CN101587412B

CN101587412B - 坐标检测装置及方法

Info

Publication number: CN101587412B
Application number: CN2009101408784A
Authority: CN
Inventors: 清水信吉; 近藤幸一; 广田四郎; 远藤孝夫
Original assignee: Fujitsu Component Ltd
Current assignee: Fujitsu Component Ltd
Priority date: 2008-05-20
Filing date: 2009-05-14
Publication date: 2011-05-25
Anticipated expiration: 2029-05-14
Also published as: US20090289643A1; US7940063B2; KR20090121206A; TWI384390B; JP5117279B2; TW200949660A; JP2009282608A; CN101587412A; KR101058827B1

Abstract

一种坐标检测装置，包括：设置于四边形衬底上的电阻膜；用于向电阻膜施加电压的电源；四个电极，被连接到电源并且被置于电阻膜的四个角上；四个开关，其每个都被置于电源与电极中的一个之间；四个安培计，其每个都被配置为测量流经相应的电极的电流；以及接地的导电膜，其被配置为当导电膜与电阻膜接触时检测电阻膜上的接触点的坐标。通过使开关开路和闭合，电压被顺序地施加于电极。当使导电膜与电阻膜接触时，安培计顺序地测量流经相应的电极的电流。根据电极的位置以及使用安培计测量的电流所得到的电阻，检测出接触点的坐标。

Description

坐标检测装置及方法

技术领域

本发明涉及坐标检测装置和坐标检测方法。

背景技术

触摸面板是用于计算机系统的输入装置的例子。触摸面板被安装于显示器上以检测显示器上的坐标位置并获得与坐标位置相对应的检测信号。面板允许直接输入并能够让用户容易和直观地输入。

已提出了各种触摸面板，包括电阻式触摸面板、光学触摸面板和电容耦合式触摸面板。在它们之中，具有简单的结构和控制系统的电阻式触摸面板被广泛应用。廉价的电阻式触摸面板包括，例如，四线、五线和八线触摸面板，其区别在于电极在电阻膜上如何排列。

与四线和八线触摸面板相比，五线触摸面板没有边缘滑动(edgesliding)这个四线和八线触摸面板的缺点。这是因为，在五线触摸面板中，设置在操作表面上的上部衬底的导电膜只被用于读出电势。因此，五线触摸面板被用于要求触摸面板具有耐久性的苛刻使用环境和市场。

图12表示了五线电阻式触摸面板的结构示意图。五线电阻式触摸面板1包括上部衬底11和下部衬底12。在下部衬底12中，在玻璃衬底21的整个表面上形成透明电阻膜22，并在透明电阻膜22上设置X轴坐标检测电极23和24以及Y轴坐标检测电极25和26。在上部衬底11中，在膜衬底31上形成透明电阻膜32，并在透明电阻膜32的顶上设置坐标检测电极33。

当在X轴坐标检测电极23和24上施加电压时，在下部衬底12的透明电阻膜22中，在X轴方向上获得电势分布。此刻，下部衬底12的透明电阻膜22中的电势被检测，由此检测出上部衬底11与下部衬底12相接触处的接触点的X坐标。接着，通过向Y轴坐标检测电极25和26施加电压，在下部衬底12的透明电阻膜22中，在Y轴方向上获得电势分布。此刻，下部衬底12的透明电阻膜22中的电势被检测，由此检测出接触点的Y坐标。

专利文献1公开了具有改善了的坐标位置检测精度的这类坐标检测装置。

【专利文献1】日本特开平10-83251

专利文献1的坐标检测装置能在以单点形成接触时进行精确检测；然而，如果在两个点处形成接触，那么坐标检测装置不能区分这两点，因而根本无法检测这两个接触点。尽管已经提出了用于检测两个接触点的方法，但是很多情况下是通过分割透明电阻膜来解决该问题的。分割透明电阻膜使分割边界显得突兀，导致美观性降低。这类美观上的降低对于触摸面板和其它显示面板可能是致命的，因而，需要不用分割透明电阻膜就能检测两个接触点的方法。

