CN103295596A - 光拾取装置以及光盘装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种在对具有多个记录层的光盘进行记录/再生的情况下能够抑制杂散光所致的跟踪误差信号的变动并且小型化的光拾取装置。光拾取装置具备：半导体激光器（50），出射波长为大致405nm的激光；物镜（2），将从所述半导体激光器出射的光束照射到所述光盘且数值孔径是大致0.85；以及光检测器（10），具有接收由所述光盘反射的光束的受光部，使所述光盘至所述光检测器（10）的光学倍率设为大致10~15倍的范围。

Description

光拾取装置以及光盘装置

技术领域

本发明涉及能够对具有多个记录层的光盘适当地进行记录再生的光拾取装置以及搭载了该装置的光盘装置。

背景技术

为了增大光盘的记录容量，开发出具有多个记录层的光盘（多层盘）以及与其对应的光盘装置。在多层盘中，存在来自目的层以外的记录层的反射光（杂散光），针对目的层如何高精度地记录/再生信号成为课题。

作为与其关联的技术，例如在专利文献1中，以“从具有多个记录层的光盘高精度地取得期望的信号”为课题，记载了“对于从光源组件51出射的P偏振光的光束，通过光盘15反射，成为S偏振光而入射透镜61。然后，在1/4波长板62、63中，都赋予向光轴的+X侧入射的光束+1/4波长的光学的相位差，对向－X侧入射的光束提供－1/4波长的光学相位差。由此，经由1/4波长板63的信号光成为S偏振光，杂散光成为P偏振光，在偏振光光学元件64中仅信号光透射”这样的结构。

另外，在非专利文献1中，以“在对2层盘进行记录/再生时，如果有从与目的的层不同的层反射的光的其他层的杂散光入射到光电探测器，则在TE信号中产生偏置。因此，在无其他层杂散光对策的以往的结构中，2层盘中的TE信号的偏置大于单层的情况，而妨碍稳定的控制”为课题，记载了“将跟踪用光电探测器配置于无其他层杂散光的区域”这样的结构。对于与其同样的结构，在专利文献2中也有记载。

【专利文献1】日本特开2006－344344号公报（图3、图5）

【专利文献2】日本特开2004－281026号公报（图22、图24、图25）

【非专利文献1】電子情報通信学会、信学技報CPM2005－149、2005年10月、p.33

发明内容

一般，在光拾取装置中，为了在处于光盘内的规定的记录轨道上正确地照射光点，除了通过聚焦误差信号的检测使物镜在聚焦方向上变位而在聚焦方向上进行调整以外，还通过跟踪误差信号的检测使物镜向光盘的半径方向变位来进行跟踪调整。通过这些伺服信号，进行物镜的位置控制。

在多层盘的情况下，除了由目的的记录层反射的信号光以外，由目的层以外的记录层（其他层）反射了的杂散光也同样地入射到受光部上。如果在受光部上入射信号光和杂散光，则2个光干涉，而存在杂散光所致的变动分量被检测为跟踪误差信号的问题。

如果跟踪误差信号的变动分量变大，则跟踪控制变得不稳定，所以记录/再生性能劣化。另外，如果变动量进一步变大，则无法进行跟踪控制自身。因此，在光拾取装置以及光盘装置中，必需抑制多层盘中的干涉所致的跟踪误差信号的变动。

在专利文献1中，设为如下结构：通过聚光透镜使由光盘反射的光束变窄，通过聚光透镜使透射2个1/4波长板和偏振光光学元件而变宽的光变窄，并照射到检测器。虽然通过该结构能够使信号光和杂散光分离，但存在检测光学系复杂且尺寸变大而成本上升的课题。

在非专利文献1（专利文献2）中，设为如下结构：在聚焦用光检测器的周围产生的聚焦用光束的来自其他层的杂散光的外侧配置跟踪用光检测器，进而使在全息元件的中央部衍射的光照射到来自其他层的杂散光的外侧。虽然通过该结构能够消除杂散光的影响，但存在与光检测器的尺寸变大相伴的光拾取装置的尺寸和成本的课题。

本发明的目的在于提供一种在对具有多个记录层的光盘进行记录/再生的情况下，能够抑制杂散光所致的跟踪误差信号的变动并且小型化的光拾取装置以及搭载了该装置的光盘装置。

根据本发明的光拾取装置，具备：半导体激光器，出射波长为大致405nm的激光；物镜，将从所述半导体激光器出射的光束照射到所述光盘且数值孔径为大致0.85；以及光检测器，具有接收在所述光盘反射的光束的受光部，将所述光盘至所述光检测器的光学倍率设为大致10～15倍的范围。

