CN101739941A - 显示装置 - Google Patents
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Abstract
一种显示装置包括:面板,其中根据视频信号发光的多个像素被分成多个区域;光接收传感器,布置在每个区域,并根据发光亮度输出光接收信号;信号处理装置。所述区域包括第一像素组和第二像素组,第一像素组包括至少一个像素,第二像素组包括除第一像素组之外的多个像素。所述信号处理装置包括算术装置、转换装置和校正装置,算术装置用于根据偏移值和光接收值的算术运算输出算术信号,转换装置用于根据算术信号输出数字数据,校正装置用于根据数字数据校正视频信号,并把校正的视频信号提供给第一像素组。
Description
技术领域
本发明涉及一种显示装置和显示控制方法,尤其涉及一种可以高速执行燃烧校正(burning correction)的显示装置。
背景技术
近年来,对包括有机EL(电致发光)装置作为发光元件的平面自发光面板(EL面板)进行了积极发展。有机EL装置是这样的装置:具有二极管特性,并利用当向有机薄膜施加电场时有机薄膜发光的现象。有机EL装置是低功耗的自发光元件,这是因为有机EL装置以等于或低于10V的施加电压驱动。该自发光元件自身发光。因此,有机EL装置具有这样的特性:发光构件是不必要的,并且容易减少重量和厚度。有机EL装置的响应速度极快,大约为几微妙。因此,EL面板具有这样的特性:不出现运动图像显示期间的余像(after-image)。
在包括用作像素的有机EL装置的平面自发光面板之中,特别地,积极发展了一种包括薄膜晶体管的有源矩阵面板,所述薄膜晶体管集成并形成于像素中作为驱动元件。在例如JP-A-2003-255856、JP-A-2003-271095、JP-A-2004-133240、JP-A-2004-029791、JP-A-2004-093682中公开了有源矩阵平面自发光面板。
发明内容
有机EL装置还具有这样的特性:亮度效率与发光量和发光时间成比例地下降。有机EL装置的发光亮度由电流值和亮度效率的乘积表示。因此,亮度效率的下降导致发光亮度的下降。作为屏幕上的显示,图像很少均匀显示在各个像素中。通常,对于每个像素,发光量是不同的。因此,即使在相同的驱动条件下,在过去,各个像素中发光亮度的下降程度根据发光量和发光时间的不同而不同。结果,用户在视觉上发现这样的现象:与其它像素相比,具有极高程度的亮度效率下降的像素中好像发生了燃烧(以下称为燃烧现象)。
因此,在过去安装了有机EL装置的显示装置之中,一些显示装置对具有不同的亮度效率下降程度的像素应用均匀化亮度效率的校正(以下称为燃烧校正)。然而,当执行这种燃烧校正时,一些情况下,整个校正系统的处理时间较长。
因此,希望可以高速执行燃烧校正。
根据本发明的实施例,提供了一种显示装置,包括:面板,其中根据视频信号发光的多个像素被分成多个区域;光接收传感器,布置在每个区域,并根据发光亮度输出光接收信号;以及信号处理装置,对光接收信号进行处理。所述区域包括:第一像素组和第二像素组,第一像素组包括至少一个像素,第二像素组包括除第一像素组之外的多个像素。信号处理装置把当第一像素组和第二像素组以预定发光亮度发光时获得的光接收信号设置为偏移值,并把当第二像素组以所述预定发光亮度发光、并且第一像素组的发光亮度改变时获得的光接收信号设置为光接收值,以及包括:算术装置、转换装置和校正装置,算术装置用于根据偏移值和光接收值的算术运算输出算术信号,转换装置用于根据算术信号输出数字数据,校正装置用于根据数字数据校正所述视频信号,并把校正的视频信号提供给第一像素组。
根据所述实施例,所述显示装置包括:所述面板,其中根据视频信号发光的多个像素被分成多个区域;所述光接收传感器,布置在每个区域,并根据发光亮度输出光接收信号。根据所述光接收信号输出数字数据。根据所述数字数据对光接收信号进行处理。所述区域包括第一像素组和第二像素组,第一像素组包括至少一个像素,第二像素组包括除第一像素组之外的多个像素。当第一像素组和第二像素组以预定发光亮度发光时获得的数字数据被设置为偏移数据。当保持第二像素组的发光亮度并且改变第一像素组的发光亮度时获得的数字数据设置为光接收数据。根据偏移数据和光接收数据的算术运算校正视频信号。校正的视频信号被提供给第一像素组。
根据本发明的另一实施例,提供一种显示装置,包括:面板,其中根据与视频信号对应的信号电势发光的多个像素被分成多个区域;光接收传感器,布置在每个区域,并根据发光亮度输出光接收信号;转换装置,用于根据所述光接收信号输出数字数据;信号处理装置,根据所述数字数据对所述光接收信号进行处理。所述区域包括第一像素组和第二像素组,第一像素组包括至少一个像素,第二像素组包括除第一像素组之外的多个像素。信号处理装置把当第一信号电势被提供给第一像素组和第二像素组时获得的数字数据设置为偏移数据,把当第一信号电势被提供给第二像素组并且第二信号电势被提供给第一像素组时获得的数字数据设置为光接收数据,根据偏移数据和光接收数据之差来校正所述视频信号,并把校正的视频信号提供给第一像素组。
根据所述实施例,所述显示装置包括:所述面板,其中根据与视频信号对应的信号电势发光的多个像素被分成多个区域;所述光接收传感器,布置在每个区域,并根据发光亮度输出光接收信号。根据光接收信号输出数字数据。根据数字数据对光接收信号进行处理。所述区域包括第一像素组和第二像素组,第一像素组包括至少一个像素,第二像素组包括除第一像素组之外的多个像素。当第一信号电势被提供给第一像素组和第二像素组时获得的数字数据设置为偏移数据。当第一信号电势被提供给第二像素组并且第二信号电势被提供给第一像素组时获得的数字数据设置为光接收数据。根据偏移数据和光接收数据之差校正所述视频信号。校正的视频信号被提供给第一像素组。
根据本发明的实施例,可以高速执行燃烧校正。
附图说明
图1是根据本发明实施例的显示装置的结构例子的方框图;
图2是图1示出的显示装置的EL面板的结构例子的方框图;
图3是图2示出的EL面板中包括的像素发射的光颜色阵列的示图;
图4是图2示出的EL面板中所包括的像素的详细电路结构的方框图;
图5是解释图2示出的EL面板中所包括的像素操作例子的时序图;
图6是解释图2示出的EL面板中所包括的像素操作的另一例子的时序图;
图7是图1示出的显示装置的功能结构例子的示图,并且是执行燃烧校正控制所需的显示装置的功能框图;
图8A和图8B是与光接收传感器3的距离和光接收传感器3的输出电压之间关系的例子的曲线图;
图9是光接收传感器3的输出电压和光接收传感器3与像素101之间的距离之间依赖关系的曲线图;
图10是光接收传感器3的光接收时间和光接收电流之间关系的曲线图;
图11是解释过去的燃烧校正控制的示图;
图12是解释根据实施例的燃烧校正控制方法的第一例子的示图;
图13是解释根据实施例的燃烧校正控制方法的第一例子中的关注像素的亮度值计算方法的曲线图;
图14是解释实现根据实施例的燃烧校正控制方法的第一例子的初始数据采集处理例子的流程图;
图15是解释根据实施例的偏移值采集处理例子的流程图;
图16是解释当执行图14示出的初始数据采集处理之后过去预定时间时执行的校正数据采集处理例子的流程图;
图17是解释根据实施例的燃烧校正控制方法的第二例子的示图;
图18是解释根据实施例的燃烧校正控制方法的第三例子的示图;
图19是解释根据实施例的燃烧校正控制方法的第三例子中的关注像素的亮度值计算方法的曲线图;
图20是解释实现根据实施例的燃烧校正控制方法的第三例子的初始数据采集处理例子的流程图;
图21是解释当执行图20示出的初始数据采集处理之后过去预定时间时执行的校正数据采集处理例子的流程图;
图22是解释根据实施例的燃烧校正控制方法的第四例子的示图;
图23A和图23B是光接收传感器3的光接收信号(模拟信号)的最大电压和当模拟信号数字化时获得的等级数量之间关系的曲线图;
图24是执行燃烧校正控制的第五例子所需的显示装置1的功能结构例子的功能框图;
图25是模拟差分电路81的结构例子的示图;
图26是解释模拟差分电路81的操作例子的示图;
图27是解释模拟差分电路81的操作例子的示图;
图28是解释模拟差分电路81的操作例子的示图;
图29是解释实现根据实施例的燃烧校正控制方法的第五例子的初始数据采集处理例子的流程图;
图30是解释偏移值存储处理的详细例子的流程图;
图31是解释当执行图29示出的初始数据采集处理之后过去预定时间时执行的校正数据采集处理例子的流程图。
具体实施方式
本发明的实施例
[显示装置的结构]
图1是根据本发明实施例的显示装置的结构例子的方框图。
图1示出的显示装置1包括:EL面板2、包括多个光接收传感器3的传感器组4、和控制单元5。EL面板2构造为包括有机EL装置作为自发光元件的面板。光接收传感器3构造为测量EL面板2的发光亮度的传感器。控制单元5基于从多个光接收传感器3获得的EL面板2的发光亮度来控制EL面板2的显示。
