CN101682798A - 用于控制与用于呈现各种类型的光电子信息的装置的操作有关的多个参数的通用测试系统 - Google Patents

用于控制与用于呈现各种类型的光电子信息的装置的操作有关的多个参数的通用测试系统 Download PDF

Info

Publication number
CN101682798A
CN101682798A CN200880014078A CN200880014078A CN101682798A CN 101682798 A CN101682798 A CN 101682798A CN 200880014078 A CN200880014078 A CN 200880014078A CN 200880014078 A CN200880014078 A CN 200880014078A CN 101682798 A CN101682798 A CN 101682798A
Authority
CN
China
Prior art keywords
photographic
processor
test
lens
control
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN200880014078A
Other languages
English (en)
Inventor
A·热尔曼
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Spherea Test and Services SAS
Original Assignee
Spherea Test and Services SAS
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority to FR0702084A priority Critical patent/FR2914099B1/fr
Priority to FR0702084 priority
Application filed by Spherea Test and Services SAS filed Critical Spherea Test and Services SAS
Priority to PCT/FR2008/000385 priority patent/WO2008135664A1/fr
Publication of CN101682798A publication Critical patent/CN101682798A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N17/00Diagnosis, testing or measuring for television systems or their details
    • H04N17/04Diagnosis, testing or measuring for television systems or their details for receivers
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2320/00Control of display operating conditions
    • G09G2320/06Adjustment of display parameters
    • G09G2320/0693Calibration of display systems

Abstract

根据本发明的测试系统利用由计算机系统远程控制的数字照相装置(4),所述计算机系统包括连接到人机接口(21)并通过远程传输装置连接到要被测试的呈现装置的处理器(20)。该装置还被用来将照相装置(4)和要被测试的呈现装置(5)相对。所述处理器被编程以执行照相装置的自动定位阶段,物镜的自动聚焦阶段和信息呈现装置的测试阶段。

