背景技术
在高数据速率串行器-解串器(SERDES)输入/输出(I/O)核心中使用的公共时钟产生体系结构使用单个低噪声锁相环(PLL)。PLL信号被分送给发送器(Tx)、接收器(Rx)、或收发器子系统中的一个或多个,所述子系统包括用于对固定频率PLL时钟进行频率和相位偏移的″相位旋转器(phase rotator)″,使得本地接收器时钟可以被锁相到输入数据流。
参照图1,示出了时钟产生子系统的框图。在此例子中,通过使用正交除法器(quadrature divider)12把PLL 10的输出时钟除以二。正交除法器12生成输出“同相”(I)13和“正交相”(Q)14时钟,所述时钟均根据PLL时钟频率除以二并且相互偏移90度。这些正交时钟13和14被分送到一个或多个数据I/O核心15。每个I/O通常包含本地时钟缓冲器16,其可以用来在I和Q时钟13和14分别被施加到本地相位旋转器17和18之前改进它们的正交准确性和/或占空度。
此本地时钟缓冲器使用开环方法来实现,这意味着时钟信号通过缓冲器16而没有应用任何反馈校正来改进时钟的输出占空度和/或正交关系。其它设备可以包括锁存器21。
为了示例性目的,时钟13和14被示为分送到多个数据接收器15。每个接收器15可以具有独立的输入数据流(例如,数据输入1),其必须被本地时钟和数据恢复(CDR)单元22锁频和锁相。在典型的应用中,为了实现频率和相位锁定,CDR 22更新本地边缘相位旋转器17的相位,使得来自边缘旋转器17的输出的边缘交叉(edgecrossing)与输入数据流(数据输入1)的边缘交叉一致。数据旋转器18被编程为适于数据检测的相位偏移,通常是从边缘旋转器17移动的1/2比特间隔。锁存器21用来捕获由CDR单元22处理的数据和边缘信息。应当理解,基本数据和边缘检测接收器足以满足说明基于相位旋转器的时钟产生系统的目的。
如图2所示,相位旋转器17、18能够通过把I和Q输入时钟与变化的权重相混合和组合来产生具有从0到360度改变的相位的输出时钟19和8。
参照图2,相位旋转器17、18通过对输入正交时钟23和24的加权组合进行求和以便创建具有可编程相位的输出时钟30来工作。作为一个例子,数模转换器(DAC)26输出权重27和28。当I时钟数模转换器(IDAC)27的权重输入到I时钟混合器25并且被设置为1(意味着100%被选择)而Q时钟DAC(QDAC)28的权重被设置为0(意味着0%被选择)时,相位旋转器17、18输出I时钟,所述I时钟根据定义具有0度相位。类似地,当Q时钟DAC 28的权重被设置为1而I时钟DAC 27的权重被设置为0时,相位旋转器输出Q时钟,当且仅当输入Q时钟24与I时钟完美正交时所述Q时钟具有90度相位。可以通过利用相应的乘法器加权I和Q时钟来实现中间相位,所述乘法器实现如图2中的表33所示的期望的输出相位。
在使用1/2速率计时(意味着I和Q时钟频率是接收数据速率的1/2)的串行器/解串器核心中的相位旋转器的常见实现方式使用从0到360度总共64个相位梯级,实现5.625度的相位分辨率。这种设计跨过一个接收数据比特持续时间提供了32梯级的时间分辨率。尽管相位旋转器组件(DAC 27和28、混合器25和求和器29)的详细电路实现方式可以使用许多不同的技术,不过每个相位旋转器实现方式在相位准确性方面受I和Q输入时钟23和24的基础准确性限制。
由于I和Q时钟从LC PLL分送到许多Tx/Rx核心,所以时钟的正交关系可能由于时钟分布中不同的I/Q路径延迟而变得失配。此外,时钟的占空度由于时钟缓冲器设备中的失配和延迟差异而可能变得不准确。
参照图3,时序图图示了正交时钟。时钟波形交叉时间T1、T2、T3和T4可以通过以下定义和公式与所产生的占空度和正交关系误差相关:
T=平均时钟1/2周期=T4/2 (1)
DUTYI=T2/(2*T)*100% (2)
DUTYQ=(T3-T1)/(2*T)*100% (3)
IQ=integ(I*Q)(T3-T2+T1)/T*90deg (4)
完美的IQ时钟具有DUTYI=50%,DUTYQ=50%,并且IQ=90度,这意味着I和Q时钟的+和-极性的持续时间是相同的,并且Q时钟被从I时钟精确地延迟90度,其对应于完整时钟周期2*T的1/4。为了查看在时钟发生器中非50%的占空度和非90度的正交如何转换为时间抖动,值T1、T2、T3和T4可以被如下表示为占空度和正交关系的函数:
T1=(IQ/180deg+(DUTYI-DUTYQ)/100%)*T (5)
T2=DUTYI/50%*T (6)
