KR20080036194A - 다층 광학기록매체로부터 정보를 판독하는 방법 및광학판독장치 - Google Patents

다층 광학기록매체로부터 정보를 판독하는 방법 및광학판독장치 Download PDF

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KR20080036194A
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비트 요하네스 드
요리스 프레헨
쇼에르트 스탈링아
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아리마 디바이시즈 코퍼레이션
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Abstract

본 발명은, 광학판독장치(12)에 의해 다층 광학기록매체(10)로부터 정보를 판독하는 방법에 관한 것으로, 상기 방법은, 상기 광학기록매체의 제 1 기록층(20)에 중앙의 광빔(14)과 2개의 종속 광빔(16,18)을 포커싱하는 스텝과, 상기 종속 광빔 중 하나와 각각 관련되어 있는 2개의 스플릿 검출기(26, 28) 상에 적어도 상기 종속 광빔의 일부의 반사 빔(22, 24)을 투사하여, 종속 스폿(116, 118)을 생성하는 스텝-상기 반사된 광이 제2 기록층(21)에 의해 반사된 광과 간섭을 일으키며-과, 트랙킹 오류 신호를 제공하는 상기 스플릿 검출기들로부터 신호를 처리하는 스텝을 포함하고, 상기 트랙킹 오류 신호에 대한 상기 반사 빔의 중앙부(29)의 영향을 제거 및/또는 변경해서, 상기 트랙킹 오류 신호의 품질에 대한 이 중앙부의 부정적인 영향을 줄인다.
광학판독장치, 광빔, 스플릿 검출기, 광학기록매체, 스폿

Description

다층 광학기록매체로부터 정보를 판독하는 방법 및 광학판독장치{METHOD OF READING OUT INFORMATION FROM A MULTIPLE LAYER OPTICAL RECORDING MEDIUM AND OPTICAL READOUT DEVICE}
본 발명은 다층 광학기록매체로부터 정보를 판독하는 방법 및 그러한 방법을 수행하는 광학판독장치에 관한 것이다.
다층 광 디스크, 특히 BD 또는 DVD 포맷의 듀얼 층의 디스크에서는, 트랙킹 시스템에 관한 문제가 알려져 있다. 비점 수차를 보정한 포커싱 시스템 및 3개의 스폿 푸시 풀(3 스폿 PP) 트랙킹 시스템을 가진 광 디스크 드라이브에서, 광은 듀얼 레이어 디스크의 층들 중 하나에 포커싱된다. 그러나, 광의 일부는 다른 층에 의해 반사될 것이다. 검출기 평면에서, 다른 층에 의해 반사된 광은 중앙의 검출기와 종속 검출기를 포함하는 큰 스폿을 형성한다. 검출기 상의 큰 스폿의 강도는 조속 스폿의 강도와 같은 크기이기 때문에, 강한 간섭이 큰 스폿의 광과 종속 스폿의 광 사이에 발생할 것이다. 간섭 줄무늬의 강도는 기록 층들 사이의 스페이서 층의 두께의 작은 변화에 의해 신속하게 변할 것이다. 이들 간섭패턴의 급속 변화는 종속 스폿의 푸시 풀(PP) 신호의 급속한 변화를 일으킨다. 그 결과, 3 스폿 PP 신호 가 파괴될 것이다. 따라서, 본 발명의 목적은, 트랙킹 에어 신호에 대한 제 2 층의 반사의 영향을 줄일 수 있는 방법 및 장치를 제공하는 것에 있다.
상기 목적은, 독립 청구항의 특징에 의해 해결된다. 더 나아가서 본 발명의 전개와 바람직한 실시 예는 종속 청구항에 약술되어 있다.
본 발명에 의하면, 광학판독장치에 의해 다층 광학기록매체로부터 정보를 판독하는 방법이 제공되는데, 이 방법은,
상기 광학기록매체의 제 1 기록층 상에 중앙의 광 빔과 2개의 종속 광 빔을 포커싱하는 스텝과,
상기 종속 광 빔 중 하나와 각각 관련되어 있는 2개의 스플릿 검출기 상에 적어도 상기 종속 광 빔의 일부의 반사 빔을 투사하여, 종속 스폿을 생성하는 스텝 - 상기 반사된 광이 제 2 기록층(21)에 의해 반사된 광을 간섭하며-과,
상기 스플릿 검출기들로부터의 신호를 처리하여 트랙킹 오류 신호를 제공하는 스텝을 포함하고,
상기 트랙킹 오류 신호에 미치는 상기 반사 빔의 중앙부(29)의 영향을 제거 및/또는 변경해서, 상기 트랙킹 오류 신호의 품질에 미치는 이 중앙부의 부정적인 영향을 줄인다.
제 2 기록층으로부터 반사된 종속 빔의 영향에 의한 대표적인 간섭패턴은 포커싱 시스템의 비점 수차에 의해 비대칭이다. 간섭 줄무늬의 강도가 스플릿 종속 검출기의 중심 부근에서 변화하는 경우, 비대칭 강도 패턴이 크게 변화할 것이다. 이것에 의해 종속 스폿의 푸시 풀 신호가 크게 변화하게 된다. 본 발명에 의거해, 트랙킹 오류에 대한 중앙부의 영향을 제거 및/또는 변경함으로써, 제 2 층으로부터 반사된 종속 빔의 영향으로 트랙킹 오류는 파기되지 않는다.
바람직한 실시 예에 의하면, 종속 스폿으로부터 중앙부를 제거함으로써 상기 트랙킹 오류 신호에 미치는 반사 빔의 중앙부의 영향을 제거 및/또는 변경한다. 그 결과, 이들 중앙부의 영향을 제거한다.
이것은 예를 들면, 회절격자의 변경된 중앙부에 의해 나머지의 빔과 다른 방향으로 빔의 중앙부를 투사함으로써 트랙킹 오류 신호에 미치는 반사 빔의 중앙부의 영향을 제거 및/또는 변경하는 방법에 의해 달성될 수 있다. 빔의 서로 다른 부분들을 서로 다른 방향으로 반사하는 회절격자를 제공할 수 있다. 예를 들어, 회절격자의 중앙부에서의 회절격자 라인의 서로 다른 거리에 의해, 또는 서로 다른 라인의 방위에 의해, 빔의 중앙부가 빔의 나머지와 다르게 편향되도록 회절격자를 변경할 수 있다.
또 다른 실시 예에 의하면, 비투과성 커버로 검출기의 중앙부를 덮음으로써 트랙킹 오류 신호에 미치는 반사 빔의 중앙부의 영향을 제거 및/또는 변경한다.
비활성 중앙 검출기 영역을 선택함으로써 트랙킹 오류 신호에 미치는 반사 빔의 중앙부의 영향을 제거 및/또는 변경할 수도 있다.
또 다른 실시 예에 의하면, 특별한 파장에 대해서만 비투과성 커버로 검출기의 중앙부를 덮음으로써 트랙킹 오류 신호에 미치는 반사 빔의 중앙부의 영향을 제거 및/또는 변경한다.