发明内容

考虑到上述问题，本发明旨在提供即使在两个点做出接触时也能检测坐标位置并且不损害美观的坐标检测装置和坐标检测方法。

本发明的一个方面可以是一种坐标检测装置，包括：设置于由绝缘材料制成的四边形衬底上的电阻膜；被配置为向电阻膜施加电压的电源；四个电极，其每个都被连接到电源并且分别被置于电阻膜的四个角上；四个开关，其每个都被分别置于电源与电极中的一个之间；四个安培计，其每个都被配置为测量流经相应的一个电极的电流；以及接地的导电膜，其被配置为当导电膜与电阻膜接触时检测电阻膜上的接触点的坐标。通过使开关开路和闭合，电压被顺序地施加于电极。当使导电膜与电阻膜接触时，每个安培计顺序地测量流经相应的一个电极的电流。根据电极的位置以及使用安培计测量的电流所得到的电阻，检测出接触点的坐标。

本发明的另一个方面可以是一种应用于坐标检测装置的坐标检测方法，坐标检测装置包括：设置于由绝缘材料制成的四边形衬底上的电阻膜；被配置为向电阻膜施加电压的电源；四个电极，包括第一电极、第二电极、第三电极和第四电极，其每个都被连接到电源并且分别被设置于电阻膜的四个角上；四个开关，包括设置于电源与第一电极之间的第一开关、设置于电源与第二电极之间的第二开关、设置于电源与第三电极之间的第三开关、和设置于电源与第四电极之间的第四开关；四个安培计，包括与第一开关串联连接并被配置为测量流经第一电极的第一电流的第一安培计、与第二开关串联连接并被配置为测量流经第二电极的第二电流的第二安培计、与第三开关串联连接并被配置为测量流经第三电极的第三电流的第三安培计、和与第四开关串联连接并被配置为测量流经第四电极的第四电流的第四安培计；以及接地的导电膜，其被配置为当导电膜与电阻膜接触时检测电阻膜上接触点的坐标。坐标检测方法包括：第一测量步骤，其中只将第一开关闭合，向电阻膜施加电压，并使得第一安培计测量第一电流；第二测量步骤，其中将第一开关开路，然后只将第二开关闭合，向电阻膜施加电压，并使得第二安培计测量第二电流；第三测量步骤，其中将第二开关开路，然后只将第三开关闭合，向电阻膜施加电压，并使得第三安培计测量第三电流；第四测量步骤，其中将第三开关开路，然后只将第四开关闭合，向电阻膜施加电压，并使得第四安培计测量第四电流；第一计算步骤，其中计算电阻值，其中每个电阻值分别基于第一电流、第二电流、第三电流和第四电流中的一个而得到；以及第二计算步骤，其中基于所计算的电阻值计算电阻膜上单个接触点或两个接触点的坐标。

附图说明

图1为第一实施方式的坐标检测装置的透视图；

图2为第一实施方式的坐标检测装置的横截面视图；

图3为第一实施方式的坐标检测方法的流程图；

图4为表示根据第一实施方式的坐标检测方法的检测过程的示意图(1)；

图5为表示根据第一实施方式的坐标检测方法的检测过程的示意图(2)；

图6为表示根据第一实施方式的坐标检测方法的检测过程的示意图(3)；

图7为表示根据第一实施方式的坐标检测方法的检测过程的示意图(4)；

图8为表示第一实施方式的坐标检测方法的过程的正视图；

图9为表示第一实施方式的坐标检测装置的修改的正视图；

图10为表示根据第二实施方式的坐标检测装置的检测过程的示意图(1)；

图11为表示根据第二实施方式的坐标检测装置的检测过程的示意图(2)；以及

图12表示了五线电阻式触摸面板的结构。

具体实施方式

接下来就描述实现本发明的最佳方式的实施方式进行说明。实施方式涉及坐标检测装置。

(a)第一实施方式

第一实施方式涉及即使在两个点处发生接触时也能够检测坐标位置的坐标检测装置和坐标检测方法。

[坐标检测装置]

