CN101427144A - 测试信号发生装置 - Google Patents
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Abstract
本发明的目的在于提供一种能够产生用于对动态地转移状态的被测试装置进行测试的测试信号的测试信号发生装置。本发明的测试信号发生装置包括：模式存储单元(20)，存储多个模式；模式选择单元(23)，从多个模式中选择一个模式；测试信号发生单元(25)，产生具有模式选择单元(23)所选择的模式的测试信号；触发信号接收单元(21)，接收至少1种触发信号；以及模式映射存储单元(22)，对各个模式存储表示使测试信号发生单元(25)反复产生具有该模式的测试信号的次数、以及在使测试信号发生单元(25)反复产生具有该模式的测试信号的途中，触发信号接收单元(21)接收到了触发信号时，模式选择单元(23)对该触发信号的每个种类的动作等的模式映射。
Description
技术领域
本发明涉及测试信号发生装置，特别涉及产生用于对被测试装置进行测试的测试信号的测试信号发生装置。
背景技术
作为以往的测试信号发生装置，有以下这样的装置，即设置产生测试信号的模式(pattern)的多个模式发生模块，主序列发生器(main sequencer)按照次序程序(sequence program)顺序选择模式发生模块，并使选择的模式发生模块产生模式，从而产生具有用于对各种各样的被测试装置进行测试的模式的测试信号(例如，参照专利文献1)。
专利文献1：特开平11-64469号公报
发明内容
发明所要解决的课题
但是，以往的测试信号发生装置在主序列发生器执行次序程序的期间，不能动态地改变产生的测试信号的模式，所以存在以下问题，即无法产生根据接收到的信号等动态地转移状态的、用于测试被测试装置的测试信号。
本发明为了解决以往的问题而完成，其目的在于提供一种能够产生动态地转移状态的、用于测试被测试装置的测试信号的测试信号发生装置。
用于解决课题的方案
本发明的测试信号发生装置其包括：测试信号发生单元(25)，产生测试信号；模式存储单元(20)，存储所述测试信号的多个模式；模式映射存储单元(22)，对所述各个模式，存储使所述测试信号发生单元反复产生具有该模式的测试信号的次数、以及在反复产生了该次数的具有该模式的测试信号后，决定使所述测试信号发生单元产生的测试信号的模式的模式映射；以及模式选择单元(23)，按照所述模式映射，从所述多个模式选择使所述测试信号发生单元产生的测试信号的模式，所述测试信号发生装置具有以下结构，即还包括触发信号接收单元(21)，接收至少1种触发信号，所述模式映射还表示按所述每个模式与所述触发信号的种类对应的模式，在所述测试信号发生单元按照所述模式映射反复产生所述次数的、具有由所述模式选择单元所选择的模式的测试信号的途中，当所述触发信号接收单元接收到了所述触发信号时，所述模式选择单元根据所述模式映射来选择与该触发信号相对应的模式。
根据该结构，本发明的测试信号发生装置可以根据触发信号的类别而动态地改变测试信号的模式，因此可以产生动态地转移状态的、用于测试被测试装置的测试信号。
此外，所述触发信号接收单元也可以接收通过被测试信号验证装置验证的结果作为所述触发信号，所述被测试信号验证装置验证由接收了所述测试信号的被测试装置所发送的被测试信号。
根据该结构，本发明的测试信号发生装置可以根据被测试信号验证装置的验证结果动态地改变测试信号的模式。
此外，本发明的设备测试系统包括：测试信号发生装置，产生用于发送到被测试装置(3)的测试信号；以及被测试信号验证装置，验证由接收了所述测试信号的所述被测试装置所发送的被测试信号，所述测试信号发生装置包括：测试信号发生单元(25)，产生测试信号；模式存储单元(20)，存储所述测试信号的多个模式；模式映射存储单元(22)，对所述各个模式，存储使所述测试信号发生单元反复产生具有该模式的测试信号的次数、以及在反复产生了该次数的具有该模式的测试信号后，决定使所述测试信号发生单元产生的测试信号的模式的模式映射；以及模式选择单元(23)，按照所述模式映射，从所述多个模式选择使所述测试信号发生单元产生的测试信号的模式，所述被测试信号验证装置包括：参照模式存储单元(30)