CN101154401A

CN101154401A - 光盘装置

Info

Publication number: CN101154401A
Application number: CNA2007101616078A
Authority: CN
Inventors: 清水真弥; 紫原哲也; 永座强
Original assignee: Funai Electric Co Ltd
Current assignee: Funai Electric Co Ltd
Priority date: 2006-09-27
Filing date: 2007-09-27
Publication date: 2008-04-02
Anticipated expiration: 2027-09-27
Also published as: DE602007001426D1; US7499381B2; PL1906398T3; JP2008084417A; US20080144461A1; EP1906398A1; CN101154401B; EP1906398B1

Abstract

一种光盘装置，具有：对在使用物镜而使激光聚光至光盘记录面上时所产生的像差进行修正的像差修正部；基于来自光盘的反射光而生成并输出伺服信号的伺服信号生成部；该光盘装置还具有双折射检测部，该双折射检测部基于所输入的伺服信号检测出记录面中的双折射程度，生成并输出与双折射程度相应的用于像差修正的修正信号，像差修正部基于所输入的修正信号来驱动预定的像差修正元件，从而执行像差修正；伺服信号生成部在使用与来自光盘的反射光相应的电信号和预定参数而生成伺服信号之际，根据像差修正的程度来决定参数值。

Description

光盘装置

技术领域

本发明涉及一种光盘装置。

背景技术

在日本特开2002-342952号专利文献中揭示了一种记录再现装置，该记录再现装置是光学式记录介质的记录再现装置，具有像差修正、聚焦伺服(focus servo)、循迹伺服(tracking servo)等的控制部。

另外，在日本特开2005-332558号专利文献中则揭示了一种光盘装置，该光盘装置具备：对光束中产生的球面像差进行预先修正的球面像差控制部；对聚焦误差信号进行检测的聚焦误差检测部；在由球面像差控制部使球面像差量与预定量一致之后，以使聚焦误差检测部的信号振幅成为预定值的方式进行调整的控制器。

在作为光盘装置的再现·记录对象的光盘记录面上，有时候会存在所谓双折射的情况。双折射是由光盘制造时产生的内部应力等而导致的。在存在双折射的情况下，激光会聚在光盘记录面上时的聚光点形状发生变形或者聚光点变大，其结果是，导致光盘装置所检测的反射光量减少，或者发生不合适的变化。上述反射光量减少和变化使基于反射光生成的再现信号、伺服信号劣化，其结果是，导致执行聚光点对记录面轨道的追踪的所谓伺服控制非常不稳定。

但是，在上述专利文献中并没有针对由该双折射所引起的再现信号和伺服信号的劣化给出解决方法。

发明内容

本发明提供一种防止由光盘中产生的双折射所引起的再现信号和伺服信号的劣化、并提高了伺服控制和再现信号质量的光盘装置。

本发明提供一种光盘装置，其具有：像差修正部，其对在用物镜使激光会聚在光盘的记录面上时在记录面上产生的像差进行修正；伺服信号生成部，其基于来自光盘的反射光而生成并输出伺服信号；伺服控制部，其输入伺服信号，基于伺服信号控制物镜的驱动，从而使聚光点追踪光盘轨道。该光盘装置还具有双折射检测部。双折射检测部输入有来自伺服信号生成部的伺服信号。也就是说，伺服信号生成部对伺服控制部和双折射检测部双方都进行了伺服信号的输出。双折射检测部基于伺服信号检测出上述记录面中的双折射程度，生成并输出与所检测出的双折射程度相应的用于像差修正的修正信号。像差修正部输入修正信号，基于修正信号来驱动预定的像差修正元件，从而执行像差修正。在光盘记录面中存在双折射时，聚光点形状发生变形或聚光点变大，由于可将上述这样的聚光点形状变化当作像差处理，并可对其进行把握，在本发明中，可以在检测出双折射程度，并根据检测出的程度来进行像差修正。

当对由双折射所引起的像差进行了修正时，伺服信号生成部接收的上述反射光接近正常量，其结果是，转换反射光所得到的电信号值也与像差修正前相比发生了变化。这里，在使用上述电信号和预定参数计算出伺服信号之际，如果继续沿用在像差修正前所设定的参数值，那么就无法计算出对于由伺服控制部进行的伺服控制来说最佳的伺服信号。也就是说，在进行了上述像差修正的情况下，根据像差修正量，伺服信号生成时所使用的各个参数值也需要进行改变。因此，伺服信号生成部在使用与来自光盘反射光相应的电信号以及预定参数而生成上述伺服信号之际，根据上述像差修正的程度来决定参数值。

根据如上所述的本发明，由于因光盘的双折射引起而生成的像差被修正了，所以能够避免由双折射所导致的伺服信号和再现信号的劣化。而且，在基于像差修正后的反射光和各种参数而生成伺服信号之际，由于选择与像差修正量相应的最佳的参数值，所以总是能够让上述追踪动作合适化，并能执行稳定的伺服控制。

