CN103531247B

CN103531247B - 测试装置

Info

Publication number: CN103531247B
Application number: CN201210230545.2A
Authority: CN
Inventors: 李全; 陈冠翰; 吴胤庆
Original assignee: Wistron Corp
Current assignee: Wistron Corp
Priority date: 2012-07-04
Filing date: 2012-07-04
Publication date: 2016-08-03
Anticipated expiration: 2032-07-04
Also published as: TW201403103A; TWI449936B; US20140009179A1; CN103531247A; US9123442B2

Abstract

一种测试装置。该测试装置包括一第一连接器、一控制单元、一第一检测电路以及一存储器控制器；该第一连接器电性连接一第一总线；该控制单元依据来自该第一连接器的一第一使能信号，而产生多个第一控制信号；该第一检测电路电性连接该第一总线中的多个第一传输线，并依据该些第一控制信号而逐一将该些第一传输线导通至一接地端；该存储器控制器检测该些第一传输线所传送的信号的状态，并依据检测结果而决定是否产生一第一异常指示信号，其中该控制单元依据该第一异常指示信号控制多个指示灯。本发明不仅可以针对硬盘的接口信号进行验证，还有助于降低系统的生产成本。

Description

测试装置

技术领域

本发明是有关于一种测试装置，且特别是有关于一种用以对主板进行检测的测试装置。

背景技术

一般来说，计算机或服务器系统所使用的主板（mainboard）都需要通过内电路测试器（in-circuittester，以下简称ICT）或是自动测试设备（AutomaticTestEquipment，以下简称ATE）的验证，以便于确定主板是否可以正常使用。

然而，基于ICT或是ATE对于针脚结构的测试限制与成本上的考虑，目前的ICT与ATE还无法针对双列直插式封装（dualin-linepackage，以下简称DIP）组件，例如：SAS（SerialAttachedSCSI）连接器、SATA（SerialAdvancedTechnologyAttachment）连接器，进行测试。再者，现有的主板上大多是通过SAS连接器或是SATA连接器来外接一硬盘。换言之，现有的制造端目前还无法通过ICT或是ATE，来对SAS连接器、SATA连接器与其相关配线进行断路或是短路的检测，进而无法验证硬盘的接口信号，并也造成了主板在测试上的漏洞。

因此，需要提供一种测试装置以解决上述问题。

发明内容

本发明提供一种测试装置，可针对主板上的SAS连接器或是SATA连接器的焊接状况与其相关配线的导通状况进行检测，并可用以作为一固态硬盘。

本发明提出一种测试装置，该测试装置包括一第一连接器、一控制单元、一第一检测电路以及一存储器控制器；该第一连接器电性连接一第一总线；该控制单元依据来自该第一连接器的一第一使能（enable）信号，而产生多个第一控制信号；该第一检测电路电性连接该第一总线中的多个第一传输线，并依据该些第一控制信号而逐一将该些第一传输线导通至一接地端；该存储器控制器检测该些第一传输线所传送的信号的状态，并依据检测结果而决定是否产生一第一异常指示信号，其中该控制单元依据该第一异常指示信号控制多个指示灯。

在本发明的一实施例中，上述的测试装置还包括多个存储器。其中，这些存储器电性连接存储器控制器，且存储器控制器依据第一总线所传送的接口信号存取这些存储器。

在本发明的一实施例中，上述的第一连接器包括多个第一电源引脚。第一检测电路分别对来自这些第一电源引脚的信号进行分压，并据以产生多个第一分压信号。此外，控制单元利用第一参考电压比对这些第一分压信号，并依据比对结果控制这些指示灯。

在本发明的一实施例中，上述的第一连接器还包括多个第一接地引脚。第一检测电路检测来自这些第一接地引脚的信号，并据以产生多个第一检测信号。此外，控制单元利用第二参考电压比对这些第一检测信号，并依据比对结果控制这些指示灯。

