CN101681642B - 光学头装置以及光盘装置 - Google Patents

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Abstract

一种可减轻层间杂散光对差动推挽信号的影响而不会使结构复杂化的光学头装置以及光盘装置，当把干涉条纹的1个周期的y方向上的长度设为Ty，正整数设为N1，分割感光元件9e、9f、9g、9h各自的y方向的长度设为Uy时，满足Uy＝Ty×N1，其中，该干涉条纹由作为访问对象的信息记录面以外的信息记录面的0次衍射光的反射光、作为访问对象的信息记录面以外的信息记录面的+1次衍射光的反射光、以及作为访问对象的信息记录面以外的信息记录面的-1次衍射光的反射光形成在光检测器(9)上。另外，当正整数设为N2，从主光束感光部(9M)的中心到分割感光元件(9e、9f)的分割线的距离以及到分割感光元件(9g、9h)的分割线的距离设为Vy时，满足Vy＝(Ty/2)×{N2-(1/2)}。

Description

光学头装置以及光盘装置
技术领域
本发明涉及向具有多个信息记录面的多层光盘照射激光，并检测其反射光的光学头装置以及具有该光学头装置的光盘装置。
背景技术
在CD(光盘：Compact Disc)、DVD(数字通用光盘：Digital Versatile Disc)、以及BD(蓝光光盘：Blu-ray Disc)等的光盘10中，存在再现专用型光盘和追加记录型或可重写型光盘，如图1所示，再现专用型光盘在信息记录面上形成有轨道间距为TP的螺旋状的凹坑TB的排列即记录轨道TR，如图2所示，追加记录(write-once)型或可重写型光盘在信息记录面上形成有轨道间距为TP的被写入了记录标记TM的螺旋状的记录轨道TR。
光盘装置具有：向光盘10照射激光并检测激光的反射光的光学头装置、以及用于使会聚在光盘的信息记录面上的会聚光斑跟踪记录轨道TR的伺服电路。如图3所示，以往的光学头装置的光检测器19具有：检测在光盘反射的0次衍射光(主光束)的主光束感光部19M、以及检测在光盘反射的±1次衍射光(副光束)的副光束感光部19S1、19S2。主光束感光部19M具有分割为4部分的分割感光元件19a、19b、19c、19d，副光束感光部19S1具有分割为2部分的分割感光元件19e、19f，副光束感光部19S2具有分割为2部分的分割感光元件19g、19h。如果假设分割感光元件19a、19b、19c、19d、19e、19f、19g、19h的检测信号的值为A、B、C、D、E、F、G、H，则主光束的推挽信号MPP为
MPP＝(A+B)-(C+D)，
副光束的推挽信号SPP为
SPP＝(E-F)+(G-H)，
差动推挽误差信号(循轨信号)TES为
TES＝MPP-k·SPP
＝(A+B)-(C+D)-k{(E-F)+(G-H)}
(例如参照专利文献1以及2)。这里，k为系数。
专利文献1：日本特开昭61-94246号公报
专利文献2：日本特开2005-346882号公报
但是，在向光盘照射主光束以及副光束的光学头装置中，一般设定为主光束与副光束的强度比是10∶1左右。当用这种设定进行双层光盘的记录再现时，产生下述问题。
例如，当为了进行双层光盘的再现而将激光会聚到作为访问对象的一个信息记录面上时，来自作为访问对象的信息记录面以外的信息记录面的不必要的反射光(下面称为“层间杂散光”)入射到光学头装置的光检测器的分割感光元件。尤其是，对于生成差动推挽信号，产生下述问题，即：由于通过副光束感光部19S1、19S2检测到主光束的层间杂散光，副光束检测信号产生偏移，因此不能获得适当的循轨误差信号，成为伺服性能的下降乃至伺服偏离的原因。
为了解决该问题，在专利文献2中，使用设置在副光束感光部附近的感光元件的信号，减轻了由层间杂散光引起的循轨误差信号不准确的现象。但是，由于为了这样的对策而进行了感光元件以及运算电路的追加，因此存在光学头装置的结构复杂化的问题。
发明内容
因此，本发明是为了解决上述问题而完成的，其目的在于提供可减轻层间杂散光对差动推挽信号的不良影响而且不会使结构复杂化的光学头装置以及光盘装置。