Description

用于控制与用于呈现各种类型的光电子信息的装置的操 作有关的多个参数的通用测试系统
技术领域
本发明涉及能够控制与用于呈现各种类型的光电子信息的显示装 置的操作有关的多个参数的通用测试系统。其适用于例如具有阴极管
(CRT)、具有液晶(LCD)、或乃至具有等离子体的屏幕显示器和 诸如平视显示器(HUD)、投映在风挡玻璃上的显示系统、或乃至头 盔显示器(HMD)等其中将图像投映至无穷远的装置。
更特别地,本发明的目的是借助于单传感器来允许表征这些信息 呈现装置,所述单传感器易于使用且允许在自动模式下、即特別地但 以非限制性方式执行此表征所需的全部测量和测试:
-比色测试(在一点中及在显示器的整个区域中)
-颜色均匀度测试(颜色的直方图……)
-亮度测量,其还可以在显示器的整个区域中执行,还可以在区 域的所有点中执行均勻度测试,
-故障像素的检测(一个或多个像素,簇……), -几何测量(痕迹宽度、视差、畸变……), —图像中的元素图案的重叠的检测……
背景技术
在本领域中公知的是特定的测试装置与用于呈现信息的每种类型 的设备相关,如果必须获取涉及不同类型的显示器或观看装置的设备, 则这一点尤其"昂贵"。
此外,这种额外设备产生特别地用于测试装置维护和报废管理的 附加成本。此外,这些测试装置常常涉及多个传感器,每个被分配给 执行的一种测量。这样,对于亮度测量,所使用的传感器将是亮度计;色度测量将 涉及色度计;对于准确的测量,将使用小区域高分辨率传感器;对于 标准的几何测量,所使用的传感器将是大区域中等分辨率传感器;通 常在手动模式下执行某些测量,诸如与故障像素的检测或元素图案的 分析有关的那些测量。
在专利US 6,064,462中所描述的检查装置中再次发现这些缺陷, 该专利利用在液晶显示面板的表面处形成的牛顿环与包含液晶的两个 玻璃板之间的间距之间的相关性,以便检查所述间距的均匀度:在不 使用液晶显示器的观看装置中不能考虑这种原理。
而且,日本专利JP 31 603 10使用 一种应用多个照相装置的组件, 所述照相装置旨在获取在信息呈现装置的阴极屏幕上显示的测试图案 的照片。此组件是特别为特定类型的阴极屏幕而设计的,且例如不适 用于诸如平视显示器或头盔显示器等其它显示器类型。
与之相关的文献WO 02/39 753描述了一种用于测试液晶显示装 置的装置,其使用横向地照亮显示器的光源装置以及旨在经由偏振器 和滤波器来接收被显示器反射的一部分光的照相装置。处理器分析由 照相装置接收到的图像以便检查一定数目的标准。因此,这种装置专 用于液晶显示器且不适合于其它类型的显示器。
发明内容
更特别地,因此,本发明的目的是通过使用单传感器来抑制这些 缺点,用所述单传感器,可以对市场上的大部分显示装置或显示器自 动地或半自动地执行全部测量和常见测试,以<更:
-使在使用不同类型的显示器或观看装置的公司中使用的测试装 置均质化,
-使测试程序和获得的结果一致(因为使用单传感器), -通过使用用于单一获取的装置来降低投资成本和维护成本, -通过用自动测量代替手动测量来降低获得的结果的主观性, 一能够存储与测试有关的信息以便特别地将其与在稍后执行的测试期间获得的信息相比较。
为此,提出了一种测试系统,该系统包括作为通用单传感器的传 统类型的数字照相装置,该数字照相装置可以从包括处理器和诸如键 盘/屏幕组等人机接口的计算机系统进行远程控制,此照相装置包括可 选地具有可变焦距的物镜,该物镜的聚焦可以通过遥测装置来自动地 执行(例如"自动聚焦"型,所述处理器本身经由远距离传输装置耦 合到要测试的呈现装置,所述远距离传输装置是为了使照相装置与期 望进行其测试的呈现装置相对地定位而提供的,优选地与后者同轴)。
然后对处理器编程以便执行包括以下操作阶段的序列: -自动定位阶段,其包括处理器对呈现装置显示和定位标记的投
映进行的控制、对照相装置获得的图像的分析和处理器根据所述分析
的结果对定位装置的控制,
-光学校准阶段,以便例如通过调整物镜的焦距来促使由呈现装
置生成的图像占据由静止照相机拍摄的数字照片的预定区域(例如整
个照片),
-用于自动地使物镜聚焦以便获得清晰图像的阶段, -测试阶段,在此期间,处理器执行至少一个测试序列,其包括 由处理器向显示系统应用可以包括要显示的信息和/或旨在修改显示 器的工作参数的控制的激励,然后,在应用激励之后,用照相装置拍 摄数字照片并分析由此拍摄的照片以便确定呈现装置的至少一个工作 参数,对于将要被检查的呈现装置的每个参数,用适当的激励重复此 测试序列。