在本发明的一实施例中，上述的测试装置还包括第二连接器、第二检测电路与桥接器。第二连接器电性连接第二总线，且控制单元依据来自第二连接器的第二使能信号而产生多个第二控制信号。第二检测电路电性连接第二总线中的多个第二传输线，并依据这些第二控制信号而逐一将这些第二传输线导通至接地端。桥接器电性连接第二总线，且桥接器检测这些第二传输线所传送的信号的状态，并依据检测结果而决定是否产生第二异常指示信号。其中，控制单元依据第二异常指示信号控制这些指示灯。

基于上述，本发明的测试装置是通过一连接器连接至一主板，并藉由检测来自连接器的信号，来进一步地判别主板上的信号是否出现异常。藉此，将可测试出主板上的连接器（例如：SATA连接器、SAS连接器）的焊接状况与其相关配线的导通状况。再者，本发明的测试装置亦可做为固态硬盘来使用。换言之，本发明的测试装置不仅可以针对硬盘的接口信号进行验证，还有助于降低系统的生产成本。

为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举各项实施例，并配合所附附图做详细说明如下。

附图说明

图1为依据本发明第一实施例的测试装置的示意图。

图2绘示为依据本发明第一实施例的差动接收信号的检测流程图。

图3为依据本发明第二实施例的测试装置的示意图。

主要组件符号说明：

100、300：测试装置170、350~370：总线

101：主板TL11~TL16、TL31~TL36：传输线

IT：接口信号ID1、ID2：异常指示信号

GN11~GN14：接地信号CT11~CT14、CT31~CT34：控制信号

PW11~PW14：电源信号SW11~SW14、SW31~SW34：开关

RX+、RX-：差动接收信号R11~R19、R31~R39：电阻

TX+、TX-：差动输出信号DV11~DV13、DV31~DV33：分压信号

110、310：连接器VDD：电源电压

111、113~115、311、313~315：电源引脚DT11~DT13、DT31~DT33：检测信号

112、116~118、312、316~318：接地引脚S210~S260：用以说明图2实施例的各步

120、320：检测电路骤流程

130：存储器控制器330：桥接器

140：控制单元340：切换单元

151~155：指示灯ST3：切换信号

161~162：存储器

具体实施方式

图1为依据本发明第一实施例的测试装置的示意图。参照图1，测试装置100包括连接器110、检测电路120、存储器控制器130、控制单元140、多个指示灯151~155以及多个存储器161~162。其中，控制单元140可利用复杂可编程逻辑组件（complexprogrammablelogicdevice）来加以实现。

如图1所示，测试装置100可通过连接器110电性连接至一主板101，以针对主板101进行测试。在第一实施例中，测试装置100的连接器110符合第一通信协议，例如：串行高级技术附件（SerialAdvancedTechnologyAttachment，以下简称SATA）协议。换言之，连接器110可例如是一SATA连接器。因此，在第一实施例中，测试装置100可例如是通过连接器110电性连接至主板101中的SATA连接器，并针对主板101的SATA连接器以及其相关配线进行断路（open）或是短路（short）测试。

为了说明方便起见，图1仅标示出主板101中由SATA连接器所传送的接口信号IT、多个电源信号PW11~PW14以及多个接地信号GN11~GN14，其中接口信号IT包括一差动接收信号（RX+,RX-）与一差动输出信号（TX+,TX-）。

请继续参照图1。连接器110电性连接至总线170的一端，且存储器控制器130电性连接至总线170的另一端与存储器161~162。此外，检测电路120电性连接总线170与控制单元140，且控制单元140电性连接存储器控制器130、检测电路120与指示灯151~155。在第一实施例中，总线170符合SATA协议，亦即总线170可例如是一SATA总线，并用以传送来自主板101的接口信号IT。此外，总线170包括多个传输线TL11~TL16，且传输线TL12~TL15是用以传送接口信号IT中的差动接收信号（RX+,RX-）与差动输出信号（TX+,TX-）。

