CN101739322B - 嵌入式系统的测试装置及方法 - Google Patents
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Abstract
一种嵌入式系统的测试装置及方法，该测试装置包括：读写单元用于将测试参数写入通用输入输出芯片中；串行总线接口用于在测试装置与嵌入式系统之间传送测试信号和测试结果代码；通用输入输出芯片用于保存测试参数和测试结果代码；可编程芯片用于根据测试结果代码从存储单元中读取对应的测试解析信息；区段显示器用于显示测试参数和测试结果代码；LED显示器用于显示可编程芯片根据测试结果代码从存储单元中读取的测试解析信息。实施本发明，用户可以通过测试结果代码及其测试解析信息得出嵌入式系统的测试结果，其结构简单且占用空间小，减少了测试成本。
Description
技术领域
本发明涉及一种测试嵌入式系统的技术，特别是关于一种嵌入式系统的测试装置及方法。
背景技术
提高和保证产品质量，是企业活动中的重要内容。为了提高和保证产品质量，企业必须对产品实施测试以获得产品及其制造过程的质量信息，按照这些信息对产品的制造过程实施控制，例如进行修正和补偿活动，使废次品与返修品率降到最低程度，最终保证产品质量形成过程的稳定性及其产出产品的一致性。
众所周知，在对嵌入式系统进行测试时，要获得测试结果，并将其显示出来通常通过一台个人计算机与嵌入式系统相连，在个人计算机与嵌入式系统之间进行通讯，将所测试的结果在个人计算机上显示出来，即通过个人计算机充当人机介面。然而，由于个人计算机不仅检测时间过长(仅启动个人计算机就需要一定时间)，且用于购买个人计算机的成本也相对过高，架设机台的空间需求亦较大，如此既费时又耗资，测试成本增加。
发明内容
鉴于以上内容，有必要提供一种嵌入式系统的测试装置，用户无需使用个人计算机充当人机介面即可进行嵌入式系统的测试，其结构简单且占用空间小、测试成本较低。
鉴于以上内容，还有必要提供一种嵌入式系统的测试方法，用户无需使用个人计算机充当人机介面即可进行嵌入式系统的测试，其测试方法简单方便、测试成本较低。
一种嵌入式系统的测试装置，该测试装置与嵌入式系统相连，用于测试嵌入式系统的功能。所述测试装置包括读写单元、串行总线接口、通用输入输出芯片、可编程芯片、存储单元、区段显示器以及LED显示器。所述读写单元与通用输入输出芯片连接，用于将测试参数写入通用输入输出芯片中。所述串行总线接口与嵌入式系统连接，用于在所述测试装置与嵌入式系统之间传送测试信号和测试结果代码。所述通用输入输出芯片，用于保存所述测试参数和测试结果代码。所述可编程芯片与通用输入输出芯片连接，用于根据测试结果代码从存储单元中读取对应的测试解析信息。所述区段显示器与通用输入输出芯片连接，用于即时地显示测试参数和测试结果代码。所述LED显示器与可编程芯片连接，用于显示可编程芯片根据测试结果代码从存储单元中读取的测试解析信息。
一种嵌入式系统的测试方法，利用所述测试装置测试嵌入式系统的功能。所述测试装置包括串行总线接口、通用输入输出芯片、可编程芯片、存储单元、区段显示器以及LED显示器。该方法包括如下步骤：将预先定义的测试解析信息存储于存储单元中；接收用户设置的测试嵌入式系统的测试参数，并将该测试参数写入通用输入输出芯片中；嵌入式系统产生读取通用输入输出芯片中测试参数的测试信号；根据串行总线接口的接口类型判断是否需要将嵌入式系统发出的测试信号转换成通用输入输出芯片兼容的读取信号；若测试信号不需要进行信号转换，则根据测试信号从通用输入输出芯片中读取测试参数对嵌入式系统进行测试，并将产生的测试结果代码写入通用输入输出芯片；若测试信号需要进行信号转换，则将测试信号转换成通用输入输出芯片兼容的读取信号，根据该读取信号从通用输入输出芯片中读取测试参数对嵌入式系统进行测试，将产生的测试结果代码转换成通用输入输出芯片兼容的数据格式，并将其写入通用输入输出芯片；通用输入输出芯片驱动区段显示器显示的测试结果代码；可编程芯片根据测试结果代码从存储单元中读取相应的测试解析信息，并驱动LED显示器显示该测试解析信息。
相较于现有技术，所述嵌入式系统的测试方法利用嵌入式测试装置获取待测嵌入式系统的测试结果代码，将测试结果代码及其对应的测试解析信息显示出来，用户可以通过显示出来的测试解析信息得出嵌入式系统的测试结果。该嵌入式测试装置结构简单方便，占用空间小，大大节约了测试成本。
附图说明
