标记距离。此时可将阵列基板左移0.5个对位标记距离，或将彩膜基板右移0.5个对位标记距离进行调整，直到对合后，对位标记出现全黑长方形图案为止。
(5)当阵列基板和彩膜基板进行对合工艺时，如果在阵列基板上设置(如图2所示)细对位标记，在彩膜基板上设置细对位标记(如图3所示)，将阵列基板上设置(如图2所示)细对位标记和在彩膜基板上设置细对位标记(如图3所示)对合后产生了如图8所示的图形，即细对位标记间出现了透光区域，形成了斜条纹图案，根据该条纹可以明确判断阵列基板上设置的(如图2所示)细对位标记和彩膜基板上设置的细对位标记(如图3所示)对合时出现了错位情况，该错位导致了阵列基板上设置的(如图2所示)细对位标记和彩膜基板上设置的细对位标记(如图3所示)形成了错位角度θ(θ＝0时，表示对位标记间为发生倾斜)，错位角度θ范围取值为0.001至1.000度时，阵列基板上设置的(如图2所示)细对位标记和彩膜基板上设置的细对位标记之间会形成明暗相间的，周期分布的暗纹和明纹，该暗纹和明纹成为叠纹，如果该暗纹的周期用T表示，且该暗纹延伸方向与该夹角θ的角平分线垂直，该暗纹的周期T与该标记的周期Q关系式可以表示为：T＝(1/θ)Q，该错位角度θ一般采用弧度单位表示便于计算，当Q越大时，T越小，若θ＝0.1弧度，T＝10Q，T越大，意味着暗纹越容易分辨。因此可以控制θ来调整对位，直到对合后，对位标记出现全黑长方形图案为止。
(6)当阵列基板和彩膜基板进行对合工艺时，如果在阵列基板上设置(如图2所示)细对位标记，在彩膜基板上设置细对位标记(如图3所示)，将阵列基板上设置(如图2所示)细对位标记和在彩膜基板上设置细对位标记(如图3所示)对合后产生了如图9所示的图形，即细对位标记间出现了透光区域，形成了斜条纹图案，根据该条纹可以明确判断阵列基板上设置(如图2所示)的细对位标记和彩膜基板上设置得细对位标记(如图3所示)对合时出现了错位情况，该错位导致了阵列基板上设置(如图2所示)的细对位标记和彩膜基板上设置的细对位标记(如图3所示)形成了错位角度θ(θ＝0时，表示为对位标记间为发生倾斜)，该错位方向与情况(5)中的倾斜方向相反。具体分析方法同情况(5)中分析。
实施例2：
本实施例中，液晶显示器的结构与实施例1中液晶显示器的的结构基本相同。不同之处在于细对位标记的设计。
本实施例中，细对位标记的设计如下：
阵列基板上设置的细对位标记由一条长方形的初始对位标记符号和七条倒L形的细对位标记符号组成。
其中，初始对位标记符号位于所述细对位标记的最左侧，且比其余对位标记符号长，其余对位标记符号等长(如图10所示)；
彩膜基板上设置的细对位标记由一条长方形的初始对位标记符号和七条L形的细对位标记符号组成。
其中，初始对位标记符号位于所述细对位标记的最右侧，且比其余对位标记符号长，其余对位标记符号等长(如图11所示)。
阵列基板上的细对位标记符号的下端处于同一直线上，
彩膜基板上的细对位标记符号的上端处于同一水直线上。
(1)当阵列基板和彩膜基板进行对合工艺时，如果在阵列基板上设置细对位标记(如图10所示)，在彩膜基板上设置细对位标记(如图11所示)，将阵列基板上设置的(如图10所示)细对位标记和彩膜基板上设置的细对位标记(如图11所示)对合后产生了如图12所示的图形，即细对位标记没有一丝透光区域，图案为一个完整的黑长方体图案。表明阵列基板上设置的(如图10所示)细对位标记和彩膜基板上设置的细对位标记(如图11所示)对合紧密，对位情况良好，对位完全符合设计要求。
(2)当阵列基板和彩膜基板进行对合工艺时，如果在阵列基板上设置细对位标记(如图10所示)，在彩膜基板上设置细对位标记(如图11所示)，将阵列基板上设置的(如图10所示)细对位标记和彩膜基板上设置的细对位标记(如图11所示)对合后产生了如图13所示的图形，即图案为一个不完整的黑长方体图案，两端出现了透光区域，且阵列基板上设置的细对位标记(如图11所示)向左错位了1个识别校对标记单元，或彩膜基板上设置的细对位标记(如图11所示)向右错位了1个识别校对标记单元。表明阵列基板上设置的细对位标记(如图10所示)和彩膜基板上设置的细对位标记(如图11所示)对合时，阵列基板向左错位了1个识别校对标记单元，或彩膜基板向右错位了1个识别校对标记单元。此时可将阵列基板向右移动1个识别校对标记单元，或将彩膜基板向左移动1个识别校对标记单元进行调整。