双折射的检测方法可以采用各种方法。举一个例子如下：双折射检测部检测出以预定基准电位为标准的伺服信号波形的非对称性，并将该非对称性的大小作为双折射的程度。伺服信号是表示聚光点相对于光盘轨道的偏差的信号，可以说该信号波形的非对称性的大小大致上可表示聚光点附近双折射的程度。因此，通过按照本发明所示那样的方式检测伺服信号波形的非对称性，从而可以间接检测出光盘具有的双折射程度。

除了上述检测方法之外，或者说可用来替代上述方法的，还有一种双折射检测部，从伺服信号中提取出直流成分，并检测出该直流成分和预定标准电位之间的电位差，该电位差的大小也可视为双折射程度。在伺服信号直流成分和上述标准电位的差为某个值以上时，称为伺服信号波形发生了混乱，该混乱可大体反映出光盘中存在双折射。因此，通过比较伺服信号直流成分和标准电位，从而可以间接检测出光盘具有的双折射程度。

伺服信号生成部预先具备规定了修正信号和参数值之间对应关系的参数决定表，在根据双折射检测部生成的修正信号来决定各个参数值的时候，就可以参照该参数决定表。也就是说，预先规定像差修正量与在基于像差修正后的反射光生成伺服信号时的各个参数值之间的对应关系，根据上述对应关系决定参数值。其结果是，可容易且适当地生成伺服信号。

上述表可以根据不同条件设定多个。举例来说，伺服信号生成部可以按照双折射倾向不同的光盘的不同种类而准备多个参数决定表。双折射的倾向比如因光盘制造厂不同、制造批号不同、或者产品名称(title)不同而不同。因此，可根据光盘种类不同准备多个参数决定表。然后，伺服信号生成部获取此时作为信息的再现或记录的对象的光盘的种类，即，获取关于光盘制造厂、制造批号、产品名称的信息，并选择与该获取的种类相应的参数决定表，参照所选择的参数决定表来选择与上述修正信号对应的参数值。其结果是，可以容易地选择在修正由作为信息的再现或记录的对象的光盘的双折射所产生的像差时应选择的、用于生成伺服信号的最佳参数值。

光盘中产生的双折射的倾向不仅因光盘种类而不同，而且还因在光盘记录面中的位置而不同，因光盘附近温度而不同。因此，伺服信号生成部还可根据双折射倾向不同的光盘记录面上的不同位置而准备多个参数决定表。在此情况下，伺服信号生成部获取此时的与记录面相对的物镜位置，同时根据获取的位置选择参数决定表，并参照所选择的参数决定表来决定参数值。而且，伺服信号生成部还可按照使双折射倾向不同的温度的不同而准备多个参数决定表。在此情况下，伺服信号生成部获取此时的光盘附近温度，同时根据所获取的温度来选择数决定表，参照所选择的参数决定表来决定参数值。

伺服信号生成部生成聚焦误差信号(FE)作为伺服信号之一，双折射检测部根据基于FE检测出的双折射程度生成用于球面像差修正的球面像差修正信号，像差修正部基于球面像差修正信号来驱动像差修正元件，从而修正球面像差。另外，伺服信号生成部生成循迹误差信号(TE)作为伺服信号之一，双折射检测部根据基于TE检测出的双折射程度生成用于彗形像差修正的彗形像差修正信号，像差修正部基于彗形像差修正信号来驱动像差修正元件，从而修正彗形像差。也就是说，在本发明中，基于从FE检测出的双折射程度生成修正信号，该修正信号用于修正由双折射所导致的聚光点点像同心圆变大、也就是所谓球面像差，基于该生成的修正信号来修正球面像差。此外，基于从TE检测出的双折射程度生成修正信号，该修正信号用于修正由双折射所导致的聚光点点像向预定方向的延伸、也就是所谓彗形像差，基于该生成的修正信号修正彗形像差。根据上述本发明，可检测由双折射引起的各种像差的程度，并根据检测结果对各种像差分别进行可靠的修正。

附图说明

图1是示出光盘装置的概略结构的框图的一个例子。

图2是示出像差修正和伺服信号生成处理的内容的流程的一个例子。

图3是说明双折射的检测方法的图的一个例子。

图4A-图4C是示出双折射和光束点形状之间关系的一个例子的图。

图5是示出光电检测器各个受光元件和各个输出值之间的对应关系的图的一个例子。

图6是示出FE生成过程的图的一个例子。

图7是示出参数决定表的一个例子的图。

具体实施方式

下面，参照各个附图对本发明的一个实施例进行说明。

图1示出了本实施例光盘装置100的概略结构。光盘装置100大致包括光拾取器10、伺服信号生成部20、双折射检测部30、FE控制部40、TE控制部50、数据记录再现部60、控制部70。光盘装置100通过向置于转台(未图示)上的光盘200的记录面照射激光，而将数据记录在光盘200上，或者读出在光盘200中所记录的数据。