，存储与所述多个模式分别对应的多个参照模式，所述设备测试系统具有以下结构，即所述测试信号发生装置还包括：触发信号接收单元(21)，接收至少1种触发信号；以及模式信息发送单元(24)，将表示由所述模式选择单元选择的模式的模式信息发送到所述被测试信号验证装置，所述被测试信号验证装置还包括：被测试信号验证单元(33)，基于与所述模式信息发送单元所发送的模式信息表示的模式对应的参照模式，验证通过所述被测试装置发送的被测试信号，所述模式映射还表示按所述每个模式与所述触发信号的种类对应的模式，在所述测试信号发生单元按照所述模式映射反复产生所述次数的、具有由所述模式选择单元所选择的模式的测试信号的途中，当所述触发信号接收单元接收到了所述触发信号时，所述模式选择单元根据所述模式映射来选择与该触发信号相对应的模式。
根据该结构，本发明的设备测试系统可以根据触发信号的类别而动态地改变使测试信号发生装置产生的测试信号的模式，因此可以对动态地转移状态的被测试装置进行测试。
此外，也可以包括触发信号发送单元，在所述被测试信号验证装置通过所述被测试信号验证单元检测出了所述被测试信号的误码时，以及所述被测试信号的至少一部分与预先决定的至少一个对照模式一致时，对每个事项发送不同的所述触发信号。
根据该结构，本发明的设备测试系统可以根据被测试信号验证装置的验证结果动态地改变使测试信号发生装置产生的测试信号。
此外，本发明的测试信号发生程序用于使测试信号发生装置产生测试信号，其中，所述测试信号发生程序对所述测试信号发生装置中预先存储的多个模式的每一个，指定使所述测试信号发生装置反复产生具有该模式的测试信号的次数；在使所述测试信号发生装置反复产生具有该模式的测试信号的途中接收到了触发信号时，所述测试信号发生装置对该触发信号的每个种类的动作；以及在使所述测试信号发生装置反复产生具有该模式的测试信号的途中没有接收到所述触发信号时，重复产生结束后的所述测试信号发生装置的动作。
根据该程序，可以根据触发信号的类别而动态地改变使测试信号发生装置产生的测试信号的模式，因此可以使测试信号发生装置产生动态地转移状态的、用于测试被测试装置的测试信号。
发明效果
本发明能够提供可产生动态地转移状态的、用于测试被测试装置的测试信号的测试信号发生装置。
附图说明
图1是本发明一实施方式的设备测试系统的方框图。
图2是表示构成本发明一实施方式的设备测试系统的测试信号发生装置存储的模式以及模式映射的例子的示意图。
图3是构成本发明一实施方式的设备测试系统的显示装置上所显示的模式以及模式映射的编辑画面的图像。
图4是表示构成本发明一实施方式的设备测试系统的被测试信号验证装置存储的参照模式以及对照模式的一例的示意图。
图5是表示构成本发明一实施方式的设备测试系统的测试信号发生装置的动作的流程图。
图6是表示构成本发明一实施方式的设备测试系统的被测试信号验证装置的动作的流程图。
标号说明
1 设备测试系统
2 输入输出装置
3 被测试装置
4 测试信号发生装置
5 被测试信号验证装置
10 输入装置
11 显示装置
12 CPU
20 模式存储单元
21 触发信号接收单元
22 模式映射存储单元
23 模式选择单元
24 模式信息发送单元
25 测试信号发生单元
30 参照模式存储单元
31 对照模式存储单元
32 同步单元
33 被测试信号验证单元
34 验证结果发送单元
35 触发信号发送单元
具体实施方式
以下，参照附图说明本发明的实施方式。
图1表示本发明一实施方式的设备测试系统。
设备测试系统1包括：输入输出装置2；产生用于对被测试装置3进行测试的测试信号的测试信号发生装置4；以及验证由接收了测试信号的被测试装置3所发送的被测试信号的被测试信号验证装置5。
输入输出装置2具有由键盘或指示设备(pointing device)等构成的输入装置10、显示装置11和执行用于控制设备测试系统1的程序的CPU(CentralProcessing Unit)12。另外，输入输出装置2也可以由外装在设备测试系统1上的计算机装置构成。