在操作上，当测试装置100通过连接器110连接至主板101时，连接器110中的电源引脚111会接收来自主板101的电源信号PW11。此外，测试装置100会利用电源信号PW11产生其内部组件所需的操作电压，进而驱动存储器控制器130、控制单元140...等内部组件。此外，连接器110中的接地引脚112会接收来自主板101的接地信号GN11，且测试装置100会将接地信号GN11传送至控制单元140。当控制单元140接收到接地信号GN11时，控制单元140会将接地信号GN11视为一使能信号，而开始进行主板101的测试。在测试上，测试装置100会依序检测总线170所传送的差动接收信号（RX+,RX-）与差动输出信号（TX+,TX-），以判别主板101中SATA连接器的焊接状况与其相关配线的导通状况。

举例来说，图2绘示为依据本发明第一实施例的差动接收信号的检测流程图，以下请同时参照图1与图2来看。在此，假设总线170中的传输线TL12与TL13是分别用以传送差动接收信号中的正接收信号RX+与负接收信号RX-，则如步骤S210所示，在测试上，控制单元140会产生控制信号CT11~CT14，以致使检测电路120将用以传送正接收信号RX+的传输线TL12导通至接地端。接着，如步骤S220所示，存储器控制器130会检测传输线TL13所传送的负接收信号RX-的状态，并依据检测结果而决定是否产生异常指示信号ID1。此外，如步骤S230所示，当异常指示信号ID1产生时，控制单元140将依据异常指示信号ID1控制指示灯151~155。

例如，当检测结果为负接收信号RX-的状态出现异常时，则代表在主板101上SATA连接器的RX-引脚与其相关配线可能存在着断路或是短路的情况。因此，此时的存储器控制器130将产生相应的异常指示信号ID1，且控制单元140会依据异常指示信号ID1点亮相应于负接收信号RX-的指示灯，例如：指示灯151。相对地，当检测结果为负接收信号RX-的状态没有出现异常时，存储器控制器130将不会产生相应的异常指示信号ID1，以致使相应于负接收信号RX-的指示灯不会发出光源。

当负接收信号RX-的状态检测完毕后，如步骤S240，控制单元140将再利用控制信号CT11~CT14控制检测电路120，进而致使检测电路120将用以传送负接收信号RX-的传输线TL13导通至接地端。接着，如步骤S250所示，存储器控制器130会检测传输线TL12所传送的正接收信号RX+的状态，并依据检测结果而决定是否产生异常指示信号ID1。此外，如步骤S260所示，当异常指示信号ID1产生时，控制单元140将依据异常指示信号ID1控制指示灯151~155。

例如，当检测结果为正接收信号RX+的状态出现异常时，则代表在主板101上SATA连接器的RX+引脚与其相关配线可能存在着断路或是短路的情况。因此，此时的存储器控制器130将产生相应的异常指示信号ID1，且控制单元140会依据异常指示信号ID1点亮相应于正接收信号RX+的指示灯，例如：指示灯152。相对地，当检测结果为正接收信号RX-的状态没有出现异常时，存储器控制器130将不会产生相应的异常指示信号ID1，以致使相应于正接收信号RX+的指示灯不会发出光源。

相似地，倘若总线170中的传输线TL14与TL15是分别用以传送差动输出信号中的正输出信号TX+与负输出信号TX-，则在差动输出信号的测试上，测试装置100会先将用以传送正输出信号TX+的传输线TL14导通至接地端后，再检测负输出信号TX-的状态。之后，测试装置100还会依据检测结果而决定是否点亮相应于负输出信号TX-的指示灯，例如：指示灯153。接着，测试装置100也会先将用以传送负输出信号TX-的传输线TL15导通至接地端后，再检测正输出信号TX+的状态。此外，测试装置100也会依据检测结果而决定是否点亮相应于正输出信号TX+的指示灯，例如：指示灯154。

换言之，控制单元140会依据接地信号GN11（使能信号）开始进行主板101的测试，并据以产生多个控制信号CT11~CT14。此外，在测试期间内，检测电路120会依据控制信号CT11~CT14而逐一将总线170中的传输线TL12~TL15导通至接地端。藉此，存储器控制器130将得以逐一检测传输线TL12~TL15所传送的信号的状态，并依据检测结果而决定是否产生异常指示信号ID1。此外，控制单元140会依据异常指示信号ID1控制指示灯151~155的亮灭。藉此，针对主板101的SATA连接器，测试人员将可通过指示灯151~155的亮灭，而初步地判别出是SATA连接器的哪一引脚与其相关配线存在着断路或是短路的情况。

