CN101345018B - 显示设备的数据驱动器、用于数据驱动器的测试方法及探针卡 - Google Patents

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Abstract

一种显示设备的数据驱动器、用于数据驱动器的测试方法及探针卡，其中显示设备的数据驱动器包含：DAC(数模转换器)，用于输出驱动显示单元信号线的驱动信号；放大器，用于对由DAC输出的驱动信号进行放大，并向信号线输出驱动信号；修复放大器，包含输入端和输出端，其中，信号线被断点分成连接至放大器的连接数据线，以及未连接至放大器的断开数据线，且修复放大器的输入端连接至连接数据线，修复放大器的输出端连接至断开数据线；以及开关，用于向修复放大器的输入端提供驱动信号，以便测试修复放大器。能够在与对放大器相似的条件下执行对修复放大器的输出延迟测试。

Description

显示设备的数据驱动器、用于数据驱动器的测试方法及探针卡
技术领域
本发明涉及一种显示设备的数据驱动器、用于这种数据驱动器的测试方法及探针卡，更具体地说，涉及适于测试数据驱动器的修复放大器的技术。
背景技术
近年来，平板显示器得到了广泛地使用。目前存在诸如TFT(“薄膜晶体管”的缩写)型液晶显示设备、简单矩阵驱动型液晶显示设备、电致发光(缩写为“EL”)显示设备以及等离子显示设备等多种平板显示器。在显示设备的显示器(即屏幕上)，显示显示数据。以下，将TFT型液晶显示器作为示例加以阐释。
图1示出了TFT型液晶显示设备1的配置。
TFT型液晶显示设备1配备有玻璃基板3、显示部分(即液晶显示面板)10、第1至第mm条栅极线G1至Gm以及第1至第nn条数据线D1至Dn。液晶显示面板10含有按矩阵方式排列在玻璃基板3上的多个像素11。例如，有(m×n)个像素11排列在玻璃基板3上(此处，m和n分别是2以上的整数，分别表示矩阵的行数和列数)。m×n个像素11中的每个像素都包含一个薄膜晶体管(缩写为“TFT”)12和一个像素电容器15。像素电容器15包含：像素电极以及与该像素电极相对布置的对电极。TFT12配备有漏极电极13、连接至像素电极的源极电极14以及栅极电极16。m条栅极线G1至Gm分别连接至第m行中像素11中TFT 12的栅极电极16。n条数据线D1至Dn分别连接至第n列中第n个像素11中TFT 12的漏极电极13。
TFT型液晶显示设备1还配备有栅极驱动器20以及数据驱动器30。栅极驱动器20安装于芯片(未示出)上，且连接至m条栅极线G1至Gm中每条栅极线的一端。同时，数据驱动器30也安装于芯片上，且连接至n条数据线D1至Dn中每条数据线的一端。
TFT型液晶显示设备1还配备有定时控制器2。定时控制器2向栅极驱动器20提供栅极时钟信号GCLK，用于比如在一水平周期内选择栅极线G1。栅极驱动器20对栅极时钟信号GCLK予以响应，向栅极线G1输出选择信号。此时，选择信号按从一端到另一端的顺序发送至栅极线G1，然后，响应于提供给栅极电极16的选择信号，将与栅极线G1相对应的(1×n个)像素11的TFT 12导通。
此外，定时控制器2向数据驱动器30提供时钟信号CLK以及单行显示数据DATA。该单行显示数据DATA包含分别与数据线D1至Dn相对应的n块显示数据。数据驱动器30响应于时钟信号CLK，分别向n条数据线D1至Dn输出n块(piece)显示数据。此时，将与栅极线G1和n条数据线D1至Dn相对应的(1×n个)像素1 1的TFT 12导通。结果，分别将n块显示数据写入(1×n个)像素11的像素电容器15，存储直至下次写入操作。如此以来，便将n块显示数据作为单行显示数据DATA显示出来。
图2示出了数据驱动器30的配置。数据驱动器30沿柱状(columnar)方向按从第一到第x的顺序级联。此处，x是2以上的整数。
数据驱动器30配备有：移位寄存器31、数据寄存器32、锁存电路33、电平移动器34、DAC(“数模转换器”的缩写)35、放大电路36以及灰度电压发生电路37。