[EL面板的结构]
图2是EL面板2的结构例子的方框图。
EL面板2包括:像素阵列单元102、水平选择器(HSEL)103、写扫描器(WSCN)104和电源扫描器(DSCN)105。在像素阵列单元102中,N×M(N和M是彼此独立的一个或多个整数值)个像素(像素电路)101-(1,1)至101-(N,M)以矩阵形状排列。水平选择器(HSEL)103、写扫描器(WSCN)104和电源扫描器(DSCN)105用作驱动像素阵列单元102的驱动单元。
EL面板2还包括:M个扫描线WSL10-1至WSL10-M、M个电源线DSL10-1至DSL10-M和N个视频信号线DTL10-1至DTL10-N。
在下面的解释中,当不必要特别区分扫描线WSL10-1至WSL10-M时,扫描线WSL10-1至WSL10-M简单称为扫描线WSL10。当不必要特别区分视频信号线DTL10-1至DTL10-N时,视频信号线DTL10-1至DTL10-N简单称为视频信号线DTL10。类似地,像素101-(1,1)至101-(N,M)和电源线DSL10-1至DSL10-M分别称为像素101和电源线DSL10。
像素101-(1,1)至101-(N,M)之中的第一行的像素101-(1,1)至101-(N,1)通过扫描线WSL10-1连接到写扫描器104并通过电源线DSL10-1连接到电源扫描器105。像素101-(1,1)至101-(N,M)之中的第M行的像素101-(1,M)至101-(N,M)通过扫描线WSL10-M连接到写扫描器104并通过电源线DSL10-M连接到电源扫描器105。像素101-(1,1)至101-(N,M)之中的沿行方向排列的其它像素101以相同的方式连接。
像素101-(1,1)至101-(N,M)之中的第一列的像素101-(1,1)至101-(1,M)通过视频信号线DTL10-1连接到水平选择器103。像素101-(1,1)至101-(N,M)之中的第N列的像素101-(N,1)至101-(N,M)通过视频信号线DTL10-N连接到水平选择器103。像素101-(1,1)至101-(N,M)之中的沿列方向排列的其它像素101以相同的方式连接。
写扫描器104按水平周期(1H)依次把控制信号提供给扫描线WSL10-1至WSL10-M,并按线顺序以行为单位扫描像素101。电源扫描器105根据按线顺序扫描向电源线DSL10-1至DSL10-M提供具有第一电势(稍后解释的VCC)或第二电势(稍后解释的VSS)的电源电压。水平选择器103在根据按线顺序扫描的每个水平周期(1H)内切换与视频信号对应的信号电势Vsig和基准电势Vofs,并把信号电势Vsig和基准电势Vofs提供给以列状排列的视频信号线DTL10-1至DTL10-M。
[像素101的阵列结构]
图3是EL面板2的像素101发射的光颜色阵列的示图。
像素阵列单元102的像素101等同于所谓的子像素,其发射红(R)、绿(G)和蓝(B)中任一种光。作为显示单位的一个像素包括沿行方向(图左到右的方向)排列的用于红、绿和蓝的三个像素101。
图3与图2的不同之处在于:写扫描器104位于像素阵列单元102的左侧。扫描线WSL10和电源线DSL10在像素101的下方连接。连接到水平选择器103、写扫描器104和电源扫描器105以及像素101的线可以根据需要布置在适当位置。
[像素101的详细电路结构]
图4是EL面板2所包括的N×M个像素101中的像素101的详细电路结构的放大方框图。
图4中连接到像素101的扫描线WSL10、视频信号线DTL10和电源线DSL10分别对应于图2的像素101-(n,m)的扫描线WSL10-(n,m)、视频信号线DTL10-(n,m)和电源线DSL10-(n,m)(n=1,2,...,和N;m=1,2,...,和M)。
图4示出的像素101包括:采样晶体管31、驱动晶体管32、存储电容器33和发光元件34。采样晶体管31的栅极连接到扫描线WSL10。采样晶体管31的漏极连接到视频信号线DTL10,采样晶体管31的源极连接到驱动晶体管32的栅极g。
驱动晶体管32的源极和漏极之一连接到发光元件34的阳极,另一个连接到电源线DSL10。存储电容器33连接到驱动晶体管32的栅极g和发光元件34的阳极。发光元件34的阴极连接到设置为发光元件34的预定电势Vcat的线35。电势Vcat是GND电平。因此,线35是地线。
采样晶体管31和驱动晶体管32都是N型晶体管。因此,采样晶体管31和驱动晶体管32可以用比低温多晶硅成本更低的非晶硅来制作。这使得可以进一步降低像素电路的加工成本。自不必说,采样晶体管31和驱动晶体管32可以用低温多晶硅或单晶硅来制作。
发光元件34包括有机EL元件。有机EL元件是具有二极管特性的电流发光元件。因此,发光元件34根据对应于提供给它的电流的电流值Ids的等级来执行发光。
如上所述构造的像素101中,采样晶体管31根据来自扫描线WSL10的控制信号而导通(变为导电),并经视频信号线DTL10对具有与等级对应的信号电势Vsig的视频信号进行采样。存储电容器33积累并存储经视频信号线DTL10从水平选择器103提供的电荷。驱动晶体管32接收从以第一电势Vcc设置的电源线DSL10提供的电流,并根据存储在存储电容器33中的信号电势Vsig把驱动电流Ids馈送(提供)给发光元件34。当预定驱动电流Ids流至发光元件34时,像素101发光。
像素101具有阈值校正功能。阈值校正功能是使存储电容器33存储与驱动晶体管32的阈值电压Vth相等的电压。通过使像素101表现阈值校正功能,能够消除EL面板2的每个像素中导致波动的驱动晶体管32的阈值电压Vth的影响。
除了阈值校正功能之外,像素101还具有迁移率校正功能。迁移率校正功能是这样的功能:当信号电势Vsig存储于存储电容器33时,把驱动晶体管32的迁移率μ的校正应用于信号电势Vsig。
另外,像素101具有自举(boot strap)功能。自举功能是这样的功能:使栅极电势Vg与驱动晶体管32的源极电势Vs的波动关联。通过使像素101表现自举功能,驱动晶体管32的栅极和源极之间的电压Vgs能够保持恒定。
[像素101的操作解释]
图5是解释像素101的操作时序图。
在图5,电势在扫描线WSL10、电源线DSL10和视频信号线DTL10中随着同一时间轴(图中的横向方向)而变化,并且示出与该电势变化对应的驱动晶体管32的栅极电势Vg和源极电势Vs的变化。
在图5,直到t1的期间是发光期间T1,在发光期间T1,执行前一水平周期(1H)中的发光。
从发光期间T1结束的时间t1到时间t4的期间是阈值校正准备期间T2,其中通过初始化驱动晶体管32的栅极电势Vg和源极电势Vs来执行阈值电压校正操作的准备工作。
在阈值校正准备期间T2,在时间t1,电源扫描器105把电源线DSL10的电势从作为高电势的第一电势Vcc切换到作为低电势的第二电势Vss。在时间t2,水平选择器103把视频信号线DTL10的电势从信号电势Vsig切换到基准电势Vofs。在时间t3,写扫描器104把扫描线WSL10的电势切换到高电势以使采样晶体管31导通。因此,驱动晶体管32的栅极电势Vg重置为基准电势Vofs,并且源极电势Vs重置为视频信号线DTL10的第二电势Vss。
从时间t4到时间t5的期间是执行阈值校正操作的阈值校正期间T3。在阈值校正期间T3,在时间t4,电源扫描器105把电源线DSL10的电势切换到高电势Vcc。与阈值电压Vth相等的电压被写入连接在驱动晶体管32的栅极和源极之间的存储电容器33。
从时间t5到时间t7的写入和迁移率校正准备期间,扫描线WSL10的电势从高电势切换到低电势一次。在时间t7之前的时间t6,水平选择器103把视频信号线DTL10的电势从基准电势Vofs切换到与等级对应的信号电势Vsig。
从时间t7到时间t8的写入和迁移率校正期间T5,执行视频信号的写操作和迁移率校正操作。从时间t7到时间t8的期间,扫描线WSL10的电势设置为高电势。因此,与视频信号对应的信号电势Vsig被写入存储电容器33,同时被加到阈值电压Vth上。从存储在存储电容器33的电压中减去用于迁移率校正的电压ΔVμ。
在写入和迁移率校正期间T5结束之后的时间t8,扫描线WSL10的电势设置为低电势。其后,在发光期间T6,发光元件34以与信号电压Vsig对应的发光亮度发光。信号电压Vsig根据与阈值电压Vth相等的电压和用于迁移率校正的电压ΔVμ来调节。因此,发光元件34的发光亮度不会受到驱动晶体管32的阈值电压Vth和迁移率μ的波动的影响。
发光期间T6开始时执行自举操作。在驱动晶体管32的栅极-源极电压Vgs=Vsig+Vth-ΔVμ保持恒定时,驱动晶体管32的栅极电势Vg和源极电势Vs上升。