测试信号发生装置4包括：存储多个模式的模式存储单元20；接收触发信号的触发信号接收单元21；对各个模式，存储表示使测试信号发生单元25反复产生具有该模式的测试信号的次数、在使测试信号发生单元25反复产生具有该模式的测试信号的途中在触发信号接收单元21接收到了触发信号时，模式选择单元23对该触发信号的每个种类的动作、以及在使测试信号发生单元25反复产生具有该模式的测试信号的途中在触发信号接收单元21没有接收到触发信号时，重复产生结束后的模式选择单元23的动作的模式映射的模式映射存储单元22；基于模式映射存储单元22所存储的模式映射和触发信号接收单元21中所接收到的触发信号的种类，从多个模式选择一个模式的模式选择单元23；将表示通过模式选择单元23选择的模式的模式信息发送到被测试信号验证装置5的模式信息发送单元24；产生具有模式选择单元23所选择的模式的测试信号的测试信号发生单元25。
模式存储单元20由RAM(Random Access Memory)等存储介质构成，如图2(a)所示，模式存储单元20中存储了用于测试被测试装置3的多个模式。另外，在本实施方式中，将模式存储单元20中存储的模式数设为128，但并非要限定该数。这里，Length参数表示该模式的模式长度。此外，模式存储单元20中存储的模式也可以重复。
在图1中，触发信号接收单元21接收通过输入输出装置2、被测试装置3以及被测试信号验证装置5等发送的触发信号。这里，作为触发信号的类别，外部输入(Ext.)、输入到输入输出装置2的用户操作(Manual)、在被测试信号验证装置5预先设定的用于模式映射的各个对照模式的检测(A、B)、被测试装置3中的差错产生的检测等。
外部输入表示触发，该触发对应于被测试装置3和被测试信号验证装置5相对于测试信号发生装置4的连接状态，例如表示被测试装置3的状态变化，或者基于被测试信号验证装置5的被测试信号的验证结果等。
另外，在本实施方式中，触发信号接收单元21由模式选择单元23、模式信息发送单元24以及测试信号发生单元25被一体编程的FPGA(FieldProgrammable Gate Array)构成。
模式映射存储单元22由RAM等存储介质构成，在模式映射存储单元22中存储了如图2(b)所示的模式映射。模式映射构成使测试信号发生装置4执行的测试信号发生程序，对测试信号的每个模式，根据触发信号的类别来指定接着要使测试信号发生单元25产生的测试信号的模式。
这里，Loop参数表示使测试信号发生单元25反复产生指定次数的具有该模式的测试信号。例如，模式#1那样，Loop参数被指定为“5”时，表示使测试信号发生单元25产生5次具有模式#1所表示的模式的测试信号。
Block No.参数规定在Loop参数中设定的次数的模式重复产生结束为止的期间没有接收到任何触发信号时的下一个动作(action)。
Ext.参数规定在Loop参数中设定的次数的模式重复产生结束为止的期间接收到了外部输入的触发信号时的下一个动作。
Manual参数规定在Loop参数中设定的次数的模式重复产生结束为止的期间接收到了用户操作的触发信号时的下一个动作。
A、B参数规定在Loop参数中设定的次数的模式重复产生结束为止的期间接收到了各个对照模式的检测的触发信号时的下一个动作。
Block No.参数、Ext.参数、Manual参数以及A、B参数的各个值表示在具有该模式的测试信号之后使测试信号发生单元25产生的测试信号的模式的索引号。这里，值“0”表示接着要使测试信号发生单元25产生的测试信号的模式的所有码为0，即表示要使测试信号发生单元25停止产生测试信号。
在本实施方式中，假定各个模式以及模式映射是经由输入输出装置2设定的。图3表示通过输入输出装置2的CPU12在显示装置11上显示的模式映射的编辑画面的图像。
在该编辑画面上，用户可以经由输入装置10从一览表50中选择要编辑的模式，并通过编辑区域51上配置的各个控制器进行与选择的模式有关的设定。
在图3中，编辑区域51的Loop Completion用于设定一览表50的BlockNo.列的各个，规定在Loop列中设定的次数的模式重复产生结束为止的期间没有接收到任何触发信号时的下一个动作。
Block No.列的向下箭头表示在Loop列中设定的次数的模式重复产生结束之后开始产生下一个索引号的模式。另外，在Block No.列的各个中不仅是图3所示的向下箭头，有时还设定后述的表示接着要产生的模式的弯曲的箭头标识52、具有限制线的向下箭头标识54。