根据本发明的光拾取装置，具备：半导体激光器，出射波长为大致405nm的激光；衍射光栅，使从所述半导体激光器出射的光束至少分支为主光束和2个副光束；物镜，将由所述衍射光栅分支的光束照射到所述光盘且数值孔径为大致0.85；以及光检测器，具有接收在所述光盘反射的光束的受光部，所述光检测器具有分别接收所述主光束和所述2个副光束的受光面，在检测该2个副光束的2个受光面的中央部中，设置在盘半径方向上延伸、并以规定宽度遮挡入射光的遮光带，将所述光盘至所述光检测器的光学倍率设为大致8～15倍的范围。

根据本发明，提供在对具有多个记录层的光盘进行记录/再生的情况下，杂散光所致的伺服信号的变动降低并且能够小型化的光拾取装置。另外，由此，光盘装置的记录/再生性能稳定化。

附图说明

图1是示出实施例1中的光拾取装置的光学系的图。

图2是示出光检测器的受光面与信号光的关系的图。

图3是示出跟踪误差信号的变动量的归路倍率依赖性的图。

图4是示出入射光检测器的信号光与杂散光的关系的图。

图5是示出实施例2中的光拾取装置的光检测器的受光部的图。

图6是示出设置了遮光带的情况的跟踪误差信号的变动量的归路倍率依赖性的图。

图7是示出实施例3中的光盘装置的概略结构的图。

（符号说明）

2：物镜；5：致动器；10：光检测器；11：衍射光栅；12：检测透镜；20：遮光带；50：半导体激光器；51：准直透镜；52：分束器；55：调整镜；56：1/4波长板；100：光盘；170：光拾取装置；171：主轴马达驱动电路；172：访问控制电路；173：致动器驱动电路；174：伺服信号生成电路；175：信息信号再生电路；176：控制电路；177：激光点亮电路；178：信息记录电路；179：球面像差校正元件驱动电路；180：主轴马达；MB：主光束；SB：副光束；MS：主光束的杂散光；SS：副光束的杂散光。

具体实施方式

以下，使用附图，说明本发明的实施方式。

【实施例1】

图1是示出本发明的第1实施例的光拾取装置的光学系的结构的图。在本实施例中，作为光盘，假设2层BD（Blu－ray Disc，蓝光光盘）。

从半导体激光器50，作为发散光，出射BD用的波长大致405nm的光束。从半导体激光器50出射的光束入射到衍射光栅11，至少分支为0次衍射光（主光束）和±1次衍射光（副光束）这3个光束。从衍射光栅11出射的光束被分束器52反射。另外一部分的光束透射分束器52而入射到前置监视器53。由分束器52反射的光束通过准直透镜51被变换为大致平行的光束。另外，准直透镜51具有在光轴方向上进行驱动的机构，通过准直透镜51在光轴方向进行驱动，变更入射到物镜的光束的发散/收敛状态，而用于补偿光盘的盖层的厚度误差所致的球面像差。透射了准直透镜51的光束经由调整镜55、1/4波长板56，通过致动器5中搭载的物镜2而在光盘上聚光。另外，以主光束为中心而在盘半径方向（Rad方向）上以1/2轨道间距间隔配置了光盘上的主光束和2个副光束。

由光盘反射的光束经由物镜2、1/4波长板56、调整镜55、准直透镜51、分束器52、检测透镜12，入射到光检测器10。在检测透镜12中提供像散，而能够检测像散方式的聚焦误差信号。

图2是示出光检测器10的受光面与信号光的关系的图。由于信号光通过检测透镜12被提供像散，所以在受光面上相对主光束使2个副光束旋转90度，偏到盘切线方向上而入射。

此处，衍射光栅11的主光束MB（0次衍射光）入射到4分割受光面区域a1、b1、c1、d1，第1副光束SB1（+1次衍射光）入射到4分割受光面区域be、bf、b g、bh，第2副光束SB2（－1次衍射光）入射到4分割受光面区域bi、bj、bk、bl。

另外，如果将从各区域a1、b1、c1、d1、be、bf、b g、bh、bi、bj、bk、bl得到的信号分别设为A1、B1、C1、D1、BE、BF、BG、BH、BI、BJ、BK、BL，则通过以下的运算式（1），生成RF信号（RF）、跟踪误差信号（TES）、聚焦误差信号（FES）。