在时间t8之后过去预定时间的时间t9,视频信号线DTL10的电势从信号电势Vsig下降到基准电势Vofs。在图5,从时间t2到时间t9的期间与水平周期(1H)相等。
如上所解释,在EL面板2的像素101中,可以使发光元件34发光而不受到驱动晶体管32的阈值电压Vth和迁移率μ的波动的影响。
[像素101的操作的另一例子的解释]
图6是解释像素101的操作的另一例子的时序图。
在图5示出的例子,在1H周期执行一次阈值校正操作。然而,一些情况下,1H周期较短并且难以在1H周期执行阈值校正操作。这种情况下,可以在多个1H周期中执行多次阈值校正操作。
在图6示出的例子,在连续3H期间中执行阈值校正操作。换句话说,在图6示出的例子,阈值校正期间T3分成三个期间。在其它方面,像素101的操作与图5示出的例子的操作相同。因此,省略对该操作的解释。
[燃烧校正控制的解释]
有机EL装置具有这样的特性:发光亮度与发光量和发光时间成比例地下降。因此,当预定时间过去时,即使在相同的驱动条件下,像素101的亮度效率的下降程度也根据此时的发光量和发光时间而不同。因此,由于像素101的亮度效率下降的波动,存在与其它像素101相比亮度效率下降极高的像素101。结果,用户在视觉上发现这样的现象:这种像素101中好像发生燃烧(以下称为燃烧现象)。因此,显示装置1对具有不同的亮度效率下降程度的像素101应用均匀化亮度效率的校正(以下称为燃烧校正)。
[执行燃烧校正控制所需的显示装置1的功能结构例子]
图7是执行燃烧校正控制所需的显示装置1的功能结构例子的功能框图。
光接收传感器3排列在光接收传感器3不妨碍像素101发光的位置,在EL面板2的显示表面、或与前表面相对的表面(下面解释中,前者称为前表面,后者称为后表面)。EL面板2分成多个区域,每个区域放置一个光接收传感器3。传感器组4包括多个光接收传感器3,按一个区域放置一个接收传感器3的方式平均布置。例如,在图7示出的例子,传感器组4包括9个光接收传感器3。自不必说,EL面板2布置的光接收传感器3的数量不限于图7示出的例子。
每个光接收传感器3从该光接收传感器3所测量发光亮度的区域所包括的像素101接收光。光接收传感器3产生与光的光接收量对应的模拟光接收信号(电压信号),并把模拟光接收信号提供给控制单元5。当光接收传感器3布置在EL面板2的后表面时,从像素101发射的光在EL面板2的前表面的玻璃基底等反射,并入射到光接收传感器3。这个实施例中,光接收传感器3布置在EL面板2的后表面。
在图7示出的例子,控制单元5包括:放大单元51、A/D转换单元52和信号处理单元53。
放大单元51放大从光接收传感器3提供的模拟光接收信号,并把放大的模拟光接收信号提供给A/D转换单元52。A/D转换单元52把从放大单元51提供的放大的模拟光接收信号转换成数字数据,并把数字数据提供给信号处理单元53。
在信号处理单元53的存储器61,关于像素阵列单元102的像素101,亮度数据(装运状态下的亮度数据)的初始值被存储为初始数据。当关于像素101(作为处理目标应受到关注)的数字数据被提供给A/D转换单元52时,信号处理单元53基于所述数字数据识别在过去预定时段之后(老化恶化之后)的关注像素P的亮度数据。关于关注像素P,信号处理单元53相对于初始数据(初始亮度值)计算过去预定时段之后的亮度值的亮度下降量。关于关注像素P,信号处理单元53基于亮度下降量而计算用于校正亮度下降的校正数据。当像素阵列单元102的像素101被依次设置为关注像素P时,对每个像素101计算这种校正数据,并把校正数据存储在存储器61。
信号处理单元53中计算校正数据的部分能够通过例如信号处理IC(诸如,FPGA(场可编程门阵列)或ASIC(专用集成电路))来构成。
如上所解释,用于过去预定时段的时刻的像素101的校正数据被存储在存储器61。关于像素101的初始数据也存储在存储器61。此外,执行稍后解释的各种处理所需的各种信息也存储在存储器61。
对每个像素101,信号处理单元53控制水平选择器103以提供与输入到显示装置1的视频信号对应的信号电势Vsig。提供信号电势Vsig时,信号处理单元53从存储器61读取像素101的校正数据,并为每个像素101确定信号电势Vsig,其中老化恶化所导致的亮度下降已被校正。
[过去的燃烧校正控制]
以下解释发明内容部分中解释的过去的燃烧校正控制的问题。
如上所解释,燃烧校正控制中,使用关注像素P的亮度数据。基于放大光接收传感器3的光接收信号并对放大的模拟信号应用A/D转换的结果而获得的数字数据,产生关注像素P的亮度数据。
然而,如图7所示,不对一个像素101使用一个光接收传感器3,而是对于包括多个像素101的区域使用一个光接收传感器3。因此,该区域中所包括的每个像素101和光接收传感器3之间的距离不同。这种情况下光接收传感器3的光接收信号的输出电压如图8A和图8B所示。
图8A和图8B是光接收传感器3位于包括20×20个像素101的区域中心的情况下,与光接收传感器3的距离和光接收传感器3的输出电压之间关系的例子的曲线图。作为前提,20×20个像素101的发光亮度保持相同。在图8A,横坐标表示与光接收传感器3在水平方向的距离(单位是像素个数),纵坐标表示光接收传感器3的输出电压(mV)。在图8B,横坐标表示与光接收传感器3在垂直方向的距离(单位是像素个数),纵坐标表示光接收传感器3的输出电压(mV)。
如图8A和图8B所示,即使区域中所包括的像素101的发光亮度保持相同,光接收传感器3的光接收信号的输出电压也随像素101和光接收传感器3之间距离增加而降低。当概括出这种特性时,光接收传感器3具有图9示出的特性。
图9是光接收传感器3的输出电压和光接收传感器3与像素101之间的距离之间依赖关系的曲线图。在图9,纵坐标表示光接收传感器3的输出电压,横坐标表示与光接收传感器3在预定方向的距离(单位是像素个数)。
图10是光接收传感器3的光接收时间和光接收电流之间关系的曲线图。在图10,纵坐标表示光接收传感器3的接收时间,横坐标表示光接收传感器3的光接收电流(A)。
如图9所示,当按像素个数与光接收传感器3相距0的像素101(以下称为距离0的像素101)被设置为关注像素P时,光接收传感器3的输出电压是Vo。另一方面,当按像素个数与光接收传感器3相距α(α是大于等于1的整数值)的像素101(以下称为距离α的像素101)被设置为关注像素P时,即使关注像素P的发光亮度与距离0的像素101的发光亮度相同,光接收传感器3的输出电压也是远低于Vo的Vα。光接收传感器3的输出电压降低意味着:光接收传感器3的光接收电流降低。根据图10,光接收传感器3具有光接收时间随光接收电流降低而增加的特性,即,直到输出电压输出为止的响应时间增加的特性。
然而,过去不考虑这种特性。这是在发明内容部分中解释的问题(即,整个校正系统的处理时间较长的问题)的原因。参照图11对此进行更详细的解释。
图11是解释过去的燃烧校正控制的示图。
在图11A到G,示出包括5×5个像素101的区域。光接收传感器3位于区域中心。
在图11A,示出在燃烧校正控制中关注像素P的设置次序。当处理目标行是第i行(在图11示出的例子,i是整数值1到5中的任一个)时,布置在第i行的五个像素101中的每一个按照从左端像素101(在第一列)到右端像素101(在第五列)的次序被依次设置为关注像素P。当第i行的右端像素101(在第五列)被设置为关注像素P时,处理目标行变为下面的第i+1行。按照与第i行的次序相同的次序依次设置关注像素P。
这种情况下,在过去的燃烧校正控制中,信号处理单元53仅使关注像素P按事先确定的预定等级发光。具体地,信号处理单元53使其它二十四个像素101熄灭。
如图11B所示,首先,第一行被设置为处理目标行,第一列的像素101被设置为关注像素P。因此,仅第一行×第一列的关注像素P按事先确定的预定等级发光。然后,光接收传感器3把与关注像素P的光接收亮度对应的光接收信号(电压信号)输出给控制单元5。控制单元5基于关注像素P的光接收信号而计算用于关注像素P的校正数据,并使存储器61存储该校正数据。
随后,如图11C所示,信号处理单元53设置在已设置为关注像素P的第一行×第一列的的像素101的右侧像素101(即,第一行×第二列的像素101)作为关注像素P。因此,仅第一行×第二列的关注像素P按事先确定的预定等级发光。然后,光接收传感器3把与关注像素P的光接收亮度对应的光接收信号(电压信号)输出给控制单元5。控制单元5基于关注像素P的光接收信号而计算用于关注像素P的校正数据,并使存储器61存储该校正数据。
其后,如图11D至G所示,按前面解释的次序依次设置关注像素P,并且从光接收传感器3输出关注像素P的光接收信号。结果,基于关注像素P的光接收信号而计算用于关注像素P的校正数据,并且该校正数据存储在存储器61。