光拾取器10具备：物镜11、致动器(actuator)12、像差修正部13、半透半反镜14、由激光器二极管构成的光源15、光电检测器16等。

从光源15照射出来的激光经过半透半反镜14之后，入射至像差修正部13，之后，通过物镜11会聚至光盘200的记录面上。在记录面上反射的激光(反射光)，再次通过物镜11、像差修正部13，然后通过半透半反镜14而转换光路，并被光电检测器16接收。光电检测器16在本实施例中分割成4个受光区域(受光元件)。也就是说，光电检测器16是分割检测器。光电检测器16在将由各个受光元件所接收的光转换成电信号之后向外部输出。

伺服信号生成部20，基于来自光电检测器16的输出，生成聚焦误差信号(FE)和循迹误差信号(TE)作为再现信号和伺服信号。对于FE和TE的生成在后面再进行详细叙述。

从伺服信号生成部20输出的再现信号输入至数据记录再现部60。在数据记录再现部60中，通过对再现信号实施解调处理、误差检测以及订正处理等，将信息再现成为预定形式的数字数据(MPEG2等形式)，并基于从控制部70输入的显示输出命令向外部输出需要的影像等。另外，对于数据记录再现部60来说，一旦从电视广播接收部或者外部装置(未图示)等输入了记录用数据，则将其转换成RF信号后输出至光拾取器10。在光拾取器10中，将根据记录用数据调制后的激光照射至光盘200的记录面。

控制部70由CPU、存储有各种程序的ROM等构成。控制部70从数据记录再现部60开始以能够与光盘装置100的各个部分实施通信的状态进行了连接，而进行对光盘装置100整体的控制。

伺服信号生成部20将FE和TE分别输出至双折射检测部30和伺服控制部90。伺服控制部90是总称FE控制部40和TE控制部50时的名称。在伺服控制部90中，分别基于FE、TE，生成用于使FE值为O(标准级别)的聚焦驱动信号和用于使TE值为0(标准级别)的循迹驱动信号，然后将其输出至光拾取器10的致动器12中。

致动器12是一种可以使保持物镜11的透镜支架在激光光轴方向(聚焦方向)上进行微调驱动、而且可在光盘200半径方向(循迹方向)上移动的装置。也就是说，致动器12基于聚焦驱动信号和循迹驱动信号使透镜支架微调驱动，从而执行在聚焦方向和循迹方向上的伺服控制。通过该伺服控制，从而能够使从物镜11照射出的激光跟随着光盘200的所期望的轨迹，并且，可以使激光的焦点与该轨迹配合。

虽然省略了图示，但是，光盘装置100具备用于驱动转台以预定转速进行旋转的主轴马达(spindle motor)，该主轴马达由控制部70控制。而且，光盘装置100还具备在光盘200半径方向上延伸的导轨(未图示)，根据导轨的旋转而使与该导轨螺合的光拾取器10在上述半径方向上移动。导轨通过步进马达(未图示)进行旋转。用步进马达实现的导轨旋转是基于由控制部70输出的搜索(seek)控制信号来控制的。

在双折射检测部30中，基于所输入的FE、TE来检测出光盘200中产生的双折射程度。而且，根据检测出的双折射程度，生成球面像差修正信号和彗形像差修正信号，然后将其输出至像差修正部13。在像差修正部13中，基于各个像差修正信号来驱动其自身具备的像差修正元件，从而进行像差修正。对于双折射的检测以及在检测中伴随的像差修正在后面再进行详细叙述。此外，双折射检测部30将生成的球面像差修正信号和彗形像差修正信号通知到伺服信号生成部20。

图2以流程图形式示出了在光盘装置100中按照预定的程序执行的、像差修正和伺服信号生成处理的内容。执行该处理的程序存储在控制部70的ROM等中。

步骤S100(下面省略步骤的记载)中，双折射检测部30检测出光盘200的双折射程度。双折射检测部30被输入了由伺服信号生成部20生成并输出的FE以及TE，而检测出各信号波形的非对称性，基于非对称性程度来把握双折射程度。

图3是用于说明伺服信号波形非对称性的检测方法的图。在该图中，虽然是以FE波形为例进行的说明，但是对于检测TE信号波形的非对称性的情况来说，也可采用相同的方法。

双折射检测部30，在将预定标准电位设为Vs、波形最大值和Vs之差设为α、Vs和波形最小值之间的差设为β的情况下，依据下列公式计算出非对称性S(％)。

S＝{(α-β)/(α+β)}×100…(1)

