CN101311906A - Sata接口测试装置及测试方法 - Google Patents

Sata接口测试装置及测试方法 Download PDF

Info

Publication number
CN101311906A
CN101311906A CNA2007102006657A CN200710200665A CN101311906A CN 101311906 A CN101311906 A CN 101311906A CN A2007102006657 A CNA2007102006657 A CN A2007102006657A CN 200710200665 A CN200710200665 A CN 200710200665A CN 101311906 A CN101311906 A CN 101311906A
Authority
CN
China
Prior art keywords
sata interface
test
board under
under test
proving installation
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CNA2007102006657A
Other languages
English (en)
Other versions
CN101311906B (zh
Inventor
谢明志
柯光隆
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Hon Hai Precision Industry Co Ltd
Original Assignee
Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Hon Hai Precision Industry Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd, Hon Hai Precision Industry Co Ltd filed Critical Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Priority to CN2007102006657A priority Critical patent/CN101311906B/zh
Priority to US11/836,798 priority patent/US7797584B2/en
Publication of CN101311906A publication Critical patent/CN101311906A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN101311906B publication Critical patent/CN101311906B/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/26—Functional testing
    • G06F11/273—Tester hardware, i.e. output processing circuits
    • G06F11/2733—Test interface between tester and unit under test

Abstract

一种SATA接口测试装置，包括一暂存器、一指示装置、一信号转换器以及至少一SATA接口，所述指示装置与所述暂存器相连，所述暂存器与所述信号转换器相连，所述信号转换器与所述SATA接口相连，所述信号转换器通过所述SATA接口接收来自待测板的串行数据并转换成并行数据给所述暂存器进行数据的写入校验，校验后的数据经所述信号转换器再转换成串行信号从所述SATA接口输出给待测SATA接口并经待测板的内部程序进行数据的读出校验，所述指示装置根据校验结果指示待测板上的SATA接口的好坏。本发明还揭示了一SATA接口测试方法，使用该装置及方法测试主机板SATA接口的功能时无需使用硬盘，不会因硬盘受到震动而影响测试效果，并可降低测试成本。