灰度电压发生电路37包括串联连接的多个灰度校正电阻元件(未示出)。
灰度电压发生电路37通过多个灰度校正电阻元件将由电源电路提供的参考电压分成多个灰度电压。例如，如果在TFT型液晶显示设备1中以64级灰度显示图像，灰度电压发生电路37就用63个灰度校正电阻元件R0至R62将参考电压V0至V7分成具有64级灰度的正灰度电压，作为多个灰度电压。对于负灰度电压亦是如此。
移位寄存器31包含n个移位寄存器(未示出)。数据寄存器32包含n个数据寄存器(未示出)。锁存电路33包含n个锁存电路(未示出)。电平移动器34包含n个电平移动器(未示出)。
DAC 35包含n个DAC(见图3)。n个DAC分别包含：P型转换器PchDAC，用于将正灰度电压作为输出灰度电压予以输出；以及N型转换器NchDAC，用于将负灰度电压作为另一输出灰度电压予以输出。例如，假设n个DAC中的奇数DAC为PchDAC，偶数DAC为NchDAC。DAC 35还包含N个用于反向驱动的切换元件，即通过交替地向像素11施加正灰度电压和负灰度电压的方式切换输出(见图3)。放大电路36包含n个放大器36-1至36-n(见图2和3)。
下面，将对TFT型液晶显示设备1的操作予以说明。
例如，定时控制器2向x个数据驱动器30提供时钟信号CLK以及单行显示数据DATA，并且还向第一数据驱动器30提供移位脉冲信号STH。x个数据驱动器30中各数据驱动器分别对时钟信号CLK和移位脉冲信号STH予以响应，向n条数据线D1至Dn输出包含于单行显示数据DATA中的n块显示数据。
在第i(此处，i＝1、2、……和x-1)个数据驱动器30中，移位寄存器31中的n个移位寄存器同步于时钟信号CLK依次对移位脉冲信号STH进行移位，然后，将其输出至数据寄存器32中的n个数据寄存器。移位寄存器31中的第n个移位寄存器将移位脉冲信号STH输出至数据寄存器32中的第n个数据寄存器，并且还将其输出至第(i+1)(此处i＝1、2、……和x-1)个数据驱动器30(即，级联输出)。在第x个数据驱动器30中，移位寄存器31中的n个移位寄存器同步于时钟信号CLK依次对移位脉冲信号STH进行移位，然后，将其输出至数据寄存器32中的n个数据寄存器。
在x个数据驱动器30中的每个数据驱动器内，数据寄存器32中的n个数据寄存器分别同步于移位寄存器31中的n个移位寄存器所输出的移位脉冲信号STH获取由定时控制器2所提供的n块显示数据，然后将其输出至锁存电路33。锁存电路33中的n个锁存电路分别在相同的定时锁存由数据寄存器32的n个数据寄存器提供的n块显示数据，并将其输出至电平移动器34。电平移动器34中的n个电平移动器分别对n块显示数据进行电平移动，然后将其输出至DAC 35。在DAC 35中，n个DAC分别对由电平移动器34中的n个电平移动器提供的n块显示数据进行数/模转换，然后，n个切换元件对输出进行切换。
如图3所示，例如，奇数(第一、第三、……以及第(n-1))PchDAC分别根据奇数(第一、第三、……以及第(n-1))电平移动器输出的显示数据块，从具有64级灰度的正灰度电压中选择输出灰度电压，然后经由奇数(第一、第三、……以及第(n-1))切换元件，将其输出至放大电路36中的奇数放大器36-1、36-3、……以及36-(n-1)。在这种情况下，偶数(第二、第四、……以及第n)NchDAC分别根据偶数(第二、第四、……以及第n)电平移动器输出的显示数据块，从具有64级灰度的负灰度电压中选择输出灰度电压，然后经由偶数(第二、第四、……以及第n)切换元件，将其输出至放大电路36中的偶数放大器36-2、36-4、……以及36-n。
相反，在反向驱动的情况下，如图3所示，奇数(第一、第三、……以及第(n-1))PchDAC分别根据奇数(第一、第三、……以及第(n-1))电平移动器输出的显示数据块，从具有64级灰度的正灰度电压中选择输出灰度电压，然后经由奇数(第一、第三、……以及第(n-1))切换元件，将其输出至放大电路36中的偶数放大器36-2、36-4、……以及36-n。在这种情况下，偶数(第二、第四、……以及第n)NchDAC分别根据偶数(第二、第四、……以及第n)电平移动器输出的显示数据块，从具有64级灰度的负灰度电压中选择输出灰度电压，然后经由偶数(第二、第四、……以及第n)切换元件，将其输出至放大电路36中的奇数放大器36-1、36-3、……以及36-(n-1)。