标准电位Vs在本实施例中设定为0V～3.3V的大致中间值、即1.65V左右。3.3V对应于光盘装置100所安装的LSI的驱动电压。

上述S的绝对值越大，则FE(对于TE也是一样)振幅中心和标准电位Vs的偏差就越大，也就是所说的非对称性越大。这样一来，双折射检测部30检测出FE、TE各自波形的非对称性S，将其视为光盘200的双折射程度。

光盘200的双折射程度检测方法并非仅限于采用上述公式(1)的方法。也可以是如下这样的方法：双折射检测部30在被输入FE和TE之后，对各信号的直流成分进行检测，并计算出直流成分和上述标准电位之间的电位差，将该电位差当作双折射程度。此外，FE(TE也是一样)的直流成分可以通过使FE输入至预定的平滑化电路来除去交流成分而获取。

图3中，示出了FE的直流成分DC，双折射检测部30计算出DC和Vs之间的电位差。如此计算出来的电位差，其绝对值越大，则FE振幅中心和标准电位Vs的偏差就越大，也就是所说的非对称性越大。

这样，双折射检测部30可以采用使用了上述公式(1)的方法或者对直流成分和标准电位Vs之间的电位差进行计算的方法中的任一种方法或者同时采用这两种方法，来检测出FE、TE各自波形的非对称性，而将非对称性的大小视为光盘200的双折射程度。

S200中，双折射检测部30根据在S100中检测出的双折射程度而生成用于像差修正的修正信号。具体而言，根据FE非对称性的大小而生成用于球面像差的修正的修正信号(球面像差修正信号)，根据TE非对称性的大小而生成用于彗形像差的修正的修正信号(彗形像差修正信号)。

图4A-图4C示出了有无双折射与光盘200记录面中激光聚光点(光束点)形状之间的关系。在图4A中示出了光盘200中未发生双折射状态下的光束点。在不存在双折射的情况下，光束点大致为圆形且其直径较小。在图4B、图4C中示出了在光盘200中存在双折射时的光束点。在图4B中示出了与图4A相比以近似圆形扩大后的状态，该情况称为发生由双折射所导致的所谓球面像差。在图4C中示出了与图4A相比较光束点向光盘200的近似半径方向延伸后的状态，该情况称为发生由双折射所导致的所谓彗形像差。

本实施例中，在基于来自光盘200的反射光而生成的伺服信号中，如果FE信号波形的非对称性越大，则判断存在会造成上述球面像差产生那样的双折射，如上述那样根据FE非对称性的大小生成球面像差修正信号。另一方面，在基于来自光盘200的反射光而生成的伺服信号中，如果TE信号波形的非对称性越大，则判断存在会造成上述彗形像差产生的双折射，如上述那样根据上述TE非对称性的大小生成彗形像差修正信号。

像差修正部13具备作为像差修正元件的液晶元件和通过向液晶元件施加驱动信号来使其驱动的液晶驱动电路。球面像差修正信号和彗形像差修正信号均为0～3.3V(或者5V)的液晶驱动用电压。双折射检测部30生成修正信号时，根据FE、TE非对称性(比如用0～100％来表示的数值)数值的大小，使修正信号电压电平例如线性增加地生成。

在S300中，像差修正部13根据在S200中生成的修正信号执行各种像差的修正。在液晶元件中分别形成有用于修正球面像差的电极图形和用于修正彗形像差的电极图形。对于这样用于修正各种像差的电极图形的具体形态，比如在日本特开2006-120297号专利文献中已有揭示。在像差修正部13中，液晶驱动电路基于球面像差修正信号来控制向用于球面像差修正的电极图形所施加的电压，由此来改变液晶分子的取向。其结果是，通过改变激光通过液晶元件之际的折射率而修正了球面像差。此外，液晶驱动电路，基于彗形像差修正信号来控制向用于彗形像差修正的电极图形所施加的电压，由此来改变液晶分子的取向。其结果是，通过改变激光通过液晶元件之际的折射率修正了彗形像差。

此外，在上述中，像差修正部13是使用液晶元件来实施像差修正的，但是作为用于像差修正的其它技术手段，比如还可以使用：可改变激光的光束直径的光束扩散透镜(beam expand lens)，或者可改变光束点任意位置的反射角度的MEMS(Micro Electro Mechanical Systems：微机电系统)反射镜等。

在S400、S500中，用伺服信号生成部执行FE和TE的生成处理。FE和TE的计算可使用来自光电检测器16的输出值和各种参数来进行。这里，如果是如上述那样对由双折射所导致的各种像差进行修正，那么从光电检测部16向伺服信号生成部20的输出值也发生变化。因此，如果在像差修正后仍然适用像差修正前所设定的参数并由此来生成FE、TE，那么无法得到伺服控制用的最佳伺服信号，某些情况下，恐怕基于该FE、TE所实施的伺服控制不过是多余的步骤。