参考图1和2具体说明本实施方式的坐标检测装置。图1和2分别为本实施方式的坐标检测装置的透视图和横截面视图。

本发明的坐标检测装置包括上部衬底110和下部衬底120。上部衬底110为矩形的、柔性的、透射可见光的透明衬底，并且在与下部衬底120相对置的表面上具有透明导电膜111，该透明导电膜111透射可见光并具有导电性。另一方面，下部衬底120为矩形的、透射可见光的透明衬底，并且在与上部衬底110相对置的表面上具有透明电阻膜121，该透明电阻膜121透射可见光。注意，上部衬底110和下部衬底120在图1中未图示。

用于向透明电阻膜121施加电压的四个电极被设置于下部衬底120上的透明电阻膜121的四个角上。具体地说，第一电极131、第二电极132、第三电极133和第四电极134被置于透明电阻膜121的四个角上。对于这四个电极中的每一个都提供开关，用于控制向电极施加电压。具体地说，第一开关141、第二开关142、第三开关143和第四开关144被分别连接到第一电极131、第二电极132、第三电极133和第四电极134。另外，对于每个电极提供作为电流测量装置的安培计，用于测量流经电极的电流。即，第一安培计151、第二安培计152、第三安培计153和第四安培计154被分别连接到相应的开关141到144。每个安培计151到154都被连接到用于施加电压Vo的电源。

根据本实施方式的坐标检测装置，当接地的上部衬底110被手指或其它诸如此类按压时，下部衬底120与上部衬底110彼此接触。即，下部衬底120的透明电阻膜121与上部衬底110的透明导电膜111彼此接触，由此，下部衬底120的透明电阻膜121上的接触点处的电势变为0[V]。从具有电压Vo的电源施加电压，并且测量经过每个安培计151到154的电流量以检测接触点。图1表示了在两点处的接触，更确切地说，抽象地表示了在第一接触点101和第二接触点102处的接触。

为了检测这样的接触点，上部衬底110的透明导电膜111的薄层电阻低于下部衬底120的透明电阻膜121的薄层电阻。即，为了让下部衬底120的透明电阻膜121上的接触点处的电势尽可能接近0[V]，有必要降低上部衬底110的透明导电膜111的电阻。基于发明人的经验，透明导电膜111的薄层电阻需要为透明电阻膜121的薄层电阻的1/10或更小。发明者依其经验发现，如果不满足该条件，那么本实施方式的坐标检测装置在检测精度上显著降低从而无法执行接触点的检测。

为了实现上述功能，透明导电膜111由包含铟锡氧化物(ITO)、导电聚合物、SnO₂、In₂O₃或ZnO的材料制成，所有这些材料在可见光范围内都是透光的。另外，为了允许上部衬底的透明导电膜111和下部衬底120的透明电阻膜121通过用手指或其它诸如此类的按压而彼此接触，上部衬底110需要由柔性材料制成。具体地说，上部衬底110可以由，例如，聚碳酸酯(PC)、聚对苯二甲酸乙二醇酯(PET)、玻璃、聚烯烃、或微烯烃聚合物制成。

[坐标检测方法]

接下来参考图1说明本实施方式的坐标检测方法。

以下说明了在上述坐标检测装置中，在第一和第二接触点101和102两点处接触的情况。即，用手指或其它诸如此类在上部衬底110上按压两个点，使得上部衬底110的透明导电膜111和下部衬底120的透明电阻膜121在第一和第二接触点101和102处彼此接触。

首先，在步骤S102中，电压Vo被施加到第一电极131。具体地说，如图4所示，只有第一开关141被开启而第二、第三和第四开关142、143和144被关断。这样，具有电压Vo的电源通过第一安培计151被连接到第一电极131。