(3)当阵列基板和彩膜基板进行对合工艺时，如果在阵列基板上设置细对位标记(如图10所示)，在彩膜基板上设置细对位标记(如图11所示)，将阵列基板上设置的(如图10所示)细对位标记和彩膜基板上设置的细对位标记(如图11所示)对合后产生了如图14所示的图形，即图案为一个不完整的黑长方体图案，出现了透光区域，且阵列基板上设置的(如图11所示)细对位标记向左错位了0.5个识别校对标记单元，或彩膜基板上设置的(如图10所示)细对位标记向右错位了0.5个识别校对标记单元。表明阵列基板上设置的细对位标记(如图9所示)和彩膜基板上设置的细对位标记(如图11所示)对合时，阵列基板向左错位了0.5个识别校对标记单元，或彩膜基板向右错位了0.5个识别校对标记单元。此时可将阵列基板向右移动0.5个识别校对标记单元，或将彩膜基板向左移动0.5个识别校对标记单元进行调整。
(4)当阵列基板和彩膜基板进行对合工艺时，如果在阵列基板上设置细对位标记(如图10所示)，在彩膜基板上设置细对位标记(如图11所示)，将阵列基板上设置的(如图10所示)细对位标记和彩膜基板上设置的细对位标记(如图11所示)对合后产生了如图15所示的图形，即图案为一个不完整的黑长方体图案，出现了透光区域，且阵列基板上设置的(如图11所示)细对位标记向右错位了0.5个识别校对标记单元，或彩膜基板上设置的(如图10所示)细对位标记向左错位了0.5个识别校对标记单元。表明阵列基板上设置的细对位标记(如图10所示)和彩膜基板上设置的细对位标记(如图11所示)对合时，阵列基板向右错位了0.5个识别校对标记单元，或彩膜基板向左错位了0.5个识别校对标记单元。此时可将彩膜基板向右移动0.5个识别校对标记单元，或将阵列基板向左移动0.5个识别校对标记单元进行调整。
(5)当阵列基板和彩膜基板进行对合工艺时，如果在阵列基板上设置细对位标记(如图10所示)，在彩膜基板上设置细对位标记(如图11所示)，将阵列基板上设置的(如图10所示)细对位标记和彩膜基板上设置的细对位标记(如图11所示)对合后产生了如图16所示的图形，即图案为一个不完整的黑长方体图案，出现了透光区域，且阵列基板上设置的(如图11所示)细对位标记向右错位了1个识别校对标记单元，或彩膜基板上设置的(如图10所示)细对位标记向左错位了1个识别校对标记单元。表明阵列基板上设置的细对位标记(如图9所示)和彩膜基板上设置的细对位标记(如图11所示)对合时，阵列基板向右错位了1个识别校对标记单元，或彩膜基板向左错位了1个识别校对标记单元。此时可将彩膜基板向右移动1个识别校对标记单元，或将阵列基板向左移动1个识别校对标记单元进行调整。
(6)当阵列基板和彩膜基板进行对合工艺时，如果在阵列基板上设置细对位标记(如图10所示)，在彩膜基板上设置细对位标记(如图11所示)，将阵列基板上设置的(如图10所示)细对位标记和彩膜基板上设置的细对位标记(如图11所示)对合后产生了如图17所示的图形，即细对位标记间出现了透光区域，在横向和纵向上形成了斜条纹图案，根据该条纹可以明确判断阵列基板上设置的(如图10所示)细对位标记和彩膜基板上设置的细对位标记(如图11所示)对合后出现了错位情况，该错位导致了阵列基板上设置的(如图10所示)细对位标记和彩膜基板上设置的细对位标记(如图11所示)形成了顺时针方向错位角度θ(θ＝0时，表示为对位标记间为发生倾斜)，错位角度θ范围取值为0.001至1.000弧度时，阵列基板上设置的(如图1所示)细对位标记和彩膜基板上设置的细对位标记之间会形成明暗相间的，在横向和纵上周期分布的暗纹和明纹，该横向和纵向明纹和暗纹成为叠纹(简称摩尔纹)，如果该暗纹的周期用T表示，且该暗纹延伸方向与该夹角θ的角平分线垂直，该暗纹的周期T与该标记的周期Q关系式可以表示为：T＝(1/θ)Q，该错位角度θ一般采用弧度单位表示便于计算，当Q越大时，T越小，若θ＝0.1弧度，则T＝10Q，T越大，意味着暗纹越容易分辨。因此可以控制θ来调整对位，提高对位的细度。
(7)当阵列基板和彩膜基板进行对合工艺时，如果在阵列基板上设置细对位标记(如图10所示)，在彩膜基板上设置细对位标记(如图11所示)，将阵列基板上设置的(如图10所示)细对位标记和彩膜基板上设置的细对位标记(如图11所示)对合后产生了如图18所示的图形，即细对位标记间出现了透光区域，在横向和纵向上形成了斜条纹图案，根据该条纹可以明确判断阵列基板上设置的(如图10所示)细对位标记和彩膜基板上设置的细对位标记(如图11所示)对合后出现了错位情况，该错位导致了阵列基板上设置的(如图10所示)细对位标记和彩膜基板上设置的细对位标记(如图11所示)形成了逆时针方向错位角度θ(θ＝0时，表示为对位标记间为发生倾斜)，具体分析方法同情况(6)中分析。
