CN111143145B - 一种sata错误处理调试中制造错误的方法及电子设备 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种SATA错误处理调试中制造错误的方法，步骤包括：处理器利用第一集成电路的SATA主接口给第二集成电路的SATA从接口发送带越界LBA的读写命令；将读写命令传输到测试设备；测试设备收到读写命令，并发送给处理器收到命令；测试设备开始数据阶段，并将开始数据信号发送给处理器；测试设备与处理器之间进行数据传输；处理器上传读写命令状态；能人为返错误状态，来做错误处理，简单易操作，且成本低廉有利于普及应用。

Description

一种SATA错误处理调试中制造错误的方法及电子设备
技术领域
本发明涉及错误处理调试中制造错误的方法及电子设备，尤其涉及一种SATA错误处理调试中制造错误的方法及电子设备。
背景技术
SATA即串行高级技术附件，全称是Serial Advanced Technology Attachment(串行高级技术附件)，是由Intel、IBM、Dell、APT、Maxtor和Seagate公司共同提出的硬盘接口规范。支持热插拔，传输速度快，执行效率高。一些具有SATA接口的IC芯片，在调试SATA功能时,为了让数据传输稳定可靠，通常需要有应对错误的机制，即错误处理机制，调试错误处理时需要有产生错误的仪器，例如Lecroy公司生产的STX M6-1 InFusion仪器，其功能较为全面，但价格昂贵。SSD，传统SATA错误处理调试过程中，错误的产生是靠SATA注错机，SATA注错机是一种能产生各种错误的仪器，功能较为强大，但价格较为昂贵。
目前调试具有SATA接口的IC芯片，在调试SATA主接口功能时，SATA主接口和硬盘相连接，调试SATA从接口功能时，SATA从接口和PC(电脑)相连接，如图3和图4。由于无法控制电脑和硬盘的行为，这种方法测试，不能制造错误。
发明内容
为解决此类问题，本发明提出一种SATA错误处理调试中制造错误的方法，其具备成本较小，使用较灵活的特点，对SATA错误处理要求不高的场合，使用者无需购买昂贵的SATA注错机仪器，减少了成本投入。
本发明采用如下技术手段：
第一方面，本发明提供了一种SATA错误处理调试中制造错误的方法，步骤包括：
利用第一集成电路的SATA主接口给第二集成电路的SATA从接口发送带错误信息的读写命令；将读写命令传输到测试设备；
测试设备收到读写命令，并反馈收到的读写命令；测试设备进入开始数据阶段，并反馈开始数据信号；测试设备进行数据传输；上传读写命令状态。
进一步的，所述测试设备为第三集成电路。
进一步的，利用第一集成电路的SATA主接口给第二集成电路的SATA从接口发送读写命令，无需处理器发送读写命令，实现发送带错误信息的读写命令，能制造错误，使得人为返错误状态，来做错误处理。
进一步的，所述读写命令状态包括成功和失败。
进一步的，所述测试设备为硬盘。
进一步的，所述错误信息为越界LBA；
进一步的，利用第二集成电路的SATA主接口将读写命令传输给第三集成电路的SATA从接口。
进一步的，所述越界LBA是指超过硬盘最大LBA值的LBA。
进一步的，当读写命令状态显示失败时，返回错误的状态。
进一步的，所述第一集成电路、第二集成电路和第三集成电路为IC芯片。
第二方面，本发明还提供了一种制造错误的方法的电子设备，包括存储器和处理器以及存储在存储器上并在处理器上运行的计算机指令，所述计算机指令被处理器运行时，完成如第一方面所述的SATA错误处理调试中制造错误的方法的步骤。
与现有技术对比，本发明具备以下有益效果：
1、本发明方法，克服了目前调试具有SATA接口的IC芯片，由于无法控制电脑和硬盘的行为，不能制造错误问题。采用IC芯片可以通过程序简单的发送越界LBA的命令，能人为返错误状态，来做错误处理，简单易操作。
2、在调试SATA功能时,为了让数据传输稳定可靠，通常需要有应对错误的机制，需要有产生错误的仪器，例如Lecroy公司生产的STXM6-1 InFusion仪器，其功能较为全面，但价格昂贵，采用本公开的方法不需要如此昂贵的仪器，仅利用本发明方法设置的电子设备，就可以产生错误，使得成本低廉，有利于普及推广，利于目前试错性能的测试需求。
附图说明
构成本申请的一部分的说明书附图用来提供对本申请的进一步理解，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。
图1为本发明的SATA错误处理调试中制造错误的方法的流程图。
图2为本发明的实施例1中SATA主设备和SATA从设备之间的连接关系图。
图3是现有技术中SATA正常读写的流程图。
图4是现有技术中调试具有SATA接口的IC芯片的示意图。
具体实施方式：
下面结合附图与实施例对本发明作进一步说明。
应该指出，以下详细说明都是示例性的，旨在对本申请提供进一步的说明。除非另有指明，本文使用的所有技术和科学术语具有与本申请所属技术领域的普通技术人员通常理解的相同含义。
需要注意的是，这里所使用的术语仅是为了描述具体实施方式，而非意图限制根据本申请的示例性实施方式。如在这里所使用的，除非上下文另外明确指出，否则单数形式也意图包括复数形式，此外，还应当理解的是，当在本说明书中使用术语“包含”和/或“包括”时，其指明存在特征、步骤、操作、器件、组件和/或它们的组合。
在本发明中，术语如“上”、“下”、“左”、“右”、“前”、“后”、“竖直”、“水平”、“侧”、“底”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，只是为了便于叙述本发明各部件或元件结构关系而确定的关系词，并非特指本发明中任一部件或元件，不能理解为对本发明的限制。
本发明中，术语如“固接”、“相连”、“连接”等应做广义理解，表示可以是固定连接，也可以是一体的连接或可拆卸连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连。对于本领域的相关科研或技术人员，可以根据具体情况确定上述术语在本发明中的具体含义，不能理解为对本发明的限制。
本发明提供了一种SATA错误处理调试中制造错误的方法，步骤包括：
第一方面，本发明提供了一种SATA错误处理调试中制造错误的方法，步骤包括：利用第一集成电路的SATA主接口给第二集成电路的SATA从接口发送带错误信息的读写命令；将读写命令传输到测试设备；测试设备收到读写命令，并反馈收到的读写命令；测试设备进入开始数据阶段，并反馈开始数据信号；测试设备进行数据传输；上传读写命令状态。
所述测试设备为第三集成电路。利用第一集成电路的SATA主接口给第二集成电路的SATA从接口发送读写命令，无需处理器发送读写命令，实现发送带错误信息的读写命令，能制造错误，使得人为返错误状态，来做错误处理。所述读写命令状态包括成功和失败。所述测试设备为硬盘。
所述错误信息为越界LBA；利用第二集成电路的SATA主接口将读写命令传输给第三集成电路的SATA从接口。越界LBA是指超过硬盘最大LBA值的LBA。当读写命令状态显示失败时，返回错误的状态。所述第一集成电路、第二集成电路和第三集成电路为IC芯片。
第二方面，本发明还提供了一种制造错误的方法的电子设备，包括存储器和处理器以及存储在存储器上并在处理器上运行的计算机指令，计算机指令被处理器运行时，完成如第一方面所述的SATA错误处理调试中制造错误的方法的步骤。
实施例1
本发明提出了一种SATA错误处理调试中制造错误的方法，能产生越界LBA、人为返错误状态的功能。LBA(Logical Block Address)即逻辑区块地址，是描述计算机存储设备上数据所在区块的通用机制，一般用在像硬盘这样的设备。逻辑区块通常是512字节。硬盘容量越大，其LBA区块最大地址越大，硬盘接到电脑上，电脑发送读写命令，靠LBA传递读写的逻辑区块地址，其值不会超过硬盘的最大LBA。越界LBA指的是其值超过了硬盘最大的LBA值。正常情况下，电脑不会发送越界LBA的错误，本方法可以发送越界LBA。
(1)SATA主接口给SATA从接口发送读写命令，读写命令都是带LBA的，正常情况下，电脑不会带越界的LBA，而此方法，可以带越界的LBA。(2)设备接收命令，并反馈收到命令(3)设备进入开始数据阶段，并反馈开始数据信息(4)传输数据(5)上报此次命令的状态(成功或失败)；现有技术的调试方法，从接口是硬盘，正常情况下，硬盘上报的状态都是正常状态，本发明通过设置IC芯片可以通过程序简单的发送越界LBA的命令，也能人为返错误状态，来做错误处理，如图2，此方法能够故意返回错误的状态。
上述虽然结合附图对本发明的具体实施方式进行了描述，但并非对本发明保护范围的限制，所属领域技术人员应该明白，在本发明的技术方案的基础上，本领域技术人员不需要付出创造性劳动即可做出的各种修改或变形仍在本发明的保护范围以内。