또 다른 가능성은, 검출기의 중앙부로서 격리된 검출기 세그먼트를 제공하고, 나머지 검출기 세그먼트들과 다르게 이들 격리된 검출기 세그먼트들로부터의 신호들을 처리함으로써, 트랙킹 오류 신호에 미치는 반사 빔의 중앙부의 영향을 제거 및/또는 변경하는 것이다. 지금까지 언급한 실시 예는 본 실시 예에 따라 검출기의 광학측에서 동작하지만, 신호 처리에 의해 반사 빔의 중앙부의 영향을 제거할 수도 있다.
예를 들면, 검출기의 중앙부로서의 격리된 검출기 세그먼트들을 제공하고, 이들 격리된 검출기 세그먼트들로부터 신호들을 처리하지 않음으로써, 트랙킹 오류 신호에 미치는 반사 빔의 중앙부의 영향을 제거 및/또는 변경한다.
빔의 중앙부를 제거하는 것 이외에, 회절격자에 의해 중앙부의 서로 다른 영역들의 위상을 다르게 변경함으로써 트랙킹 오류 신호에 미치는 반사 빔의 중앙부의 영향을 제거 및/또는 변경할 수도 있다. 이렇게 함으로써, 중앙부의 위상을 "임의로 추출할 수 있다(randomize)". 회절격자의 어떤 영역들은 회절격자의 다른 영역에 대하여 π의 위상 차에 이른다.
실행 가능한 트랙킹 오류 신호의 발생에 관해서는, 회절격자의 변경된 중앙부에 의해 빔의 나머지와는 다른 방향으로 빔의 중앙부를 투사함으로써 트랙킹 오류 신호에 미치는 반사 빔의 중앙부의 영향을 제거 및/또는 변경하는 것을 제안하고, 상기 방법은,
기록매체의 동일한 트랙 상에 중앙 광 빔과 종속 광 빔을 투사하는 스텝과,
아래의 식을 이용해,
3spPP = PPc + K/2(PPa + PPb)
상기 종속 광 빔(PPa, PPb)의 푸시 풀(PP) 신호들로부터 또 중앙 광 빔(PPc)의 PP 신호로부터 3 스폿 푸시 풀 신호(3spPP)를 산출하는 스텝을 더 포함하고, 단, K는 상수이다. 통상, 중앙 스폿은 트랙 상에 위치 결정되고, 종속 스폿은 트랙들 사이에 위치 결정되어 있다. 대물렌즈가 이동할 때, 3개의 검출기 상의 3개의 스폿이 같은 방향("빔 랜딩(beam landing)")으로 이동해서, 부호가 같은 격리된 PP 신호들의 오프셋이 생긴다. 따라서, 이하의 식을 통상 이용한다.
3spPP = PPc - K/2(PPa + PPb) (1).
그것에 의해, 빔 랜딩 효과를 보상할 것이다. 이와 같이, 빔 랜딩 효과는 3 스폿 PP 신호의 소망하는 변조에 부정적으로 영향을 끼치지 않을 것이다. 현재, 변경된 중앙부를 가진 회절격자에 의해, 종속 스폿의 오프셋이 중앙 스폿의 오프셋과 비교해 반대의 부호를 갖는다. 그 결과, 식(1)보다는, 이하의 식을 이용한다.
3spPP = PPc + K/2(PPa + PPb) (2).
그것에 의해, 빔 랜딩을 보상한다. 그렇지만, 트랙 상의 중앙 스폿 및 트랙들 사이의 종속 스폿과 180도의 관련 위상 차에 의해, 식(2)는 실행 가능한 3 스폿 PP 신호를 발생하지 않을 것이다. 이 해법은, 트랙들 사이보다는, 트랙 상에 종속 스폿을 위치시킴으로써 위상 차를 제거하는 것이다. 통상의 경우와 같이, 이것에 의해 3 스폿 PP 신호가 중앙 스폿의 PP 신호의 2배가 된다.
본 발명에 따르면, 다층 광학기록매체로부터 정보를 판독하는 광학판독장치가 더 제공되는데, 이 광학판독장치는,
상기 광학기록매체의 제 1 기록층에 중앙의 광빔과 2개의 종속 광빔을 포커싱하는 수단과,
상기 종속 광빔 중 하나와 각각 관련되어 있는 2개의 스플릿 검출기 상에 적어도 상기 종속 광빔의 일부의 반사 빔을 투사하여, 종속 스폿을 생성하는 수단-상기 반사된 광이 제 2 기록층(21)에 의해 반사된 광을 간섭하며-과,
상기 스플릿 검출기들로부터의 신호들을 처리하여 트랙킹 오류 신호를 제공하는 수단과,
상기 트랙킹 오류 신호에 미치는 상기 반사 빔의 중앙부(29)의 영향을 제거 및/또는 변경해서, 상기 트랙킹 오류 신호의 품질에 미치는 이 중앙부의 부정적인 영향을 줄이는 수단을 구비한다.
예를 들면, 투사수단 및 제거 및/또는 변경수단은, 회절격자를 포함한다.
본 발명의 바람직한 실시 예에 의하면, 투사수단 및 제거 및/또는 변경수단은, 회절격자를 포함하고, 상기 회절격자는 외부 영역의 라인에 수직인 라인을 가진 중앙 영역을 갖는다. 그러므로, 중앙 영역을 지나는 광은 종속 스폿 및 중앙 스폿을 통해서 라인과 수직인 방향으로 투사된다.
또, 투사수단 및 제거 및/또는 변경수단은 회절격자를 포함하되, 이 회절격자는 외부 영역의 라인들과 달리 서로 거리가 다른 라인을 가진 중앙영역을 갖는다. 선이 그어진 회절격자와 외부영역보다 작은 중앙영역과의 사이의 거리를 선택함으로써, 중앙영역에서의 광의 편향 각도는 외부 영역보다 훨씬 더 클 수 있다.
또 다른 실시 예에 의하면, 투사수단 및 제거 및/또는 변경수단은 회절격자를 구비하되, 이 회절격자는 라인이 없는 중앙 영역을 갖는다. 그러한 평탄한 중앙 영역에 의거해서, 빔의 일부만이 회절격자로 커버되기 때문에, 검출기 상의 중앙 스폿은 더 높은 강도를 가질 수 있다. 중앙 스폿에서 평탄한 파면을 갖기 위해서, 중앙 영역이 홈이 있는 영역과 비교해 특정 높이, 즉 홈이 있는 영역의 높이의 1/2을 가져야 한다.
또 다른 실시 예에 의하면, 투사수단 및 제거/변경수단은 회절격자를 구비하되, 이 회절격자는 라인 사이의 거리의 절반만큼 시프트되는 라인을 지닌 중앙영역을 갖고 있고, 그것에 의해 중앙부의 서로 다른 영역의 위상을 다르게 변경하는 수단을 제공한다. 이렇게 함으로써, 중앙부의 임의 추출을 달성할 수 있다.
또한, 제거 및/또는 변경수단은 스플릿 검출기들의 중앙부를 덮는 커버를 구비하는 것도 가능하다.
더 나아가서, 제거 및/또는 변경수단은 스플릿 검출기들의 중앙부를 덮는 이색성 코팅을 구비하는 것이 유리할 수 있다.
또 다른 실시 예에 의하면, 각 스플릿 검출기는 상기 검출기의 중앙부로서 격리된 검출기 세그먼트들을 구비하고, 그것의 신호들은 외부 검출기 세그먼트들로부터 발생된 신호들과 다르게 처리될 수 있다.