因此，在S400中，伺服信号生成部20根据在S200中生成的修正信号重新确定在FE、TE生成之际所使用的各个参数值。

而且，在S500中，伺服信号生成部20使用在S400中重新确定的各个参数值以及来自光电检测器16的输出值，并根据下述公式生成FE和TE。

FE＝FB1(Ia+Ic)-FB2(Ib+Id)+FO …(2)

TE＝TB1(Ia+Id)-TB2(Ib+Ic)+TO …(3)

Ia，Ib，Ic，Id是从光电检测器16的4个受光元件输出的电信号。

图5示出了构成光电检测器16的4个受光元件A～D与各个输出值之间的对应关系。光电检测器16从其近似中心处沿横向和纵向分割成了4个受光元件，在该图中，从左上的受光元件开始按顺时针方向分别是受光元件A～D。来自受光元件A～D的输出值用Ia～Id表示。

该图中的标记了影线的近似圆形部分表示光电检测器1接收的来自光盘200的反射光形状。光盘200记录面中光束点周围的方向和图5的光电检测器16上的方向之间的对应关系如下：该图中从左向右的方向对应于从光盘中心向半径方向外侧的方向，图中上下方向对应于光盘的旋转方向(光盘圆周的切线方向)。

也就是说，受光元件B、C接收对应于在光盘记录面上形成的光束点的大致一半的范围、且远离光盘中心一侧的范围的反射光。另外，受光元件A、D接收对应于在光盘记录面上形成的光束点的大致一半的范围、且远离光盘中心一侧范围的反射光。所以，TE的关键因素Ia+Id、Ib+Ic分别表示来自对应于光盘旋转方向而相邻的受光元件的输出值的和。另一方面，FE的关键因素Ia+Ic、Ib+Id则分别表示来自在光电检测器16中存在对角关系的受光元件的输出值的和。

图6示出了根据上述公式(2)生成FE的过程。

FB1、FB2均为聚焦平衡参数，将FB1与Ia+Ic、FB2与Ib+Id实施乘法运算。然后，从FB1(Ia+Ic)中减去FB2(Ib+Id)，进而，加上针对FE给出的表示偏移量的参数FO。FB1、FB2是用于调整振幅平衡使得FE波形上下对称的参数。对于TE的生成过程也是一样，将循迹平衡参数TB1、TB2分别与Ia+Id、Ib+Ic进行乘法运算，然后，从TB1(Ia+Id)中减去TB2(Ib+Ic)，进而，加上针对TE给出的表示偏移量的参数TO。TB1、TB2是用于调整振幅平衡使得TE波形上下对称的参数。

在上述本实施例中，各个参数FB1、FB2、FO、TB1、TB2、TO的值均是根据在S200中生成的修正信号重新确定的。该确定方式可参照预先准备的参数决定表来进行。具体而言，根据光电检测器16给出的输出值相对于球面像差修正量的变化特性，预先生成确定了双折射检测部20所生成的球面像差修正信号的各个值与FB1、FB2、FO之间的对应关系的信息表。而且，根据光电检测器16给出的输出值相对于彗形像差修正量的变化特性，预先生成确定了双折射检测部20所生成的彗形像差修正信号的各个值与TB 1、TB2、TO之间的对应关系的信息表。控制部70将如此生成的表预先保存在预定存储区域中。伺服信号生成部20根据需要参考上述保存的表。

图7示出确定了球面像差修正信号的各个值与FB1、FB2、FO之间的对应关系的参数决定表80的一个例子。

如该图所示，在表80中由于分别针对球面像差修正信号的各个值唯一确定了FB1、FB2、FO，所以伺服信号生成部20在S400中参照该表80，来选择与在S200中生成的球面像差修正信号值相应的FB1、FB2、FO，在S500中，基于该选择的FB1、FB2、FO以及来自光电检测器16的输出值来生成FE。

生成TE之际也没有区别，参照确定了彗形像差修正信号的各个值与TB1、TB2、TO之间的对应关系的表，选择与在S200中生成的彗形像差修正信号值相应的TB1、TB2、TO，在S500中，基于TB1、TB2、TO以及来自光电检测器16的输出值来生成TE。

在S600中，伺服信号生成部20将在S500中生成的FE、TE分别输出至伺服控制部90和双折射检测部30。伺服控制部90基于所输出的FE、TE执行上述伺服控制。双折射检测部30接着再次执行上述双折射的检测处理(S100)。

这里，上述参数决定表可以根据双折射倾向不同的条件而细化并预先准备。双折射倾向不同的条件例如可以列举出光盘制造厂、制造批号、产品名称(作品名称)这样的光盘种类的不同。也就是说，如果光盘种类不同，则双折射倾向也不同。因此，例如，根据光盘的制造厂的种类不同而预先生成参数决定表，该参数决定表规定了像差修正信号的各个值与分别对应于该像差修正信号的各个值的参数值之间的关系，该像差修正信号是预测为由双折射检测部30根据一个制造厂的光盘中的双折射程度而生成的像差修正信号。