图1是本发明嵌入式系统的测试装置较佳实施例的硬件架构图。
图2是本发明利用图1的嵌入式测试装置对嵌入式系统进行测试的方法较佳实施例的流程图。
具体实施方式
如图1所示，是本发明嵌入式系统的测试装置1较佳实施例的硬件架构图。所述的测试装置1包括读写单元10、串行总线接口11、通用输入输出(General Purpose Input Output，GPIO)芯片12、信号转换器13、可编程芯片(Programming IC)14、存储单元15、两个区段显示器16以及LED显示器17。本实施例中，所述测试装置1通过串行总线接口11与嵌入式系统2连接，该嵌入式系统2可以为嵌入式计算机系统，或者其他嵌入式电子设备。在测试装置1中，所述串行总线接口11与信号转换器13连接，所述读写单元10、信号转换器13、可编程芯片14和区段显示器16分别与GPIO芯片12连接，所述存储单元15和LED显示器17分别与可编程芯片14连接。
所述的读写单元10用于将测试参数写入GPIO芯片12中。所述的测试参数包括测试嵌入式系统的具体测试项目、测试的初始状态。所述的读写单元10可以是单片机，还可以是其它任意合适的数据处理设备。在本较佳实施例中，读写单元10使用的是单片机。
所述的串行总线接口11用于测试装置1与嵌入式系统2之间传送测试信号以及测试结果代码。该串行总线接口11通常有以下类型接口：通用串行总线接口(Universal Serial Bus，USB)、内部集成电路总线(Inter-Integrated Circuit，I2C)、系统管理总线接口(System Management Bus，SMBus)以及通用异步接收/发送串行接口(UniversalAsynchronous Receiver/Transmitter，UART)等。由于上述每种串行总线接口11都有一定的适用范围，因此在测试装置1中可以安装上述各种类型接口的之一种或多种组合的串行总线接口11以满足各种测试需要。
所述的GPIO芯片12用于保存读写单元10写入的测试参数和嵌入式系统2返回的测试结果代码，以及驱动两个区段显示器16显示嵌入式系统2返回的测试结果代码。所述的测试参数和测试结果代码存放在GPIO芯片12的一个电擦除可编程只读存储器(FlectricallyErasable Programmable Read Only Memory，EEPROM)中，该测试参数和测试结果代码通常为一些具体的标示符。具体而言，例如标示符“1”表示测试嵌入式系统2的硬盘，“01”表示测试开始，嵌入式系统2读取到上述测试参数进入硬盘测试状态。当嵌入式系统2完成测试之后，将测试结果代码通过串行总线接口11和信号转换器13写入GPIO芯片12。本实施例中，将测试结果代码“00~FF”定义为嵌入式系统2测试成功，将测试结果代码“10~FE”定义为嵌入式系统2测试失败。例如，若嵌入式系统2通过测试，则将测试结果代码为“FF”写入GPIO芯片12，以标明嵌入式系统2测试成功；若嵌入式系统2没有通过测试，则测试结果代码为“FE”写入GPIO芯片12，以标明嵌入式系统2测试失败。
所述的信号转换器13用于根据串行总线接口11的不同接口类型判断是否需要将嵌入式系统2发出的测试信号转换成GPIO芯片12兼容的读取信号以读取GPIO芯片12上的测试参数，以及当嵌入式系统2测试完成后将测试结果代码转换成GPIO芯片12兼容的的数据格式。具体而言，若测试装置1与嵌入式系统2是通过USB接口或者UART接口连接，则需要通过信号转换器13进行信号转换，若测试装置1与嵌入式系统2是通过I2C接口或者SMBUS接口连接，则不需要通过信号转换器13进行信号转换。
所述的可编程芯片14用于根据测试结果代码从所述存储单元15中读取对应的测试解析信息，以及驱动所述LED显示器17显示读取的测试解析信息。所述的存储单元15用于存储用户预先定义的测试解析信息，该测试解析信息与测试结果代码一一对应。例如，若测试结果代码为“FF”，则LED显示器17显示的测试解析信息为嵌入式系统2的硬盘测试成功；若测试结果代码为“FE”，则LED显示器17显示的测试解析信息为嵌入式系统2的硬盘测试失败。
所述的区段显示器16与GPIO芯片12相连，用于即时地显示GPIO芯片12上的测试参数以及嵌入式系统2返回的测试结果代码。例如，用户选择测试嵌入式系统2的硬盘时，区段显示器16开始显示的测试参数为“01”。当测试结束时，区段显示器16显示测试结果代码为“FE”或“FF”。