T3=T1+DUTYQ/50%*T (7)
T4=2*T (8)
为了简化抖动分析,在图3中可以假定相位旋转器在时钟交叉间隔0、T1、T2、T3和T4分别根据I或Q信号创建边缘时钟和根据Q或I信号创建数据时钟。由于边缘时钟设置用于采样系统的时间基准,所以数据时钟抖动可以被计算为从理想的采样位置(在本说明书中从边缘时钟延迟T/2)到实际的采样位置(延迟T/2+误差)的差异。
在异步时钟恢复系统中,因为接收器系统利用不相干(与本地PLL不同的频率)时钟跟踪输入数据信号,所以边缘相位随时间推移从0变换到T4。因此,在波形交叉间隔,如表1所示,给出了可能的边缘和数据采样位置:
边缘采样 数据采样 数据采样抖动
0 T1 (T1-T/2)
T1 T2 (T2-T1-T/2)
T2 T3 (T3-T2-T/2)
T3 T4 (T4-T3-T/2)
表1.数据采样抖动
由非理想的正交时钟添加的峰到峰数据采样抖动可以被表示为表1中的采样抖动的最大值减去采样抖动的最小值,其可以被简洁地计算为:
数据采样抖动=max(T1,T2-T1,T3-T2,T4-T3)-min(T1,T2-T1,T3-T2,T4-T3)(9)
只有当T1和T2与T1、T3与T2以及T4与T3之间的间隔均等于T/2时,抖动才为零。只有当I和Q时钟处于完美正交(Q从I延迟T/2)并且具有50%占空度时才出现此条件。
在现有技术中,在信号被施加到相位旋转器之前,为了正交准确性和占空度,在每个本地时钟发生器的本地开环“粗略清理(coarseclean up)”缓冲器16(图1)一般用来尽可能地清理IQ时钟。
参照图4,示出了现有技术中“粗略清理”缓冲器的一般实现方式,用于提供两个输出路径,所述输出路径从具有两个电流模式逻辑(current-mode-logic,CML)时钟输入I和Q的求和器40形成I+Q和Q-I,利用在输出上的DC阻塞时钟缓冲器41增大以便改进占空度。此操作改进了输出时钟信号的正交关系和占空度。然而,在“粗略清理”缓冲器自身中的匹配准确性的限制(由于用来构建它的设备的变化而导致)对可达到的准确性带来基本限制。特别地是,当用深亚微CMOS技术实现时,负载电阻42、设备增益43和缓冲级偏压电流44均对显著的失配效应敏感。这些失配效应有效地在输出上产生了不想要的DC偏移,这对I和Q时钟的占空度和正交关系增加了误差。
对所实现的集成电路的研究表明,即便在“粗略清理”缓冲器和任何相关联的开环占空度清理时钟缓冲器之后,由于设备失配所引起的基准时钟误差也可能诱发如公式(9)所预测的、接收位宽(等于半速率计时体系结构中的时间间隔T)的20%或更多的数量级的数据采样时间抖动。这种劣化的级别对高数据速率(5-10Gb/s以及更高)SERDES的应用来说一般是不可接受的,这是因为由于来自串扰、反射、码元间干扰(ISI)的大抖动以及包括来自PLL的随机时钟抖动的其它核心劣化源所导致的抖动预算中,20%的时间抖动是不可用的。在许多常见的数据传输应用中,信道和核心引发的抖动将在一比特间隔采样间隔内产生15%或更少的剩余抖动余量,即便是完美的线性相位产生子系统也是如此。除失配问题之外,开环系统不能真正地补偿由于基本的I+Q/Q-I算法所导致的I/Q分隔误差效应,该算法只是将此误差从时间域传播到幅度域,在幅度域它仍然会负面地影响旋转器的准确性。
具体实施方式
本发明原理解决了在数据输入和输出系统和方法的时钟路径中可能出现的静态失配和电压/温度引发的漂移误差。本发明原理把相位产生器子系统的线性度改进到好于现有技术开环校正器可达到性能的级别。本发明的实施例以对系统较低的功率和芯片面积开销动态地校正由于工艺、电压和温度变化所导致的时钟误差。本发明的实施例解决了跨越工艺、电压和温度(PVT)变化实现理想正交的问题(开环方案即使在设备匹配(P)完美的情况下也不能完美实现),并且特别是在操作数据速率范围内。减小的基准时钟误差在时钟相位产生子系统中直接导致较小的时钟抖动。较小的时钟抖动进而转换为对于例如高速串行I/O互连的应用的改进操作余量。
这些原理可以被应用于需要准确的正交基准时钟或准确的占空度时钟的任何应用,包括在串行器/解串器(SERDES)中的发送器和接收器系统、I/O核心、在无线电中普遍使用的正交混合器子系统、SERDES时钟相位产生、IQ混合器、闭环传输占空度校正系统、闭环接收器锁存占空度校正系统等。
针对基于IQ内插的相位发生器,本发明原理从开环正交和占空度校正移转到新颖的闭环/调适的(adpated)方法。当使用开环校正方案时,IC技术中的设备失配不足以提供足够的性能。