注意图11B示出的关注像素P和图11F示出的关注像素P。这种情况下,图11B示出的关注像素P和光接收传感器3之间的距离比图11F示出的关注像素P和光接收传感器3之间的距离长。因此,当关注像素P如图11B所示时从光接收传感器3接收来自关注像素P的光的时间到光接收传感器3输出光接收信号的响应时间,比当关注像素P如图11F所示时从光接收传感器3接收来自关注像素P的光的时间到光接收传感器3输出光接收信号的响应时间更长。结果,从产生图11B示出的关注像素P的校正数据的时间到该校正数据存储在存储器61的一系列处理时间比关于图11F示出的关注像素P的一系列处理时间更长。
随着设置为关注像素P的像素101和光接收传感器3之间的距离增加,从产生像素101的校正数据的时间到该校正数据存储在存储器61的一系列处理时间变长。具体地,因为如图11B所示存在与光接收传感器3距离较远的像素101,所以整个燃烧校正系统的响应时间增加。由此,出现了本发明发明内容部分中解释的过去的燃烧校正控制的问题。
因此,为解决这个问题,即为减少燃烧校正系统的处理时间,发明者发明了以下解释的燃烧校正控制方法。发明者发明这样的燃烧校正控制方法:增加光接收传感器3相对与光接收传感器3相距较远的像素101的光接收强度,并执行燃烧校正。以下这种方法称为根据本实施例的燃烧校正控制方法。
[根据本实施例的燃烧校正控制方法的第一例子]
图12是解释根据本实施例的燃烧校正控制方法的第一例子的示图。
在图12的A到H,示出包括5×5个像素101的区域。光接收传感器3位于这个区域中心。在图12,指示像素101的块图案中的网点网格图案(薄图案)表示像素101以固定等级发光。另一方面,右阴影线图案(厚图案)表示像素101熄灭。
在第一例子,信号处理单元53在使区域包括的所有像素101发光之后执行燃烧校正控制。因此,可以增加光接收传感器3的光接收强度并减少光接收传感器3的光接收时间,即,增加光接收传感器3的响应速度。
在图12的A,示出第一例子中关注像素P的设置次序。关注像素P的设置次序本身与图11A示出的关注像素P的设置次序相同。
作为初始状态,如图12B所示,信号处理单元53使区域包括的像素101以预定等级均匀发光。
其后,如图12C到H所示,信号处理单元53按照前面解释的次序逐个地依次设置区域包括的二十五(5×5)个像素101作为关注像素P。信号处理单元53依次仅熄灭设置为关注像素P的像素101。换句话说,除关注像素P以外的二十四个像素101以所述预定等级保持发光。
以这种方法,在图12B示出的初始状态,区域包括的所有像素101以所述预定等级均匀发光。结果,从区域包括的像素101发射的各束光到达光接收传感器3。因此,初始状态下的光接收传感器3的输出电压(光接收信号的电压)表示从这二十五(=5×5)个像素101到达的光的总量(以下称为所有像素光总量)。如图12C到H所示,如果仅关注像素P熄灭,光接收传感器3的输出电压(光接收信号的电压)比所有像素光总量低与关注像素P的熄灭相等的量(关注像素P的发光亮度)。因此,当计算出初始状态下光接收传感器3的光接收信号和仅关注像素P熄灭的状态(以下称为关注像素熄灭状态)下光接收传感器3的光接收信号之差时,获得关注像素P的发光亮度。
因此,在第一例子,放大所述初始状态(图12B示出的状态)的光接收传感器3的光接收信号并对光接收信号进行A/D转换而获得的数字数据事先作为偏移数据存储在存储器61。这种情况下,,偏移数据的值是例如图13示出的模拟信号(A/D转换之前的状态)的值。
图13是解释在根据本实施例的燃烧校正控制方法的第一例子中关注像素亮度值的计算方法的曲线图。在图13,纵坐标表示在放大光接收传感器3的光接收信号之后的电压,横坐标表示与光接收传感器3在预定方向的距离(单位是像素个数)。
放大所述关注像素熄灭状态下的光接收传感器3的光接收信号并对光接收信号进行A/D转换而获得的数字数据称为光接收数据。这种情况下,如图13所示,光接收数据的模拟信号等效值(A/D转换之前的状态的值)比偏移数据的值小与关注像素P的熄灭相等的值(关注像素P的发光亮度)。因此,信号处理单元53能够通过偏移数据的值减去关注像素P的光接收数据的值,计算关注像素P的亮度值。
在图13,随着关注像素P越接近光接收传感器3,光接收数据的值越小。这是因为:如参照图9的解释,即使像素101的发光亮度自身是相同的,随着关注像素P更接近光接收传感器3,光接收传感器3检测到的光接收量也更大。换句话说,随着关注像素P更接近光接收传感器3,基于关注像素P的发光的光接收量在所有像素光总值中的比率更大。
应该注意,即使当远离光接收传感器3的像素101被设置为关注像素P时,接收数据的值保持大于等于固定值的值,即,保持与偏移数据的值接近的值。换句话说,在关注像素熄灭状态下,光接收传感器3的输出电压(光接收信号的电压)保持大于等于固定值的值,而不管光接收传感器3和关注像素P之间的距离。这意味着光接收传感器3通常能够以大于等于固定速度的响应速度输出光接收信号,而不管光接收传感器3和关注像素P之间的距离。因此,当整个燃烧校正系统的处理时间与过去的燃烧校正系统的处理时间进行综合比较时,处理时间减少。换句话说,以上解释的问题能够解决。
如上所解释,只要能够测量关注像素P的亮度值和偏移数据的值之差,就能够计算该亮度值。因此,不熄灭关注像素P,使关注像素P以比关注像素P周围的像素101的发光亮度的等级更低的等级发光。
[应用根据本实施例的燃烧校正控制方法的第一例子的初始数据采集处理]
图14是解释在显示装置1执行处理中的一系列处理的例子的流程图,直到获取用于实现根据本实施例的燃烧校正控制方法的第一例子的初始数据为止(以下称为初始数据采集处理)。
对EL面板2的每个分割区域,例如,并行执行图14示出的初始数据采集处理。换句话说,对每个光接收传感器3,并行执行图14示出的初始数据采集处理。
在步骤S1,信号处理单元53产生参照图13解释的偏移数据,并使存储器61存储偏移数据。到偏移数据产生并存储在存储器61为止的一系列处理以下称为偏移值采集处理。参照图15解释偏移值采集处理的详细例子。
[偏移值采集处理]
图15是解释根据本实施例的偏移值采集处理例子的流程图。
在步骤S21,信号处理单元53使区域包括的像素101以预定等级发光。
在步骤S22,光接收传感器3把与区域包括的全部像素101的光接收亮度对应的光接收信号(电压信号)输出给控制单元5的放大单元51。
在步骤S23,放大单元51以预定的放大率放大光接收传感器3的光接收信号,并把光接收信号提供给A/D转换单元52。
在步骤S24,A/D转换单元52把放大的模拟光接收信号转换成偏移数据作为数字信号,并把偏移数据提供给信号处理单元53。
在步骤S25,信号处理单元53使存储器61存储偏移数据。
因此,偏移值采集处理结束。这种情况下,图14的步骤S1的处理结束,并且流程前进至步骤S2。
在步骤S2,信号处理单元53设置区域包括的像素101之中没有获取其亮度数据的像素101作为关注像素P。关注像素P的设置次序如参照图12A所解释的那样。
在步骤S3,信号处理单元53熄灭关注像素P。如图12C到H所示,仅仅熄灭区域所包括的像素101之中的关注像素P。其它像素101保持发光。
在步骤S4,光接收传感器3把与除区域包括的像素101之中的关注像素P之外的全部像素101的光接收亮度对应的模拟光接收信号(电压信号)输出给控制单元5的放大单元51。
在步骤S5,放大单元51以预定放大率放大光接收传感器3的光接收信号,并把光接收信号提供给A/D转换单元52。
在步骤S6,A/D转换单元52把放大的模拟光接收信号转换成作为数字信号的光接收数据,并把光接收信号提供给信号处理单元53。
在步骤S7,信号处理单元53计算偏移数据的值和光接收数据的值之差,由此计算关注像素P的亮度值(见图13)。
在步骤S8,信号处理单元53使存储器61存储指示关注像素P的亮度值的亮度数据作为初始数据。
在步骤S9,信号处理单元53确定是否对区域包括的所有像素101获取了亮度数据。当在步骤S9确定没有对区域包括的所有像素101获取亮度数据时,流程返回至步骤S2,并重复步骤S2至S9的循环处理。具体地,区域包括的每个像素101依次设置为关注像素P,反复执行这种循环处理,由此获取区域包括的所有像素101的初始数据,并把初始数据存储在存储器61。
因此,在步骤S9确定对区域包括的所有像素101获取了亮度数据。初始数据采集处理结束。
[应用根据本实施例的燃烧校正控制方法的第一例子的校正数据采集处理]
图16是解释当执行图14示出的初始数据处理之后过去预定时间时执行的处理的例子的流程图,其是到采集校正数据为止的一系列处理(以下称为校正数据采集处理)。像图14示出的初始数据处理一样,也对EL面板2的每个分割区域并行执行校正数据采集处理。
步骤S41至S47的处理与以上解释的图14示出的步骤S1至S7的处理相同。因此,省略对这些处理的解释。在与初始数据采集处理的条件相同的条件下,通过步骤S41至S47的处理获取关注像素P的亮度值。