本发明的光学头装置向具有多个信息记录面的多层光盘照射激光，并检测所述激光的反射光，该光学头装置的特征在于，其具有：激光光源；衍射单元，其将从所述激光光源射出的激光分离为0次衍射光、+1次衍射光以及-1次衍射光；光检测器；以及光学系统单元，其将所述0次衍射光、所述+1次衍射光以及所述-1次衍射光会聚到多个所述信息记录面中的作为访问对象的信息记录面上，并将作为访问对象的所述信息记录面的所述0次衍射光的反射光、所述+1次衍射光的反射光以及所述-1次衍射光的反射光引导至所述光检测器；所述光学系统单元具有调节单元，该调节单元使所述0次衍射光、所述+1次衍射光以及所述-1次衍射光的会聚位置在聚焦方向和循轨方向上移动，所述光检测器具有：主光束感光部，其配置在对作为访问对象的所述信息记录面的所述0次衍射光的反射光进行感光的位置；第1副光束感光部，其配置在对作为访问对象的所述信息记录面的所述+1次衍射光的反射光进行感光的位置；以及第2副光束感光部，其配置在对作为访问对象的所述信息记录面的所述-1次衍射光的反射光进行感光的位置；所述第1副光束感光部由与所述光盘的记录轨道的切线方向对应的所述光检测器上的方向即x方向的第1分割线分割，并具有在与所述x方向垂直的y方向上排列的第1分割感光元件以及第2分割感光元件，所述第2副光束感光部由所述x方向的第2分割线分割，并具有在所述y方向上排列的第3分割感光元件以及第4分割感光元件，当把干涉条纹的1个周期的y方向上的长度设为Ty，正整数设为N1，所述第1分割感光元件、所述第2分割感光元件、所述第3分割感光元件以及所述第4分割感光元件各自的y方向上的长度设为Uy时，满足
Uy＝Ty×N1，
其中，所述干涉条纹由作为访问对象的所述信息记录面以外的信息记录面的所述0次衍射光的反射光、作为访问对象的所述信息记录面以外的信息记录面的所述+1次衍射光的反射光、以及作为访问对象的所述信息记录面以外的信息记录面的所述-1次衍射光的反射光形成在所述光检测器上。
本发明的另一光学头装置向具有多个信息记录面的多层的光盘照射激光，并检测所述激光的反射光，该光学头装置的特征在于，具有：激光光源；衍射单元，其将从所述激光光源射出的激光分离为0次衍射光、+1次衍射光以及-1次衍射光；光检测器；以及光学系统单元，其将所述0次衍射光、所述+1次衍射光以及所述-1次衍射光会聚到多个所述信息记录面中的作为访问对象的信息记录面上，并将作为访问对象的所述信息记录面的所述0次衍射光的反射光、所述+1次衍射光的反射光以及所述-1次衍射光的反射光引导至所述光检测器；所述光学系统单元具有调节单元，该调节单元使所述0次衍射光、所述+1次衍射光以及所述-1次衍射光的会聚位置在聚焦方向和循轨方向上移动，所述光检测器具有：主光束感光部，其配置在对作为访问对象的所述信息记录面的所述0次衍射光的反射光进行感光的位置；第1副光束感光部，其配置在对作为访问对象的所述信息记录面的所述+1次衍射光的反射光进行感光的位置；以及第2副光束感光部，其配置在对作为访问对象的所述信息记录面的所述-1次衍射光的反射光进行感光的位置；所述第1副光束感光部由与所述光盘的记录轨道的切线方向对应的所述光检测器上的方向即x方向的第1分割线分割，并具有在与所述x方向垂直的y方向上排列的第1分割感光元件以及第2分割感光元件，所述第2副光束感光部由所述x方向的第2分割线分割，并具有在所述y方向上排列的第3分割感光元件以及第4分割感光元件，当把干涉条纹的1个周期的y方向上的长度设为Ty，正整数设为N2，从所述主光束感光部的中心到所述第1分割线的距离以及从所述主光束感光部的中心到所述第2分割线的距离设为Vy时，满足
Vy＝(Ty/2)×{N2-(1/2)}，
其中，所述干涉条纹由作为访问对象的所述信息记录面以外的信息记录面的所述0次衍射光的反射光、作为访问对象的所述信息记录面以外的信息记录面的所述+1次衍射光的反射光、以及作为访问对象的所述信息记录面以外的信息记录面的所述-1次衍射光的反射光形成在所述光检测器上。
根据本发明，通过将装置构成为，副光束感光部的分割感光元件的y方向上的长度Uy是由来自作为访问对象的信息记录面以外的信息记录面的反射光形成在分割感光元件上的干涉条纹的1个周期的y方向上的长度Ty的整数N2倍，由此，可减轻层间杂散光对副光束的推挽信号带来的影响。因此，可获得能够提高循轨控制的可靠性而不会使装置的结构复杂化的效果。
另外，根据本发明，通过将装置构成为，当从主光束感光部的中心到副光束感光部的分割感光元件的分割线的距离设为Vy，由来自作为访问对象的信息记录面以外的信息记录面的反射光形成在分割感光元件上的干涉条纹的1个周期的y方向上的长度设为Ty时，满足Vy＝(Ty/2)×{N2-(1/2)}，由此，可减轻层间杂散光对副光束的推挽信号带来的影响。因此，可获得能够提高循轨控制的可靠性而不会使装置的结构复杂化的效果。
附图说明
图1是示出再现专用型光盘的平面形状和记录轨道的图。
图2是示出追加记录型以及可重写型光盘的平面形状和记录轨道的图。
图3是示出以往的光学头装置的分割感光元件的平面图。
图4是示意性地示出双层光盘的截面形状的图。
图5是示出本发明的实施方式1的光盘装置的结构的框图。
图6(a)以及图6(b)涉及本发明的实施方式1的光学头装置，图6(a)是示出光盘的记录轨道的切线方向即x方向与光盘的径向即y方向的图，图6(b)是示意性地示出实施方式1的光学头装置的光学系统的结构的图。