当然,处理器将被编程以便能够执行适合于意图进行测试的所有 类型的呈现装置的测试序列。在这种情况下,该系统可以包括用于识 别要测试的装置的类型的装置,和允许在此识别之后确定要执行的相 应测试序列的装置。
附图说明
下面将参照附图来描述作为非限制性示例的本发明的实施例,在附图中:
单个图是安装在工作台上的测试系统的示意图。 具体实施方式
在此图所示的示例中,测试系统包括工作台l承载有两个支撑结 构2、 3,所述两个支撑结构即:
-照相装置4的支撑结构2,其具有沿着工作台的纵轴X、 X,和 垂直于此工作台的平面的轴Y、 Y,的位置调整可能性,
-呈现装置5的支撑结构3,具有绕着垂直轴V、 V,(垂直于工 作台1的平面)和水平轴H、 H,(平行于所述工作台1)的方位调整 可能性(由平行六面体示意地示出)。
在本示例中,支撑结构2包括具有倾斜C的形状的截面的底座6, 其芯被附着在工作台1上并沿着由水平圆柱形杆形成的纵向滑轨 (slide) 8、 9支撑移动托架7,所述水平圆柱形杆通过其末端附着在 底座6的平行翼上。借助于被容纳在托架7中的电动机驱动进行旋转 的螺旋致动器来提供托架7沿着滑轨8、 9的致动。托架7支撑承载垂 直滑轨11、 12的支架10,借助于在照相装置的后部提供的连接部分 (未示出),照相装置4可以沿着该垂直滑轨11、 12滑动。由被牢固 地附着于支架10的电动机13驱动的螺旋致动器来保证照相;装置4沿 着滑轨ll、 12的移位。 支撑结构3包括具有U型截面的支撑部分14,其芯经由容纳用于 驱动部分14进行旋转的电动机的底座15被可绕着垂直轴V、 V,旋转 地安装在工作台1上。
呈现装置5被安装在支撑和附着框架16中,该支撑和附着框架 16借助于在两个翼的相应孔中通过的两个同轴轴颈17、 18而可绕着 水平轴旋转地安装在支撑部分14的翼之间。然后由与轴颈18啮合的 齿轮电动机19来提供使呈现装置5旋转的驱动。
数字照相机4是包括专业类型的照相机的常见功能的数字装置。 其具有物镜,该物镜具有可变焦距(光学变焦/电子变焦)且对于该物镜,可以借助于遥测系统来自动地执行聚焦(自动聚焦)。
数字照相装置4例如经由USB连接而连接到装有软件的处理器 20,它被设计为根据预定操作序列而手动地或经由人机接口 21 (在这 里为键盘/屏幕控制台)自动地提供对照相装置4的控制。
而且,呈现装置5被连接到处理器,该处理器被进一步编程以便 执行测试序列,该测试序列包括向呈现装置应用可以包括要显示的信 息和/或旨在修改此装置的工作参数的控制的激励。
处理器20被进一步编程以便经由适当的连接提供对两个支撑结 构的致动器的电动机的控制且这是为了允许操作员从键盘/屏幕控制 台执行所有调整。可以在自动定位模式下自动地执行观看装置的位置 的调整(装置的光学轴与照相装置的物镜的光学轴的同轴性或显示器 的平面相对于照相装置的光学轴的垂直性),例如通过在呈现装置上 显示(或投映)定位标记(栅格或测试图),分析该照相装置提供的 图像以及随后借助于处理器20来适当地控制致动器。
一旦呈现装置5已被正确地定位为面对照相装置4,则处理器20 控制装置4的聚焦。
在第一阶段,调整装置4的焦距以便显示器5所产生的图像占据 由装置4产生的照片的预定区域(优选地为整个照片)。然后,继续 进行聚焦(借助于其遥测装置)以便获得尽可能清晰的照片。
处理器20执行一个或多个测试序列,每个包括向呈现装置应用例 如可以导致诸如栅格或测试图和/或旨在修改此装置的工作参数(例如 亮度、色度、对比度、平滑度、线厚度……)的控制机构等信息装置 显示的激励。然后,处理器20将一个或多个拍摄镜头排序并随后将与 刚刚拍摄的照片有关的数字数据传输到其自己的存储器中。然后,执 行这些照片的图像分析以便执行呈现装置的表征。
此表征可以可选地与呈现装置5的自动调整和自动校准过程相关。
当然,本发明可以在对生产线的结尾处进行质量控制以便检测且 可能消除故障装置的范围内和维护的范围内使用。在后一种情况下,根据本发明的系统可以现场安装,例如,安装 在飞机的驾驶员座舱中以便测试此场地的显示器和观看装置。在这种 情况下,将显示装置的固定性考虑在内,应只提供安装在驾驶员座舱 的结构上的照相装置的定位或自动定位装置。
借助于前述布置,利用根据本发明的系统,可以获得许多优点,
特别地诸如:
一测试时间的最优化,
-测试的部分或乃至全部地自动化,
-结果的更好的客观性(纯粹数字地执行分析,摆脱任何主观评 价),
-将结果存储在存储器中的可能性,特别是鉴于统计学分析, 一更大的测试穷尽性,
-在使用方面的非常大的灵活性和自适应的多种可能性,特别是 对于新型的信息呈现装置。