因此，DAC 35向放大电路36输出经数/模转换输出灰度电压和输出切换的n个输出灰度电压。放大电路36中的n个放大器36-1至36-n分别输入n个输出灰度电压，然后将其输出至n条数据线D1至Dn。
由于对上述显示面板(以液晶显示面板为例)有很高的精度要求，因而，将信号线如栅极线G1至Gm和数据线D1至Dn的宽度减小。结果，加工过程中的杂质或光刻过程中的缺陷极易引起信号线断裂。如果信号线在驱动器输出用于驱动信号线的驱动信号时是断开的，就无法驱动排布于断开部分前的像素。例如，假设以上述数据驱动器30表示驱动器，以上述数据线D1至Dn表示信号线，以上述n个输出灰度电压(即n块显示数据)表示驱动信号，如果数据线Dj(此处，j是一个满足表达式：1≤j≤n的整数)断开，则无法驱动排布于断开部分前的像素11。在这种情况下，显示设备将成为残次品。只有当在最终阶段，制作显示面板，并连接并组装驱动器、基板等部件时，才能发现这个缺陷，因而当发现缺陷时已付出了巨大的代价。
为了解决这个问题，在日本特许公开专利申请JP-A-Heisei，8-171081中所公开的技术中，事先在驱动器中布置一个修复电路(也称救援电路)，从而使得当发现断裂时，可以经由修复电路驱动排布于断裂部分前的像素。以下，就以上述TFT型液晶显示设备为例，简明扼要地对该技术加以阐释。
如图4所示，TFT型液晶显示设备中的数据驱动器30还配备有修复放大器40。为便于说明，将修复放大器40与数据驱动器30分开说明。修复放大器40安装在芯片上，且包含比如两个修复放大器40-1和40-2。TFT型液晶显示设备1还配备有安装在玻璃基板3上的辅助互连接。
如果在数据线Dj上发现断裂43，就在以Dj’(称为连接数据线)表示的、仍连接至放大器36-j的数据线Dj的一部分和辅助互连接41的交叉位置将其连在一起。此外，在修复放大器的40-1的输入端和辅助互连接41的交叉位置45将辅助互连接41连接至修复放大器的40-1的输入端。此外，在修复放大器的40-1的输出端和辅助互连接41的交叉位置46将修复放大器的40-1的输出端连接至辅助互连接42。此外，在以Dj”(称为断开数据线)表示的、未连接至放大器36-j的数据线Dj的一部分和辅助互连接42的交叉位置47，将辅助互连接42连接至数据线Dj的该部分。这样一来，就用由放大器36-j、连接数据线Dj’、交叉点44、辅助互连接41、交叉点45、修复放大器40-1、交叉点46、辅助互连接42、交叉点47以及未连接数据线Dj”构成的通道构建了修复电路。利用修复电路，可以驱动排布于断裂部分43前的像素11。此处，修复放大器40-1用于补偿由修复电路所造成的驱动性能的下降。
在对含有修复电路的显示驱动器IC进行电气特性检查的过程中，除了其他电气特性检查，还要对修复放大器40-1和40-2进行电气特性检查。
如图5所示，TFT型液晶显示设备1中的数据驱动器30还配备有用于进行电气特性检查的焊盘。焊盘安装在芯片上。
焊盘包括：输出焊盘56-1至56-n、修复输入焊盘51-1和51-2以及修复输出焊盘52-1和52-2。输出焊盘56-1至56-n分别连接至放大电路36中的n个放大器36-1至36-n的输出端。修复输入焊盘51-1和51-2分别连接至修复放大器40-1和40-2的输入端。修复输出焊盘52-1和52-2分别连接至修复放大器40-1和40-2的输出端。
在进行电气特性检查时，测量设备53连至芯片。测量设备53包含：探针卡54和测试仪55。可以将大批量生产的LSI测试仪用作测试仪55。