예를 들면, 각 스플릿 검출기는 검출기의 중앙부로서 격리된 검출기 세그먼트들을 구비하고, 그것의 신호들을 이용해서 트랙킹 오류 신호를 발생한다.
본 발명의 또 다른 실시 예에 의하면, 광학판독장치가 제공되는데, 상기 투사수단과 제거 및/또는 변경수단은, 회절격자를 구비하고,
상기 회절격자는, 인접한 존들 사이에 존 경계를 갖는 복수의 존으로 구성되며,
존 내부에서, 복수의 교호 하이(high) 및 로우(low) 영역은 상기 회절격자 표면 상의 직선의 평행선을 따라 연장되고 있고, 하이 및 로우 영역은 직선의 평행선과 수직인 방향으로 일정한 폭을 갖고,
존 경계에서, 2개의 인접한 영역은 2개의 하이 영역 또는 2개의 로우 영역이며,
그것에 의해 종속 광 빔을 제 1 기록층 상의 2개의 트윈 스폿으로 분할한다.
상기 회절격자는 이들 존 사이에 경계를 갖는 직선의 존으로 분할된다. 그러한 존 경계에서, 회절격자 프로파일은 π의 페이스 점프(face jump)를 만든다. 종래의 회절격자는 고정 및 균등한 폭의 교호 하이 및 로우 영역으로 구성된 단면을 갖는다. 제안된 회절격자에서, 존 경계에 있는 하이 또는 로우 영역의 폭은 2배가 된다. 그러한 회절격자에 의거해서, 종속 스폿은 작은 분할에 의한 1개의 서브 스폿 또는 트윈 스폿으로 구성된다. 그 결과, 종속 검출기 상의 간섭패턴이 변경된다. 회절격자 상의 이웃한 존들에 대응하는 이웃한 검출기 존들의 간섭패턴은, 서로 대향하는 줄무늬 패턴을 갖는다. 이렇게 함으로써, 존 경계에서 어두운 줄무늬는 밝아지고, 밝은 줄무늬는 어두워진다. 그것에 의해 이 간섭패턴의 좌측-우측 불균형을 평균화할 수 있다.
바람직하게는, 2개의 다음 존 경계 사이의 폭 A와 광축과 가장 가까운 존 경계 간의 거리 B에 대하여는, 다음의 식이 적용된다.
A=nt/((2j-1)sNA)
B=0
이 식에서, j=1,2,3,...;t는 제 1 기록층 상의 2개의 트윈 스폿의 중심과 중앙의 광빔과의 사이의 거리이고, n은 제 1 기록층 및 제 2 기록층과의 사이의 스페이서 층의 굴절률이며, s는 제 1 기록층과 제 2 기록층과의 사이의 스페이서 층의 두께이고, NA는 광학판독장치의 대물렌즈의 개구수이다. 중요한 것은, 빔 중심, 즉 광축과 가장 가까운 존 경계와의 사이의 거리 B와 존 폭 A에 의존한다. 실제로, A 및 B의 일부 값에 대해서는, 회절격자는 더 좋은 개선을 준다. 이것은, 존 경계 및 간섭패턴의 새들 포인트(saddle-point)의 위치와 관련이 있다. 최적의 서프레션(supression)은, 새들 포인트가 존의 중앙에 있을 때 발생한다. 상술한 바와 같이, 이용가능한 파라미터 A 및 B에 대해서는 대략적인 식이 있다. 바람직하게는, 가능한 한 존 폭을 크게 유지하기 위해 j는 1로서 선택된다.
또 다른 실시 예에 의하면, 2개의 다음 존 경계 사이의 폭 A와, 광축과 가장 가까운 존 경계 간의 거리 B에 대해서는 다음의 식이 적용된다.
A=nt/(2jsNA)
B=nt/(4jsNA)
이 식에서, j=1,2,3,...;t는 제 1 기록층 상의 2개의 트윈 스폿의 중심과 중앙의 광빔과의 사이의 거리이고, n은 제 1 기록층과 제 2 기록층과의 사이의 스페이서 층의 굴절률이며, s는 제 1 기록층과 제 2 기록층과의 사이의 스페이서 층의 두께이고, NA는 광학판독장치의 대물렌즈의 개구수이다.
더 나아가서, 본 발명은, 상술한 바와 같이 복수의 존을 가진 회절격자에 관한 것이다.
본 발명의 이들 국면 및 그 외의 국면들은 이하에 설명한 실시 예를 참조하면 밝혀질 것이다.
도 1은, 본 발명에 따른 광학판독장치의 개략도를 나타낸다.
도 2는 검출기 평면에서의 광 스폿의 패턴을 나타낸다.
도 3은, 스플릿 검출기 상의 종속 스폿의 개략적인 묘사를 나타낸다.
도 4는 중앙 영역이 제거된 스플릿 검출기 상의 종속 스폿의 개략적인 묘사를 나타낸다.
도 5는 중앙 영역이 제거되고 위상이 임의로 추출된 스플릿 검출기 상의 종속 스폿의 개략적인 묘사를 나타낸다.
도 6은, 본 발명에 따른 사용 가능한 회절격자의 제 1 실시 예를 나타낸다.
도 7은, 본 발명에 따른 사용 가능한 회절격자의 제 2 실시 예를 나타낸다.
도 8은, 본 발명에 따른 사용 가능한 회절격자의 제 3 실시 예를 나타낸다.
도 9는 본 발명에 따른, 위상 차를 발생하는 회절격자의 서로 다른 영역들의 예시를 나타낸다.
도 10은 본 발명에 따른, 위상 차를 발생하기 위해 회절격자의 중앙 영역의 회절격자 라인을 나타낸다.
도 11은 광학판독장치에 사용된 종래의 회절격자의 상면도 및 단면도이다.
도 12는 본 발명에 따른 회절격자의 상면도 및 단면도이다.
도 13은 도 11에 다른 회절격자를 사용한 경우에 스플릿 검출기 상에 생성된 패턴에 대한 대표적인 간섭패턴을 도시한 것이다.
도 14는 도 12에 따른 회절격자를 사용하는 경우에 스플릿 검출기 상에 생성된 패턴에 대한 대표적인 간섭패턴을 도시한 것이다.
도 15는 도 11에 따른 종래의 회절격자와 도 12에 따른 회절격자에 대한 기록층 상의 종속 스폿(들)의 강도 분포를 도시한 것이다.
도 16은, 주 스폿과 종속 스폿(들) 사이의 거리 t의 함수로서 푸시 풀 피크-피크 오프셋을 도시한 것이다.
도 17은 검출기 구성의 상면도이다.
도 18은 본 발명에 따른 변조된 검출기 구성의 상면도다.
도 19는 본 발명에 따른 또 다른 변조된 검출기 구성의 상면도다.
도 20은 본 발명에 따른 또 다른 변조된 검출기 구성의 상면도이다.
도 21은 본 발명에 따른 또 다른 변조된 검출기 구성의 상면도다.
도 22는 3 스폿 푸시 풀 신호를 생성하는 바람직한 개념을 설명하기 위한 광학 광로를 도시한 도면이다.