Claims (6)

1.一种能够对与各种类型的光电子信息呈现装置的操作有关的多个参数执行控制的测试系统,所述系统包括安装在定位装置上的照相装置,所述定位装置允许所述照相装置居中面对每个呈现装置, 其特征在于包括传统类型的单个数字照相装置(4)作为照相装置,该单个数字照相装置(4)包括具有可变焦距的物镜,该照相装置能够被包括处理器(20)和人机接口(21)的计算机系统远程控制,该照相装置包括物镜,该物镜的聚焦可以借助于遥测装置而自动地执行,所述处理器(20)另外借助于远距离传输装置耦合到要被测试的呈现装置(5),并且,处理器(20)被编程以便执行至少一个序列,该序列包括以下操作阶段: -自动定位阶段,其包括:处理器(20)控制呈现装置(5)显示和投映定位标记、对照相装置获得的图像进行分析和处理器(20)根据所述分析的结果对定位装置进行控制, -校准阶段,包括调整物镜的焦距以便由呈现装置(5)生成的图像占据由照相装置产生的照片的预定区域, -用于自动地使物镜聚焦以便获得呈现装置(5)所呈现的信息的具有良好清晰度的照片的阶段, -测试阶段,在其间,处理器(20)执行至少一个测试序列,特别地包括比色测试、颜色均匀度测试、亮度测量测试、用于检测故障像素的测试和/或图像中的单位图案的重叠的测试,所述测试中的每一个包括由处理器(20)向呈现装置(5)应用可以包括要显示的信息和/或旨在修改所述装置(5)的工作参数的控制的激励,然后,在应用所述激励之后,用照相装置(4)拍摄数字照片并由处理器(20)来分析该照片以便确定并检验呈现装置的至少一个工作参数,对于将要被检验的呈现装置的每个参数,用适当激励重复此测试序列, -根据由此获得的照片的参数分析来表征呈现装置。
2. 如权利要求l所述的系统,其特征在于当要被测试的装置(5 )是其中信息被显示在屏幕上的 信息呈现装置时,借助于装配于照相装置(4)的遥测装置来执行自动 聚焦阶段。
3. 如权利要求1所述的系统,其特征在于在要被测试的装置是其中将包含前述信息的图像投映 至无穷远的显示器的情况下,所述聚焦阶段包括将物镜调整至无穷远。
4. 如上述权利要求中的任一项所述的系统,其特征在于包括用于识别要被测试的装置(5 )的类型的装置和用 于在此识别之后确定要执行的相应测试序列的装置。
5. 如上述权利要求中的任一项所述的系统, 其特征在于照相装置(4)被安装在沿着两个相互垂直的轴(X、X,-Y、 Y,)移动的支撑结构上,所述照相装置沿着所述轴的移位由 被处理器(20)驱动的两个相应的致动器来控制。
6. 如上述权利要求中的任一项所述的系统,其特征在于要被测试的信息呈现装置(5 )被安装在可绕着两个相 互垂直的旋转轴(H、 H,-V、 V,)定向的支撑结构上,由受处理器 (20)控制的两个相应的致动器来提供呈现装置(5)的定向。
CN200880014078A 2007-03-22 2008-03-21 用于控制与用于呈现各种类型的光电子信息的装置的操作有关的多个参数的通用测试系统 Pending CN101682798A (zh)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR0702084A FR2914099B1 (fr) 2007-03-22 2007-03-22 Systeme de test universel apte a controler une pluralite de parametres relatifs au fonctionnement de dispositif de presentation d'informations optoelectroniques de types varies
FR0702084 2007-03-22
PCT/FR2008/000385 WO2008135664A1 (fr) 2007-03-22 2008-03-21 Système de test universel apte à contrôler une pluralité de paramètres relatifs au fonctionnement de dispositif de présentation d'informations optoélectroniques de types variés

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN101682798A true CN101682798A (zh) 2010-03-24

Family

ID=38596751

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN200880014078A Pending CN101682798A (zh) 2007-03-22 2008-03-21 用于控制与用于呈现各种类型的光电子信息的装置的操作有关的多个参数的通用测试系统

Country Status (10)