所述的LED显示器17用于显示可编程芯片14根据测试结果代码从存储单元15中读取的测试解析信息。例如，当区段显示器16显示测试结果代码为“FF”，则LED显示器17显示的测试解析信息为嵌入式系统2的硬盘测试成功。
所述的嵌入式系统2用于产生读取GPIO芯片12中测试参数的测试信号，根据测试信号读取GPIO芯片12上的测试参数，并启动BOOT程序根据测试参数进行POST测试。当嵌入式系统2完成测试之后，将产生的测试结果代码通过串行总线接口11传送至测试装置1。
如图2所示，是本发明利用图1的测试装置1对嵌入式系统2进行测试的方法较佳实施例的流程图。
步骤S20，用户通过读写单元10将预先定义的测试解析信息存储于存储单元15中，该测试解析信息与测试结果代码一一对应。例如，测试结果代码为“FF”对应的测试解析信息为嵌入式系统2的硬盘测试成功，测试结果代码为“FE”对应的解析信息为嵌入式系统2的硬盘测试失败。
步骤S21，读写单元10接收用户设置的测试嵌入式系统2的测试参数，并将该测试参数写入GPIO芯片12中。所述的测试参数包括测试的具体项目、测试的初始状态，所述测试参数通常为一些具体的标示符。例如，标示符“1”表示测试硬盘，“01”表示测试开始，当嵌入式系统2从GPIO芯片12中读取到上述测试参数时，则嵌入式系统2开始测试硬盘。
步骤S22，嵌入式系统2产生读取GPIO芯片12中测试参数的测试信号，并将该测试信号通过串行总线接口11传送至测试装置1。
步骤S23，信号转换器14根据串行总线接口11的接口类型判断是否需要将嵌入式系统2发出的测试信号转换成GPIO芯片12兼容的读取信号。具体而言，若测试装置1与嵌入式系统2是通过USB接口或者UART接口连接，则需要通过信号转换器13进行信号转换，若测试装置1与嵌入式系统2是通过I2C接口或者SMBUS接口连接，则不需要通过信号转换器13进行信号转换。
步骤S24，若测试信号不需要进行信号转换，则读写单元10根据测试信号从GPIO芯片12中读取测试参数，启动BOOT程序根据该测试参数进行POST测试，并产生对应的测试结果代码。步骤S25，将嵌入式系统2将测试结果代码通过串行总线接口11写入测试装置1的GPIO芯片12。
步骤S26，若测试信号需要进行信号转换，则信号转换器14将该测试信号转换成GPIO芯片12兼容的读取信号，以便读取GPIO芯片12上的测试参数。步骤S27，读写单元10根据转换的读取信号从GPIO芯片12中读取测试参数，启动BOOT程序根据该测试参数进行POST测试，并将产生的测试结果代码通过串行总线接口11传送至测试装置1。步骤S28，信号转换器14将测试结果代码转换成GPIO芯片12兼容的的数据格式，并将其写入GPIO芯片12。
步骤S29，GPIO芯片12驱动区段显示器16即时地显示嵌入式系统2返回的测试结果代码。具体而言，显示装置2显示的信息都是与测试结果代码对应的符号信息，例如，驱动区段显示器16显示符号“FF”或“FE”等。
步骤S30，可编程芯片14用于根据测试结果代码从存储单元15中读取对应的测试解析信息，并驱动LED显示器17显示该测试解析信息。例如，若测试结果代码为“FF”，则LED显示器17显示的测试解析信息为嵌入式系统2的硬盘测试成功；若测试结果代码为“FE”，则LED显示器17显示的测试解析信息为嵌入式系统2的硬盘测试失败。
最后所应说明的是，以上实施例仅用以说明本发明的技术方案而非限制，尽管参照以上较佳实施例对本发明进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本发明的技术方案进行修改或等同替换，而不脱离本发明技术方案的精神和范围。
Claims (9)
1.一种嵌入式系统的测试装置，该测试装置与嵌入式系统相连，用于测试嵌入式系统的功能，其特征在于，所述测试装置包括读写单元、串行总线接口、通用输入输出芯片、可编程芯片、存储单元、区段显示器以及LED显示器，其中：
所述读写单元与通用输入输出芯片连接，用于将测试参数写入通用输入输出芯片中；
所述串行总线接口与嵌入式系统连接，用于在所述测试装置与嵌入式系统之间传送测试信号和测试结果代码；
所述通用输入输出芯片，用于保存所述测试参数和测试结果代码；
所述可编程芯片与通用输入输出芯片连接，用于根据测试结果代码从存储单元中读取对应的测试解析信息；
所述区段显示器与通用输入输出芯片连接，用于即时地显示测试参数和测试结果代码；以及