下面，说明规定在Loop列中设定的次数的模式重复产生结束之前接收到了预先设定的其中一个触发信号时的、测试信号发生装置4的下一个动作(产生模式或停止输出)的Ext.列、Manual列、A列、B列。
这里，一览表50中弯曲的箭头标识52之后的数字表示接着要使测试信号发生单元25产生的测试信号的模式的索引号。例如，图3表示在使测试信号发生单元25产生5次具有模式#1所表示的模式的测试信号的途中，接收到了表示外部输入(Ext.)的触发信号时，接着产生具有模式#5所表示的模式的测试信号。
此外，向下的箭头53表示在模式输出中接收到了触发信号时，接着要使测试信号发生单元25产生的测试信号的模式为输出中的模式的下一索引号的模式。例如，图3表示在使测试信号发生单元25产生10次具有模式#2所表示的模式的测试信号的途中，从被测试信号验证装置5接收到表示对照模式的检测(A)的触发信号时，在完成了触发信号接收时正在产生的模式的产生之后，产生具有模式#3所表示的模式的测试信号。
例如，在第7次的模式(图3中的模式长度为64比特)产生的第50比特接收到了表示对照模式的检测(A)的触发信号时，在输出了第7次的第51比特到第64比特之后不进行第8、第9、第10次的模式产生，而进行模式#3所表示的模式的测试信号的产生。
此外，具有限制线的向下的箭头标识54表示停止基于测试信号发生单元25的测试信号的产生。例如，图3表示在使测试信号发生单元25产生5次具有模式#1所表示的模式的测试信号的途中，从被测试信号验证装置5接收到表示对照模式的检测(B)的触发信号时，使测试信号发生单元25停止产生测试信号。
另外，各个模式的编辑在通过操作Pattern Edit按钮55而显示的未图示的模式编辑窗口上进行。
在图1中，模式选择单元23从模式存储单元20所存储的多个模式中选择一个模式。
这里，在通过测试信号发生单元25产生具有所选择的模式的测试信号的途中由触发信号接收单元21接收到触发信号时以及在结束了设定的Loop数的模式产生时，模式选择单元23基于模式映射来进行模式选择以及停止产生测试信号。
模式信息发送单元24在通过模式选择单元23选择了模式时，将表示所选择的模式的模式信息发送到被测试信号验证装置5。
被测试信号验证装置5包括：存储多个参照模式的参照模式存储单元30；存储多个对照模式的对照模式存储单元31；与被测试装置3取得同步的同步单元32；基于与通过模式信息发送单元24发送的模式信息所表示的模式对应的参照模式或对照模式，对通过被测试装置3发送的被测试信号进行验证的被测试信号验证单元33；将被测试信号验证单元33的验证结果发送到CPU12的验证结果发送单元34；将表示基于被测试信号验证单元33的验证结果的信号作为触发信号发送到触发信号接收单元21的触发信号发送单元35。
参照模式存储单元30由RAM等存储介质构成，如图4(a)所示，在参照模式存储单元30中存储了与模式存储单元20所存储的多个模式分别对应的多个参照模式。
对照模式存储单元31由RAM等存储介质构成，如图4(b)所示，在对照模式存储单元31中存储了用于与被测试信号的模式进行模式匹配的多个对照模式。
另外，在本实施方式中，将对照模式存储单元31中存储的对照模式设为A和B的两个，但并非要限定该数。此外，假定各个参照模式以及对照模式是经由输入输出装置2设定的。
在图1中，同步单元32对从被测试装置3接收的被测试信号的相位进行检测，并基于检测出的相位来调整被测试信号验证装置33的验证定时。另外，在本实施方式中，同步单元32由被测试信号验证单元33、验证结果发送单元34以及触发信号发送单元35被一体编程的FPGA构成。
被测试信号验证单元33对与从模式信息发送单元24接收的模式信息所表示的模式对应的参照模式和从被测试装置3所接收的被测试信号的模式进行比较，从而进行被测试信号的验证。
此外，被测试信号验证单元33对对照模式存储单元31中存储的各个对照模式和从被测试装置3所接收的被测试信号的模式进行比较，从而进行模式匹配的验证。
验证结果发送单元34将基于被测试信号验证单元33的参照模式和被测试信号的模式的比较的被测试信号的差错率等验证结果发送到CPU12。接收了该结果的CPU12将接收的结果显示在显示装置11。