【式1】

$\left.\begin{array}{c}\mathrm{RF}=A1+B1+C1+D1\\ \mathrm{TES}=\{(A1+D1)-(B1+C1)\}\\ -\mathrm{ktb}\×\left[\right\{(\mathrm{BE}+\mathrm{BH})+(\mathrm{BI}+\mathrm{BL})\}-\{(\mathrm{BF}+\mathrm{BG})+(\mathrm{BJ}+\mathrm{BK})\left\}\right]\\ \mathrm{FES}=(A1+C1)-(B1+D1)\end{array}\right\}---\left(1\right)$

对于跟踪误差信号（TES），在DPP（Differential Push－Pull，差动推挽）方式的情况下，以在物镜变位了时使跟踪误差信号不发生DC分量的方式，设定系数ktb。另外，聚焦误差信号（FES）也可以通过以下的运算式（2）来生成。

【式2】

FES＝[(A1+C1)-(B1+D1)}

+kfb×[{(BE+BG)+(BI+BK)}-{(BF+BH)+(BJ+BL)}]    (2)

另外，kfb是校正衍射光栅11的0次衍射光和±1次衍射光的光量差的系数。通过进行这样的运算，能够抑制聚焦误差信号的槽横断信号。

此处，在本实施例的拾取装置的特征在于，相对BD的以往的归路倍率，大幅减小光盘至光检测器10的归路的光学系的光学倍率（以下，称为归路倍率）。根据物镜2的焦距fo、检测透镜12的焦距fd、准直透镜51的焦距fc、以及检测透镜12与准直透镜51的间隔，决定本实施例中的归路倍率。具体而言，为了变更归路倍率，而变更检测透镜12的焦距fd（曲率、折射率、厚度）。

在以往的光拾取装置中，归路倍率成为20~24倍左右。该归路倍率依赖于根据规格而在光拾取装置中搭载的4分割受光面的大小。此处，以往的受光面成为一边是100~120μm的正方形。其理由在于，如果受光面的面积过小，则相伴与此必需减小受光面上的光点径，而产生光检测器等的位置偏移的问题。相逆地，如果受光面的面积过大，则噪声增大而再生性能劣化。因此，对于以往的受光面，上述值最佳，相伴与此归路倍率成为20~24倍左右。相对于此，在本实施例中，大幅减小了归路倍率。由此，如以下所述，能够比以往更稳定地检测跟踪误差信号。

以下，说明本实施例中的跟踪误差信号变动的抑制效果。

图3是示出跟踪误差信号的变动量的归路倍率依赖性的图。是在2层盘的Layer（层）0的再生时，对作为跟踪误差信号的DPP信号的变动量和归路倍率的关系进行仿真而得到的结果。DPP信号的变动量是以DPP信号振幅而规格化的值。另外，对于DPP信号的变动量，考虑实际的使用条件，而设为物镜的盘半径方向的变位量－0.2~+0.2mm的范围内的最坏值。进而，分别用记号Det+8μm~Det－8μm来表示考虑光检测器的调整偏差而在Tan方向上在+8~－8μm的范围内使图2所示的受光部错开时的变动量。另外，在本仿真中，使用表1所示的光学参数进行了计算。

【表1】

表1仿真用光学参数（实施例1）

进而，在变更了归路倍率的情况下，变更衍射光栅11的轨道间距，以使副光束SB1、SB2入射到副光束用受光面的方式调整，以使检测器10上的光点变得相同的方式，变更检测透镜12的像散差量。

如上所述，在以往规格的参照光学系中，归路倍率是24倍左右。但是，根据图3的结果可知，在使归路倍率小于规格的参照光学系的值时，跟踪误差信号的变动变小。此处，考虑跟踪误差信号的变动量的容许值。在BD中，需要使追踪规定轨道时的错轨量成为20nm以下，为此，在跟踪误差信号波形中，需要使相对DPP信号振幅的偏置量成为19.2%以下。如果假设在单侧发生跟踪误差信号的变动，则变动量的容许值成为19.2%以下（图中的虚线所示），此时的最佳的归路倍率成为约10.5~13.5倍。但是，对于实际的变动量的容许值，必需考虑光盘装置中的伺服控制的误差量等。或者，为了变更判断点而相比于以往的光学系的条件（归路倍率：24倍）得到跟踪误差信号的变动量的抑制效果，可以说使归路倍率成为约10~15倍的范围（箭头所示）即可。