此刻，上部衬底110的透明导电膜111和下部衬底120的透明电阻膜121在两个点101和102处彼此接触，并且透明导电膜111被接地。因此，来自具有电压Vo的电源的电流通过第一安培计151流经第一电极131，然后经过第一接触点101并经过第二接触点102，并且最终到达透明导电膜111。

接下来在步骤S104中，测量流经第一安培计151的电流I1的量。严格意义上说，由第一安培计151所检测的电流值是从第一电极131流到第一接触点101的电流和从第一电极131流到第二接触点102的电流的总和。然而，在两个电流中，流到更接近于第一电极131的接触点的电流是主要的，因此在该情况下，流经第一接触点101的电流是主要的，如图4所示。因而，此处，流经第二接触点102的电流被忽略并且由第一安培计151所测量的电流I1被假定是流经第一接触点101的电流。如下所述，即使用这样的假设，也能充分确保坐标检测装置的功能。这样，电流I1被认为是流经位于第一电极131与第一接触点101之间的透明电阻膜121的电流。如下所述，使用电压为Vo的电源和由第一安培计151所测量的电流I1，计算出位于第一电极131与第一接触点101之间的透明电阻膜121的电阻R1。

注意，根据本实施方式所述的坐标检测装置被用在触摸面板或其它诸如此类中，并且被设计为要用手指或其它诸如此类按压。因此，坐标检测装置在点检测方面不必具有极高的精度，只要能检测粗略的接触位置，在功能上就足够了。因此，在两个点处接触的情况下，即使假定电流只流经具有主要的电流的接触点，坐标检测装置也充分满足其功能。

接下来，在步骤S106中，电压Vo被施加到第二电极132。具体地说，如图5所示，只有第二开关142被开启而第一、第三和第四开关141、143和144被关断。这样，具有电压Vo的电源通过第二安培计152被连接到第二电极132。

此刻，上部衬底110的透明导电膜111与下部衬底120的透明电阻膜121在两个点101和102处彼此接触，并且透明导电膜111被接地。因此，来自具有电压Vo的电源的电流通过第二安培计152流经第二电极132，然后经过第一接触点101并经过第二接触点102，并且最终到达透明导电膜111。

接下来，在步骤S108中，测量流经第二安培计152的电流I2的量。严格意义上说，由第二安培计152所检测的电流值是从第二电极132流到第一接触点101的电流与从第二电极132流到第二接触点102的电流的总和。然而，在这两个电流中，流到更接近于第二电极132的接触点的电流是主要的，因此在该情况下，流经第一接触点101的电流是主要的，如图5所示。因而，此处，流经第二接触点102的电流被忽略并且由第二安培计152所测量的电流I2被假定是流经第一接触点101的电流。如上所述，即使用这样的假设，也能充分确保坐标检测装置的功能。因而，电流I2被认为是流经位于第二电极132与第一接触点101之间的透明电阻膜121的电流。如下所述，使用电压为Vo的电源和由第二安培计152所测量的电流，计算出位于第二电极132与第一接触点101之间的透明电阻膜121的电阻R2。

接下来，在步骤S110中，电压Vo被施加到第三电极132。具体地说，如图6所示，只有第三开关143被开启而第一、第二和第四开关141、142和144被关断。这样，具有电压Vo的电源通过第三安培计153被连接到第三电极133。

此刻，上部衬底110的透明导电膜111与下部衬底120的透明电阻膜121在两个点101和102处彼此接触，并且透明导电膜111被接地。因此，来自具有电压Vo的电源的电流通过第三安培计153流经第三电极133，然后经过第一接触点101并经过第二接触点102，并且最终到达透明导电膜111。

