CN102270167A - 主板多硬盘端口测试系统与方法 - Google Patents

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欧阳铭修
陈军民
曾革新
彭爽
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Abstract

一种主板多硬盘端口测试系统，其包括：切换通道模块，用于切换与待测端口相连的MUX芯片的通道与存储设备连接，形成一条从待测主板至存储设备的数据传输路径；写校验数据模块，当存储设备与MUX芯片连接好后，通过上述数据传输路径，将校验数据写入存储设备；读校验数据模块，用于从存储设备中经由上述数据传输路径，将所述写入的校验数据读出；验证模块，用于验证写入与读出的校验数据是否一致；发送模块，用于向MUX芯片发送当前正在测试的端口正常或异常的信息；擦除数据模块，用于当前正在测试的端口正常时，擦除存储设备中写入的校验数据。本发明还提供一种主板多硬盘端口测试方法。利用本发明可一次自动测试主板所有的硬盘端口。

Description

主板多硬盘端口测试系统与方法
技术领域
本发明涉及一种主板硬盘端口测试系统及方法，特别涉及一种主板多硬盘端口测试系统及方法。
背景技术
主板在装配完成后，需经过全面的功能测试，其中包括对主板上各种端口的测试。目前主板上一般都有多个SATA/SAS(SATA：SerialAdvanced Technology Attachment，串行高级技术附件，SAS：SerialAttached SCSI，串行连接SCSI接口)硬盘端口，经过PCI-E(PCI Express)扩展卡扩展后更是达数十个端口，而网络存储装置的硬盘端口更多。测试这些端口的一般做法是测试人员将所有硬盘端口都接上硬盘进行功能测试。如果每个硬盘端口都用硬盘作为测试设备的话，一是由于硬盘的价格一般较高，二是硬盘作为测试设备体积大不便于维护，三是损耗大，四是硬盘容易受到震动而影响测试效果。同时，测试人员如果对端口进行逐个测试，则需每测试完一个端口后又重新插拔硬盘，并且还要重新启动测试程序，在大规模生产应用时会造成成本和时间的浪费。
发明内容
鉴于上述内容，有必要提供一种主板多硬盘端口测试系统及方法。
一种主板多硬盘端口测试系统，该系统用于测试待测主板的多个硬盘端口，所述待测主板的多个硬盘端口与一个测试装置的多个硬盘端口相连接，该测试装置还包括MUX(Multiplexer，多路复用器)芯片、存储设备及指示装置，该系统包括：切换通道模块，用于将待测主板的待测端口号翻译成MUX芯片对应的通道号，以切换MUX芯片的与该通道号对应的通道与存储设备相连，形成一条从待测主板至存储设备的数据传输路径；写校验数据模块，当存储设备与MUX芯片连接好后，通过上述数据传输路径，将校验数据写入存储设备；读校验数据模块，用于从存储设备中经由上述数据传输路径，将所述写入的校验数据读出至待测主板；验证模块，用于验证上述写入及读出的的校验数据是否一致；发送模块，用于当写入和读出的校验数据不一致时，通过I/O端口向MUX芯片发送待测端口异常的信息，该MUX芯片根据该信息驱动指示装置显示待测端口异常；及该发送模块还用于当写入和读出的校验数据一致时，通过I/O端口向MUX芯片发送待测端口正常的信息，该MUX芯片根据该信息驱动指示装置显示待测端口正常；擦除数据模块，当所写入及读出的校验数据一致时，擦除存储设备中写入的校验数据。
一种主板多硬盘端口测试方法，包括以下步骤：(a)从待测主板的多硬盘端口中选择一个待测端口，并将其端口号翻译成测试装置中MUX芯片对应的通道号；(b)MUX芯片切换与该通道号对应的通道与测试装置的存储设备相连，形成一条从待测主板至存储设备的数据传输路径；(c)当存储设备与MUX芯片连接好后，MUX芯片驱动指示装置显示该待测端口的端口号；(d)待测主板经由上述数据传输路径向存储设备写入校验数据并存储；(e)待测主板经由上述数据传输路径从存储设备中读出校验数据；(f)当写入与读出的校验数据不一致时，结束测试；(g)当写入与读出的校验数据一致时，擦除写入存储设备的校验数据；(h)当待测主板还有未测试的硬盘端口时，返回步骤(a)，当该待测主板的所有硬盘端口测试完毕时，表示该待测主板测试成功。
相较现有技术，本发明可一次自动测试主板所有的SATA/SAS硬盘端口，不会因硬盘在测试中受到震动而影响测试效果，节约测试的成本和时间。
附图说明
图1是本发明主板多硬盘端口测试系统较佳实施例的架构图。
图2是待测主板与测试装置硬盘端口的连接方式示意图。
图3是本发明主板多硬盘端口测试系统的功能模块图。
图4是本发明主板多硬盘端口测试方法较佳实施例的流程图。