도 23은, 3 스폿 푸시 풀 신호를 생성하는 바람직한 개념을 설명하기 위한 광학 광로를 도시한 도면이다.
도 24는 중앙 영역이 제거된 종속 스폿을 가진 스플릿 종속 검출기를 도시한 것이다.
도 25는 대물렌즈의 이동시 중앙 영역이 제거된 종속 스폿을 가진 스플릿 종속 검출기를 도시한 것이다.
도 1은, 본 발명에 따른 광학판독장치(12)의 개략도이다. 이중층 광학기록매체(10)는, 제 1 기록층(20), 제 2 기록층(21) 및 이들 기록층 사이의 스페이서 층을 갖고, 지면에 수직한 평면으로 회전하도록 구성되어 있다. 광원(64), 예를 들면 반도체 레이저는, 레이저 빔(66)을 방출한다. 광학계(68)는 레이저 빔(66)을 회절시켜서 포커싱하여 중앙의 광 빔(14)과 2개의 종속 광 빔 16, 18을 형성한다. 중앙의 광 빔(14) 및 종속 광 빔 16, 18은 광 기록층(10)의 1개의 기록층(20) 상에 포커스되고, 광학계에 다시 반사된다. 이 반사된 종속 광 빔 22, 24과 반사된 중앙 광 빔(78)은 검출기 구성 26, 28, 62에 투사되고, 이 검출기 구성은 2개의 종속 스플릿 검출기 26, 28과 1개의 스플릿 중앙 검출기(62)(예를 들면, 도 17을 참조)를 갖는다. 기술한 광로를 실현하기 위해서, 광학계(68)는, 시준렌즈(72), 회절격자(30), 빔 스플리터(70), 사분 파장판(74), 대물렌즈(38) 및 서보 렌즈(76)를 구비한다. 또한, 디스크와 검출기 구성 사이의 직선 광로를 사용하는 것도 가능하고, 광원으로부터의 광로는 상기 언급한 직선 광로에 수직으로 연결된다. 그 외의 변경도 가능하고, 그러한 변경은 본 발명이 속하는 기술분야의 당업자에게는 잘 알려져 있다.
도 2는, 검출기 평면의 광 스폿의 패턴을 도시한 것이다. 중앙 빔(14)(도 1참조)에 의해 생성된 중앙 스폿(114)은 빔 16, 18(도 1 참조)에 의해 생성된 종속 스폿 116, 118보다 더 높은 강도를 갖는다. 추가로, 큰 스폿(120)은, 제 2 기록층, 즉 판독한 빔이 포커스되어 있지 않은 기록층 상의 판독 빔의 반사에 의한 것이라는 것을 알 수 있다. 큰 스폿(120)의 강도는 종속 스폿 116, 118의 강도와 같은 크기를 갖는다. 종속 스폿의 광의 위상과 비교해 큰 스폿(120)의 광의 위상은, 2ns/λ의 오프셋을 갖는데, 여기서 n은, 디스크의 커버층의 굴절률이고, s는 스페이서 두께이며, λ은 광의 파장이다. 큰 스폿(120)의 광과 종속 스폿 116, 118의 광과의 사이에 강한 간섭이 발생할 것이다. 간섭 줄무늬의 강도는 스페이서 두께의 작은 변화에 의해 급속하게 변화할 것이다. 이들 간섭패턴의 급속한 변화는 종속 스폿의 PP 신호들의 빠른 변화를 일으켜, 3 스폿 PP 신호를 파괴한다.
도 3은, 스플릿 검출기 상의 종속 스폿의 개략적인 묘사를 도시한 것이다. 스플릿 검출기(26)는 개별적인 신호들을 제공하는 2개의 검출기 세그먼트 50, 52를 구비한다. 이 검출기(26)의 푸시 풀 신호는 좌측 검출기 세그먼트(50)로부터의 신호 - 우측 검출기 세그먼트(52)의 신호로서 규정되어 있다. 대표적인 간섭패턴(54)이 도시되어 있다. 이 간섭패턴(54)은 종속 빔과 제 2 층 반사 빔과의 사이의 간섭에 의해 발생된다. 스폿(29)의 중앙 부근에서 대표적인 새들 형상의 밝은 구역을 볼 수 있다. 이 외관은 포커싱 시스템의 비점 수차에 의해 발생한다. 새들 형상의 영역(29)은 종속 스폿의 강도 패턴을 비대칭으로 만든다. 기록층 사이의 스페이서 층 두께의 변화로 인해 줄무늬의 강도가 변화하는 경우, 비대칭의 강도 패턴에 의해 종속 스폿의 푸시 풀 신호가 크게 변화된다. 그 결과, 3 스폿 PP 신호가 파괴될 것이다.
도 4는, 중앙 영역이 제거된 스플릿 검출기 상의 종속 스폿의 개략적인 묘사를 도시한 것이다. 도 5는 중앙 영역이 제거되고 위상이 임의로 추출된 스플릿 검출기 상의 종속 스폿의 개략적인 묘사를 도시한 것이다. 도 6은, 본 발명에 따른 사용 가능한 회절격자의 제 1 실시 예를 도시한 것이다. 도 7은 본 발명에 따른 사용 가능한 회절격자의 제 2 실시 예를 도시한 것이다. 도 8은 본 발명에 따른 사용 가능한 회절격자의 제 3 실시 예를 도시한 것이다. 도 9는 본 발명에 따른 위상 차를 발생하는 회절격자의 서로 다른 영역들의 예시를 도시한 것이다. 도 10은, 본 발명에 따른 위상 차를 발생하기 위해 회절격자의 중앙 영역의 회절격자 라인을 도시한 것이다. 이들 도면에서, 간섭패턴(54)의 중앙부 29(도 3 참조)의 영향을 제거하기 위한 서로 다른 해법에 대해 설명한다. 도 4는 중앙부가 제거된 간섭패턴(54)을 도시한 것이다. 이것은 도 1에 따른 회절격자(30)의 부분에서 도 6, 7, 또는 8에 나타낸 회절격자 중 하나를 이용해서 달성될 수 있다. 도 6에 따른 회절격자 30a는 빔의 중앙 영역의 광을, 3개의 스폿을 통해서 라인과 수직인 방향으로 향하게 한다. 이것은, 회절격자 30a의 중앙 영역의 그루브에 회절격자 30a의 외부 영역 58, 60의 그루브와 비교해 90도의 각도를 줌으로써 달성된다. 도 7에 의하면, 3개의 스폿을 통해서 라인과 같은 방향으로, 그러나 훨씬 더 큰 거리, 예를 들면 주 스폿과 종속 스폿 사이의 거리의 두 배에 위치된 위치로 광을 향하게 하는 회절격자 30b가 설치되어 있다. 이것은, 회절격자 30b의 외부 영역 59, 60의 라인의 거리의 절반으로서 회절격자의 중앙 영역 56의 회절격자 라인들 사이의 거리를 선택함으로써 달성된다. 도 8은, 광 빔의 중앙부를 제거하기 위한 또 다른 가능성을 나타 낸다. 이 회절격자 30c에서, 평탄한 중앙영역 56이 설치되고, 외부 영역 58, 60은 회절격자 라인을 갖는다. 중앙 스폿에서 평탄한 파면을 얻기 위해, 중앙 영역은 그루브 영역과 비교해 어떤 특정 높이, 즉 외부 영역 58, 60의 그루브의 깊이의 높이의 절반을 가져야 한다. 도 8에 따른 회절격자 30c는 도 6 및 도 7에 따른 회절격자 30a 및 30b와 비교해, 광 빔의 일부만이 회절격자 30c로 커버되기 때문에 중앙 스폿이 더 높은 전력을 갖는다는 점에서 이점이 있다.