图7是示出实施方式1的光学头装置的光检测器的分割感光元件的配置以及形状的平面图。
图8(a)是示出第2信息记录面是访问对象，第1信息记录面不是访问对象的情况的图，图8(b)是示出来自第1信息记录面的主光束的层间杂散光在光检测器上的光斑形状的图。
图9(a)是示出第1信息记录面是访问对象，第2信息记录面不是访问对象的情况的图，图9(b)是示出来自第2信息记录面的主光束的层间杂散光在光检测器上的光斑形状的图。
图10是示出在图8的情况下的由来自第1信息记录面的主光束的层间杂散光和副光束的层间杂散光引起的分割感光元件上的干涉条纹的图。
图11是示出比较例的光学头装置的分割感光元件上的干涉条纹与第1副光束感光部中的推挽信号的波形的图。
图12是示出实施方式1的光学头装置的分割感光元件的图。
图13是示出在图8的情况下的分割感光元件上的干涉条纹与第1副光束感光部的推挽信号的波形的图。
图14是示出在图9的情况下的由来自第2信息记录面的主光束的层间杂散光和副光束的层间杂散光引起的分割感光元件上的干涉条纹的图。
图15是示出在图9的情况下的分割感光元件上的干涉条纹与第1副光束感光部中的推挽信号的波形的图。
图16是示出本发明的实施方式2的光学头装置的光检测器的分割感光元件与由层间杂散光引起的干涉条纹的y方向上的长度的平面图。
图17(a)是示出比较例的分割感光元件与由层间杂散光引起的干涉条纹的平面图，图17(b)是示出其它比较例的分割感光元件与由层间杂散光引起的干涉条纹的平面图，图17(c)是示出实施方式2的分割感光元件与由层间杂散光引起的干涉条纹的平面图。
图18(a)、图18(b)、图18(c)是示出在具有图17(a)的光检测器的比较例的光学头装置中由层间杂散光引起的干涉条纹对副光束的推挽信号的影响的图。
图19(a)、图19(b)、图19(c)是示出在具有图17(b)的光检测器的比较例的光学头装置中由层间杂散光引起的干涉条纹对副光束的推挽信号的影响的图。
图20(a)、图20(b)、图20(c)是示出在实施方式2涉及的光学头装置中由层间杂散光引起的干涉条纹不影响副光束的推挽信号的图。
标号说明
1激光光源，2衍射光栅，3偏光光束分离器，4准直透镜，51/4波长板，6物镜，7物镜致动器，8圆柱透镜，9光检测器，9M主光束感光部，9S1第1副光束感光部，9S2第2副光束感光部，9a、9b、9c、9d主光束感光部的分割感光元件，9e、9f第1副光束感光部的分割感光元件，9g、9h第2副光束感光部的分割感光元件，10光盘，10a基板，10b第1信息记录面，10c中间层，10d第2信息记录面，10e保护层，10f光盘表面，10g、10h访问对象的信息记录面，11主轴马达，12主轴控制电路，21光学头装置，22螺旋机构，23螺旋控制电路，24矩阵电路，25信号再现电路，26伺服电路，27激光控制电路，28控制器，41主光束的检测光，42、43副光束的检测光，51、61主光束的层间杂散光，52、53、62、63副光束的层间杂散光，Ty由层间杂散光引起的干涉条纹的1个周期的y方向上的长度，Uy第1以及第2副光束感光部的分割感光元件的y方向上的长度，Vy从主光束感光部的中心到第1以及第2副光束感光部的分割感光元件的边界的y方向上的距离。
具体实施方式
图4是示意性地示出双层光盘10的结构的截面图。如图4所示，光盘10具有：基板10a、形成在基板10a上的第1信息记录面10b、形成在第1信息记录面10b上的中间层10c、形成在中间层10c上的第2信息记录面10d以及形成在第2信息记录面10d上的保护层10e。具有双层信息记录面的可重写型蓝光光盘的厚度是1.2mm，中间层10c的厚度是25[μm]，保护层10e的厚度是75[μm]。激光(点划线)包括后述的0次衍射光31(主光束)、+1次衍射光32(副光束)以及-1次衍射光33(副光束)，从光盘表面10f入射后会聚到第1信息记录面10b或第2信息记录面10d。激光是波长为405nm的蓝紫色激光，并由NA(数值孔径)为0.85的未图示的物镜会聚。在第1信息记录面10b或第2信息记录面10d反射的激光41、42、43由后述的光检测器检测。
图5是示意性地示出本发明的实施方式1的光盘装置的结构的框图。如图5所示，实施方式1的光盘装置具有：使放置有光盘10的转台(未图示)旋转的主轴马达11、向光盘10照射激光并检测激光的反射光的光学头装置21、矩阵电路24、信号再现电路25、伺服电路26、主轴控制电路12、激光控制电路27、螺旋控制电路23以及由微型计算机形成的控制器28。
主轴马达11使放置有光盘10的转台旋转。主轴控制电路12控制主轴马达11的动作。