Description

SATA接口测试装置及测试方法
技术领域
本发明涉及一种SATA(Serial Advanced Technology Attachment，串行高阶配置)接口测试装置及测试方法。
背景技术
主机板常用的硬盘接口有IDE(Integrated Drive Electronics，整合电子式驱动)、ATA(Advanced Technology Attachment，高阶配置)以及SATA三种标准。其中SATA接口相较前两者具有更高的数据传输率与更少的引脚，因而更加符合未来的接口标准发展趋势。
主机板在装配完成之后，需经过全面的功能测试，其中包括对主机板上各种接口的测试。在对主机板的SATA接口进行测试时，通常是通过连接SATA硬盘至主机板的SATA接口来进行测试。但由于硬盘的价格一般较高，而且在受到震动时也容易影响测试结果，因此在大规模的生产线应用时将会带来较多的麻烦与额外成本。
发明内容
鉴于上述内容，有必要提供无需使用SATA硬盘即可方便测试主机板的SATA接口的装置及测试方法。
一种SATA接口测试装置，包括一暂存器、一指示装置、一信号转换器以及至少一SATA接口，所述指示装置与所述暂存器相连，所述暂存器与所述信号转换器相连，所述信号转换器与所述SATA接口相连，所述信号转换器通过所述SATA接口接收来自待测板的串行数据并转换成并行数据给所述暂存器进行数据的写入校验，校验后的数据经所述信号转换器再转换成串行信号从所述SATA接口输出给待测SATA接口并经待测板的内部程序进行数据的读出校验，所述指示装置根据校验结果指示待测板上的SATA接口的好坏。
一种应用所述SATA接口测试装置来测试SATA接口的测试方法，用于测试待测板SATA接口的功能是否正常，包括以下步骤：待测板的测试程序向测试装置的暂存器中发送一写入命令，所述写入命令通过待测板的SATA接口以及测试装置的SATA接口将写入命令传送至所述信号转换器，所述信号转换器将接收到的串行数据信号转换成并行数据信号传送至所述暂存器；测试装置的暂存器中的测试程序验证写入命令的内容是否正确，若错误则报告失败，若正确则所述暂存器存储所述写入命令的内容；待测板的测试程序向测试装置的暂存器中发出一读出命令，所述读出命令通过待测板的SATA接口以及测试装置的SATA接口将读出命令传送至所述信号转换器，所述信号转换器将接收到的串行数据信号转换成并行数据信号传送至所述暂存器；测试装置的测试程序验证读出命令的内容是否正确，若错误则报告失败，若正确则所述暂存器从其内部取出写入命令的内容并将其转换成为串行信号后通过所述测试装置的SATA接口以及待测板的SATA接口传输至待测板；及待测板的测试程序验证返回待测板的写入命令的内容是否正确，若错误则报告失败，若正确则继续循环进行写入动作。
相较现有技术，本发明采用一专门的测试装置及方法来完成对主机板SATA接口功能的测试，该装置及方法无需使用硬盘，不会因硬盘在测试中受到震动而影响测试效果，并可降低测试成本。
附图说明
下面结合附图及较佳实施方式对本发明作进一步详细描述：
图1是本发明SATA接口测试装置的较佳实施方式的原理框图；
图2是本发明SATA接口测试方法的较佳实施方式的流程图。
具体实施方式
请参照图1，本发明SATA接口测试装置包括一指示装置110、一暂存器120、一信号转换器130以及一用于连接至待测板上SATA接口的SATA接口140，所述SATA接口140数量还可以为多个，以同时测试待测板上多个SATA接口。所述指示装置110与所述暂存器120相连，所述暂存器120与所述信号转换器130相连，所述信号转换器130与所述SATA接口140相连。所述暂存器120具有一定的存储容量，用于模拟硬盘的存储功能并存储预设的测试程序。所述信号转换器130可以读取所述暂存器120的内容并将其转换为串行信号后输出至所述SATA接口140，还可以从所述SATA接口140接收串行信号并转换为并行信号后传输至所述暂存器120，所述SATA接口140在测试时通过数据线连接至待测板上的SATA接口。所述暂存器120中的测试程序根据测试结果输出指示信号，所述指示装置110接收所述指示信号并根据该指示信号通过光或声的形式指示测试结果。
测试开始之前，首先需在待测板的BIOS(Basic Input/Output System，基本输入/输出系统)和本测试装置的暂存器120中各自烧入相应的测试程序以及一固定且相同的特征数，所述两特征数也可不同，但测试程序需作相应调整。所述待测板和本测试装置的两个测试程序中各自包含一计数单元，将所述SATA接口140通过数据线连接至待测板的SATA接口后并通电，所述两计数单元的值同时被初始化为0。测试程序将所述两计数单元的值分别与2进行取模运算，并根据运算结果判断下一个动作，若运算结果为0，则进行写入动作，若运算结果为1，则进行读出动作，一次写入动作或一次读出动作完成后所述两计数单元均自动加一并重新与2进行取模运算，再根据运算结果判断下一次动作，并依次循环往复，所述两计数单元的数值保持一致。
请参照图2，本发明SATA接口测试方法的较佳实施方式是应用所述SATA接口测试装置来测试待测板上的SATA接口，该方法包括：
步骤S1，写入动作时，所述待测板的测试程序向测试装置的暂存器120发送一写入命令，所述写入命令是通过所述SATA接口140以及所述信号转换器130发送至所述暂存器120的，所述写入命令的内容由一地址串接一写入指令代码以及一写入数据组成。其中，所述地址为所述待测板测试程序中的特征数与计数单元的数值的乘积，所述写入数据由所述地址与特征数进行异或运算得出。
步骤S2，所述测试装置的测试程序验证所述写入命令中的地址与写入数据是否正确，若错误则报告失败，若正确则继续进行测试。即当所述写入命令传送至所述测试装置以后，所述测试装置的测试程序验证所述地址是否等于所述测试装置测试程序中的计数单元的数值与特征数的乘积，若不相等则向所述指示装置110发出测试失败的信息，若相等则继续验证所述写入数据是否等于所述地址与所述测试装置测试程序中的特征数进行异或运算的数值，若不相等则向所述指示装置110发出失败信息，若相等则将所述写入数据存入所述测试装置的暂存器120中并等待读出命令。
步骤S3，读出动作时，所述待测板的测试程序向测试装置的暂存器120发出一读出命令，所述读出命令也是通过所述SATA接口140以及所述信号转换器130发送至所述暂存器120的，所述读出命令的内容由一与所述写入命令的地址相同的地址串接一读出指令代码组成。
步骤S4，所述测试装置的测试程序验证所述读出命令中的地址是否正确，若错误则报告失败，若正确则取出写入数据并返回给待测板。即当读出命令传送至所述测试装置后，所述测试装置验证所述地址是否等于所述测试装置测试程序中的计数单元与特征数的乘积，若不相等则向所述指示装置110发出测试失败的信息，若相等则读取存储于所述暂存器120中的写入数据并将其传送回待测板。
步骤S5，所述待测板的测试程序验证返回的写入数据是否正确，当所述待测板收到SATA接口测试装置传回的写入数据后，将验证所述返回的写入数据是否等于所述写入命令的地址与待测板的测试程序的特征数进行异或运算的数值，若不相等则向所述测试装置的暂存器120发出一指示命令，所述暂存器120通过所述指示命令控制所述指示装置110发出测试失败的信息，若相等则继续循环进行步骤S1。
以上一个写入动作以及一个读出动作即为一个循环，每次测试需进行的循环次数可以通过测试程序的参数设定。若所有的循环测试均成功，则说明所述待测板通过SATA接口的功能测试，若其中有一个循环测试失败，则所述待测板SATA接口的功能测试失败。
相较现有技术，本发明采用一专门的测试装置及测试方法来完成对主机板SATA接口的测试，无需使用硬盘，不会因硬盘在使用中受到震动而影响测试效果，并可降低测试成本。