도 9 및 도 10에 관해서, 도 5에 나타낸 것과 같은 간섭패턴, 즉 "위상을 임의로 추출한(phase randomized)" 간섭패턴을 달성할 수 있는 것에 근거해서 회절격자를 설명한다. 도 9에 따른 회절격자 30d는 위상 차를 생성하는 중앙영역(56) 및 외부 영역 59, 60을 갖는다. "0"이 도시되어 있는 모든 영역은 서로에 대해서 위상 차를 생성하지 않는다. 마찬가지로, "π"가 도시되어 있는 모든 영역은 서로에 대해서 위상 차를 발생하지 않는다. 그렇지만, "π"를 나타내는 영역은 "0"을 가진 영역에 대해 π의 위상 차를 갖는다. 이것은 도 10에 따라, 서로에 대하여 거리 q/2만큼 영역의 회절격자 라인을 시프트시킴으로써 달성될 수 있는데, 여기서 q는 회절격자 라인 사이의 거리이다. 이와 같이, 도 10은 회절격자의 2개의 인접하는 세그먼트를 나타내고, 우측부분은 좌측부분과 비교해서 "π"의 위상 차를 갖는다.
도 11은 광학판독장치에 사용된 종래의 회절격자의 상면도 및 단면도이다. 회절격자 30'의 상면도(a)는 규칙적으로 간격을 둔 회절격자 라인(80)을 나타낸다. 또한, 빔 단면 82와 빔 중심 84가 도시되어 있다. 회절격자 30'의 단면도(b)는 회절격자 표면의 하이 영역 86과 로우 영역 88을 갖는데, 그것에 의해 규칙적으로 간 격을 둔 회절격자 라인(80)이 형성된다.
도 12는 본 발명에 따른 회절격자의 상면도 및 단면도를 나타낸다. 도 11에 나타낸 소자 외에도, 본 발명에 따른 회절격자 30e는 존 경계 90에 의해 분리되는 존들로 구성되어 있다. 존 경계 90은 회절격자 30e의 단면도(b)에서 나타낸 바와 같이, 2개의 인접한 하이 영역 86에 의해 또는 2개의 인접한 로우 영역 88에 의해 형성되고, 그것에 의해 통상의 선택적인 하이 및 로우 영역들의 폭의 2배의 영역을 제공한다. 그것에 의해, π 페이스-점프(face-jump)를 존 경계 90에서 생성한다. 도 12에서, 2개의 파라미터들은 A 및 B로 표시되는데, 이 A는 인접한 존 경계 90 사이의 일정한 거리이고, B는 빔 중심과 가장 가까운 존 경계 90 사이의 거리이다. 한층 더 상기 및 아래의 설명을 위해서 이들 파라미터들을 이용한다.
도 13은, 도 11에 따른 회절격자를 사용할 때 스플릿 검출기 상에 생성된 패턴에 대한 대표적인 간섭패턴을 나타낸다. 도시한 간섭패턴은 도 3과 관련해서 설명한 바와 같은 간섭패턴과 비슷하다. 추가로, 검출기 영역 상의 ㎛의 좌표가 도시되어 있다. 특히, 빔 중심은 광축으로부터 150㎛에서 위치되어 있다. 이미 언급한 바와 같이, 그러한 간섭패턴은 밝은 영역과 어두운 여역으로 구성되어 있어, 푸시 풀 신호 상에 노이지 변동, 소위 코히어런트 크로스 토크(coherent cross-talk)가 생긴다. 그 결과, 푸시 풀 신호의 오프셋을 경험한다.
도 14는 도 12에 따른 회절격자를 사용했을 경우 스플릿 검출기 상에 생성된 패턴에 대한 대표적인 간섭패턴을 나타낸다. 종속 검출기 상의 이 간섭패턴은 줄무늬 패턴의 극성이 변화하는 라인을 나타낸다. 즉, 어두운 줄무늬는 그러한 라인을 가로지를 때 밝아지고, 밝은 줄무늬는 그러한 라인을 가로지를 때 어두워진다. 검출기 평면 상의 이들 라인은 회절격자(도 12, 30e)의 존 경계(도 12, 90)에 대응한다. 이렇게 함으로써, 스플릿 검출기 상의 좌측-우측 불균형을 평균화할 수 있다.
도 15는 도 11에 따른 종래의 회절격자와 도 12에 따른 회절격자에 대한 기록층 상의 종속 스폿(들)의 강도 분포를 나타낸다. 반경 좌표 r[㎛]에 의존하여 디스크 상의 종속 스폿(들)의 반경의 상대 강도가 이하의 2가지의 서로 다른 경우에 대해 도시되어 있다. 실선은 종래의 회절격자(예를 들면 도 11을 참조)에 대한 강도 분포를 나타내고, 점선은 본 발명에 따른 회절격자(예를 들면 도 12 참조)에 대한 강도 분포를 나타낸다. 도시한 바와 같이, 2개의 트윈 스폿은 본 발명에 따른 회절격자에 근거해서 발생하지만, 트윈 스폿의 분할은, 도 12에 도시한 바와 같은, 존 폭 A에 의존한다. A가 작으면, 분할이 크다.
도 16은, 주 스폿과 종속 스폿(들)과의 사이의 거리 t의 함수로서 푸시 풀 피크-피크 오프셋을 나타낸다. 종래의 회절격자(예를 들면 도 11 참조)에 대한 푸시 풀 피크-피크 오프셋은 곡선 "공칭"으로 도시되어 있지만, 본 발명에 따른 회절격자에 대한 푸시 풀 피크-피크 오프셋은 곡선 "보정된"으로서 도시되어 있다. 양쪽 오프셋은 스폿 거리 t[㎛]의 함수로서 표시되어 있다. 트윈 스폿의 경우에 있어서의 이 스폿 거리는 주 스폿과 트윈 스폿의 중심과의 사이의 거리로서 정의되어 있다. 파라미터 A 및 B(도 12 참조)는 A=0.65 및 B=0으로서 선택된다.
포커스 내의 기록층에 의해 반사된 종속 스폿들과 포커스 밖의 기록층에 의해 반사된 스폿과의 간섭으로 인해 푸시 풀 신호의 오프셋이 생성된다. 즉, 종속 스폿들은 종속 검출기들 상에 완전히 집중되도록 간주되어, 간섭에 의한 강도 불균형만을 고려한다.
대칭 곡선은 디스크 상의 주 스폿과 종속 스폿과의 사이의 스폿 거리 0을 가진 이론상의 점에서 시작하고, 즉, 주 스폿과 종속 스폿이 일치한다. 이 이론상의 경우에는, "공칭" 푸시 풀 오프셋은 0이다. 그렇지만, "보정된" 경우에 대해서는, 각 종속 스폿에 대한 트윈 스폿의 존재로 인해, 간섭에 의한 불균형도 존재하기 때문에 푸시 풀 오프셋이 있다.