光学头装置21向具有多个信息记录面的多层的光盘10照射激光并检测激光的反射光。螺旋(thread)机构22使光学头装置21在光盘10的径向上移动，能够使光学头装置21读出记录在光盘10的径向上的所期望位置处的信息。螺旋控制电路23控制螺旋机构22的动作。
矩阵电路24具有矩阵运算/放大电路等，对来自光学头装置21的光检测器的多个分割感光元件的输出信号进行矩阵运算处理，生成所需的信号。矩阵电路24生成例如高频信号的再现信号、用于伺服控制的聚焦误差信号以及循轨误差信号等。从矩阵电路24输出的再现信号被供给到信号再现电路25，聚焦误差信号以及循轨误差信号被供给到伺服电路26。
信号再现电路25对再现信号进行二值化处理、再现时钟生成处理等，生成再现数据。经解码的再现数据传送到未图示的主机设备。作为主机设备，例如存在AV系统设备或个人计算机等。
伺服电路26根据从矩阵电路24供给的聚焦误差信号和循轨误差信号，生成聚焦以及循轨的各种伺服驱动信号，使光学头装置21执行伺服动作。即，伺服电路26根据聚焦误差信号以及循轨误差信号来生成聚焦驱动信号和循轨驱动信号，并对光学头装置21的聚焦线圈以及循轨线圈进行驱动。通过这样的结构，形成由光学头装置21、矩阵电路24以及伺服电路26组成的循轨伺服循环以及聚焦伺服循环。
激光控制电路27对光学头装置21的激光光源射出的激光的强度进行控制。控制器28根据来自主机设备的指令，控制伺服系统以及再现系统的各种动作。
图6(a)以及图6(b)涉及本发明的实施方式1的光学头装置21，图6(a)是示出光盘10的记录轨道的切线方向即x方向与光盘10的径向即y方向的图，图6(b)是示意性地示出实施方式1的光学头装置21的光学系统的结构的图。图6(a)中的光盘10上的x方向与图6(b)中的光检测器9上的x方向对应。
如图6(b)所示，实施方式1的光学头装置21向具有多个信息记录面的多层的光盘10照射激光31、32、33，并检测该激光的反射光41、42、43。光学头装置21具有：激光光源(半导体激光器)1；衍射单元，其具有将从激光光源1射出的激光30分离为0次衍射光(主光束)、+1次衍射光32(副光束)以及-1次衍射光33(副光束)的衍射光栅2；偏光光束分离器3；准直透镜4；1/4波长板5；物镜6；物镜致动器7，其在聚焦方向和循轨方向上驱动物镜6；圆柱透镜8；以及光检测器9，其检测光盘10的反射激光41、42、43。偏光光束分离器3、准直透镜4、1/4波长板5、物镜6、在聚焦方向和循轨方向上驱动物镜6的物镜致动器7以及圆柱透镜8构成了光学系统单元，该光学系统单元将由衍射光栅2所衍射的0次衍射光31、+1次衍射光32以及-1次衍射光33会聚到多个信息记录面中的作为访问对象的信息记录面上，并将作为访问对象的信息记录面的0次衍射光的反射光41、+1次衍射光的反射光42以及-1次衍射光的反射光43引导至光检测器9的分割感光元件。
图7是示出实施方式1的光学头装置21的光检测器9的分割感光元件的配置以及形状的平面图。如图7所示，光检测器9具有：主光束感光部9M，其检测在光盘10上反射的0次衍射光41(主光束)；副光束感光部9S1，其检测在光盘10上反射的+1次衍射光42(副光束)；以及副光束感光部9S2，其检测在光盘10上反射的-1次衍射光43(副光束)。主光束感光部9M具有由x方向的分割线和y方向的分割线4等分的分割感光元件9a、9b、9c、9d，副光束感光部9S1由x方向的分割线分割为2部分，具有在y方向上排列的2个分割感光元件9e、9f，副光束感光部9S2由x方向的分割线分割为2部分，具有在y方向上排列的2个分割感光元件9g、9h。如果分割感光元件9a、9b、9c、9d、9e、9f、9g、9h的检测信号的值设为A、B、C、D、E、F、G、H，则主光束的推挽信号MPP为
MPP＝(A+B)-(C+D)，
副光束的推挽信号SPP为
SPP＝(E-F)+(G-H)，
差动推挽误差信号(循轨信号)TES为
TES＝MPP-k·SPP
＝(A+B)-(C+D)-k{(E-F)+(G-H)}。
这里，k为系数。
如图6(b)所示，来自激光光源1的射出光首先通过衍射光栅2。衍射光栅2生成±1次衍射光32、33(副光束)，±1次衍射光32、33与0次衍射光31(主光束)均在偏光光束分离器3进行反射，其中，±1次衍射光32、33形成用于生成循轨误差信号的侧光斑，0次衍射光31形成主光斑。主光束31以及副光束32、33由准直透镜4变为平行光，通过1/4波长板5后，由物镜6会聚到光盘10的第1信息记录面10b或第2信息记录面10d。准直透镜4通过在与激光的前进方向平行的光轴方向上改变位置的机构而改变位置，以进行因光盘10的保护层10e的厚度误差而产生的球面像差的校正。另外，通过物镜致动器7使物镜6在聚焦方向以及循轨方向上移动。