具体实施方式
如图1所示，是本发明主板多硬盘端口测试系统较佳实施例的架构图。该主板多硬盘端口测试系统10运行于主机1上，主机1中待测主板11与测试装置2相连接。所述测试装置2包括一MUX芯片21、一存储设备22、一I/O端口25、一I/O端口转换模块24、一指示装置23及至少含有一个SATA/SAS端口的SATA/SAS端口组20。所述指示装置23由MUX芯片21驱动。其中，SATA/SAS端口组20中的每个端口都按排列顺序有相应的编号，在图中以6个端口为例；MUX芯片21的通道数可根据实际需要测试的端口数而定制，且芯片通道按排列顺序也有相应的编号。
如图2所示，是待测主板与测试装置硬盘端口的连接方式示意图。待测主板11的SATA/SAS端口组12中的所有端口(端口也按顺序有相应的编号，图中以6个端口为例)与该测试装置2的SATA/SAS端口组20中端口相连，连接方式为端口号一一对应，如待测主板11的端口A1与测试装置2的端口B 1相连，待测主板11的端口A2与测试装置2的端口B2相连，依此类推。所述测试装置2的SATA/SAS端口组20中的端口与所述MUX芯片21的通道(图中以6条通道为例)相连，连接方式为端口号与通道号一一对应，如测试装置2的端口C1与MUX芯片21的通道D1相连，测试装置2的端口C2与MUX芯片21的通道D2相连，依此类推。MUX芯片21连接至所述存储设备22。
如图1和图2所示，主板多硬盘端口测试系统10从SATA/SAS端口组12中选择待测试的端口号，并将该端口号翻译成MUX芯片21对应的通道号，再将该通道号经待测主板11的I/O端口13和所述测试装置2的I/O端口25，传送到I/O端口转换模块24，该I/O端口转换模块24将所接收到的通道号转换成所述MUX芯片21的控制信号，如I2C(Inter-Integrated Circuit，两线式串行总线)或SPI(Serial PeripheralInterface，串行外设接口)信号，以切换MUX芯片21的通道与存储设备22相连接，形成了一条从待测主板11传送数据到存储设备22的数据传输路径。
主板多硬盘端口测试系统10将校验数据，经上述所选择的端口号及所切换的MUX芯片21的通道，存储在存储设备22中。该存储设备22仅相当于一个硬盘用于存储校验数据，其可以是SSD(Solid，固态硬盘)或HDD(Hard Disk Drive，硬盘驱动器)。
MUX芯片21的控制信号在切换通道成功后，控制所述的指示装置23指示当前正在测试的端口号，并根据主板多硬盘端口测试系统10对校验数据的验证结果指示端口是否正常，还可以控制指示装置23显示全部端口都测试完毕。在本实施例中，该指示装置23可以是七段LED(LightEmitting Diode，发光二极管)数码管，通过显示的数字指示正在测试的端口号，显示数字闪烁指示当前正在测试的端口异常，显示数字稳定指示端口正常，再如显示
Figure GDA0000021998770000041
或其他非数字符号表示全部端口已测试完毕。
如图3所示，是本发明主板多硬盘端口测试系统的功能模块图。所述主板多硬盘端口测试系统10包括：切换通道模块101、检测通道模块102、写校验数据模块103、读校验数据模块104、验证模块105、发送模块106、擦除数据模块107。
切换通道模块101用于切换与待测端口相连的MUX芯片21的相应通道与存储设备22连接。在本实施例中，该切换通道模块101将从SATA/SAS端口组12中所选择的待测端口号翻译成MUX芯片21对应的通道号，经由待测主板11的I/O端口13及测试装置2的I/O端口25将该通道号传送到所述I/O端口转换模块24，该I/O端口转换模块24将该通道号转换成所述MUX芯片21的控制信号，如I2C或SPI控制信号，以控制MUX芯片21切换该通道与存储设备22连接。从而形成一条从待测主板11到存储设备22的数据传输路径
检测通道模块102用于检测测试装置2的存储设备22是否连接好，在本较佳实施例中，若已连接好则主机1会指示多一个可移动磁盘，继续测试；若未连接好，则主机1会无任何指示，测试失败。在其他实施例中，可用其他方式表示该存储设备22是否与MUX芯片21连接好。当存储设备22与MUX芯片21连接好后，该MUX芯片21驱动指示装置23显示该当前正在测试的端口号。
写校验数据模块103用于向存储设备22发送一写入命令，所述写入命令通过上述形成的数据传输路径，也即从SATA/SAS端口组12所选择的一个待测端口以及对应的测试装置2的SATA/SAS端口，再经由MUX芯片21切换后的通道，将校验数据传送至所述存储设备22并存储。