应该注意,在校正数据采集处理中,与初始数据采集处理分离地再次执行图15示出的偏移值采集处理。具体地,如参照图12所解释,在使区域包括的像素101均匀发光之后,仅熄灭关注像素P,由此获取关注像素P的亮度值。
就像素101实际产生的亮度的等级而言,偏移值采集处理的步骤S21的“预定等级”在图14示出的初始数据采集处理和图16示出的校正数据采集处理中是不同的,因为像素101恶化。然而,就给予像素101的目标等级而言,作为偏移值采集处理的步骤S21中的“预定等级”,在图14示出的初始数据采集处理和图16示出的校正数据采集处理中采用相同的等级。
类似地,就关注像素P实际产生的亮度的等级而言,步骤S43的“预定等级”不同于图14示出的初始数据采集处理的步骤S3中的“预定等级”,因为被设置为关注像素P的像素101恶化。然而,就给予关注像素P的目标等级而言,作为步骤S43中的“预定等级”,采用与图14示出的初始数据采集处理的步骤S3中的“预定等级”相同的等级。
在步骤S48,信号处理单元53从存储器61获取关注像素P的初始数据的值(初始亮度值)。
在步骤S49,信号处理单元53计算相对于初始亮度值的关注像素P的亮度值的亮度下降量。
在步骤S50,信号处理单元53基于关注像素P的亮度下降量,计算用于关注像素P的校正数据,并使存储器61存储校正数据。
在步骤S51,信号处理单元53确定是否对区域包括的所有像素101获取了校正数据。当在步骤S51确定没有对区域包括的所有像素101获取校正数据时,流程返回至步骤S42,并重复步骤S42至S51的循环处理。具体地,区域包括的每个像素101被依次设置为关注像素P,并且重复执行这种循环处理,由此获取用于区域所包括的所有像素101的校正数据,并把校正数据存储在存储器61。
因此,在步骤S51确定对区域包括的所有像素101获取了校正数据。校正数据采集处理结束。
如上所解释,当在执行图14示出的初始数据采集处理之后过去预定时间时执行图16示出的校正数据采集处理时,关于像素阵列单元102的像素101的校正数据被存储在存储器61。其后,每次执行校正数据采集处理时,校正数据被更新并存储在存储器61。
因此,在信号处理单元53的控制下,信号电势Vsig(通过校正数据校正了老化恶化导致的它的亮度下降)被提供给像素阵列单元102的像素101作为视频信号的信号电势。具体地,信号处理单元53能够控制水平选择器103把已添加校正数据的电势的信号电势Vsig提供给像素101作为输入给显示装置1的视频信号的信号电势。
存储在存储器61中的校正数据可以是使输入到显示装置1的视频信号的信号电势乘以预定比率的值、或者可以是用于偏移预定电压值的值。还可以把校正数据存储为与输入到显示装置1的视频信号的信号电势对应的校正表。换句话说,存储在存储器61中的校正数据的形式不受具体限制。
[根据本实施例的燃烧校正控制的第二例子]
解释根据本实施例的燃烧校正控制的第二例子。
参照图12解释的第一例子中,在初始状态(图12B示出的状态),区域包括的像素101的发光亮度(更准确地说是目标亮度值,由于像素101的恶化程度不同)均匀设置为相同的等级。然而,这种情况下,如图13所示,当接近光接收传感器3的像素101被设置为关注像素P时,与远处的像素101相比,光接收数据的值较低。因此,与较远的像素101熄灭时的情况相比,当较近的像素101熄灭时,光接收传感器3的响应时间(即,到光接收信号输出为止的时间)较长。换句话说,光接收传感器3的响应时间根据设置为关注像素P的像素101的布置位置而不同。因此,在初始状态,即在偏移值采集处理的步骤S21的处理中(见图15),距离光接收传感器3更远的像素101被设置为更亮,而非均匀设置区域包括的像素101的发光亮度。具体地,例如,发光亮度可如图17的B所示设置。
图17是解释根据本实施例的燃烧校正控制方法的第二例子的示图。
在图17的A到H,示出包括5×5个像素101的区域。光接收传感器3位于这个区域中心。在图17,指示像素101的块图案中阴影线图案之中的薄图案(图17中最薄的图案)表示关注像素P以固定的第一等级发光。阴影线图案之中的厚图案(图17中比最薄的图案厚的图案)表示关注像素P以固定的第二等级发光。第二等级是比第一等级更暗的等级。点图案表示关注像素P熄灭。应该注意,图17的第一等级和第二等级并非总是与其它附图的第一等级和第二等级相同。
在第二例子,如第一例子那样,使区域包括的所有像素101发光之后执行燃烧校正控制。因此,在第二例子,如第一例子那样,光接收传感器3的光接收强度能够增加,并且光接收传感器3的光接收时间能够减少,即光接收传感器3的响应速度能够增加。
图17A表示在第二例子中关注像素P的设置次序。关注像素P的设置次序本身与图12A示出的第一例子中关注像素P的设置次序相同。
作为初始状态,如图17B所示,信号处理单元53使区域包括的每个像素101以距离光接收传感器3越远则越亮的等级发光(等级更亮)。
比较图17的C到H和图12的C到H时可见,第二例子的后续处理与第一例子的处理相同。因此,在第二例子,如第一例子那样,可以直接应用符合图14至图16示出的流程图的处理。
[根据本实施例的燃烧校正控制的第三例子]
解释根据本实施例的燃烧校正控制的第三例子。
如第一例子和第二例子中所解释,在根据本实施例的燃烧校正控制中,作为初始状态,基于当使区域包括的像素101发光时获得的光接收传感器3的光接收信号的值而产生偏移数据。根据偏移数据的值和光接收数据的值之差,计算关注像素P的亮度值。光接收数据不限于第一例子和第二例子。这种差值只根据光接收数据来计算。在第一例子和第二例子,如图13所示,采用具有比偏移数据的值更低的值的光接收数据。另一方面,在第三例子,采用具有比偏移数据的值更高的值的光接收数据。
图18是解释根据本实施例的燃烧校正控制方法的第三例子的示图。在图18的A到H,示出包括5×5个像素101的区域。光接收传感器3位于这个区域中心。在图18,指示像素101的块图案中阴影线图案之中的薄图案表示关注像素P以固定的第一等级发光。阴影线图案之中的厚图案表示关注像素P以固定的第二等级发光。第二等级是比第一等级更暗的等级。应该注意,图18的第一等级和第二等级并非总是与其它附图的第一等级和第二等级相同。
图18的A示出在第三例子中关注像素P的设置次序。关注像素P的设置次序本身与图12A示出的第一例子和图17A示出的第二例子中关注像素P的设置次序相同。
作为初始状态,如图18B所示,信号处理单元53使区域包括的像素101以预定等级均匀发光。与图12B示出的第一例子中初始状态的等级相比,第三例子中像素101的均匀等级适合采用暗等级。这是因为,虽然在第一例子关注像素P被熄灭或使关注像素P发出比初始状态更暗的光,但在第三例子,使关注像素P发出比初始状态下的光更亮的光。
具体地,在初始状态之后,如图18的C到H所示,信号处理单元53按照以上解释的次序依次逐个设置区域包括的二十五(5×5)个像素101作为关注像素P。信号处理单元53依次仅使设置为关注像素P的像素以比初始状态下的预定等级更亮的等级发光。换句话说,除关注像素P之外的二十四个像素101保持初始状态的预定等级的发光。
比较图18的C到H和图12或图17的C到H时可见,第三例子的后续处理与第一例子和第二例子的处理相同。然而,在第三例子,信号处理单元53依次仅使设置为关注像素P的像素101以比初始状态下的预定等级更亮的等级发光。
以这种方法,在图18的B示出的初始状态,区域包括的所有像素101以所述预定等级均匀发光。因此,在初始状态下光接收传感器3的输出电压(光接收信号的电压)指示所有像素光总量。如图18的C到H所示,当仅使关注像素P以比初始状态下的预定等级更亮的等级发光时,光接收传感器3的输出电压(光接收信号的电压)比所有像素光总量更高出关注像素P的发光量(关注像素P的发光亮度)。因此,当计算出仅使关注像素P以比初始状态的预定等级更高的等级发光的关注像素发光状态下的光接收传感器3的光接收信号和初始状态的光接收传感器3的光接收信号之差时,获得了关注像素P的发光亮度。
因此,在第三例子,放大所述初始状态(图18的B示出的状态)下光接收传感器3的光接收信号并对光接收信号进行A/D转换而获得的数字数据被事先存储在存储器61作为偏移数据。这种情况下,偏移数据的值是例如图19示出的模拟信号(A/D转换之前的状态)的值。
图19是解释根据本实施例的燃烧校正控制方法的第三例子中关注像素亮度值的计算方法的曲线图。在图19,纵坐标表示放大的光接收传感器3的光接收信号的电压,横坐标表示与光接收传感器3在预定方向的距离(单位是像素个数)。
放大所述关注像素熄灭状态下光接收传感器3的光接收信号并对光接收信号进行A/D转换而获得的数字数据,即光接收数据的模拟信号等效值(在A/D转换之前的状态下的值)如图19所示。如图19所示,光接收数据的模拟信号等效值高于偏移数据的值的量是:比初始状态的预定等级更亮的等级下的关注像素P的发光量(关注像素P的发光亮度)。因此,通过光接收数据的值减去偏移数据的值,信号处理单元53能够计算关注像素P的亮度值。