来自光盘10的反射光通过物镜6、1/4波长板5以及准直透镜4而到达偏光光束分离器3，并透过偏光光束分离器3。在实施方式1的光学头装置21中，聚焦误差信号使用像散法，另外，循轨误差信号使用差动推挽法，透过偏光光束分离器3的光穿过圆柱透镜8后入射到伺服误差信号以及再现信号检测用的光检测器9，实施光电转换。根据光检测器9的各感光部的输出，计算聚焦误差信号以及差动推挽方式的循轨误差信号。
当第1信息记录面10b与第2信息记录面10d的反射率相等时，双层光盘10的情况下的光检测器上的层间杂散光的强度比η大致由下式给出。
η＝S/π/M2/(2d·tanθ)2
在该式中，S表示分割感光元件的面积，M表示检测光学系统的倍率，d表示层间距离，θ表示在光盘10内光轴与聚光光束最边缘光线之间所成的角度。在NA(数值孔径)为0.85的物镜与具有折射率为1.6的保护层CL的光盘的组合中，θ大约为32度，如果假设分割感光元件为具有边长为150[μm]的边的四边形、光学系统的倍率为14倍、且层间间隔为25[μm]，则层间杂散光的强度比η可由下式计算。
η＝S/π/M2/(2d·tanθ)2
＝(150×150)/π/142/{(2×25)·tan(32°)}2
＝22500/π/196/{50·0.6249}2
＝22500/π/196/976.25
≈0.037
因此，层间杂散光的强度η为大约3.7％。因此，当主光束的杂散光入射到主光束感光部9M的分割感光元件9a、9b、9c、9d时，层间杂散光的强度比为3.7％，层间杂散光的影响较小。但是，当主光束的层间杂散光入射到副光束感光部9S1、9S2的分割感光元件9e、9f以及分割感光元件9g、9h时，由于副光束的强度是主光束的1/10，因此层间杂散光的强度比为10倍即37％，无法忽视。
图8(a)是示出光盘10的第2信息记录面10d是访问对象，第1信息记录面10b不是访问对象的情况的图，图8(b)是示出来自第1信息记录面10b的主光束的层间杂散光在光检测器9上的光斑形状的图。如图8(b)所示，当将光盘10的第2信息记录面10d作为访问对象来照射会聚光斑时，来自不是访问对象的第1信息记录面10b的主光束的层间杂散光51的光斑形状几乎是圆形。
图9(a)是示出光盘10的第1信息记录面10b是访问对象，第2信息记录面10d不是访问对象的情况的图，图9(b)是示出来自第2信息记录面10d的主光束的层间杂散光在光检测器9上的光斑形状的图。如图9(b)所示，当将光盘10的第1信息记录面10b作为访问对象来照射会聚光斑时，来自不是访问对象的第2信息记录面10d的主光束的层间杂散光61的光斑形状是椭圆形。
图10是示出在图8的情况下的由来自第1信息记录面10b的主光束的层间杂散光和副光束的层间杂散光引起的分割感光元件上的干涉条纹的图。如图10所示，当将光盘10的第2信息记录面10d作为访问对象来照射会聚光斑时，对于由来自不是访问对象的第1信息记录面10b的主光束的层间杂散光51和副光束的层间杂散光52、53引起的干涉条纹54而言，在光检测器9上，在x方向上延伸的带状的明亮部分和暗淡部分是在y方向上交替排列的条纹状。该干涉条纹54的1个周期的y方向的长度(幅度)是Ty[μm]。另外，与干涉条纹54平行的方向是x方向，与干涉条纹垂直的方向是y方向。当对副光束感光部9S1的分割感光元件9e、9f所检测的信号E、F进行(E-F)的运算、对副光束感光部9S2的分割感光元件9g、9h所检测的信号G、H进行(G-H)的运算时，信号(E-F)、信号(G-H)检测到受到层间杂散光的干涉条纹影响的信号。
图11是示出比较例的光学头装置的光检测器的分割感光元件上的干涉条纹与副光束感光部9S1的分割感光元件9e、9f中的推挽信号Vef的波形的图。当光盘10旋转时，光盘10与物镜6之间的相对倾斜度会轻微地变化。主光束的杂散光与副光束的杂散光导致的干涉条纹伴随着该轻微的相对倾斜度的变化，在y方向上上下移动。图11示出了干涉条纹在分割感光元件9e、9f上移动的情况、以及对分割感光元件9e、9f所检测的信号E、F进行运算的信号Vef＝(E-F)。如图11所示，信号Vef＝(E-F)因干涉条纹的移动而变动。差动推挽信号因信号Vef＝(E-F)的变动而变得不准确。因此，成为伺服性能的下降乃至伺服偏离的原因。另外，对于分割感光元件9g、9h的检测信号G、H，也可以说存在相同的情况，信号Vgh＝(G-H)也同样地变动。
在本发明的实施方式1中，采用了图12所示的结构以减轻图11所示的现象。图12是示出实施方式1的光学头装置21的光检测器9的分割感光元件的图。如图12所示，在实施方式1的光学头装置21中，光检测器9被形成为，当干涉条纹的1个周期的y方向的长度(幅度)设为Ty，正整数设为N1，分割感光元件9e、分割感光元件9f、分割感光元件9g以及分割感光元件9h各自的y方向的长度设为Uy时，满足