在控制部70具备的预定存储区域中保存了上述那样的光盘不同种类的参数决定表的情况下，在S400中，首先，由伺服信号生成部20获取的作为信息的再现或记录的对象的光盘200的种类(光盘制造厂、制造批号、产品名称中的任一个)。由于表示光盘200种类的信息(盘种类信息)已记录在光盘200自身上，所以根据控制部70的控制，数据记录再现部60从光盘200上的特定轨道读出盘种类信息，并将读出的盘种类信息通知到伺服信号生成部20。伺服信号生成部20根据所通知的盘种类信息，从按照光盘种类所保存的参数决定表中选择一个表，并且，参照该选择的表，来选择与在上述S200中生成的修正信号相应的各种参数。

双折射倾向不同的条件并非仅限于光盘种类。双折射倾向还因光盘记录面上的位置而不同。比如，在光拾取器10从光盘200外侧附近的轨道向接近中心的轨道沿半径方向移动的过程中，记录面中产生的双折射倾向也徐徐变化。

因此，比如还可以在光盘半径方向将光盘分成多个区域，按照光盘的上述区域不同而预先生成参数决定表，该参数决定表规定了像差修正信号的各个值以及与该像差修正信号的各个值分别对应的参数值之间的关系，该像差修正信号的各个值是预测为由双折射检测部30根据1个区域的双折射程度所生成的值。

在控制部70具备的预定存储区域中保存了光盘的不同区域的参数决定表的情况下，在S400中，首先，由伺服信号生成部20获取此时与光盘200记录面相对的物镜11的位置。如上所述那样，光拾取器10可以通过朝向光盘200的半径方向的导轨移动，导轨上的光拾取器10的位置可根据导轨此前的转速来判断。因此，控制使导轨旋转的步进电机的控制部70，将此时的与导轨的转速相应的光拾取器10的位置信息通知到伺服信号生成部20。伺服信号生成部20将所通知的光拾取器10的位置信息视为物镜11的位置信息，根据该位置，从按照光盘的区域的不同所保存的参数决定表中选择一个表，然后参照该选择的表，来选择与在上述S200中生成的修正信号相应的各种参数。

进一步，双折射倾向还因光盘200附近的温度而不同。因此，比如还可以针对多个温度范围的每一个预先生成参数决定表，该参数决定表规定了像差修正信号的各个值以及与该像差修正信号的各个值分别对应的参数值之间的关系，该像差修正信号的各个值是预测为由双折射检测部30根据某个温度范围内的在光盘中的双折射程度所生成的值。

在控制部70具备的预定存储区域中保存了关于不同温度范围的参数决定表的情况下，在S400中，首先，伺服信号生成部20利用在光盘装置100内设置的温度传感器(未图示)获取光盘200附近的温度。然后，伺服信号生成部20根据所获取的温度，从按照温度范围的不同所保存的参数决定表中选择一个表，并且，参照该选择的表，来选择与在上述S200中生成的修正信号相应的各种参数。

如此，通过按照每一个可使得在光盘中产生的双折射倾向不同的条件预先准备专用的参数决定表，从而可容易地进行与像差修正的结果相应的参数的决定处理。而且，可以按照光盘的种类不同、且光盘的区域不同、且温度范围不同而准备参数决定表，即，组合上述各种条件后进一步细化，根据细化后的条件的不同而准备参数决定表。

根据本发明，双折射检测部30基于伺服信号FE、TE检测出光盘200所具有的双折射程度，根据检测结果生成像差修正信号，像差修正部13基于像差修正信号来修正像球面像差或彗形像差这样的各种像差。因此，由于上述双折射所导致产生的像差得到了修正，避免了基于来自光盘200的反射光所生成的再现信号和伺服信号的劣化。而且，在像差修正之后生成伺服(FE、TE)信号之际，根据像差修正信号值重新决定像FB1、FB2、FO、TB1、TB2、TO这样的各种参数值。其结果是，通过上述像差修正，即是从光电检测器16输入的电信号量发生了变化，伺服信号生成部20也可生成具有振幅已平衡的波形的、在伺服控制中最佳的FE、TE，总是能够实现稳定的伺服控制。