Country Link
US (1) US8339464B2 (zh)
EP (1) EP2130385A1 (zh)
JP (1) JP2010522347A (zh)
CN (1) CN101682798A (zh)
CA (1) CA2681052A1 (zh)
FR (1) FR2914099B1 (zh)
IL (1) IL201041D0 (zh)
RU (1) RU2009138941A (zh)
UA (1) UA95673C2 (zh)
WO (1) WO2008135664A1 (zh)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108474719A (zh) * 2015-12-17 2018-08-31 倍耐力轮胎股份公司 用于校准轮胎检查系统的光学工具的方法和设备
CN109073502A (zh) * 2016-04-19 2018-12-21 柯尼卡美能达株式会社 光学特性测定装置
CN110636285A (zh) * 2019-10-30 2019-12-31 高新兴科技集团股份有限公司 一种全自动化获取摄像机聚焦曲面的测量方法

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8643725B1 (en) * 2012-03-12 2014-02-04 Advanced Testing Technologies, Inc. Method and system for validating video apparatus in an active environment
CN103369211A (zh) * 2012-03-27 2013-10-23 中强光电股份有限公司 摄影装置及投影装置的投影自动校正方法
JP6128907B2 (ja) * 2013-03-18 2017-05-17 富士通周辺機株式会社 電子機器の試験装置、試験開始方法及び試験開始プログラム
US9881586B2 (en) * 2014-05-22 2018-01-30 Disney Enterprises, Inc. Utilizing heuristics to enable self-adjusting displays
CN104184947B (zh) * 2014-08-22 2019-01-29 惠州Tcl移动通信有限公司 一种远程拍照调焦的方法及系统
TWI594017B (zh) * 2014-10-11 2017-08-01 深圳超多維光電子有限公司 立體顯示裝置的校正設備
CN105930261B (zh) * 2016-01-16 2018-06-22 平安科技(深圳)有限公司 测试方法及测试终端
CN109642848B (zh) 2016-08-18 2021-08-31 Qd激光公司 图像检查装置以及图像检查方法
CN109104596B (zh) 2017-06-21 2021-02-26 中强光电股份有限公司 投影系统以及显示影像的校正方法
CN113759200B (zh) * 2021-09-29 2022-04-12 中国电子科技集团公司第三十八研究所 一种基于图像处理的数字插件通用自动测试系统

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20020018139A1 (en) * 2000-06-16 2002-02-14 Hisayuki Yamagata Device for detecting tilt angle of optical axis and image measuring apparatus equipped therewith