Uy＝Ty×N1
其中，该干涉条纹由作为访问对象的信息记录面以外的信息记录面的0次衍射光的反射光41、作为访问对象的信息记录面以外的信息记录面的+1次衍射光的反射光42、以及作为访问对象的信息记录面以外的信息记录面的-1次衍射光的反射光43形成在分割感光元件上。干涉条纹的1个周期的长度Ty可以根据构成光学头装置21的各光学部件的特性和位置等以及激光的特性等诸多条件，通过计算而获得。
图13是示出在图8的情况下的分割感光元件9e、9f上的干涉条纹与副光束感光部9S1的推挽信号Vef的波形的图。在图13中示出了使检测副光束的分割感光元件9e、9f的y方向上的长度Uy成为Ty×N1(N1为正整数)时的干涉条纹移动的情况以及对分割感光元件9e、9f所检测的信号E、F进行运算的信号Vef＝(E-F)。如图13所示，当构成为满足Uy＝Ty×N1的条件时，信号Vef＝(E-F)为0。另外，对于分割感光元件9g、9h的信号(G-H)，也可以说存在相同的情况。因此，在实施方式1中，层间杂散光导致的干涉条纹不影响差动推挽信号TES。
当为了进行比较而讨论使副光束感光部的分割感光元件9e、9f、9g、9h的y方向上的长度Uy成为Ty/2×(2m+1)(m＝0，1，2，...)的情况时，对副光束感光部的分割感光元件9e、9f、9g、9h所检测的信号E、F、G、H进行运算的信号(E-F)、信号(G-H)的变动为最大，对差动推挽信号TES带来的影响最大。
图14是示出在图9的情况下的由来自第2信息记录面10d的主光束的层间杂散光和副光束的层间杂散光引起的分割感光元件上的干涉条纹的图。在该情况下，干涉条纹在相对于x方向倾斜的倾斜方向上延伸。另外，干涉条纹的y方向上的1个周期的长度为Ty[μm]，满足Uy＝Ty×N1。
图15是示出在图9的情况下的分割感光元件上的干涉条纹与副光束感光部9S1的推挽信号的波形的图。示出了当使检测副光束的分割感光元件9e、9f的y方向上的长度成为Ty×N1时干涉条纹移动的情况以及对分割感光元件9e、9f所检测的信号E、F进行运算而得到的信号(E-F)。即使干涉条纹移动，信号(E-F)也是0，不影响差动推挽信号。另外，对于分割感光元件9g、9h所检测的信号(G-H)也是相同的情况。
如上所述，通过使检测副光束的分割感光元件9e、9f、9g、9h的y方向上的长度Uy成为Ty×N1，可减轻由于层间杂散光引起的差动推挽信号不准确的现象。因此，可提高循轨控制的可靠性而不会使装置的结构复杂化。
实施方式2
图16是示出本发明的实施方式2的光学头装置的光检测器的分割感光元件与由层间杂散光引起的干涉条纹的y方向上的长度(幅度)的平面图。实施方式2的光学头装置应用了与实施方式1的情况的条件不同的条件，作为与光检测器9的分割感光元件的位置以及尺寸相关的条件。因而，在实施方式2的说明中，也参照图5以及图6。
在实施方式2中，将副光束感光部9S1中的、分割感光元件9e和分割感光元件9f的分割线的位置设置在干涉条纹的强度最强的位置与最弱的位置之间的中等强度的位置，并且将副光束感光部9S2中的、分割感光元件9g和分割感光元件9h的分割线的位置设置在干涉条纹的强度最强的位置与最弱的位置之间的中等强度的位置，以减轻差动推挽信号不准确的现象。
使用图16进行说明，副光束感光部9S1由与光盘10的记录轨道的切线方向对应的光检测器9上的方向即x方向的第1分割线9J分割，具有在与x方向垂直的y方向上排列的分割感光元件9e以及分割感光元件9f。另外，副光束感光部9S2由与光盘10的记录轨道的切线方向对应的光检测器9上的方向即x方向的第2分割线9K分割，具有在与x方向垂直的y方向上排列的分割感光元件9g以及分割感光元件9h。并且，光学头装置被构成为，当干涉条纹的1个周期的y方向的长度设为Ty，正整数设为N2，从主光束感光部9M的中心9L到第1分割线9J的距离以及从主光束感光部9M的中心9L到第2分割线9K的距离都设为Vy时，满足
Vy＝(Ty/2)×{N2-(1/2)}
其中，该干涉条纹由作为访问对象的信息记录面以外的信息记录面的0次衍射光的反射光、作为访问对象的信息记录面以外的信息记录面的+1次衍射光的反射光、以及作为访问对象的信息记录面以外的信息记录面的-1次衍射光的反射光形成在光检测器9上。