例如，在进行电气特性检查时，测量设备53测试放大电路36中n个放大器36-1至36-n中各放大器的输出延迟。在这种情况下，探针卡54输入通过DAC 35、通过输出切换、经由n个放大器36-1至36-n提供给输出焊盘56-1至56-n的驱动信号(即输出灰度电压)，然后将此驱动信号输出至测试仪55。测试仪55根据驱动信号测试n个放大器36-1至36-n中各放大器的输出延迟，然后，根据表示输出延迟的输出延迟时间对质量做出判断。判断质量的根据是，输出延迟时间是否超过了预先确定的上限。例如，如果输出延迟时间低于上限，就显示该产品是合格品；反之，如果输出延迟时间高于上限，就显示该产品是残次品。
此外，作为电气特性检查的内容之一，测量设备53测试修复放大器40-1和40-2中各放大器的输出延迟。在这种情况下，测试仪55将信号提供给修复输入焊盘51-1和51-2。探针卡54接收经修复放大器40-1和40-2提供给修复输出焊盘52-1和52-2的信号，然后，将这两个信号输出至测试仪55。测试仪55分别根据上述信号测试修复放大器40-1和40-2的输出延迟，然后根据表示输出延迟的输出延迟时间对质量做出判断。
发明内容
然而，在对修复放大器40-1和40-2进行电气特性检查时，存在这样一个问题，即：由于测试仪规格的限制，在判断修复放大器40-1、40-2的输出延迟质量时，不能用与判定放大电路36中n个放大器36-1至36-n的输出延迟相类似的方式对质量进行判定。
换句话说，在测试n个放大器36-1至36-n的输出延迟时，放大器36-1至36-n输入来自DAC 35的模拟电压(输出灰度电压)。因此，利用在检查DAC 35中的输出端切换输入时的特性，对放大器36-1至36-n各放大器的输出延迟的质量进行判定。然而，由于测试仪55能力或者成本有限，很难用大批量生产的LSI测试仪55的输入端再现DAC 35中的输出端切换。
此外，在某些情况下，从大批量生产的LSI测试仪55的成本的角度来看，测试设备的最大输入模拟电压存在一个极限。如果该最大值小于来自DAC 35的模拟电压的最大值，就无法在修复放大器40-1和40-2的延迟被认为达到最大的最大输入幅度下对延迟时间的质量做出判断。
也就是说，存在无法用批量生产的产品准确判断修复放大器40-1和40-2质量的问题。
在本发明的第一方案中，显示设备的数据驱动器包括：DAC(数模转换器)，配置为包含用于输出驱动显示单元信号线的驱动信号的输出端；放大器，配置用于对由DAC输出的驱动信号进行放大，并包含用于向信号线输出驱动信号的输出端；修复放大器，配置为包含输入端和输出端，其中，当信号线发生断裂时，信号线被断点分成连接至放大器的连接数据线，以及未连接至放大器的断开数据线，且修复放大器的输入端连接至连接数据线，修复放大器的输出端连接至断开数据线；以及开关，配置用于在执行测试模式对修复放大器进行测试时，向修复放大器的输入端提供驱动信号。
在本发明的另一方案中，在用于测试显示设备的数据驱动器的测试方法中，显示设备包括：DAC(数模转换器)，配置为包含用于输出驱动显示单元信号线的驱动信号的输出端；放大器，配置用于对由DAC输出的驱动信号进行放大，并包含用于向信号线输出驱动信号的输出端；以及修复放大器，配置为包含输入端和输出端，其中，当信号线发生断裂时，信号线被断点分成连接至放大器的连接数据线，以及未连接至放大器的断开数据线，且修复放大器的输入端连接至连接数据线，修复放大器的输出端连接至断开数据线。测试方法包括：在执行测试模式前，根据修复放大器输入端处的输入，将用于测试修复放大器的测量设备连接至数据驱动器；以及在执行测试模式时，将驱动信号提供给辅助放大器上修复放大器的输入端。
在本发明的又一方案中，在设计用于对显示设备的数据驱动器进行测试的探针卡中，数据驱动器包括：DAC(数模转换器)，配置为包含用于输出驱动显示单元信号线的驱动信号的输出端；放大器，配置用于对由DAC输出的驱动信号进行放大，并包含用于向信号线输出驱动信号的输出端；以及修复放大器，配置为包含输入端和输出端，其中，当信号线发生断裂时，信号线被断点分成连接至放大器的连接数据线，以及未连接至放大器的断开数据线，且修复放大器的输入端连接至连接数据线，修复放大器的输出端连接至断开数据线。探针卡包括：正常布线、测试布线以及开关。在正常的测试模式下，开关将数据驱动器以及用于执行测试的测试仪相连，并将放大器的输出端与测试仪相连，以便将放大器输出信号提供给测试仪。在测试的测试模式下，开关将放大器的输出端与测试仪断开，将放大器的输出端与修复放大器的输入端相连，以便基于驱动信号将修复放大器的输出端处的信号提供给测试仪。
