CN110261717B - 一种连接器组件测试电路及其测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种连接器组件测试电路及其测试方法，连接器组件测试电路包括参考信号输出电路，参考信号输出电路包括多个参考信号输出端，参考信号输出电路输出参考信号；指示测试电路，指示测试电路包括多条测试支路，测试支路以及参考信号输出端分别与待测连接器组件一个USB Type‑C连接器的待测试引脚一一对应设置；每条测试支路包括第一测试端和第二测试端，每条测试支路还包括第一指示器件，第一指示器件的第一端与对应的参考信号输出端电连接，第一指示器件的第二端作为所述第一测试端，第二测试端接入设定信号。本发明使用低成本的测试电路结构实现了对两个USB Type‑C连接器的待测试引脚是否存在断路的判断。

Description

一种连接器组件测试电路及其测试方法

技术领域

本发明实施例涉及连接器组件技术领域，尤其涉及一种连接器组件测试电路及其测试方法。

背景技术

随着消费型电子产业的快速发展，因Type-C具有强大的兼容性，越来越多的电子设备搭载了Type-C连接器，目前市面上USB Type-C连接器的产品种类繁多，其转换视频、音频等各种接口的产品层出不穷。

USB Type-C转USB Type-C的产品两端同时使用USB Type-C连接器，因此对产品生产过程中的各项工艺要求更高，其中信号线与焊点之间焊接情况是保证产品质量的重要因素，如何对信号线与焊点之间的焊接情况进行检测成为亟待解决的问题。

发明内容

本发明提供了一种连接器组件测试电路及其测试方法，使用结构简单、低成本的测试电路结构实现了对待测连接器组件两个接口的同类型的待测试引脚之间是否存在断路问题的判断。

第一方面，本发明实施例提供了一种连接器组件测试电路，包括：

参考信号输出电路，所述参考信号输出电路包括多个参考信号输出端，所述参考信号输出电路输出参考信号；

指示测试电路，所述指示测试电路包括多条测试支路，所述测试支路以及所述参考信号输出端分别与待测连接器组件一个接口的待测试引脚一一对应设置；

每条所述测试支路包括第一测试端和第二测试端，所述第一测试端与所述第二测试端分别用于接入所述待测连接器组件两个接口的同类型待测试引脚，每条测试支路还包括第一指示器件，所述第一指示器件的第一端与对应的所述参考信号输出端电连接，所述第一指示器件的第二端作为所述第一测试端，所述第二测试端接入设定信号；其中，所述参考信号的电平值在至少一个时段与所述设定信号的电平值的高低不同。

进一步的，每条所述测试支路还包括电压比较器件以及第二指示器件，所述电压比较器件的第一信号输入端与对应的所述参考信号输出端电连接，所述电压比较器件的第二信号输入端作为所述第一测试端，所述电压比较器件的输出端与所述第二指示器件的第一端电连接，所述第二指示器件的第二端接入所述设定信号。

进一步的，所述连接器组件测试电路还包括：

引脚电平控制器件，所述引脚电平控制器件用于根据设定时序调节所述待测连接器组件待测试引脚上信号的电平值。

进一步的，所述参考信号输出电路包括脉冲信号产生器件和参考信号产生器件，所述脉冲信号产生器件向所述参考信号产生器件发送脉冲信号，所述参考信号产生器件根据接收到的所述脉冲信号生成多路参考信号并分别通过所述参考信号输出端输出；其中，所述多路参考信号为高电平或低电平循环移位输出的多路信号。

进一步的，所述第一指示器件包括第一发光指示器件和/或第一声音指示器件；

所述第一指示器件包括第一发光指示器件和第一声音指示器件，所述第一发光指示器件的第一端与所述第一声音指示器件的第一端短接作为所述第一指示器件的第一端，所述第一发光指示器件的第二端与所述第一声音指示器件的第二端短接作为所述第一指示器件的第二端。

进一步的，所述电压比较器件包括异或门逻辑器件，所述异或门逻辑器件的第一端作为所述电压比较器件的第一信号输入端，所述异或门逻辑器件的第二端作为所述电压比较器件的第二信号输入端，所述异或门逻辑器件的输出端作为所述电压比较器的输出端。