本领域技术人员应当理解,本发明的各方面可以实现为系统、方法或计算机程序产品。据此,本发明的各方面可以采取全硬件实施例、全软件实施例(包括固件、常驻软件、微代码等)或组合软件和硬件方面的实施例的形式,它们在这里通常可以均被称作“电路”、“模块”或“系统”。此外,本发明的各方面可以采取用一个或多个计算机可读介质实现的计算机程序产品的形式,其上具有计算机可读程序代码。
可以利用一个或多个计算机可读介质的任何组合。计算机可读介质可以是计算机可读信号介质或计算机可读存储介质。计算机可读存储介质可以例如但不局限于电子、磁、光、电磁、红外或半导体系统、设备或装置,或者上述任何适当的组合。计算机可读存储介质的更具体例子(非穷举列表)包括以下内容:具有一个或多个导线的电连接,便携式计算机盘片,硬盘,随机存取存储器(RAM),只读存储器(ROM),可擦除可编程只读存储器(EPROM或闪速存储器),光纤,便携式压缩光盘只读存储器(CD-ROM),光存储设备,磁存储器或上述的任何适当组合。在本文档的上下文中,计算机可读存储介质可以是任何有形的介质,其可以包含或存储程序以供指令执行系统、设备或装置使用或与其相结合使用。
计算机可读信号介质可以包括其中实现有计算机可读程序代码的传播数据信号,例如在基带中或作为载波的一部分。这种传播信号可以采取各种形式,包括但不限于电磁的、光的或其任何适当的组合。计算机可读信号介质可以是并非计算机可读存储介质的任何计算机可读介质,并且可以传送、传播或传输程序以供指令执行系统、设备或装置使用或与其相结合使用。
在计算机可读介质上实现的程序代码可以使用任何适当的介质发送,包括但不局限于无线、有线线路、光缆、RF等或者上述任何适当的组合。用于执行本发明各方面的操作的计算机程序代码可以用一种或多种编程语言的任何组合来编写,包括诸如Java、Smalltalk、C++等面向对象编程语言和诸如“C”编程语言或类似的编程语言之类的常规的过程编程语言。程序代码可以完全地在用户计算机上,部分地在用户计算机上作为独立软件包执行,部分地在用户计算机上并且部分地在远程计算机上或者完全在远程计算机或服务器上执行。在后一种方案中,远程计算机可以通过任何类型的网络连接到用户计算机,包括局域网(LAN)或广域网(WAN),或者可以连接到外部计算机(例如,使用因特网服务供应商通过因特网连接)。
参考根据本发明实施例的方法、设备(系统)和计算机程序产品的流程图说明和/或框图,下面描述本发明的各个方面。应当理解,流程图说明和/或框图的每个块以及在流程图说明和/或框图中的块组合可以由计算机程序指令来实现。这些计算机程序指令可以被提供给通用计算机、专用计算机或其它可编程数据处理设备的处理器来制造机器,使得经由计算机或其它可编程数据处理设备的处理器执行的指令建立用于实现在一个或多个流程图和/或框图块中所指定的功能/动作的装置。
这些计算机程序指令也可以被存储在计算机可读介质中,其可以指示计算机、其它可编程数据处理设备或其它设备根据特定方式工作,使得在计算机可读介质中所存储的指令生成包括用于实现在一个或多个流程图和/或框图块中所指定的功能/动作的指令的制造产品。计算机程序指令也可以被加载到计算机、其它可编程数据处理设备或其它设备上,以便在计算机、其它可编程设备或其它设备上执行一系列操作步骤以生成计算机实现的过程,使得在计算机或其它可编程设备上执行的指令提供了用于实现在一个或多个流程图和/或框图块中所指定的功能/动作。
图中的流程图和框图根据本发明的各个实施例图示了系统、方法和计算机程序产品的可能实现方式的体系结构、功能和操作。在这方面,流程图或框图中的每个块可以表示代码的模块、段或部分,包括用于实现所指定逻辑功能的一个或多个可执行指令。还应当注意,在一些候选实现方式中,在块中所表明的功能可以以不同于附图中的次序出现。例如,连续示出的两个块实际上可以基本上同时执行,或者取决于所涉及的功能,所述块有时可以依照相反次序执行。还应当注意,框图和/或流程图说明的每个块和在所述框图和/或流程图说明中的块组合可以借助基于专用硬件的系统或者专用硬件和计算机指令的组合来实现,所述基于专用硬件的系统执行所指定的功能或动作。