读校验数据模块104用于向存储设备22发送一读出命令以读出刚刚写入存储设备22的校验数据，该读出命令通过上述数据传输路径将校验数据从存储设备22中读出。
验证模块105通过比对从存储设备22中读出的校验数据与写入存储设备22的校验数据是否一致来验证待测端口是否正常。
发送模块106用于向MUX芯片21发送当前正在测试的端口正常或异常的信息。在本实施例中，当验证模块105验证写入与读出的校验数据一致时，该发送模块106通过I/O端口13和I/O端口25，传送当前测试端口正常的信息至I/O端口转换模块24，该I/O端口转换模块24将信息转换成所述MUX芯片21的控制信号以控制MUX芯片21驱动指示装置23将当前正在测试的端口号稳定显示来指示当前测试端口正常。反之，当验证模块105验证写入与读出的校验数据不一致时，该发送模块106传送该当前测试端口异常的信息至I/O端口转换模块24，该I/O端口转换模块24将该信息转换成所述MUX芯片21的控制信号，以驱动指示装置23将当前正在测试的端口号闪烁显示来指示当前测试端口异常。当切换通道模块101已切换过所有的MUX芯片21的通道后，发送模块106通过上述待测主板11的I/O端口13和测试装置2的I/O端口25，发送一个结束信号至I/O端口转换模块24，该I/O端口转换模块24将该结束信号转换成所述MUX芯片21的控制信号，控制MUX芯片21驱动指示装置23显示一个非数字符号如
Figure GDA0000021998770000051
符号表示全部端口已测试完毕。
擦除数据模块107用于擦除存储设备22中的校验数据。当验证模块105验证写入与读出的校验数据一致时，即当前测试端口功能正常后，擦除数据模块107发送一删除命令，擦除存储设备22中写入及存储的校验数据。
如图4所示，是本发明主板多硬盘端口测试方法较佳实施例的流程图。
步骤S201，切换通道模块101从待测主板11的SATA/SAS端口组12中选择一个待测试端口，该切换通道模块101将该待测试端口号翻译成MUX芯片21对应的通道号，再经由待测主板11的I/O端口13及测试装置2的I/O端口25将该通道号传送到所述I/O端口转换模块24，该I/O端口转换模块24将该通道号转换成所述MUX芯片21的控制信号，如I2C或SPI控制信号，以切换该MUX芯片21的通道与存储设备22连接，形成一条从待测主板11到存储设备22传输数据的路径。
步骤S202，检测通道模块102检测存储设备22与MUX芯片21是否连接好。在本实施例中，若已连接好则主机指示多一个可移动磁盘，进入步骤S203；若未连接好，则主机无任何指示，进入步骤S208，测试失败。
步骤S203，MUX芯片21驱动指示装置23显示该待测端口的端口号。
步骤S204，写校验数据模块103向存储设备22发送一写入命令，所述写入命令通过步骤S201形成的数据传输路径向存储设备22写入校验数据并存储。
步骤S205，读校验数据模块104向存储设备22发送一读出命令，所述读出命令，经由步骤S201形成的传输数据的路径，将刚刚写入存储设备22的校验数据再从该存储设备22读出到待测主板11。
步骤S206，验证模块105通过比对从存储设备22中读出的校验数据与写入存储设备22的校验数据是否一致来验证该待测端口是否正常。当验证模块105验证写入与读出的校验数据不一致，进入步骤S207；如一致，即当前所测试的端口功能正常后，进入步骤S209。
步骤S207，发送模块106将当前测试端口异常的信息通过I/O端口13、I/O端口25，发送到I/O端口转换模块24，I/O端口转换模块24将该信息转换成所述MUX芯片21的控制信号，以驱动指示装置23将当前正在测试的端口号闪烁显示来指示当前测试端口异常，并进入步骤S208，表明测试失败，结束测试。
步骤S209，发送模块106将当前测试端口正常的信息通过I/O端口13、I/O端口25，发送到I/O端口转换模块24，I/O端口转换模块24将该信息转换成所述MUX芯片21的控制信号，以驱动指示装置23将当前正在测试的端口号稳定显示来指示当前测试端口正常。
步骤S210，擦除数据模块107发送一删除命令，擦除存储设备22中写入及存储的校验数据。
步骤S211，若SATA/SAS端口组12中还有未测试的端口，则返回步骤S201，若SATA/SAS端口组12中所有的端口均测试完毕时，进入步骤S212，测试成功，发送模块106将测试完毕的信息通过I/O端口13和I/O端口25，发送到I/O端口转换模块24，该I/O端口转换模块24将该信息转换成所述MUX芯片21的控制信号，以驱动指示装置23指示全部端口已测试完毕的信息。
在步骤S204中，当不能写入校验数据时，退出测试系统，测试失败。