Family Cites Families (47)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59156078A (en) * 1983-02-25 1984-09-05 Toshiba Corp Inspecting method of display condition of color picture tube
FR2554578A1 (fr) * 1983-11-04 1985-05-10 Videocolor Procede de mesure des deformations d'une mire et appareil mettant en oeuvre le procede
JP2805897B2 (ja) * 1989-10-06 1998-09-30 富士通株式会社 画質検査装置
JP3297950B2 (ja) * 1993-07-13 2002-07-02 シャープ株式会社 平面型表示パネル検査装置
JPH0735645A (ja) * 1993-07-23 1995-02-07 Sony Corp 液晶パネルの検査装置
IL107835A (en) * 1993-12-02 1996-07-23 Genop Ltd Method and system for testing the performance of a device for use with an electro-optical system
US5969756A (en) * 1994-06-13 1999-10-19 Image Processing Systems Inc. Test and alignment system for electronic display devices and test fixture for same
EP0720125B1 (fr) * 1994-12-29 2002-05-08 Koninklijke Philips Electronics N.V. Dispositif de formation d'image et procédé pour effectuer des corrections de distorsions optiques géométriques dans une image
JP3971465B2 (ja) * 1995-06-08 2007-09-05 ソニー株式会社 カメラのセットアップ方法及びそのシステム
US6016161A (en) * 1996-01-25 2000-01-18 Medar, Inc. Method and system for automatically calibrating a color-based machine vision system
BE1010346A5 (nl) * 1996-06-12 1998-06-02 Barco Nv Niet expliciet toepassingsgericht apparaat en gebruik ervan voor de automatische afregeling van een projector.
JPH1090115A (ja) * 1996-09-13 1998-04-10 Toshiba Corp 液晶表示装置の評価方法、その評価装置および液晶表示装置
US5918192A (en) * 1997-01-23 1999-06-29 Intel Corporation Method for calibrating a digital camera to a PC monitor to enhance picture quality of a picture captured by the digital camera and displayed on the PC monitor
BE1011580A5 (nl) * 1997-12-01 1999-11-09 Barco Naamloze Vennootschap Werkwijze en inrichting voor het regelen van een of meer projectoren.
US7023472B1 (en) * 1999-04-23 2006-04-04 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Camera calibration using off-axis illumination and vignetting effects
US6618076B1 (en) * 1999-12-23 2003-09-09 Justsystem Corporation Method and apparatus for calibrating projector-camera system
US6686953B1 (en) * 2000-03-01 2004-02-03 Joseph Holmes Visual calibration target set method
US7102648B1 (en) * 2000-04-11 2006-09-05 Rah Color Technologies Llc Methods and apparatus for calibrating a color display
JP3497805B2 (ja) * 2000-08-29 2004-02-16 オリンパス株式会社 画像投影表示装置
JP2002100291A (ja) * 2000-09-21 2002-04-05 Hitachi Ltd カラーブラウン管の電子ビーム強度分布測定方法およびその装置並びにカラーブラウン管の製造方法
JP2002142236A (ja) * 2000-11-01 2002-05-17 Funai Electric Co Ltd テレビジョンセット調整システム
JP3719411B2 (ja) * 2001-05-31 2005-11-24 セイコーエプソン株式会社 画像表示システム、プロジェクタ、プログラム、情報記憶媒体および画像処理方法
EP1303147A1 (en) * 2001-10-12 2003-04-16 CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA Method for calibration of an electronic camera
US6982744B2 (en) * 2002-04-15 2006-01-03 Radiant Imaging, Inc. Multi-point calibration method for imaging light and color measurement device
JP4147059B2 (ja) * 2002-07-03 2008-09-10 株式会社トプコン キャリブレーション用データ測定装置、測定方法及び測定プログラム、並びにコンピュータ読取可能な記録媒体、画像データ処理装置
US7110022B2 (en) * 2002-07-11 2006-09-19 Honda Giken Kogyo Kabushiki Kaisha Image output calibrating system for cameras
JP4191449B2 (ja) * 2002-09-19 2008-12-03 株式会社トプコン 画像キャリブレーション方法、画像キャリブレーション処理装置、画像キャリブレーション処理端末
US7038727B2 (en) * 2002-10-30 2006-05-02 The University Of Chicago Method to smooth photometric variations across multi-projector displays
US7215362B2 (en) * 2002-10-31 2007-05-08 Fraunhofer-Gesellschaft Zur Foerderung Der Angewandten Forschung E.V. Auto-calibration of multi-projector systems
JP2004304679A (ja) * 2003-04-01 2004-10-28 Matoba Denki Seisakusho:Kk ディスプレイ用電動回転機構
US7573286B2 (en) * 2003-05-16 2009-08-11 E.I. Du Pont De Nemours And Company System and method for testing displays
US20050021258A1 (en) * 2003-07-23 2005-01-27 Peter Fasciano Display color calibration system
JP4307934B2 (ja) * 2003-08-13 2009-08-05 株式会社トプコン 画像補正機能付撮影装置及び方法、並びに撮影装置及び方法
US7227592B2 (en) * 2003-09-26 2007-06-05 Mitsubishi Electric Research Laboratories, Inc. Self-correcting rear projection television
US20050073530A1 (en) * 2003-10-03 2005-04-07 Jay Kapur System and method for display calibration
JP2005181250A (ja) * 2003-12-24 2005-07-07 Sharp Takaya Denshi Kogyo Kk 液晶表示パネルの検査方法及び装置
JP2005195515A (ja) * 2004-01-08 2005-07-21 Toshiba Matsushita Display Technology Co Ltd 平面表示装置の検査装置及びその方法
US7262816B2 (en) * 2004-10-22 2007-08-28 Fakespace Labs, Inc. Rear projection imaging system with image warping distortion correction system and associated method
US7716316B2 (en) * 2005-03-29 2010-05-11 Microsoft Corporation Methods and systems for performing remote diagnostics
US20070115361A1 (en) * 2005-06-24 2007-05-24 Fakespace Labs, Inc. Dual camera calibration technique for video projection systems
JP4764090B2 (ja) * 2005-08-01 2011-08-31 キヤノン株式会社 焦点検出装置および撮影装置
US7995098B2 (en) * 2005-09-09 2011-08-09 Radiant Imaging, Inc. Systems and methods for measuring spatial and angular performance of a visual display
US7554575B2 (en) * 2005-10-28 2009-06-30 Seiko Epson Corporation Fast imaging system calibration
JP2007150480A (ja) * 2005-11-24 2007-06-14 Funai Electric Co Ltd 液晶テレビジョン調整システム、液晶表示装置調整システムおよび液晶表示装置
JP2007271350A (ja) * 2006-03-30 2007-10-18 Fujifilm Corp 平面表示型ディスプレイの基準平面設定方法及び視野角測定方法
US7609958B2 (en) * 2006-08-01 2009-10-27 Eastman Kodak Company Automatic focus system calibration for image capture systems
US7671891B2 (en) * 2007-05-22 2010-03-02 Microsoft Corporation Online camera calibration