接下来，在步骤S112中，测量流经第三安培计153的电流I3的量。严格意义上说，由第三安培计153所检测的电流值是从第三电极133流到第一接触点101的电流与从第三电极133流到第二接触点102的电流的总和。然而，在这两个电流中，流到更接近于第三电极133的接触点的电流是主要的，因此在该情况下，流经第二接触点102的电流是主要的，如图6所示。因而，此处，流经第一接触点101的电流被忽略并且由第三安培计153所测量的电流I3被假定是流经第二接触点102的电流。如上所述，即使用这样的假设，也能充分确保坐标检测装置的功能。这样，电流I3被认为是流经位于第三电极133与第二接触点102之间的透明电阻膜121的电流。如下所述，使用电压为Vo的电源和由第三安培计153所测量的电流，计算出位于第三电极133与第二接触点102之间的透明电阻膜121的电阻R3。

接下来，在步骤S114中，电压Vo被施加到第四电极134。具体地说，如图7所示，只有第四开关144被开启而第一、第二和第三开关141、142和143被关断。这样，具有电压Vo的电源通过第四安培计154被连接到第四电极134。

此刻，上部衬底110的透明导电膜111与下部衬底120的透明电阻膜121在两个点101和102处彼此接触，并且透明导电膜111被接地。因此，来自具有电压Vo的电源的电流通过第四安培计154流经第四电极134，然后经过第一接触点101并经过第二接触点102，并且最终到达透明导电膜111。

接下来，在步骤S116中，测量流经第四安培计154的电流I4的量。严格意义上说，由第四安培计154所测量的电流值是从第四电极134流到第一接触点101的电流与从第四电极134流到第二接触点102的电流的总和。然而，在这两个电流中，流到更接近于第四电极134的接触点的电流是主要的，因此在该情况下，流经第二接触点102的电流是主要的，如图7所示。因而，此处，流经第一接触点101的电流被忽略并且由第四安培计154所测量的电流I4被假定是流经第二接触点102的电流。如上所述，即使用这样的假设，也能充分确保坐标检测装置的功能。这样，电流I4被认为是流经位于第四电极134与第二接触点102之间的透明电阻膜121的电流。如下所述，使用电压为Vo的电源和由第四安培计154所测量的电流，计算出位于第四电极134与第二接触点102之间的透明电阻膜121的电阻R4。

接下来，在步骤S118中，使用所测量的电流来计算电阻。具体地说，使用由第一安培计151所测量的电流I1，通过以下方程：R1＝Vo/I1来计算电阻R1。类似地，使用由第二安培计152所测量的电流I2，通过R2＝Vo/I2计算电阻R2；使用由第三安培计153所测量的电流I3，通过R3＝Vo/I3计算电阻R3；使用由第四安培计154所测量的电流I4，通过R4＝Vo/I4计算电阻R4。

接下来，在步骤S120中，使用在步骤S118中所得到的电阻来计算第一接触点101和第二接触点102的坐标位置。即，流经第一接触点101的电流为I1和I2，因而，基于电阻值R1和R2来计算第一接触点101的坐标位置。

具体地说，预先地，在第一电极131与第二电极132之间流过电流，使用流过的电流的值来测量第一电极131和第二电极132之间的电阻值R12。注意，第一电极131的边缘与第二电极132的边缘之间的距离L12是在制造本实施方式的坐标检测装置时指定的。

在透明电阻膜121的电阻值与电流所经过的距离之间存在相关性。也就是说，电流所经过的距离与该距离上的电阻是成比例的。因此，第一电极131与第一接触点101之间的距离L1可以基于电阻R12、第一电极131与第二电极132之间的距离L12、以及电阻R1而得到。同样地，第二电极132与第一接触点101之间的距离L2可以基于电阻R12、第一电极131与第二电极132之间的距离L12、以及电阻R2而得到。

具体地说，如图8所示，L1、L2和L12的值可以根据L1＝(L12/R12)×R1和L2＝(L12/R12)×R2而得到。然后，使用余弦律得到L1和L2之间的角度α1，由此计算出第一接触点101的坐标位置。