在图19,当关注像素P更接近光接收传感器3时,光接收数据的值更高。这是因为,如参照图9的解释,即使像素101的发光亮度自身是相同的,随着设置为关注像素P的像素101更接近光接收传感器3,光接收传感器3检测到的光接收量也更大。
应该注意,如第一例子那样,保证获得大于等于固定值的值作为关注像素发光状态下光接收传感器3的输出电压(光接收信号的电压),而不管光接收传感器3和关注像素P之间的距离,即在第三例子,获得至少大于等于偏移数据值的值。这意味着光接收传感器3通常能够以大于等于固定速度的响应速度输出光接收信号,而不管光接收传感器3和关注像素P之间的距离。因此,当整个燃烧校正系统的处理时间与过去的燃烧校正系统的处理时间进行综合比较时,处理时间减少。换句话说,在第三例子,如第一例子和第二例子一样,能够解决以上解释的问题。
[应用根据本实施例的燃烧校正控制方法的第三例子的初始数据采集处理]
图20是解释在显示装置1执行处理中的实现根据本实施例的燃烧校正控制方法的第三例子的初始数据采集处理例子的流程图。
对EL面板2的每个分割区域,例如,并行执行图20所示例子的初始数据采集处理。换句话说,对每个光接收传感器3,并行执行图20示出的初始数据采集处理。
比较图20和图14时可容易地看出,图20所示例子的初始数据采集处理的一系列流程基本与图14所示例子的初始数据采集处理的一系列流程相同。因此,以下仅解释图20所示例子的初始数据采集处理中与图14所示例子的初始数据采集处理不同的处理。
在第一步骤S61,如图14示出步骤S1的处理一样执行偏移值采集处理。执行步骤S61的处理,即图15示出的偏移值采集处理。然而,如前面所解释,在图20所示例子的步骤S61的偏移值采集处理的情况下,图15示出步骤S21的处理中的“预定等级”是与图14所示例子的步骤S1的偏移值采集处理的情况相比更暗的等级。
因此,虽然“熄灭关注像素”的处理被用作图14所示例子的步骤S3的处理,而“使关注像素以预定等级发光”的处理被用作图20所示例子的步骤S63的处理。步骤S63的“预定等级”是比图20所示例子的步骤S61的偏移值采集处理中的图15示出步骤S21的“预定等级”更亮的等级。
至于图14所示例子的步骤S7的处理,采用“计算偏移数据的值和光接收数据的值之差以计算关注像素的亮度值(见图13)”的处理。另一方面,至于图20所示例子的步骤S67的处理,采用“计算光接收数据的值和偏移数据的值之差以计算关注像素的亮度值(见图19)”的处理。
[应用根据本实施例的燃烧校正控制方法的第三例子的校正数据采集处理]
图21是解释当执行图20示出的初始数据采集处理之后过去预定时间时执行的校正数据采集处理例子的流程图。像图20示出的初始数据采集处理一样,对EL面板2的每个分割区域并行执行校正数据采集处理。
比较图21和图16时可容易看出,图21所示例子的校正数据采集处理的一系列流程基本与图16所示例子的校正数据采集处理的一系列流程相同。因此,解释图21所示例子的校正数据采集处理与图16所示例子的校正数据采集处理不同的处理。
如图16示出的步骤S41的处理,在步骤S81执行偏移值采集处理。至于步骤S81的处理,执行图15示出的偏移值采集处理。然而,如以上所解释,在图21所示例子的步骤S81的偏移值采集处理的情况下,图15示出的步骤S21的“预定等级”是与图16所示例子的步骤S41的偏移值采集处理的情况相比更暗的等级。
换句话说,就像素101实际产生的亮度的等级而言,偏移值采集处理的步骤S21的“预定等级”在图20示出的初始数据采集处理和图21示出的校正数据采集处理中是不同的,因为像素101恶化。然而,就给予像素101的目标等级而言,图20示出的初始数据采集处理和图21示出的校正数据采集处理中采用相同等级作为偏移值采集处理的步骤S21的“预定等级”。
因此,虽然采用“熄灭关注像素”的处理作为图16所示例子的步骤S43的处理,但采用“使关注像素以预定等级发光”的处理作为图21所示例子的步骤S83的处理。
,步骤S83的“预定等级”是比图20所示例子的步骤S61的偏移值采集处理中的图15示出步骤S21的处理的“预定等级”更亮的等级。
换句话说,步骤S83的“预定等级”不同于图20示出的初始数据采集处理的步骤S63中的“预定等级”,因为设置为关注像素P的像素101恶化。然而,在给予关注像素P的目标等级方面,采用与图20示出的初始数据采集处理的步骤S63的“预定等级”相同等级作为步骤S83的“预定等级”。
至于图16所示例子的步骤S47的处理,采用“计算偏移数据的值和光接收数据的值之差以计算关注像素的亮度值(见图13)”的处理。另一方面,至于图21所示例子的步骤S87的处理,采用“计算光接收数据的值和偏移数据的值之差以计算关注像素的亮度值(见图19)”的处理。
[根据本实施例的燃烧校正控制的第四例子]
解释根据本实施例的燃烧校正控制的第四例子。
在参照图18解释的第三例子,在初始状态(图18B示出的状态),区域包括的像素101的发光亮度(更准确地讲是目标亮度值,由于像素101的恶化程度不同)均匀设置为相同的等级。然而,在根据本实施例的燃烧校正控制中(不包括稍后解释的第五例子),根据偏移数据的值和光接收数据的值之差而计算关注像素的亮度值。因此,偏移数据的值不限于第三例子。这种差值只根据偏移数据的值来计算。在第三例子,在初始状态下以相同等级发光的像素101是区域包括的所有像素101。然而,在初始状态下以相同等级发光的像素101数量不限于第三例子,而可以是任意数量,只要所确定的像素101发光。在第四例子,在初始状态下,仅仅区域包括的像素101之中预定部分的像素101以相同等级发光。具体地,例如第四例子的初始状态如图22的B所示。
图22是解释根据本实施例的燃烧校正控制方法的第四例子的示图。
在图22的A到H,示出包括5×5个像素101的区域。光接收传感器3位于这个区域中心。在图22,指示像素101的块图案中阴影线图案之中的薄图案(图22中最薄的图案)表示关注像素P以固定的第一等级发光。阴影线图案之中的厚图案(图22中比最薄的图案厚的图案)表示关注像素P以固定的第二等级发光。第二等级是比第一等级更暗的等级。右阴影线图案(图22中最厚的图案)表示关注像素P熄灭。应该注意,图22的第一等级和第二等级并非总是与其它附图的第一等级和第二等级相同。
在第四例子,信号处理单元53使区域包括的一部分像素101发光之后执行燃烧校正控制。因此,在第四例子,如第一例子至第三例子那样,光接收传感器3的光接收强度能够增加,并且光接收传感器3的光接收时间能够减少,即,光接收传感器3的响应速度能够增加。
在图22的A,示出第四例子中关注像素P的设置次序。关注像素P的设置次序本身与图18A等示出的第三例子中关注像素P的设置次序相同。
作为初始状态,如图22B所示,信号处理单元53使区域包括的像素101的一部分像素101(在图22B所示例子,位于下面三行的像素101)中的每一个以固定等级发光。
比较图22的C到H和图18的C到H时可见,第四例子中随后处理与第三例子的处理相同。因此,符合图20、图21和图15示出流程图的处理能够直接应用于第四例子,如第三例子一样。
[根据本实施例的燃烧校正控制的第五例子]
解释根据本实施例的燃烧校正控制的第五例子。在以上解释的根据本实施例的燃烧校正控制的第一例子至第四例子,根据偏移数据的值和光接收数据的值而计算关注像素的亮度值。偏移数据的值是与在初始状态下使区域包括的像素101中的至少一部分像素发光时获得的光接收传感器3的光接收信号对应的值。设置这种初始状态的目的在于增加光接收传感器3的响应速度。为实现这个目的,偏移数据是必需的。然而,从关注像素P的燃烧校正的精度的角度,如果存在偏移数据,由于偏移数据导致精度下降。以下,参照图23A和图23B对此进一步解释。
图23A和图23B是光接收传感器3的光接收信号(模拟信号)的最大电压和当模拟信号被数字化时获得的等级数目之间关系的曲线图。具体地,图23A是在应用根据本实施例的燃烧校正控制的第三例子的曲线图。图23B是在应用根据本实施例的燃烧校正控制的第五例子的曲线图。在图23A和图23B,纵坐标表示光接收传感器3的光接收信号的模拟信号的最大电压,横坐标表示与光接收传感器3在预定方向的距离(单位是像素个数)。
如图23A所示,假定当根据像素个数与光接收传感器3相距0的像素101被设置为关注像素P时,光接收传感器3的光接收信号的电压VL是10。另外,假定在初始状态下光接收传感器3的光接收信号的电压Voff是1。换句话说,与电压Voff对应的数字数据的值是偏移数据的值。因此,光接收传感器3的光接收信号(模拟信号)的电压VL和电压Voff之间的电压差Vp=9是与关注像素P的亮度值等效的模拟电压。假定具有电压10的模拟信号转换成8位256级的数字数据。这种情况下,具有转换成8位230级数字数据的电压差Vp的模拟信号等效于关注像素P的亮度数据。因此,这种情况下,关注像素P的燃烧校正的精度是230级精度(大约0.45%的精度),低于256级精度(0.4%的校正精度)。