"보정된" 경우에 대해 사용된 회절격자는, 대략 10㎛의 디스크 상의 주 스폿과 종속 스폿들과의 사이의 대표적인 스폿 거리에 대해 최적화된다. 이 최적의 서프레션의 경우에 있어서, 간섭패턴의 새들 포인트는 존의 중심에 있다. t=10㎛에 대해서, 공칭의 경우의 푸시 풀 오프셋은 정정된 경우의 푸시 풀 오프셋보다 더 큰 3개의 요인에 의한 것이므로, 푸시 풀 오프셋 서프레션은 3개의 요인과 함께 작용한다.
도 17은 검출기 구성의 상면도를 나타낸다. 2개의 스플릿 종속 검출기 26, 28 및 중앙의 스폿의 검출기 62가 도시되어 있다. 모든 검출기는 푸시 풀 신호를 제공할 수 있기 때문에, 3개의 푸시 풀 신호가 3 스폿 푸시 풀 신호와 결합될 수 있다. 중앙 스폿 검출기(62)는 포커싱 오류를 정정하기 위해 4개의 세그먼트를 갖는다.
도 18은, 본 발명에 따른 변조된 검출기 구성의 상면도를 나타낸다. 본 발명에 의하면, 종속 빔의 중앙부는 종속 검출기 26, 28의 중앙부 상에 커버(32)를 제 공함으로써 제거될 수 있다. 또 다른 가능성은, 도 18에서, 참조번호 32로 표시되는 종속 검출기 26, 28의 영역을 비활성화시키는 것이다.
도 19는 본 발명에 따른 또 다른 변조된 검출기 구성의 상면도를 나타낸다. 종속 검출기 26, 28의 중앙영역 상에, 이색성 코팅(33)이 적용된다. 이 코팅(33)은 어떤 파장, 예를 들면, DVD 및 CD용의 적색 및/또는 적외선에 대해서는 투과성이 있지만, 다른 파장, 예를 들면 BD용의 청색광에 대해서는 투과성이 없다. 이와 같이, 광학 기록 표준이 서로 다른 판독장치에 있어서, 종속 검출기 26, 28의 중앙부는, 예를 들어 CD의 경우에는 사용될 수 있지만, 다른 경우에는, 예를 들어 이중층 BD의 경우에는 중앙부가 사용되지 않는다.
도 14 및 도 15는 본 발명에 따른 또 다른 변조된 검출기 구성의 상면도를 나타낸다. 여기서, 종속 검출기 26, 28은 각각 4개의 세그먼트로 분리된다. 푸시 풀 신호를 생성하기 위해서, 2개의 상부 세그먼트들 34, 32의 신호들과, 2개의 하부 세그먼트들 36, 44의 신호들을 사용해서 서로 공제할 수 있다(도 20 참조). 도 21에 의하면, 이 신호들을 처리하기 위한 전기수단(40)은, 스플릿 검출기 28, 26의 내부 세그먼트 34, 36로부터의 신호들이 푸시 풀 신호에 기여하지 않도록 설계될 수 있다. 세그먼트 34, 36으로부터의 신호들을 완전히 파기할 수 없지만, 이 신호들을 전기적으로 처리하기 위한 수단(50)을 적응시킬 수 있어, 최적의 푸시 풀 신호를 얻을 수 있다.
도 22 및 도 23은 3 스폿 푸시 풀 신호를 생성하는 바람직한 개념을 설명하기 위한 광학 광로를 나타낸 도면이다.
도 24는 중앙영역이 제거된 종속 스폿을 가진 스플릿 종속 검출기를 나타낸다.
도 25는 대물렌즈의 이동시 중앙영역이 제거된 종속 스폿을 가진 스플릿 종속 검출기를 나타낸다.
도 6, 7 또는 8에 나타낸 바와 같이 3개의 스폿 회절격자가 광학 픽업장치의 광로에 사용되면, 3 스폿 푸시 풀 신호의 계산에 대하여 고려할 필요가 있다. 회절격자의 중앙부는 도 16 및 도 17에 나타낸 바와 같은 광로 내의 엄폐(obscuration;80)로서 간주될 수 있다. 도 16 및 도 17은 통상 미러로서의 역할을 하는 광학기록매체(10)의 일부분과 대물렌즈(38)를 나타낸다. 도 22에서, 엄폐(80)는 광로의 광축의 중심에 정확히 놓인다.
도 23은 방사 방향으로 거리 δ만큼 대물렌즈(38)를 이동시킨 후의 상황을 도시한 것이다. 도 23으로부터, 이 경우에 엄폐의 상이 거리 2δ를 지나 이동할 것이라는 것은 명백하다. 도 24는 도 16 및 도 17의 설명에서 보면 회절격자, 즉 엄폐가 도 22에 도시한 바와 같이, 광로의 중심에 정확히 놓일 때의 스플릿 검출기 26의 종속 스폿의 위치를 나타낸다. 도 25는 도 23에 대응한다. 대물렌즈가 δ의 래디얼 스트로크(radial stroke)를 만들면, 스플릿 검출기(26)의 좌측부(50)와 우측부(52) 상의 스폿이 거리 "a"만큼 시프트한다는 것을 나타낸다. 그러나, 엄폐의 상은 거리 "2a"이상 이동한다. 그 결과, 좌측 검출기 세그먼트(50)의 신호가 우측 검출기 세그먼트(52)의 신호보다 커져, 좌측 신호-우측신호로서 정의되는 포지티브 푸시 풀 신호가 발생한다. 이것은 보통의 3 스폿 회절격자를 가진 통상의 상황과는 정반대이다. 이 경우, 검출기의 좌측 하프의 신호는 작아지고, 우측 하프의 신호는 커져, 네거티브 푸시 풀 신호가 발생한다. 이 통상의 경우, 이하의 식을 이용한다.
3spPP = PPc - K/2(PPa + PPb) (1)
여기에서 3spPP는 3 스폿 푸시 풀 신호이고, PPa 및 PPb는 종속 검출기의 푸시 풀 신호이며, PPc는 중앙 검출기의 푸시 풀 신호이다. K는 상수, 바람직하게는 회절격자비이다. 이 식은, 종속 스폿들의 푸시 풀 신호들이 중앙 스폿과 비교해서 180도의 위상 오프셋을 갖는다는 것을 고려하여, 중앙 스폿이 트랙 상에 위치되고 종속 스폿이 트랙들 사이에 위치되는 통상의 회절격자와 함께 작동한다. 이와 같이, 대물렌즈가 이동할 때, 3개의 검출기 상의 3 스폿이 같은 방향("빔 랜딩")으로 이동하여, 동일 부호를 가진 개별적인 PP 신호들의 오프셋이 발생한다. 그래서, 상기 식을 이용해, 빔 랜딩 효과를 보상할 것이다. 이와 같이, 빔 랜딩 효과는 3 스폿 PP 신호의 소망하는 변조에 부정적인 영향을 끼치지 않을 것이다.