更进一步来看，在详细操作上，检测电路120包括开关SW11~SW14。其中，开关SW11~SW14与传输线TL12~TL15一对一对应。此外，开关SW11~SW14的第一端电性连接传输线TL12~TL15，开关SW11~SW14的第二端电性连接至接地端。在测试期间内，检测电路120会依据控制信号CT11~CT14逐一开启（turnon）开关SW11~SW14，以致使传输线TL12~TL15逐一导通至接地端。

值得一提的是，当检测完总线170所传送的信号后，控制单元140将关闭（turnoff）检测电路120中的开关SW11~SW14，以致使总线170可以正常地将接口信号IT传送至存储器控制器130。此时，存储器控制器130将可依据总线170所传送的接口信号IT存取存储器161~162。其中，存储器161~162可例如分别是一闪存。换言之，测试装置100除了可以用以测试主板101以外，亦可作为固态硬盘来加以使用。

除了对总线170所传送的信号进行检测以外，测试装置100也可针对连接器110的电源/接地引脚所传送的信号进行检测，以测试主板101中SATA连接器的电源/接地引脚与其相关配线是否存在着断路或是短路的情况。

举例来说，如图1所示，在第一实施例中，检测电路120还包括电阻R11~R16。其中，电阻R11与R12相互串接以形成一电阻串，且由电阻R11与R12所构成的电阻串电性连接在连接器110的电源引脚113与接地端之间。相似地，电阻R13与R14相互串接以形成一电阻串，且由电阻R13与R14所构成的电阻串电性连接在连接器110的电源引脚114与接地端之间。以此类推，电阻R15与R16的连接架构。

在操作上，连接器110的电源引脚113~115用以接收来自主板101的电源信号PW12~PW14。此外，由电阻R11与R12所形成的电阻串会对电源信号PW12进行分压，进而产生分压信号DV11。相似地，由电阻R13与R14所形成的电阻串也会响应于电源信号PW13而产生分压信号DV12。以此类推，分压信号DV13的产生方式。换言之，检测电路120会分别对来自电源引脚113~115的信号进行分压，并据以产生分压信号DV11~DV13。

此外，控制单元140会利用第一参考电压逐一比对分压信号DV11~DV13，并依据比对结果控制指示灯151~155的亮灭。举例来说，当比对结果为分压信号DV11小于第一参考电压时，则代表相应的电源信号PW12出现异常，亦即主板101上用以传送电源信号PW12的SATA连接器的电源引脚与其相关配线可能存在着断路或是短路的情况。因此，此时的控制单元140会将指示灯151~155中相应于电源信号PW12的指示灯点亮。

再者，如图1所示，在第一实施例中，检测电路120还包括电阻R17~R19。其中，电阻R17~R19的第一端接收电源电压VDD，且电阻R17~R19的第二端电性连接至连接器110的接地引脚116~118，并用以产生检测信号DT11~DT13。在操作上，连接器110的接地引脚116~118用以接收来自主板101的接地信号GN12~GN14。其中，当接地信号GN12~GN14没有出现异常时，检测信号DT11~DT13的电平将趋近于接地电压。

反之，当接地信号GN12~GN14出现异常时，检测信号DT11~DT13的电平将可能通过电阻R17~R19上拉至电源电压VDD。因此，控制单元140会利用第二参考电压比对检测信号DT11~DT13，以判别出接地信号GN12~GN14是否出现异常，并依据比对结果控制指示灯151~155的亮灭。其中，倘若接地信号GN12~GN14出现异常，则代表主板101上用以传送接地信号GN12~GN14的SATA连接器的接地引脚与其相关配线可能存在着断路或是短路的情况。