如这里所描述的电路可以是集成电路芯片设计的一部分。芯片设计用图形计算机程序设计语言来建立,并且存储在计算机存储介质中(诸如盘片、磁带、硬盘驱动器或诸如在存储访问网络中的虚拟硬盘驱动器)。如果设计者没有制造芯片或者用于制造芯片的光刻掩模,那么所述设计者就直接或间接地借助物理手段(例如,通过提供用于存储设计的存储介质拷贝)或借助电子手段(例如,通过因特网)向这种实体发送所产生的设计。然后把所存储的设计转换为适当的格式(例如,图形数据系统II(GDSII))以便制造光刻掩模,所述光刻掩模一般包括将在晶片上形成的上述芯片设计的多个拷贝。利用光刻掩模来定义要蚀刻或以其他方式处理的晶片(和/或其上的层)的面积。
所产生的集成电路芯片可以由制造者以原始晶片形式(即,作为具有多个未封装芯片的单个晶片),作为裸管芯,或者以封装形式分送。在后一种情况中,芯片被安装在单芯片封装(诸如具有被贴到主板的引线的塑料载体,或其它更高级的载体)中,或者被安装在多芯片封装(例如陶瓷载体,其具有表面互连和/或掩埋互连)中。在任何情况下,然后把该芯片作为(a)例如主板之类的中间产品或(b)最终产品的一部分与其它芯片、分立电路元件和/或其它信号处理器件集成。最终产品可以是包括集成电路芯片的任何产品,从玩具和其它低端应用到具有显示器、键盘或其它输入设备和中央处理器的高级计算机产品。
现在参照附图,其中同样的数字表示相同或类似的元件并且最初参照图5,在高级框图中示出了闭环动态时钟校正系统100。动态时钟校正系统100以数字方式测量I和Q时钟占空度/相位关系并且使用连续调适的控制回路来校正时钟的占空度和正交准确性。另外,系统100具有平衡I和Q时钟幅度的能力,如果所述I和Q时钟幅度变得不平衡,那么可能会不利地影响在相位旋转器中所实现的相位线性度。在这种情况下,系统100补偿在时钟分送电路中的失配效应以便能够减少数据采样时钟抖动,所述数据采样时钟抖动可能源于用于驱动相位旋转器的IQ时钟的正交误差、占空度误差和/或幅度失配。
示例性的系统100接受正交时钟I时钟13和Q时钟14并且使用正交时钟调整设备或级150来调整这些时钟的正交关系、占空度以及可选地还有幅度,以便产生校正的输出时钟Ic和Qc 155。来自时钟调整级150的校正时钟被路由到相位旋转器设备160和信号多路复用设备156,信号多路复用设备156向信号测量块或设备157的输入传送校正的I时钟、Q时钟、“0”(时钟基线基准)、或可选地还有其它信号。
在一个实施例中,信号测量块157调节输入信号的偏移158以及可选地调节输入信号的增益159,并且生成输入信号的数字输出测量值(信号)。使用由相位旋转器设备160产生的时钟来采样信号测量值(157),其进而被延迟元件161延迟。在一个实施例中,可以在不同延迟的范围内编程延迟元件161。
控制模块163产生测量触发162以便在信号测量块157中生成信号测量值。信号测量结果由控制模块163处理以便为时钟调整模块150产生更新的时钟校正输入,所述时钟调整模块150分别包括用于校正时钟正交误差的PHASE_IQ控制153、用于校正I时钟的占空度误差的DUTY_I控制154、用于校正Q时钟的占空度误差的DUTY_Q控制164、和用于校正I或Q时钟的增益误差的GAIN_I152和/或GAIN_Q151。
控制模块163使用一种控制方法来对旋转器160的相位、延迟元件161的延迟和测量采样触发控制162定序,所述控制方法实现了检测并校正输入正交时钟占空度误差、正交误差以及可选地增益误差。控制模块163可以可选地用来通过经由信号多路复用器156路由其它信号165并且使用适当的控制166来控制这些其它信号的相关联的占空度、增益或正交关系,来在系统实施例中检测并校正其它时钟中的误差。
在简单的实施例中,没有其它信号被测量或控制,并且校正的I和Q时钟155可以被发送到数据和边缘相位旋转器输入17和18(图1)以便在数据接收器系统中产生具有改进的相位线性度的内插时钟相位。
由控制模块163实现的时钟校正方法可以在Ic和Qc时钟的整个周期内测量它们的符号,对应于2*T的持续时间或360度的相位。为了确定正交误差,控制方法累加Ic和Qc波形的符号的乘积积分,同时在离散的梯级中跨过2*T时间段步进旋转器160的相位。为了确定占空度误差,所述方法在相同的2*T周期上累加Ic和Qc波形符号的积分。借助以下的误差测量控制方法来描述在一个实施例中用来确定这些误差积分的过程。