进一步的，所述第二指示器件包括第二发光指示器件和/或第二声音指示器件；

所述第二指示器件包括第二发光指示器件和第二声音指示器件，所述第二发光指示器件的第一端与所述第二声音指示器件的第一端短接作为所述第二指示器件的第一端，所述第二发光指示器件的第二端与所述第二声音指示器件的第二端短接作为所述第二指示器件的第二端。

进一步的，所述第一指示器件的第一端通过第一电阻元件与对应的所述参考信号输出端电连接，所述第二指示器件的第一端通过第二电阻元件与所述电压比较器的输出端电连接。

第二方面，本发明实施例提供了一种连接器组件测试方法，由如第一方面所述的连接器组件测试电路执行，所述测试方法包括：

控制参考信号输出电路输出参考信号；

根据第一指示器件的指示状态判定该所述第一指示器件所在测试支路接入的待测连接器组件两个接口的同类型待测试引脚之间是否断路。

进一步的，每个测试支路还包括电压比较器件以及第二指示器件，所述电压比较器件的第一信号输入端与对应的所述参考信号输出端电连接，所述电压比较器件的第二信号输入端作为所述第一测试端，所述电压比较器件的输出端与所述第二指示器件的第一端电连接，所述第二指示器件的第二端接入所述设定信号；

进一步的，所述测试方法还包括：

根据所述第二指示器件的指示状态判定该所述第二指示器件所在测试支路的第一测试端接入的待测连接器组件的待测试引脚与至少一条其它测试支路的第一测试端接入的待测连接器组件的待测试引脚之间是否短路。

本发明实施例提供了一种连接器组件测试电路及其测试方法，连接器组件测试电路包括参考信号输出电路以及指示测试电路，参考信号输出电路包括多个参考信号输出端，参考信号输出电路输出参考信号，指示测试电路包括多条测试支路，测试支路以及参考信号输出端分别与待测连接器组件一个接口的待测试引脚一一对应设置，每条测试支路包括第一测试端和第二测试端，第一测试端与第二测试端分别用于接入待测连接器组件两个接口的同类型待测试引脚，每条测试支路还包括第一指示器件，第一指示器件的第一端与对应的参考信号输出端电连接，第一指示器件的第二端作为所述第一测试端，第二测试端接入设定信号，参考信号的电平值在至少一个时段与设定信号的电平值的高低不同，这样可以通过第一指示器件的指示状态直观快速地判断待测连接器组件两个接口的同类型的待测试引脚之间是否存在断路问题，即使用结构简单、低成本的测试电路结构实现了对待测连接器组件的相应的信号线与焊点之间焊接情况的判断。

附图说明

图1是本发明实施例中的连接器组件测试电路结构图；

图2是本发明实施例中的待测连接器组件结构示意图；

图3是本发明实施例中的又一连接器组件测试电路结构图；

图4是本发明实施例中的引脚电平控制器结构图；

图5是本发明实施例中的又一连接器组件测试电路结构图；

图6是本发明实施例中的又一连接器组件测试电路结构图；

图7是本发明实施例中断路测试方法流程图；

图8是本发明实施例中短路测试方法流程图；

图9是本发明实施例中又一短路测试方法流程图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，而非对本发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部结构。

图1为本发明实施例提供的一种连接器组件测试电路的结构示意图，图2为本发明实施例提供的一种待测连接器组件的结构示意图。结合图1和图2，连接器组件测试电路用以测试待测连接器组件500是否断路及短路，待测连接器组件500包括两个USB Type-C连接器501、502及连接该两个USB Type-C连接器501、502的线缆。连接器组件测试电路包括参考信号输出电路100和指示测试电路200。参考信号输出电路100包括多个参考信号输出端F，参考信号输出电路100输出参考信号，指示测试电路200包括多条测试支路400，测试支路400以及参考信号输出端F分别与待测连接器组件500一个USB Type-C连接器501的待测试引脚一一对应设置。