值得一提的是，图1实施例所列举的测试装置100具有单一的连接接口，但其并非用以限定本发明。举例来说，测试装置100也可扩充成具有两个连接接口的装置，且所述两连接接口分别具有不同的通信协议。藉此，测试人员将可直接利用单一的测试装置，而分别测试主板中具有不同规格的连接器的焊接状况与其相关配线的导通状况。为了致使本领域普通技术人员能更了解本发明，以下将列举具有两连接接口的测试装置。其中，为呈现对本发明的说明的一贯性，故在以下实施例中，若有功能与结构相同或相似的组件会用相同的组件符号与名称。

图3为依据本发明第二实施例的测试装置的示意图。请同时参照图1与图3来看，第一与第二实施例的主要差异在于，测试装置300还包括连接器310、检测电路320、桥接器330与切换单元340，且图3中的总线170是电性连接至切换单元340。其中，连接器310电性连接总线350的一端，且桥接器330电性连接总线350的另一端、切换单元340与控制单元140。总线350包括多个传输线TL31~TL36。检测电路320电性连接至连接器310、总线350中的传输线TL32~TL35与控制单元140。此外，切换单元340通过总线360电性连接至桥接器330，并通过总线370电性连接至存储器控制器130。

在第二实施例中，连接器310符合第二通信协议，例如：串行附加SCSI（SerialAttachedSCSI，SAS）协定。换言之，连接器310可例如是一SAS连接器。因此，在第二实施例中，测试装置300可通过连接器310或是连接器110，电性连接至主板中的SAS连接器或是SATA连接器，进而针对主板中的SAS连接器、SATA连接器以及其相关配线进行断路与短路的测试。

在操作上，当测试装置300通过连接器110电性连接至主板时，测试装置300将通过检测电路120、存储器控制器130、控制单元140与指示灯151~155进行相应的测试操作，且所进行的测试操作与图1实施例相似。而主要不同之处在于，图3中的总线170是通过切换单元340电性连接至存储器控制器130。因此，在图3所示的第二实施例中，当控制单元140接收到来自连接器110的接地引脚112的接地信号（亦即使能信号）时，控制单元140还会将一切换信号ST3的电平切换至第一电平（例如：逻辑1）。藉此，切换单元340将依据具有第一电平的切换信号ST3，而将总线370导通至总线170。如此一来，总线170所传送的接口信号将被传送至总线370，进而致使存储器控制器130可以依据来自总线370的接口信号存取存储器161~162。

另一方面，当测试装置300通过连接器310电性连接至主板时，测试装置300将通过检测电路320、桥接器330、控制单元140与指示灯151~155来进行测试操作。此时，测试装置300会利用来自连接器310的电源引脚311的电源信号，产生其内部组件所需的操作电压。此外，测试装置300会将来自连接器310的接地引脚312的接地信号视为一使能信号，而开始进行主板的测试。

在主板的测试上，控制单元140会依据来自接地引脚312的接地信号（亦即使能信号），产生多个控制信号CT31~CT34。此外，在测试期间内，检测电路320会依据控制信号CT11~CT14，而逐一开启开关SW31~SW34，以致使传输线TL32~TL35逐一导通至接地端。藉此，桥接器330将可逐一检测传输线TL32~TL35所传送的信号的状态，并依据检测结果而决定是否产生异常指示信号ID2。相对地，此时的控制单元140会依据异常指示信号ID2控制指示灯151~155。藉此，测试人员将可以初步地判别出，主板中的SAS连接器与其相关配线是否存在着断路或是短路的情况。

举例来说，总线170中的传输线TL32~TL35可例如是用以传送来自主板的接口信号中的差动接收信号与差动输出信号。因此，当桥接器330判别出传输线TL32~TL35所传送的信号出现异常时，则代表主板上用以传送差动接收信号与差动输出信号的SAS连接器的引脚与其相关配线可能存在着断路或是短路的情况。另一方面，当检测完总线350所传送的信号后，控制单元140将关闭检测电路320中的开关SW31~SW34，以致使总线350可以正常地将来自主板的接口信号传送至桥接器330。