参考图5后继续参考图6,示例性地描绘了用于确定误差积分的方法。在块170中,时钟延迟缓冲器161被循环推进一个延迟单位。在块171中,把旋转器160的相位初始化为0。在块172中,选择“0”或信号多路复用器156的时钟基线输入。在块173中,确定信号是否大于0,生成波形符号+1或-1。在块174中,根据来自块173的确定来更新信号偏移控制158。在块175中,选择信号多路复用器156的Ic波形输入。在块176中,确定信号是否大于0,生成Ic波形符号+1或-1。在块177中,在模块163的I_Duty_Error累加器中累加I符号值的和,保存I符号。在块178中,选择信号多路复用器156的Qc波形输入。在块179中,确定信号是否大于0,生成Qc波形符号+1或-1。在块180中,在模块163中的Q_Duty_Error累加器中累加Qc符号值的和。
在块181中,把来自块177的保存的I符号乘以Qc波形极性值,并且在模块163的IQ_Error累加器中累加和。在块182中,把相位旋转器160增大一个离散的相位梯级。在块183中,重复块175到182直到相位旋转器已经完成完整的360度扫描或Ic和Qc输入时钟的完整2*T周期的覆盖范围。这提供了预定操作周期的误差积分。
误差测量控制方法的块170对每个误差确定序列的符号采样锁存实现了可变的时间延迟。为了使时钟校正方法适当地工作,由相位旋转器160提供的时钟从输入到相位旋转器160的Ic和Qc时钟被延迟或去相关(de-correlate)。此延迟允许测量在旋转器相位的Ic和Qc时钟交叉时间(或边缘),所述旋转器相位用于混合或内插Ic和Qc信息以便确定Ic和Qc时钟边缘交叉点。通过提供用于测量在内插旋转器相位位置的Ic和Qc波形边缘的能力,测量系统能够检测在边缘交叉时间的误差。
在一个实施例中旋转器160的相位调整被量化为比方说近似5度的数字梯级(例如,对于完整的360度相位调整范围来说64个离散的相位梯级产生5.625度的相位量化)。此量化可能限制能够测量I和Q波形的边缘交叉的准确性。通过引入具有可编程精细延迟的延迟缓冲器161,测量系统能够将边缘交叉解析到好于相位旋转器本身的梯级分辨率的准确性。
在一个实施例中,可变的时间延迟将按照小于对应于一个相位旋转器梯级的时间延迟的1/2的时间梯级推进延迟,并且提供最小延迟和完整的2*T时钟周期的至少1/16的延迟范围。在块170中,循环推进延迟缓冲器意味着增加缓冲延迟直到延迟为由缓冲器所提供的最大值,在此之后编程的延迟被约束为最小延迟。
在误差测量控制过程中的块172到174定义了DC偏移校正处理,用于移除信号测量块157中的任何偏移。信号测量块157中的未补偿偏移向占空度和相位误差确定增加了误差。DC偏移校正处理有效地调整了Signal_Offset控制158,使得当时钟或信号多路复用器156被配置为选择“0”(时钟基线)输入时由信号测量块157获得为0的平均信号测量值。通过在所测量的信号符号的相反方向上集成Signal_Offset控制(158)来实现此状态,由此实现经调适的DC偏移补偿控制回路。
在一个实施例中通过平均来自至少16个独立测量的结果以便减少在单个符号测量结果上的噪声效应,来实现在误差测量控制过程中的块173、176和179中执行的波形符号确定。如果16个测量值中的大部分是+1,那么确定正的波形值;否则确定负的波形值。
在使用具有64个离散相位位置的相位旋转器160的实施例中,块175到182被重复64次以便实现以下计算:
如果所测量的时钟波形大于基线(0)值,那么等式(10)到(12)中的SGN()函数输出1,并且如果波形小于或等于基线值,那么该函数输出-1。在图5中,通过信号测量块157来确定SGN()函数,其对应于SGN函数值1确定所测量的波形是否大于或等于0,或者对应于SGN函数值-1确定所测量的波形是否小于0。如果I和Q波形具有50%的占空度并且处于理想正交,那么等式(10)到(12)均产生值0。
在借助图6的误差测量控制方法计算由等式(10)到(12)确定的误差信号之后,使用以下时钟校正控制过程来更新控制变量PHASE_IQ153、DUTY_I154和DUTY_Q164,其中从控制模块163提供控制信号并且由时钟校正电路160执行时钟校正控制过程。控制模块163和时钟校正控制160优选包括逻辑电路和设备(和/或软件)来实现在时钟校正控制过程中的以下功能。
时钟校正控制过程:
1)如果快速收敛模式,那么把ADJ设置为值>1,否则把ADJ设置为1
2)如果DUTY_I_SUM>0,那么DUTY_I=DUTY_I-ADJ
3)如果DUTY_I_SUM<0,那么DUTY_I=DUTY_I+ADJ
4)如果DUTY_Q_SUM>0,那么DUTY_Q=DUTY_Q-ADJ
5)如果DUTY_Q_SUM<0,那么DUTY_Q=DUTY_Q+ADJ
6)如果PHASE_IQ_SUM>0,那么PHASE_IQ=PHASE_IQ+ADJ