在步骤S205中，当不能读出校验数据时，退出测试系统，测试失败。
在步骤S210中，当不能擦除校验数据时，退出测试系统，测试失败。
以上实施例仅用以说明本发明的技术方案而非限制，尽管参照较佳实施例对本发明进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本发明的技术方案进行修改或等同替换，而不脱离本发明技术方案的精神和范围。

Claims (10)

1.一种主板多硬盘端口测试系统，用于测试待测主板的多个硬盘端口，所述待测主板的多个硬盘端口与一个测试装置的多个硬盘端口相连接，该测试装置还包括MUX芯片、存储设备及指示装置，其特征在于，该系统包括：
切换通道模块，用于将待测主板的待测端口号翻译成MUX芯片对应的通道号，以切换MUX芯片该通道号对应的通道与存储设备相连，形成一条从待测主板至存储设备的数据传输路径；
写校验数据模块，当存储设备与MUX芯片连接好后，通过上述数据传输路径，将校验数据写入存储设备；
读校验数据模块，用于从存储设备中经由上述数据传输路径，将所述写入的校验数据读出至待测主板；
验证模块，用于验证上述写入及读出的的校验数据是否一致；
发送模块，用于当写入和读出的校验数据不一致时，通过I/O端口向MUX芯片发送待测端口异常的信息，该MUX芯片根据该信息驱动指示装置显示待测端口异常；及
该发送模块还用于当写入和读出的校验数据一致时，通过I/O端口向MUX芯片发送待测端口正常的信息，该MUX芯片根据该信息驱动指示装置显示待测端口正常；
擦除数据模块，当所写入及读出的校验数据一致时，擦除存储设备中写入的校验数据。
2.如权利要求1所述的主板多硬盘端口测试系统，其特征在于，所述MUX芯片在与存储设备连接好后，该MUX芯片驱动提示装置显示该待测端口号。
3.如权利要求1所述的主板多硬盘端口测试系统，其特征在于，所述测试装置还包括一个I/O端口转换模块，该I/O端口转换模块从待测主板的I/O端口接收翻译的端口号，并将该通道号转换成所述MUX芯片的控制信号，MUX芯片根据该控制信号切换通道。
4.如权利要求3所述的主板多硬盘端口测试系统，其特征在于，所述发送模块还用于，当该待测主板的硬盘端口均测试完毕时，通过I/O端口向MUX芯片发送测试完毕的信息，所述I/O端口转换模块将该信息转换成MUX芯片的控制信号，MUX芯片根据该控制信号驱动指示装置显示测试完毕的信息。
5.如权利要求1所述的主板多硬盘端口测试系统，其特征在于，所述存储设备是一个固态硬盘或是一个硬盘驱动器。
6.一种主板多硬盘端口测试方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：
(a)从待测主板的多硬盘端口中选择一个待测端口，并将其端口号翻译成测试装置中MUX芯片对应的通道号；
(b)MUX芯片切换该通道号对应的通道与测试装置的存储设备相连，形成一条从待测主板至存储设备的数据传输路径；
(c)当存储设备与MUX芯片连接好后，MUX芯片驱动指示装置显示该待测端口的端口号；
(d)待测主板经由上述数据传输路径向存储设备写入校验数据并存储；
(e)待测主板经由上述数据传输路径从存储设备中读出校验数据；
(f)当写入与读出的校验数据不一致时，结束测试；或者
(g)当写入与读出的校验数据一致时，擦除写入存储设备的校验数据；
(h)当待测主板还有未测试的硬盘端口时，返回步骤(a)，或者，当该待测主板的所有硬盘端口测试完毕时，表示该待测主板测试成功。
7.如权利要求6所述的主板多硬盘端口测试方法，其特征在于，该方法在步骤(a)之前还包括：
将待测主板的多个硬盘端口与测试装置的多个硬盘端口一一连接。
8.如权利要求6所述的主板多硬盘端口测试的方法，其特征在于，所述步骤(b)包括：
测试装置的I/O端口转换模块从待测主板的I/O端口接收该翻译的通道号；
该I/O端口转换模块将该通道号转换成所述MUX芯片的控制信号；
该MUX芯片根据该控制信号切换该通道号与存储设备相连。
9.如权利要求8所述的主板多硬盘端口测试方法，其特征在于，步骤(f)还包括：
待测主板发送该待测端口异常的信息至该I/O端口转换模块；
该I/O端口转换模块将该信息转换成MUX芯片的控制信号；
该MUX芯片根据该控制信号驱动指示装置显示该异常的待测端口号。
10.如权利要求8所述的主板多硬盘端口测试方法，其特征在于，步骤(g)还包括：
待测主板发送该待测端口正常的信息至该I/O端口转换模块；
该I/O端口转换模块将该信息转换成MUX芯片的控制信号；
该MUX芯片根据该控制信号驱动指示装置显示该正常的待测端口号。
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