Claims (8)

1.一种SATA接口测试装置，包括一暂存器、一指示装置、一信号转换器以及至少一SATA接口，所述指示装置与所述暂存器相连，所述暂存器与所述信号转换器相连，所述信号转换器与所述SATA接口相连，所述信号转换器通过所述SATA接口接收来自待测板的串行数据并转换成并行数据给所述暂存器进行数据的写入校验，校验后的数据经所述信号转换器再转换成串行信号从所述SATA接口输出给待测SATA接口并经待测板的内部程序进行数据的读出校验，所述指示装置根据校验结果指示待测板上的SATA接口的好坏。
2.如权利要求1所述的SATA接口测试装置，其特征在于：所述暂存器存储有一校验所述来自待测板的数据的测试程序。
3.一种应用权利要求1所述的SATA接口测试装置来测试SATA接口的测试方法，用于测试待测板SATA接口的功能是否正常，包括以下步骤：
待测板的测试程序向测试装置的暂存器中发送一写入命令，所述写入命令通过待测板的SATA接口以及测试装置的SATA接口将写入命令传送至所述信号转换器，所述信号转换器将接收到的串行数据信号转换成并行数据信号传送至所述暂存器；
测试装置的暂存器中的测试程序验证写入命令的内容是否正确，若错误则报告失败，若正确则所述暂存器存储所述写入命令的内容；
待测板的测试程序向测试装置的暂存器中发出一读出命令，所述读出命令通过待测板的SATA接口以及测试装置的SATA接口将读出命令传送至所述信号转换器，所述信号转换器将接收到的串行数据信号转换成并行数据信号传送至所述暂存器；
测试装置的测试程序验证读出命令的内容是否正确，若错误则报告失败，若正确则所述暂存器从其内部取出写入命令的内容并将其转换成为串行信号后通过所述测试装置的SATA接口以及待测板的SATA接口传输至待测板；及
待测板的测试程序验证返回待测板的写入命令的内容是否正确，若错误则报告失败，若正确则继续循环进行写入动作。
4.如权利要求3所述的SATA接口测试方法，其特征在于：所述待测板向测试装置的暂存器发送的写入命令的内容由一地址串接一写入指令代码及一写入数据组成，所述地址为所述待测板测试程序中的一特征数与一计数单元的数值的乘积，所述写入数据由所述地址与特征数进行异或运算得出。
5.如权利要求4所述的SATA接口测试方法，其特征在于：所述测试装置通过判断所述写入命令的地址是否等于所述测试装置测试程序中的一计数单元的数值与一特征数的乘积来验证其是否正确，以及判断所述写入命令的写入数据是否等于所述写入命令的地址与所述测试装置测试程序中的特征数进行异或运算的数值来验证其是否正确。
6.如权利要求5所述的SATA接口测试方法，其特征在于：所述待测板向测试装置发送的读出命令的内容由一地址串接一读出指令代码组成。
7.如权利要求6所述的SATA接口测试方法，其特征在于：所述测试装置的测试程序通过判断所述读出命令的地址是否等于其计数单元与特征数的乘积来验证其是否正确。
8.如权利要求7所述的SATA接口测试方法，其特征在于：所述待测板的测试程序通过判断所述返回待测板的写入命令的写入数据是否等于所述写入命令的地址与待测板的测试程序的特征数进行异或运算的数值来验证其是否正确。
CN2007102006657A 2007-05-22 2007-05-22 Sata接口测试装置及测试方法 Expired - Fee Related CN101311906B (zh)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN2007102006657A CN101311906B (zh) 2007-05-22 2007-05-22 Sata接口测试装置及测试方法
US11/836,798 US7797584B2 (en) 2007-05-22 2007-08-10 SATA interface tester and testing method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN2007102006657A CN101311906B (zh) 2007-05-22 2007-05-22 Sata接口测试装置及测试方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN101311906A true CN101311906A (zh) 2008-11-26
CN101311906B CN101311906B (zh) 2011-09-28