7)如果PHASE_IQ_SUM<0,那么PHASE_IQ=PHASE_IQ-ADJ
时钟校正控制过程的步骤1)设置方法的收敛速度。对于快速收敛采集来说,作为所确定误差的结果迅速地(ADJ值>1)更新校正项PHASE_IQ、DUTY_I和DUTY_Q,而在非采集(或跟踪)模式中,以较慢的速率(ADJ=1)更新所述项以便能够滤波所测量的信号值上的噪声。
时钟校正控制过程的步骤2)到5)根据DUTY_I_SUM和DUTY_Q_SUM误差项来修改DUTY_I和DUTY_Q控制。选择根据所确定的占空度误差来调整占空度的符号规范以便当应用占空度调整时降低占空度误差,并且可以根据相位调整方法的实现方式来改变极性。
时钟校正控制过程的步骤6)和7)根据PHASE_IQ_SUM误差项来更新PHASE_IQ控制。选择用于根据所确定的正交误差调整IQ正交的符号规范以便当应用校正时降低正交误差(即,使Q接近于从I延迟90度),并且可以根据正交调整方法的实现方式来改变极性。
在一个实施例中,控制项PHASE_IQ、DUTY_I和DUTY_Q由整数寄存器值表示,其直接对应于在最高有效比特中的硬件正交调整和占空度调整数模转换器(DAC)。使逻辑状态机内的寄存器大小大于硬件DAC,使得在必须更新硬件占空度或正交之前,所述寄存器可以自动平均许多测量值。
在一个实施例中,所述寄存器具有低于硬件DAC精度的至少4比特的精度。作为一个例子,如果硬件DAC具有5比特的精度,那么往往在逻辑实现方式中使用9比特累加器来表示控制值,并且往往需要最少16个ADJ=1的连续测量值来影响硬件调整。
时钟校正控制过程的可选增强实现了控制回路,用于平衡被分送给系统相位旋转器的Ic和Qc输出时钟的幅度。在这些时钟中的幅度不平衡可能由于粗略相位校正级40(图4)可能引入的幅度失配而出现,在一些实施例中,所述粗略相位校正级40可能在所描述的时钟校正设备之前。特别地是,如果到缓冲器的输入信号并不是正交的,那么粗略校正缓冲器40可以生成具有不同幅度的输出信号。
另一幅度失配的来源由于在独立的I和Q路径的电路实现中的设备匹配差异而出现,所述I和Q路径包括用于实现时钟校正缓冲器150的设备和电路(图5)。
可以使用信号测量块157来检测Ic和Qc波形的幅度失配来确定所选择Ic或Qc波形的峰值或所述波形的平均幅度。由于其简单性,在优选实施例中,可以使用以下幅度校正控制过程来确定波形的峰值:
a)选择时钟/信号多路复用器156的Ic波形输入。
b)如果必要的话把信号测量块157配置为较低的信号增益状态使得块157可以测量输入时钟的峰值。
c)把Signal_Offset偏移控制值初始化为在误差积分过程中确定的校准DC偏移。
d)把旋转器160的相位初始化为0。
e)确定信号是否大于0,生成测量结果1或-1。
f)如果测量值小于0,那么增大Signal_Offset控制值并且转到步骤e),否则继续至步骤g)。如果Signal_Offset控制值处于其最大值,那么也继续至步骤g)。
g)把相位旋转器增大一个梯级位置。
h)对于相位旋转器的完整360度扫描(2*T持续时间)重复步骤e)到g)。
i)把Signal_Offset偏移值保存到临时值PEAK_I
j)选择时钟/信号多路复用器的Qc波形输入。
k)重复步骤c)到h)以便确定Qc波形PEAK_Q的峰值。
l)如果PEAK_I>PEAK_Q,那么如果GAIN_Q并不处于其最大值,那么增大GAIN_Q控制参数,否则减小GAIN_I控制参数
m)如果PEAK_Q>PEAK_I,那么如果GAIN_I并不处于其最大值,那么增大GAIN_I控制参数,否则减小GAIN_Q控制参数
与占空度和正交硬件调整控制类似,Ic和Qc增益控制GAIN_I和GAIN_Q可以由寄存器值表示,所述寄存器值对应于利用额外比特扩充的硬件DAC以便实现测量值平均。作为一个例子,在一个实施例中如果使用4比特DAC来以0.025的梯级在例如从0.8到1.2的范围内调整I和Q增益,在控制逻辑中的寄存器值可能会为8比特的大小,使得可以平均来自单独的峰值测量值的结果。希望此平均以减少测量中的噪声并且避免根据噪声调整Ic和Qc波形增益控制。
在一个示例性实施例中,用于正交时钟校正的控制方法包括在高回路带宽收敛模式(ADJ>1)中执行的加电复位初始时钟对准,接着是此后在低回路带宽跟踪模式(ADJ=1)中执行的校正的周期刷新。低带宽周期性刷新补偿或跟踪在电路的DC偏移中跨越温度和电压变化的漂移(在扩展的系统操作期间可能会遇到所述温度和电压变化),由此跨越工艺、电压和温度变化实现改进的正交时钟准确性。改进的正交时钟准确性进而直接转换为例如在数据接收器中的减少的数据采样时钟抖动。还可以使用其它硬件子系统。