因此,在第五例子,在光接收传感器3的光接收信号(模拟信号)的阶段,根据模拟电压计算与偏移相等的模拟电压差。对具有该电压差的模拟信号适当放大并进行A/D转换。例如,在图23A和图23B所示例子中,产生具有光接收传感器3的光接收信号(模拟信号)的电压VL和电压Voff之间的电压差Vp=9的模拟信号。把该模拟信号放大10/9,并随后进行A/D转换。然后,如图23B所示,该模拟信号转换成8位256级数字数据。在第五例子,这种数字数据用作关注像素P的亮度数据。结果,关注像素P的燃烧校正的精度能够设置为256级精度的最大精度,即0.4%的校正精度。
[执行燃烧校正控制的第五例子所需的显示装置1的功能结构例子]
图24是执行燃烧校正控制的第五例子所需的显示装置1的功能结构例子的功能框图。在图24,与图7示出的部件对应的部件由相同标号表示。适当省略对这些部件的解释。
在图24所示例子,控制单元5还在图7所示例子的结构中包括模拟差分电路81。
[模拟差分电路81的结构例子和操作例子]
图25是模拟差分电路81的结构例子的示图。
模拟差分电路81包括作为开关元件的三个晶体管Tr1至Tr3(以下称为开关Tr1至Tr3)以及两个电容器C1和C2。具体地,开关Tr1连接在模拟差分电路81的输入端IN和输出端OUT之间。在开关Tr2和Tr3的串联电路中,开关Tr2侧的末端连接到输出端OUT,开关Tr3侧的末端接地(GND)。在电容器C1和电容器C2的串联电路中,电容器C2侧的末端连接到输出端OUT,电容器C1侧的末端连接到光接收传感器3的光接收元件LD的电势Vcc的线。开关Tr2和电容器C2在连接到输出端OUT的末端(施加了相同电压Va的末端)的相反侧的末端连接。结果,相同电压Vb施加于所述相反侧的末端。输入端IN连接在光接收传感器3的光接收元件LD和电阻器R之间。
图26、图27和图28是解释具有这种结构的模拟差分电路81的操作例子的示图。
整个燃烧校正控制的处理流程基本与图18示出的第三例子中燃烧校正控制的处理流程相同。
首先,作为初始状态,如图18B所示,信号处理单元53使区域包括的像素101以预定等级均匀发光。此时,如图26所示,模拟差分电路81使开关Tr1和Tr2导通并使开关Tr3断开。这种情况下,基于光接收传感器3的光接收信号的电荷经开关Tr1和Tr2写入电容器C1。电容器C1和电容器C2之间的电压Vb是流过光接收传感器3的电流I1和电阻R的乘积,即Vb=I1×R。当I1×R描述为V1时,在初始状态下Vb等于V1。这个电压V1是与偏移数据值对应的模拟电压值(以下称为偏移模拟电压值)。
在初始状态之后,在图18C示出的关注像素P(第一行×第一列的像素101)的发光开始之前,如图27所示,模拟差分信号81使开关Tr1保持导通,使开关Tr2从导通变为断开,并使开关Tr3保持断开。
其后,如图18C所示,信号处理单元53仅使作为关注像素P的像素101以比初始状态下的预定等级更亮的等级发光。这种情况下,基于光接收传感器3的光接收信号的电荷经开关Tr1写入电容器C2。电容器C2的输出端OUT侧的电压Va是流过光接收传感器3的电流I2和电阻R的乘积,即Va=I2×R。当I2×R表示为V2时,此时,Va等于V2。这个电压V2是接收信号的模拟电压值,即与光接收数据的值对应的模拟电压。当假定电容器C1和C2的电容相等时,Vb=(V2-V1)/2。换句话说,电压Vb是光接收信号的模拟电压值和偏移模拟电压值之间的模拟电压差值(准确地说,是该电压值一半的电压值)。
因此,如图28所示,模拟差分电路81使开关Tr1从导通变为断开,并使开关Tr3从断开变为导通。然后,电压Vb降至GND电平。因此,Va等于(V2-V1)/2。因此,从模拟差分电路81的输出端OUT输出具有这个电压(V2-V1)/2的信号,即具有光接收信号的模拟电压值和偏移模拟电压值之间的模拟电压差Va=(V2-V1)/2的信号(以下称为模拟差分信号)。
[应用根据本实施例的燃烧校正控制方法的第五例子的初始数据采集处理]
图29是解释实现显示装置1执行的处理中根据本实施例的燃烧校正控制方法的第五例子的初始数据采集处理例子的流程图。
对EL面板2的每个分割区域,例如,并行执行图29所示例子的初始数据采集处理。换句话说,对每个光接收传感器3,并行执行图29示出的初始数据采集处理。
比较图29和图20时可容易地看出,图29所示例子的初始数据采集处理的一系列流程类似于图20所示例子的初始数据采集处理的一系列流程。因此,仅解释图29所示例子的初始数据采集处理中与图20所示例子的初始数据采集处理不同的处理。
在第一步骤S101,不执行图20示出的步骤S61的偏移值采集处理,执行模拟差分电路81保持偏移值的一系列处理。以下这种处理称为偏移值保持处理。
图30是解释步骤S101中偏移值保持处理的详细例子的流程图。
比较图30和图15时可容易地看出,图30所示例子的步骤S121和S122的处理与图15示出的偏移值采集处理的步骤S21和S22的处理相同。因此,省略对这些处理的解释。
在步骤S123,模拟差分电路81保持偏移电压值。至于步骤S123的处理,执行参照图26和图27解释的处理。当偏移值保持处理结束时,即当图29示出的步骤S101的处理结束时,流程前进至步骤S102。
从步骤S102至步骤S104的处理与图20示出的步骤S62至S64的处理相同。因此,省略对这些处理的解释。
在步骤S105,模拟差分电路81计算模拟光接收信号的电压值和偏移电压值之差,并输出模拟差分信号。
在步骤S106,放大单元51以预定放大率放大模拟差分信号,并把差分信号提供给A/D转换单元52。
在步骤S107,A/D转换单元52把放大的模拟差分信号转换成作为数字信号的亮度数据(见图23B),并把亮度数据提供给信号处理单元53。
在图29所示例子,在步骤S105的处理中执行模拟信号阶段的差分处理。因此,不需要像图20所示例子的步骤S67的处理那样的数字数据阶段的差分处理。
在步骤S108,信号处理单元53使存储器61存储亮度数据作为初始数据。
在步骤S109,信号处理单元53确定是否对区域包括的所有像素101获取了亮度数据。当在步骤S109确定没有对区域包括的所有像素101获取亮度数据时,流程返回至步骤S101,并重复步骤S101至S109的循环处理。具体地,区域包括的每个像素101依次设置为关注像素P,反复执行这种循环处理,由此获取区域包括的所有像素101的初始数据,并把初始数据存储在存储器61。
因此,在步骤S109确定对区域包括的所有像素101获取了亮度数据。初始数据采集处理结束。
[应用根据本实施例的燃烧校正控制方法的第五例子的校正数据采集处理]
图31是解释当执行图29示出的初始数据采集处理之后过去预定时间时执行的校正数据采集处理例子的流程图。像图29示出的初始数据处理一样,也对EL面板2的每个分割区域并行执行校正数据采集处理。
步骤S141至S147的处理与以上解释的图29示出的步骤S101至S107的处理相同。因此,省略对这些处理的解释。步骤S148至S150的处理与图16示出的步骤S48至S50的处理相同。因此,省略对这些处理的解释。
在步骤S151,信号处理单元53确定是否对区域包括的所有像素101获取了校正数据。当在步骤S151确定没有对区域包括的所有像素101获取校正数据时,流程返回至步骤S141,并重复步骤S141至S151的循环处理。具体地,区域包括的每个像素101依次设置为关注像素P,反复执行这种循环处理,由此获取区域包括的所有像素101的校正数据,并把初始数据存储在存储器61。
因此,在步骤S151确定对区域包括的所有像素101获取了亮度数据。校正数据采集处理结束。
[本实施例的应用]
本发明的实施例不限于以上解释的实施例。在不脱离本发明的精神的情况下可以进行各种修改。
例如,以上解释的像素101的图案结构能够用于除了包括有机EL(电致发光)装置的自发光面板之外的其它自发光面板,诸如FED(场发光显示器)。
如参照图4所解释,像素101包括两个晶体管(采样晶体管31和驱动晶体管32)和一个电容器(存储电容器33)。然而,可以采用其它电路结构。
至于像素101的其它电路结构,例如,除了包括两个晶体管和一个电容的结构(以下也称为2Tr/1C像素电路)之外,还能够采用以下解释的电路结构。电路结构包括五个晶体管和一个电容器的结构(以下也称为5Tr/1C像素电路),其中增加了第一至第三晶体管。在采用5Tr/1C像素电路的像素101,从水平选择器103经视频信号线DTL10向采样晶体管31提供的信号电势固定为Vsig。结果,采样晶体管31的作用是:切换向驱动晶体管32提供的信号电势Vsig。经电源线DSL10向驱动晶体管32提供的电势固定为第一电势Vcc。增加的第一晶体管切换向驱动晶体管32提供的第一电势Vcc。第二晶体管切换向驱动晶体管32提供的第二电势Vss。第三晶体管切换向驱动晶体管32提供的基准电势Vof。