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20020018139A1 (en) * 2000-06-16 2002-02-14 Hisayuki Yamagata Device for detecting tilt angle of optical axis and image measuring apparatus equipped therewith

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108474719A (zh) * 2015-12-17 2018-08-31 倍耐力轮胎股份公司 用于校准轮胎检查系统的光学工具的方法和设备
CN109073502A (zh) * 2016-04-19 2018-12-21 柯尼卡美能达株式会社 光学特性测定装置
CN110636285A (zh) * 2019-10-30 2019-12-31 高新兴科技集团股份有限公司 一种全自动化获取摄像机聚焦曲面的测量方法

Also Published As

Publication number Publication date
FR2914099B1 (fr) 2013-04-05
WO2008135664A1 (fr) 2008-11-13
EP2130385A1 (fr) 2009-12-09
CA2681052A1 (fr) 2008-11-13
US20100214418A1 (en) 2010-08-26
IL201041D0 (en) 2010-05-17
UA95673C2 (ru) 2011-08-25
RU2009138941A (ru) 2011-04-27
US8339464B2 (en) 2012-12-25
FR2914099A1 (fr) 2008-09-26
JP2010522347A (ja) 2010-07-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101682798A (zh) 用于控制与用于呈现各种类型的光电子信息的装置的操作有关的多个参数的通用测试系统
CN101520558B (zh) 用于液晶显示器的检查设备及使用该设备的检查方法
CN102353518B (zh) 印刷式导光板网点品质检测的装置及其方法
CN101451909B (zh) 显示面板的检查方法及检查装置
CN104614878A (zh) 一种液晶屏检测系统
TW200302345A (en) Substrate inspection device
CN105424324B (zh) 一种用于对cmos图像传感器进行非线性参数实时测试的装置
CN110657946B (zh) 屏幕缺陷检测系统、屏幕检测线以及屏幕缺陷检测方法
CN102661715A (zh) Ccd式的间隙测量系统及方法
CN106200036B (zh) 点灯检测设备
CN111638041A (zh) 一种位置调整装置、曲面显示屏测试设备及测试方法
US10169855B2 (en) Method and device for detecting defects on a display subtrate
CN202255888U (zh) 仪表全自动照相检测设备
CN1796987A (zh) 光学检测装置和检测方法
CN101408520A (zh) 一种判别内外层瑕疵的检测方法与系统
KR100662209B1 (ko) 백라이트 유닛의 비젼 및 휘도 검출시스템
EP3392607B1 (en) Precision optical height gauge
CN210953862U (zh) 一种液晶屏划痕检测装置
CN211528226U (zh) 一种屏幕外观缺陷在线检测装置
CN102308181B (zh) 玻璃板的质量检查方法、形状测量方法以及制造方法
JP2004294271A (ja) 平面表示装置用検査装置及び平面表示装置の検査方法
CN109631808A (zh) 一种数字化汽车标志表面光洁度检测设备
KR200431032Y1 (ko) 액정 디스플레이 모듈 성능 측정장치.
CN212646046U (zh) 一种镜头光心与成像传感器感光面中心对齐系统
CN210321644U (zh) 一种数字化汽车标志表面光洁度检测设备

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
C06 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C10 Entry into substantive examination
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication

Application publication date: 20100324

C02 Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001)