时钟校正电路或级150(图1)可以用于提供Ic时钟、Qc时钟的占空度的调整、Ic和Qc时钟的正交关系、和Ic时钟和/或Qc时钟的幅度中的一个或多个。为了使时钟校正系统100(图1)按需要工作,时钟校正级150需要提供足够的时钟参数调整范围以便覆盖具有足够分辨率的预期制造变化,以实现所想要的最大残留数据时钟采样抖动。在示例性实施例中,期望至少+/-15度的IQ相位调整范围、覆盖至少45∶55占空度的占空度误差(或10%峰值-峰值占空度误差)的占空度调整范围、和至少1.2/0.8(+/-20%幅度失配)的幅度平衡范围。还构想了其它范围。例如,在一个实施例中可以使用1度相位误差、0.5%占空度误差、和2%幅度匹配分辨率的相应调整分辨率。
参照图7,示例性地示出了示例性电流模式逻辑(CML)时钟校正缓冲器200的示意图。缓冲器200使用两个CML混合器202和204的级联来提供正交的“开环”调整,所述两个CML混合器202和204用于(例如向I+Q/Q-I补偿电路)提供45度的标称固定I和Q延迟。以两级实现45度相位延迟比单级开环正交校正缓冲器有改进,这是由于在单级电路(Ic=I+Q,Qc=Q-I)的情况下,生成通常不适当的信号形状(具有接近过零点的平坦部分,所述过零点导致增加抖动和旋转器非线性)。因此取代单级而通过两级来简单地散布所想要的45度延迟使得相当大地改进了输出时钟波形的形状和回转速率(slewrate)控制。
偏置电流比率IB4/IB3控制在第一级时钟缓冲器288中的混合率并且偏置电流比率IB2/IB1控制在第二级时钟缓冲器280和282中的混合率。通过把Q2信号的可变量混合到I2时钟输出并且把I2信号的可变量混合到Q2时钟输出上来调整在时钟校正级200中的输出时钟Ic(Ic+,Ic-)和Qc(Qc+,Qc-)的正交关系。差分电流DAC 290被反映到CML缓冲器280和正交混合缓冲器282中的尾电流。
通过向输出信号施加DC偏移来控制校正的输出时钟Ic和Qc的占空度。只要CML时钟被时钟缓冲器级(第一和第二级)调节以便通过在缓冲器级中适当设计和/或调整负载电阻和电流而具有不为零的上升时间,调整DC偏移就导致时钟占空度的按比例调整。差分电流DAC 286和287能够在不改变输出时钟的共模级别的情况下调整DC偏移/占空比。类似地,差分电流DAC 284和285允许调整输出时钟的增益。
通过把偏置电流从缓冲器级280中的输入信号差分对移动到零差分输入信号级281来减少输出时钟Ic和Qc的幅度。在实例化幅度控制回路的一个实施例中,Ic或Qc时钟被减小为两者中的较小一个的水平以便产生平衡的时钟幅度。
在一个实施例中,IQ调整和占空度调整产生大体类似的时间分辨率。由于它向占空度和正交调整反馈控制回路这两者提供了类似的回路增益所以这是优选的,这对反馈回路的最优收敛来说是期望的。可以设计占空度和正交调整DAC,使得它们可以被更新而不由于DAC代码中的变化而向时钟增加噪声干扰。诸如使用跟踪保持电路或温度计编码的DAC之类的低干扰DAC实现技术是在本领域中可以被应用来实现下述DAC的一些技术,在更新相应的调整值时所述DAC能够被更新而不在输出时钟Ic和Qc上产生瞬态噪声干扰。
参照图8,示例性地描绘了可以根据本发明原理实现的时间延迟缓冲器300。在例如从约3到12Gb/s的数据速率范围内操作的数据接收器系统的应用中,例如使用100ps CMOS延迟线301来实现时间延迟缓冲器300,所述延迟线301在各个延迟点被粗略抽头然后被内插以便提供所需要的时间分辨率。使用CML到CMOS转换缓冲器307把一般产生CML信号的相位旋转器160转换为CMOS级。转换缓冲器的输出馈给粗略延迟块301中的一连串CMOS反相器。一种实现方式提供了具有例如约12ps的延迟的平均梯级大小的八个粗略延迟梯级,从而提供约100ps的延迟覆盖范围。多路复用器302从粗略延迟线301选择早和迟延迟(其例如对应于大致相隔12ps的时钟信号)。使用CMOS延迟内插器303来把这些早和迟延迟内插为八个较小梯级,提供例如约1.5ps的可调整的延迟分辨率。优化延迟线301的延迟范围和分辨率来对应于<1的相位旋转器梯级覆盖所想要的最小延迟T/16、最小跨度T/16、和1/2时间延迟的最小分辨率。只要能实现所想要的最小延迟、范围和分辨率,可以使用各种替换的技术来产生可变的延迟功能。