每条测试支路400包括第一测试端C1和第二测试端C2，第一测试端C1与第二测试端C2分别用于接入待测连接器组件500的两个USB Type-C连接器，具体为USB Type-C连接器501和USB Type-C连接器502的同类型待测试引脚，例如同一条测试支路400的第一测试端C1接入USB Type-C连接器501的待测试引脚Vbus1，则第二测试端C2则接入USB Type-C连接器502的待测试引脚Vbus2，以此类推，每条测试支路400还包括第一指示器件D，第一指示器件D的第一端与对应的参考信号输出端电F连接，第一指示器件D的第二端作为对应的测试支路400的第一测试端C1，第二测试端C2接入设定信号，参考信号的电平值在至少一个时段与设定信号的电平值的高低不同。示例性地，设定信号例如可以为地信号。

如图2所示，待测连接器组件500可以为Type-c转Type-c连接器组件，待测连接器组件500包括两个Type-c连接器及连接该两Type-c连接器的线缆，两个Type-c连接器分别为USB Type-C连接器501和USB Type-C连接器502，每个USB Type-C连接器可以包括5个待测试引脚，5个待测试引脚包括Vbus(电源)引脚、DP(信号+)引脚、DN(信号-)引脚、CC(配置通道)引脚以及GND(地线)引脚，每个引脚并不限于一个信号pin，例如Vbus引脚和GND引脚分别可以有多组信号pin，比如Vbus引脚和GND引脚各有4组信号pin，待测连接器组件500正常工作时，两个USB Type-C连接器的同类型待测引脚短接，即Vbus1和Vbus2短接，以此类推。

示例性的，以与Vbus引脚对应的测试支路401说明测试支路400的结构。该测试支路401包括第一测试端C1和第二测试端C2，第一测试端C1用于接入USB Type-C连接器501的待测试引脚Vbus1，第二测试端C2用于接入USB Type-C连接器502的待测试引脚Vbus2。该测试支路401中的第一指示器件D例如可以为发光二极管D2，发光二极管D2的正极与对应的参考信号输出端F7电连接，发光二极管D2的负极作为第一测试端C1，第二测试端C2接地，其余测试支路400的连接关系类似，这里不再一一赘述。

下面以与Vbus引脚对应的测试支路401说明断路测试过程，在对USB Type-C连接器501的Vbus1引脚与USB Type-C连接器502的Vbus2引脚进行断路测试时，USB Type-C连接器501的Vbus1和第一测试端C1电连接，USB Type-C连接器502的Vbus2和第二测试端C2电连接，将第二测试端C2接入设定信号，例如接地，控制参考信号输出电路100的参考信号输出端F7输出高电平的参考信号，即参考信号输出端F输出的参考信号的电平值与设定信号的电平值的高低不同，可以设置第一指示器件D为发光二极管D2，若发光二极管D2亮起，说明测试支路400中不存在断路节点，即说明USB Type-C连接器501的Vbus1引脚与USB Type-C连接器502的Vbus2引脚良好短接；若发光二极管D2不亮，说明测试支路400中存在断路节点，即说明USB Type-C连接器501的Vbus1引脚与USB Type-C连接器502的Vbus2引脚之间断路，待测连接器组件500的其余测试引脚的断路测试过程类似，这里不再一一赘述。

另外，可以设置参考信号输出电路100依照一定的时序通过多个参考信号输出端F，例如参考信号输出端F3至F7依次输出高电平的参考信号，当其中一个参考信号输出端F输出高电平的参考信号时，其余参考信号输出端F输出低电平的参考信号，进而完成与输出高电平的参考信号的参考信号输出端F对应的待测连接器组件500的测试引脚断路情况的测试，下一时刻可以设置该参考信号输出端F输出低电平的参考信号，确保每个参考信号输出端F的电平值在至少一个时段与设定信号的电平值的高低不同，即可完成对待测连接器组件500的所有待测试引脚的断路测试。

示例性地，可以设置第一指示器件D包括第一发光指示器件和/或第一声音指示器件，即第一指示器件D可以仅包括第一发光指示器件，如图1所示，或者仅包括第一声音指示器件，或者同时包括第一发光指示器件和第一声音指示器件。当第一指示器件D包括第一发光指示器件和第一声音指示器件时，可以设置第一发光指示器件的第一端与第一声音指示器件的第一端短接作为第一指示器件的第一端，第一发光指示器件的第二端与第一声音指示器件的第二端短接作为第一指示器件的第二端，即可以设置第一发光指示器件与第一声音指示器件并联，以通过视觉与听觉同时对待测试连接器组件500的断路情况进行判断。