在通过被测试信号验证单元33验证出对照模式和被测试信号的模式相一致时，触发信号发送单元35将表示该对照模式的检测的触发信号发送到触发信号接收单元21。
另外，触发信号发送单元35也可以将表示基于被测试信号验证单元33的参照模式和被测试信号的模式的比较的被测试信号的差错率是否到达阈值等验证结果的触发信号或每当差错检测时所输出的触发信号发送到触发信号接收单元21。
使用图5和图6说明如以上那样构成的设备测试系统1的动作。
图5是表示测试信号发生装置4的动作的流程图。
在接受来自输入输出装置2的起动命令时，在模式存储单元20所存储的多个模式中，被排序在开头的模式#1所表示的模式通过模式选择单元23而被选择(S1)。
接着，表示通过模式选择单元23选择的模式的模式信息通过模式信息发送单元24被发送到被测试信号验证装置5(S2)。接着，通过模式信息发送单元24产生具有由模式选择单元23所选择的模式的测试信号，并被发送到被测试装置3(S3)。
这里，在通过触发信号接收单元21接收到了表示外部输入(Ext.)、被输入到输入输出装置2的用户操作(Manual)、以及被测试信号验证装置5中预先设定的对照模式的检测(A、B)等的类别的触发信号时(S4)，在结束了在触发信号接收时正在产生的模式的产生之后(S5)，在模式映射上与模式选择单元23所选择的模式和通过触发信号接收单元21接收到的触发信号的类别对应的模式通过模式选择单元23而被选择(S6)。
这里，步骤S3至S6最多被重复执行各个模式的Loop参数所表示的次数(S7、S8)。这期间，在触发信号接收单元21没有接收到触发信号时，模式选择单元23所选择的模式和由模式映射决定的模式通过模式选择单元23而被选择(S6)。
在没有通过模式选择单元23选择的模式时(S9)，测试信号发生装置4的动作结束，在有通过模式选择单元23选择的模式时，对新选择的模式执行步骤S2以后的各个步骤。
图6是表示被测试信号验证装置5的动作的流程图。
首先，当被测试信号验证单元33从测试信号发生装置4的模式信息发送单元24接收了模式信息时(S10)，被测试信号验证单元33对与模式信息表示的模式对应的参照模式和从被测试装置3所接收的被测试信号的模式进行比较，从而被测试信号被验证(S11)。该验证的结果通过验证结果发送单元34被发送到CPU12(S12)。
此外，在被测试信号验证单元33进行对照模式与从被测试装置3所接收的被测试信号的模式的模式匹配(S14)。这里，在验证了对照模式和被测试信号的模式相一致时(S15)，表示对照模式的检测的触发信号通过触发信号发送单元35而被发送到触发信号接收单元21(S16)。另外，步骤S14至S16被重复执行所设定的对照模式的数(S13、S17)。
另外，在图6中，也可以在S11中每当检测差错时，或者在差错率超过了预先决定的阈值时输出触发信号。此外，也可以同时通过并行处理来进行预先决定的多个对照模式和测试信号的匹配。
这样的本发明一实施方式的设备测试系统1可以根据触发信号的类别来动态地改变使测试信号发生装置4产生的测试信号，所以可以对动态地转移状态的被测试装置3进行测试。
通过使用测试信号发生装置4以及设备测试系统1，能够一边与被协议控制的被测试装置3进行交涉(negotiation)，换言之能够一边正确地掌握被测试装置3的逻辑层的状态，一边例如对测试信号施加相位调制，从而进行附加了各种跳动(jitter)的测试。因此，能够识别差错产生的原因是因为被测试装置3的逻辑层，还是因为物理层。
例如，在内部的总线标准根据PCI Express的个人计算机中，显卡(graphiccard)或以太网卡(etherner card)等终端(end point)设备通过经由开关的上升流(upstream)用的线路和下降流(downstream)用的线路被连接到主机。这里，代替主机将测试信号发生装置4连接到下降流用的线路上，并且代替主机将被测试信号验证装置5连接到上升流用的线路上，从而设备测试系统1能够进行将终端的设备作为被测试装置3的测试。
另外，在本实施方式中，作为被测试装置3，表示了在应用了路由器等中继装置、构成该中继装置的模块、以及构成该模块的半导体等的情况下优选的例子，但通过在测试信号发生装置4的输出端以及被测试信号验证装置5的输入端分别设置电-光转换器以及光-电转换器，从而作为被测试装置3，也可以应用光模块等。