Claims (6)

1.一种SATA错误处理调试中制造错误的方法，步骤包括：
利用第一集成电路的SATA主接口给第二集成电路的SATA从接口发送带错误信息的读写命令；将读写命令传输到测试设备；
测试设备收到读写命令，并反馈收到的读写命令；测试设备进入开始数据阶段，并反馈开始数据信号；测试设备进行数据传输；上传读写命令状态；
所述错误信息为越界LBA，所述测试设备为第三集成电路；
所述利用第一集成电路的SATA主接口给第二集成电路的SATA从接口发送带错误信息的读写命令，无需处理器发送读写命令，采用第一集成电路通过程序发送越界LBA的命令，实现发送带错误信息的读写命令，能制造错误，使得人为返回错误状态，来做错误处理；所述第一集成电路、第二集成电路和第三集成电路为IC芯片。
2.如权利要求1所述的SATA错误处理调试中制造错误的方法，其特征在于，所述读写命令状态包括成功和失败。
3.如权利要求1所述的SATA错误处理调试中制造错误的方法，其特征在于，利用第二集成电路的SATA主接口将读写命令传输给第三集成电路的SATA从接口。
4.如权利要求1所述的SATA错误处理调试中制造错误的方法，所述越界LBA是指超过硬盘最大LBA值的LBA。
5.如权利要求3所述的SATA错误处理调试中制造错误的方法，其特征在于，当读写命令状态显示失败时，返回错误的状态。
6.一种采用如权利要求1-5任一项所述的SATA错误处理调试中制造错误的方法的电子设备，其特征在于，包括存储器和处理器以及存储在存储器上并在处理器上运行的计算机指令，所述计算机指令被处理器运行时，完成如权利要求1-5任一项所述的SATA错误处理调试中制造错误的方法的步骤。
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