根据依照本发明的显示设备的数据驱动器，当执行测试模式时，开关60-1、60-2将驱动信号(输出灰度电压)提供给修复放大器40-1、40-2的输入端。因而，输入至修复放大器40-1和40-2的输入端的模拟电压(输出灰度电压)的幅度值等于测试正常放大器36，36-1至36-n的输出延迟时的模拟电压的幅度值。因此，可以对修复放大器40-1和40-2的输出端执行与对放大器36，36-1至36-n的输出延迟测试等效的测试。因而，可以利用大批量生产的LSI测试仪55，根据修复放大器40-1和40-2的输出延迟，精确地对质量做出判定。
附图说明
通过以下结合附图的某些优选实施例的说明，本发明的上述和其他目的、优势以及特征将更加明显。附图中：
图1示出了相关技术中TFT型液晶显示设备的配置；
图2示出了相关技术中TFT型液晶显示设备中的数据驱动器30的配置；
图3示出了相关技术中数据驱动器30中DAC 35和放大电路36的配置；
图4示出了相关技术中TFT型液晶显示设备的配置中数据驱动器30内部的修复电路；
图5示出了相关技术中的数据驱动器30以及连接至数据驱动器30且包含探针卡54和测试仪55的测量设备53；
图6示出了依照第一实施例的数据驱动器30以及连接至数据驱动器30且包含探针卡54和测试仪55的测量设备53；
图7示出了依照第二实施例的数据驱动器30以及连接至数据驱动器30且包含探针卡54和测试仪55的测量设备53；以及
图8示出了依照第三实施例的数据驱动器30以及连接至数据驱动器30且包含探针卡54和测试仪55的测量设备53。
具体实施方式
以下，将参考附图，对依照本发明实施例的用于显示设备的数据驱动器、数据驱动器的测试方法以及探针卡予以说明。此处，在下文对与前面所述类似的配置以及操作(背景技术和发明内容中的描述)只作简略解释。
(第一实施例)
[配置]
图6示出了依照本发明的第一实施例的TFT型液晶显示设备的数据驱动器30、连接至数据驱动器30并包含探针卡54和测试仪55的测量设备53的配置。数据驱动器30配备有开关60-1和60-2以及测试焊盘61。开关60-1和60-2以及测试焊盘61安装在芯片上。当执行稍后将予以说明的电气特性检查时，包含探针卡54和测试仪55的测试设备53与芯片连接。
测试焊盘61通过布线连接至开关60-1和60-2。修复放大器40-1和40-2分别布置于数据驱动器30内部的放大电路36中的放大器36-1和36-n附近。开关60-1和60-2分别插入数据驱动器30内部的DAC 35以及放大器36-1和放大器36-2之间。开关60-1和60-2中每一个都包含：连接至DAC 35的输出端的端子“a”、连接至放大器36-1和36-n各放大器的输入端的端子“b”以及连接至修复放大器40-1和40-2各修复放大器的输入端的端子“c”。
[操作]
向测试焊盘6 1施加测试模式信号TEST。例如，当测试模式信号TEST的信号电平处于未激活状态时，执行正常模式(第一测试模式)。相反，当测试模式信号TEST的信号电平处于激活状态时，执行测试模式(第二测试模式)，用于对修复放大器40-1和40-2进行测试。
在正常模式下，在开关60-1和60-2中各开关处，端子a和b彼此连接。换句话说，DAC 35的输出端以及放大器36-1和36-n中各放大器的输入端经由开关60-1和60-2中各个开关彼此相连。
例如，在正常模式下，测量设备53在进行电气特性检查时，测试放大器36-1至36-n中各个放大器的输出延迟。在这种情况下，探针卡54输入驱动信号(输出灰度电压)，该驱动信号由DAC 35按照输出切换，经放大器36-1至36-n提供给输出焊盘56-1至56-n，然后输出至测试仪55。测试仪55根据该驱动信号测试放大器36-1至36-n的输出延迟，然后，根据表示输出延迟的输出延迟时间对质量做出判断。