图3为本发明实施例提供的另一种连接器组件测试电路的结构示意图，在图1所示结构的连接器组件测试电路的基础上，图3所示结构的连接器组件测试电路中，，每条测试支路400还包括电压比较器件U以及第二指示器件K，电压比较器件U的第一信号输入端A与对应的参考信号输出端F电连接，电压比较器件U的第二信号输入端B作为对应的测试支路400的第一测试端C1，电压比较器件U的输出端Y与第二指示器件K的第一端电连接，第二指示器件K的第二端接入设定信号，例如可以为地信号。

以与Vbus引脚对应的测试支路400说明测试支路401的结构。该测试支路中电压比较器件U1的第一信号输入端A与参考信号输出端F7电连接，电压比较器件U1的第二信号输入端B作为测试支路401的第一测试端C1，电压比较器件U1的输出端Y与发光二极管D7的正极电连接，发光二极管D7的负极接入设定信号。

可选的，第二指示器件K包括第二发光指示器件和/或第二声音指示器件，即第二指示器件K可以仅包括第二发光指示器件，或者仅包括第二声音指示器件，或者同时包括第二发光指示器件和第二声音指示器件，例如图3中测试支路401中的第二指示器件K可以包括第二发光指示器件，例如发光二极管D7，还可以包括第二声音指示器件，例如蜂鸣器M。当第二指示器件K包括第二发光指示器件和第二声音指示器件时，第二发光指示器件的第一端与第二声音指示器件的第一端短接作为第二指示器件的第一端，第二发光指示器件的第二端与第二声音指示器件的第二端短接作为第二指示器件的第二端，即可以设置第二发光指示器件与第二声音指示器件并联，以通过视觉与听觉同时对待测试连接器组件500的短路情况进行判断。可选地，结合图1至图3，可以设置电压比较器件U包括异或门逻辑器件，异或门逻辑器件的第一端作为电压比较器件U的第一信号输入端A，异或门逻辑器件的第二端作为电压比较器件U的第二信号输入端B，异或门逻辑器件的输出端作为电压比较器件U的输出端Y。

可选的，结合图1至图3，可以设置第一指示器件D的第一端通过第一电阻元件，例如电阻R4至R8，与对应的参考信号输出端F电连接，第二指示器件K的第一端通过第二电阻元件，例如电阻R9至R13，与电压比较器U的输出端Y电连接，即图3中可以将蜂鸣器M的左端连接在第二电阻元件R9的左端，也可以将鸣器M的左端连接在第二电阻元件R9的右端。

可选的，连接器组件测试电路还可以包括引脚电平控制器件，图4为本发明实施例提供的一种引脚电平控制器件的结构示意图，结合图1至图4，引脚电平控制器300用于根据设定时序调节待测连接器组件500待测试引脚上信号的电平值。

具体的，结合图1至图4，引脚电平控制器300为可以包括互为主从的测试设备301和测试设备302，测试设备301和测试设备302通过待测连接器组件500通信连接，建立连接后，通过主端测试设备301中的单片机可依次对待测连接器组件500各待测试引脚输出高电平，进而测试待测连接器组件500各待测试引脚之间是否短路。为方便测试，测试设备301和测试设备302上还可以设置一些功能按键，比如复位按键、引脚输出电平切换按键。其中利用引脚输出电平切换按键可以切换单片机的输出信号状态，使得单片机依次向不同引脚输出高电平。

结合图1至图4，参考信号输出电路100包括脉冲信号产生器件101和参考信号产生器件102，脉冲信号产生器件101向参考信号产生器件102发送脉冲信号，参考信号产生器件102根据接收到的脉冲信号生成多路参考信号并分别通过参考信号输出端F输出，多路参考信号为高电平或低电平循环移位输出的多路信号。

图5是本发明实施例中的又一连接器组件测试电路结构图，提供了一种参考信号产生器件与脉冲信号产生器件的具体结构。结合图1至图5，脉冲信号产生器件101可以为NE555型号的芯片，参考信号产生器件102可以为CD4017型号的芯片，NE555的电源引脚(VCC)接5V电，地引脚(GND)接地，复位引脚(RST)接5V电，放电引脚(DIS)电连接电阻R2后接5V电，放电引脚(DIS)和门限引脚(THR)间电连接电阻R3，门限引脚(THR)电连接电容C1后接地，NE555的控制电压引脚(CON)电连接电容C2后接地，NE555的输出引脚(OUT)与CD4017的时钟输入引脚(CP)电连接，NE555的电源引脚(VCC)和输出引脚(OUT)之间还电连接发光二极管D1和电阻R1，其中发光二极管的正极与NE555的电源引脚(VCC)电连接。CD4017的电源引脚(VDD)接5V电，CD4017的清除引脚(CR)接地。