此处，考察本实施例的效果的发生理由。首先，说明干涉所致的跟踪误差信号的变动。

图4是示出入射到光检测器的受光面的信号光与杂散光的关系的图。在光检测器10中，在对2层盘进行记录/再生时，除了由目的的记录层反射的信号光（主光束MB、第1副光束SB1、第2副光束SB2）以外，还照射由目的层以外的记录层反射的杂散光（主光束杂散光MS、第1副光束杂散光SS1、第2副光束杂散光SS2）。此处，在例如接收主光束MB的4分割受光面（区域a1、b1、c1、d1）上，除了主光束的信号光MB以外，还入射各杂散光（MS、SS1、SS2），所以发生MB和MS、MB和SS1、MB和SS2、MS和SS1、MS和SS2的干涉。另外，对于接收第1、第2副光束SB1、B2的4分割受光面，也同样地发生干涉。

此处，只要干涉的光束的相位差不变化，干涉状态不变化，所以无光量变化且跟踪误差信号不变动。但是，由于实际上相位差在时间上变化，所以干涉状态在时间上变化，而产生跟踪误差信号的变动。主要以盘为主要原因而发生该时间上变化的相位差。具体而言，在作为盘记录层的Layer0与Layer1的层间隔变化的情况下，相伴与此各个光束的相位变化。作为其他主要原因，由于盘倾斜而光束的相位也变化。

接下来，说明归路倍率与跟踪误差信号的变动量的关系。首先，杂散光（主光束杂散光MS、第1副光束杂散光SS1、第2副光束杂散光SS2）的外径依赖于归路倍率，归路倍率越大，杂散光的外径变得越大。因此，从受光面受到的杂散光的光量的观点，在增大归路倍率时，光量变少，跟踪误差信号的变动小，但实际的结果不同。其中，入射到光检测器的光束的相位在光束内不恒定，跟踪误差信号依赖于该光束内的相位分布而变动。特别，关于杂散光，相位根据光束内的位置而大幅不同。

在归路倍率大的情况下，杂散光的外径变大，所以如果在受光面上考虑，则相位变化量小。其结果，在受光面上的光束中发生粗（大）的干涉条纹。相对于此，在减小了归路倍率的情况下，杂散光的外径变小，所以如果在受光面上考虑，则相位变化量变大。其结果，在受光面上的光束中，发生细（小）的干涉条纹。如果将它们比较，则由于细（小）的干涉条纹在受光面内更易于平均化，所以变动量变小。特别，对于跟踪误差信号，由于受光面上的信号的差动信号，而易于出现干涉条纹的粗细的差异。

但是，如果归路倍率过小，则受光面受到的杂散光的光量变大，即使是细的干涉条纹，光量差也变大。其结果，跟踪误差信号变动增大。因此，如图3所示，存在变动量变得最小的归路倍率（约12倍左右），且呈现夹着该最小点而在两侧变动量增加的倾向。对于上述跟踪误差信号的变动的机理，以往并未严密解明，并且，对于使与杂散光的干涉相伴的变动量成为最小的光学倍率也不明确。

根据以上那样的理由，在本实施例中，在DPP方式的跟踪误差信号检测中，通过使归路倍率成为比以往大幅小的约10~15倍，能够生成稳定的跟踪误差信号。此时，无需如专利文献1、专利文献2（非专利文献1）那样需要复杂的结构，所以光拾取装置不会大型化而在成本的面中也有利。而且，伴随归路倍率的降低而光学系缩小而能够实现光拾取装置的小型化。另外，在本实施例中示出的图3中，受光面以及光点尺寸与以往等同，所以对于光检测器的位置偏移、再生性能劣化，与以往等同。

【实施例2】

图5是示出本发明的第2实施例的光拾取装置的光检测器10的受光部的图。与实施例1（图2）的差异在于，在检测器10上的第1、第2副光束SB1、SB2的受光部的中央部中，设置了遮光带20。其以外的结构与实施例1相同，省略说明。遮光带20以规定的宽度在盘半径方向上延伸，遮挡入射到该区域的第1、第2副光束SB1、SB2。其结果，从受光面的区域be、bf、bg、bh、bi、bj、bk、bl得到的信号BE、BF、BG、BH、BI、BJ、BK、BL受到遮光带20的影响而变化。根据这些信号，通过上述的运算式（1）、（2），生成RF信号（RF）、跟踪误差信号（TES）、聚焦误差信号（FES）。