值得一提的是，当测试装置300通过连接器310电性连接至主板时，控制单元140还会依据来自接地引脚312的接地信号（亦即使能信号），将切换信号ST3的电平切换至第二电平（例如：逻辑0）。藉此，切换单元340将会依据具有第二电平的切换信号ST3，而将总线370导通至总线360。在第二实施例中，总线350可例如是一SAS总线，且总线360与370可例如分别是一SATA总线。因此，为了将来自总线350的接口信号传送至总线360与370，桥接器330会转换总线350所传送的接口信号的格式。如此一来，当测试装置300通过连接器310电性连接至主板时，存储器控制器130依旧可以依据来自总线370的接口信号存取存储器161~162。

再者，测试装置300也可针对连接器310的电源/接地引脚所传送的信号进行检测，以测试主板中SAS连接器的电源/接地引脚与其相关配线是否存在着断路或是短路的情况。举例来说，检测电路320会利用电阻R31~R36，分别对来自于电源引脚313~315的信号进行分压，并据以产生分压信号DV31~DV33。此外，控制单元140会利用第一参考电压逐一比对分压信号DV31~DV33，并依据比对结果控制指示灯151~155。其中，当比对结果为分压信号DV31小于第一参考电压时，则代表来自电源引脚313的信号出现异常，亦即主板上的SAS连接器的电源引脚与其相关配线可能存在着断路或是短路的情况。因此，此时的控制单元140会点亮相应的指示灯。

此外，测试装置300也可利用电阻R37~R39检测来自接地引脚316~318的信号，并据以产生检测信号DT31~DT33。再者，控制单元140会利用第二参考电压比对检测信号DT31~DT33，以判别出接地引脚316~318所传送的信号是否出现异常，并依据比对结果控制指示灯151~155。其中，倘若接地引脚316~318所传送的信号出现异常，则代表主板上的SAS连接器的接地引脚与其相关配线可能存在着断路或是短路的情况。因此，此时的控制单元140会点亮相应的指示灯。至于图3实施例的检测电路320的详细结构，与图1实施例的检测电路120的详细结构相似，故在此不予赘述。

综上所述，本发明的测试装置是通过一连接器连接至一主板，并藉由检测来自连接器的信号，来进一步地判别出主板上的信号是否出现异常。藉此，当判别出主板上的信号出现异常时，则代表主板上用以传送该信号的连接器与其相关配线可能存在着断路或是短路的情况。如此一来，将可测试出主板中连接器的焊接状况与其相关配线的导通状况。此外，本发明的测试装置适于电性连接至主板上以DIP形式进行封装的连接器，例如：SATA连接器、SAS连接器等，因此本发明的测试装置可针对主板上的DIP组件进行测试。再者，本发明的测试装置亦可做为固态硬盘来使用。换言之，本发明的测试装置不仅可以针对硬盘的接口信号进行验证，还有助于降低系统的生产成本。

虽然本发明已以各项实施例公开如上，然而其并非用以限定本发明，任何所属技术领域中普通技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，应当可作些许的更动与润饰，故本发明的保护范围应当视所附的权利要求书的范围所界定者为准。

Claims

1.一种测试装置，该测试装置包括：

一第一连接器，该第一连接器电性连接一第一总线；

一控制单元，该控制单元依据来自该第一连接器的一第一使能信号，而产生多个第一控制信号；

一第一检测电路，该第一检测电路电性连接该第一总线中的多个第一传输线，并依据该些第一控制信号而逐一将该些第一传输线导通至一接地端；以及

一存储器控制器，该存储器控制器检测该些第一传输线所传送的信号的状态，并依据检测结果而决定是否产生一第一异常指示信号，其中该控制单元依据该第一异常指示信号控制多个指示灯；

其中该控制单元电性连接该存储器控制器和该第一检测电路。

2.如权利要求1所述的测试装置，该测试装置还包括：

多个存储器，该多个存储器电性连接该存储器控制器，其中该存储器控制器依据该第一总线所传送的接口信号存取该些存储器。

3.如权利要求1所述的测试装置，其中该第一检测电路包括：

多个第一开关，该多个第一开关与该些第一传输线一对一对应，且该些第一开关的第一端电性连接该些第一传输线，该些第一开关的第二端电性连接至该接地端，

其中，该第一检测电路利用该些第一控制信号逐一开启该些第一开关。

4.如权利要求1所述的测试装置，其中该第一连接器包括多个第一电源引脚，该第一检测电路分别对来自该些第一电源引脚的信号进行分压，并据以产生多个第一分压信号，且该控制单元利用一第一参考电压比对该些第一分压信号，并依据比对结果控制该些指示灯。