结合图1至图5，以与Vbus引脚对应的测试支路401为例，CD4017的记数脉冲输出端Y3通过电阻R4电连接第一指示器件D2(绿色发光二极管)的正极，第一指示器件D2(绿色发光二极管)的负极为测试支路401的第一测试端C1，电压比较器件U1的第一信号输入端A与CD4017的记数脉冲输出端Y3电连接，电压比较器件U1的第二信号输入端B与第一指示器件D2(绿色发光二极管)的负极电连接，电压比较器件U1的信号输出端Y通过电阻R9电连接第二指示器件D7(红色发光二极管)的正极，第二指示器件D7(红色发光二极管)的负极接地，第二指示器件D7(红色发光二极管)的负极连接测试支路401的第二测试端C2，其余待测连接器组件500的引脚的连接关系类似，这里不再一一赘述。

图6是本发明实施例中的又一连接器组件测试电路结构图，参考图6，以与Vbus信号pin对应的测试支路为例，可选的，连接器组件测试电路400还包括第二声音指示器件LS1(蜂鸣器)，第二声音指示器件LS1(蜂鸣器)的一端与电压比较器件U1的信号输出端Y电连接，第二声音指示器件LS1(蜂鸣器)的另一端接地。

结合图2至图6，本发明实施例还提出了一种连接器组件测试方法，包括断路测试和短路测试，图7为本发明实施例提供的一种连接器组件断路测试方法，参考图7，所述测试方法包括：

S101、控制参考信号输出电路输出参考信号；

S102、根据第一指示器件的指示状态判定该第一指示器件所在测试支路接入的待测连接器组件的同类型待测试引脚之间是否断路。

结合图2至图6说明断路测试过程。进行断路测试时，参考信号输出电路100中的NE555得电后产生脉冲信号，其方波上升沿触发CD4017的CP端，当CD4017的记数脉冲输出端Y3输出高电平时，若待测连接器组件500的Vbus1和Vbus2之间的信号线短接，则第一指示器件D2(绿色发光二极管)亮起，说明Vbus引脚通过断路测试，若待测连接器组件500的Vbus1和Vbus2之间的信号线断开，则第一指示器件D2(绿色发光二极管)不亮，说明Vbus引脚未通过断路测试。同理可测试其余引脚是否断路。

当CD4017的记数脉冲输出端Y3输出高电平时，该测试支路400中的异或门逻辑器件U1的第一信号输入端A为高电平，若Vbus1和Vbus2之间的信号线短接，则异或门逻辑器件U1的第二信号输入端B为低电平，此时异或门逻辑器件U-U1的输出端Y输出高电平，因此该测试支路400中的第二指示器件D7(红色发光二极管)亮起，第二声音指示器件报警。

若只利用第一指示器件D2指示Vbus引脚是否断路，进行断路测试时可将异或门逻辑器件U1从测试支路400中断开。例如可在连接器组件测试电路上预留用于接入异或门逻辑器件U1的接口，进行断路测试时将异或门逻辑器U1件拔出。

图8为本发明实施例提供的一种连接器组件短路测试方法，参考图8，所述测试方法包括：

S201.控制参考信号输出电路输出电平值为低的参考信号；

S202.向指定测试支路的第一测试端或第二测试端输入电平值为高的设定信号；

S203.根据指定测试支路中第二指示器件的指示状态，以及其余测试支路中第二指示器件的指示状态判定指定测试支路对应的待测引脚与至少一个其他待测引脚之间是否短路。

结合图2至图6对待测连接器组件500的短路测试过程进行说明，连接器组件测试电路工作时，NE555得电后产生脉冲信号输出至CD4017，脉冲信号可以为方波，方波的上升沿触发CD4017的CP端，可以使CD4017的输出端有译码信号输出。由于CD4017的电源引脚(VDD)接5V电，因此CD4017的记数脉冲输出端Y0至Y9依次循环输出高电平的参考信号，即当Y0至Y9的其中一个记数脉冲输出端输出高电平的参考信号时，其余记数脉冲输出端均输出低电平的参考信号。另外，因CD4017依次输出高电平的参考信号，第一指示器件D、第二指示器件K工作时呈闪亮状态，若想直观观察所有第一指示器件D、第二指示器件K的亮灭状态，可降低电容C1的容值，提高NE555的输出频率，实现第一指示器件D、第二指示器件K工作时保持常亮状态。