这里，作为使用了本发明构思的一个例子，一种光盘装置，具有：光源，其用于照射激光；物镜，其使所照射的激光会聚并聚光至相对的光盘的记录面上；像差修正部，其对在光源和物镜之间设置的液晶元件提供驱动信号，来驱动该液晶元件，以修正在激光的聚光点附近产生的像差；分割检测器，其通过被分割成多个的受光区域接收来自光盘的反射光，并且，将在各个区域中接收到的光转换成电信号而输出；伺服信号生成部，其基于来自分割检测器的电信号而生成并输出聚焦误差信号(FE)和循迹误差信号(TE)；伺服控制部，其基于所输入的FE而生成聚焦驱动信号，并且，基于所输入的TE而生成循迹驱动信号；致动器，其基于所输入的聚焦驱动信号以及循迹驱动信号而使物镜分别在聚焦方向和循迹方向上驱动，从而使聚光点追踪光盘的轨道。

该光盘装置还具有双折射检测部，该双折射检测部，输入上述FE，通过检测出FE波形的非对称性来获取上述记录面的双折射程度，并根据该双折射程度而生成并输出用于修正球面像差的球面像差修正信号，其中，该FE波形的非对称性是由FE的最大值和预定标准电位之间的电位差与该标准电位和FE的最小值之间的电位差的差值所表示的；并且，输入上述TE，通过检测出TE波形的非对称性来获取上述记录面的双折射程度，并根据该双折射程度生成并输出用于修正彗形像差的彗形像差修正信号，其中，该TE波形的非对称性是由TE的最大值和上述预定标准电位之间的电位差与上述标准电位和TE的最小值之间的电位差的差值所表示的；上述像差修正部，基于球面像差修正信号来驱动液晶元件中的预定电极图形，从而使液晶的取向状态发生变化，而对球面像差进行修正；并且，基于彗形像差修正信号来驱动液晶元件中的预定电极图形，从而使液晶的取向状态发生变化，而对彗形像差进行修正，上述分割检测器具有对应于光盘的循迹方向和光盘的旋转方向而分割的4个受光区域；上述伺服信号生成部，在使用由分割检测器的各个受光区域输出的各个电信号Ia、Ib、Ic、Id、聚焦平衡参数(FB1、FB2)、聚焦偏移参数(FO)、循迹平衡参数(TB1、TB2)、循迹偏移参数(TO)并根据下述公式来生成FE和TE之际，通过参照规定了球面像差修正信号和FB1、FB2、FO的各个值之间的对应关系以及彗形像差修正信号和TB1、TB2、TO的各个值之间的对应关系的参数决定表，从而决定与球面像差修正信号和彗形像差修正信号分别相应的参数值。

FE＝FB1(Ia+Ic)-FB2(Ib+Id)+FO；

TE＝TB1(Ia+Id)-TB2(Ib+Ic)+TO；

其中，Ia+Id(Ib+Ic也同样)表示经由对应于上述旋转方向而相邻的受光区域所输出的电信号的和，并且，Ia+Id表示经由上述循迹方向中与接近光盘中心一侧对应的受光区域所输出的电信号的和，此外，Ia+Ic(Ib+Id也同样)表示经由处于对角关系的受光区域所输出的电信号的和。

虽然本发明已由上述优选实施例进行了特别展示和说明，但是本领域技术人员应该理解，在不脱离由权利要求所限定的本发明构思和范围的情况下，本领域技术人员还可以对本发明的形式和具体细节进行前述以及其它形式的像差。

Claims

1.一种光盘装置，具有：

光源，其用于照射激光；

物镜，其使所照射的激光会聚并聚光至相对的光盘的记录面上；

像差修正部，其对在光源和物镜之间设置的液晶元件提供驱动信号，来驱动该液晶元件，以修正在激光的聚光点附近产生的像差；

分割检测器，其通过被分割成多个的受光区域接收来自光盘的反射光，并且，将在各个区域中接收到的光转换成电信号而输出；

伺服信号生成部，其基于来自分割检测器的电信号而生成并输出聚焦误差信号FE和循迹误差信号TE；

伺服控制部，其基于所输入的FE而生成聚焦驱动信号，并且，基于所输入的TE而生成循迹驱动信号；

致动器，其基于所输入的聚焦驱动信号以及循迹驱动信号而使物镜分别在聚焦方向和循迹方向上驱动，从而使聚光点追踪光盘的轨道，其特征在于，

该光盘装置还具有双折射检测部，该双折射检测部，输入上述FE，通过检测出FE波形的非对称性来获取上述记录面的双折射程度，并根据该双折射程度而生成并输出用于修正球面像差的球面像差修正信号，其中，该FE波形的非对称性是由FE的最大值和预定标准电位之间的电位差与该标准电位和FE的最小值之间的电位差的差值所表示的；并且，输入上述TE，通过检测出TE波形的非对称性来获取上述记录面的双折射程度，并根据该双折射程度生成并输出用于修正彗形像差的彗形像差修正信号，其中，该TE波形的非对称性是由TE的最大值和上述预定标准电位之间的电位差与上述标准电位和TE的最小值之间的电位差的差值所表示的；