在实施例2中，使盘至光检测器10的光学系的归路倍率比以往大幅减小也是其特征。其中，通过在光检测器10的受光部中设置遮光带20，归路倍率的最佳值变化。

图6是示出设置了遮光带的情况的跟踪误差信号的变动量的归路倍率依赖性的图。与所述实施例1（图3）同样地，是对2层盘的Layer0再生时的DPP信号的变动量和归路倍率的关系进行仿真而得到的结果。此处，使图5所示的受光部在Tan方向上在+8~－8μm的范围内错开，并用记号Det+8μm~Det－8μm示出各自的变动量。在该仿真中，通过表2所示的光学参数进行了计算。与所述实施例1（表1）的差异在于，对检测器受光面提供了37μm宽度的遮光带。

【表2】

表2仿真用光学参数（实施例2）

进而，在变更了光学倍率的情况下，变更衍射光栅11的轨道间距，而以使副光束SB1、SB2入射到副光束用受光面的方式调整，以使检测器10上的光点相同的方式，变更了检测范围。

根据图6可知，即使在设置了遮光带的情况下，通过使归路倍率小于以往的值（24倍），跟踪误差信号的变动变小。变动量降低了的理由与实施例1相同。但是，相对跟踪误差信号的变动量的容许值19.2%以下，最佳的归路倍率扩大至约8~25倍的范围（用箭头表示）。另外，为了在该范围内考虑位置偏移而优于以往的光学系（归路倍率：24倍），设为约10~15倍即可。由此，在检测器受光面中设置了遮光带的本实施例的情况下，通过设为约8~15倍，能够得到有意义的效果。

此处，如果将实施例2的结果（图6）与实施例1的结果（图3）比较，则在实施例2（图6）的跟踪误差信号的变动量更小。以下，说明在副光束的受光部的中央部中设置了遮光带时的改善的理由。

通常，使副光束的强度降低为主光束的1/20~1/10左右，在记录时不消除已记录的标记。然后，在光拾取装置、光盘装置中，使用副光束检测出的信号成为规定倍而输出。因此，如果副光束由于干涉而变动，则其变动量也成为规定倍，所以相比于主光束，副光束的变动量更大。另外，光点中央部的相位的变化小，所以在受光面的中央部中发生粗（大）的干涉条纹。相对于此，通过如本实施例那样，在副光束的受光部的中央部中设置遮光带，针对变动量易于变大的副光束，能够有效地抑制变动。

根据以上那样的理由，在实施例2中，在DPP方式的跟踪误差信号检测中，使归路倍率成为比以往大幅小的约8~15倍，从而能够生成稳定的跟踪误差信号。此时，无需如专利文献1、专利文献2（非专利文献1）那样需要复杂的结构，所以光拾取装置不会大型化而在成本方面也有利。而且，伴随归路倍率的降低而光学系缩小，能够实现光拾取装置的小型化。

在上述实施例1、2中，以2层盘为前提而进行了说明，但即使是2层以上的多层盘，也能够同样地抑制跟踪误差信号变动。另外，对于图1的光学系，仅设为BD光学系，但也可以与DVD、CD的光学系组合。进而，也可以使BD的受光部与DVD、CD的受光部共用化。

实施例1、2的特征在于，通过适当地设定归路倍率，降低跟踪误差信号的变动，衍射光栅11的图案、其他光学部件也可以与图1不同。另外，各实施例的动作依赖于信号光与杂散光的关系和归路倍率，所以不依赖于受光部的大小。另外，在各实施例中，以3个光束进行了说明，但即使主光束是1个且副光束是2个以上，也得到同样的效果。另外，对于实施例1，即使无副光束而仅为主光束，也得到同样的效果。另外，对于像散方式的聚焦误差信号，并非根据跟踪误差信号那样的干涉信号而根据光点形状的变化生成伺服信号，所以不会产生干涉所致的问题。

【实施例3】

在实施例3中，说明搭载了所述实施例1、2的光拾取装置170的光盘装置。

图7是示出第3实施例的光盘装置的概略结构的图。光拾取装置170具有所述实施例1、2中的任意一个的结构。光盘100通过主轴马达180旋转，从光拾取装置170照射激光来进行信息的记录再生。在光拾取装置170中，设置了在光盘100的半径方向（Rad方向）上移动的机构，根据来自访问控制电路172的控制信号而进行定位。