至于像素101的其它电路结构,也可以采用2Tr/1C像素电路和5Tr/1C像素电路的中间电路结构。电路结构是包括四个晶体管和一个电容器的结构(4Tr/1C像素电路)和包括三个晶体管和一个电容器的结构(3Tr/1C像素电路)。至于4Tr/1C像素电路和3Tr/1C像素电路,例如,可以采用使用Vsig和Vofs以脉冲把从水平选择器103提供的信号电势提供给采样晶体管31的结构。换句话说,能够采用省略第三晶体管或第二晶体管和第三晶体管的结构。
为了例如补充有机发光部件的电容部件,可以在2Tr/1C像素电路、3Tr/1C像素电路、4Tr/1C像素电路和5Tr/1C像素电路中的发光元件34的阳极和阴极之间增加辅助电容器。
在本说明书中,流程图描述的步骤不仅包括根据描述顺序按时间顺序执行的处理,还包括并行或独立执行的处理,而非总是按时间顺序执行。
本发明不仅能够应用于图1示出的显示装置1,还能够应用于各种显示装置。应用本发明的显示装置可用于显示器,其显示作为图像或视频的输入给各种电子设备或在各种电子设备中产生的视频信号。各种电子设备的例子包括:数字静止照相机和数字视频照相机、笔记本个人计算机、手机和电视接收器。以下解释应用显示装置的这种电子设备的例子。
例如,本发明能够应用于电视接收器作为电子设备的例子。电视接收器包括视频显示屏幕,视频显示屏幕包括前面板和滤波玻璃。电视接收器是使用根据实施例的显示装置来制作用于视频显示屏幕。
例如,本发明能够应用于笔记本个人计算机作为电子设备的例子。在笔记本个人计算机中,主体包括用于输入字符等的键盘。主体的主体盖包括显示图像的显示单元。笔记本个人计算机是使用根据实施例的显示装置来制作用于显示单元。
例如,本发明能够应用于便携式终端设备作为电子设备的例子。便携式终端设备包括上壳和下壳。至于便携式终端设备的状态,存在两个壳打开的状态和两个壳关闭的状态。除了上壳和下壳之外,便携式终端设备还包括连接单元(铰链单元)、显示器、子显示器、画面灯和照相机。便携式终端设备是使用根据实施例的显示装置来制作用于显示器和子显示器。
例如,本发明能够应用于数字视频照相机作为电子设备的例子。数字视频照相机包括:主体单元、面向前方侧的物体摄影透镜、摄影的开始/停止开关和监视器。数字视频照相机是使用根据实施例的显示装置来制作用于监视器。
本申请包含2008年11月17日提交给日本专利局的日本优先权专利申请JP 2008-293286公开的主题相关的主题,该专利申请的全部内容通过引用包含于此。
本领域技术人员应该理解,在不脱离权利要求或其等同物的范围的情况下,可以根据设计的需要和其它因素做出各种变型、组合、子组合和替换。
Claims (21)
1.一种显示装置,包括:
面板,其中根据视频信号发光的多个像素被分成多个区域;
光接收传感器,布置在每个区域,并根据发光亮度输出光接收信号;
信号处理装置,对所述光接收信号进行处理,其中,
所述区域包括:
第一像素组,包括至少一个像素,和
第二像素组,包括除第一像素组之外的多个像素,
所述信号处理装置把当第一像素组和第二像素组以预定发光亮度发光时获得的光接收信号设置为偏移值,并把当第二像素组以所述预定发光亮度发光并且第一像素组的发光亮度改变时获得的光接收信号设置为光接收值,还包括:
算术装置,用于根据所述偏移值和所述光接收值的算术运算输出算术信号,
转换装置,用于根据所述算术信号输出数字数据,和
校正装置,用于根据所述数字数据校正所述视频信号,并把校正的视频信号提供给第一像素组。
2.权利要求1所述的显示装置,其中所述偏移值是当第一像素组和第二像素组以预定等级均匀发光时获得的光接收信号。
3.权利要求1所述的显示装置,其中所述第二像素组包括所述区域中除第一像素组之外的所有像素。
4.权利要求1所述的显示装置,其中所述第二像素组包括所述区域中除第一像素组之外的一部分像素。
5.权利要求1所述的显示装置,其中所述光接收值是当保持第二像素组的发光亮度并且降低第一像素组的发光亮度时获得的光接收信号。
6.权利要求1所述的显示装置,其中所述光接收值是当保持第二像素组的发光亮度并且增加第一像素组的发光亮度时获得的光接收信号。
7.权利要求1所述的显示装置,其中所述像素利用自发光元件发光。
8.权利要求1所述的显示装置,其中所述转换装置是A/D转换处理。
9.权利要求1所述的显示装置,其中所述算术运算是计算差值的处理。
10.权利要求1所述的显示装置,其中
所述光接收传感器包括光接收元件和电阻器,
所述算术装置包括第一开关、第二开关、第三开关、第一电容器和第二电容器,
所述第一开关连接在所述算术装置的输入端和输出端之间,
所述第二开关连接在所述输出端和所述第三开关之间,
所述第三开关连接在所述第二开关和第一电源线之间,
所述第一电容器连接在所述第二电容器和第二电源线之间,
所述第二电容器连接在所述第一电容器和所述输出端之间,
所述第二开关和所述第三开关之间的部分连接在所述第一电容器和所述第二电容器之间,
所述输入端连接在所述光接收传感器的光接收元件和电阻器之间。
11.权利要求10所述的显示装置,其中所述算术装置在第一开关导通、第二开关导通以及第三开关断开的状态下使第一像素组和第二像素组以预定发光亮度发光,在第一开关导通、第二开关断开以及第三开关断开的状态下使第二像素组以所述预定发光亮度发光并改变第一像素组的发光亮度,并且断开第一开关、断开第二开关并使第三开关导通,并输出所述数字数据作为所述算术信号。
12.一种显示装置,包括:
面板,其中根据视频信号发光的多个像素被分成多个区域;
光接收传感器,布置在每个区域,并根据发光亮度输出光接收信号;和
信号处理装置,对所述光接收信号进行处理,其中,
所述区域包括:
第一像素组,包括至少一个像素,和
第二像素组,包括除第一像素组之外的多个像素,
所述信号处理装置把当第一信号电势被提供给第一像素组和第二像素组时获得的光接收信号设置为偏移值,并把当第一信号电势被提供给第二像素组并且第二信号电势被提供给第一像素组时获得的光接收信号设置为光接收值,还包括:
算术装置,用于根据所述偏移值和所述光接收值的算术运算输出算术信号,
转换装置,用于根据所述算术信号输出数字数据,
校正装置,用于根据所述数字数据校正所述视频信号,并把校正的视频信号提供给第一像素组。
13.权利要求12所述的显示装置,其中所述第二像素组包括所述区域中除第一像素组之外的所有像素。
14.权利要求12所述的显示装置,其中所述第二像素组包括所述区域中除第一像素组之外的一部分像素。
15.权利要求12所述的显示装置,其中所述第二信号电势高于所述第一信号电势。
16.权利要求12所述的显示装置,其中所述第二信号电势低于所述第一信号电势。
17.权利要求12所述的显示装置,其中所述像素利用自发光元件发光。
18.权利要求12所述的显示装置,其中所述转换装置是A/D转换处理。
19.权利要求12所述的显示装置,其中所述算术运算是计算差值的处理。
20.一种显示装置,包括:
面板,其中根据视频信号发光的多个像素被分成多个区域;
光接收传感器,布置在每个区域,并根据发光亮度输出光接收信号;和
信号处理单元,对所述光接收信号进行处理,其中,
所述区域包括
第一像素组,包括至少一个像素,和
第二像素组,包括除第一像素组之外的多个像素,以及
所述信号处理单元把当第一像素组和第二像素组以预定发光亮度发光时获得的光接收信号设置为偏移值,并把当第二像素组以所述预定发光亮度发光并且第一像素组的发光亮度改变时获得的光接收信号设置为光接收值,还包括:
算术单元,用于根据所述偏移值和所述光接收值的算术运算输出算术信号,
转换单元,用于根据所述算术信号输出数字数据,
校正单元,用于根据所述数字数据校正所述视频信号,并把校正的视频信号提供给第一像素组。
21.一种显示装置,包括:
面板,其中根据视频信号发光的多个像素被分成多个区域;
光接收传感器,布置在每个区域,并根据发光亮度输出光接收信号;
信号处理单元,对所述光接收信号进行处理,其中,
所述区域包括:
第一像素组,包括至少一个像素,和
第二像素组,包括除第一像素组之外的多个像素,以及
所述信号处理单元把当第一信号电势被提供给第一像素组和第二像素组时获得的光接收信号设置为偏移值,并把当第一信号电势被提供给第二像素组并且第二信号电势被提供给第一像素组时获得的光接收信号设置为光接收值,还包括:
算术单元,用于根据所述偏移值和所述光接收值的算术运算输出算术信号,
转换单元,用于根据所述算术信号输出数字数据,
校正单元,用于根据所述数字数据校正所述视频信号,并把校正的视频信号提供给第一像素组。
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