类似地，预先地，在第三电极133与第四电极134之间流过电流，使用流过的电流的值来测量第三电极133与第四电极134之间的电阻R34。注意，第三电极133的边缘与第四电极134的边缘之间的距离L34是在制造本实施方式的坐标检测装置时指定的。

第三电极133与第二接触点102之间的距离L3可以基于电阻R34、第三电极133与第四电极134之间的距离L34、以及电阻R3而得到。同样地，第四电极134与第二接触点102之间的距离L4可以基于电阻R34、第三电极133与第四电极134之间的距离L34、以及电阻R4而得到。

具体地说，如图8所示，L3、L4和L34的值可以根据L3＝(L34/R34)×R3和L4＝(L34/R34)×R4来得到。然后，使用余弦律得到L3与L4之间的角度α2，由此计算出第二接触点102的坐标位置。

通过重复步骤S102到S120，可以连续检测两个接触点。注意，根据本实施方式，不仅在两点接触时，而且在单点接触时，通过同样的方法检测接触点的坐标位置。在这种情况下，从第一电极131、第二电极132、第三电极133和第四电极134之中，选择具有较高电流值的两个电极，即具有较低电阻值的两个电极。使用由所述两个电阻值计算出的距离，根据余弦律得到角度。这样，在单点接触时也可以计算出接触点的坐标位置。

选择具有较低电阻值的电极的原因是，这样的电极更靠近接触点，因而，有助于高精度的点检测。特别地，具有最低电阻值的电极最靠近接触点，因而有助于更高精度的点检测。在此情况下，要在具有最低电阻的电极之后被选择的电极是与最低电阻的电极相邻的电极任一个，并将其电阻值用于上述计算。这是因为，通常来说，经常的情况是接触点偏离坐标检测装置的中心的情况，在接触点靠近最低电阻的电极的情况下，与最低电阻的电极相邻的电极的任一个也靠近接触点。

根据本实施方式，能够确定是在单点处还是在两点处形成了接触。具体地说，在根据上述坐标检测方法计算每个电阻之后，计算电阻值的倒数之和。即，基于电阻R1、R2、R3和R4为并联连接的假设，计算组合的电阻。在两点接触的情况下，组合的电阻比单点接触时的低，并且低于单点接触时组合的电阻范围。因此，可以基于组合的电阻值判断是单点接触还是两点接触。

注意，在本实施方式中，透明电阻膜由ITO制成；然而，可以使用包括氧化铟、氧化锡或氧化锌的、在可见光范围内透光的材料，来实现类似的效果。另外，可以在从两个相邻电极之间的线向内偏移的区域中形成电阻膜去除区域150，如图9所示，以得到第一电极131与第二电极132之间的电阻R12、第二电极132与第三电极133之间的电阻R23、第三电极133与第四电极134之间的电阻R34、以及第四电极134与第一电极131之间的电阻R41的更精确的值。因此，两个相邻电极之间的电流按线性方式流过，并能得到更精确的电极之间的电阻。

(b)第二实施方式

接下来说明第二实施方式。本实施方式涉及使用第一实施方式所述的坐标检测装置进行更高精度的点检测的坐标检测方法。一般来说，当坐标检测装置被用作触摸面板时，用手指或其它诸如此类接触的点被检测。在用手指或其它诸如此类接触的情况下，很少有同时在两个点处发生接触的情况，在大多数情况下，第二接触是在第一接触的稍后做出的。

因此，通过检测第一接触点，然后基于第一接触点的信息和随后的测量结果检测第二接触点，能够用更高的精度检测这两个点。

具体地说，在第一接触点处101发生第一接触并且在第二接触点102处发生第二接触的情况下，利用第一实施方式所述的坐标检测方法(第一测量)检测第一接触点101的坐标位置。随后，在第二接触点102发生第二接触之后，利用第一实施方式所述的坐标检测方法(第二测量)检测第二接触点102的坐标位置，然后计算电阻。