激光点亮电路177对光拾取装置170内的半导体激光器50供给规定的激光驱动电流，从半导体激光器50根据记录或者再生以规定的光量出射激光。另外，激光点亮电路177还能够嵌入在光拾取装置170内。

从光拾取装置170内的光检测器10输出的信号被送入伺服信号生成电路174以及信息信号再生电路175。在伺服信号生成电路174中，使用来自光检测器10的检测信号来进行运算，生成跟踪控制信号、聚焦控制信号、以及倾斜控制信号等伺服信号。致动器驱动电路173根据伺服信号对光拾取装置170内的致动器5进行驱动，而进行物镜2的位置控制。

在信息信号再生电路175中，根据来自光检测器10的检测信号（RF信号），生成光盘100中记录的信息的再生信号并送到控制电路176。信息信号记录电路178根据从控制电路176接收到的信息，生成记录控制信号，控制激光点亮电路177而向光盘100记录期望的信息。

由伺服信号生成电路174以及信息信号再生电路175生成的信号的一部分被送到控制电路176。控制电路176对主轴马达驱动电路171、访问控制电路172、伺服信号生成电路174、激光点亮电路177、球面像差校正元件驱动电路179发出指令，进行主轴马达180的旋转控制、光拾取装置170的访问位置的控制、物镜2的伺服控制、半导体激光器50的发光光量的控制、球面像差的校正等。

根据实施例3的光盘装置，在对具有多个记录层的光盘进行记录/再生的情况下，能够抑制杂散光所致的伺服信号的变动，进行稳定的记录/再生动作。在光盘装置是再生专用的情况下也是同样的。

另外，本发明不限于上述各实施例，而包括各种变形例。例如，上述实施例是为了易于理解地说明本发明而详细说明的实施例，不限于一定具有所说明的所有结构。另外，能够将某实施例的结构的一部分置换为其他实施例的结构，并且，还能够对某实施例的结构添加其他实施例的结构。另外，对于各实施例的结构的一部分，能够进行其他结构的追加/削除/置换。

Claims (6)

1.一种光拾取装置，对光盘照射激光来进行信息的记录或者再生，其特征在于，具备：

半导体激光器，出射波长为大致405nm的激光；

物镜，将从所述半导体激光器出射的光束照射到所述光盘且数值孔径为大致0.85；以及

光检测器，具有接收在所述光盘反射的光束的受光部，

将所述光盘至所述光检测器的光学倍率设为大致10～15倍的范围。

2.根据权利要求1所述的光拾取装置，其特征在于，

具有衍射光栅，该衍射光栅使从所述半导体激光器出射的光束分支为主光束和副光束，

所述光检测器具有分别接收在所述光盘反射的所述主光束和副光束的受光面。

3.一种光拾取装置，对光盘照射激光来进行信息的记录或者再生，其特征在于，具备：

半导体激光器，出射波长为大致405nm的激光；

衍射光栅，使从所述半导体激光器出射的光束至少分支为主光束和2个副光束；

物镜，将由所述衍射光栅分支的光束照射到所述光盘且数值孔径为大致0.85；以及

光检测器，具有接收在所述光盘反射的光束的受光部，

所述光检测器具有分别接收所述主光束和所述2个副光束的受光面，在检测该2个副光束的2个受光面的中央部中，设置在盘半径方向上延伸、并以规定宽度遮挡入射光的遮光带，

将所述光盘至所述光检测器的光学倍率设为大致8～15倍的范围。

4.根据权利要求1~3中的任意一项所述的光拾取装置，其特征在于，

所述光检测器的受光面被分割为多个区域，

根据各分割区域的检测信号，通过差动推挽方式生成跟踪误差信号。

5.根据权利要求1~3中的任意一项所述的光拾取装置，其特征在于，

具备对入射到所述光检测器的光束提供像散的检测透镜，

所述光检测器的受光面被分割为多个区域，

根据各分割区域的检测信号，通过像散方式生成聚焦误差信号。

6.一种光盘装置，搭载了权利要求1~5中的任意一项所述的光拾取装置，其特征在于，具备：

激光点亮电路，驱动所述光拾取装置内的所述半导体激光器；

伺服信号生成电路，使用从所述光拾取装置内的所述光检测器检测出的信号，生成跟踪误差信号、聚焦误差信号；以及

信息信号记录电路或者信息信号再生电路，经由所述光拾取装置对所述光盘进行信息信号的记录或者再生。

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