上述像差修正部，基于球面像差修正信号来驱动液晶元件中的预定电极图形，从而使液晶的取向状态发生变化，而对球面像差进行修正；并且，基于彗形像差修正信号来驱动液晶元件中的预定电极图形，从而使液晶的取向状态发生变化，而对彗形像差进行修正，

上述分割检测器具有对应于光盘的循迹方向和光盘的旋转方向而分割的4个受光区域；

上述伺服信号生成部，在使用由分割检测器的各个受光区域输出的各个电信号Ia、Ib、Ic、Id、聚焦平衡参数FB1、FB2、聚焦偏移参数FO、循迹平衡参数TB1、TB2、循迹偏移参数TO并根据下述公式来生成FE和TE之际，通过参照规定了球面像差修正信号和FB1、FB2、FO的各个值之间的对应关系以及彗形像差修正信号和TB1、TB2、TO的各个值之间的对应关系的参数决定表，从而决定与球面像差修正信号和彗形像差修正信号分别相应的参数值，

FE＝FB1(Ia+Ic)-FB2(Ib+Id)+FO；

TE＝TB1(Ia+Id)-TB2(Ib+Ic)+TO；

其中，Ia+Id和Ib+Ic表示经由对应于上述旋转方向而相邻的受光区域所输出的电信号的和，并且，Ia+Id表示经由上述循迹方向中与接近光盘中心一侧对应的受光区域所输出的电信号的和，此外，Ia+Ic和Ib+Id表示经由处于对角关系的受光区域所输出的电信号的和。

2.一种光盘装置，具有：

像差修正部，其对在使用物镜而使激光聚光在光盘记录面上时所产生的像差进行修正；

伺服信号生成部，其基于来自光盘的反射光而生成并输出伺服信号；

伺服控制部，其输入伺服信号，并基于伺服信号来控制物镜的驱动，从而使聚光点追踪光盘的轨道，其特征在于，

该光盘装置还具有双折射检测部，该双折射检测部，输入上述伺服信号，并且基于伺服信号而检测出上述记录面中的双折射程度，生成并输出与所检测出的双折射程度相应的、用于像差修正的修正信号，

上述像差修正部，输入上述修正信号，并基于修正信号来驱动预定的像差修正元件，从而执行像差修正，

上述伺服信号生成部，在使用与来自光盘的反射光相应的电信号和预定参数来生成上述伺服信号之际，根据上述像差修正的程度来决定参数值。

3.如权利要求2所述的光盘装置，其特征在于，

上述双折射检测部检测出以预定标准电位为基准的伺服信号波形的非对称性，并将该非对称性的大小作为双折射的程度。

4.如权利要求2或3所述的光盘装置，其特征在于，

上述双折射检测部从伺服信号中提取出直流成分，并检测出该直流成分与预定标准电位之间的电位差，并将该电位差的大小作为双折射的程度。

5.如权利要求2～4中任一项所述的光盘装置，其特征在于，

上述伺服信号生成部具有规定了上述修正信号和参数值之间的对应关系的参数决定表，通过参照该参数决定表，从而决定与修正信号的大小相应的参数值。

6.如权利要求5所述的光盘装置，其特征在于，

上述伺服信号生成部，根据光盘的种类不同而具有多个上述参数决定表，该上述伺服信号生成部获取作为信息的再现或者记录的对象的光盘的种类，并且，选择与该获取的种类相应的参数决定表，并参照所选择的参数决定表来决定参数值。

7.如权利要求5或6所述的光盘装置，其特征在于，

上述伺服信号生成部，根据光盘的记录面上的位置不同而具有多个上述参数决定表，该伺服信号生成部获取与记录面相对的物镜位置，并且，根据该获取的位置来选择参数决定表，并参照所选择的参数决定表来决定参数值。

8.如权利要求5～7中任一项所述的光盘装置，其特征在于，

上述伺服信号生成部，根据温度的不同而具有多个上述参数决定表，该伺服信号生成部获取光盘附近的温度，并且，根据该获取的温度来选择参数决定表，并参照所选择的参数决定表来决定参数值。

9.如权利要求2～8中任一项所述的光盘装置，其特征在于，

上述伺服信号生成部生成聚焦误差信号FE作为伺服信号中的一个，上述双折射检测部，根据基于FE检测出的双折射程度而生成用于球面像差修正的球面像差修正信号，上述像差修正部，基于球面像差修正信号来驱动像差修正元件，从而对球面像差进行修正。

10.如权利要求2～9中任一项所述的光盘装置，其特征在于，

上述伺服信号生成部生成循迹误差信号TE作为伺服信号中的一个，上述双折射检测部，根据基于TE检测出的双折射程度而生成用于彗形像差修正的彗形像差修正信号，上述像差修正部，基于彗形像差修正信号来驱动像差修正元件，从而对彗形像差进行修正。