图17(a)是示出比较例的分割感光元件与由层间杂散光引起的干涉条纹的平面图，图17(b)是示出另一比较例的分割感光元件与由层间杂散光引起的干涉条纹的平面图，图17(c)是示出实施方式2的分割感光元件与由层间杂散光引起的干涉条纹的平面图。在图17(a)中示出了将副光束感光部的中心(分割线)设置在干涉条纹强度最强的位置的情况，在图17(b)中示出了将副光束感光部的中心(分割线)设置在干涉条纹强度最弱的位置的情况，在图17(c)中示出了将副光束感光部的中心(分割线)设置在干涉条纹强度中等的位置的情况。
在示出比较例的图17(a)中构成为，当从主光束感光部9M的中心9L到第1分割线的距离以及从主光束感光部9M的中心9L到第2分割线的距离都设为Vc1时，满足
Vc1＝Ty×N2。
在示出比较例的图17(b)中构成为，当从主光束感光部9M的中心9L到第1分割线的距离以及从主光束感光部9M的中心9L到第2分割线的距离都设为Vc2时，满足
Vc2＝Ty×{(N2-(1/2)}。
在实施方式2涉及的图17(c)中构成为，当从主光束感光部9M的中心9L到第1分割线的距离以及从主光束感光部9M的中心9L到第2分割线的距离都设为Vy时，满足
Vy＝(Ty/2)×{N2-(1/2)}。
图18(a)、图18(b)、图18(c)是示出在具有图17(a)的光检测器的比较例的光学头装置中由层间杂散光引起的干涉条纹对副光束的推挽信号的影响的图。在图18(a)、图18(b)、图18(c)中示出了当将检测副光束的副光束感光部的中心即分割线的位置设置在干涉条纹的强度最强的位置时的副光束感光部的分割感光元件9e、9f、分割感光元件9g、9h的干涉条纹移动的情况、以及对分割感光元件9e、9f、9g、9h所检测的信号E、F、G、H进行运算的信号Vef＝(E-F)、信号Vgh＝(G-H)、信号Vefgh＝{(E-F)+(G-H)}。信号Vef＝(E-F)、信号Vgh＝(G-H)因干涉条纹的移动而变动，而作为其和的信号Vefgh＝{(E-F)+(G-H)}也因干涉条纹的移动而变动。
图19(a)、图19(b)、图19(c)是示出在具有图17(b)的光检测器的比较例的光学头装置中由层间杂散光引起的干涉条纹对副光束的推挽信号带来的影响的图。在图19(a)、图19(b)、图19(c)中示出了当将检测副光束的副光束感光部的中心即分割线的位置设置在干涉条纹的强度最弱的位置时的副光束感光部的分割感光元件9e、9f、分割感光元件9g、9h的干涉条纹移动的情况、以及对分割感光元件9e、9f、9g、9h所检测的信号E、F、G、H进行运算的信号Vef＝(E-F)、信号Vgh＝(G-H)、信号Vefgh＝{(E-F)+(G-H)}。信号Vef＝(E-F)、信号Vgh＝(G-H)因干涉条纹的移动而变动，而作为其和的信号Vefgh＝{(E-F)+(G-H)}也因干涉条纹的移动而变动。
图20(a)、图20(b)、图20(c)是示出在实施方式2涉及的光学头装置中由层间杂散光引起的干涉条纹不影响副光束的推挽信号的图。在图20(a)、图20(b)、图20(c)中示出了当将副光束感光部的中心即分割线的位置设置在干涉条纹的强度中等的位置时的副光束感光部9e、9f、副光束感光部9g、9h的干涉条纹移动的情况、以及对分割感光元件9e、9f、9g、9h所检测的信号E、F、G、H进行运算的信号Vef＝(E-F)、信号Vgh＝(G-H)、信号Vefgh＝{(E-F)+(G-H)}。信号Vef＝(E-F)、信号Vgh＝(G-H)因干涉条纹的移动而变动，但是由于信号Vgh＝(G-H)以与信号Vef＝(E-F)相差180°的相位的方式而变动，因此作为其和的信号Vefgh＝{(E-F)+(G-H)}互相抵消，成为0。
如上所述，在实施方式2中，将副光束感光部9S1中的、分割感光元件9e和分割感光元件9f的分割线的位置设置在干涉条纹的强度最强的位置与最弱的位置之间的中等强度的位置，并且将副光束感光部9S2中的、分割感光元件9g和分割感光元件9h的分割线的位置设置在干涉条纹的强度最强的位置与最弱的位置之间的中等强度的位置。通过这样地进行设置，可减轻由层间杂散光引起的差动推挽信号不准确的现象。因此，可提高循轨控制的可靠性，而不会使装置的结构复杂化。
并且，作为本发明的变形例，通过并用实施方式1的方式与实施方式2的方式，可进一步提高循轨控制的可靠性。

Claims (8)

1.一种光学头装置，其向具有多个信息记录面的多层的光盘照射激光，并检测所述激光的反射光，该光学头装置的特征在于，
其具有：
激光光源；
衍射单元，其将从所述激光光源射出的激光分离为0次衍射光、+1次衍射光以及-1次衍射光；
光检测器；以及
光学系统单元，其将所述0次衍射光、所述+1次衍射光以及所述-1次衍射光会聚于多个所述信息记录面中的作为访问对象的信息记录面，并将作为访问对象的所述信息记录面的所述0次衍射光的反射光、所述+1次衍射光的反射光以及所述-1次衍射光的反射光引导至所述光检测器，