현재, 중앙부가 변조된 회절격자에 의해, 종속 스폿의 오프셋이 중앙 스폿의 오프셋과 비교해서 반대의 부호를 갖는다. 그 결과, 이하의 식이 빔 랜드를 보상한다.
3spPP = PPc + K/2(PPa + PPb) (2)
그러나, 트랙 상의 중앙 스폿과 트랙들 사이의 종속 스폿과 관련된 180도의 위상 차에 의해, 이 식(2)는 실행가능한 3 스폿 PP 신호를 발생하지 않을 것이다. 이 해법은 트랙들 사이보다는 오히려, 트랙 상의 종속 스폿의 위치를 정함으로써 위상 차를 제거하는 것이다. 통상의 경우처럼, 이것은 중앙 스폿의 PP 신호의 대략 2배인 3 스폿 PP 신호가 된다.
상기에 설명하지 않은 동등한 것과 변형들을, 또한 첨부된 특허청구범위에서 규정되는 본 발명의 범주를 벗어나는 일없이 사용해도 된다.

Claims (26)

  1. 광학판독장치(12)에 의해 다층 광학기록매체(10)로부터 정보를 판독하는 방법으로서,
    상기 광학기록매체의 제 1 기록층(20)에 중앙의 광빔(14)과 2개의 종속 광빔(16,18)을 포커싱하는 스텝과,
    상기 종속 광빔 중 하나와 각각 관련되어 있는 2개의 스플릿 검출기(26, 28) 상에 적어도 상기 종속 광빔의 일부의 반사 빔(22, 24)을 투사하여, 종속 스폿(116, 118)을 생성하는 스텝-상기 반사된 광이 제2 기록층(21)에 의해 반사된 광을 간섭하며-과,
    상기 스플릿 검출기들로부터의 신호를 처리하여 트랙킹 오류 신호를 제공하는 스텝을 포함하고,
    상기 트랙킹 오류 신호에 대한 상기 반사 빔의 중앙부(29)의 영향을 제거 및/또는 변경해서, 상기 트랙킹 오류 신호의 품질에 대한 상기 중앙부의 부정적인 영향을 줄이는 것을 특징으로 하는 정보판독방법.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 종속 스폿(116, 118)으로부터 상기 중앙부를 제거함으로써 상기 트랙킹 오류 신호에 대한 상기 반사 빔(22, 24)의 중앙부의 영향을, 제거 및/또는 변경하 는 것을 특징으로 하는 정보판독방법.
  3. 제 1 항에 있어서,
    회절격자(30)의 변형된 중앙부에 의해 상기 빔의 나머지와는 다른 방향으로 상기 빔의 중앙부를 투사함으로써 상기 트랙킹 오류 신호에 대한 상기 반사 빔의 중앙부의 영향을 제거 및/또는 변경하는 것을 특징으로 하는 정보판독방법.
  4. 제 1 항에 있어서,
    비투과성 커버(32)로 상기 검출기의 중앙부를 덮음으로써 상기 트랙킹 오류 신호에 대한 상기 반사 빔의 중앙부의 영향을 제거 및/또는 변경하는 것을 특징으로 하는 정보판독방법.
  5. 제 1 항에 있어서,
    비활성 중앙 검출기 영역(32)을 선택함으로써 상기 트랙킹 오류 신호에 대한 상기 반사 빔의 중앙부의 영향을 제거 및/또는 변경하는 것을 특징으로 하는 정보판독방법.
  6. 제 1 항에 있어서,
    특정 파장에 대해서만 비투광성을 가진 커버(33)로 상기 검출기의 중앙부를 덮음으로써 상기 트랙킹 오류 신호에 대한 상기 반사 빔의 중앙부의 영향을 제거 및/또는 변경하는 것을 특징으로 하는 정보판독방법.
  7. 제 1 항에 있어서,
    상기 검출기의 중앙부로서 개별적인 검출기 세그먼트(34, 36)를 제공하고, 이들 개별적인 검출기 세그먼트로부터의 상기 신호들을 나머지 검출기 세그먼트들과는 다르게 처리함으로써, 상기 트랙킹 오류 신호에 대한 상기 반사 빔의 중앙부의 영향을 제거 및/또는 변경하는 것을 특징으로 하는 정보판독방법.
  8. 제 1 항에 있어서,
    상기 검출기의 중앙부로서 개별적인 검출기 세그먼트(34, 36)를 제공하고, 이들 개별적인 검출기 세그먼트들로부터의 신호들을 처리하지 않음으로써, 상기 트랙킹 오류 신호에 대한 상기 반사 빔의 중앙부의 영향을 제거 및/또는 변경하는 것을 특징으로 하는 정보판독방법.
  9. 제 1 항에 있어서,
    회절격자(30d, 30e)에 의해 중앙부의 서로 다른 영역의 위상을 다르게 변조함으로써, 상기 트랙킹 오류 신호에 대한 상기 반사 빔의 중앙부의 영향을 제거 및/또는 변경하는 것을 특징으로 하는 정보판독방법.
  10. 제 1 항에 있어서,
    회절격자의 변조된 중앙부에 의해 상기 빔의 나머지와 다른 방향으로 상기 빔의 중앙부를 투사함으로써, 상기 트랙킹 오류 신호에 대한 상기 반사 빔의 중앙부의 영향을 제거 및/또는 변경하고, 상기 방법은,
    상기 기록매체의 동일한 트랙 상에 중앙 광 빔 및 종속 광 빔을 투사하는 스텝과,
    아래의 식을 이용해,
    3spPP = PPc + K/2(PPa + PPb)
    상기 종속 광 빔(PPa, PPb)의 푸시 풀(PP) 신호들로부터 또 상기 중앙 광 빔(PPc)의 PP 신호로부터 3 스폿 푸시 풀 신호(3spPP)를 산출하는 스텝을 더 포함하고, 단 K는 상수인 것을 특징으로 하는 정보판독방법.
  11. 다층 광학기록매체(10)로부터 정보를 판독하는 광학판독장치(12)로서,
    상기 광학기록매체의 제 1 기록층에 중앙의 광빔(14)과 2개의 종속 광빔(16,18)을 포커싱하는 수단(38)과,
    상기 종속 광빔 중 하나와 각각 관련되어 있는 2개의 스플릿 검출기(26, 28) 상에 적어도 상기 종속 광빔의 일부의 반사 빔(22, 24)을 투사하여, 종속 스폿(116, 118)을 생성하되, 상기 반사된 광이 제 2 기록층(21)에 의해 반사된 광을 간섭하도록 구성된 수단과,
    상기 스플릿 검출기들로부터의 신호들을 처리하여 트랙킹 오류 신호를 제공하는 수단(40)과,
    상기 트랙킹 오류 신호에 대한 상기 반사 빔의 중앙부의 영향을 제거 및/또는 변경해서, 상기 트랙킹 오류 신호의 품질에 대한 상기 중앙부의 부정적인 영향을 줄이는 수단(30, 32, 33, 40)을 구비한 것을 특징으로 하는 광학판독장치.
  12. 제 11 항에 있어서,
    상기 투사수단 및 상기 제거 및/또는 변경수단은 회절격자(30)를 구비한 것을 특징으로 하는 광학판독장치.