在对触摸面板的通常操作中，经常的情况是当在第二接触点102发生第二接触时第一接触没有从第一接触点101大幅移开的情况。即使第一接触移开，也能通过在第二接触之前立刻进行第一测量来维持精度。因此，能够使用用于计算第一接触点101坐标位置的电阻(第一测量的电阻)和通过第二测量所得到的电阻来检测第二接触点102的坐标位置。

参考图10和11解释这些过程。

在首先仅在第一接触点101处发生接触的情况下，如图10所示，根据上述第一测量得到以下电阻值：从第一电极131到第一接触点101的透明电阻膜121的电阻R1F；从第二电极132到第一接触点101的透明电阻膜121的电阻R2F；从第三电极133到第一接触点101的透明电阻膜121的电阻R3F；从第四电极134到第一接触点101的透明电阻膜121的电阻R4F。如上述第一实施方式中所述，从这些电阻中间，选择两个电阻最低的电阻，基于所选择的电阻得到角度α1。于是，检测出第一接触点101的坐标位置。

假设然后在第二接触点102处发生接触，如图11所示。也就是说，在两个点即第一接触点101和第二接触点102处发生了接触。此刻，进行第二测量以得到：透明电阻膜121的组合电阻R1G，该组合电阻R1G为从第一电极131到第一接触点101的电阻与从第一电极131到第二接触点102的电阻之和；透明电阻膜121的组合电阻R2G，该组合电阻R2G为从第二电极132到第一接触点101的电阻与从第二电极132到第二接触点102的电阻之和；透明电阻膜121的组合电阻R3G，该组合电阻R3G为从第三电极133到第一接触点101的电阻与从第三电极133到第二接触点102的电阻之和；透明电阻膜121的组合电阻R4G，该组合电阻R4G为从第四电极134到第一接触点101的电阻与从第四电极134到第二接触点102的电阻之和。

此处，从第一电极131到第二接触点102的透明电阻膜121的电阻用R1L表示；从第二电极132到第二接触点102的透明电阻膜121的电阻用R2L表示；从第三电极133到第二接触点102的透明电阻膜121的电阻用R3L表示；从第四电极134到第二接触点102的透明电阻膜121的电阻用R4L表示。上述组合电阻可以被假定为并联连接，于是电阻R1L到R4L由下列方程得到：

R1L＝(R1×R1F)/(R1F-R1)；

R2L＝(R2×R2F)/(R2F-R2)；

R3L＝(R3×R3F)/(R3F-R3)；以及

R4L＝(R4×R4F)/(R4F-R4)。

基于所得到的电阻R1L到R4L，通过与第一实施方式的步骤S120相同的过程得到角度α2，并且计算出第二接触点的坐标位置102。这样，检测出两个点101和102的坐标位置。

注意，在本实施方式中，需要考虑在第一接触点101接触之后直到在第二接触点102接触为止所花的时间来决定对第一电极131、第二电极132、第三电极133和第四电极134的电压施加周期。