Family

ID=40073517

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN2007102006657A Expired - Fee Related CN101311906B (zh) 2007-05-22 2007-05-22 Sata接口测试装置及测试方法

Country Status (2)

Country Link
US (1) US7797584B2 (zh)
CN (1) CN101311906B (zh)

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102063357A (zh) * 2009-11-13 2011-05-18 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 Sas接口测试装置
CN102270167A (zh) * 2010-06-03 2011-12-07 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 主板多硬盘端口测试系统与方法
CN103064775A (zh) * 2011-10-21 2013-04-24 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 硬盘状态指示装置
CN103531247A (zh) * 2012-07-04 2014-01-22 纬创资通股份有限公司 测试装置
CN103809916A (zh) * 2012-11-08 2014-05-21 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 固态硬盘及支持所述固态硬盘的主板
CN104536854A (zh) * 2014-11-29 2015-04-22 江门市未来之星网络科技有限公司 一种希捷硬盘固件故障的深度检测设备及其检测方法
CN107506272A (zh) * 2017-09-09 2017-12-22 济南中维世纪科技有限公司 Sata测试设备
CN111143145A (zh) * 2019-12-26 2020-05-12 山东方寸微电子科技有限公司 一种sata错误处理调试中制造错误的方法及电子设备
CN113688073A (zh) * 2021-09-07 2021-11-23 天津津航计算技术研究所 一种sata从设备ip核测试系统

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2053514A1 (en) * 2006-08-03 2009-04-29 Panasonic Corporation Peripheral device, integrated circuit for peripheral device and method for analyzing failure of peripheral device
US8719635B2 (en) * 2012-01-06 2014-05-06 International Business Machines Corporation Cost effective use of simulated storage in a storage subsystem test environment

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3565686B2 (ja) * 1997-08-01 2004-09-15 東京エレクトロンデバイス株式会社 コンピュータの記憶装置及び変換システム
WO2003085535A2 (en) * 2002-04-03 2003-10-16 Advanced Micro Devices, Inc. Ata/sata combined controller
US6976190B1 (en) * 2002-07-31 2005-12-13 Western Digital Technologies, Inc. Serial ATA disk drive having a parallel ATA test interface and method
EP1464970A1 (en) * 2003-04-04 2004-10-06 Agilent Technologies Inc Loop-back testing with delay elements
US7120557B2 (en) * 2003-04-25 2006-10-10 Lsi Logic Corporation Systems and methods for analyzing data of a SAS/SATA device
CN100517255C (zh) * 2004-08-25 2009-07-22 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 主机板的串行高阶硬盘架构接口功能测试装置
KR101100296B1 (ko) * 2005-01-31 2011-12-30 삼성전자주식회사 오.오.비.시그널링 자가 테스트 기능을 가진 사타 전자 장치
US7991045B2 (en) * 2005-06-10 2011-08-02 Hon Hai Precision Industry Co., Ltd. Device and method for testing signal-receiving sensitivity of an electronic subassembly
US7412631B2 (en) * 2005-09-13 2008-08-12 Lsi Corporation Methods and structure for verifying domain functionality