在测试模式下，在开关60-1和60-2中各开关处，端子a和c彼此相连。换句话说，DAC 35的输出端连接至修复放大器40-1和40-2中各修复放大器的输入端，而并非经由开关36-1和36-n中各开关连接至放大器36-1和36-n的输入端。
例如，在测试模式下，测量设备53测试修复放大器40-1和40-2中修复放大器的输出延迟。在这种情况下，探针卡54输入驱动信号(输出灰度电压)，该驱动信号由DAC 35按照输出切换，经修复放大器40-1和40-2提供给修复输出焊盘52-1和52-2，然后输出至测试仪55。测试仪55根据该信号测试修复放大器40-1和40-2的输出延迟，然后，根据表示输出延迟的输出延迟时间对质量做出判断。
[效果]
如上所述，依照本发明的第一实施例，当在TFT型液晶显示设备1的数据驱动器30中执行测试模式(第二测试模式)时，开关60-1和60-2将驱动信号(输出灰度电压)施加于修复放大器40-1和40-2的输入端。因而，输入至修复放大器40-1和40-2的输入端的模拟电压(输出灰度电压)的幅度值等于测试正常放大电路36中n个放大器36-1至36-n中各放大器的输出延迟时的模拟电压的幅度值。因此，可以对修复放大器40-1和40-2的输出端执行与对n个放大器36-1至36-n中各放大器执行的输出延迟测试等效的测试。因而，可以利用大批量生产的LSI测试仪55，根据修复放大器40-1和40-2的输出延迟，精确地对质量做出判定。
(第二实施例)
[配置]
图7示出了依照本发明第二实施例的TFT型液晶显示设备1的数据驱动器30、连接至数据驱动器30并包含探针卡54和测试仪55的测量设备53的配置。数据驱动器30配备有开关60-1和60-2、测试焊盘61以及辅助DAC 70-1和70-2。开关60-1和60-2、测试焊盘61以及辅助DAC 70-1和70-2安装在芯片上。当执行电气特性检查时，包含探针卡54和测试仪55的测试设备53与芯片连接。
测试焊盘61通过布线连接至开关60-1和60-2以及辅助DAC 70-1和70-2。修复放大器40-1和40-2分别布置于数据驱动器30内部的放大电路36中的放大器36-1和36-n附近。开关60-1和60-2分别插入辅助DAC 70-1和70-2以及修复放大器40-1和40-2之间。开关60-1和60-2中每一个都包含：连接至修复放大器40-1和40-2中各放大器的输入端的端子“a”以及连接至辅助DAC 70-1和70-2各辅助DAC的输出端的端子“b”。
辅助DAC 70-1和70-2中各辅助DAC是DAC 35的单输出电路。当执行测试模式(第二测试模式)对修复放大器40-1和40-2进行测试时，辅助DAC 70-1和70-2输出与DAC 35的输出相同的驱动信号(输出灰度电压)。
[操作]
向测试焊盘61施加测试模式信号TEST。例如，当测试模式信号TEST的信号电平处于未激活状态时，执行正常模式(第一测试模式)。相反，当测试模式信号TEST的信号电平处于激活状态时，执行测试模式(第二测试模式)。
在正常模式下，在开关60-1和60-2中各开关处，端子a和b彼此断开。换句话说，经由开关60-1和60-2中各个开关，分别将辅助DAC 70-1和70-2的输出端与修复放大器40-1和40-2的输入端彼此断开。
例如，在正常模式下，测量设备53在进行电气特性检查时，对放大电路36中的n个放大器36-1至36-n中各放大器的输出延迟进行测试。在这种情况下，探针卡54输入驱动信号(输出灰度电压)，该驱动信号由DAC 35按照输出切换，经n个放大器36-1至36-n提供给输出焊盘56-1至56-n，然后输出至测试仪55。测试仪55根据该驱动信号测试放大器36-1至36-n的输出延迟，然后，根据表示输出延迟的输出延迟时间对质量做出判断。
在测试模式下，在开关60-1和60-2中各开关处，端子a和b彼此相连。换句话说，经由开关60-1和60-2中各开关，将辅助DAC 70-1和70-2的输出端与修复放大器40-1和40-2的输入端彼此相连。