所述光学系统单元具有调节单元，该调节单元使所述0次衍射光、所述+1次衍射光以及所述-1次衍射光的会聚位置在聚焦方向和循轨方向上移动，
所述光检测器具有：
主光束感光部，其配置在对作为访问对象的所述信息记录面的所述0次衍射光的反射光进行感光的位置；
第1副光束感光部，其配置在对作为访问对象的所述信息记录面的所述+1次衍射光的反射光进行感光的位置；以及
第2副光束感光部，其配置在对作为访问对象的所述信息记录面的所述-1次衍射光的反射光进行感光的位置，
所述第1副光束感光部由与所述光盘的记录轨道的切线方向对应的所述光检测器上的方向即x方向的第1分割线分割，并具有在与所述x方向垂直的y方向上排列的第1分割感光元件以及第2分割感光元件，
所述第2副光束感光部由所述x方向的第2分割线分割，并具有在所述y方向上排列的第3分割感光元件以及第4分割感光元件，
当把干涉条纹的1个周期的y方向上的长度设为Ty，正整数设为N1，所述第1分割感光元件、所述第2分割感光元件、所述第3分割感光元件以及所述第4分割感光元件各自的y方向上的长度设为Uy时，满足
Uy＝Ty×N1，
其中，所述干涉条纹由作为访问对象的所述信息记录面以外的信息记录面的所述0次衍射光的反射光、作为访问对象的所述信息记录面以外的信息记录面的所述+1次衍射光的反射光、以及作为访问对象的所述信息记录面以外的信息记录面的所述-1次衍射光的反射光形成在所述光检测器上。
2.根据权利要求1所述的光学头装置，其特征在于，
当把正整数设为N2，并把从所述主光束感光部的中心到所述第1分割线的距离以及从所述主光束感光部的中心到所述第2分割线的距离设为Vy时，满足
Vy＝(Ty/2)×{N2-(1/2)}。
3.根据权利要求1或2所述的光学头装置，其特征在于，
多个所述信息记录面是2个信息记录面。
4.根据权利要求1或2所述的光学头装置，其特征在于，
所述主光束感光部具有被x方向的分割线和y方向的分割线4等分的4个分割感光元件。
5.一种光学头装置，其向具有多个信息记录面的多层的光盘照射激光，并检测所述激光的反射光，该光学头装置的特征在于，
其具有：
激光光源；
衍射单元，其将从所述激光光源射出的激光分离为0次衍射光、+1次衍射光以及-1次衍射光；
光检测器；以及
光学系统单元，其将所述0次衍射光、所述+1次衍射光以及所述-1次衍射光会聚于多个所述信息记录面中的作为访问对象的信息记录面，并将作为访问对象的所述信息记录面的所述0次衍射光的反射光、所述+1次衍射光的反射光、以及所述-1次衍射光的反射光引导至所述光检测器；
所述光学系统单元具有调节单元，该调节单元使所述0次衍射光、所述+1次衍射光以及所述-1次衍射光的会聚位置在聚焦方向和循轨方向上移动，
所述光检测器具有：
主光束感光部，其配置在对作为访问对象的所述信息记录面的所述0次衍射光的反射光进行感光的位置；
第1副光束感光部，其配置在对作为访问对象的所述信息记录面的所述+1次衍射光的反射光进行感光的位置；以及
第2副光束感光部，其配置在对作为访问对象的所述信息记录面的所述-1次衍射光的反射光进行感光的位置，
所述第1副光束感光部由与所述光盘的记录轨道的切线方向对应的所述光检测器上的方向即x方向的第1分割线分割，并具有在与所述x方向垂直的y方向上排列的第1分割感光元件以及第2分割感光元件，
所述第2副光束感光部由所述x方向的第2分割线分割，并具有在所述y方向上排列的第3分割感光元件以及第4分割感光元件，
当把干涉条纹的1个周期的y方向上的长度设为Ty，正整数设为N2，从所述主光束感光部的中心到所述第1分割线的距离以及从所述主光束感光部的中心到所述第2分割线的距离设为Vy时，满足
Vy＝(Ty/2)×{N2-(1/2)}，
其中，所述干涉条纹由作为访问对象的所述信息记录面以外的信息记录面的所述0次衍射光的反射光、作为访问对象的所述信息记录面以外的信息记录面的所述+1次衍射光的反射光、以及作为访问对象的所述信息记录面以外的信息记录面的所述-1次衍射光的反射光形成在所述光检测器上。
6.根据权利要求5所述的光学头装置，其特征在于，
多个所述信息记录面是2个信息记录面。
7.根据权利要求5或6所述的光学头装置，其特征在于，
所述主光束感光部具有被x方向的分割线和y方向的分割线4等分的4个分割感光元件。
8.一种光盘装置，其特征在于，该光盘装置具有：
权利要求1至7中任意一项所述的光学头装置；
矩阵电路，其根据从所述光学头装置的所述光检测器输出的检测信号，生成聚焦误差信号以及循轨误差信号；以及
伺服电路，其通过使用了所述聚焦误差信号以及循轨误差信号的推挽方式，对所述光学头装置的所述调节单元进行控制。
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