参照图9,更加详细地描绘了信号多路复用器156和信号测量系统157。信号多路复用器156用于把Ic和Qc时钟路由到信号测量块157。因为使用相同的信号测量块157来测量Ic和Qc波形,只要信号多路复用器156提供从Ic时钟和Qc时钟到信号测量块157的恒定延迟,它就不会在测量/校正系统100中引入正交误差(图1)。
在使用CML Ic和Qc时钟的实施例中,信号多路复用器156还输入时钟基线电平,其对应于差分CML电压0。此时钟基线电平用来移除信号测量块157中的任何DC偏移,该DC偏移进而可能在时钟信号的边缘交叉测量中引入误差。如图5所示,除Ic和Qc输入时钟之外,信号多路复用器156还可以选择任意数目的其它测量信号。
图9示出了使用CMOS电路的信号多路复用器156和信号测量块157。通路栅(passgate)模拟多路复用器结构420把I和Q信号的差分I(Ip)、差分-I(In)、差分Q(Qp)、差分-Q(Qn)或标称的DC共模电平Vcm(对于CML I和Q时钟)连接到信号测量偏移空缓冲器的输入。互补输入时钟(I和Q)被多路复用以便改进泄露到输入I时钟的所选Q时钟的差分绝缘,反之亦然。作为一个例子,如果切断I时钟并且开启Q时钟,那么通过到I+和I-的断开状态通路栅来对称地平衡来自Q+和Q-的泄漏,由此能够通过寄生通路泄漏来减少差分噪声。
时钟多路复用器120的性能要求包括:使在I和Q时钟路径之间的差分延迟最小化,增加在I、Q之间无差分的DC偏移和时钟基线基准输入,从输出到未选择路径输入的良好隔离,以及尽可能恒定地向输入I和Q时钟提供负载。特别地是,在Ic测量、Qc测量和时钟基线测量配置中,应当由通路栅多路复用器把类似的负载提供给Ic和Qc线。当其并未连接到真偏移空缓冲器(offset null buffer)422时通过增加用于把Ic或Qc连接到虚拟(dummy)“偏移空”缓冲器421的通路栅(晶体管402)来实现这点,以便独立于时钟多路复用器420的配置来向时钟线提供相同的电容负载。
当重新配置多路复用器420或采样所选信号时,多路复用器设计在Ic和Qc时钟上提供了最小的干扰(glitching)。由于互补控制线生成通过通路栅设备404耦合到时钟信号的相反极性噪声,实现开关噪声的差分消除,所以时钟多路复用器420使来自多路复用器控制线(例如,QMUX,ZMUX和IMUX)的在时钟线上的干扰最小化。在其它实施例中,可以从Ic时钟或Qc时钟的边缘以同步的相位偏移更新多路复用器重新配置线,使得任何噪声干扰均远离于时钟边缘出现。
借助偏移缓冲器422、偏移DAC 423和判定锁存器424的组合来实现信号测量功能(157)。偏移缓冲器422提供了使校准的DC偏移能够被添加到信号波形的功能以便消除在锁存器424判定设备中的偏移。偏移缓冲器422还从锁存器“回扫(kickback)”或噪声(可能在对锁存器424计时的时候出现)向所选多路复用器输入提供反向隔离。偏移DAC 423提供了足够的范围来补偿模拟电路中的预想偏移。可选的增益调整(Signal gain)可以被添加到偏移缓冲器422以便增加其测量较大幅度的输入信号的能力,同时使所需要的偏移DAC423的范围最小化。在图9的示例性实施例中,偏移缓冲器422通过打开短接开关405被设置为低增益状态,所述短接开关405在该级上引入电阻衰退(de-generation),由此降低了其增益。在一个实施例中,偏移缓冲器422当测量波形边缘时被设置为高增益并且当可选地测量波形峰值或幅度时被设置为低增益。
锁存器424优选是使用已知技术构造的二值判定设备,诸如差分级联电压开关(DCVS)锁存器结构。控制方法更新Signal_offset电平以便把锁存器424驱动到“亚稳”状态,其中它输出相等数量的1和0输出以便确定测量的输入波形电平。此测量技术在本领域中是已知的并且能够利用高效的1比特A/D检测设备来确定模拟控制电压。如果只需要测量信号的符号,那么偏移DAC 423的Signal_offset控制值被配置为经调适的偏移并且锁存器424直接输出1以便表明信号大于0,否则信号等于0。
已经描述了用于对相位旋转器系统进行动态正交时钟校正的系统和方法的优选实施例(其旨在是示例性的而并非是限制性的),应当注意按照以上教导本领域技术人员可以进行修改和改变。因此应当理解,在所附权利要求概述的本发明的范围和精神内可以对所公开的特定实施例进行改变。从而已经描述了本发明的各方面,在专利法所要求的细节和特性的情况下,在所附权利要求中阐明了本专利所要求和想要保护的内容。