总之，根据本发明的一个方面，即使在两个点发生接触时也能检测每个接触点的坐标位置。

虽然以上说明了本发明的实施方式，但是显然，每个实施方式仅仅是示例性的，而并无意于将本发明不恰当地限于所示的实施方式。

本专利申请是基于2008年5月20日提交的第2008-131940号在先日本专利申请，其全部内容通过引用而在本文中所包含。

Claims

1.一种坐标检测装置，包括：

设置于由绝缘材料制成的四边形衬底上的电阻膜；

被配置为向所述电阻膜施加电压的电源；

四个电极，其每个都被连接到所述电源并且分别被设置于所述电阻膜的四个角上；

四个开关，其每个都被分别置于所述电源与所述电极中的一个之间；

四个安培计，其每个都被配置为测量流经所述电极中相应的一个电极的电流；以及

接地的导电膜，其被配置为当该导电膜与所述电阻膜接触时检测所述电阻膜上的接触点的坐标，

其中，通过使所述开关断开和闭合，所述电压被顺序地施加于所述电极，

当使所述导电膜与所述电阻膜接触时，每个所述安培计顺序地测量流经所述电极中相应的一个电极的电流，以及

根据所述电极的位置以及使用所述安培计测量的电流所得到的电阻，检测出所述接触点的坐标。

2.如权利要求1中所述的坐标检测装置，其中，所述导电膜与所述电阻膜之间的接触是在所述电阻膜上的单点或两点处发生的。

3.如权利要求1中所述的坐标检测装置，其中，所述导电膜是由在可见光范围内透光的材料制成，并且其薄层电阻比所述电阻膜的薄层电阻低。

4.如权利要求1中所述的坐标检测装置，其中，沿着所述电阻膜的四条边设置有电阻膜去除区域，在该电阻膜去除区域中，从所述衬底上去除了所述电阻膜。

5.如权利要求1中所述的坐标检测装置，其中，所述导电膜由包含铟锡氧化物ITO、导电聚合物、SnO₂、In₂O₃和ZnO中的一种的材料制成。

6.如权利要求1中所述的坐标检测装置，其中，所述导电膜被设置于由聚碳酸酯、聚对苯二甲酸乙二醇酯、玻璃、聚烯烃和微烯烃聚合物中的一种制成的衬底上。

7.一种应用于坐标检测装置的坐标检测方法，所述坐标检测装置包括：

设置于由绝缘材料制成的四边形衬底上的电阻膜；

被配置为向所述电阻膜施加电压的电源；

四个电极，包括第一电极、第二电极、第三电极和第四电极，其每个都被连接到所述电源并且分别被设置于所述电阻膜的四个角上；

四个开关，包括设置于所述电源与所述第一电极之间的第一开关、设置于所述电源与所述第二电极之间的第二开关、设置于所述电源与所述第三电极之间的第三开关、和设置于所述电源与所述第四电极之间的第四开关；

四个安培计，包括与所述第一开关串联连接并被配置为测量流经所述第一电极的第一电流的第一安培计、与所述第二开关串联连接并被配置为测量流经所述第二电极的第二电流的第二安培计、与所述第三开关串联连接并被配置为测量流经所述第三电极的第三电流的第三安培计、和与所述第四开关串联连接并被配置为测量流经所述第四电极的第四电流的第四安培计；以及

接地的导电膜，其被配置为当该导电膜与所述电阻膜接触时检测所述电阻膜上接触点的坐标，

所述坐标检测方法包括：

第一测量步骤，其中只将所述第一开关闭合，向所述电阻膜施加所述电压，并使得所述第一安培计测量所述第一电流；

第二测量步骤，其中将所述第一开关开路，然后只将所述第二开关闭合，向所述电阻膜施加所述电压，并使得所述第二安培计测量所述第二电流；

第三测量步骤，其中将所述第二开关开路，然后只将所述第三开关闭合，向所述电阻膜施加所述电压，并使得所述第三安培计测量所述第三电流；

第四测量步骤，其中将所述第三开关开路，然后只将所述第四开关闭合，向所述电阻膜施加所述电压，并使得第四安培计测量第四电流；

第一计算步骤，计算电阻，所计算的每个电阻分别基于所述第一电流、所述第二电流、所述第三电流和所述第四电流中的一个而得到；以及

第二计算步骤，基于所计算出的电阻，计算所述电阻膜上的单个接触点或两个接触点的坐标。

8.如权利要求7中所述的坐标检测方法，其中，在所述第二计算步骤中，基于所计算出的电阻中的两个电阻来计算单个接触点的坐标，所述两个电阻包含所计算出的电阻中最低的电阻和与对应于该最低电阻的电极相邻的电极中的一个所对应的电阻。

9.如权利要求7中所述的坐标检测方法，其中，计算并联连接的所述计算出的电阻的组合电阻，并且基于所述组合电阻确定所述导电膜与所述电阻膜之间的接触是单点接触还是两点接触。