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102063357A (zh) * 2009-11-13 2011-05-18 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 Sas接口测试装置
CN102270167A (zh) * 2010-06-03 2011-12-07 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 主板多硬盘端口测试系统与方法
CN103064775A (zh) * 2011-10-21 2013-04-24 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 硬盘状态指示装置
CN103531247A (zh) * 2012-07-04 2014-01-22 纬创资通股份有限公司 测试装置
CN103531247B (zh) * 2012-07-04 2016-08-03 纬创资通股份有限公司 测试装置
CN103809916A (zh) * 2012-11-08 2014-05-21 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 固态硬盘及支持所述固态硬盘的主板
CN104536854A (zh) * 2014-11-29 2015-04-22 江门市未来之星网络科技有限公司 一种希捷硬盘固件故障的深度检测设备及其检测方法
CN107506272A (zh) * 2017-09-09 2017-12-22 济南中维世纪科技有限公司 Sata测试设备
CN111143145A (zh) * 2019-12-26 2020-05-12 山东方寸微电子科技有限公司 一种sata错误处理调试中制造错误的方法及电子设备
CN111143145B (zh) * 2019-12-26 2023-04-07 山东方寸微电子科技有限公司 一种sata错误处理调试中制造错误的方法及电子设备
CN113688073A (zh) * 2021-09-07 2021-11-23 天津津航计算技术研究所 一种sata从设备ip核测试系统

Also Published As

Publication number Publication date
US7797584B2 (en) 2010-09-14
US20080294943A1 (en) 2008-11-27
CN101311906B (zh) 2011-09-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101311906B (zh) Sata接口测试装置及测试方法
US11573849B2 (en) Memory module register access
US8086919B2 (en) Controller having flash memory testing functions, and storage system and testing method thereof
US5701409A (en) Error generation circuit for testing a digital bus
TWI436204B (zh) 測試系統及測試方法
KR20010104363A (ko) 예상 응답을 생성하는 주지의 양호한 디바이스를 이용한집적 회로 디바이스의 효율적인 병렬 테스트
CN110865909B (zh) 一种基于fpga的emmc接口测试设备与方法
CN109061446A (zh) 一种单端口传输芯片的测试方法及系统
CN104658612B (zh) 存取快闪存储器中储存单元的方法以及使用该方法的装置
US7765442B2 (en) Memory device testable without using data and dataless test method
US9542251B2 (en) Error detection on a low pin count bus
CN114639439B (zh) 芯片内部sram测试方法、装置、存储介质及ssd设备
CN100517256C (zh) Ieee1394接口功能测试装置及方法
US10922023B2 (en) Method for accessing code SRAM and electronic device
US10977205B1 (en) HDD detection system
CN111143145B (zh) 一种sata错误处理调试中制造错误的方法及电子设备
US20090079456A1 (en) Apparatus, system, and method for integrated component testing
CN101751312A (zh) 模拟多个存储装置的测试装置及其测试方法
CN111462809A (zh) 一种nvme硬盘测试治具及测试方法
US20220190844A1 (en) Method and apparatus to perform cyclic redundancy check training in a memory module
TWI748550B (zh) 組態可靠命令的方法及裝置以及電腦程式產品
CN220188978U (zh) 一种基于国产八核处理器和套片的MicroATX主板
CN102508749B (zh) 一种实现dimm测试的方法
CN117690475B (zh) 一种存储芯片的检测系统及检测方法
CN117409849A (zh) 一种便携式串行存储器测试装置及其测试方法

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
C17 Cessation of patent right
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20110928

Termination date: 20140522