实施例1和实施例2中，
所述阵列基板上的细对位标记的对位标记符号间距可相等可不相等。
所述阵列基板上的细对位标记的对位标记符号的宽度可相等可不相等。
所述阵列基板上的细对位标记的对位标记符号之间的间距与该对位标记符号的宽度可相等可不相等；
所述细对位标记符号的宽度为0.3μm～1.0mm。
本发明的目的还在于提供一种设有能缩短对位时间的基板。
所述基板上设有组合型对位标记，所述组合型对位标记包括粗对位标记和细对位标记，所述细对位标记位于所述粗对位标记的外围四周区域。
所述细对位标记包括：
在基板平面上X方向上的细对位标记、Y方向上的细对位标记；
所述基板平面上X方向和Y方向上的细对位标记，由平行布置的至少两个细对位标记符号组成。
所述阵列基板上的细对位标记符号中，至少一条为初始对位标记，所述初始对位标记符号比该基板上其余的对位标记符号长，该基板上的其余对位标记符号等长。
所述基板包括带有对位标记的所有基板。
所述基板上的细对位标记符号的形状为长方形、倒L形、三角形或梯形等形状。
根据该组合型对位标记进行对位，可以在同一个工艺中进行粗对位和细对位，可避免传统技术中粗对位和细对位两步骤分开进行识别，减少对位时间。
显然，本发明设有组合型对位标记的基板可适用于电视机、电脑、手机、各种宣传看板或各种现代化办公工艺等。
本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的宗旨和范围。若这些改动和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (9)

1.一种液晶显示器，包括阵列基板和彩膜基板，其特征在于：在所述阵列基板和彩膜基板上均设有组合型对位标记，所述组合型对位标记包括粗对位标记和细对位标记，所述细对位标记位于所述粗对位标记的外围四周区域；
所述阵列基板上的粗对位标记和所述彩膜基板上的粗对位标记相对应；
所述阵列基板上的细对位标记和所述彩膜基板上的细对位标记相对应；
通过所述细对位标记进行对合工艺，当对合后由所述细对位标记产生的图形上不存在透光区域时，则实现紧密对合。
2.根据权利要求1所述的液晶显示器，其特征在于：所述阵列基板上的粗对位标记为正方环、长方环、椭圆环或圆环；
相应地，所述彩膜基板上的粗对位标记为正方形、长方形、椭圆形或圆形，其大小小于所述正方环、长方环、椭圆环或圆环的内环大小。
3.根据权利要求1所述的液晶显示器，其特征在于：所述细对位标记包括：
在所述阵列基板平面上X方向上的细对位标记、Y方向上的细对位标记；和
在所述彩膜基板平面上X方向上的细对位标记、Y方向上的细对位标记；
所述阵列基板平面上X方向和Y方向上的细对位标记，由平行布置的至少两个细对位标记符号组成；
所述彩膜基板平面上X方向和Y方向上的细对位标记，也由平行布置的至少两个细对位标记符号组成；
所述阵列基板上的细对位标记的对位标记符号之间间隙的形状、大小与所述彩膜基板上的细对位标记的对位标记符号的形状、大小相对应；
所述彩膜基板上的细对位标记的对位标记符号之间间隙的形状、大小与所述阵列基板上的细对位标记的对位标记符号的形状、大小相对应。
4.如权利要求3所述的液晶显示器，其特征在于：
所述阵列基板上的细对位标记符号的形状为长方形、倒L形、三角形或梯形。
5.根据权利要求3所述的液晶显示器，其特征在于：
所述阵列基板上的细对位标记符号中，至少一条为初始对位标记符号，所述初始对位标记符号比该阵列基板上的其余对位标记符号长，该阵列基板上的其余对位标记符号等长；和/或
所述彩膜基板上的细对位标记符号中，至少一条为初始对位标记符号，所述初始对位标记符号比该彩膜基板上的其余对位标记符号长，该彩膜基板上的其余对位标记符号等长。
6.根据权利要求3所述液晶显示器，其特征在于：
所述阵列基板上的细对位标记的对位标记符号间距相等或不相等。
7.根据权利要求3所述液晶显示器，其特征在于：
所述阵列基板上的细对位标记的对位标记符号的宽度相等或不相等。
8.根据权利要求3所述的液晶显示器，其特征在于：
所述阵列基板上的细对位标记的对位标记符号之间的间距与该对位标记符号的宽度相等或不相等。
9.根据权利要求3至8任一项所述的液晶显示器，其特征在于：所述细对位标记符号的宽度为0.3μm~1.0mm。
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