此外，在本实施方式中，说明了模式、模式映射、参照模式以及对照模式是经由输入输出装置2的输入装置10所设定的，但也可以是输入输出装置2从硬件等非易失性的存储介质、装卸自由的存储介质、以及通过网络连接的存储装置等取得模式、模式映射、参照模式以及对照模式。
Claims (5)
1、一种测试信号发生装置，其包括：
测试信号发生单元(25)，产生测试信号；
模式存储单元(20)，存储所述测试信号的多个模式；
模式映射存储单元(22)，对所述各个模式，存储使所述测试信号发生单元反复产生具有该模式的测试信号的次数、以及在反复产生了该次数的具有该模式的测试信号后，决定使所述测试信号发生单元产生的测试信号的模式的模式映射；以及
模式选择单元(23)，按照所述模式映射，从所述多个模式选择使所述测试信号发生单元产生的测试信号的模式，
所述测试信号发生装置的特征在于，
还包括触发信号接收单元(21)，接收至少1种触发信号，
所述模式映射还表示按所述每个模式与所述触发信号的种类对应的模式，
在所述测试信号发生单元按照所述模式映射反复产生所述次数的、具有由所述模式选择单元所选择的模式的测试信号的途中，当所述触发信号接收单元接收到了所述触发信号时，所述模式选择单元根据所述模式映射来选择与该触发信号相对应的模式。
2、如权利要求1所述的测试信号发生装置，其特征在于，
所述触发信号接收单元接收通过被测试信号验证装置(5)验证的结果作为所述触发信号，所述被测试信号验证装置验证由接收了所述测试信号的被测试装置所发送的被测试信号。
3、一种设备测试系统，其包括：
测试信号发生装置，产生用于发送到被测试装置(3)的测试信号；以及
被测试信号验证装置，验证由接收了所述测试信号的所述被测试装置所发送的被测试信号，
所述测试信号发生装置包括：
测试信号发生单元(25)，产生测试信号；
模式存储单元(20)，存储所述测试信号的多个模式；
模式映射存储单元(22)，对所述各个模式，存储使所述测试信号发生单元反复产生具有该模式的测试信号的次数、以及在反复产生了该次数的具有该模式的测试信号后，决定使所述测试信号发生单元产生的测试信号的模式的模式映射；以及
模式选择单元(23)，按照所述模式映射，从所述多个模式选择使所述测试信号发生单元产生的测试信号的模式，
所述被测试信号验证装置包括：
参照模式存储单元(30)，存储与所述多个模式分别对应的多个参照模式，
所述设备测试系统的特征在于，
所述测试信号发生装置还包括：
触发信号接收单元(21)，接收至少1种触发信号；以及
模式信息发送单元(24)，将表示由所述模式选择单元选择的模式的模式信息发送到所述被测试信号验证装置，
所述被测试信号验证装置还包括：
被测试信号验证单元(33)，基于与所述模式信息发送单元所发送的模式信息表示的模式对应的参照模式，验证通过所述被测试装置发送的被测试信号，
所述模式映射还表示按所述每个模式与所述触发信号的种类对应的模式，
在所述测试信号发生单元按照所述模式映射反复产生所述次数的、具有由所述模式选择单元所选择的模式的测试信号的途中，当所述触发信号接收单元接收到了所述触发信号时，所述模式选择单元根据所述模式映射来选择与该触发信号相对应的模式。
4、如权利要求3所述的设备测试系统，其特征在于，包括：
触发信号发送单元(35)，在所述被测试信号验证装置通过所述被测试信号验证单元检测出了所述被测试信号的误码时，以及所述被测试信号的至少一部分与预先决定的至少一个对照模式一致时，对每个事件发送不同的所述触发信号。
5、一种测试信号发生程序，用于使测试信号发生装置产生测试信号，其中，
所述测试信号发生程序对所述测试信号发生装置中预先存储的多个模式的每一个，指定使所述测试信号发生装置反复产生具有该模式的测试信号的次数；在使所述测试信号发生装置反复产生具有该模式的测试信号的途中接收到了触发信号时，所述测试信号发生装置对该触发信号的每个种类的动作；以及在使所述测试信号发生装置反复产生具有该模式的测试信号的途中没有接收到所述触发信号时，重复产生结束后的所述测试信号发生装置的动作。
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