所述LED显示器与可编程芯片连接，用于显示可编程芯片根据测试结果代码从存储单元中读取的测试解析信息。
2.如权利要求1所述的嵌入式系统的测试装置，其特征在于，所述的测试装置还包括信号转换器，该信号转换器与通用输入输出芯片连接，用于根据串行总线接口的接口类型判断是否需要将嵌入式系统发出的测试信号转换成通用输入输出芯片兼容的读取信号。
3.如权利要求2所述的嵌入式系统的测试装置，其特征在于，所述的信号转换器还用于当嵌入式系统发出的测试信号需要进行信号转换时，根据串行总线接口的接口类型将该测试信号转换成通用输入输出芯片兼容的读取信号，以及将测试结果代码转换成通用输入输出芯片兼容的数据格式。
4.如权利要求1所述的嵌入式系统的测试装置，其特征在于，所述的存储单元用于存储用户预先定义的测试解析信息，该测试解析信息与测试结果代码一一对应。
5.如权利要求1所述的嵌入式系统的测试装置，其特征在于，所述的串行总线接口是通用串行总线接口、内部集成电路总线、系统管理总线接口或通用异步接收/发送串行接口。
6.如权利要求1所述的嵌入式系统的测试装置，其特征在于，所述的测试参数包括测试嵌入式系统的测试项目和初始状态。
7.一种嵌入式系统的测试方法，利用测试装置测试嵌入式系统的功能，其特征在于，所述测试装置包括读写单元、串行总线接口、通用输入输出芯片、信号转换器、可编程芯片、存储单元、区段显示器以及LED显示器，该方法包括如下步骤：
将预先定义的测试解析信息存储于存储单元中；
读写单元接收用户设置的测试嵌入式系统的测试参数，并将该测试参数写入通用输入输出芯片中；
嵌入式系统产生读取通用输入输出芯片中测试参数的测试信号；
信号转换器根据串行总线接口的接口类型判断是否需要将嵌入式系统发出的测试信号转换成通用输入输出芯片兼容的读取信号；
若测试信号不需要进行信号转换，则根据测试信号从通用输入输出芯片中读取测试参数对嵌入式系统进行测试，并将产生的测试结果代码写入通用输入输出芯片；
若测试信号需要进行信号转换，则将测试信号转换成通用输入输出芯片兼容的读取信号，根据该读取信号从通用输入输出芯片中读取测试参数对嵌入式系统进行测试，将产生的测试结果代码转换成通用输入输出芯片兼容的数据格式，并将其写入通用输入输出芯片；
通用输入输出芯片驱动区段显示器显示测试结果代码；以及
可编程芯片根据测试结果代码从存储单元中读取相应的测试解析信息，并驱动LED显示器显示该测试解析信息。
8.如权利要求7所述的嵌入式系统的测试方法，其特征在于，所述的串行总线接口是通用串行总线接口、内部集成电路总线、系统管理总线接口或通用异步接收/发送串行接口。
9.如权利要求7所述的嵌入式系统的测试方法，其特征在于，所述的测试参数包括测试嵌入式系统的测试项目和初始状态。
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Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1649034A (zh) * | 2004-01-30 | 2005-08-03 | 北京中星微电子有限公司 | 一种嵌入式存储器的测试装置 |
| CN2935267Y (zh) * | 2006-07-26 | 2007-08-15 | 北京威讯紫晶科技有限公司 | 一种通用芯片的开发验证装置 |
| CN101136804A (zh) * | 2007-04-20 | 2008-03-05 | 中兴通讯股份有限公司 | 嵌入式应用系统的性能测试装置及其方法 |
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Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1649034A (zh) * | 2004-01-30 | 2005-08-03 | 北京中星微电子有限公司 | 一种嵌入式存储器的测试装置 |
| CN2935267Y (zh) * | 2006-07-26 | 2007-08-15 | 北京威讯紫晶科技有限公司 | 一种通用芯片的开发验证装置 |
| CN101136804A (zh) * | 2007-04-20 | 2008-03-05 | 中兴通讯股份有限公司 | 嵌入式应用系统的性能测试装置及其方法 |
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