5.如权利要求4所述的测试装置，其中该第一检测电路还包括：

多个第一电阻串，该多个第一电阻串电性连接在该些第一电源引脚与该接地端之间，并响应于来自该些第一电源引脚的信号而产生该些第一分压信号。

6.如权利要求1所述的测试装置，其中该第一连接器还包括多个第一接地引脚，该第一检测电路检测来自该些第一接地引脚的信号，并据以产生多个第一检测信号，其中该控制单元利用一第二参考电压比对该些第一检测信号，并依据比对结果控制该些指示灯。

7.如权利要求6所述的测试装置，其中该第一检测电路还包括：

多个第一电阻，其中该些第一电阻的第一端接收一电源电压，且该些第一电阻的第二端电性连接该些第一接地引脚，并产生该些第一检测信号。

8.如权利要求1所述的测试装置，该测试装置还包括：

一第二连接器，该第二连接器电性连接一第二总线，且该控制单元依据来自该第二连接器的一第二使能信号，而产生多个第二控制信号；

一第二检测电路，该第二检测电路电性连接该第二总线中的多个第二传输线，并依据该些第二控制信号而逐一将该些第二传输线导通至该接地端；以及

一桥接器，该桥接器电性连接该第二总线，且该桥接器检测该些第二传输线所传送的信号的状态，并依据检测结果而决定是否产生一第二异常指示信号，其中该控制单元依据该第二异常指示信号控制该些指示灯。

9.如权利要求8所述的测试装置，该测试装置还包括：

一切换单元，该切换单元电性连接该第一总线，并通过一第三总线与一第四总线电性连接至该桥接器与存储器控制器，其中该控制单元依据该第一使能信号或是该第二使能信号调整一切换信号的电平，且该切换单元依据该切换信号的电平将该第一总线与该第三总线的其一导通至该第四总线，以致使该存储器控制器依据来自该第四总线的接口信号存取多个存储器。

10.如权利要求9所述的测试装置，其中该第一连接器、该第一总线、该第三总线与该第四总线符合一第一通信协议，该第二连接器与该第二总线符合一第二通信协议，且该桥接器用以转换该第二总线所传送的接口信号的格式。

11.如权利要求8所述的测试装置，其中该第二检测电路包括：

多个第二开关，该多个第二开关与该些第二传输线一对一对应，且该些第二开关的第一端电性连接该些第二传输线，该些第二开关的第二端电性连接至该接地端，

其中，该第二检测电路利用该些第二控制信号逐一开启该些第二开关。

12.如权利要求8所述的测试装置，其中该第二连接器包括多个第二电源引脚，该第二检测电路分别对来自该些第二电源引脚的信号进行分压，并据以产生多个第二分压信号，且该控制单元利用一第一参考电压比对该些第二分压信号，并依据比对结果控制该些指示灯。

13.如权利要求12所述的测试装置，其中该第二检测电路还包括：

多个第二电阻串，该多个第二电阻串电性连接在该些第二电源引脚与该接地端之间，并响应于来自该些第二电源引脚的信号而产生该些第二分压信号。

14.如权利要求8所述的测试装置，其中该第二连接器还包括多个第二接地引脚，该第二检测电路检测来自该些第二接地引脚的信号，并据以产生多个第二检测信号，其中该控制单元利用一第二参考电压比对该些第二检测信号，并依据比对结果控制该些指示灯。

15.如权利要求14所述的测试装置，其中该第二检测电路还包括：

多个第二电阻，其中该些第二电阻的第一端接收一电源电压，且该些第二电阻的第二端电性连接该些第二接地引脚，并产生该些第二检测信号。