例如，在测试模式下，测量设备53测试修复放大器40-1和40-2中各修复放大器的输出延迟。在这种情况下，探针卡54输入驱动信号(输出灰度电压)，该驱动信号由辅助DAC 70-1和70-2中各辅助DAC按照输出切换，经修复放大器40-1和40-2提供给修复输出焊盘52-1和52-2，然后输出至测试仪55。测试仪55根据该信号测试修复放大器40-1和40-2的输出延迟，然后，根据表示输出延迟的输出延迟时间对质量做出判断。
[效果]
如上所述，依照本发明的第二实施例，在TFT型液晶显示设备1的数据驱动器30中，如同第一实施例中那样，当执行测试模式(第二测试模式)时，开关60-1和60-2将驱动信号(输出灰度电压)提供给修复放大器40-1和40-2的输入端。因而，输入至修复放大器40-1和40-2的输入端的模拟电压(输出灰度电压)的幅度值等于测试正常放大电路36中n个放大器36-1至36-n中各放大器的输出延迟时的模拟电压的幅度值。因此，可以对修复放大器40-1和40-2的输出端执行与对n个放大器36-1至36-n中各放大器执行的输出延迟测试等效的测试。因而，可以利用大批量生产的LSI测试仪55，根据修复放大器40-1和40-2的输出延迟，精确地对质量做出判定。
(第三实施例)
[配置]
图8示出了依照本发明第三实施例的TFT型液晶显示设备1中数据驱动器30、连接至数据驱动器30并包含探针卡54和测试仪55的测量设备53的配置。当执行电气特性检查时，包含探针卡54和测试仪55的测试设备53与芯片连接。探针卡54包括：开关60-1和60-2以及测试布线80-1和80-2。
修复放大器40-1和40-2分别布置于数据驱动器30内部的放大电路36中的放大器36-1和36-n附近。开关60-1和60-2分别插入探针卡54上的输出焊盘56-1和56-2以及测试仪55之间。开关60-1和60-2中每一个都包含：连接至输出焊盘56-1和56-n中各输出焊盘的输出端的端子“a”、连接至测试仪55的端子“b”以及连接至测试布线80-1和80-2中各测试布线的端子“c”。
[操作]
向开关60-1和60-2施加来自测试仪55的测试模式信号TEST。例如，当测试模式信号TEST的信号电平处于未激活状态时，执行正常模式(第一测试模式)。相反，当测试模式信号TEST的信号电平处于激活状态时，执行测试模式(第二测试模式)。
在正常模式下，在开关60-1和60-2中各开关处，端子a和b彼此连接。换句话说，经由开关60-1和60-2中各个开关，在探针卡54上将输出焊盘56-1和56-n与测试仪55彼此相连。
例如，在正常模式下，测量设备53在进行电气特性检查时，测试放大电路36的n个放大器36-1至36-n中各放大器的输出延迟。在这种情况下，探针卡54输入驱动信号(输出灰度电压)，该驱动信号由DAC 35按照输出切换，经n个放大器36-1至36-n提供给输出焊盘56-1至56-n，然后输出至测试仪55。测试仪55根据该驱动信号测试放大器36-1至36-n的输出延迟，然后，根据表示输出延迟的输出延迟时间对质量做出判断。
在测试模式下，在开关60-1和60-2中各开关处，端子a和c彼此相连。换句话说，经由测试布线80-1和80-2将输出焊盘56-1和56-2分别连接至修复输入焊盘51-1和51-2，而并未连接至测试仪55。
例如，在测试模式下，测量设备53测试修复放大器40-1和40-2中各修复放大器的输出延迟。在这种情况下，探针卡54输入驱动信号(输出灰度电压)，该驱动信号由DAC 35按照输出切换，经修复放大器40-1和40-2提供给修复输出焊盘52-1和52-2，然后输出至测试仪55。测试仪55根据该信号测试修复放大器40-1和40-2的输出延迟，然后，根据表示输出延迟的输出延迟时间对质量做出判断。
[效果]