下面以测试CC引脚和DP引脚间是否短路为例进行短路测试的说明，进行短路测试时，通过引脚电平控制器件300使待测连接器组件500的CC引脚输出高电平，待测连接器组件500的其余引脚输出低电平，若CC引脚和DP引脚之间短路，则与DP1引脚电连接的第一测试端C1端为高电平，因为二极管具有单向导电性，所以DP引脚所处测试支路400中的第一指示器件D4(绿色发光二极管)的正极依然为低电平，此时CC引脚所处测试支路400中异或门逻辑器件U2的第一信号输出端A为低电平，第二信号输出端B为高电平，异或门逻辑器件U2的信号输出端Y为高电平，该测试支路400中的第二指示器件D8(红色发光二极管)亮起；DP引脚所处测试支路400中异或门逻辑器件U3的第一信号输出端A为低电平，第二信号输出端B为高电平，异或门逻辑器件U3的信号输出端Y为高电平，该测试支路400中的第二指示器件D9(红色发光二极管)亮起，第二声音指示器件，例如蜂鸣器)报警。通过与CC引脚对应的红色发光二极管D8、与DP引脚对应的红色发光二极管D9亮起，以及CC引脚输出高电平，可以判断CC引脚与DP引脚之间短路，同理可得出其余引脚之间是否短路。

图9为本发明实施例提供的一种连接器组件短路测试方法，参考图9，所述测试方法包括：

S301.控制参考信号输出电路输出参考信号；

S302.当指定测试支路接收由参考信号输出电路输出的电平值为高的参考信号，其余测试支路接收由参考信号输出电路输出的电平值为低的参考信号时，向指定测试支路的第一测试端或第二测试端输入电平值为高的设定信号；

S303.根据其余测试支路中第二指示器件的指示状态判定与指定测试支路对应的待测引脚与至少一个其他待测引脚之间是否短路。

结合图2至图6以测试CC引脚和DP引脚间是否短路为例进行短路测试的说明，NE555和CD4017的工作方式与上文所述相同，通过引脚电平控制器件300使待测连接器组件500的CC引脚输出高电平，待测连接器组件500的其余引脚输出低电平。当NE555得电后产生脉冲信号，其方波上升沿触发CD4017的CP端，当CD4017的记数脉冲输出端Y7输出低电平时，该测试支路400中的第二指示器件D8(红色发光二极管)亮起。当CD4017的记数脉冲输出端Y7输出高电平时，若CC引脚和DP引脚之间短路，则DP引脚支路中的第一测试端C1端为高电平，因为二极管具有单向导电性，所以DP引脚所处测试支路400中的第一指示器件D4(绿色发光二极管)的正极依然为低电平，DP引脚所处测试支路400中异或门逻辑器件U3的第一信号输出端A为低电平，第二信号输出端B为高电平，异或门逻辑器件U-U3的信号输出端Y为高电平，该测试支路400中的第二指示器件D9(红色发光二极管)亮起，第二声音指示器件报警，此时CC引脚所处测试支路中异或门逻辑器件U2的第一信号输出端A为高电平，第二信号输出端B为高电平，异或门逻辑器件U2的信号输出端Y为低电平，该测试支路400中的第二指示器件D8(红色发光二极管)不亮。通过与CC引脚对应的红色发光二极管D8、与DP引脚对应的红色发光二极管D9的亮灭状态，可以判断CC引脚与DP引脚之间短路，同理可得出其余引脚之间是否短路。