  13. 제 11 항에 있어서,
    상기 투사수단 및 상기 제거 및/또는 변경수단은 회절격자(30a)를 구비하고, 상기 회절격자는 외부영역의 라인들과 수직인 라인을 가진 중앙 영역을 갖는 것을 특징으로 하는 광학판독장치.
  14. 제 11 항에 있어서,
    상기 투사수단 및 상기 제거 및/또는 변경수단은 회절격자(30b)를 구비하고, 상기 회절격자는 외부영역들의 라인들과 달리 서로 거리가 다른 라인을 가진 중앙 영역을 갖는 것을 특징으로 하는 광학판독장치.
  15. 제 11 항에 있어서,
    상기 투사수단 및 상기 제거 및/또는 변경수단은 회절격자(30c)를 구비하고, 상기 회절격자는 라인이 없는 중앙 영역을 갖는 것을 특징으로 하는 광학판독장치.
  16. 제 11 항에 있어서,
    상기 투사수단 및 상기 제거 및/또는 변경수단은 회절격자를 구비하고, 상기 회절격자(30d)는 상기 라인들 사이의 거리의 절반만큼 시프트되는 라인들을 가진 중앙 영역을 갖고, 그것에 의해 상기 중앙부의 서로 다른 영역들의 위상을 다르게 변경하는 수단을 제공하는 것을 특징으로 하는 광학판독장치.
  17. 제 11 항에 있어서,
    상기 제거 및/또는 변형 수단은 상기 스플릿 검출기(26, 28)의 중앙부를 덮는 커버(32)를 구비한 것을 특징으로 하는 광학판독장치.
  18. 제 11 항에 있어서,
    상기 제거 및/또는 변형 수단은 상기 스플릿 검출기(26, 28)의 중앙부를 덮는 이색성 코팅(33)을 구비한 것을 특징으로 하는 광학판독장치.
  19. 제 11 항에 있어서,
    각 스플릿 검출기(26, 28)는 상기 검출기의 중앙부로서 개별적인 검출기 세그먼트(34, 36)를 구비하고, 그것의 신호들은 외부 검출기 세그먼트(42, 44)로부터 발생한 신호들과 다르게 처리될 수 있는 것을 특징으로 하는 광학판독장치.
  20. 제 11 항에 있어서,
    각 스플릿 검출기(26, 28)는 상기 검출기의 중앙부로서 개별적인 검출기 세그먼트(34, 36)를 구비하고, 그것의 신호들은 상기 트랙킹 오류 신호를 발생하는데 사용되지 않는 것을 특징으로 하는 광학판독장치.
  21. 제 11 항에 있어서,
    상기 투사수단 및 상기 제거 및/또는 변경수단은 회절격자(30e)를 구비하고,
    상기 회절격자(30e)는 인접한 존 사이에 존 경계(90)를 갖는 복수의 존으로 구성되고,
    존 내부에서는, 복수의 교호 하이(86) 및 로우(88) 영역이 회절격자 표면 상의 직선의 평행선을 따라 연장되며, 상기 하이 및 로우 영역은 상기 직선의 평행선과 수직인 방향으로 일정한 폭을 갖고,
    상기 존 경계에서는, 2개의 인접한 영역이 2개의 하이 영역 또는 2개의 로우 영역이며,
    그것에 의해 종속 광 빔을 상기 제 1 기록층 상의 2개의 트윈 스폿으로 분리하는 것을 특징으로 하는 광학판독장치.
  22. 제 21 항에 있어서,
    2개의 다음 존 경계들(90) 사이의 폭 A 및 광축(84)과 가장 가까운 존 경 계(90) 사이의 거리 B에 대하여, 다음의 식이 적용되고,
    A = nt/((2j-1)sNA
    B=0
    여기서, j=1,2,3..., t는 상기 제 1 기록층 상의 2개의 트윈 스폿의 중심과 중앙 광빔 사이의 거리이고, n은 제 1 기록층과 제 2 기록층과의 사이의 스페이서층의 굴절률이며, s는 제 1 기록층과 제 2 기록층과의 사이의 스페이서층의 두께이며, NA는 광학판독장치(12)의 대물렌즈의 개구수인 것을 특징으로 하는 광학판독장치.
  23. 제 21 항에 있어서,
    2개의 다음 존 경계들(90) 사이의 폭 A 및 광축(84)과 가장 가까운 존 경계(90) 사이의 거리 B에 대하여, 다음의 식이 적용되고,
    A = nt/(2jsNA)
    B = nt/(4jsNA)
    여기서, j=1,2,3,..., t는 상기 제 1 기록층 상의 2개의 트윈 스폿의 중심과 중앙 광빔 사이의 거리이고, n은 제 1 기록층과 제 2 기록층과의 사이의 스페이서층의 굴절률이며, s는 제 1 기록층과 제 2 기록층과의 사이의 스페이서층의 두께이며, NA는 광학판독장치(12)의 대물렌즈의 개구수인 것을 특징으로 하는 광학판독장치.
  24. 청구항 11에 기재된 광학판독장치에 사용하는 회절격자로서,
    상기 회절격자(30e)는 인접한 존 사이에 존 경계(90)를 갖는 복수의 존으로 구성되고,
    존 내부에서는, 복수의 교호 하이(86) 및 로우(88) 영역이 상기 회절격자 표면 상의 직선의 평행선을 따라 연장되며, 상기 하이 및 로우 영역은 상기 직선의 평행선과 수직인 방향으로 일정한 폭을 갖고,
    상기 존 경계(90)에서는, 2개의 인접한 영역이 2개의 하이 영역(86) 또는 2개의 로우 영역(88)이며,
    그것에 의해 종속 광 빔을 상기 제 1 기록층 상의 2개의 트윈 스폿으로 분리하는 것을 특징으로 하는 회절격자.
  25. 제 24 항에 있어서,
    2개의 다음 존 경계들(90) 사이의 폭 A 및 광축(84)과 가장 가까운 존 경계(90) 사이의 거리 B에 대하여, 다음의 식이 적용되고,
    A = nt/((2j-1)sNA
    B=0
    여기서, j=1,2,3..., t는 상기 제 1 기록층 상의 2개의 트윈 스폿의 중심과 중앙 광빔 사이의 거리이고, n은 제 1 기록층과 제 2 기록층과의 사이의 스페이서층의 굴절률이며, s는 제 1 기록층과 제 2 기록층과의 사이의 스페이서층의 두께이며, NA는 광학판독장치(12)의 대물렌즈의 개구수인 것을 특징으로 하는 회절격자.
  26. 제 24 항에 있어서,
    2개의 다음 존 경계들(90) 사이의 폭 A 및 광축(84)과 가장 가까운 존 경계(90) 사이의 거리 B에 대하여, 다음의 식이 적용되고,
    A = nt/(2jsNA)
    B = nt/(4jsNA)
    여기서, j=1,2,3,..., t는 상기 제 1 기록층 상의 2개의 트윈 스폿의 중심과 중앙 광빔 사이의 거리이고, n은 제 1 기록층과 제 2 기록층과의 사이의 스페이서층의 굴절률이며, s는 제 1 기록층과 제 2 기록층과의 사이의 스페이서층의 두께이며, NA는 광학판독장치(12)의 대물렌즈의 개구수인 것을 특징으로 하는 회절격자.
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