如上所述，依照本发明的第三实施例，如同在第一和第二实施例中那样，当在探针卡54中执行测试模式(第二测试模式)时，开关60-1和60-2将驱动信号(输出灰度电压)提供给修复放大器40-1和40-2的输入端。因而，输入至修复放大器40-1和40-2的输入端的模拟电压(输出灰度电压)的幅度值等于测试正常放大器36中n个放大器36-1至36-n中各放大器的输出延迟时的模拟电压的幅度值。因此，可以对修复放大器40-1和40-2的输出端执行与对n个放大器36-1至36-n中各放大器执行的输出延迟测试等效的测试。因而，可以利用大批量生产的LSI测试仪55，根据修复放大器40-1和40-2的输出延迟，精确地对质量做出判定。
此外，在本发明的第三实施例中，在数据驱动器30中既不需要布置开关也不需要测试端子。因而，与第一和第二实施例相比，可以减少数据驱动器30中芯片的芯片布局面积。
尽管以上结合本发明的若干实施例对其进行了说明，然而对于所属领域技术人员而言，显而易见，上面提供的典型实施例只是为了对本发明予以示例说明，而不应依赖其从限制意义上解释所附权利要求。

Claims (5)

1.一种显示设备的数据驱动器，包含：
DAC，配置成包含用于输出驱动显示单元信号线的驱动信号的输出端；
放大器，配置成对由DAC输出的驱动信号进行放大，并包含用于向信号线输出驱动信号的输出端；
修复放大器，配置成包含输入端和输出端，其中，当信号线发生断裂时，信号线被断点分成连接至放大器的连接数据线，以及未连接至放大器的断开数据线，且修复放大器的输入端连接至连接数据线，修复放大器的输出端连接至断开数据线；以及
开关，配置成在执行测试模式对修复放大器进行测试时，向修复放大器的输入端提供驱动信号。
2.根据权利要求1所述的显示设备的数据驱动器，其中，在正常模式下，开关将DAC的输出端与放大器的输入端相连，使得DAC输出的驱动信号输入至放大器，且
开关对用于执行测试模式的测试模式信号予以响应，将DAC的输出端与放大器输入端断开，并将DAC的输出端与修复放大器的输入端相连。
3.根据权利要求1所述的显示设备的数据驱动器，还包含：
辅助DAC，配置成对用于执行测试模式的测试模式信号予以响应，输出与DAC输出的驱动信号相同的输出信号，
其中，在正常模式下，开关对测试模式信号予以响应，将辅助DAC的输出端与修复放大器的输入端断开，并将辅助DAC的输出端与修复放大器的输入端相连。
4.一种用于测试显示设备的测试方法，其中显示设备包括：
DAC，配置成包含用于输出驱动显示单元信号线的驱动信号的输出端；
放大器，配置成对由DAC输出的驱动信号进行放大，并包含用于向信号线输出驱动信号的输出端；以及
修复放大器，配置成包含输入端和输出端，其中，当信号线发生断裂时，信号线被断点分成连接至放大器的连接数据线，以及未连接至放大器的断开数据线，且修复放大器的输入端连接至连接数据线，修复放大器的输出端连接至断开数据线，并且
所述方法包括：
在执行测试模式前，根据修复放大器输入端处的输入，将用于测试修复放大器的测量设备连接至数据驱动器；以及
在执行测试模式时，将驱动信号提供给辅助放大器上修复放大器的输入端。
5.一种设计用于对显示设备的数据驱动器进行测试的探针卡，其中数据驱动器包括：
DAC，配置成包含用于输出驱动显示单元信号线的驱动信号的输出端；
放大器，配置成对由DAC输出的驱动信号进行放大，并包含用于向信号线输出驱动信号的输出端；以及
修复放大器，配置成包含输入端和输出端，其中，当信号线发生断裂时，信号线被断点分成连接至放大器的连接数据线，以及未连接至放大器的断开数据线，且修复放大器的输入端连接至连接数据线，修复放大器的输出端连接至断开数据线，并且
探针卡包括：
正常布线；
测试布线；以及
开关，配置成：
在正常的测试模式下，将数据驱动器以及用于执行测试的测试仪相连，并将放大器的输出端与测试仪相连，以便将放大器输出信号提供给测试仪；并且
在测试的测试模式下，将放大器的输出端与测试仪断开，将放大器的输出端与修复放大器的输入端相连，以便基于驱动信号将修复放大器的输出端处的信号提供给测试仪。
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