这样，使用结构简单、低成本的测试电路结构实现了对待测连接器组件不同类型的待测试引脚是否存在短路问题的判断。

本发明实施例提供的连接器组件测试电路和测试方法特别适用于网络较少的PCBA或线缆的断路短路测试，通过测试电路和测试方法可快速、直观的显示被测器件的不良类型及所故障在位置。本发明实施例中提供的测试电路比较简单，投资小，但可扩展性强，通过改进可以复用到不同产品的断路短路测试中。

注意，上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (7)

1.一种连接器组件测试电路，其特征在于，包括：

参考信号输出电路，所述参考信号输出电路包括多个参考信号输出端，所述参考信号输出电路用于输出参考信号；

指示测试电路，所述指示测试电路包括多条测试支路，所述测试支路以及所述参考信号输出端分别与待测连接器组件其中一个USB Type-C连接器的待测试引脚一一对应设置；

每条所述测试支路包括第一测试端和第二测试端，所述第一测试端与所述第二测试端分别用于接入所述待测连接器组件两个USB Type-C连接器的同类型待测试引脚，每条测试支路还包括第一指示器件，所述第一指示器件的第一端与对应的所述参考信号输出端电连接，所述第一指示器件的第二端作为所述第一测试端，所述第二测试端接入设定信号；

其中，所述参考信号的电平值在至少一个时段与所述设定信号的电平值的高低不同；

每条所述测试支路还包括电压比较器件以及第二指示器件，所述电压比较器件包括第一信号输入端及第二信号输入端，所述第一信号输入端与对应的所述参考信号输出端电连接，所述第二信号输入端作为所述第一测试端，所述电压比较器件的输出端与所述第二指示器件的第一端电连接，所述第二指示器件的第二端接入所述设定信号；

还包括引脚电平控制器件，所述引脚电平控制器件用于根据设定时序调节所述待测连接器组件待测试引脚上信号的电平值。

2.根据权利要求1所述的连接器组件测试电路，其特征在于，所述参考信号输出电路包括脉冲信号产生器件和参考信号产生器件，所述脉冲信号产生器件向所述参考信号产生器件发送脉冲信号，所述参考信号产生器件根据接收到的所述脉冲信号生成多路参考信号并分别通过所述参考信号输出端输出；其中，所述多路参考信号为高电平或低电平循环移位输出的多路信号。

3.根据权利要求1所述的连接器组件测试电路，其特征在于，所述第一指示器件包括第一发光指示器件和/或第一声音指示器件；

所述第一指示器件包括第一发光指示器件和第一声音指示器件，所述第一发光指示器件的第一端与所述第一声音指示器件的第一端短接作为所述第一指示器件的第一端，所述第一发光指示器件的第二端与所述第一声音指示器件的第二端短接作为所述第一指示器件的第二端。

4.根据权利要求1所述的连接器组件测试电路，其特征在于，所述电压比较器件包括异或门逻辑器件，所述异或门逻辑器件的第一端作为所述电压比较器件的第一信号输入端，所述异或门逻辑器件的第二端作为所述电压比较器件的第二信号输入端，所述异或门逻辑器件的输出端作为所述电压比较器的输出端。

5.根据权利要求1所述的连接器组件测试电路，其特征在于，所述第二指示器件包括第二发光指示器件和/或第二声音指示器件；

所述第二指示器件包括第二发光指示器件和第二声音指示器件，所述第二发光指示器件的第一端与所述第二声音指示器件的第一端短接作为所述第二指示器件的第一端，所述第二发光指示器件的第二端与所述第二声音指示器件的第二端短接作为所述第二指示器件的第二端。

6.根据权利要求1所述的连接器组件测试电路，其特征在于，所述第一指示器件的第一端通过第一电阻元件与对应的所述参考信号输出端电连接，所述第二指示器件的第一端通过第二电阻元件与所述电压比较器的输出端电连接。

7.一种连接器组件测试方法，其特征在于，由如权利要求1-6任一项所述的连接器组件测试电路执行，所述测试方法包括：

控制参考信号输出电路输出参考信号；

根据第一指示器件的指示状态判定该所述第一指示器件所在测试支路接入的待测连接器组件两个USB Type-C连接器的同类型待测试引脚之间是否断路；

根据所述第二指示器件的指示状态判定该所述第二指示器件所在测试支路的第一测试端接入的待测连接器组件的待测试引脚与至少一条其它测试支路的第一测试端接入的待测连接器组件的待测试引脚之间是否短路。

Images